DE2408990A1

DE2408990A1 - Programmgesteuertes testsystem

Info

Publication number: DE2408990A1
Application number: DE19742408990
Authority: DE
Inventors: Tsugie Maejima
Original assignee: Takeda Riken Industries Co Ltd
Current assignee: Advantest Corp
Priority date: 1973-02-26
Filing date: 1974-02-25
Publication date: 1974-09-12
Also published as: US3892955A; DE2408990B2; GB1460963A; JPS5329417B2; JPS49113538A

Description

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TAKEDA EIKEN KOGYO K^- A ftTτρτττκΎΐΓ Δ TßFA Tokyo, Japan

Programmgesteuertes Testsystem

Die vorliegende Erfindung betrifft ein programmgesteuertes Testsystem mit einer Programmsteuereinlieit, mit einer zu testenden Vorrichtung, von der mittels eines Befehles aus der Programmsteuereinheit eine Adresse angewählt wird und die in der Lage ist, entsprechend der Adresse eine Ausgangsinformation zu liefern, mit einem Adressenregister zur Speicherung einer Adresse aus dem Befehl, mit einem Bezugsdatenregister zur Speicherung einer Bezugsinformation aus dem Befehl und mit einer Vergleichsschaltung zum Vergleich des Inhalts des Bezugsdatenregisters mit einer Ausgangsinformation der zu testenden Vorrichtung sowie zur Lieferung eines Vergleichsausgangs an die Programmsteuereinheit, wobei die Programmsteuereinheit in der Lage ist, eine neue Adresse zu liefern, wenn sich das Vergleichsergebnis als "nicht fehlerhaft" erweist,und einen afckommodierenden Verfahrensablauf einzuleiten, wenn sich das Vergleichsergebnis als "fehlerhaft" erweist.

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Insbesondere betrifft diese Erfindung ein System, das vorzugsweise als Testsystem für eine integrierte Halbleiterspeichereinheit verwendet werden kann, und zwar besonders ein solches System, das unter dem Einfluß eines Programms arbeitet.

Bei einem bekannten System zum Testen einer Speichereinheit, die auf einem integrierten Halbleiter ausgebildet ist, wird zunächst eine Adresse in der zu testenden Vorrichtung ausgewählt. Dann wird eine Bezugsinformation in diese Adressteile eingespeichert, wieder ausgelesen und die ausgelesene Ausgangsinformation mit der Bezugsinformation verglichen, die vor dem Einschreiben im Urzustand gespeichert worden war. Es wird dann entschieden, ob sich das Vergleichsergebnis als "nicht fehlerhaft" oder "fehlerhaft" erweist. Stellt sich die Ausgangsinformation als "nicht fehlerhaft" heraus, wird der Programmzähler um einen Schritt weitergeschaltet, um den nächsten Programmschritt einzuleiten. Erweist eich das Vergleichsergebnis als "fehlerhaft", wird ein akkommodierender Verfahrensablauf eingeleitet. Der akkommodierende Verfahrensablauf für die fehlerhafte Speichereinheit erfordert eine definierte Zeit, so daß unter Voraussetzung einer festen Zykluszeit die Auswahl der Speichereinheiten, die getestet werden können, in Abhängigkeit von der Länge ihrer Zugriffszeit begrenzt ist. Eine Speichereinheit mit einer längeren Zugriffszeit kann in einem solchen System daher nicht mehr getestet werden. Dies wäre nur durch Verlängerung

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der Zykluszeit möglich. Auf der anderen Seite ist es verständlich, daß die Speichereinheit mit der Maximalgeschwindigkeit getestet werden kann, wenn sowohl der Zugriff als auch die Bestimmung des Testergebnisses innerhalb einer Zykluszeit bei der höchsten Geschwindigkeit der Speichereinheit vollendet werden können. Speichereinheiten mit derselben Maximalgeschwindigkeit von einer Zykluszeit, aber mit einer Zugriffszeit, die einen relativ grosser en Teil davon in Anspruch nimmt, so daß die Summe der Zugriffszeit und der Zeit, die für die Bestimmung des Testergebnisses erforderlich ist, bei maximaler Geschwindigkeit der Speichereinheit eine Zykluszeit überschreitet, können jedoch nicht mehr getestet werden. In diesem i'all muß die Zykluszeit des Tests vergrößert werden, um die Speichereinheiten mit einer Geschwindigkeit, die niedriger als ihre maximale Geschwindigkeit ist, zu betreiben, wodurch die Testzeit vergrößert wird. Beim Testen einer integrierten Halbleiterspeichereinheit mit einer Kapazität von 1000 Bits beläuft sich die Anzahl der erforderlichen Zugriffe beispielsweise auf nicht weniger als eine Million oder gewöhnlicherweise vier Millionen, so daß verständlich ist, daß eine Zunahme der Zeit pro Zugriff, auch wenn diese Zunahme selbst klein ist, ein beträchtliches Anwachsen der Gesamttestzeit und damit einen wenig effektiven Betrieb zur Folge hat.

