DE2149196A1 - Verfahren und Loesung zum AEtzen von Kupfer und dessen Legierungen - Google Patents
Verfahren und Loesung zum AEtzen von Kupfer und dessen LegierungenInfo
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- 238000005530 etching Methods 0.000 title claims description 106
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims description 24
- 239000010949 copper Substances 0.000 title claims description 22
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 title claims description 20
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 16
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 title claims description 10
- 239000000956 alloy Substances 0.000 title claims description 10
- 239000000243 solution Substances 0.000 claims description 58
- KLSJWNVTNUYHDU-UHFFFAOYSA-N Amitrole Chemical compound NC1=NC=NN1 KLSJWNVTNUYHDU-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 20
- 150000004820 halides Chemical class 0.000 claims description 20
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 claims description 18
- FHHJDRFHHWUPDG-UHFFFAOYSA-L peroxysulfate(2-) Chemical compound [O-]OS([O-])(=O)=O FHHJDRFHHWUPDG-UHFFFAOYSA-L 0.000 claims description 17
- -1 azole compound Chemical class 0.000 claims description 15
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 11
- MPSUGQWRVNRJEE-UHFFFAOYSA-N triazol-1-amine Chemical compound NN1C=CN=N1 MPSUGQWRVNRJEE-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- SYOANZBNGDEJFH-UHFFFAOYSA-N 2,5-dihydro-1h-triazole Chemical compound C1NNN=C1 SYOANZBNGDEJFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N Diethyl ether Chemical compound CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 239000000460 chlorine Substances 0.000 claims description 7
- SNTWKPAKVQFCCF-UHFFFAOYSA-N 2,3-dihydro-1h-triazole Chemical compound N1NC=CN1 SNTWKPAKVQFCCF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- WKBOTKDWSSQWDR-UHFFFAOYSA-N Bromine atom Chemical compound [Br] WKBOTKDWSSQWDR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N Chlorine atom Chemical compound [Cl] ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- CPELXLSAUQHCOX-UHFFFAOYSA-N Hydrogen bromide Chemical compound Br CPELXLSAUQHCOX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- GDTBXPJZTBHREO-UHFFFAOYSA-N bromine Substances BrBr GDTBXPJZTBHREO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 229910052794 bromium Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 claims description 6
- 150000003536 tetrazoles Chemical class 0.000 claims description 6
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- JCXKHYLLVKZPKE-UHFFFAOYSA-N benzotriazol-1-amine Chemical compound C1=CC=C2N(N)N=NC2=C1 JCXKHYLLVKZPKE-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- QRUDEWIWKLJBPS-UHFFFAOYSA-N benzotriazole Chemical compound C1=CC=C2N[N][N]C2=C1 QRUDEWIWKLJBPS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 239000012964 benzotriazole Substances 0.000 claims description 5
- GTKOKCQMHAGFSM-UHFFFAOYSA-N 1-methyltetrazol-5-amine Chemical compound CN1N=NN=C1N GTKOKCQMHAGFSM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- KAESVJOAVNADME-UHFFFAOYSA-N 1H-pyrrole Natural products C=1C=CNC=1 KAESVJOAVNADME-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- ULRPISSMEBPJLN-UHFFFAOYSA-N 2h-tetrazol-5-amine Chemical compound NC1=NN=NN1 ULRPISSMEBPJLN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 claims description 4
- CEJLBZWIKQJOAT-UHFFFAOYSA-N dichloroisocyanuric acid Chemical compound ClN1C(=O)NC(=O)N(Cl)C1=O CEJLBZWIKQJOAT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- VGCWCUQMEWJQSU-UHFFFAOYSA-N 1-ethylbenzotriazole Chemical compound C1=CC=C2N(CC)N=NC2=C1 VGCWCUQMEWJQSU-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- HXQHRUJXQJEGER-UHFFFAOYSA-N 1-methylbenzotriazole Chemical compound C1=CC=C2N(C)N=NC2=C1 HXQHRUJXQJEGER-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- QWENRTYMTSOGBR-UHFFFAOYSA-N 1H-1,2,3-Triazole Chemical compound C=1C=NNN=1 QWENRTYMTSOGBR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- ZCYVEMRRCGMTRW-UHFFFAOYSA-N 7553-56-2 Chemical compound [I] ZCYVEMRRCGMTRW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical group F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N Fluorine Chemical compound FF PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 230000002378 acidificating effect Effects 0.000 claims description 3
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 claims description 3
- 125000003277 amino group Chemical group 0.000 claims description 3
- 125000004103 aminoalkyl group Chemical group 0.000 claims description 3
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 3
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 claims description 3
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims description 3
- 125000004435 hydrogen atom Chemical class [H]* 0.000 claims description 3
- 229910000042 hydrogen bromide Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910000041 hydrogen chloride Inorganic materials 0.000 claims description 3
- IXCSERBJSXMMFS-UHFFFAOYSA-N hydrogen chloride Substances Cl.Cl IXCSERBJSXMMFS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910000040 hydrogen fluoride Inorganic materials 0.000 claims description 3
- XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-N hydrogen iodide Chemical compound I XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910000043 hydrogen iodide Inorganic materials 0.000 claims description 3
- PNDPGZBMCMUPRI-UHFFFAOYSA-N iodine Chemical compound II PNDPGZBMCMUPRI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052740 iodine Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000011630 iodine Substances 0.000 claims description 3
- AJNQPSCMOSUVKK-UHFFFAOYSA-N 5-propan-2-yl-1h-1,2,4-triazole Chemical compound CC(C)C=1N=CNN=1 AJNQPSCMOSUVKK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000002253 acid Substances 0.000 claims description 2
- NHAZGSRLKBTDBF-UHFFFAOYSA-N 1,2,4-triazol-1-amine Chemical compound NN1C=NC=N1 NHAZGSRLKBTDBF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- OMAFFHIGWTVZOH-UHFFFAOYSA-N 1-methyltetrazole Chemical compound CN1C=NN=N1 OMAFFHIGWTVZOH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- VRESBNUEIKZECD-UHFFFAOYSA-N 2-methyltetrazole Chemical compound CN1N=CN=N1 VRESBNUEIKZECD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- XYYXDARQOHWBPO-UHFFFAOYSA-N 3,5-dimethyl-1h-1,2,4-triazole Chemical compound CC1=NNC(C)=N1 XYYXDARQOHWBPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- NSPMIYGKQJPBQR-UHFFFAOYSA-N 4H-1,2,4-triazole Chemical compound C=1N=CNN=1 NSPMIYGKQJPBQR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- FJRZOOICEHBAED-UHFFFAOYSA-N 5-methyl-1h-1,2,4-triazol-3-amine Chemical compound CC1=NNC(N)=N1 FJRZOOICEHBAED-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims 2
- JWAWEQBUZOGIBZ-UHFFFAOYSA-N 1-methyltriazole Chemical compound CN1C=CN=N1 JWAWEQBUZOGIBZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- GQJKIUVXXQXJFO-UHFFFAOYSA-N 2-(1h-1,2,4-triazol-5-yl)ethanamine Chemical compound NCCC1=NN=CN1 GQJKIUVXXQXJFO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- VALUMXGSLBMNES-UHFFFAOYSA-N 4,5-dimethyl-2h-triazole Chemical compound CC=1N=NNC=1C VALUMXGSLBMNES-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- HECJQIPEEHNWCS-UHFFFAOYSA-N 4-propyl-2h-triazole Chemical compound CCCC1=CNN=N1 HECJQIPEEHNWCS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- PZKFSRWSQOQYNR-UHFFFAOYSA-N 5-methyl-1h-1,2,4-triazole Chemical compound CC1=NC=NN1 PZKFSRWSQOQYNR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- FAPWRFPIFSIZLT-UHFFFAOYSA-M Sodium chloride Chemical compound [Na+].[Cl-] FAPWRFPIFSIZLT-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 39
