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DE2418650C2 - Einrichtung zur Prüfung und Überwachung von Stromversorgungseinrichtungen - Google Patents

Einrichtung zur Prüfung und Überwachung von Stromversorgungseinrichtungen

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Publication number
DE2418650C2
DE2418650C2 DE2418650A DE2418650A DE2418650C2 DE 2418650 C2 DE2418650 C2 DE 2418650C2 DE 2418650 A DE2418650 A DE 2418650A DE 2418650 A DE2418650 A DE 2418650A DE 2418650 C2 DE2418650 C2 DE 2418650C2
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DE
Germany
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power supply
voltage
data processing
test device
processing system
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Application number
DE2418650A
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English (en)
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DE2418650A1 (de
Inventor
Burton Lawrence Enidcott N.Y. Oliver
Wayne Ray Endwell N.Y. Sitler
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
International Business Machines Corp
Original Assignee
International Business Machines Corp
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Publication date
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Publication of DE2418650A1 publication Critical patent/DE2418650A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE2418650C2 publication Critical patent/DE2418650C2/de
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections

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  • Sewing Machines And Sewing (AREA)

Description

omversorgungsein-
Die Erfindung betrifft eine Einrichtung zur Prüfung und Überwachung von Stromversorgungseinrichtungen ίο in elektronischen Datenverarbeitungsanlagen.
Bei den bisher bekannt gewordenen Einrichtungen zur Prüfung und Überwachung von elektronischen Stromversorgungsgeräten erfolgt diese Prüfung und Überwachung auf der Basis statischer Ausgangssignale. Hierzu werden die Stromversorgungsgeräte bestimmten Belastungsverhältnissen unterworfen und dabei wird das Verhalten der Ausgangsspannungen mittels Meßinstrumenten oder Osrillographen überwacht
Während einer solchen statischen Messung können aber eine Reihe von Fehlern nicht festgestellt werden. Ein Oszillograph ist, obwohl er eine nützliche Hilfe für die Feststellung des Verlaufs von Ausgangsspannungen der Stromversorgungsgeräte ist, eine manuell betriebene Vorrichtung, die sehr schwierig und nur mit einigem Zeitaufwand zu handhaben ist. Darüberhinaus gibt es viele Situationen, in denen eine geeignete Anzeige auf einem Oszillographenschirm wegen der Fehlerwiederholungsgeschwindigkeit oder bei intermitiierenden Fehlern nicht gewonnen werden kann. Es ist daher die Aufgabe der Erfindung, eine Prüfeinrichtung für eine elektronische Datenverarbeitungsanlage so auszugestalten, daß die Belastungsverhältnisse an der zu überprüfenden Stromversorgungseinrichtungen der Datenverarbeitungsanlage dynamisch einstellbar sind und ;iiose F;r:5tei!a■,.&, sowie die Überwachung und Prüfung öe
richtungen automatisch durchführbar sind.
Gelöst wird diese Aufgabe durch eine Einrichtung, die durch den Anspruch 1 gekennzeichnet ist. Weitere Merkmale, vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterbildungen dieser Einrichtung sind den Unteransprüchen zu entnehmen.
Mit der genannten Einrichtung wird der Vorteil erzielt, daß eine preventive Wartung an den Stromversorgungseinrichtungen einer elektronischen Datenverarbeitungsanlage durchgeführt werden kann, um Fehlverhalten vorherzusagen und die Zahl der Fehler infolge einer Überlastung während des Durchlaufs eines Benützerprogramms zu verringern.
Ein weiterer Vorteil ergibt sich dadurch, daß die Ausfallzeiten des Systems verringert werden und die Fehlerfest! teilung weitgehend automatisiert wird.
Im folgenden wird ein Ausführungsbeispiel der Erfindung anhand der Zeichnungen näher beschrieben. Es zeigt
Fig. 1 ein Blockschaltbild einer Prüfeinrichtung für eine Stromversorgungseinrichtung in einer EDV-Anlage und
Fig. 2 eine schematische Darstellung des Arbeitsablaufes in einem Prüfgerät nach F i g. 1.