Die Aufgabe der Erfindung besteht darin, ein programmgesteuertes Testsystem zu schaffen, das mit einer hohen Gesamtgeschwindigkeit

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arbeitet.

Das programmgesteuerte Testsystem gemäß der Erfindung soll Speichereinheiten testen können, die eine relativ lange Zugriffszeit besitzen, so daß die Summe der Zugriffszeit und der Zeit, die für die Ermittlung des Vergleichsergebnisses erforderlich ist, eine Zykluszeit des Testsystems überschreitet. Dabei soll es möglich sein, daß die Testeinheiten mit ihrer maximalen Arbeitsgeschwindigkeit betrieben werden. Es sollen auch Speichereinheiten getestet werden können, deren Zugriffszeit so lange wie eine Zykluszeit ist.

Darüber hinaus soll mit der Erfindung erreicht werden, daß ein Xestsystem von einem Mikroprogramm gesteuert wird, um die Adresse einer fehlerhaften Adreßstelle darstellen zu können und eine Analyse des Fehlers zu erleichtern.

Bei einem programmgesteuerten Testsystem der eingangs genannten Art wird die Aufgabe dadurch gelöst, daß die Zeit vom Adressieren bis zu einem akkommodierenden Verfahrensablauf bei einem "fehlerhaften" Vergleichsergebnis entsprechend der Ausgangsinformation größer als eine Zykluszeit sein kann.

Gemäß der Erfindung wird eine Bezugsinformation in einen Pufferspeicher eingespeichert und dann mit einer Ausgangsinformation aus der zu testenden Vorrichtung verglichen. Diese Speicherung

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· das Stehenlassen der Bezugsinformation ermöglicht, einen Vergleich durchzuführen, wenn die Zugriffszeit, das heißt die Zeit, die das Auswählen einer Adresse, das nachfolgende Einschreiben einer Information sowie das Auslesen dieser Information beinhaltet, relativ lang ist. Während der Zeit, in der eine verzögerte Ausgangsinformation mit der gespeicherten Bezugsinformation verglichen wird und ein dem Vergleichsergebnis entsprechender Prozeßablauf durchgeführt wird, kann gleichzeitig ein Adressieren, ein Informationseinschreiben, ein Auslesen dieser Information und ähnliches durchgeführt werden, wodurch die Gesamttestzeit verringert wird. Dadurch wird eine hohe Testgeschwindigkeit ermöglicht.

Anhand der Figuren werden Ausführungsbeispiele der Erfindung erläutert. Es zeigen

fig. 1 beispielsweise ein Blockschaltbild eines herkömmlichen programmgesteuerten Testsysteme,

!Fig. 2 ein Impulsdiagramm zur Erläuterung der Wirkungsweise des Systems von IPig. 1,

fig. 3 das Blockschaltbild einer Ausführungsform des programmgesteuerten Testsystems gemäß der Erfindung,

fig, 4- ein Impulsdiagramm zur Erläuterung der Wirkungsweise des Systems von fig. 3»

fig. 5 ein Blockschaltbild einer anderen Ausführungsform des programmgesteuerten Testsystems gemäß der Erfindung und

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fig. 6 ein Impulsdiagramm zur Verdeutlichung der Wirkungsweise des !Testsysteme von fig. 5·

In Fig. 1 ist ein bekanntes programmgesteuertes Testsystem dargestellt (US-PS 3 751 649). Das System besitzt eine Mikroprogramm-Steuereinheit 1 mit einem Befehlsregister zur Aufnahme eines Befehls aus dem Mikroprogramm. Eine in des Befehl enthaltene Adresse wird an eine Adreßeinheit 2 und von dort an eine zu testende Vorrichtung, etwa eine Halbleiter-Speichereinheit 3 t zum Zwecke des Zugriffs weitergegeben. Eine in dem Befehl enthaltene Bezugsinformat ion wird von einem Datengenerator 4 in die angewählte Adreßstelle eingeschrieben. Die eingeschriebene Information wird sofort wieder auegelesen, um in einem Ausgangsdatenspeicher 5 gespeichert zu werden} dessen Inhalt wird in einer Vergleichsschaltung 6 mit der Bezugsinformation im Datengenerator 4 verglichen. Wenn das Vergleichsergebnis "nicht fehlerhaft" ergibt, das heißt, wenn beide Inhalte übereinstimmen, wird ein Programmzähler in der Mikroprogramm-Steuereinheit 1 um einen Schritt weitergestellt. Wenn auf der anderen Seite das Vergleichsergebnis "fehlerhaft" ergibt, das heißt, wenn beide Inhalte nicht übereinstimmen, wird die laufende Ausführung der Mikroprogramm-Steuereinheit 1 unterbrochen und ein "Fehler"-Verfahrensablauf eingeleitet, der in einem Übertragungsbefehl resultieren kann.