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 21
- 239000011780 sodium chloride Substances 0.000 description 20
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 13
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 150000003851 azoles Chemical class 0.000 description 12
- 239000000463 material Substances 0.000 description 10
- 239000003518 caustics Substances 0.000 description 8
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 8
- IOLCXVTUBQKXJR-UHFFFAOYSA-M potassium bromide Chemical compound [K+].[Br-] IOLCXVTUBQKXJR-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 7
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 7
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N Phosphoric acid Chemical compound OP(O)(O)=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- WGLPBDUCMAPZCE-UHFFFAOYSA-N Trioxochromium Chemical compound O=[Cr](=O)=O WGLPBDUCMAPZCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- RBTARNINKXHZNM-UHFFFAOYSA-K iron trichloride Chemical compound Cl[Fe](Cl)Cl RBTARNINKXHZNM-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 6
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 5
- 239000002351 wastewater Substances 0.000 description 5
- NLXLAEXVIDQMFP-UHFFFAOYSA-N Ammonia chloride Chemical compound [NH4+].[Cl-] NLXLAEXVIDQMFP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 150000001805 chlorine compounds Chemical class 0.000 description 4
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 4
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 4
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 4
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M Chloride anion Chemical compound [Cl-] VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- YMWUJEATGCHHMB-UHFFFAOYSA-N Dichloromethane Chemical compound ClCCl YMWUJEATGCHHMB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910021578 Iron(III) chloride Inorganic materials 0.000 description 3
- JGEXMNOWINVFDM-UHFFFAOYSA-M NC1=NN=NN1.[Na+].[Cl-] Chemical compound NC1=NN=NN1.[Na+].[Cl-] JGEXMNOWINVFDM-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 3
- 239000011889 copper foil Substances 0.000 description 3
- 150000002730 mercury Chemical class 0.000 description 3
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 3
- 239000011259 mixed solution Substances 0.000 description 3
- 235000011007 phosphoric acid Nutrition 0.000 description 3
- NLKNQRATVPKPDG-UHFFFAOYSA-M potassium iodide Chemical compound [K+].[I-] NLKNQRATVPKPDG-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- XWNSFEAWWGGSKJ-UHFFFAOYSA-N 4-acetyl-4-methylheptanedinitrile Chemical compound N#CCCC(C)(C(=O)C)CCC#N XWNSFEAWWGGSKJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- HCEKEODXLSQFDV-UHFFFAOYSA-N 5-methyltriazol-1-amine Chemical compound CC1=CN=NN1N HCEKEODXLSQFDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910000990 Ni alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N Potassium Chemical compound [K] ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004153 Potassium bromate Substances 0.000 description 2
- 235000019270 ammonium chloride Nutrition 0.000 description 2
- ROOXNKNUYICQNP-UHFFFAOYSA-N ammonium persulfate Chemical compound [NH4+].[NH4+].[O-]S(=O)(=O)OOS([O-])(=O)=O ROOXNKNUYICQNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ORTQZVOHEJQUHG-UHFFFAOYSA-L copper(II) chloride Chemical compound Cl[Cu]Cl ORTQZVOHEJQUHG-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 2
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 2
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 2
- 229910052700 potassium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011591 potassium Substances 0.000 description 2
- 235000019396 potassium bromate Nutrition 0.000 description 2
- 229940094037 potassium bromate Drugs 0.000 description 2
- CHQMHPLRPQMAMX-UHFFFAOYSA-L sodium persulfate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-]S(=O)(=O)OOS([O-])(=O)=O CHQMHPLRPQMAMX-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 2
- NDMJUGGUJATEKY-UHFFFAOYSA-N 1h-1,2,4-triazol-5-amine;hydrochloride Chemical compound Cl.NC1=NC=NN1 NDMJUGGUJATEKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BGRKDLVBPMCBJW-UHFFFAOYSA-N 2-ethyltetrazole Chemical compound CCN1N=CN=N1 BGRKDLVBPMCBJW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KXGFMDJXCMQABM-UHFFFAOYSA-N 2-methoxy-6-methylphenol Chemical compound [CH]OC1=CC=CC([CH])=C1O KXGFMDJXCMQABM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JDIPHBYZUMQFQV-UHFFFAOYSA-N 5-ethyl-1h-1,2,4-triazole Chemical compound CCC1=NC=NN1 JDIPHBYZUMQFQV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-O Ammonium Chemical compound [NH4+] QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-O 0.000 description 1
- 229910001369 Brass Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000906 Bronze Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001006 Constantan Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021592 Copper(II) chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000881 Cu alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N Hydrogen peroxide Chemical compound OO MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M Ilexoside XXIX Chemical compound C[C@@H]1CC[C@@]2(CC[C@@]3(C(=CC[C@H]4[C@]3(CC[C@@H]5[C@@]4(CC[C@@H](C5(C)C)OS(=O)(=O)[O-])C)C)[C@@H]2[C@]1(C)O)C)C(=O)O[C@H]6[C@@H]([C@H]([C@@H]([C@H](O6)CO)O)O)O.[Na+] DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M 0.000 description 1
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XIOOWPXBXVFQGK-UHFFFAOYSA-L S(=O)(=O)(O[O-])[O-].[Li+].[Li+] Chemical compound S(=O)(=O)(O[O-])[O-].[Li+].[Li+] XIOOWPXBXVFQGK-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 239000005708 Sodium hypochlorite Substances 0.000 description 1
- XSTXAVWGXDQKEL-UHFFFAOYSA-N Trichloroethylene Chemical group ClC=C(Cl)Cl XSTXAVWGXDQKEL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 229910001870 ammonium persulfate Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000019395 ammonium persulphate Nutrition 0.000 description 1
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 description 1
- DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N barium atom Chemical compound [Ba] DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DMFGNRRURHSENX-UHFFFAOYSA-N beryllium copper Chemical compound [Be].[Cu] DMFGNRRURHSENX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000010951 brass Substances 0.000 description 1
- 239000010974 bronze Substances 0.000 description 1
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 1
- 229910001430 chromium ion Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001431 copper ion Inorganic materials 0.000 description 1
- KUNSUQLRTQLHQQ-UHFFFAOYSA-N copper tin Chemical compound [Cu].[Sn] KUNSUQLRTQLHQQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 231100001010 corrosive Toxicity 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 239000007857 degradation product Substances 0.000 description 1
