DE2418650C2 - Einrichtung zur Prüfung und Überwachung von Stromversorgungseinrichtungen - Google Patents
Einrichtung zur Prüfung und Überwachung von StromversorgungseinrichtungenInfo
- Publication number
- DE2418650C2 DE2418650C2 DE2418650A DE2418650A DE2418650C2 DE 2418650 C2 DE2418650 C2 DE 2418650C2 DE 2418650 A DE2418650 A DE 2418650A DE 2418650 A DE2418650 A DE 2418650A DE 2418650 C2 DE2418650 C2 DE 2418650C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- power supply
- voltage
- data processing
- test device
- processing system
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Sources (AREA)
- Stand-By Power Supply Arrangements (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Sewing Machines And Sewing (AREA)
Description
omversorgungsein-
Die Erfindung betrifft eine Einrichtung zur Prüfung und Überwachung von Stromversorgungseinrichtungen
ίο in elektronischen Datenverarbeitungsanlagen.
Bei den bisher bekannt gewordenen Einrichtungen zur Prüfung und Überwachung von elektronischen
Stromversorgungsgeräten erfolgt diese Prüfung und Überwachung auf der Basis statischer Ausgangssignale.
Hierzu werden die Stromversorgungsgeräte bestimmten Belastungsverhältnissen unterworfen und dabei
wird das Verhalten der Ausgangsspannungen mittels Meßinstrumenten oder Osrillographen überwacht
Während einer solchen statischen Messung können aber eine Reihe von Fehlern nicht festgestellt werden.
Ein Oszillograph ist, obwohl er eine nützliche Hilfe für die Feststellung des Verlaufs von Ausgangsspannungen
der Stromversorgungsgeräte ist, eine manuell betriebene Vorrichtung, die sehr schwierig und nur mit einigem
Zeitaufwand zu handhaben ist. Darüberhinaus gibt es viele Situationen, in denen eine geeignete Anzeige auf
einem Oszillographenschirm wegen der Fehlerwiederholungsgeschwindigkeit oder bei intermitiierenden
Fehlern nicht gewonnen werden kann. Es ist daher die Aufgabe der Erfindung, eine
Prüfeinrichtung für eine elektronische Datenverarbeitungsanlage so auszugestalten, daß die Belastungsverhältnisse
an der zu überprüfenden Stromversorgungseinrichtungen der Datenverarbeitungsanlage dynamisch
einstellbar sind und ;iiose F;r:5tei!a■,.&, sowie die
Überwachung und Prüfung öe
richtungen automatisch durchführbar sind.
richtungen automatisch durchführbar sind.
Gelöst wird diese Aufgabe durch eine Einrichtung, die durch den Anspruch 1 gekennzeichnet ist. Weitere
Merkmale, vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterbildungen dieser Einrichtung sind den Unteransprüchen zu
entnehmen.
Mit der genannten Einrichtung wird der Vorteil erzielt, daß eine preventive Wartung an den Stromversorgungseinrichtungen
einer elektronischen Datenverarbeitungsanlage durchgeführt werden kann, um Fehlverhalten
vorherzusagen und die Zahl der Fehler infolge einer Überlastung während des Durchlaufs eines
Benützerprogramms zu verringern.
Ein weiterer Vorteil ergibt sich dadurch, daß die Ausfallzeiten des Systems verringert werden und die
Fehlerfest! teilung weitgehend automatisiert wird.
Im folgenden wird ein Ausführungsbeispiel der Erfindung anhand der Zeichnungen näher beschrieben.
Es zeigt
Fig. 1 ein Blockschaltbild einer Prüfeinrichtung für
eine Stromversorgungseinrichtung in einer EDV-Anlage und
Fig. 2 eine schematische Darstellung des Arbeitsablaufes in einem Prüfgerät nach F i g. 1.
Fig. 1 zeigt eine Datenverarbeitungsanlage 10. die über mehrere Funktionseinheiten 12, 14, 16 und 18
verfügt, die jeweils eigene Stromversorgungseinheiten 22, 24, 26 und 28 besitzen. Die Datenverarbeitungsanlage
10 kann beispielsweise den in der US-PS 36 51 476 beschriebenen Aufbau aufweisen.