Wie aus dem in fig. 2 gezeigten Impulsdiagramm zu entnehmen ist,

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findet während einer Zykluszeit Xc der Mikroprogramm-Steuereinheit 1, in Pig. 2A gezeigt, eine Adressierung und die Erzeugung der Bezugsinformation statt, wie in den Fig. 2B bzw. 2C dargestellt. Das Einschreiben und Auslesen in die bzw. aus der zu testenden Speichereinheit 3 sowie der Vergleich ait der Bezugsinformation geschehen während eines Zeitabschnitts 3L₁ der mit dem Ende eines laktimpulses beginnt, der die Zykluszeit festlegt. Venn das Vergleichsergebnis "fehlerhaft" ergibt, findet ein "3Pehler"-Verfahrensablauf während eines anderen Zeitabschnitts I« statt, der sich vom Ende des Zeitabschnitts QL bis zur nächsten Zykluszeit erstreckt^ die Mikroprogramm-Steuerung während der nächsten Zykluszeit hängt vom Ergebnis des "Pehler"-Verfahrensablaufε ab. J¹Xg. 21) zeigt eine Ausgangsinformation, die aus der Speichereinheit ausgelesen wurde, und fig. 2E zeigt einen Vergleichstakt, der an einen in JTig. 1 dargestellten Anschluß 7 angelegt wird, um einen Vergleich zwischen der Ausgangsinformation und der Bezugsinformation zu ermöglichen. Der Wechsel der Impulsformen, dargestellt in den Fig. 2B, 20 und 2D, zwischen "0" und "1" bei aufeinanderfolgenden Zykluszeiten zeigt an, daß die jeweiligen Informationsinhalte mit jeder Zykluszeit wechseln.

Aus der vorangegangenen Beschreibung wird verständlich, daß bei einem herkömmlichen programmgesteuerten Testsystem alle Verfahrensabläufe für eine einzige Adreßstelle innerhalb einer Zykluszeit Tc der Mikroprogramm-Steuereinheit 1 ausgeführt

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werden, wodurch das Einschreiben und Auslesen der Daten sowie der Vergleich auf einen Zeitabschnitt 3L beschränkt werden, da ein bestimmter Zeitabschnitt T^ für den "!"ehler^-Verfahrensablauf erforderlich ist. Bei einer Zykluszeit Ic können daher Speichereinheiten mit einer Zugriffszeit, die einen bestimmten Vert überschreitet, nicht mehr getestet werden. Venn die Summe von T^ und Tg ^ei der maximalen Arbeitsgeschwindigkeit der Speichereinheit 3 eine Zykluszeit Tc überschreitet, dann muß diese verlängert werden, wodurch ausgeschlossen wird, daß die Speichereinheit bei ihrer maximalen Arbeitsgeschwindigkeit getestet wird.

In dem oben beschriebenen bekannten Testsystem können die von der Adreßeinheit 2 bezeichnete Adresse und die vom Datengenerator 4 erzeugte Bezugsinformation mittels einer Anzeigetafel δ dargestellt werden. Venn sich Jedoch eine bezeichnete Adreßstelle aufgrund des Tests als fehlerhaft herausstellt, wird ein Befehl für einen "gehler"-·Verfahrensablauf oder ähnliches, was vom Programmzähler innerhalb der Mikroprogramm-Steuereinheit 1 festgelegt wird, an die Adreßeinheit 2 und den Datengenerator 4- gegeben, um eine Darstellung hiervon zu bewirken, wodurch eine Darstellung der fehlerhaften Adresse mittels der Anzeigetafel 8 verhindert wird. Venn die fehlerhafte Adresse festgestellt werden soll, muß das Flußdiagramm abgesucht werden, um die Stelle festzustellen, an der das Testsystem eine fehlende

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Koinzidenz ermittelt hat, was zu einem schwierigen Verfahren führt. Die aus der fehlerhaften Adreßstelle ausgelesene Ausgangsinformation kann dargestellt werden, da der Inhalt des Auegangsdatenspeichers 5 ebenfalls an die Anzeigetafel δ geliefert wird.

Unter Bezugnahme auf fig. 3 wird im folgenden eine Ausführungsform des programmgesteuerten !Destsystems gemäß der Erfindung beschrieben. In dieser fig. sind entsprechende Teile mit den gleichen Bezugszahlen wie in fig. 1 versehen. Die Programmsteuereinheit 1 enthält einen Frogrammzähler 10, der den Zugriff zu einem ebenfalls in der Programmsteuereinheit 1 vorhandenen Mikroprogrammspeicher 11 ermöglicht, um einen Befehl aus diesem auszulesen. Eine in diesem Befehl enthaltene Adresse wird an die Adreßeinheit 2 geliefert, während eine Bezugsinformation an den Datengenerator 4 gelangt. Eine Übertragungsadresse wird mit einer Zeitverzögerung von einer Zykluszeit auf ein Übertragungsadressenregister 12 gegeben. Die in der Adreßeinheit 2 enthaltene Adresse wird in einem Adressenregister 13 gespeichert, während die Bezugsinformation vom Datengenerator 4 in einem Bezugsdatenregister 14 gespeichert wird. Unter Verwendung der in der Adreßeinheit 2 enthaltenen Adresse wird die zu testende Speichereinheit 3 zugänglich gemacht, und die Bezugsinformation vom Datengenerator 4 in die bezeichnete Adreßstelle eingeschrieben. Anschließend wird die eingeschriebene Information