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- LFINSDKRYHNMRB-UHFFFAOYSA-N diazanium;oxido sulfate Chemical compound [NH4+].[NH4+].[O-]OS([O-])(=O)=O LFINSDKRYHNMRB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002845 discoloration Methods 0.000 description 1
- 239000012777 electrically insulating material Substances 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 238000003912 environmental pollution Methods 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- MSNOMDLPLDYDME-UHFFFAOYSA-N gold nickel Chemical compound [Ni].[Au] MSNOMDLPLDYDME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000001475 halogen functional group Chemical group 0.000 description 1
- 229910001502 inorganic halide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N iron Substances [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 1
- 229910021645 metal ion Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012046 mixed solvent Substances 0.000 description 1
- CLDVQCMGOSGNIW-UHFFFAOYSA-N nickel tin Chemical compound [Ni].[Sn] CLDVQCMGOSGNIW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000006864 oxidative decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 1
- JRKICGRDRMAZLK-UHFFFAOYSA-L peroxydisulfate Chemical compound [O-]S(=O)(=O)OOS([O-])(=O)=O JRKICGRDRMAZLK-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229920001568 phenolic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000005011 phenolic resin Substances 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- ZUVVWTHCSAVLFZ-UHFFFAOYSA-M potassium 1H-1,2,4-triazol-5-amine bromide Chemical compound NC1=NNC=N1.[Br-].[K+] ZUVVWTHCSAVLFZ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- IFIDXBCRSWOUSB-UHFFFAOYSA-N potassium;1,3-dichloro-1,3,5-triazinane-2,4,6-trione Chemical compound [K+].ClN1C(=O)NC(=O)N(Cl)C1=O IFIDXBCRSWOUSB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 239000000047 product Substances 0.000 description 1
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010948 rhodium Substances 0.000 description 1
- MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N rhodium atom Chemical compound [Rh] MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000035943 smell Effects 0.000 description 1
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 1
- UKLNMMHNWFDKNT-UHFFFAOYSA-M sodium chlorite Chemical compound [Na+].[O-]Cl=O UKLNMMHNWFDKNT-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 229960002218 sodium chlorite Drugs 0.000 description 1
- SUKJFIGYRHOWBL-UHFFFAOYSA-N sodium hypochlorite Chemical compound [Na+].Cl[O-] SUKJFIGYRHOWBL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 241000894007 species Species 0.000 description 1
- JFFHLMGUDWDVTL-UHFFFAOYSA-L strontium sulfonatooxy sulfate Chemical compound [Sr++].[O-]S(=O)(=O)OOS([O-])(=O)=O JFFHLMGUDWDVTL-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 150000003852 triazoles Chemical class 0.000 description 1
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23F—NON-MECHANICAL REMOVAL OF METALLIC MATERIAL FROM SURFACE; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL; MULTI-STEP PROCESSES FOR SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL INVOLVING AT LEAST ONE PROCESS PROVIDED FOR IN CLASS C23 AND AT LEAST ONE PROCESS COVERED BY SUBCLASS C21D OR C22F OR CLASS C25
- C23F1/00—Etching metallic material by chemical means
- C23F1/10—Etching compositions
- C23F1/14—Aqueous compositions
- C23F1/16—Acidic compositions
- C23F1/18—Acidic compositions for etching copper or alloys thereof
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/31504—Composite [nonstructural laminate]
- Y10T428/31511—Of epoxy ether
- Y10T428/31529—Next to metal
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- ing And Chemical Polishing (AREA)
Description
DA-4469
Beschreibung;
zu der Patentanmeldung
der Firma
TOKAI DENKA KOGYO KABUSHIKI KAISHA 6-1, 1-chome, Ohte-machi, Chiyodaku, Tokyo / Japan
betreffend
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Ätzen von Kupfer und dessen Legierungen mit einer sauren Peroxysulfat-Lösung. Die
Erfindung betrifft insbesondere eine Ätzlösung, die ein Addi-•tiv
enthält, welches die Ätzgeschwindigkeit erhöht.
Eei der Herstellung von gedruckten-Schaltkreisen, Druckplatten,
Bestandteilen elektrischer Anlagen und dergleichen erfolgt in weitem Ausmaß ein Atzen von Kupfer und dessen Legierungen.
So wird z.B. bei der Herstellung von gedruckten Schalt-
20984S/1162 ^ ^
kreisen eine Folie aus einem elektrisch leitenden Metall (normalerweise
aus Kupfer) auf ein elektrisch isolierendes Material, z.B. ein Epoxy- oder Phenolharz, aufgeklebt, worauf ein
Teil der Oberfläche der Folie, die später den Schaltkreis bildet, mit einem Abdeckmaterial bedeckt wird, welches gegenüber
einer Ätzlösung beständig ist. Der übrige Teil der Folie, der mit dem Abdeckmaterial nicht bedeckt ist, wird angeätzt, wodurch
eine Platte für einen gedruckten, elektrischen Schaltkreis erhalten wird. Während als Abdeckmaterialien im allgemeinen
solche Substanzen, wie Tinte, organische, lichtempfindliche Harze und dergleichen, verwendet werden, sind in den
letzten Jahren die Anforderungen für gedruckte Schaltkreise mit durchgehenden Löchern für industrielle elektronische Vorrichtungen
steigend und die Verwendung von metallischen Abdeckmaterialien, wie Lötmetalle, Gold, Gold-Nickel-Legierungen,
Rhodium, Zinn-Nickel-Legierungen und dergleichen, ist gebräuchlicher geworden.
Ätzlösungen für Kupfer und dessen Legierungen sind im allgemeinen Lösungen von PeroxySulfaten, Mischlösungen von Hydroperoxid
und Schwefeisäure, Mischlösungen von Chromsäureanhydrid
-und Schwefelsäure, L'-sungen von Eisen (III)-Chlorid,
Lösungen von Kupfer (II)-Chlorid sowie Lösungen von Natriumchlorit.
Wenn man von diesen bekannten Ätzmitteln Mischlösungen von Chromsäureanhydrid und Schwefelsäure, oder Lösungen von Eisen-(III)-Chlorid
verwendet, dann werden Abfallflüssigkeiten gebildet,
welche große Mengen von Metallionen, nämlich von Kupfer- und Chromionen bzw. von Kupfer- und Eisenionen, enthalten. Wegen,
der großen Schwierigkeiten, die bei der vollständigen Entfernung dieser Metalle aus den Abwässern auftreten, stellt die
Behandlung und die Abgabe solcher Abwasser ein großes wirtschaftliches
Problem dar.
Dagegen sind Peroxysulfat-Lösungen milde und daher vorzuziehende
Ätzmittel, die keine schädlichen Gase erzeugen und die leicht gehandhabt warden können. Darüber hinaus ist in den Ab-
i/,y?;· ^20,3.84 5/11 62
wässern des Ätzvorganges als Ketall lediglich Kupfer allein
vorhanden, so daß anders bei den genannten Kischlösungen von
Chromsäureanhydrid -und Schwefelsäure oder von Eisen(III)-chlorid-Lösunrer
die Entfernung des Kupfers aus den Abwässern einfach ist, 2s ist außerdem möglich, die verbrauchten Ätzmittel
zu regenerieren und wieder zu verwenden. Da schließlich Peroxysulfat-L;>r»i;iigen
die Kachteile der anderen Ätzmittel nicht haben, werden sie gegenüber anderer, Ätzmitteln als bevorzugt
erachtet. Die Atzun/r von metallischen Oberflächen mit Peroxysulfat-Lösirri-en,
die eine K ine raise ure, z.B. Schwefelsäure,
PhosphorsMvro und dergleichen, enthalten, ist bereits untersucht
worden. So ist beispielsweise in der bekanntgemachten japanischen Patentanmeldung 9^-63/6^- das Ätzen Ki^ einer Peroxymonosulfat-Lösuiig
beschrieben. Aus den bekanntgeirachten japanischen Patentanmeldungen 1620/61, I6OO8/6I, 27517/64,
16409/65 und II324/66 ist das Ätzen unter Verwendung einer
Peroxydisulfat-Lösung bekannt.