Die Funktionseinheit 12 besitzt eine Einrichtung 32 zum Laden des Mikroprogramms, ein Arbeitsspeicher-
register 34 und ein Steuerregister 36.
Die Funktionseinheit 14 besteht aus einem Speicheradressenregister
und Steuerdecoder 38, einer arithmetischen und logischen Einheit, sowie Datenflußregistern
40.
Die Funktionseinheit 16 verfügt über einen Steuerspeicher 42 und einen internen Hauptspeicher 44.
Die Funktionseinheit 18 schließlich besitzt einen externen Datenspeicher 46.
Die dynamische Prüfeinrichtung 50 erhält ihre Energieversorgung von der Stromversorgungseinrichtung
52, die unabhängig von den Stromversorgungseinrichtungen 22, 24, 26 und 28 arbeitet, die der
eigentlichen Prüfung unterliegen.
Es sei an dieser Stelle erwähnt, daß, obwohl die Stromversorgungseinrichtungen 22, 24, 26 und 28 in
F i g. 1 jeweils als ein Block dargestellt sind, diese Geräte aus mehreren physikalischen Anordnungen
bestehen, um die verschiedenen Spannungen zu liefern, mit denen die Datenverarbeitungsanlage betrieben
wird.
Die dynamische Prüfeinrichtung 50 enthält ein Bandpaßfilter 54, das Frequenzanteile zwischen 1 und
20MHz überträgt, ferner ein Tiefpaßfilter 56, das Frequenzkomponenten zwischen 0 und 1 MHz überträgt
sowie Detektoren 58 und 60 für positive und negative Pegel, die mit dem Ausgang des Bandpaßfilters
54 verbunden sind. Ferner sind Detektoren 62 und 64 für positive und negative Pegel mit dem Ausgang des
Tiefpaßfilters 56 verbunden. Diese Detektoren erzeugen Ausgangssignale, wenn die Ausgangssignale des
Bandpaßfilters 54 und des Tiefpaßfilters 56 eine^ vorgegebenen Wert entweder in positiver oder in
negativer Richtung überschreiten. Die dynamische Prüfeinrichtung 50 enthält ferner Gleichspannungs- ji
Schwellwertdetektoren 66 und 68 für die Überwachung der Amplitude der Gleichstromkomponente der zu
prüfenden Stromversorgungseinrichtung und zwar für positive und negative Ströme.
Die Ausgangssignale der jeweiligen Pegel- und Schwellwertdetektoren sind jeweils mit einem aus einer
Gruppe von UND-Toren 70 bis 80 verbunden. Die Ausgänge der UND-Tore 70, 72, 74, 76, 78 und 80 sind
mit den Eingängen des Spannungs-Statusregisters 84 verbunden.
Fig. 1 zeigt ferner die Spannungs-Überwachungsleitung
47, die den externen Speicher 46 mit den Eingängen der Filter 54, 56 sowie der Gleichstrom-Schwellwertdetektoren
66 und 68 in der dynamischen Prüfeinrichtung 50 verbindet. Es sei auch hier erwähnt,
daß, obwohl die Leitung 47 als einzelne Leitung und die dynamische Prüfeinrichtung 50 nur einmal dargestellt
sind, sie jedoch in dem vollautomatischen Prüfsystem mehrfach vorhanden sind und zwar einmal für jede
Stromversorgungseinrichtung, die eine Funktionsein- τ,
heit in der Datenverarbeitungsanlage 10 versorgt.
Die Spannungs-Überwachungsleitung 47 dient als Eingang in die dynamische Prüfeinrichtung 50. Ein
anderer Eingang, der für den Betrieb der dynamischen Prüfeinrichtung erforderlich ist, ist die Prüfbetriebslei- bo
tung 37, die eine Verbindung vom Ausgang des Speicheradressenregisters und Steuerdecoders 38 in der
Datenverarbeitungsanlage 10 zu der Verriegelungsschaltung 82 in der dynamischen Prüfeinrichtung 50
herstellt. Wenn diese Leitung 37 aktiv ist, schaltet sie die h5 Verriegelungsschaltung 82 in ihre »Ein«-Lage, in der sie
ein Signal für die Durchschaltung der UND-Tore 70 bis 80 abgibt, die dann die Ausgangssignale der Detektoren
58 bis 68 in das Spannungs-Staiusregister 84 übertragen.