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wieder ausgelesen, wobei die Ausgangsinf ormation im Ausgangsdatenspeicher 5 gespeichert wird. Der Inhalt des Ausgangsdatenspeichers 5 wird in einem Ausgangsdatenregister 15 gespeichert, dessen Ausgang in der Vergleichsschaltung 6 mit der Bezugsinformat ion vom Bezugsdatenregister 14 verglichen wird·

Sie Vergleichsschaltung 6 kann in verschiedenster Weise zusammengesetzt sein; beispielsweise kann diese Schaltung derart konstruiert sein, daß eine exklusive logische Summe einander entsprechender Bits beider zu vergleichender Daten bzw. Informationen gebildet wird und daß dann eine logische Summe entsprechender Ausgänge gebildet wird, um eine ^W1^B zu liefern, wenn an irgendeiner Bit-Stelle die Koinzidenz fehlt, und um als Ausgang eine "O" zu liefern, wenn alle Bits übereinstimmen. Der Vergleichsausgang gelangt auf den J-Anschluß eines JK Flip-Flops 16, das eine Schaltung zur Sperrung der Anzeige darstellt. Das Flip-Flop 16 besitzt einen Taktanschluß C, an den von einem Anschluß 17 über eine Verzögerungsschaltung 18 ein Zykluszeit-Takt aus der Mikroprogramm-Steuereinheit 1 angelegt wird. Ein logisches Produkt des Q-Ausgangs des Flip-Flops 16 und des Takts vom Anschluß 17 wird mittels eines UND-Gatters 19 gebildet, dessen Ausgang das Einlaufen neuer Daten in die Eegister 13 bis 15 ermöglicht. Der Ausgang der Vergleichsschaltung 6 wird außerdem auf ein Gatter 20 gegeben, ao daß, wenn der Tergleichs-

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ausgang ^M1" ist, der Ausgang des Ubertragungsadreßregisters 12, das eine Ubertragungsadresse speichert, über das Gatter 20 und ein ODEE-G-atter 21 zum Programm zähler 10 geführt wird. Zusätzlich zu einer Übertragung, die. der Programmzähler 10 als Antwoit auf einen "Fehler"-Verfahrensablauf verlangt, kann eine übertragung auch während des normalen Betriebes erforderlich sein, wenn der Vergleichsausgang "0" ist, um ein Mikroprogramm durchzuführen; eine solche Übertragung wird dem Programmzähler über ein Gatter 22 und das ODER-Gatter 21 zugeführt. Das Gatter 22 wird von einem Gattersignal durchlässig geschaltet, das der negierte Ausgang der Vergleichsschaltung 6 ist, der über einen Schaltkreis 23 zugeführt wird. Sie Inhalte der Register 13 bis 15 können auf Anzeigetafeln 3a bis 8c dargestellt werden.

Mit Jedem Zykluszeit-Iakt (Fig. 4A) der Mikroprogramm-Steuereinheit 1 wird eine Adresse in die Adresseneinheit 2 eingegeben und eine Bezugsinformation wird in dem Datengenerator 4 bereitgestellt, wie in den Hg. 4B bzw. 40 gezeigt} die Bezugsinformation wird in eine zu testende Speichtreinheit 3 in die bezeichnete Adresse eingeschrieben und nachfolgend wieder ausgelesen. Während einer Kabellaufzeit, die mit dem Takt P~ beginnt, wird die Ausgangsinformation, die zur Zeit tp erhalten wird (Eig. 43?), zur Zeit t, mittels eines Vergleichsbezugstaktes C^ig· 4G) in den Ausgangsdatenspeicher 5 eingespeichert (Fig. 4H). Nach Auftreten des nächsten Zykluszeit-Taktes P2 werden die zu dieser

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Zeit in der Adreßeinheit 2 enthaltene Adresse CFig. 4B) und die Bezugsinformation vom Datengenerator 4 (Pig· 4C) in die Eegister 13 bzw. 14 eingespeichert (Fig. 4D und 4E), während die Ausgangsinformation vom Ausgangsdatenspeicher 5 in. das Ausgangsdatenregister 15 eingespeichert wird (Fig. 41). Dann wird die Bezugsinformation in dem Bezugsregister 14 mit der Ausgangsinformation des Ausgangsdatenregisters 15 mittels der Vergleichsschaltung 6 verglichen} der Vergleichsausgang wird ⁿO^M, wie in Fig. 4J durch eine ausgezogene Linie dargestellt, wenn die entsprechenden Bits übereinstimmen. Zur Zeit t^, wird das Flip-Flop 16 von einem Takt getriggert, der durch die Verzögerungsschaltung 18 verzögert wurde (Fig. 4K). Der ^-Ausgang des Flip-Flops 16 bleibt "1^M, wodurch mit dem nächsten Takt P, neue Daten in die Eegister 13, 14 und 15 eingegeben werden.