Fig. 1 zeigt eine Datenverarbeitungsanlage 10. die über mehrere Funktionseinheiten 12, 14, 16 und 18 verfügt, die jeweils eigene Stromversorgungseinheiten 22, 24, 26 und 28 besitzen. Die Datenverarbeitungsanlage 10 kann beispielsweise den in der US-PS 36 51 476 beschriebenen Aufbau aufweisen.
Die Funktionseinheit 12 besitzt eine Einrichtung 32 zum Laden des Mikroprogramms, ein Arbeitsspeicher-
register 34 und ein Steuerregister 36.
Die Funktionseinheit 14 besteht aus einem Speicheradressenregister und Steuerdecoder 38, einer arithmetischen und logischen Einheit, sowie Datenflußregistern 40.
Die Funktionseinheit 16 verfügt über einen Steuerspeicher 42 und einen internen Hauptspeicher 44.
Die Funktionseinheit 18 schließlich besitzt einen externen Datenspeicher 46.
Die dynamische Prüfeinrichtung 50 erhält ihre Energieversorgung von der Stromversorgungseinrichtung 52, die unabhängig von den Stromversorgungseinrichtungen 22, 24, 26 und 28 arbeitet, die der eigentlichen Prüfung unterliegen.
Es sei an dieser Stelle erwähnt, daß, obwohl die Stromversorgungseinrichtungen 22, 24, 26 und 28 in F i g. 1 jeweils als ein Block dargestellt sind, diese Geräte aus mehreren physikalischen Anordnungen bestehen, um die verschiedenen Spannungen zu liefern, mit denen die Datenverarbeitungsanlage betrieben wird.
Die dynamische Prüfeinrichtung 50 enthält ein Bandpaßfilter 54, das Frequenzanteile zwischen 1 und 20MHz überträgt, ferner ein Tiefpaßfilter 56, das Frequenzkomponenten zwischen 0 und 1 MHz überträgt sowie Detektoren 58 und 60 für positive und negative Pegel, die mit dem Ausgang des Bandpaßfilters 54 verbunden sind. Ferner sind Detektoren 62 und 64 für positive und negative Pegel mit dem Ausgang des Tiefpaßfilters 56 verbunden. Diese Detektoren erzeugen Ausgangssignale, wenn die Ausgangssignale des Bandpaßfilters 54 und des Tiefpaßfilters 56 eine^ vorgegebenen Wert entweder in positiver oder in negativer Richtung überschreiten. Die dynamische Prüfeinrichtung 50 enthält ferner Gleichspannungs- ji Schwellwertdetektoren 66 und 68 für die Überwachung der Amplitude der Gleichstromkomponente der zu prüfenden Stromversorgungseinrichtung und zwar für positive und negative Ströme.
Die Ausgangssignale der jeweiligen Pegel- und Schwellwertdetektoren sind jeweils mit einem aus einer Gruppe von UND-Toren 70 bis 80 verbunden. Die Ausgänge der UND-Tore 70, 72, 74, 76, 78 und 80 sind mit den Eingängen des Spannungs-Statusregisters 84 verbunden.
Fig. 1 zeigt ferner die Spannungs-Überwachungsleitung 47, die den externen Speicher 46 mit den Eingängen der Filter 54, 56 sowie der Gleichstrom-Schwellwertdetektoren 66 und 68 in der dynamischen Prüfeinrichtung 50 verbindet. Es sei auch hier erwähnt, daß, obwohl die Leitung 47 als einzelne Leitung und die dynamische Prüfeinrichtung 50 nur einmal dargestellt sind, sie jedoch in dem vollautomatischen Prüfsystem mehrfach vorhanden sind und zwar einmal für jede Stromversorgungseinrichtung, die eine Funktionsein- τ, heit in der Datenverarbeitungsanlage 10 versorgt.
Die Spannungs-Überwachungsleitung 47 dient als Eingang in die dynamische Prüfeinrichtung 50. Ein anderer Eingang, der für den Betrieb der dynamischen Prüfeinrichtung erforderlich ist, ist die Prüfbetriebslei- bo tung 37, die eine Verbindung vom Ausgang des Speicheradressenregisters und Steuerdecoders 38 in der Datenverarbeitungsanlage 10 zu der Verriegelungsschaltung 82 in der dynamischen Prüfeinrichtung 50 herstellt. Wenn diese Leitung 37 aktiv ist, schaltet sie die h5 Verriegelungsschaltung 82 in ihre »Ein«-Lage, in der sie ein Signal für die Durchschaltung der UND-Tore 70 bis 80 abgibt, die dann die Ausgangssignale der Detektoren 58 bis 68 in das Spannungs-Staiusregister 84 übertragen.
Die Leitung 39 vom Speicheradressenregister und Steuerdecoder 38 liefert ebenfalls ein Durchschaltsignal, das veranlaßt, daß die Spannungs-Statusinformation aus dem Spannungs-Statusregister 84 in die ALU Datenflußregister 40 für die Prüfung der Fehlerzustände übertragen wird.