Die Leitung 39 vom Speicheradressenregister und Steuerdecoder 38 liefert ebenfalls ein Durchschaltsignal,
das veranlaßt, daß die Spannungs-Statusinformation aus dem Spannungs-Statusregister 84 in die ALU Datenflußregister
40 für die Prüfung der Fehlerzustände übertragen wird.
Fig.2 zeigt ein Schema des Betriebsablaufs der dynamischen Prüfeinrichtung für die in F i g. 1 dargestellten
Stromversorgungseinrichtungen 22, 24, 26 und 28, die von der Mikroprogrammsteuerung der Datenverarbeitungsanlage
auf folgende Weise betrieben werden: Das Mikroprogramm aktiviert die größtmögliche
Anzahl von Schaltkreisen innerhalb einer Funktionseinheit.
die benutzt werden soll, um auf diese Weise den ungünstigsten Belastungszustand der Stromversorgungteinrichtungen
herbeizuführen. Die Zeitdauer, die als aktive Zeitphase bezeichnet wird, während der diese
ungünstigste Belastung an die Stromversorgungseinrichtung einer Funktionseinheit angelegt wird, wird
durch die Einstellung von Schaltern in der Bedienungskonsole der Datenverarbeitungsanlage 10 gesteuert.
Diese Schalter stellen ein Register im Steuerspeicher 42 ein. Das Register wird dann zur Steuerung der aktiven
Zeitphase wie ein Zähler betrieben.
Fig. 2 zeigt die Zeitphasen der Ablaufsteuerung in Form eines Mikroprogramms, das zur Betätigung des
externen Speichers 46 und zur Prüfung der Stromversorgungseinrichtung 28 verwendet wird.
Zunächst wird die Größe des Speichers bestimmt, und die Einstellung der Steuerschalter wird in den
Steuerspeicher 42 eingegeben, wodurch die Speicheradressengrenzen angegeben werden.
Das Mikrosteuerwort wird abgefragt, um festzustellen,
ob die gesamte Speicheranordnung angesteuert werden soll oder ob nur eine bestimmte Speichereinheit
aufgerufen werden soll. Wenn ein Zugriff zu dem
ganzen Speicher vorgenommen werden soll, dann wird eine Verzweigung durchgeführt, um den ganzen
Speicher auszulesen. Hierzu kann es erforderlich sein, in eine Schleife innerhalb der Verzweigung einzutreten, bis
nämlich der gesamte Speicher ausgelesen wurde. An dieser Stelle wird die aktive Zeitphase der Prüfung
beendet und die inaktive Zeitphase gestartet.
Wenn jedoch nicht der ganze Speicher aufgerufen werden soll, dann wird die bestimmte Speichereinheit,
die aufgerufen werden soll, entweder von der Einstellung einer Gruppe von Schaltern der Konsole
oder aber von einer Information ausgewählt, die mit der ursprünglichen Mikroprograinmladung über den Lader
32 bereits im Mikroprogramm enthalten ist. Als nächstes wird der Zähler für die aktive Zeitphase,
nämlich ein Register im Steuerspeicher 42, auf die Zeitdauer eingestellt, während der die ungünstigste
Belastung an die Stromversorgung angelegt werden wird.
Dann wird ein Bit im Mikroprogramm-Steuerwort abgefragt, um festzustellen, ob eine einzige Adresse in
eine Schleife gebracht werden soll oder ob der Adressenzähler heruntergezählt wird. Wenn ein Zugriff
zu einer einzigen Adresse durchgeführt werden soll, dann wird das Datenmuster gespeichert, der Zähler für
die aktive Zeitphase heruntergezählt und ein Vergleich durchgefühlt, um festzustellen, ob der Zählerinhalt
gleich 1^uI! ist. Diese Folge wird so lange fortgesetzt, bis
der Zählerinhalt Null ist, was bedeutet, daß die aktive Zeitphase beendet ist und die inaktive Zeitphase
begonnen wird.