Wenn Jedoch während des Vergleichs zwischen der Ausgangsinformation und der Bezugsinformation ein Koinzidenzmangel auch nur bei einem Bit auftritt, wird der Ausgang der Vergleichsschaltung 6 "1", was in Fig. 4J durch eine gestrichelte Linie dargestellt ist, so daß zur Zeit t^,, wenn der verzögerte Takt aus der Verzögerungsschaltung 18 angelegt wird, der ^-Ausgang des Flip-Flops 16 "O" wird, wie in Fig. 4L durch eine gestrichelte Linie gezeigt. Als Ergebnis wird das Gatter 19 gesperrt, um zu verhindern, daß der Takt an die Eegister 13 bis 15 gelangt. Dies

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wiederum hat zur Folge, daß die Adresse, die Bezugsinformation und die Ausgangsinformation, die vor dem Auftreten des Taktes P₂ oder während der Zykluszeit beginnend mit dem !Takt P^ vorhanden waren, in den fiegistern 13 bis 15 gespeichert bleiben und auf den Anzeigetafeln 8a bis 8c dargestellt werden. Wenn der Ausgang der Vergleichsschaltung 6 nach ^W1^M wechselt, wird das Gatter 20 geöffnet. Dadurch wird eine Übertragungsadresse an den Programmzähler 10 gegeben, damit die Übertragungsadresse in diesen Zähler übernommen wird, wodurch ein mit dem Übertragungsbefehl übereinstimmender Verfahrensablauf ermöglicht wird. Die Übertragungsadresse ist in dem Befehl des Mikroprogramms enthalten, der während einer vorangegangenen Zykluszeit ausgelesen wurde.

Auf diese Weise wird bei dem Testsystem gemäß der Erfindung ein "JPehlerflVerfahrensablauf nicht innerhalb der gleichen Zykluszeit durchgeführt, innerhalb der eine Ausgangeinformation ermittelt wird. Vielmehr ist die Zykluszeit für den "Fehler^-Verfahrensablauf versetzt, was gestattet, eine Speichereinheit mit einer langen Zugriffszeit zu testen. Da während der Zeit, in der der Datenvergleich und der ^MiFehler^M-Verfahrensablauf während einer Zykluszeit stattfinden, die Ermittlung einer Ausgangsinformation von der nächsten Adreßstelle weiterläuft, bleibt die Testgeschwindigkeit dieselbe wie in dem fall, bei dem innerhalb einer Zykluszeit sowohl der Informationsausgang erhalten wird,

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als auch der Daten- bzw. Informationsvergleich und der "Fehler"-Verfahrensablauf durchgeführt werden. Auf diese Weise wird sichergestellt, daß Speichereinheiten mit geringer oder langer Zugriffszeit auf gleiche Weise mit der maximal möglichen Zykluszeit getestet werden können, wodurch die iDestzeit reduziert wird.

Venn eine fehlerhafte Speichereinheit festgestellt wird, oder wenn der Ausgang der Vergleichsschaltung 6 "1" wird, wird die Durchführung des laufenden Befehls gesperrt. Darüber hinaus bleiben die fehlerhafte Adreßstelle sowie ihre zugehörige Bezugsinformation und Ausgangsinformation in den Begistern 13 bis 15 erhalten, um dadurch ihre Darstellung mittels der Anzeigetafeln 8a bis 8c zu ermöglichen und so eine Analyse des Fehlers zu erleichtern· Ein auf den Fehler abgestimmter Verfahrensablauf kann unter der Steuerung durch ein Mikroprogramm durchgeführt werden. Gemäß Fig. 3 wird mit Beginn des Tests ein Startsignal an einen Anschluß 25 angelegt, um das Flip-Flop 16 zurückzustellen, was eine ^H1" an dessen Q-Ausgang zur Folge hat. Wenn die Speicherung mittels der Eegister 13 bis 15 über eine Vielzahl von Zykluszeiten erstreckt wird, kann der Zeitabschnitt von der Adressierung bis zum Erhalten eines Vergleichsausgangs noch weiter vergrößert werden. Umgekehrt ist bei reduzierter Zykluszeit ein Verfahrensablauf mit hoher Geschwindigkeit möglich.