Fig.2 zeigt ein Schema des Betriebsablaufs der dynamischen Prüfeinrichtung für die in F i g. 1 dargestellten Stromversorgungseinrichtungen 22, 24, 26 und 28, die von der Mikroprogrammsteuerung der Datenverarbeitungsanlage auf folgende Weise betrieben werden: Das Mikroprogramm aktiviert die größtmögliche Anzahl von Schaltkreisen innerhalb einer Funktionseinheit. die benutzt werden soll, um auf diese Weise den ungünstigsten Belastungszustand der Stromversorgungteinrichtungen herbeizuführen. Die Zeitdauer, die als aktive Zeitphase bezeichnet wird, während der diese ungünstigste Belastung an die Stromversorgungseinrichtung einer Funktionseinheit angelegt wird, wird durch die Einstellung von Schaltern in der Bedienungskonsole der Datenverarbeitungsanlage 10 gesteuert. Diese Schalter stellen ein Register im Steuerspeicher 42 ein. Das Register wird dann zur Steuerung der aktiven Zeitphase wie ein Zähler betrieben.
Fig. 2 zeigt die Zeitphasen der Ablaufsteuerung in Form eines Mikroprogramms, das zur Betätigung des externen Speichers 46 und zur Prüfung der Stromversorgungseinrichtung 28 verwendet wird.
Zunächst wird die Größe des Speichers bestimmt, und die Einstellung der Steuerschalter wird in den Steuerspeicher 42 eingegeben, wodurch die Speicheradressengrenzen angegeben werden.
Das Mikrosteuerwort wird abgefragt, um festzustellen, ob die gesamte Speicheranordnung angesteuert werden soll oder ob nur eine bestimmte Speichereinheit aufgerufen werden soll. Wenn ein Zugriff zu dem ganzen Speicher vorgenommen werden soll, dann wird eine Verzweigung durchgeführt, um den ganzen Speicher auszulesen. Hierzu kann es erforderlich sein, in eine Schleife innerhalb der Verzweigung einzutreten, bis nämlich der gesamte Speicher ausgelesen wurde. An dieser Stelle wird die aktive Zeitphase der Prüfung beendet und die inaktive Zeitphase gestartet.
Wenn jedoch nicht der ganze Speicher aufgerufen werden soll, dann wird die bestimmte Speichereinheit, die aufgerufen werden soll, entweder von der Einstellung einer Gruppe von Schaltern der Konsole oder aber von einer Information ausgewählt, die mit der ursprünglichen Mikroprograinmladung über den Lader 32 bereits im Mikroprogramm enthalten ist. Als nächstes wird der Zähler für die aktive Zeitphase, nämlich ein Register im Steuerspeicher 42, auf die Zeitdauer eingestellt, während der die ungünstigste Belastung an die Stromversorgung angelegt werden wird.
Dann wird ein Bit im Mikroprogramm-Steuerwort abgefragt, um festzustellen, ob eine einzige Adresse in eine Schleife gebracht werden soll oder ob der Adressenzähler heruntergezählt wird. Wenn ein Zugriff zu einer einzigen Adresse durchgeführt werden soll, dann wird das Datenmuster gespeichert, der Zähler für die aktive Zeitphase heruntergezählt und ein Vergleich durchgefühlt, um festzustellen, ob der Zählerinhalt gleich 1^uI! ist. Diese Folge wird so lange fortgesetzt, bis der Zählerinhalt Null ist, was bedeutet, daß die aktive Zeitphase beendet ist und die inaktive Zeitphase begonnen wird.
Während der aktiven Zeitphase sind die Leitungen 37 und 39 in F i g. 1 aktiv und gestatten die Übertragung der Spannungs-Statusinformation in die ALU- und Datenflußregister 40, um festzustellen, ob Fehler aufgetreten sind oder ob irgendeine Stromversorgungseinrichtung außerhalb ihrer Toleranzen arbeitet. Im Falle eines Fehlers wird ein Integrator gesetzt, der den Operator über diesen Fehler unterrichtet. Hierzu dient ein Identifizierer, der die Funktionseinheit anzeigt, in welcher der Fehler auftrat.
Alternativ hierzu kann der Operator einen dauernden Ausdruck über die Fehler oder einen Stop beim Auftreten eines Fehlers für diese Fehlerunterrichtung wählen.
In der inaktiven Zeitphase wird eine Arbeitsspeicher-Betriebsart eingestellt und eine Verzweigung zur Arbeitsspeicheradresse Null durchgeführt. Dieses bewirkt, daß das Programm von Sleuerwörtern ausgeführt s wird, die sich im Arbeitsspeicher befinden.
Während der inaktiven Zeitphase werden die Stromversorgungseinrichtungen nicht vom Programm her betätigt. Der Zähler für die inaktive Zeitphase wird über die Konsolschalter eingestellt und so lange ίο heruntergezählt, bis sein Inhalt gleich Null ist Nachdem der Zähler für die inaktiven Zeitphase den Wert Null erreicht hat, wird die Arbeitsspeicher-Betriebsart zurückgestellt und auf den Steuerspeicher für die nächste Routine zurückgegangen.
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Claims (6)