Bei der technischen Durchführunfr des Ätzens mit einer Peroxysulfat-Lösunr
als Ätzflüssigkeit ist es erforderlich, dieser
eine Substanz zuzusetzen, welche die Ätzgeschwindigkeit erhöht. Zu diesem Zweck werden derzeit extrem perinpee Lenken von
Quecksilbersalzen verwendet. Quecksilbersalze stellen zwar stark wirksame Stoffe zur Erhöhung der Ätzgeschwindigkeit dar,
doch bringt ihr Auftreten in Abvjässern, die in Flüsse und
dergleichen relangen, Probleme hinsichtlich der UmweltverschinutzunF
rit sich. Es ist daher erforderlich, bei der Verwendung von Quecksilbersalzen Vorkehrungen zur Entfernung des
Quecksilbers aus den Abwässern zu treffen. Solche Vorkehrungen zur vollständigen Entfernung des Quecksilbers erfordern aber
weitere und aufwendige Verfahrensstufen.
Es ist daher trotz dieser ausgezeichneten Wirkungen der Queeksilbersalze
aus Umweltschutzgründen erv/ünscht, das Quecksilber zu ersetzen.
209845/1162
2H9196
Ziel der Erfindung ist es daher, eine Peroxysulfat-Lösung
zum Ätzen von Kupfer und dessen Legierungen zur Verfügung zu stellen, die ein Additiv zur erheblichen Steigerung.der
Ätzgeschwindigkeit dieser Metalle enthält, wobei das Additiv seine v/irkungen über ausgedehnte Zeiträume aufrechterhalten
soll, billig sein soll und keine Verunreinigungen der Abwässer mit sich bringen soll.
Diese Aufgabe wird durch die Erfindung gelöst»
Gegenstand der Erfindung ist daher ein Verfahren zum Ätzen
von Kupfer und dessen Legierungen unter Verwendung einer sauren wäßrigen-Peroxysulfat-Lösung als Ätzlösung, das dadurch
gekennzeichnet ist, daß man eine Ätzflüssigkeit verwendet,
die wenigstens eine Azölverbindung der allgemeinen Formel
N -j-X» Χ
X1
(I) (ID (HD
N N ■ · N-
(V)
worin X, X1 und X", die gleich oder verschieden sein können,
Wasserstoff, Aminogruppen, Aminoalkylgruppen mit 1 bis 3 Kohlenstoffatomen und Alkylpruppen mit 1 bis 3 Kohlenstoffatomen
bedeuten, als primäre Komponente und erforderlichenfalls ein oder mehrere Halogenide als sekundäre Komponente enthält.
-5-209845/1162
Als Beispiele für Azole der Formel (I) körnen genannt werden:^
1,2,4--TrIaZoI, 3-Methyl-l ,2,4-triazol, 3,5-Dimethyl,l ,2,4- triazol,
1-Amino-1,2,*}--triazol, 3-Amino-l,2,4--triazol, 5-Amino-3-methyl-l,2,iJ-triazol,
3-(ß-Aminoäthyl)-l ,2,4--triazol
und 3-Isopropyl-l,2,4- triazol.
Als Beispiele für Azole der Formel (II) können genannt werden:
1,2,3-Triazol, 1-Methyl-l,2,3-triazol, * 1-Amino-1,2,3-triazol,
l-Amino-5-methyl-l,2,3-triazol, 4,5-Dimethyl-l ,2,3-triazol,
1-Amino--(n)-propyl-l, 2,3-triazol und l-(ß-Aminoäthyl)-!,2,3-triazol.
Als Beispiele für Azole der Formel (III) können genannt werden:
Benzotriazol, 1-Methylbenzotriazol, 1-Aminobenzotriazol
und 1-Äthylbenzotriazol.
Als Beispiele für Azole der Formeln (IV) und (V) können genannt werden: Tetrazol, 1-Kethyl-tetrazol, 2-Kethyl-tetrazol,
5-Amino-tetrazol, 5-Amino-l-methyl-tetrazol und !-(ß-Aminoäthyl)-1e
trazöl.
Beispiele für erfindungsgemäß geeignete Halogenide sind diejenigen,
die.in der Ätzflüssigkeit Halogenionen freisetzen können, oder diejenigen, die durch Peroxysulfat unter Freisetzung
von Halogenionen oder von gasförmigen Halogenen oxydativ zersetzt werden.
Als Beispiele können somit genannt werden: Anorganische Halogenide,
wie Fluorwasserstoff und dessen Salze, Chlorwasserstoff
und dessen Salze, Bromwasserstoff und dessen Salze sowie Jodwasserstoff und dessen Salze, die Oxide des Fluors,
Chlors, Broms und Jods, die Oxysäuren des Chlors, Broms und Jods sowie deren Salze, und die organischen Halogenide, wie "
Dichlorcyanursäure und deren Salze, 1-ChIordiäthylather und
organische Säurehalogenide.
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2 US
Es wurde gefunden, daß beim Auflösen der hierin genannten Azole, die eine primäre Komponente des Additivs darstellen,
entweder für sich oder in verschiedenen Kombinationen mit den genannten Halogeniden, die eine sekundäre Komponente des
Additivs darstellen, in der Ätzflüssigkeit eine erhebliche Steigerung der Ätzgeschwindigkeit erfolgt.
Selbst xtfenn lediglich die oben definierten Azoverbindungen
der Peroxysulfat-Ätzlösung zugesetzt werden, dann wird im
Vergleich zur Verwendung von zusatzfreien Ätzflüssigkeiten '
ein erheblicher Effekt erreicht, der für die Ziele der vorliegenden Erfindung bereits ausreicht. Die Verweildung von
Halogeniden als sekundäre Komponente zusammen mit den Azolverbindungen
ergibt jedoch eine Verstärkung der VJirkung und eine Verbesserung der praktischen Brauchbarkeit.
Der alleinige Zusatz von Halogeniden zu den Peroxysulfat-Ätzlösungen
ergibt eine Abnahme der Ätz geschwindigkeit. Daraus
ergibt sich, daß die erhebliche Steigerung der Ätzgeschwindigkeit auf die Verwendung der Azoverbindungen als primärer
Komponenten zurückzuführen ist. Es wurde Überraschendervreise
festgestellt, daß durch Verwendung der erfindungsgemäßen Ätzlösung die Ätzgeschwindigkeit und das Ätzverhalten ungleich
besser ist als bei der Verwendung der bekannten, Quecksilber enthaltenden Ätzlösungen.
Bei der Herstellung der erfindungsgemäß verwendeten Ätzlösungen werden eine oder mehrere Azoverbindungen der angegebenen
allgemeinen Formeln einer Ätzlösung in Mengen von 5 ppm bis zur maximalen Löslichkeit, vorzugsweise in Kengen von 10
bis 10 000 ppm, zugesetzt. Der Lösung können weiterhin als sekundäre Komponenten ein oder mehrere der genannten Halogenide
in Kengen von 0,1 ppm bis 1000 ppm, vorzugsweise von 0^1
ppm bis 50 ppm, in Form der Halogenionen zugesetzt werden.
Bei der Herstellung der erfindungsgemäß verwendeten Ätzlösungen
können die Azolverbindungen als primäre Komponenten
und die Halogenide als sekundäre Komponenten entweder getrennt zu der Ätzlösung zugegeben werden oder man
kann so vorgehen, daß man eine zuvor bereitete wäßrige Lösung: der primären und sekundären Komponenten zu der Ätzlösung
zugibtο In beiden Fällen werden ausgezeichnete Ergebnisse
erhalten.
Obgleich der Zusatz der Azole und der Halogenidverbindungen
in Fengen oberhalb der obengenannten Eereiche keine wesentlichen Nachteile mit sich bringt, wobei die Ätzgeschwindigkeit
unverändert und zufriedenstellend beibehalten wird, ist ein derartiges Vorgehen aus !Wirtschaftlichen Gründen nicht,
zweckmäßig.
Im Hinblick auf die Halogenide als sekundäre Komponenten ist
festzustellen, daß diese beim Zusatz zu den Peroxysulfat-Ätzlösraigen
zusammen mit den primären Komponenten bereits in extreir f^erinp-cn llengien eine überraschende Steigerung
der Ä"t ζ geschwindigkeit mit sich bringen. Die zugegebenen Ken
nen der Halogenide können daher sehr gering sein.
Der Zusatz von Chloriden zu Peroxysulfat-Lösungen zum Ätzen
von Kupfer ist im Zusammenhang mit dem Ätzen von photographischen Druckplatten bereits in der bekanntgemachten japanischen
Patentanmeldung 27517/6**- beschrieben worden. In diesem
Falle waren jedoch die zugegebenen Chloridmengen sehr groß, d.h. es wurde bei Konzentrationen von mehreren Prozent oder
mehr gearbeitet. Darüber hinaus ist es bei der bekannten Ätzflüssierkeit
erforderlich, ergänzende Kennen der Chloride zuzusetzen,
und eine zufriedenstellende Ätzgeschwindigkeit kann nicht erhalten v/erden-, wenn nicht die Chlorid-Konzentration ·
in der Ätzlöstui?· am Schluß in der Gegend von mehreren 10 Prozenten
liep't.
20 9 84 5 /11 6 2 BAD ORIGINAL
2U9196
Dagegen dienen bei der erfindungsgemäß verwendeten Ätzlösung
die Halogenide lediglich als sekundäre Komponente des Additivs
und die verwendeten !-"engen sind im Vergleich zu der bekannten
Ätzlösung sehr gering, d„h. ihre Tienge beträgt nur
ungefähr 1/1000 der dort verwendeten i'.engen. Ferner ergibt
die erfindungsgemäß verwendete Ätzlösung hinsichtlich der
Ätzgeschwindifrkeit gegenüber den bekannten Ätzlösungen eine ■
mindestens dreifache Verbesserung. Der später erläuterte Ätzfaktor wird gegenüber den bekannten Ätzlösungen mindestens
\rerdoppelt.
Bei der Verwendung der bekannten Quecksilber-Katalysatoren
ist ea bekannt, daß die Zumischung von Chloriden, z.B.. derjenigen,
die in Stadt-,-/asser~5ysteinen enthalten sind, Nachteile,
vfie die drastische Verringerimg der Ätzgescbwindjgkeit,
die Bildung von üblen Gerüchen und dergleichen, mit sich l^inf-Dagegen
bringt die Anvfesenheit von Chloriden in den erfindungs
gemäß verwendeten Ätzflüssigkeiten solche Nachteile nicht πit
sich, sondern bewirkt eine erhebliche Steigerung der Jirkunp; der primären Komponenten.
Die erfindunrsgenn'ß verwendeten Additive besitzen zwar eine
ausgezeichnete Stabilität, wenn sie über verlängerte Zeiträume
in einer Peroxysulfat-Ätz]ösung vorliegen, doch werden sie
aufgrund einer allmählichen oxydativen Zersetzung durch die
iitark oxydierenden Peroxysulfat-Verbindungen in Abbauprodukte
umgewandelte
GloiohGrn.al'cn werden die Halogenide der sekundären Komponen-•1;u
unter Freisetzung von gasförmigen Halogenen allmählich oxydiert.
Hierdurch kann eine Verminderung der Ätzgeschwindigkeit erfolgen,
die aber ohne weiteres unter iiederherstellung der ursprünglichen
Geschwindigkeit behoben werden kann, wenn man zu der Ätzlösung von neuem die Azole, gegebenenfalls in Kombination
mit den Halogeniden, zusetzt.
209845/11R? -9-
A- - ^ --t BÄD
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Dabei wurde festgestellt, daß die durch die Oxydation entstehenden
Zersetzungsprodukte die chemische Stabilität der Azole erhöhen, xiodurch es möglich ist,die Kengen der frisch
zugesetzten Azoverbindungen gering zu halten,,
Wenn man das Ätzen über mehrere Wochen mit den erfindungsgemäß
verwendeten Ätzlösungen durchführt, die die definierten Azoverbindungen, gegebenenfalls in Kombination mit den
Halogeniden, enthalten, dann kann eine Abnahme der Ätzgeschv/indigkeit
festgestellt werden, die von der Abnahme der Peroxysulfat-Konzentration in der Ätzlösung bedingt ist. Diese
Abnahme ist auf die Umsetzung des Peroxysulfats mit dem
Kupfer zurückzuführen» Die Abnahme der Ätzgeschwindigkeit hat in diesem Fall somit nichts mit den Zusatzstoffen zu tun
und sie kann ohne weiteres durch Zugabe von Peroxysulfaten beseitigt v/erden, ohne daß nachteilige Jirkungen und Verzögerungen
aufgrund der Ansammlung von Kupfer auftreten*
Bein Ätzen von Kupfer und dessen Legierungen bei der Herstellung
von Platten für gedruckte Stromkreise muß eine Anzahl von Paktoren in Erwägung gezogen werden. Solche Faktoren sind
z.B. die Geschwindigkeit, mit der das Ätzmittel das Kupfer auflöst, der Ätzfaktor, das Auftreten von passiven Metalloberflächen
nach dem Ätzen, die Temperatur, bei welcher das Ätzen erfolgt sowie die Viirkungen der Ätzlösungen und der Additive
auf die Katerialien der Grundplatten für die gedruckten Stromkreise
und die Ätzeiiirichtungen. Das Ätzen gemäß der vorliegenden
Erfindung erfüllt sämtliche dieser Bedingungen.
"Bei der Verwendung von Zusatzstoffe enthaltenden Ätzlösungen
gerrsß der Erfindung beträgt die Ätzgeschwindigkeit des Kupfers 17 bis 45//pro Hinute. Diese Geschwindigkeit ist überraschenderweise
5- bis 15-rcai so groß als bei der Verwendung von
zusatzstofffreien Ätzlösunrren. In diesem Falle beträgt die
Geschwindigkeit normalerweise 3 bis k-μ pro Minute.
209845/116?
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Der hierin genannte Ätzfaktor stellt das Verhältnis der senkrecht geätzten Tiefe zum maximalen inneren Spielraum unter
dem Abdeckmaterial, gemessen von der geätzten senkrechten Ebene, dar. Bei dem Verfahren der Erfindung liegt der Ätzfaktor
im Bereich von 2,5 bis 3*5 im Vergleich zu einem Wert
von o,3 bis Oj4j der bei Verwendung von zusatzfreien Ätzlösungen
erhalten wird. Somit ist das erfindungsgernäße Verfahren zur Herstellung von Grundplatten für gedruckte Präzisionsschaltungen
mit einer extrem feinen Schaltkreisbreite geeignet.
Beim Ätzen von Grundplatten für gedruckte Schaltkreise mit beständigen Metallen können ausgezeichnete Ätzwirkungen erhalten
v/erden, ohne daß irgendwelche Verfärbungen der beständigen Metalloberflächen erhalten werden.
Hinsichtlich der Ätztemperatür wird es aufgrund der Tatsache,
daß die herkömmlichen Ätzeinrichtungen hauptsächlich aus Kunststoffen bestehen, bevorzugt, bei niederen Temperaturen
zu arbeiten. Bei der Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens werden schon bei solchen niedrigen Temperaturen hohe
Ätzgeschwindigkeiten erreicht, die bei Verxvendung der herkömmlichen, Quecksilber enthaltenden Ätzflüssigkeiten nicht
erzielbar sind. Das Verfahren der vorliegenden Erfindung kann daher schon bei Raumtemperatur bequem durchgeführt werden.