Während gemäß der vorangegangenen Beschreibung ein Vergleichs-

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takt innerhalb derselben Zykluszeit erzeugt wurde, während der eine Adressierung erfolgte, kann der Zeitabschnitt von der Adressierung bis zum Vergleich über eine Zykluszeit hinaus vergrößert werden. Eine solche Modifizierung ist in Fig. 5 dargestellt, bei der entsprechende Teile mit den gleichen Bezugszahlen versehen sind wie in Fig. 3· Fig. 6 zeigt das Impulsdiagramm zur Erläuterung der Wirkungsweise des Systems von Fig. 5. Gemäß den Fig. 5 und 6 wird bei Auftreten eines Zykluszeit- · Takts P,. (Fig. 6A) eine Bezugsinformation (Fig. 60) vom Datengenerator 4 in die Adreßstelle (Fig. 6B) eingegeben, die von der Adreßeinheit 2 bezeichnet wurde; die Information wird dann wieder ausgelesen. Wenn der nächste Zykluszeit-Takt Pg erscheint, wird die von der Adreßeinheit 2 bezeichnete Adresse in das Register 13 eingespeichert, und die Bezugsinformation aus dem Datengenerator 4 wird in das Register 14 eingespeichert, wie in den Fig. 6D bzw. 6E gezeigt. Der Inhalt des Bezugsregisters 14 gelangt über einen Schalter 26 auf die Vergleichsschaltung 6 und wird mit einer Ausgangsinformation von der zu testenden Speichereinheit 3 verglichen, die im Anschluß an den Zykluszeit-Takt Pg erhalten wird. Wenn ein Koinzidenzmangel auch nur bei einem Bit aus diesem Vergleich resultiert, wird der Ausgang der Vergleichsschaltung 6 vom Zeitpunkt tp an ^M1", wie in Fig. 6F durch gestrichelte Linien gezeigt. Der "1"-Ausgang gelangt an ein Gatter 28, das mit einem Vergleichstakt (Fig. 6G), der zur Zeit t^ an den Anschluß 7 angelegt wird, durchge-

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schaltet wird, wodurch der Ausgang der Vergleichsschaltung 6 an einen Inverter 29 gelangt. Der Inverter erzeugt am Ausgang eine "O^M, die ein Flip-Flop 30 setzt. Als Folge wird der Q-Ausgang des Flip-Flops 30 "1", wie in Fig. 6H mit gestrichelten Linien gezeigt. Da das Flip-Flop 30 an seinen J- und E-ELngängen ^M0^M bzw. "1" erhält, schaltet der nächste Zykluszeit-Takt P,, der vom Anschluß 17 koxnt, den Q-Ausgang dieses Flip-Flops auf *0^w. Ein Q-Ausgang von "1" des Flip-Flops 30 stellt das Signal einer Fehlerfeststellung dar, das den Ablauf des Programms in der Mikroprogramm-Steuereinheit 1 unterbricht. Der "Fehler"-Verfahrensablauf bei diesem Beispiel besteht darin, den Betrieb der Mikroprogramm-Steuereinheit 1 zu unterbrechen, wobei die Unterbrechung innerhalb der Zykluszeit stattfindet, innerhalb der ein Fehler erfaßt wurde. Der Q-Ausgang von ^H1^W des Flip-Flops 30, der erzeugt wird, wenn ein Signal erhalten wird, das eine Fehlerfeststellung anzeigt, gelangt an den J-Eingang eines Flip-Flops 31, das einen Takt-Anschluß C besitzt, an den der Takt vom Anschluß 17 über die Verzögerungsschaltung 18 angelegt wird. Vie in Fig. 61 dargestellt, wird dieser Impuls bezüglich des in Fig. 6G gezeigten Impulses verzögert, jedoch vorgeschoben im Hinblick auf den folgenden Zykluszeit-QJakt P^. Wenn dieser Impuls an das Flip-Flop 31 gelangt, wird dieses auf ^W1^M gesetzt, da sein J Eingang zur Zeit t. ⁿ1^M war, wodurch sein Q-Ausgang "0" wird. Wie in Fig. 6J dargestellt, sperrt dieser "^-Ausgang von ^M0^H das Gatter 19 und verhindert damit eine neue Eingabe in die Register 13, 14 bzw. 33, deren vorher bestehende Inhalte

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aufrechterhalten "bleiben.

Kittels einer solchen Anordnung ist es möglich, daß der Zeitabschnitt von der Adressierung bis zum Erhalt eines Vergleichsresultats zweimal so lange wie die Zykluszeit ist. Dies ist insbesondere nützlich, wenn es von der Adressierung bis zum Erhalt einer Ausgangsinformation relativ lange dauert. Das kann beispielsweise der fall sein, wenn die Speichereinheit 3 eine relativ lange allgemeine Zugriffszeit infolge des großen Abstandes zwischen der 6p eicher einheit 3 und der Mikroprogramm-Steuereinheit 1 besitzt, wenn der Zugriff von sich aus lange dauert oder wenn Verzögerungen vorliegen, die mit der !Treiberschaltung zusammenhängen, die sich zwischen der Adreßeinheit 2 und dem Datengenerator 4 einerseits und der zu testenden Speichereinheit 3 andererseits befindet, oder der Treiberschaltung zwischen der Einheit 3 und der Vergleichsschaltung 6. Beim vorliegenden Beispiel wird das entsprechende Vergleichsresultat auf der Anzeigetafel 8c dargestellt, wenn ein Fehler festgestellt wird. Das Vergleichsresultat von der Vergleichsschaltung 6 wird in einem Vergleichsergebnisregister 33 mittels eines Ausgangsimpulses vom Gatter 19 gespeichert, und nachfolgend wird der Inhalt des Hegisters 33 mittels der Anzeigetafel 8 dargestellt. Venn die Zeit von der Adressierung bis zum Erhalt einer Ausgangsinformation geringer als eine Zykluszeit OJc ist, kann ein Schalter 26 umgelegt werden, um die Vergleichsschaltung 6 mit dem Datengenerator 4 zu verbinden, was ermöglicht, daß die Bezugsinformation direkt

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zu» Vergleich benutzt wird, ohne im Register 14 gespeichert zu sein.