Während der aktiven Zeitphase sind die Leitungen 37 und 39 in F i g. 1 aktiv und gestatten die Übertragung
der Spannungs-Statusinformation in die ALU- und Datenflußregister 40, um festzustellen, ob Fehler
aufgetreten sind oder ob irgendeine Stromversorgungseinrichtung außerhalb ihrer Toleranzen arbeitet. Im
Falle eines Fehlers wird ein Integrator gesetzt, der den Operator über diesen Fehler unterrichtet. Hierzu dient
ein Identifizierer, der die Funktionseinheit anzeigt, in
welcher der Fehler auftrat.
Alternativ hierzu kann der Operator einen dauernden Ausdruck über die Fehler oder einen Stop beim
Auftreten eines Fehlers für diese Fehlerunterrichtung wählen.
In der inaktiven Zeitphase wird eine Arbeitsspeicher-Betriebsart
eingestellt und eine Verzweigung zur Arbeitsspeicheradresse Null durchgeführt. Dieses bewirkt,
daß das Programm von Sleuerwörtern ausgeführt s wird, die sich im Arbeitsspeicher befinden.
Während der inaktiven Zeitphase werden die Stromversorgungseinrichtungen nicht vom Programm
her betätigt. Der Zähler für die inaktive Zeitphase wird über die Konsolschalter eingestellt und so lange
ίο heruntergezählt, bis sein Inhalt gleich Null ist Nachdem
der Zähler für die inaktiven Zeitphase den Wert Null erreicht hat, wird die Arbeitsspeicher-Betriebsart
zurückgestellt und auf den Steuerspeicher für die nächste Routine zurückgegangen.
tv. ι tu ί. υιοΐί ,
Claims (6)
1. Einrichtung zur Prüfung und Überwachung von Stromversorgungseinrichtungen in elektronischen
Datenverarbeitungsanlagen, gekennzeichnet durch folgende Merkmale:
a) es ist mindestens eine dynamische Prüfeinrichtung (50) vorgesehen, die an jede mit einer
eigenen Stromversorgungseinrichtung (22, 24, 26, 28) versehene Funktionseinheit (12, 14, 16,
18) der Datenverarbeitungsanlage (10) über eine eigene Spannungsüberwachungsleitung
(47) anschließbar ist,
b) in der Datenverarbeitungsanlage (10) ist eine auf mehrere ihrer Funktionsteile verteilte
Ablaufsteuerung (34,36,48,40,46) vorgesehen,
die für die "zu überprüfenden Stromversorgungseinrichtungen definierte Belastungen
durch die Aktivierung von Schaltkreisen innerhalb der zugehörigen Funktionseinheiten erzeugt,
c) die Prüfeinrichtung (50) prüft die Spannungen unter diesen Belastungsverhältnissen und gibt
die Ergebnisse in ein in der Prüfeinrichtung (50) enthaltenes Spannungs-Statusregister (84) ein,
d) die Ablaufsteuerung überträgt die im Spannungs-Statusregister (84) befindliche Information
zur Gut-Schlecht-Entscheidung in die ALU und Datenflußregister (40) der Datenverarbeitungsanlage
(10).
2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die dynamische Prüfeinrichtung (50;
Fig. 1) Filter (54, 56) aufweist, die eine erste Wcchselstromkomponente von einer zweiten der
Aiisgangsspannung(en) einer Stromversorgungseinrichtung
(ζ. B. 28) auf der Spannungs-Überwachungsleitung (47) trennt, daß ferner Pegeldetektoren
(58, 60, 62, 64) an die Filter zur Bestimmung der Größe der ersten und zweiten Wechselstromkomponenten
angeschlossen sind, daß weiter Schwellwertdetektoren (66, 68) an die Spannungs-Überwachungsleitung
zur Bestimmung der Größe der Gleichstromkomponente (π) beider Polaritäten
angeschlossen sind und daß schließlich ein Speicher (84) zur temporären Speicherung der ermittelten
Spannungsgrößen vorgesehen ist.
3. Einrichtung nach Anspruch 1, und/oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Ablaufsteuerung
(34, 36, 38, 40, 46; Fi g. 1) die maximale Anzahl von
Schaltkreisen aktiviert, die von der Spannungsversorgungseinrichtung (z. B. 28), zugelassen werden,
was der größtmöglichen, als Normalfall zugelassenen Belastung, entspricht.