Patentansprüche:
1. Einrichtung zur Prüfung und Überwachung von Stromversorgungseinrichtungen in elektronischen Datenverarbeitungsanlagen, gekennzeichnet durch folgende Merkmale:
a) es ist mindestens eine dynamische Prüfeinrichtung (50) vorgesehen, die an jede mit einer eigenen Stromversorgungseinrichtung (22, 24, 26, 28) versehene Funktionseinheit (12, 14, 16, 18) der Datenverarbeitungsanlage (10) über eine eigene Spannungsüberwachungsleitung (47) anschließbar ist,
b) in der Datenverarbeitungsanlage (10) ist eine auf mehrere ihrer Funktionsteile verteilte Ablaufsteuerung (34,36,48,40,46) vorgesehen, die für die "zu überprüfenden Stromversorgungseinrichtungen definierte Belastungen durch die Aktivierung von Schaltkreisen innerhalb der zugehörigen Funktionseinheiten erzeugt,
c) die Prüfeinrichtung (50) prüft die Spannungen unter diesen Belastungsverhältnissen und gibt die Ergebnisse in ein in der Prüfeinrichtung (50) enthaltenes Spannungs-Statusregister (84) ein,
d) die Ablaufsteuerung überträgt die im Spannungs-Statusregister (84) befindliche Information zur Gut-Schlecht-Entscheidung in die ALU und Datenflußregister (40) der Datenverarbeitungsanlage (10).
2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die dynamische Prüfeinrichtung (50; Fig. 1) Filter (54, 56) aufweist, die eine erste Wcchselstromkomponente von einer zweiten der Aiisgangsspannung(en) einer Stromversorgungseinrichtung (ζ. B. 28) auf der Spannungs-Überwachungsleitung (47) trennt, daß ferner Pegeldetektoren (58, 60, 62, 64) an die Filter zur Bestimmung der Größe der ersten und zweiten Wechselstromkomponenten angeschlossen sind, daß weiter Schwellwertdetektoren (66, 68) an die Spannungs-Überwachungsleitung zur Bestimmung der Größe der Gleichstromkomponente (π) beider Polaritäten angeschlossen sind und daß schließlich ein Speicher (84) zur temporären Speicherung der ermittelten Spannungsgrößen vorgesehen ist.
3. Einrichtung nach Anspruch 1, und/oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Ablaufsteuerung (34, 36, 38, 40, 46; Fi g. 1) die maximale Anzahl von Schaltkreisen aktiviert, die von der Spannungsversorgungseinrichtung (z. B. 28), zugelassen werden, was der größtmöglichen, als Normalfall zugelassenen Belastung, entspricht.
4. Einrichtung nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Pegeldetektoren (58, 60, 62, 64; Fig. 1) und Schvellwertdetektoren (66, 68) ein Fehlersignal erzeugen, wenn die Ausgangscharakteristik der überwachten Spannungskomponente einen vorgegebenen Wert überschreitet.
5. Einrichtung nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die dynamische Prüfeinrichtung (50) sequentiell an die Stromversorgungseinrichtungen (22, 24, 26, 28) zur Überprüfung der Ausgangsspannungen derselben angeschlossen wird.
6. Einrichtung nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Stromversorgungseinrichtungen mehrere unterschiedliche Spannungen liefern und alle diese Spannungen geprüft und überwacht werden.
DE2418650A 1973-06-25 1974-04-18 Einrichtung zur Prüfung und Überwachung von Stromversorgungseinrichtungen Expired DE2418650C2 (de)

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JP (1) JPS5247294B2 (de)
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GB (1) GB1452193A (de)
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