Sie ausgezogenen Linien in fig· 6 zeigen die Wirkungsweise im falle einer Koinzidenz aller Bits während des Vergleichs mittels der Vergleichsschaltung 6.

Obwohl die Erfindung im vorangegangenen in der Anwendung auf ein lestsystem für Speiehereinheiten beschrieben wurde, ist klar, daß die Erfindung ebenso zum Testen von Vorrichtungen oder Einheiten verwendet werden kann, die adressiert werden können und ein Ausgangseignal entsprechend der Adreßstelle produzieren.

Es soll noch bemerkt werden, daß in dieser Anmeldung manchmal der Begriff "Ausgang" im Sinne von "Ausgangssignal" verwendet worden ist.

Claims

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Patentaasprüche

Aß Programmgesteuertes iDestsystem mit einer Programmsteuereinheit, mit einer zu testenden Vorrichtung, von der mittels eines Befehles aus der Programmsteuereinheit eine Adresse angewählt wird und die in der Lage ist, entsprechend der Adresse eine Ausgangsinformation zu liefern, mit einem Adressenregister zur Speicherung einer Adresse aus dem Befehl, mit einem Bezugsdatenregister zur Speicherung einer Bezugsinformation aus dem Befehl und mit einer Vergleichsschaltung zum Vergleich des Inhalts des Bezugsdatenregisters mit einer Ausgangsinformation der zu testenden Vorrichtung sowie zur Lieferung eines Vergleichsausgangs an die Programmsteuereinheit, wobei die Programmsteuereinheit in der Lage ist, eine neue Adresse zu liefern, wenn sich das Vergleichsergebnis als "nicht fehlerhaft" erweist, und einen akkommodierenden Verfahrensablauf einzuleiten, wenn sich das Vergleichsergebnis als "fehlerhaft" erweist, dadurch gekennzeichnet , daß die Zeit vom Adressieren bis zu einem akkommodierenden Verfahrensablauf bei einem "fehlerhaften" Vergleichsergebnis entsprechend der Ausgangsinformation größer als eine Zykluszeit sein kann.

2. Programmgesteuertes Testsystem nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch eine Adressen-Anzeigetafel (8a)

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zur Darstellung des Inhalts des Adressenregisters (13)« durch eine Bezugsdaten-Anzeigetafel (8b) zur Darstellung des Inhalts des Bezugsdatenregisters (14) und durch eine Einrichtung (16, 19)» die ein Einlesen in das Adressenregister (13) und das Bezugsdatenregister (14) vor der entsprechenden nächsten Einlesezeit als Antwort auf das Ausgangssignal der Vergleichsschaltung (6) sperrt, wenn sich das Vergleichsergebnis als "fehlerhaft" erweist.

3· Programmgesteuertes ÜJestsystem nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet , daß die Einrichtung zum Sperren des Einlesens aus einer Verzögerungsschaltung (18) zur Verzögerung eines Zykluszeit-Iaktes um einen Zeitabschnitt von nicht mehr als einer Zykluszeit, aus einem flip-flop (16), das ein Ausgangssignal von der Vergleichsschaltung (6), und als Takt ein Ausgangssignal von der Verzögerungsschaltung empfängt, ferner aus einem Gatter (19) besteht, an das der Zykluszeit-Takt angelegt ist und das mittels eines Ausgangssignals des flip-flops (16) durchlässig geschaltet wird.

4. Programmgesteuertes Testsystem nach einem der Ansprüche 1 bis 3, gekennzeichnet durch einen Ausgangsdatenspeicher (5), in den zu einer Zeit, die in Bezug auf einen Zykluszeit-Takt verzögert ist, eine Ausgangsinformation aus der zu testenden Vorrichtung (3) eingeschrieben wird,

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und durch ein Ausgangsdatenregister (15)» in das der Inhalt des Ausgangsdatenspeichers (5) zur gleichen Zeit eingeschrieben wird, zu der in das Adressenregister (13) eingelesen wird, wobei der Inhalt des Ausgangsdatenregisters (15) und der Inhalt des Bezugsdatenregisters (14-) in der Vergleichsschaltung (6) verglichen werden.

5· Programmgesteuertes Testsystem nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet , daß eine Ausgangsdaten-Anzeigetafel (8c) zur Darstellung des Inhalts des Ausgangsdatenregisters (15) vorgesehen ist und daß das Einlesen in das Ausgangsdatenregister (15) durch ein Signal gesperrt wird, das das Einlesen in das Adressenregister (13) unterbindet.

6. Programmgesteuertes Testsystem nach einem der Ansprüche 1 bis 5» gekennzeichnet durch ein tibertragungsadressenregister (12), in das eine Übertragungsadresse in einem Befehl der Programmsteuereinheit (1) mit einer Verzögerung von einer Zykluszeit eingespeichert wird, und durch ein Gatter (20), das den Inhalt des Übertragungsadressenregisters (12) an die Programmsteuereinheit (1) zur Ausgabe der nächsten Adresse im falle eines "fehlerhaften" Vergleichsergebnisses aus der Vergleichsschaltung (6) liefert.