Da die erfindungsgemäß verwendete Ätzlösung keine besonderen
Einflüsse auf die Materialien der Platten der gedruckten Schaltungen und der Ätzeinrichtungen ausübt, kann das Verfahren
mit allen herkömmlichen Materialien und Einrichtungen ausgeführt werden.
Neben Kupfer können auch Kupferlegierungen, wie Messing, Bronze, Berylliumkupfer, Konstantan und dergleichen, gemäß der
Erfindung geätzt werden.
- 11 -
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Als Beispiele für in den erfindun^sjremäß verwendeten Ätzlö-
cvnp-en eingesetzte Peroxysulfate können genannt werden: Ammonium-,
Kalium—, Natriun- und Lithiumperoxymonosulfat und
Arno-iruir.-, Kalium-, Matriuni-, Barium-, Lithium- und Strontiurcperoxydisulfnt.
Von diesen Verbindungen werden besonders AmmojaiuraperoKyr-onosulfc.it
und Ainn:oniuniperoxydisulfat bevorzugt.
Die ν ervjr nc1;- te Ätzlcsunr enthalt das Peroxysulf at in Kennen
von 5 Ge17.-'' hi r zur maximalen Löslichkeit-j vorzugsweise von
5 Mn 2.5 Gg;;. -Ί so'jie erforderlichenfalls Orthophosphorsäure
und/oder Sc hv; t.-fels H iir-e iii Kennen von-0,5 bis 15 Gew.-^, Die
',-rfi^-iivv'Fi"''-"'".^ vervjendete Atzlö'junf enthält weiterhin als
Additiv-vjern rs tens cine Azolverbindmif der anperxA .;nüii Art als
p]'.i?.":;ro Y.oV: ).^vi'itc in I.enren von 5 ppm bis zur maximalen Lös-Iji'h^^jt,
\nrz^-;^\:oice von 10 "bis 10 000 ppm, und zwar entwer'i·.-11
i'ür Fich ο-λοτ zu.saiv.men mit wenigstens einer Halo^enverliriir.m;'
in I iVAr~cn von 0,1 ppm bis 1000 ppni, vorzu{:-sv/eise von
0,1 ]>pi:: l.ir 'iO ppm, in Form von Halop?nionen.
Γ ei der.1 Verfahren der Krfindunp; beträft die Atztemperatur 20
lä.s <;O°Cj vorzufcsv/eise 20 bis 50°Cc Eine Erhöhung: de}1 Ätzten;-.
i:-er!3i:ur, ui. die Ätzrecclr/nndiitliei t zu steigern, ist niclit
"iiroiiTK^iBipr, da auftrrimcl einer beschleunigten Zcrüetzunp" dny
Prro:::yi3iilfatü i;nd einer beschleunigten Oxydation,. 2ersetzi;n,f:
und V«i}'flüchti/"imr der Azole und der Halogenide hierdurch
(Mc- (n.ojchn:.;ißirke3t de.311 Ätz/re.sclivnnd jp:kej 1; nacliteilip bot j-υ-
Dmvl": d:5,'T Verf'ihren der Ei'findunp: liiiiinen 3li Veröle3cli ^u d(;V ./■
'.-(VTf.1-.?^;::: von zusatzfreien Ai;?:löf3un,'.en erhebliche VerV.esse-.
rir.Tven d'>r fei^tipen I'aterialien erzielt werden. Darüber liinaus
v.'e^den nichi. nur Vorteile liinsichtli ch der Atzgeschwindirkei.t
wit] des Ivid;:ustands tirrcicht, sondern auch die. Höflichkeit
eine]' Verunroinic"unr: von Flüssen mit Quecksilber vollständig an!-:;-«schal
tst.
2098Ü5/1162 ^
Die Erfindung wird in den Beispielen erläutert.
Auf folgende Weise wurde ein Schaltkreismuster hergestellt:
Auf eine mit Kupfer bedeckte Laminatplatte mit den Abmessungen 5 cm χ 5 cm, in welcher eine Kupferfolie
von 35 M eng· laminiert war, wurde ein organisches, lichtempfindliches Harz aufgebracht. Sodann wurde auf das resultierende
Substrat ein photographisches Negativ aufgelegte Unter Verwendung einer Quecksilberlampe wurde sodann belichtet
und der nicht belichtete Teil wurde mit einem Kischlösungsmittel aus Trichloräthylen und Kethylenchlorid entfernt.
Es wurde eine Lösung hergestellt, die 250 g/lAmmoniumperoxydisulfat
und 50 ml/1 einer 75 Gew.-^igen wäßrigen Lösung
von Orthophosphorsäure enthielt. Zu der resultierenden Lösung wurde als Additiv 3-Amino-l,2,4— triazol entweder flüssig
oder in Kombination mit Natriumchlorid in verschiedenen Fengen gegeben, wodurch einzelne Ätzlösungen erhalten wurden.
Das Ätzen erfolgte unter Vervrendung dieser Ätzlösungen und einer rotierenden, scheibenartigen Sprühätzvorrichtung bei
einer Temperatur von 4-0. C. Der Sprühdruck betrug 0,5 kg/cm .
Nach Beendigung des Ätzens wurde die Grundplatte zerschnitten und in ein Harz eingebettet, um den Ätzfaktor zu messen.
Die Kessung erfolgte, indem der geätzte Teil der Kupferfolie unter einem Mikroskop betrachtet würde, um das Verhältnis
der senkrecht geätzten Tiefe zu dem maximalen Spielraum unterhalb des Abdeck-Iiaterials von der geätzten rechtwinkligen
Ebene zu bestimmen.
Die erhaltenen Ergebnisse sind in der Tabelle I zusammenge- ■
stellt. . . . -
-13-209845/1162
Tabelle I | Vergleichsversuche | - | - | 17,3 | Ätz faktor |
|
Beispiel Nr. | 1 | - | - | 20,1 | 1,9 | |
1 | 2 | ie | 36,2 | 2,2 | ||
2 | Additivart Atzge- 3-Amin.o-l,2,4- Natriumchlorid, schwin- triazol (ppm) (ppm) digkeit (^u/min) |
16 | 36,0 | 3,0 | ||
3 | 100 | 16 | 36,3 | 2,8 | ||
4 | 1000 | 48 | 35,8 | 3,2 | ||
5 | 100 | 80 | ^36,2 | 3,0 | ||
6 | 200 | 160 | 37,0 | 3,2 | ||
7 - | 300 | 320 | 36,0 | 3,0 | ||
8 | 300 | 3,1 | ||||
9 | 300 | - | 3,2 | |||
300 | 16 | • 2,0 | 0,3 | |||
300 | 0,1 : |
Wie in den Beispielen 1 bis 9 wurde ein Schaltungsmuster hergestellt
und unter Verwendung der gleichen Ätzeinrichtung und
der gleichen Ätzbedingungen geätzt, mit der Ausnahme, daß die Ätzlösung verschiedene Arten von Additiven in verschiedenen
Mengen enthielt, wie es in Tabelle II gezeigt wird. Die erhaltenen
Ergebnisse sind in Tabelle II zusammengestellt.
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2K9196
12 | Tabelle | Additivart | II | 200 | Ätzgeschwin- digkeit (yu/rnin) |
Ätz faktor |
|
Beispiel ■ Nr. |
3-Amino-1,2,4-triazol | Zugegebene Menge (ppm) |
200 | 35,1 | 3,0 | ||
10 | 13 | Salzsäure | 300 | 16 | |||
3-Amino-1,2,4-triazol | 10 | 100 | 33,8 | 3,1 | |||
11 | 14 | Ammoniumchlorid | 300 | 100 | |||
3-Amino-l,2,4-triazol | 15 | 16 | 3^,5 | 3,2 | |||
15 | Natriumhypochlorit | 300 | 100 | ||||
3-Amino-l,2,4-triazol | 21 | 100 | 3^,0 | 3,1 | |||
16 | Kaliumbromid | 300 | 16 | ||||
17 . | 3-Amino-l,2,4-triazol | 15 | 300 | 35,5 | 3,1 | ||
Kaiiumbromat | 300 | 300 | |||||
18 | 3-Amino-1,2,4-triazol | 21 | 16 | 31,3 | 3,0 | ||
19' | 200 | 300 | |||||
Kaliumdichlorisocyanurat33 | 16 | 19,3 | 2,1 | ||||
20 | 1-Amino-1,2,3-triazol | 15 | 32,0 | 2,8 | |||
21 | 1 -Arnino-1,2,3-triazol | ||||||
Natriumchlorid | 1-6,4 | 2,0 | |||||
22 | Benzotriazol | 20,3 | 2,1 | ||||
Benzotriazol | |||||||
Natriumchlorid | 18,1 | 1,9 | |||||
5-Amino-tetrazol | 21,2 | 2,3 | |||||
5-Amino-tetrazol | |||||||
Natriumchlorid | |||||||
3-Amino-l,2,4-triazol | 35,2 | 3,2 | |||||
1-Amino-1,2,3-triazol | |||||||
Natriumchlorid | |||||||
3-Amino-l,2,4-triazol | 34,2 | 3,2 | |||||
Natriumchlorid | |||||||
Kaliumbromid |
209845/1162
-15-
BeisOJele 2k bis 35-
'.•/ie in den Beispielen 1 tis 9 wurde ein Schältkreismuster
hergestellt und unter Verwendung einer Ätzlösung geätzt, die 250 g/l Natriumperoxydisulfat und 50 ml/1 einer 75 Gew.-#igen
wäßrigen Lösung von Orthophosphorsäure enthielte Diese Lösung
enthielt weiterhin verschiedene Arten und Mengen von Additiven freriiäß den Angaben der Tabelle III. Die erhaltenen Ergebnisse
sind in Tabelle III zusaramenp;esteilt.
209845/1167
2U9196
Tabelle III | Additivart | - | Zugege bene Kenge (ppm) |
- | - | Ätzgeschwin digkeit (^u/min) |
- | 16,8 | Ätz faktor |
|
Beispiel Nr'. |
3-Amino-l,2,4-triazol | 1000 | 18,5 | 30,4 | 2,0 | |||||
24 | 3-Arnino-l ,2,4-triazol | 300 | 3^,2 | 3,0 | ||||||
25 | 'Natriumchlorid | 16 | ||||||||
3-I-'ethyl-l, 2,4-triazol | 200 | 18,1 | 2,6 | 2,1 | ||||||
26 | 3-Kethyl-l,2,4-triazol | 200 | 33,7 | 3,0 | ||||||
27 | Ammoniumchlorid | 15 | I | |||||||
3-Amino-l,2,4-triazol | 300 | \ | ||||||||
28 | 1-Amino-1,2,3-triazol | 300 | 33,5 | 3,0 | ||||||
Natriumchlorid | 16 | |||||||||
3-Amino-l,2,4-triazol | 300 | 36,5 | 3,2 | |||||||
29 | Kaliumbromid | 15 | ||||||||
1-Amino-1,2,3-triazol | 300 | 17,3 | 2,0 | |||||||
30 | 1-Amino-1,2,3-triazol | 300 | 32,5 | 2,9 | ||||||
31 · | Natriumchlorid | 16 | ||||||||
1-Amino-benzotriazol | 500 | 18,1 | 2,0 | |||||||
32 | 1-Amino-benzotriazol | 500 | 33,8 | 2,9 | ||||||
33 | Natriumchlorid | 16 | ||||||||
5-Amino-l-methyl- . tetrazol |
500 | 1,7 | ||||||||
3^ | 5-Amino-l-methyl- tetrazol |
500 | 2,8 | |||||||
35 | Natriumchlorid | 16 | ||||||||
sversuch | ||||||||||
Vergleich | 0,3 | |||||||||
3 |
2098Λ5/1162
Beispiele 36 bis
k-3
VJie in den Beispielen 1 bis 9 wurde ein Schaltkreismuster
hergestellt und unter Verwendung einer Ätzlösung geätzt, die
100 g/l Ammoniumperoxymonosulfat und 50 g/l Schwefelsäure
enthielt. Diese Lösung enthielt weiterhin verschiedene Arten und Kengen von Additiven gemäß den Angaben der Tabelle
IV. Die erhaltenen Ergebnisse sind in Tabelle IV zusammengestellt.
Beispiel Additivart
Nr.
Nr.
Zugegebe ne Menge (ppm)
Ätzgeschwindigkeit
(^w/min)
(^w/min)
Atzfaktor
36
3-Amino-l,2,4-triazol 100
3-Amino-l,2,^-triazol 1000
3-Amino-l,2,^-triazol 300
Natriumchlorid l6
3-Amino-l,2,^rtriazol 300
Kaliumiodid . I3
5-Amino-tetrazol
Natriumchlorid
Natriumchlorid
3-Amino-l,2,^-triazol 300
1-Amino-1,2,3-triazol 3OO
Natriumchlorid l6
1-Amino-5-methyl-1,2,3-triazol
200
1-Amino-5-nie thyl-1,2,3-triazol
Natriumchlorid
26,5
27,3
27,3
^3,5
31,0
16,5
31,8
2,3
3,5
3,4 2,8
3,3
1,9
2,9
Vergleichsversuch
8,3
1,2
209845/1162
-18-
Das Ätzen erfolgte wie in den Beispielen 1 bis 9 mit der Ausnahme,
daß anstelle der mit einer Kupferfolie von 35 P- ausgekleideten
laminierten Platte eine Kessingplatte (80$-Cu und
20# Zn) verwendet wurde. In Tabelle V sind die Arten und Ken-
gen der verwendeten Additive und die Ergebnisse der Versuche
zusammengestellt.
Beispiel " Additivart Zugegebe- Ätzgeschwindig-
NrV ne !!enge ' keit
(ppm) (yu/ir:in)
44 3-Amino-l,2,4-triazöl 300 23,9 Natriumchlorid 16
45 3-Amino-l,2,4-triazOl 300 24-, 5
. ■ . Kaliumbromat 21
4-6 l-Amino-5-niethyl-triazol 500 25,1
Natriumchlorid 16
4-7 Benzotriazol ' 500 22,"8
Natriumchlorid 16
48 ' 5-Amino-tetrazöl 500 23,4-
Matriunchlorid .. 16
4-9 2-Hethyl-tetrazol 500 23,8
Natriumchlorid 16
Vergleichsversuch
5 · - _- ■ 2,2
Es wurde ein Schaltkreismuster wie in den Beispielen 1 bis
hergestellt, wobei als Deckmittel ein Lötnietall aus 6O;2 Ziim
und 4-0$ Blei anstelle des organischen, lichtempfindlichen Harzes
verwendet wurde. Das Ätzen erfolgte wie in den Beispielen 1 bis 9. Die erhaltenen Ergebnisse sind in Tabelle VI zusammengestellt.
209845/1162 -19-
2H9196
Beispiel Additivart . Nr. Zugege- Atzgebene
schwin-Kenge
diglceit
(ppm) -(/i/min)
(ppm) -(/i/min)
Atz- Aussehen faktor der Oberfläche de; Lötmet aiii
3-Ai?ino-l, 2,4—triazol
3-Aniino-l, 2,4— triazol
3-Amino-l,2,4—triazol - liatriumchlorid
3-Amino-l,2,4-triazol Kaliumbromid
3-Amino-l,2,4—triazol 1-Amino-1,2,3-triazol
Natriumchlorid
3-Amino-l,2,4—triazol
Natriumchlorid
Kaliumbromid
3-Amino-l,2,4—triazol
Dichloris ocyanursäure
1 -Aroino-5-niethyl-1,2,3-triazol
Natriumchlorid
Eenzotriazol Natriumchlorid
5-Ainino-tetrazol Natriumchlorid
5-Amino-1-methyltetrazol
Natriumchlorid
1-Amino-1,2,3-triazol
Ace tylbroiP id
100 | 17,3 | 1,9 | glänzend |
1000 | 20,1 | 2,2 | It |
300 | 36,3 | 3,0 | Il |
16 | |||
300 | 3M | 2,8 | Il |
15 | |||
300 | |||
300 | 35,2 | 3,1 | Il |
300 | |||
16 | 34-,2 | 3,0 | Il |
15 | |||
300 | 31,3 | 3,0 | Il |
33
300 | .32,5 | 2,9 | η |
16 | |||
100 | 20,3 | 2,1 | Il |
16 | |||
100 | 21,2 | 2,3 | Il |
16 | |||
300 | 21,4 | 2,0 | Il |
J.6 | |||
300 | 20 | 2,3 | ■ Il |
15 | |||
3,2 ..,, | 0,3 | leicht · ' | |
ftrau |
Verrrle ichs versuch 6
209845/1162 -2Or-
Claims (6)
1. Verfahren zum Ätzen von Kupfer und dessen Legierungen
unter Verwendung einer sauren wäßrigen Peroxysulfat-Lösung
als Ätzlösung, dadurch gekennzeichnet , daf3
man eine Ätzflüssigkeit verwendet, die wenigstens eine Azolverbindung
der allgemeinen Formel
-X"
X·
(D
(II)
N—
X
X
(IV)
oder
(V)
worin X, X1 und X", die gleich oder verschieden sein können,
Wasserstoff, Aminogruppen, Aminoalkylgruppen mit 1 bia 3 Kohlenstoffatomen und Alkylgruppen mit 1 bis 3 Kohlenstoffatomen
bedeuten, als primäre Komponente und erforderlichenfalls ein oder mehrere Halogeni'de als sekundäre Komponente enthält.
2. Verfahren nach Anspruch 1., dadurch g e k e η η zeichne
t, daß man als Az öl Verbindung 1,2,4— TriaZol, 3-
!•■ethyl-l,2,4-triazol, 3,5-Dimethyl-l ,2,4-triazol, 1-Amino-1,2,4-triazol,
3-Amino-l,2,4-triazol, 5-Ämino-3-methyl-l ,2,4-triazol,
3-(ß-Aminoäthyl)-l,2,4-triazol, 3-Isopropyl-l,2,4-triazol,
1,2,3-Triazol, 1-Lethyl-l,2,3-triazol, 1-Amino-1,2,3-triazol, 1-Amino-5-methyl-i,2,3-triazol, 4,5-Dimethyl-
-21-
209845/1162
-21"- 2M9196
1,2,3^-triazol, 1-Amino-5-(n)-propyl-1,2,3-triazol, 1-(ß-Aminoäthyl)-1,2,3-triazol,
Benzotriazol, 1-Methyl-benzotriazol, 1-Amino-benzotriazol, 1-Äthyl-benzotriazol, Tetrazol, 1-Methyl tetrazol,
2-Methyl-tetrazol, 5-Amino-tetrazol, 5-Amino-!-
methyl-tetrazol iHid/öder i-(ß-Aminoäthyl)-tetrazol verwendet.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch g e ke η η zeichnet,
daß man als Halogenid Fluorwasserstoff oder dessen Salze, Chlorwasserstoff oder dessen Salze, Bromwasserstoff
oder dessen Salze, Jodwasserstoff oder dessen Salze, ein Oxid des Fluors, Chlors, Broms oder Jods, eine Oxysäure
des Chlors, Broms oder Jods bzw. deren Salze, Dichlorisocyanursäure oder deren Salze, 1-chlordiäthyläther, ein organisches
Säurehalogenid oder ein Gemisch hiervon verwendet.
4. Wässrige Lösung zum Ätzen von Kupfer und dessen Legierungen,
enthaltend Peroxysulfat, dadurch gekennzeichnet , daß sie zusätzlich wenigstens eine Azolverbindung
der allgemeinen Formel
rx"
(D (H) (III)
oder
(V)
20984B/1162 - 22 -
worin X, X1 und X", die gleich oder verschieden sein können,
Wasserstoff, Aminogruppen, Aminoalkylgruppen mit 1 bis 3 Kohlenstoffatomen und Alkylgruppen mit 1 bis 3 Kohlenstoffatomen
bedeuten, als primäre Komponente und erforderlichenfalls ein oder mehrere Halogenide als sekundäre Komponente
enthält.
5. Lösung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeich net, daß die Azolverbindung 1,2,4-Triazol, 3-Methyl-1,2,4-triazol,
3,5-Dimethyl-1,2,4-triazol, 1-Amino-1,2,4-triazol,
3-Amino-1,2,4-triazol, 5-Amino-3-methyl-1,2,4-triazol,
3-(ß-Aminoäthyl)-1,2,4-triazol, 3-1sopropyl-1,2,4-triazol
,1,2,3-Triazol, 1-Methyl-1,2,3-triazol, 1-Amino-1,2,3-triazol,
1-Amino-5-methyl-i,2,3-triazol, 4,5-Dimethyl-1,2,3-triazol,
1-Amino-5-(n)propyl-1,2,3-triazol, 1-(ß-Aminoäthyl)-1,2,3-triazol,
Benzotriazol, 1-Metyl-benzotriazol,
1-Amino-benzotriazol, 1-lthyl-benzotriazol, Tetrazol, 1-Methyl-tetrazol,
2-Methyl-tetrazol, 5-Amino-tetrazol, 5-Amino-1-methyl-tetrazol
und/oder 1-(ß-Aminoäthyl)-tetrazol ist.
6. Lösung nach Anspruch 4 oder 5t dadurch g e k e η η zeichnet
, daß das Halogenid Fluorwasserstoff oder dessen Salze, Chlorwasserstoff oder dessen Salze, Bromwasserstoff
oder dessen Salze, Jodwasserstoff oder dessen Salze, ein Oxid des Fluors, Chlors, Broms oder Jods, eine Oxysäure
des Chlors, Broms oder Jods bzw. deren Salze, Dichlorisocyanursäure oder deren Salze, 1-Chlordiäthyläther, ein organisches
Säurehalogenid oder ein Gemisch hiervon ist.
2098A5/1162
Applications Claiming Priority (1)
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JP46026697A JPS5221460B1 (de) | 1971-04-26 | 1971-04-26 |
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ID=12200566
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Publication number | Publication date |
---|---|
FR2134333A1 (de) | 1972-12-08 |
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DE2149196C2 (de) | 1982-04-29 |
IT941866B (it) | 1973-03-10 |
JPS5221460B1 (de) | 1977-06-10 |
FR2134333B1 (de) | 1974-06-21 |
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