4. Einrichtung nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die
Pegeldetektoren (58, 60, 62, 64; Fig. 1) und Schvellwertdetektoren (66, 68) ein Fehlersignal
erzeugen, wenn die Ausgangscharakteristik der überwachten Spannungskomponente einen vorgegebenen
Wert überschreitet.
5. Einrichtung nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die
dynamische Prüfeinrichtung (50) sequentiell an die Stromversorgungseinrichtungen (22, 24, 26, 28) zur
Überprüfung der Ausgangsspannungen derselben angeschlossen wird.
6. Einrichtung nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die
Stromversorgungseinrichtungen mehrere unterschiedliche Spannungen liefern und alle diese
Spannungen geprüft und überwacht werden.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US373539A US3867618A (en) | 1973-06-25 | 1973-06-25 | Dynamic power supply test system |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2418650A1 DE2418650A1 (de) | 1975-01-16 |
DE2418650C2 true DE2418650C2 (de) | 1982-04-08 |
Family
ID=23472812
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2418650A Expired DE2418650C2 (de) | 1973-06-25 | 1974-04-18 | Einrichtung zur Prüfung und Überwachung von Stromversorgungseinrichtungen |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3867618A (de) |
JP (1) | JPS5247294B2 (de) |
DE (1) | DE2418650C2 (de) |
FR (1) | FR2234606B1 (de) |
GB (1) | GB1452193A (de) |
IT (1) | IT1010157B (de) |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2458736C2 (de) * | 1974-12-12 | 1981-09-17 | Ibm Deutschland Gmbh, 7000 Stuttgart | Verfahren und Anordnung zur Überwachung von Stromversorgungsanlagen |
FR2310024A1 (fr) * | 1975-04-30 | 1976-11-26 | Honeywell Bull Soc Ind | Equipement de controle d'alimentations en courant continu |
US4233682A (en) * | 1978-06-15 | 1980-11-11 | Sperry Corporation | Fault detection and isolation system |
US4255748A (en) * | 1979-02-12 | 1981-03-10 | Automation Systems, Inc. | Bus fault detector |
JPS57197766A (en) * | 1981-05-30 | 1982-12-04 | Matsushita Electric Works Ltd | Cord connector with switch |
US4747057A (en) * | 1985-03-12 | 1988-05-24 | Pitney Bowes Inc. | Electronic postage meter having power up and power down protection circuitry |
US4701856A (en) * | 1985-03-12 | 1987-10-20 | Pitney Bowes Inc. | Reset delay circuit for an electronic postage meter |
FR2603112B1 (fr) * | 1986-08-19 | 1988-11-10 | Sautel Pascale | Procede et dispositif de surveillance de l'alimentation en courant continu de circuits electriques et/ou electroniques |
US5208530A (en) * | 1986-09-19 | 1993-05-04 | Actel Corporation | Testability architecture and techniques for programmable interconnect architecture |
US5265099A (en) * | 1991-02-28 | 1993-11-23 | Feinstein David Y | Method for heating dynamic memory units whereby |
US7353410B2 (en) | 2005-01-11 | 2008-04-01 | International Business Machines Corporation | Method, system and calibration technique for power measurement and management over multiple time frames |
US7349813B2 (en) * | 2006-05-16 | 2008-03-25 | Dresser, Inc. | Fault tolerant power system architecture for fluid flow measurement systems |
US20090035121A1 (en) * | 2007-07-31 | 2009-02-05 | Dresser, Inc. | Fluid Flow Modulation and Measurement |
US8958702B2 (en) | 2011-03-17 | 2015-02-17 | Fujitsu Limited | System and method for reducing interference of a polarization multiplexed signal |
US10191121B2 (en) * | 2017-05-31 | 2019-01-29 | Quanta Computer Inc. | System and method for voltage regulator self-burn-in test |
DE102019200333A1 (de) * | 2019-01-14 | 2020-07-16 | Phoenix Contact Gmbh & Co. Kg | Mess-System zur Erfassung von Störungen auf Leitungen eines Gerätes oder einer Anlage |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3564528A (en) * | 1966-08-22 | 1971-02-16 | Ex Cell O Corp | Electronic control circuit |