7- Programmgesteuertes Testsystem nach einem der Ansprüche 1 bis 3» dadurch gekennzeichnet , daß

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das Ausgangssignal der zu testenden Vorrichtung (3) direkt der Vergleicheschaltung (6) zugeführt wird, daß das Ausgangssignal der Vergleichsschaltung (6) wenigstens eine Zykluszeit nach dem Beginn des Zugriffs zu der Vorrichtung (3) abgefragt wird, daß eine Binärinformation, die dem abgefragten Vert entspricht, in einem ersten flip-flop (30) gespeichert wird und daß das Ausgangs signal des ersten flip-flops (30) die Programmsteuereinheit (1) steuert, wenn das Vergleiehsergebnis aus der Vergleichsschaltung (6) "fehlerhaft" ist.

8. Programmgesteuertes (Test syst em nach Anspruch 7 t dadurch gekennzeichnet, daß das Ausgangssignal des ersten Flip-Flops (30) während derselben Zykluszeit, aber anschließend an die Speicherung des Ausgangssignals der Vergleichsschaltung (6) in eine Einlese-Sperreinrichtung eingeht, um ein Einlesen in das Adressenregister (13) und das Bezugsdatenregister (14-) zu verhindern, wenn sich das Vergleichsergebnis als "fehlerhaft" erweist.

9- Programmgesteuertes Testsystem nach Anspruch 8, d a durch gekennzeichnet, daß die Einlesesperreinrichtung aus einer Verzögerungsschaltung (18) zur Verzögerung eines Zykluszeit-Takts um einen Zeitabschnitt von nicht mehr als einer Zykluszeit, aus einem zweiten flip-flop (31) zur Aufnahme eines Ausgangssignals des ersten flip-flops (30), das das Ausgangssignal der Vergleichsschaltung (6)

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speichert und zur Aufnahme eines Auegangs signals der "Verzögerungsschal tung (18) als Takt, und aus einem Gatter (19) besteht, an das ein Zykluszeit-Takt angelegt ist und das vom Ausgangssignal des zweiten Flip-Flops (31) durchlässig geschaltet wird.

10. Programmgesteuertes Test system nach einem der Ansprüche 7 bis 9, gekennzeichnet durch einen Wechselschalter (26), um alternativ entweder die in einem Befehl der ProgrammSteuereinheit (1) enthaltene Bezugsinformation oder den Inhalt des Bezugsdatenregisters (14·) auf die Vergleichsschaltung (6) zu geben, wobei die Bezugsinformation in dem Befehl mittels des Vechselschalters (26) auf die Vergleichsschaltung (6) gegeben wird, wenn ein Vergleichsergebnis innerhalb einer Zugriffszykluszeit erhalten wird.

11. Programmgesteuertes Testsystem nach einem der Ansprüche 7 bis 10, gekennzeichnet durch ein Vergleichsergebnisregister (33) zur simultanen Speicherung des Ergebnisses aus der Vergleichsschaltung (6) mit dem Einlesen in das Adressenregister (13)«

12. Programmgesteuertes Testsystem nach einem der Ansprüche 1 bis 11,dadurch gekennzeichnet,

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daß die zu testende Vorrichtung (3) aus einer Speichereinheit besteht, die mittels einer in einem Befehl enthaltenen Adresse angewählt wird, daß in die Adreßstelle eine in dem Befehl enthaltene Bezugsinformation eingeschrieben und nachfolgend wieder ausgelesen wird, um eine Ausgangsinformation von der Speichereinheit zu erhalten.

Programmgesteuertes Testsystem nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß von der zu testenden ßpeichereinheit (5) als Ergebnis eines Zugriffs eine Ausgangsinformation erhalten und innerhalb einer Zykluszeit einem Vergleich unterworfen wird und daß ein von der Programmsteuereinheit (i) gesteuerter Verfahrensablauf als Antwort auf das Vergleichsergebnis innerhalb der nächsten Zykluszeit beendet wird.

14. Programmgesteuertes Sestsystem nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß das Ergebnis eines Vergleichs zwischen einer Bezugsinformation und einer Ausgangsinformation, die die folge eines Zugriffs zu der zu testenden Speichereinheit (3) ist, wenigstens eine Zykluszeit später erhalten wird und daß im Palle eines "fehlerhaften" Vergleichsergebnisses die Programmsteuereinheit (1) während der Zykluszeit, in der das Vergleichsergebnis erhalten wird, unterbrochen wird.

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15· Programmgesteuertes Testsystem nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß mit dem Beginn eines Zugriffs eine diesem entsprechende Adresse und Bezugsinformation in dem Adressenregister (13) bzw· in dem Bezugsdatenregister (140 für einen Zeitabschnitt zurückgehalten werden, die der Verzögerung entspricht, bis eine aus dem Zugriff erzielte Information der Vergleichsschaltung (6) zugeführt wird.

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