US3706007A (en) * | 1971-03-23 | 1972-12-12 | Yung Chun Wu | Overload and shock protective device |
US3715573A (en) * | 1971-04-14 | 1973-02-06 | Ibm | Failure activity determination technique in fault simulation |
US3745316A (en) * | 1971-12-13 | 1973-07-10 | Elliott Bros | Computer checking system |
US3761695A (en) * | 1972-10-16 | 1973-09-25 | Ibm | Method of level sensitive testing a functional logic system |
-
1973
- 1973-06-25 US US373539A patent/US3867618A/en not_active Expired - Lifetime
-
1974
- 1974-04-18 DE DE2418650A patent/DE2418650C2/de not_active Expired
- 1974-04-29 IT IT21988/74A patent/IT1010157B/it active
- 1974-05-07 FR FR7416714A patent/FR2234606B1/fr not_active Expired
- 1974-05-15 GB GB2151074A patent/GB1452193A/en not_active Expired
- 1974-05-22 JP JP49056791A patent/JPS5247294B2/ja not_active Expired
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
NICHTS-ERMITTELT |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5247294B2 (de) | 1977-12-01 |
DE2418650A1 (de) | 1975-01-16 |
IT1010157B (it) | 1977-01-10 |
GB1452193A (en) | 1976-10-13 |
US3867618A (en) | 1975-02-18 |
JPS5023950A (de) | 1975-03-14 |
FR2234606A1 (de) | 1975-01-17 |
FR2234606B1 (de) | 1976-06-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2418650C2 (de) | Einrichtung zur Prüfung und Überwachung von Stromversorgungseinrichtungen | |
DE3206891C2 (de) | ||
DE2349324C2 (de) | Verfahren zum Prüfen einer Funktionseinheit und Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens | |
EP0186724B1 (de) | Prüf- und Diagnoseeinrichtung für Digitalrechner | |
DE69322010T2 (de) | Verfahren und Steuergerät für Selbstdiagnose | |
DE3239221A1 (de) | Integrierte vorrichtung und verfahren zum pruefen eines mikroprozessor-systems | |
DE68913630T2 (de) | Automatischer Felderdungsdetektor und Lokalisator. | |
DE2732381A1 (de) | Geraet zur ueberwachung der frequenz einer wechselstromleistungsquelle | |
DE69601813T2 (de) | Fehlertolerante Rechnervorrichtung | |
DE2722124A1 (de) | Anordnung zum feststellen des prioritaetsranges in einem dv-system | |
DE3879007T2 (de) | Steuerkreis fuer verarbeitungsimpulse. | |
DE2952631C2 (de) | Schaltungsanordnung zur Diagnose einer Datenverarbeitungsanlage | |
EP0024045A1 (de) | Prüfeinrichtung zur Fehldiagnose in Mehrrechner-Systemen, insbesondere in Multimikrocomputer-Systemen | |
DE2835498C2 (de) | Anordnung zur dynamischen Fehlerermittlung in Datenverarbeitungsanlagen | |
DE69419269T2 (de) | Verfahren zur automatischen Ermittlung von offenen Schaltkreisen | |
DE4302908C2 (de) | Verfahren zur Ermittlung kritischer Fehler insbesondere für ein Kommunikationssystem und eine nach diesem Verfahren arbeitende Schaltungsanordnung | |
DE69637490T2 (de) | Prüfbare schaltung und prüfverfahren | |
DE1191144B (de) | Einrichtung zum Nachweis von Fehlern und zum Feststellen des Fehlerortes | |
DE3782321T2 (de) | Eingabenverwaltungsschaltung fuer programmierbare steuerung. | |
DE2534454A1 (de) | Schaltungspruefgeraet | |
DE2341215A1 (de) | Vorrichtung zur messung von frequenzdifferenzen | |
DE4233837A1 (de) | Rechenanlage | |
DE3731097C2 (de) | Schaltungsanordnung zur Überwachung einer von zwei Mikroprozessoren gesteuerten Einrichtung, insbesondere einer Kraftfahrzeug-Elektronik | |
EP0037965B1 (de) | Einrichtung zum Prüfen einer digitalen Schaltung mittels in diese Schaltung eingebauter Prüfschaltungen | |
DE2903383C2 (de) | Separates Testgerät für adressierbare Schaltungen |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OD | Request for examination | ||
8125 | Change of the main classification |
Ipc: G06F 11/30 |
|
D2 | Grant after examination | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |