DE19813871A1

DE19813871A1 - Optisches Speichergerät

Info

Publication number: DE19813871A1
Application number: DE19813871A
Authority: DE
Inventors: Hiroshi Tani
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Panasonic Corp
Priority date: 1997-08-28
Filing date: 1998-03-29
Publication date: 1999-03-04
Anticipated expiration: 2018-03-30
Also published as: JPH1173668A; DE19813871C2; JP3429165B2; US6072761A

Description

HINTERGRUND DER ERFINDUNG

Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein optisches Speichergerät unter Verwendung eines auswechselbaren Medi ums, wie z. B. einer MO-Kassette oder dergleichen, und insbe sondere auf ein optisches Speichergerät zum effizienten Ein stellen einer lichtemittierenden Energie einer Laserdiode auf eine optimale Energie, wenn ein Medium geladen ist.

Einer optischen Platte wird als ein Speichermedium als Kern von Multimedia Aufmerksamkeit geschenkt, die sich in den letzten Jahren schnell entwickelt hat. Was z. B. eine MO-Kassette mit 3,5 Zoll anbetrifft, sind in den letzten Jahren zusätzlich zu herkömmlichen MO-Kassetten mit 128 MB und 230 MB auch Medien mit einer hohen Aufzeichnungsdichte, wie z. B. MO-Kassetten mit 540 MB und 640 MB, geschaffen worden. In einem Optische-Platte-Laufwerk ist es wichtig, eine licht emittierende Energie einer Laserdiode gemäß einer Temperatur zu dieser Zeit, einer Medienart, einer Position (Zone) auf dem Medium und dergleichen richtig einzustellen, um die Le se- und Schreib-Operationen stabil auszuführen. Wenn eine Temperatur hoch ist, ist im allgemeinen eine notwendige lichtemittierende Energie gering, und, wenn die Temperatur niedrig ist, ist die notwendige lichtemittierende Energie hoch. Die Medienarten können in Medien mit 128 MB und 230 MB, die durch eine Vertiefung-Position-Modulation (PPM) (engl. pit position modulation) aufgezeichnet oder beschrie ben werden, und Medien mit 540 MB und 640 MB eingeteilt wer den, die durch eine Pulsbreitenmodulation (PWM) (engl. pulse width modulation) aufgezeichnet werden, um eine Auf zeichnungsdichte zu erhöhen. Bei der PPM-Aufzeichnung wird die lichtemittierende Energie in drei Stufen einer Leseener gie, einer Löschenergie und einer Aufzeichnungsenergie ge ändert. Im Gegensatz dazu ist es bei der PWM-Aufzeichnung notwendig, die lichtemittierende Energie in vier Stufen der Leseenergie, der Löschenergie, einer ersten Schreibenergie und einer zweiten Schreibenergie zu ändern. Im Fall der PWM-Aufzeichnung eines Mediums eines Direkt-Überschreib-Korres pondenz-Typs ist es notwendig, die lichtemittierende Energie in vier Stufen der Leseenergie, einer Hilfsenergie, der er sten Schreibenergie und der zweiten Schreibenergie zu än dern, weil keine Lösch-Operation ausgeführt wird. Bezüglich einer Position auf einem Medium ist ferner eine größere lichtemittierende Energie auf dem äußeren Umfang als die auf dem inneren Umfang notwendig.

ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG

In einem optischen Plattengerät ist es notwendig, eine optimale lichtemittierende Energie situationsbezogen einzu stellen. In einer Lichtemissionssteuerung einer Laserdiode werden Anweisungsdaten der lichtemittierenden Energie durch einen Controller oder ein Steuergerät in einen D/A-Wandler eingegeben und in ein Analogsignal umgewandelt, wird durch das Analogsignal eine Stromquelle gesteuert, und wird ein Ansteuerstrom an die Laserdiode geliefert, wodurch Licht emittiert wird. In diesem Fall ist es wichtig, daß die durch das Steuergerät angewiesene optimale lichtemittierende Ener gie und eine lichtemittierende Energie der Laserdiode, die tatsächlich das Licht emittiert, übereinstimmen. Wenn ein Medium in das optische Plattengerät eingesetzt ist, wird zu diesem Zweck eine Lichtemissionseinstellung zum genauen Ein stellen der Beziehung zwischen einem DAC-Anweisungswert, der als Lichtemissionsanweisungsdaten für den D/A-Wandler dient, und der lichtemittierenden Energie der Laserdiode auf der Basis des DAC-Anweisungswertes ausgeführt. Als eine Licht emissionseinstellung der Laserdiode gibt es eine Lichtemis sionsgrobeinstellung und eine Lichtemissionsfeineinstellung. Gemäß der Lichtemissionsgrobeinstellung wird in einem Zu stand, in dem ein Fokussier-Servomechanismus und ein Spur folge- oder Nachführ-Servomechanismus ausgeschaltet sind, ein ADC-Anweisungswert im D/A-Wandler eingestellt, wird die Laserdiode angesteuert, um Licht zu emittieren, wird ein Überwachungslicht durch einen A/D-Wandler gemessen und wird der DAC-Anweisungswert so eingestellt, daß die gemessene Energie mit der Anweisungsenergie übereinstimmt. Weil das zu messende Überwachungslicht in diesem Fall kein Rückkehrlicht von dem Medium enthält, wird in diesem Fall eine von den tatsächlichen Lese- und Schreib-Operationen verschiedene statistische Einstellung ausgeführt. Im Gegensatz dazu wird bei der Lichtemissionsfeineinstellung in einem Auf-Spur-Steuer zustand, in dem der Fokussier-Servomechanismus und der Nachführ-Servomechanismus eingeschaltet sind, d. h. in einem Zustand, in dem das gleiche Überwachungslicht wie das in den tatsächlichen Lese- und Schreib-Operationen verwendete das Medium-Rückkehrlicht enthält, der der optimalen Energie ent sprechende DAC-Anweisungswert in dem D/A-Wandler auf der Ba sis der Beziehung zwischen der durch die Grobeinstellung er haltenen lichtemittierenden Energie und dem DAC-Anweisungs wert eingestellt und die Laserdiode angesteuert, um Licht zu emittieren. Das das Rückkehrlicht vom Medium enthaltende Überwachungslicht wird gemessen, und der DAC-Wert wird so eingestellt, daß die gemessene Energie mit der angewiesenen lichtemittierenden Energie übereinstimmt, wodurch die Bezie hung zwischen der lichtemittierenden Energie und dem DAC-Anweisungswert genau eingestellt wird.

Bei der Lichtemissionsfeineinstellung der Laserdiode, die in dem Auf-Spur-Steuerzustand ausgeführt wird, werden die vorhandenen aufgezeichneten Daten zerstört, weil die La serdiode angesteuert wird, um Licht gemäß den Schreib- und Löschenergien zu emittieren. Folglich wird für die Licht emissionsfeineinstellung z. B. eine Testzone eines innersten Nicht-Benutzer-Bereichs verwendet, in dem keine Benutzer daten aufgezeichnet sind. Das heißt, wenn die Lichtemis sionsfeineinstellung gestartet wird, läßt man einen Wagen die Testzone aufsuchen oder suchen, wird ein Abschluß der Aufsuch-Operation der Testzone bestätigt, und wird die Lich temissionseinstellung der Laserdiode ausgeführt. In dem PWM-Aufzeichnungsmedium, das die Lösch-Operation erfordert, wird z. B. bezüglich jeder der Löschenergie, ersten Schreibenergie und zweiten Schreibenergie die Lichtemissionseinstellung se quentiell zu den spiralförmigen Spuren ausgeführt, während der Auf-Spur-Zustand beibehalten wird. In dem PWM-Aufzeichnungsmedium des Direkt-Überschreib-Korrespondenz-Typs, der die Lösch-Operation nicht benötigt, wird bezüglich jeder der ersten Schreibenergie, die zu einer Hilfsenergie addiert wird, und der zweiten Schreibenergie, die zu der Hilfsenergie addiert wird, die Lichtemissionseinstellung nacheinander zu den spiralförmigen Spuren durchgeführt, wäh rend der Auf-Spur-Zustand beibehalten wird. In dem Fall, in dem man den Lichtstrahl die Spur in der Mitte der Testzone aufsuchen läßt und die Lichtemissionseinstellung gestartet wird, ist jedoch die Zahl restlicher Spuren in der Testzone unzureichend, so daß die Befürchtung besteht, daß während der Lichtemissionseinstellung Licht über die Testzone hinaus emittiert wird und Daten in einer in einem Systembereich oder der Benutzerzone angeordneten Steuerspur zerstört wer den.

Obwohl in der Lichtemissionsfeineinstellung das Gerät gesteuert wird, um in den Auf-Spur-Zustand in der Testzone einzutreten, und die Laserdiode zur Lichtemission ange steuert wird, wird eine tatsächliche Schreib-Operation oder dergleichen von Testdaten nicht durchgeführt. Die Lichtemis sion wird daher eingestellt, ohne sich einer Sektorstruktur der Spur besonders bewußt zu sein, die durch einen ID-Teil und einen Datenteil aufgebaut ist. In dem Fall, in dem der der löschenden oder schreibenden lichtemittierenden Energie entsprechende DAC-Anweisungswert im D/A-Wandler eingestellt ist und die Laserdiode zur Lichtemission angesteuert ist, beobachtet man, selbst wenn der DAC-Anweisungswert konstant ist, ein Phänomen derart, daß die gemessene Energie des Überwachungslichts, die durch den A/D-Wandler gemessen wird, partiell fluktuiert, so daß ein Problem des Auftretens eines Einstellungsfehlers vorliegt.

Gemäß der Erfindung wird ein optisches Speichergerät ge schaffen, das eine Situation derart verhindern kann, daß Licht während einer Lichtemissionseinstellung in einem Auf- Spur-Steuerzustand über eine Testzone hinaus emittiert wird und notwendige Daten zerstört werden.

Gemäß der Erfindung wird ein optisches Speichergerät ge schaffen, das eine Lichtemission genau einstellen kann, ohne einen Einstellungsfehler hervorzurufen, selbst wenn es eine Fluktuation in einer gemessenen Energie eines Überwachungs lichts durch eine Lichtemission in einem Auf-Spur-Zustand gibt.

Ein optisches Speichergerät der Erfindung weist auf: ei ne Laserdiode zum Emittieren eines Strahllichts; eine Licht emissionsstromquellenschaltung zum Liefern eines Ansteuer stroms gemäß jeder einer Vielzahl von Energien an die Laser diode; eine automatische Energiesteuereinheit (APC-Einheit) zum Steuern der lichtemittierenden Energie der Laserdiode auf eine spezifizierte Zielenergie; einen Überwachungsdetek tor zum Empfangen des Laserstrahls der Laserdiode und Detek tieren einer Meßenergie; und eine Überwachungsenergie-Meß einheit zum Lesen eines vom Detektor zum Überwachen erhal tenen Überwachungsstroms als einen Energiemeßwert.

Gemäß der Erfindung ist ein solches optisches Speicher gerät gekennzeichnet, indem es eine Verarbeitungseinheit für eine Lichtemissionsfeineinstellung, eine Halteeinheit für eine automatische Energiesteuerung und eine Testzone- Bestätigungseinheit aufweist. Nachdem man den Lichtstrahl eine vorbestimmte Testzone aufsuchen ließ, weist die Verar beitungseinheit für eine Lichtemissionsfeineinstellung nach einander bei einer vorbestimmten Testenergie in einem Zu stand, in dem eine Auf-Spur-Steuerung bestätigt ist, der Lichtemissionsstromquellenschaltung eine Lichtemission an, steuert die Laserdiode an, um Licht zu emittieren, stellt einen Anweisungswert der Lichtemissionsstromquellenschaltung so ein, daß die Meßenergie gleich der Zielenergie ist, und erhält die Beziehung zwischen einer willkürlichen licht emittierenden Energie (x) und einem Anweisungswert (y) der Lichtemissionsstromquellenschaltung auf der Basis des Ergeb nisses der Einstellung. Zum Beispiel wird die Beziehung zwi schen der willkürlichen lichtemittierenden Energie (x) und dem Anweisungswert (y) der Lichtemissionsstromquellenschal tung durch eine lineare Approximation erhalten und korri giert eine Energietabelle, die zu Anfang aufgestellt worden ist. Die eine automatische Energiesteuerung haltende Einheit hält die Steuerung der automatischen Energiesteuereinheit während einer Lichtemission-Ansteuerperiode, wenn die Laser diode durch die Verarbeitungseinheit für eine Lichtemis sionsfeineinstellung zur Lichtemission angesteuert wird. Die automatische Energie-Lichtemissionssteuerung wird folglich nicht während der Lichtemission der Laserdiode ausgeführt, so daß ein Fehler der lichtemittierenden Energie durch das Rückkehrlicht genau gemessen wird und der Anweisungswert für die Lichtemissionsstromquellenschaltung eingestellt werden kann, um den Fehler zu eliminieren. Die Testzone-Bestäti gungseinheit unterscheidet, ob die gegenwärtige Position in nerhalb eines Bereichs der Testzone liegt oder nicht, wenn die Einstellung der Lichtemission der Laserdiode durch die Verarbeitungseinheit für eine Lichtemissionsfeineinstellung gestartet wird. Wenn die gegenwärtige Position innerhalb des Bereichs der Testzone liegt, wird die Lichtemissionseinstel lung aktiviert. Wie oben erwähnt wurde, wird die gegenwär tige Position auf dem Medium jederzeit während der Licht emissionseinstellung bestätigt und, wenn sie außerhalb des Testzonenbereichs liegt, wird eine Zerstörung der Benutzer daten verhindert, indem man den Lichtstrahl wieder den Kopf der Testzone aufsuchen läßt.

In einer spezifischen Form der Erfindung ist ferner eine Subtraktionsstromquellenschaltung vorgesehen. Ein spezifi zierter Subtraktionsstrom entsprechend einer Differenz zwi schen der lichtemittierenden Energie und der Zielenergie wird von einem optisch lesbaren oder Lichtabfühlstrom (engl. photosensing current) des Detektors zum Überwachen subtra hiert. Ein resultierender Strom wird in einen Überwachungs strom umgewandelt. Der Überwachungsstrom wird zur automa tischen Energiesteuereinheit rückgekoppelt. In diesem Fall liest die Überwachungsenergie-Meßeinheit den von der Sub traktionsstromquellenschaltung erhaltenen Überwachungsstrom als einen Energiemeßwert. Nachdem man den Lichtstrahl eine vorbestimmte Testzone aufsuchen ließ, weist die Verarbei tungseinheit für eine Lichtemissionsfeineinstellung nach einander die Lichtemissionsstromquellenschaltung an, die Lichtemission gemäß Testenergien an zumindest zwei vorbe stimmten Punkten in einem Zustand durchzuführen, in dem die Auf-Spur-Steuerung bestätigt wurde, steuert die Laserdiode an, um Licht zu emittieren, weist einen spezifizierten Sub traktionsstrom entsprechend den Testenergien an den beiden Punkten der Subtraktionsstromquellenschaltung an, stellt den Anweisungswert der Lichtemissionsstromquellenschaltung ein, so daß die Meßenergie der Überwachungsenergie-Meßeinheit gleich der Zielenergie ist, und erhält die Beziehung zwi schen der willkürlichen lichtemittierenden Energie und dem Anweisungswert der Lichtemissionsstromquellenschaltung auf der Basis des Ergebnisses der Einstellung.

Die Testzone-Bestätigungseinheit unterscheidet, ob die gegenwärtige Position innerhalb des Bereichs der Testzone liegt oder nicht, indem ein ID-Feld der Medienspur gelesen wird. Die Testzone-Bestätigungseinheit kann auch unterschei den, ob die gegenwärtige Position innerhalb des Bereichs der Spurzone liegt oder nicht, indem eine absolute Position ei nes Positionierers (VCM-Wagen) zum Bewegen einer Bilderzeu gungsposition des Lichtstrahls in der radialen Richtung des Mediums durch einen Positionssensor detektiert wird. Wenn die gegenwärtige Position außerhalb des Testzonenbereichs liegt, erlaubt die Testzone-Bestätigungseinheit, daß die Operation zum Aufsuchen der Testzone wieder ausgeführt wird. Wenn die gegenwärtige Position nicht erkannt werden kann, sperrt die Testzone-Bestätigungseinheit die Lichtemissions einstellung der Laserdiode. Als Merkmale zum Erkennen der gegenwärtigen Position hat die Testzone-Bestätigungseinheit ein Merkmal des Lesens des ID-Feldes der Medienspur und ein Merkmal der absoluten Position des Positionierers zum Be wegen der durch den Positionssensor detektierten Bilderzeu gungsposition des Lichtstrahls einer Objektlinse in der ra dialen Richtung des Mediums. Irgendeines der Vielzahl von Merkmalen wird ausgewählt, und die gegenwärtige Position wird erkannt. Wenn die gegenwärtige Position durch das aus gewählte Merkmal nicht erkannt werden kann, ist es wünschenswert, das Merkmal gegen das andere Merkmal auszu tauschen und die gegenwärtige Position zu erkennen. Die Ver arbeitungseinheit für eine Lichtemissionsfeineinstellung und die Testzone-Bestätigungseinheit führen die Lichtemissions feineinstellung der Laserdiode, die Bestätigung der Testzone begleitend, durch die Anfangsoperation kurz nach dem Einsatz einer Medienkassette aus. Die Verarbeitungseinheit für eine Lichtemissionsfeineinstellung und die Testzone-Bestätigungs einheit führen auch die Lichtemissionsfeineinstellung der Laserdiode, die Bestätigung der Testzone begleitend, durch die Wiederhol-Operation aus. In einem Zustand, in dem von einem übergeordneten Gerät kein Befehl ausgegeben wird, füh ren ferner die Verarbeitungseinheit für eine Lichtemissions feineinstellung und die Testzone-Bestätigungseinheit die Lichtemissionsfeineinstellung der Laserdiode, die Bestäti gung der Testzone begleitend, in vorbestimmten Zeitinter vallen durch. Wenn das in das Gerät geladene Medium ein Auf zeichnungsmedium der Vertiefung-Position-Modulation (PPM) ist, stellt die Verarbeitungseinheit für eine Lichtemis sionsfeineinstellung jede einer Löschenergie EP und einer ersten Schreibenergie WP1 ein. Wenn das in das Gerät gela dene Medium ein Aufzeichnungsmedium mit der Pulsbreitenmodu lation (PWM) ist, stellt die Verarbeitungseinheit für eine Lichtemissionsfeineinstellung jede der Löschenergie EP, der ersten Schreibenergie WP1 und einer zweiten Schreibenergie WP2 ein.

In einer anderen Ausführungsform des optischen Speicher geräts der Erfindung ist zusätzlich zur Verarbeitungseinheit für eine Lichtemissionsfeineinstellung und der eine automa tische Energiesteuerung haltenden Einheit eine Lichtemis sion-Zeitsteuereinheit vorgesehen. Wenn die Lichtemission der Laserdiode durch die Verarbeitungseinheit für eine Lich temissionsfeineinstellung eingestellt ist, ermöglicht die Lichtemission-Zeitsteuereinheit, daß die Lichtemissionsein stellung der Laserdiode nur in einem Datenfeld, durch Ver meiden des ID-Feldes, bezüglich jedes der Spursektoren durchgeführt wird, die Auf-Spur-gesteuert (engl. on-track controlled) werden.

Wenn die Laserdiode zur Lichtemission angesteuert wird, indem der Anweisungswert entsprechend der Lösch- oder Schreib-Lichtemissionsenergie durch die Verarbeitungseinheit für eine Lichtemissionsfeineinstellung in die Lichtemis sionsstromquellenschaltung eingestellt wird, tritt, selbst wenn der Anweisungswert konstant ist, ein Phänomen derart auf, daß die Meßenergie des durch die Überwachungsenergie-Meß einheit gemessenen Überwachungslichts partiell fluktuiert und ein Einstellungsfehler hervorgerufen wird. Die Erfinder der vorliegenden Erfindung untersuchten Ursachen, und es wurde festgestellt, daß sich das Rückkehrlicht von dem Medi um zum Detektor zum Überwachen im Auf-Spur-Steuerzustand in dem ID-Feld und dem Datenfeld des Spursektors unterscheidet. Das heißt, durch körperliche Vertiefungen im ID-Feld wurde Information aufgezeichnet. Andererseits wurde Information durch Vertiefungen im Datenfeld magnetooptisch aufgezeich net, so daß die Aufzeichnungsoberfläche eine Spiegelober fläche ist. Daher wird eine Fluktuation des Rückkehrlichts vom ID-Feld hervorgerufen, indem es durch die konvexen und konkaven Teile der körperlichen Vertiefungen beeinflußt wird, und es wurde festgestellt, daß dies der Grund des Ein stellungsfehlers wird. Bei der Lichtemissionsfeineinstellung der Medien mit 123 MB und 230 MB kann, selbst wenn ein Ein stellungsfehler vorliegt, weil die eigentlichen Lese- und Schreib-Operationen nicht beeinflußt werden, der Einstel lungsfehler ignoriert werden. Bei der Lichtemissionsfein einstellung zum Durchführen der PWM-Aufzeichnung auf dem Me dium mit 540 MB oder dem Medium mit 640 MB übt der durch die Fluktuation des Rückkehrlichts vom ID-Feld hervorgerufene Einstellungsfehler einen großen Einfluß auf die Lese- und Schreib-Operationen aus und ist einer der Gründe, die eine Fehlerrate verschlechtern. Durch Vermeiden der Licht emissionseinstellung im ID-Feld, die die Ursache des Ein stellungsfehlers ist, und durch Einstellen der Lichtemission allein im Datenfeld kann das Auftreten des Einstellungsfeh lers verhindert werden.

Zu einem Zeitpunkt, wenn das Aktualisieren einer ID-Information detektiert wird, erkennt die Lichtemission-Zeit steuereinheit, daß das ID-Feld beendet ist und die gegen wärtige Position am Kopf des Datenfeldes vorliegt, wodurch ermöglicht wird, daß die Lichtemissionseinstellung der La serdiode ausgeführt wird. Zu einem Zeitpunkt, wenn eine spe zifizierte Zeit verstrichen ist, nachdem eine im ID-Feld enthaltene Sektormarkierung SM detektiert wurde, erkennt die Lichtemission-Zeitsteuereinheit, daß das ID-Feld beendet ist und die gegenwärtige Position am Kopf des Datenfeldes vor liegt, wodurch ermöglicht wird, daß die Lichtemissions einstellung der Laserdiode ausgeführt wird. Zu einem Zeit punkt, wenn eine spezifizierte Zeit verstrichen ist, nachdem eine im ID-Feld enthaltene Adreßmarkierung detektiert wurde, erkennt ferner die Lichtemission-Zeitsteuereinheit, daß das ID-Feld beendet ist und die gegenwärtige Position am Kopf des Datenfeldes vorliegt, wodurch ermöglicht wird, daß die Lichtemissionseinstellung der Laserdiode ausgeführt wird. Zu einem Zeitpunkt, wenn eine Ausgabe, die durch Vergleichen des Lesesignals des ID-Feldes mit einem vorbestimmten Slice- oder Schnitt-Pegel erhalten wurde, nicht fluktuiert, kann ferner die Lichtemission-Zeitsteuereinheit erkennen, daß das ID-Feld beendet ist und die gegenwärtige Position am Kopf des Datenfeldes vorliegt, wodurch ermöglicht wird, daß die Lichtemissionseinstellung der Laserdiode ausgeführt wird.

Die Lichtemission-Zeitsteuereinheit steuert die Laser diode intermittierend, um Licht bei Zeitsteuerungen oder zu Zeitpunkten der Datenfelder gemäß der Anzahl von Malen zu emittieren, die auf der Basis einer physikalischen Länge ei nes Datenfeldes bestimmt ist, die durch die Art des Mediums und eine Drehgeschwindigkeit des Mediums durch einen Spin delmotor bestimmt ist. Die Energie wird durch die Über wachungsenergie-Meßeinheit in jeder lichtemittierenden Peri ode gemessen. Wenn das Ende des ID-Feldes nicht erkannt wer den kann, sperrt die Lichtemission-Zeitsteuereinheit die Lichtemissionseinstellung der Laserdiode. Als Merkmale zum Unterscheiden des Endes des ID-Feldes hat die Lichtemission-Zeit steuereinheit einen Aktualisierungszeitpunkt der ID-Information, einen Zeitpunkt, wenn eine vorbestimmte Zeit verstrichen ist, nachdem die Sektormarkierung detektiert wurde, einen Zeitpunkt, wenn eine vorbestimmte Zeit von der Detektion der Adreßmarkierung an verstrichen ist, und einen Zeitpunkt, wenn das durch Vergleichen des ID-Signals mit dem vorbestimmten Schnitt-Pegel erhaltene Signal nicht fluktu iert. Irgendeines der Vielzahl von Unterscheidungsmerkmalen wird ausgewählt, und das Ende des ID-Feldes wird unter schieden. Wenn das Ende des ID-Feldes durch das ausgewählte Unterscheidungsmerkmal nicht bestimmt werden kann, kann das Ende des ID-Feldes auch durch Ändern des Unterscheidungs merkmals in ein anderes Merkmal bestimmt werden. Als Zeit steuerungen zum Durchführen der Lichtemissionsfeineinstel lung der Laserdiode nur in den Datenfeldern werden, während die ID-Felder durch die Verarbeitungseinheit für eine Licht emissionsfeineinstellung und die Lichtemission-Zeitsteuer einheit gemieden werden, sie aufeine Zeitsteuerung der An fangsoperation kurz nach dem Einsetzen der Medienkassette, eine Zeitsteuerung der Wiederhol-Operation und eine Zeit steuerung mit einem vorbestimmten Zeitintervall im Fall ei nes Zustands eingestellt, in dem vom übergeordneten Gerät kein Befehl ausgegeben wird. Gemäß einer anderen Ausfüh rungsform der Erfindung können ferner zusätzlich zu der Ver arbeitungseinheit für eine Lichtemissionsfeineinstellung und der eine automatische Energiesteuerung haltenden Einheit auch die Lichtemission-Zeitsteuereinheit und die Testzone- Bestätigungseinheit vorgesehen sein.

Die obigen und andere Aufgaben, Merkmale und Vorteile der vorliegenden Erfindung werden mit Verweis auf die Zeich nungen aus der folgenden ausführlichen Beschreibung ersicht licher werden.

KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN

Fig. 1A und 1B sind Blockdiagramme eines Optische-Platte-Laufwerks gemäß der Erfindung;

Fig. 2 ist ein erläuterndes Diagramm einer internen Struktur eines Geräts, in das eine MO-Kassette geladen wur de;

Fig. 3 ist ein erläuterndes Diagramm von Strukturen ei nes Wagens und eines Kopf-Optiksystems in Fig. 2;

Fig. 4 ist ein erläuterndes Diagramm des Kopf-Optik systems in Fig. 3;

Fig. 5 ist ein Blockdiagramm einer Laserdiode-Steuer schaltung in Fig. 1A und 1B;

Fig. 6A bis 6J sind Zeitdiagramme von Signalen, licht emittierenden Strömen, Subtraktionsströmen und Überwachungs strömen gemäß der PWM-Aufzeichnung der Erfindung bezüglich eines Mediums eines Direkt-Überschreib-Korrespondenz-Typs als ein Beispiel;

Fig. 7A bis 7J sind Zeitdiagramme von Signalen, licht emittierenden Strömen, Subtraktionsströmen und Überwachungs strömen gemäß der PPM-Aufzeichnung der Erfindung bezüglich eines Mediums des Direkt-Überschreib-Korrespondenz-Typs als ein Beispiel;

Fig. 8A und 8B sind Funktionsblockdiagramme eines Licht emissionsfeineinstellprozesses der Erfindung;

Fig. 9 ist ein Charakteristikendiagramm einer lichtemit tierenden Energie und eines DAC-Anweisungswertes, die durch eine Lichtemissionsfeineinstellung der Erfindung erhalten werden;

Fig. 10 ist ein erläuterndes Diagramm einer Beziehungs gleichung einer linearen Approximation durch eine Einstel lung eines ADC zum Überwachen in Fig. 5;

Fig. 11 ist ein erläuterndes Diagramm einer Beziehungs gleichung der linearen Approximation in einem Lösch-Licht emissionsstrom in Fig. 5;

Fig. 12 ist ein erläuterndes Diagramm einer Beziehungs gleichung der linearen Approximation in einem Lösch-Subtrak tionsstrom in Fig. 5;

Fig. 13 ist ein erläuterndes Diagramm von Energietabel le-Registrierungsinhalten gemäß einer Verarbeitungseinheit für eine Lichtemissionsgrobeinstellung in Fig. 5;

Fig. 14 ist ein erläuterndes Diagramm eines Zonennamens, einer radialen Position und einer Spur-Nr. eines Mediums;

Fig. 15 ist ein Detektier-Charakteristikendiagramm eines Wagenpositionssensors in Fig. 3, der zur Detektion einer Testzone verwendet wird;

Fig. 16A bis 16G sind Zeitdiagramme der Lichtemissions feineinstellung gemäß der Erfindung

Fig. 17A und 17B sind Flußdiagramme für einen initiali sierenden Prozeß in Verbindung mit einem Medieneinsetzen, in welchem die Lichtemissionsfeineinstellung der Erfindung durchgeführt wird;

Fig. 18A und 18B sind Flußdiagramme für einen Such- Wiederholprozeß, in dem die Lichtemissionsfeineinstellung der Erfindung durchgeführt wird;

Fig. 19 ist ein typisches Flußdiagramm für den Licht emissionsfeineinstellprozeß in Fig. 10;

Fig. 20 ist ein Flußdiagramm für eine Löschenergie-Fein einstellung gemäß der Erfindung;

Fig. 21 ist ein Flußdiagramm für die Löschenergie-Fein einstellung, das sich an Fig. 20 anschließt;

Fig. 22 ist ein Flußdiagramm für eine Erste-Schreibener gie-Feineinstellung gemäß der Erfindung;

Fig. 23 ist ein Flußdiagramm für eine Erste-Schreibener gie-Feineinstellung, das sich an Fig. 22 anschließt;

Fig. 24 ist ein Flußdiagramm für eine Zweite-Schreib energie-Feineinstellung gemäß der Erfindung;

Fig. 25 ist ein Flußdiagramm für die Zweite-Schreib energie-Feineinstellung, das sich an Fig. 24 anschließt;

Fig. 26 ist ein Schaltungsblockdiagramm, das eine Ge staltungsinformation eines Optische-Platte-Laufwerks zeigt, die zur Detektion eines ID-Endes durch eine Lichtemission-Zeit steuereinheit in Fig. 8A und 8B notwendig ist;

Fig. 27 ist ein Lesesystem eines Blockdiagramms einer Lese-LSI-Schaltung und eines Optische-Platte-Steuergeräts in Fig. 26;

Fig. 28A bis 28G sind Zeitdiagramme einer Detektionsin formation eines ID-Feldes, die durch die Lese-LSI-Schaltung in Fig. 27 detektiert wird;

Fig. 29 ist ein Flußdiagramm für eine Verarbeitungsrou tine zum Detektieren eines Endes eines ID-Feldes auf der Ba sis einer Sektormarkierung und einer Adreßmarkierung und De tektieren einer Testzone durch einen Wagenpositionssensor; und

Fig. 30 ist ein Flußdiagramm für eine Verarbeitungsrou tine zum Detektieren des ID-Feldendes auf der Basis eines HF-Detektionssignals eines ID-Feldes und Detektieren einer Testzone durch einen Wagenpositionssensor.

AUSFÜHRLICHE BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORM [Gerätekonstruktion]

Fig. 1A und 1B sind Schaltungsblockdiagramme eines Opti sche-Platte-Laufwerks als ein optisches Speichergerät der Erfindung. Das Optische-Platte-Laufwerk der Erfindung weist eine Steuereinheit 10 und ein Gehäuse 11 auf. Die Steuerein heit 10 hat: eine MPU 12 zum Durchführen einer Gesamtsteue rung des Optische-Platte-Laufwerks; eine Schnittstelle 17 zum Senden und Empfangen von Befehlen und Daten an/von ein/einem übergeordnetes/n Gerät; ein Optische-Platte-Steuer gerät (ODC) (optical disk controller) 14 zum Ausführen von Prozessen, die zum Schreiben/Lesen von Daten in/von ein/einem optisches/n Plattenmedium notwendig sind; einen DSP 16 und einen Pufferspeicher 18. Das Optische-Platte-Steuer gerät 14 hat eine Funktion als ein Formatierer 14-1 zum Bilden eines Aufzeichnungsformats eines Mediums durch einen Schreibzugriff und eine Funktion als eine ECC-Einheit 14-2 zum Bilden eines ECC aus Schreibdaten und zum Detektie ren und Korrigieren von Fehlern bezüglich gelesener Daten. Der Pufferspeicher 18 wird durch die MPU 12, das Optische- Platte-Steuergerät 14 und eine übergeordnete Schnittstelle 17 gemeinsam genutzt. Eine Schreib-LSI-Schaltung 20 ist für das Optische-Platte-Steuergerät 14 vorgesehen. Ein Codierer 21 und eine Laserdiode-Steuerschaltung 22 sind für die Schreib-LSI-Schaltung 20 vorgesehen. Eine Steuerungsausgabe der Laserdiode-Steuerschaltung 22 wird an eine Laserdioden einheit 30 geliefert, die für eine optische Einheit auf der Seite des Gehäuses 11 vorgesehen ist. Die Laserdiodeneinheit 30 weist integriert eine Laserdiode 100 und einen Detektor 102 zum Überwachen auf. Der Codierer 21 wandelt Schreibdaten in Daten mit einem Format der PPM-Aufzeichnung oder der PWM-Aufzeichnung um. In der Ausführungsform kann als eine opti sche Platte, auf der durch Verwenden der Laserdiodeneinheit 30 aufgezeichnet oder von der wiedergegeben werden soll, nämlich als ein überschreibbares oder wiederbeschreibbares MO-Kassettenmedium, irgendeines der MO-Kassettenmedien mit 128 MB, 230 MB, 540 MB und 640 MB, die die Lösch-Operation benötigen, und ferner ein Kassettenmedium vom Direkt- Überschreib-Korrespondenz-Typ, das die Lösch-Operation nicht benötigt, verwendet werden. Unter diesen wird bezüglich der MO-Kassettenmedien mit 128 MB und 230 MB eine Ver tiefung-Position-Aufzeichnung (PPM-Aufzeichnung) verwendet, in der Daten in Entsprechung zum Vorhandensein oder Nichtvorhanden sein einer Markierung aufgezeichnet werden. Ein ZCAV wird als ein Aufzeichnungsformat des Mediums verwendet. Ein Auf zeichnungsbereich ist im Fall des Mediums mit 128 MB auf ei ne Zone eingestellt, und ist im Fall des Mediums mit 230 MB auf 10 Zonen eingestellt. Bezüglich der MO-Kassettenmedien mit 540 MB und 640 MB mit einer Aufzeichnung hoher Dichte wird eine Pulsbreitenaufzeichnung (PWM-Aufzeichnung) verwen det, in der man Ränder einer Markierung, nämlich einen vor deren Rand und einen hinteren Rand, Daten entsprechen läßt.

Die PWM-Aufzeichnung wird auch Markierungsaufzeichnung oder Randaufzeichnung genannt. In diesem Beispiel hängt eine Dif ferenz zwischen den Speicherkapazitäten von 640 MB und 540 MB von einer Differenz zwischen den Sektorkapazitäten ab. Wenn die Sektorkapazität gleich 2048 Bytes ist, ist die Speicherkapazität gleich 640 MB. Wenn andererseits die Spei cherkapazität gleich 512 Bytes ist, ist die Speicherkapazi tät gleich 540 MB. Das Aufzeichnungsformat des Mediums ba siert auf dem Zone-CAV-System. Ein Aufzeichnungsbereich ist im Fall des Mediums mit 640 MB auf 11 Zonen eingestellt und im Fall des Mediums mit 540 MB auf 18 Zonen eingestellt. Wie oben erwähnt wurde, kann sich das Optische-Platte-Laufwerk der Erfindung für das MO-Kassettenmedium mit der Speicher kapazität von 128 MB, 230 MB, 540 MB oder 640 MB eignen. Wenn die MO-Kassette in das Optische-Platte-Laufwerk geladen ist, wird daher zuerst ein ID-Feld des Mediums gelesen, wird durch die MPU 12 aus einem Vertiefungsintervall die Art des Mediums erkannt, und wird die als Erkennungsergebnis erhal tene Art dem Formatierer 14-1 des Optische-Platte-Laufwerks 14 mitgeteilt. Folglich wird im Fall des Mediums mit 128 MB oder 230 MB ein der PPM-Aufzeichnung entsprechender Forma tierprozeß ausgeführt. Im Fall des Mediums mit 540 MB oder 640 MB wird ein der PWM-Aufzeichnung entsprechender Forma tierprozeß ausgeführt, und von den Schreibdaten wird durch die ECC-Verarbeitungseinheit ein ECC-Code gebildet und ad diert. Daten werden durch den Codierer 21 der Schreib-LSI-Schaltung 20 in PPM-Aufzeichnungsdaten oder PWM-Aufzeich nungsdaten umgewandelt, und die resultierenden Daten werden durch eine Lichtemissionsansteuerung durch die Laserdiode-Steuer schaltung 22 auf das Medium geschrieben.

Als ein Lesesystem für das Optische-Platte-Laufwerk 14 ist eine Lese-LSI-Schaltung 24 vorgesehen. Eine Lese-Demodu lierschaltung 25 und ein Decodierer 26 sind in der Lese-LSI-Schaltung 24 eingebaut. Ein Lichtabfühlsignal (engl. photo sensing signal) des Rückkehrlichts des Strahls von der La serdiodeneinheit 30, das durch einen für das Gehäuse 11 vor gesehenen Detektor 32 für ID/MO erfaßt oder abgefühlt wird, wird über einen Kopfverstärker 34 als ein ID-Signal und ein MO-Signal in die Lese-LSI-Schaltung 24 eingegeben. Für die Lese-Demodulierschaltung 25 der Lese-LSI-Schaltung 24 sind Schaltungsfunktionen einer AGC-Schaltung, eines Filters, ei ner Sektormarkierung-Detektierschaltung, eines Synthesizers, einer PLL und dergleichen vorgesehen. Aus dem eingegebenen ID-Signal und MO-Signal werden ein Lesetakt und Lesedaten gebildet und an den Decodierer 26 ausgegeben, wodurch die PPM-Daten oder PWM-Daten in die ursprünglichen NRZ-Daten de moduliert werden. Da eine Konstant-Winkelgeschwindigkeit-Steuer ung (CAV-Steuerung) als eine Steuerung des Spindelmo tors 40 verwendet wird, wird durch die MPU 12 eine Schalt steuerung einer Taktfrequenz entsprechend der Zone zum in die Lese-LSI-Schaltung 24 eingebauten Synthesizer ausge führt. Ein Detektionssignal eines auf der Seite des Gehäuses 11 vorgesehenen Temperatursensors 36 wird über den DSP 16 an die MPU 12 geliefert. Die MPU 12 steuert jede der Lese-, Schreib- und Lösch-Lichtemissionsenergien in der Laserdiode-Steuer schaltung 22 auf der Basis einer durch den Temperatur sensor 36 detektierten Umgebungstemperatur im Gerät auf ei nen optimalen Wert. Die MPU 12 steuert den auf der Seite des Gehäuses 11 vorgesehenen Spindelmotor 40 durch einen Treiber 38 über den DSP 16. Weil das Aufzeichnungsformat der MO-Kassette auf dem Zone-CAV basiert, wird der Spindelmotor 40 bei einer vorbestimmten Geschwindigkeit von z. B. 3600 UpM gedreht. Die MPU 12 steuert auch über den DSP 16 durch einen Treiber 42 einen auf der Seite des Gehäuses 11 vorgesehenen Elektromagneten 44. Der Elektromagnet 44 ist an der Seite angeordnet, die der Strahl-Einstrahlseite der in das Gerät geladenen MO-Kassette gegenüberliegt, und liefert beim Auf zeichnen und Löschen ein externes Magnetfeld.

Der DSP 16 realisiert eine Servofunktion zum Positionie ren des Strahls von der Laserdiode 30 für das Medium. Zu diesem Zweck ist ein Detektor 45 für FES zum Empfangen des Strahl-Rückkehrlichts vom Medium für die optische Einheit auf der Seite des Gehäuses 11 vorgesehen. Eine FES-Detek tierschaltung (Fokussierfehlersignal-Detektierschaltung) 46 bildet aus einer Lichtabfühlausgabe des Detektors 45 für FES ein Fokussierfehlersignal El und liefert es an den DSP 16. Ein Detektor 47 für TES zum Empfangen des Strahl-Rückkehr lichts vom Medium ist ebenfalls auf der Seite des Gehäuses 11 für die optische Einheit vorgesehen. Eine TES-Detektier schaltung (Nachführ- oder Spurfehlersignal-Detektierschal tung) 48 bildet aus einer Lichtabfühlausgabe des Detektors 47 für TES ein Spurfehler- oder Nachführfehlersignal E2 und liefert das Signal E2 an den DSP 16. Das Spurfehlersignal E2 wird in eine TZC-Detektierschaltung (Spur-Nulldurchgangs punkt-Detektierschaltung) 50 eingegeben, so daß ein Spur- Nulldurchgangspuls E3 gebildet und in den DSP 16 eingegeben wird. Ein Linsenpositionssensor 54 zum Detektieren einer Linsenposition einer Objektivlinse zum Einstrahlen des La serstrahls auf das Medium ist auf der Seite des Gehäuses 11 vorgesehen. Ein Linsenpositionsdetektionssignal (LPOS) E4 des Sensors 54 wird in den DSP 16 eingegeben. Ein Wagenposi tionssensor 56 zum Detektieren der absoluten Position eines Wagen zum Bewegen eines beweglichen optischen Systems, an dem die Objektivlinse angebracht ist, in der radialen Rich tung des Mediums ist ebenfalls auf der Seite des Gehäuses 11 vorgesehen und gibt ein Wagenpositionsdetektionssignal ES des Sensors 56 in den DSP 16 ein. Eine PSD (Positionserfas sungsvorrichtung), in der eine lichtemittierende Vorrichtung montiert und eine zeilen- oder linienförmige Lichtabfühl einheit auf der Wagenseite befestigt ist und die einen Sub traktionsstrom entsprechend einer Lichtabfühlposition des Lichtflecks als ein Positionsdetektionssignal erzeugt, wird als ein Wagenpositionssensor 56 verwendet. Ferner steuert der DSP 16 durch Treiber 58, 62 und 66 ein Fokussier-Stell glied 60, ein Linsen-Stellglied 64 und einen VCM 68, um die Position des Strahlflecks auf dem Medium zu steuern.

Das Gehäuse 11 in dem Optische-Platte-Laufwerk ist in Fig. 2 schematisch dargestellt. Der Spindelmotor 40 ist in einem Gehäuse 67 vorgesehen. Eine Ladeoperation wird in der Weise durchgeführt, daß durch Einsetzen einer MO-Kassette 70 von einer Seite der Einlaßtür 69 aus auf eine Nabe einer Drehachse des Spindelmotors 40 ein MO-Medium 72 in der MO-Kassette 70 an der Nabe der Drehachse des Spindelmotors 40 befestigt wird. Ein Wagen 76, der in der die Medienspuren kreuzenden Richtung durch den VCM 68 bewegbar ist, ist unter dem MO-Medium 72 in der geladenen MO-Kassette 70 vorgesehen. Eine Position des Wagens 76 kann durch den Wagenpositionssensor 56 als eine absolute Position detektiert werden. Eine Objektivlinse 80 ist auf dem Wagen 76 angebracht. Ein Strahl von der Laserdiode, die für ein festes optisches System 78 vorgesehen ist, gelangt durch ein Prisma 82 in die Linse, wodurch auf der Medienoberfläche des MO-Mediums 72 ein Strahlfleck gebildet wird. Die Objektivlinse 80 wird in der optischen axialen Richtung durch das Fokussier-Stellglied 60 bewegt, das im Gehäuse 11 in Fig. 1A und 1B dargestellt ist, und kann innerhalb eines Bereichs von z. B. zehn Spuren in der die Medienspuren kreuzenden radialen Richtung durch das Linsen-Stellglied 64 bewegt werden. Eine Position der Objek tivlinse 80, die auf dem Wagen 76 angebracht ist, wird durch den Linsenpositionssensor 54 in Fig. 1A und 1B detektiert. Der Linsenpositionssensor 54 stellt das Linsenpositions detektionssignal bei einer Neutralposition, wo die optische Achse der Objektivlinse 80 gerade Überkopf (engl. right overhead) gerichtet ist, auf 0 ein und erzeugt das Linsen positionsdetektionssignal E4 entsprechend Bewegungsbeträgen mit verschiedenen Polaritäten für die Bewegung zur Außen seite bzw. die Bewegung zur Innenseite.

Fig. 3 zeigt spezifische Beispiele des Wagens und des Kopf-Optiksystems in Fig. 2. Das feste oder feststehende op tische System 78 ist an einem (nicht dargestellten) Rahmen des Geräts befestigt. Der Wagen 76, der entlang Führungs schienen 275-1 und 275-2 bewegbar ist, ist vor dem fest stehenden optischen System 78 vorgesehen. Kastenförmige Wa genantriebsspulen 216-1 und 216-2, die in den vorderen und hinteren Teilen geöffnet sind, sind auf beiden Seiten des Wagens 76 vorgesehen. Die Wagenantriebsspulen 216-1 und 216-2 sind in ein Paar magnetische Einheiten 274-1 und 274-2 eingesetzt, die am Geräterahmen befestigt sind. Durch die Wagenantriebsspulen 216-1 und 216-2 und Magneteinheiten 274-1 und 274-2 ist ein Schwingspulenmotor aufgebaut. Eine be wegbare Einheit 218 mit dem optischen Kopf mit der Objektiv linse 80 ist auf dem Wagen 76 angebracht. Die bewegbare Ein heit 218 mit dem optischen Kopf weist eine Strahlein falls/austrittsöffnung 277 auf, wodurch ermöglicht wird, daß der Lichtstrahl in das feststehende optische System 78 ein tritt oder von diesem emittiert wird. Die bewegbare Einheit 218 mit dem optischen Kopf, die auf dem Wagen 76 angebracht ist, bewegt die Objektivlinse 80, wodurch der Strahlfleck in der radialen Richtung auf der Medienoberfläche unter der op tischen Platte 72 mit einem weggeschnittenen Teil bewegt wird. Die Laserdiode 100, ein Detektor 102 zum Überwachen, ein Detektor 32 für ID/MO, ein Detektor 45 für FES und ein Detektor 47 für TES sind an dem feststehenden optischen Sy stem 78 angebracht.

Fig. 4 zeigt die Einzelheiten des feststehenden opti schen Systems 78 in Fig. 3. Im optischen System sind zwei optische Systeme mit Eintritts- und Rückkehrwegen vorhanden. Zuerst wird das optische System für den Eintrittsweg be schrieben. Der zerstreute oder unscharfe Laserstrahl, der von der Laserdiode 100 emittiert wird, wird durch eine Kol limatorlinse 302 in paralleles Licht umgewandelt. Das paral lele Licht geht, nachdem es durch die Kollimatorlinse 302 durchging, durch einen Strahlteiler 304 und gelangt in die Objektivlinse 80. Das Strahllicht, das in die Objektivlinse 80 eintritt, wird konvergiert, wodurch auf dem Plattenmedium 72 ein Strahlfleck gebildet wird. Im Plattenmedium 72 ist eine MO-Schicht 72-2 auf einer Tafel 72-1 vorgesehen, und in der Umfangsrichtung sind durch Rillen 72-3 Magnetisierungs- Umgekehrt-Vertiefungen 84 (engl. magnetization reversed pits) gebildet. Anschließend wird das optische System für den Rückweg erläutert. Das vom Plattenmedium 72 reflektierte Strahllicht breitet sich umgekehrt entlang dem gleichen Weg der Objektivlinse 80 und des Strahlteilers 304 wie der Ein trittsweg aus, wird durch den Strahlteiler 304 reflektiert und gelangt in einen Strahlteiler 306. Der Strahlteiler 306 teilt das einfallende Strahllicht in Transmissionslicht zu einer Detektierlinse 308 und Reflexionslicht zu einer Wolla ston-Einheit 310. Das Reflexionslicht zur Wollaston-Einheit 310 wird gemäß Polarisationskomponenten weiter geteilt und tritt in den Detektor (2-Schlitz-Detektor) 32 für ID/MO ein. Der Detektor 32 für ID/MO weist Lichtabfühleinheiten 32-1 und 32-2 auf. Lichtabfühlsignale M1 und M2 der Lichtabfüh leinheiten 32-1 und 32-2 werden in Operationsverstärker 322 und 324 eingegeben, wodurch ein MO-Signal und ein ID-Signal erzeugt werden. Das heißt, MO = ID = M2-M1. Das durchge lassene Licht vom Strahlteiler 306 zur Detektierlinse 308 wird durch eine Foucault-Einheit 314 geteilt und tritt in den Detektor (2-Schlitz-Detektor) 47 für TES und einen De tektor (4-Schlitz-Detektor) 42 für FES ein. Der Detektor 47 für TES weist Lichtabfühleinheiten 47-1 und 47-2 auf und er zeugt Lichtabfühlsignale T1 und T2. Die Lichtabfühlsignale T1 und T2 der Lichtabfühleinheiten 47-1 und 47-2 werden in einen Operationsverstärker 326 eingegeben, und ein TES-Signal (TES = T1-T2) wird erzeugt. Das Transmissionslicht wird ferner durch ein Kreuzprisma 320 in der Foucault-Einheit 314 geteilt und tritt in den Detektor 45 für FES ein. Der Detektor 45 für FES weist Vier-Schlitz-Licht abfühleinheiten 45-1, 45-2, 45-3 und 45-4 auf und er zeugt Lichtabfühlsignale P1 bis P4. Die Lichtabfühlsignale P1 bis P4 der Lichtabfühleinheiten 45-1 bis 45-4 werden ad diert und in einen Operationsverstärker 328 eingegeben, und ein FES-Signal wird erzeugt. Das heißt

FES = (P1 + P3)-(P2 + P4)

Ein Halbspiegel 303 ist zwischen der Kollimatorlinse 302 und dem Strahlteiler 304 angeordnet. Der Halbspiegel 303 trennt einen Teil des Laserstrahls ab und läßt den getrennten Strahl in den Detektor 102 zum Überwachen eintreten.

[Lichtemissionseinstellung]

Fig. 5 ist ein Schaltungsblockdiagramm der Laserdiode-Steuer schaltung 22, die für die Schreib-LSI-Schaltung 20 derSteuer einheit 10 in Fig. 1A und 1B vorgesehen ist, und zeigt ein Beispiel eines gewöhnlichen MO-Kassettenmediums, in wel chem die Lösch-Operation notwendig ist. Was das Kassetten medium des Direkt-Überschreib-Korrespondenz-Typs anbetrifft, in dem die Lösch-Operation unnötig ist, wird statt der Lö schenergie eine Hilfsenergie zum Erhöhen der Schreibenergie mit einer höheren Geschwindigkeit verwendet. Die Laserdiode 100 und der Detektor 102 zum Überwachen unter Verwendung ei ner Photodiode sind für die Laserdiodeneinheit 30 integriert vorgesehen. Die Laserdiode 100 empfängt einen Ansteuerstrom I durch eine Netzspannung Vcc, emittiert Licht, bildet einen Laserstrahl durch die optische Einheit und strahlt den Strahl auf die Medienoberfläche ein, wodurch aufgezeichnet und wiedergegeben wird. Ein Teil des Lichts von der Laser diode 100 tritt in den Detektor 102 zum Überwachen ein. Der Detektor 102 erzeugt einen Lichtabfühlstrom I0, der der lichtemittierenden Energie der Laserdiode 100 proportional ist. Eine Leseenergie-Stromquelle 104, eine Löschenergie-Strom quelle 106, eine Erste-Schreibenergie-Stromquelle 108 und eine Zweite-Schreibenergie-Stromquelle 110 sind parallel zur Laserdiode 100 vorgesehen und liefern einen Leseenergie strom I0, einen Löschenergiestrom I1, einen ersten Schreib energiestrom I2 bzw. einen dritten Schreibenergiestrom I3. Das heißt, der Leseenergiestrom I0 fließt zu der Zeit der Lichtemission gemäß der Leseenergie, ein Strom (I0 + I1), der durch Addieren des Löschenergiestroms I1 zum Leseener giestrom I0 erhalten wird, fließt zur Zeit der Lichtemission gemäß der Löschenergie, und ein Strom (I0 + I1 + I2), der durch weiteres Addieren des ersten Schreibenergiestroms I2 zum Strom (I0 + I1) erhalten wird, fließt zur Zeit der Lich temission gemäß der ersten Schreibenergie. Zur Zeit der Lichtemission gemäß der zweiten Schreibenergie fließt ein Strom (I0 + I1 + I3), der durch Addieren des zweiten Schrei benergiestroms I3 zum Leseenergiestrom I0 und Löschenergie strom I1 erhalten wird. Eine automatische Energie steuereinheit (auf die im folgenden als "APC" verwiesen wird) 138 ist für die Leseenergie-Stromquelle 104 vorge sehen. Eine spezifizierte Zielleseenergie als Zielenergie wird durch ein Ziel-DAC-Register 120 und einen D/A-Wandler (worauf im folgenden als "DAC" verwiesen wird) 136 in der APC 138 eingestellt. Die APC 138 kann durch ein externes Si gnal in einen Halte-Zustand geschaltet werden. Wenn die APC 138 in den Halte-Zustand geschaltet wird, wird eine Ausgabe beim Schalten zum Halte-Zustand beibehalten, und eine Rück kopplungsregelung wird gestoppt, die auf einer Differenz zwischen der Zielleseenergie und einer Meßenergie beruht. Ein EP-Strom-DAC-Stromregister 122 und ein DAC 140 sind als eine EP-Strom-Anweisungseinheit für die Löschenergie-Strom quelle 106 vorgesehen. Ein WP1-Strom-DAC-Register 124 und ein DAC 142 sind als eine WP1-Strom-Anweisungseinheit für die WP1-Stromquelle 108 vorgesehen. Ferner sind ein WP2-Strom-DAC-Register 126 und ein DAC 144 als eine WP2-Strom- Anweisungseinheit für die Zweite-Schreibenergie-Stromquelle 110 vorgesehen. Folglich kann ein Strom von jeder der Strom quellen 104, 106, 108 und 110 durch Einstellen eines DAC-Anweisungswertes für jedes der entsprechenden Register 120, 122, 124 und 126 geeignet geändert werden. In diesem Bei spiel ist eine Lichtemissionsstromquellenschaltung durch die Register, DACs und Konstantstromquellen aufgebaut. Was dieSteuer ung durch die APC 138 anbetrifft, wird eine Rückkop plungsregelung so durchgeführt, daß ein von einem Licht abfühlstrom i0 des Detektors 102 erhaltener Überwachungs strom im mit einer Zielspannung des DAC 136 entsprechend der Zielleseenergie übereinstimmt. Um den Überwachungsstrom im entsprechend der Leseenergie zur APC nach einem Subtrahieren der Lichtabfühlströme zu der Zeit rückzukoppeln, wenn die Lichtemission gemäß der Löschenergie, der ersten Schreib energie und der zweiten Schreibenergie, die die Leseenergie übersteigt, durchgeführt wird, sind zu diesem Zweck Subtrak tionsstromquellen 112, 114 und 116 für den Detektor 102 zum Überwachen vorgesehen. Ein willkürlicher Subtraktionsstrom i1 kann zur Subtraktionsstromquelle 112 für die Löschenergie durch ein EP-Subtraktion-DAC-Register 128 und einen DAC 146 als eine EP-Subtraktionsstrom-Anweisungseinheit eingestellt werden. Ein willkürlicher Subtraktionsstrom i2 kann zur Sub traktionsstromquelle 114 für die erste Schreibenergie durch ein WP1-Subtraktion-DAC-Register 130 und einen DAC 148 als eine WP1-Subtraktionsstrom-Anweisungseinheit eingestellt werden. Ein willkürlicher Subtraktionsstrom i3 kann ferner zur Subtraktionsstromquelle 116 für die zweite Schreib energie durch ein WP2-Subtraktion-DAC-Register 132 und einen DAC 150 als eine WP2-Subtraktionsstrom-Anweisungseinheit eingestellt werden. Der Überwachungsstrom im in den licht emittierenden Modi der drei Subtraktionsstromquellen i1, i2 und i3 lautet wie folgt.

I. Zur Zeit der Lichtemission gemäß der Leseenergie:
im = i0
II. Zur Zeit der Lichtemission gemäß der Löschenergie:
im = i0-i1
III. Zur Zeit der Lichtemission gemäß der ersten Schreibenergie:
im = i0-(i1 + i2)
IV. Zur Zeit der Lichtemission gemäß der zweiten Schreibenergie:
im = i0-(i1 + i3).

Daher fließt sogar zur Zeit der Lichtemission gemäß ir gendeiner der Löschenergie und der ersten und zweiten Schreibenergien, die die Zielleseenergie übersteigen, durch Subtrahieren des entsprechenden Subtraktionsstroms vom Lichtabfühlstrom i0 der Überwachungsstrom im zu einem Über wachungsspannung-Detektierregister 118 als ein der Leseener gie entsprechender Strom und wird zu der APC 138 rückgekop pelt. Folglich steuert ungeachtet irgendeiner der lichtemit tierenden Energien die APC 138 die Leseenergie-Stromquelle 104, um die Zielleseenergie immer beizubehalten, wodurch die automatische Leistungs- oder Energiesteuerung der spezifi zierten Löschenergie, ersten Schreibenergie und zweiten Schreibenergie realisiert wird. Bezüglich des Subtraktions stroms ist ebenso eine Subtraktionsstromquellenschaltung durch die Register, DACs und Konstantstromquellen aufgebaut.

Fig. 5 zeigt das gewöhnliche MO-Kassettenmedium, in dem die Lösch-Operation notwendig ist, als ein Ziel. Im Fall des Kassettenmediums des Direkt-Überschreib-Korrespondenz-Typs, in welchem die Lösch-Operation unnötig ist, können jedoch die Register 122 und 128, DACs 140 und 146 und Stromquellen 106 und 112 für die Löschenergie EP für die Hilfsenergie AP verwendet werden. Es ist auch möglich, Register, DACs und Stromquellen nur für die Hilfsenergie AP vorzusehen. Im Fall des Kassettenmediums des Direkt-Überschreib-Korrespondenz-Typs fließt zur Zeit der Lichtemission gemäß der Leseenergie der Leseenergiestrom I0. Zur Zeit der Lichtemission gemäß der Hilfsenergie fließt der Strom (I0 + I1), der durch Ad dieren des Hilfsenergiestroms I1 zum Leseenergiestrom I0 er halten wird. Zur Zeit der Lichtemission gemäß der ersten Schreibenergie fließt ferner der Strom (I0 + I1 + I2), der durch weiteres Addieren des ersten Schreibenergiestroms I2 zum Leseenergiestrom I0 und Hilfsenergiestrom I1 erhalten wird. Zur Zeit der Lichtemission gemäß der zweiten Schreib energie fließt ferner der Strom (I0 + I1 + I3), der durch Addieren des zweiten Schreibenergiestroms I3 zum Leseener giestrom I0 und zum Löschenergiestrom I1 erhalten wird. Eine dem Überwachungsstrom im entsprechende Überwachungsspannung durch das Überwachungsspannung-Detektierregister 118 wird durch einen A/D-Wandler (worauf im folgenden als "ADC" ver wiesen wird) 152 in digitale Daten umgewandelt. Die digita len Daten werden in ein Überwachung-ADC-Register 134 einge geben und anschließend durch die Seite der MPU 12 ausgele sen. Daher wird durch den ADC 152 und das Überwachung-ADC-Re gister 134 eine Meßeinheit für den Überwachungsstrom im aufgebaut.

Fig. 6A bis 6J sind Zeitdiagramme von Signalen, Licht emissionsströmen, Subtraktionsströmen und eines Überwa chungsstroms der PWM-Aufzeichnung der Medien mit 540 MB und 640 MB des Direkt-Überschreib-Korrespondenz-Typs durch die Laserdiode-Steuerschaltung in Fig. 3. Nimmt man an, daß Schreibdaten von Fig. 6B synchron mit einem Schreib-Tor von Fig. 6A geliefert werden, werden die Schreibdaten synchron mit einem Schreibtakt von Fig. 6C in Pulsbreitedaten von Fig. 6D umgewandelt. Auf der Basis der Pulsbreitedaten wird ein Hilfspuls gebildet, um zu ermöglichen, daß die Schreib energie mit einer hohen Geschwindigkeit angehoben wird, wie z. B. in Fig. 6E dargestellt. Ferner wird ein erster Schreib puls gebildet, wie in Fig. 6F dargestellt ist. Außerdem wird ein zweiter Schreibpuls von Fig. 6G gebildet. Der zweite Schreibpuls weist die Anzahl Pulse entsprechend einer Puls breite der Pulsbreitedaten von Fig. 6D auf. Zum Beispiel weisen die Pulsbreitedaten am Kopf eine Pulsbreite von vier Takten auf, weisen die nächsten Pulsbreitedaten zwei Takte auf, und weisen die nächsten Pulsbreitedaten drei Takte auf. In Entsprechung zu den obigen Pulsbreitedaten werden, was den zweiten Schreibpuls von Fig. 6G anbetrifft, zwei Pulse bezüglich der 4-Takt-Breite der Kopfdaten nach dem ersten Schreibpuls von Fig. 6F erzeugt, wird bezüglich der nächsten 2-Takt-Breite kein Puls erzeugt, und wird bezüglich der dritten 3-Takt-Breite ein Puls erzeugt. Eine die Pulsbreite angebende Information wird aufgezeichnet. Fig. 6H zeigt Lichtemissionsströme und -energien, die auf dem Hilfspuls, dem ersten Schreibpuls und dem zweiten Schreibpuls der Fig. 6E, 6F und 6G beruhen. Zuerst fließt immer der Lesestrom, wodurch die Gleichstrom-Lichtemission gemäß der Leseenergie RP ausgeführt wird. Folglich fließt der lichtemittierende Strom (I0 + I1) synchron mit dem Hilfspuls, wodurch die Energie um einen Betrag der Hilfsenergie AP erhöht wird. Der lichtemittierende Strom I2 wird zur Zeit des ersten Schreib pulses addiert, und der Strom (I0 + I1 + I2) fließt, so daß die Energie um einen Betrag der ersten Schreibenergie WP1 erhöht ist. Ferner wird der lichtemitterende Strom I3 zur Zeit des zweiten Schreibpulses addiert und der Strom (I0 + I1 + I3) fließt, so daß die Energie um einen Betrag der zweiten Schreibenergie WP2 erhöht ist. Der in Fig. 6I darge stellte Subtraktionsstrom fließt in den Subtraktionsstrom quellen 112, 114 und 116 in Fig. 6 synchron mit dem licht emittierenden Strom von Fig. 6H, das heißt, der dem erhöhten Betrag der Hilfsenergie AP entsprechende Subtraktionsstrom i1. Der Subtraktionsstrom (i1 + i2) fließt durch Addieren des nächsten Subtraktionsstroms i2, der dem erhöhten Betrag der ersten Schreibenergie WP1 entspricht, und ferner fließt der Subtraktionsstrom (i1 + i3) durch Addieren des Subtrak tionsstroms i3, der dem erhöhten Betrag der zweiten Schreib energie WP2 entspricht. Daher gibt der Überwachungsstrom im von Fig. 6J einen Wert an, der durch Subtrahieren des Sub traktionsstroms von Fig. 6H vom Lichtabfühlstrom i0 entspre chend dem lichtemittierenden Strom und der lichtemittie renden Energie von Fig. 6H erhalten wird. Sogar während der Lichtemission wird die Energie immer entsprechend der Lese energie in einen vorbestimmten Strom umgewandelt und zur APC 138 rückgekoppelt.

Fig. 7A bis 7J sind Zeitdiagramme der Signale, licht emittierenden Ströme, Subtraktionsströme und Überwachungs ströme zur Zeit der PWM-Aufzeichnung des Mediums mit 540 MB oder 640 MB des Direkt-Überschreib-Korrespondenz-Typs. Nimmt man an, daß Schreibdaten von Fig. 7B synchron mit einem Schreib-Tor von Fig. 7H geliefert werden, wird synchron mit einem Schreibtakt von Fig. 7C ein Vertiefungsrandpuls von Fig. 7D erzeugt. Entsprechend dem Vertiefungsrandpuls werden ein Hilfspuls von Fig. 7E und ein erster Schreibpuls von Fig. 7F gebildet. Bei der PPM-Aufzeichnung wird ein zweiter Schreibpuls von Fig. 7G nicht verwendet. Durch Liefern des lichtemittierenden Stroms von Fig. 7H durch den Hilfspuls und den ersten Schreibpuls, wie oben erwähnt wurde, an die Laserdiode wird eine lichtemittierende Energie P erhalten. Da die Hilfsenergie AP die gleiche wie eine Leseenergie RP ist, wird bei der PPM-Aufzeichnung Z.B. die Lichtemission gemäß der Leseenergie RP durch den Leseenergiestrom I0 selbst bei der Zeitsteuerung des Hilfspulses auf rechter halten. Bei der Zeitsteuerung des ersten Schreibpulses nimmt der lichtemittierende Strom auf (I1 + I2) zu, wodurch die Energie erhalten wird, in der die Hilfsenergie AP zur ersten Schreibenergie WP1 addiert wurde. Als ein Subtraktionsstrom von Fig. 7H wird der Subtraktionsstrom (i1 + i2) bei der Lichtemission-Zeitsteuerung des ersten Schreibpulses gelie fert. Daher wird der Überwachungsstrom im von Fig. 7J immer auf dem dem Lichtabfühlstrom der Leseenergie entsprechenden Strom gehalten.

Fig. 8A und 8B sind Funktionsblockdiagramme der Licht emissionssteuerung und der Lichtemissionseinstellung der La serdiode, die durch die MPU 12 in Fig. 1A und 1B realisiert werden. Eine Verarbeitungsfunktion der Lichtemissionsfein einstellung der Erfindung, die in dem Auf-Spur-Zustand aus geführt wird, ist ebenfalls enthalten. Die Laserdiode-Steuer schaltung 22 der Laserdiode 100 ist durch eine Licht emissionsstromquellenschaltung 154, die automatische Ener giesteuereinheit 138 (APC), eine Überwachungsenergie- Meßeinheit 155 und eine Subtraktionsstromquellenschaltung 156 aufgebaut, und die Einzelheiten sind in Fig. 5 darge stellt. Im Lese/Schreibmodus werden die Energien durch eine Energieeinstellung-Verarbeitungseinheit 160 in die Laserdi ode-Steuerschaltung 22 eingestellt, und die Steuerschaltung 22 wird gesteuert. Optimale Energien, die in der Energieein stellung-Verarbeitungseinheit 160 verwendet werden, wurden in einer Lösch/Hilfsenergietabelle 196, einer Erste-Schreib energie-Tabelle 198 und einer Zweite-Schreibenergie-Tabelle 200 gespeichert. Die Lösch/Hilfsenergietabelle 196 kann auch separat als eine zweckbestimmte Löschenergietabelle und eine Hilfsenergietabelle vorgesehen sein. Gemäß der Erfindung sind zum Zweck der Lichtemissionseinstellung der Laserdiode eine Verarbeitungseinheit 162 für eine Lichtemissionsgrob einstellung und eine Verarbeitungseinheit 164 für eine Lich temissionsfeineinstellung vorgesehen. Die Verarbeitungseinheit 162 für eine Lichtemissionsgrobeinstellung führt die Lichtemissionseinstellung in einem Zustand durch, in dem so wohl die Fokussier-Servoeinrichtung als auch die Nachführ-Servo einrichtung ausgeschaltet sind. Andererseits unter scheidet sich die Verarbeitungseinheit 164 für eine Licht emissionsfeineinstellung von der Verarbeitungseinheit 162 bezüglich eines Punktes, daß die Verarbeitungseinheit 164 die Lichtemissionseinstellung in einem Auf-Spur-Steuer zustand des Strahlflecks für das Medium ausführt, in dem so wohl die Fokussier-Servoeinrichtung als auch die Nachführ-Servo einrichtung eingeschaltet sind. Was die Verarbeitungs einheit 164 für eine Lichtemissionsfeineinstellung anbe trifft, sind in der Erfindung eine automatische Energie steuerung-Halteeinheit 166, eine Lichtemission-Zeit steuereinheit 168 und eine Testzone-Bestätigungseinheit 170 vorgesehen. Die Art eines geladenen Mediums, die von der Zugriffsspur erhaltene Zonennummer und ferner die Temperatur im Gerät gemäß dem auf der Seite des Gehäuses 11 in Fig. 1A und 1B vorgesehenen Temperatursensor 36 werden durch ein Re gister 175 in die Verarbeitungseinheit 162 für eine Lichte missionsgrobeinstellung und Verarbeitungseinheit 164 für ei ne Lichtemissionsfeineinstellung eingestellt und in der Lichtemissionseinstellung und dem Energieeinstellprozeß zur Zeit des normalen Betriebs verwendet. . Als Energietabellenin formation sind eine Überwachung-ADC-Koeffiziententabelle 182, eine EP/AP-Lichtemission-DAC-Koeffizententabelle 184, eine EP/AP-Subtraktion-DAC-Koeffiziententabelle 186, eine WP1-Lichtemission-DAC-Koeffiziententabelle 188, eine WP1-Subtraktion-DAC-Koeffiziententabelle 190, eine WP2-Lichtemission-DAC-Koeffiziententabelle 192 und eine WP2-Subtraktion-DAC-Koeffiziententabelle 194 für die Verarbei tungseinheit 162 für eine Lichtemissionsgrobeinstellung und die Verarbeitungseinheit 164 für eine Lichtemissionsfeinein stellung vorgesehen. Die EP/AP-Lichtemission-DAC-Ko effiziententabelle 184 und die EP/AP-Subtraktion-DAC-Ko effiziententabelle 186 können auch separat als eine EP-zweck bestimmte Tabelle bzw. eine AP-zweckbestimmte Tabelle vorgesehen sein. Eine Beziehungsgleichung durch die lineare Approximation einer ADC-Ausgabe als ein Meßenergiewert für eine willkürliche Energie, die eine Eingangsüberwachungs spannung im ADC 152 zum Überwachen in Fig. 5 ergibt, wird durch den Lichtemissionseinstellprozeß erhalten. Eine Stei gung a0 und ein Kreuzungspunkt b0 mit der y-Achse dieser Be ziehungsgleichung werden in der Überwachung-ADC-Ko effiziententabelle 182 registriert. Die Beziehung des Re gisteranweisungswertes (Lichtemission-DAC-Wert) für eine willkürliche lichtemittierende Energie in jedem der DACs 140, 142, 144, 146 und 150 in Fig. 5 wird durch die lineare Approximation des Meßergebnisses durch die Lichtemissions einstellung erhalten. Eine Steigung und ein Kreuzungspunkt mit der y-Achse bezüglich einer Beziehungsgleichung über die wie oben erwähnt erhaltene Beziehung wurden in jeder der Ta bellen 184, 186, 188, 190, 192 und 194 gespeichert.

Fig. 9 zeigt die Beziehung eines Lichtemission-ADC-Wertes y als ein Registeranweisungswert für eine lichtemit tierende Energie x [mW] der Laserdiode 100. In der Licht emissionseinstellung wird der Lichtemission-DAC-Wert y auf eine solche Weise eingestellt, daß das Licht gemäß den lich temittierenden Energien von 3 mW und 9 mW an zwei Punkten Q1 und Q2 emittiert wird und ihre Meßenergien genau gleich 3 mW und 9 mW sind. Aus der Gleichung

y = a.x+b

einer durch die beiden Punkte Q1 und Q2 durchgehenden gera den Linie werden nach Abschluß der Einstellung eine Steigung (a) und ein Kreuzungspunkt (b) mit der y-Achse erhalten und in eine Tabelle registriert. Da die Beziehungsgleichung der linearen Approximation durch (y = a.x + b) festgelegt ist, werden bezüglich der Koeffiziententabellen 184, 188 und 192 des lichtemittierenden Stroms Koeffizienten a1, a2 und a3 und Kreuzungspunkte b1, b2 und b3 mit der y-Achse regi striert. Da die Beziehungsgleichung (y = c.x + d) der li nearen Approximation definiert ist, werden andererseits be züglich der Koeffiziententabellen 186, 190 und 194 für den Subtraktionsstrom Steigungen c1, c2 und c3 und die Kreu zungspunkte d1, d2 und d3 mit der y-Achse registriert.

Wieder auf Fig. 8A und 8B verweisend, wurden in Entspre chung zu allen Zonen des Mediums besondere Energiewerte in der Lösch/Hilfsenergietabelle 196 und Erste-Schreibenergie-Tabelle 198 inhärent gespeichert, die für die Energieein stell-Verarbeitungseinheit 160 zum Einstellen der Energie durch die Lese- und Schreib-Operationen auf der Basis eines übergeordneten Befehls vorgesehen sind. Im Anfangszustand, in dem das Medium geladen wurde, weisen jedoch in der Erfin dung die Tabellen nicht die Energien aller Zonen auf, und nur die Energiewerte von zumindest zwei Zonen auf der Innen seite und der Außenseite wurden gespeichert, die für die Lichtemissionseinstellung notwendig sind. Daher erhält die Verarbeitungseinheit 162 für eine Lichtemissionsgrobeinstel lung eine Beziehungsgleichung, um jede Energie für die Zo nennummer durch die Lichtemissionseinstellung unter Ver wendung der Energiewerte von zwei Zonen linear zu appro ximieren, die zu Anfang in den Tabellen festgelegt wurden, berechnet die Energien entsprechend allen Zonen aus der Be ziehungsgleichung und registriert sie in den Tabellen. Ge nauer gesagt, führt durch Verwenden der Einstellungsergeb nisse des ADC und DAC durch die Verarbeitungseinheit 162 für eine Lichtemissionsgrobeinstellung die Verarbeitungseinheit 164 für eine Lichtemissionsfeineinstellung den Meßprozeß durch die Lichtemissionseinstellung unter Verwendung der lichtemittierenden Energien der beiden Zonen aus, die zu An fang festgelegt wurden, sowie das Einstellen jeder Energie für jede Zone gemäß der Beziehungsgleichung der linearen Approximation auf der Basis der Meßergebnisse. Wenn ein Schreibbefehl von dem übergeordneten Gerät empfangen wird, wird ferner durch Ausführen des Testschreibens unter Verwen dung von jeder der im Zustand nach Abschluß der Lichtemis sionseinstellung eingestellten Energien die optimale Schrei benergie jeder Zone entsprechend der Temperatur im Gerät zu dieser Zeit erhalten und auf das Medium geschrieben.

Fig. 10 zeigt eine Beziehungsgleichung der linearen Approximation, die durch einen Normierungsprozeß der Überwa chung-ADC 152 in Fig. 5 im Lichtemissionsgrobeinstellprozeß erhalten wird. Im Normierprozeß des Überwachung-ADC 152 wird die spezifizierte Leseenergie in den ADC-Anweisungswert y0 des Ziel-DAC-Registers 120 eingestellt, wird die Lichtemis sionsansteuerung durchgeführt, und wird der Wert x0 im Über wachung-ADC-Register 134 gelesen. Anschließend wird der ADC- Anweisungswert (y1 = 2 mW) in das Ziel-DAC-Register 120 ein gestellt, wird die Lichtemissionsansteuerung durchgeführt, und wird der Wert x1 im Überwachung-ADC-Register 134 gele sen. Ferner wird der Anweisungswert (y2 = 4 mW) in das Ziel- DAC-Register 120 eingestellt, wird die Lichtemissionsan steuerung durchgeführt, und wird der Wert x2 im Überwachung- ADC-Register 134 gelesen. Durch diese Prozesse werden Meß werte des ADC 152 für die Energien an drei Punkten der Lese energie, 2 mW und 4 mW erhalten. Daher werden die Steigung a0 und der Kreuzungspunkt b0 mit der y-Achse aus den drei Beziehungsgleichungen als Koeffizienten berechnet und in die Überwachung-ADC-Koeffiziententabelle 182 in Fig. 8A und 8B registriert. Nachdem die Normierung beendet wurde, wird dem gemäß der von dem Überwachung-ADC-Register 134 erhaltene Meßwert x in eine Beziehungsgleichung (y = a0 × x + b0) sub stituiert, wodurch die Meßenergie y berechnet wird. Obwohl eine Genauigkeit der Beziehungsgleichung erhöht wird, indem drei Punkte Q0, Q1 und Q3 erhalten werden, ist es in diesem Fall auch möglich, an zwei Punkten zu messen.

Fig. 11 und 12 zeigen Beziehungsgleichungen der linearen Approximation, die durch die Lichtemissionsgrobeinstellungen des DAC 140, der den Lichtemissionsstrom zum Löschen an weist, und des DAC 146 in Fig. 5 erhalten wurden, der den Subtraktionsstrom zum Löschen anweist. Während der Über wachung-ADC 134 gelesen wird, wird zuerst der Registerwert y für das EP-Strom-ADC-Register 122 erhöht, um die Meßenergie (x1 = 2 mW) zu erhalten, wodurch Q1(x1, y1) in Fig. 11 ge wonnen wird. Während das Überwachung-ADC-Register 134 ge lesen wird, wird anschließend ein Registerwert z des EP-Subtraktion-DAC-Registers 128 erhöht, so daß die Meßenergie als eine Leseenergie dient, wodurch Q3(x1, z1) in Fig. 12 erhalten wird. Während das Überwachung-ADC-Register 134 ge lesen wird, wird anschließend der Registerwert y des EP-Strom-DAC-Registers 122 so erhöht, daß die Meßenergie gleich (x2 = 4 mW) ist, wodurch Q2(x2, y2) in Fig. 11 erhalten wird. Während das Überwachung-ADC-Register 134 gelesen wird, wird ferner der Registerwert z des EP-Subtraktion-DAC-Regi sters 128 erhöht, so daß die Meßenergie als eine Leseenergie dient, wodurch Q4(x2, z2) in Fig. 12 erhalten wird. Nach Ab schluß der Energiemessung durch die oben erwähnte Licht emission werden die beiden Punkte Q1(x1, y1) und Q2(x2, y2) in Fig. 11 in eine Beziehungsgleichung (y = a1.x + b1) der linearen Approximation des EP-Strom-DAC-Registerwertes y für die Energie x substituiert, wodurch aus diesen beiden Sub stitutionsgleichungen die Steigung a1 bzw. der Kreuzungs punkt b1 mit der y-Achse berechnet werden. Wie in Fig. 12 dargestellt ist, werden anschließend Q3(x1, z1) und Q4(x2, z2) in eine Beziehungsgleichung (z = c1.x + d1) substi tuiert, während eine diese beiden Punkte verbindende gerade Linie approximiert wird, wodurch die Steigung c1 und der Kreuzungspunkt d1 mit der y-Achse berechnet werden. Die Steigung a und der Kreuzungspunkt b mit der y-Achse der Be ziehungsgleichung der linearen Approximation des Register anweisungswertes für eine willkürliche Energie des DAC 140, der den Löschenergie-Lichtemissionsstrom in Fig. 11 anweist, werden in die EP/AP-Strom-DAC-Koeffiziententabelle 184 in Fig. 8A und 8B registriert. Die Steigung c und der Kreu zungspunkt b mit der y-Achse der Beziehungsgleichung der li nearen Approximation, um den Registerwert y für den DAC 146 für den Subtraktionsstrom zur Löschenergie in Fig. 12 zu er halten, werden in die EP/AP-Subtraktion-DAC-Koeffizienten tabelle 186 in Fig. 8A und 8B registriert. Was eine Hilfs energie AP anbetrifft, kann ein Einstellungsergebnis der Lö schenergie verwendet werden, wie es ist, weil die DACs 140 und 146 für die EP in Fig. 5 abwechselnd verwendet werden. In dem Fall, in dem eine Schaltung nur für die AP verwendet wird, werden Steigungen und Kreuzungspunkte mit der y-Achse der linearen Approximationen eines Hilfs-Lichtemissions stroms und eines Hilfs-Subtraktionsstroms durch die Licht emissionsfeineinstellung erhalten, die der für die Lösch energie ähnlich ist, und in die zweckbestimmte Tabelle regi striert. Eine derartige Lichtemissionsgrobeinstellung wird bezüglich der ersten Schreibenergie WP1 und zweiten Schreib energie WP2 ebenfalls ähnlich ausgeführt. Bei der ersten Schreibenergie WP1 ist die Einstellung im wesentlichen die gleiche wie die Lichtemissionsgrobeinstellung zum Löschen mit Ausnahme eines unterschiedlichen Punktes, daß zwei Punk te mit 4 mW und 8 mW für die anweisenden Energien für das WP1-Strom-DAC-Register 124 verwendet werden. Die Steigung a2 und der Kreuzungspunkt b2 mit der y-Achse der Beziehungs gleichung der linearen Approximation des Registerwertes y für die willkürliche erste Schreibenergie x werden berech net. Die Steigung c2 und der Kreuzungspunkt d2 mit der y-Achse der Beziehungsgleichung der linearen Approximation des Registerwertes z des Subtraktionsstroms für die erste Schreibenergie x werden berechnet. Die Werte von a2 und b2 werden in die WP1-Strom-DAC-Koeffiziententabelle 188 regi striert, und die Werte von c2 und d2 werden in die WP1-Subtraktions-DAC-Koeffiziententabelle 190 in Fig. 8A bzw. 8B registriert. Bezüglich der zweiten Schreibenergie wird, ob wohl im wesentlichen die gleiche Einstellung wie die Lösch-Lichtemissionsgrobeinstellung ausgeführt wird, die Licht emissionseinstellung an zwei Punkten von 4 mW und 8 mW in einer zur ersten Schreibenergie ähnlichen Weise ausgeführt, und der Subtraktionsstrom wird anschließend so eingestellt, um die Leseenergie zu erhalten. Die Steigung a3 und der Kreuzungspunkt b3 mit der y-Achse der Beziehungsgleichung der linearen Approximation bezüglich des DAC 144, der den Strom der Zweite-Schreibenergie-Lichtemission anweist, wer den berechnet. Die Steigung c3 und der Kreuzungspunkt d3 mit der y-Achse der Beziehungsgleichung der linearen Approxi mation bezüglich des DAC 150, der den Subtraktionsstrom zur Zeit der Lichtemission gemäß der zweiten Schreibenergie an weist, werden berechnet. Die Werte von a3 und b3 werden in die WP2-Strom-DAC-Koeffiziententabelle 192 registriert, und die Werte von c3 und d3 werden in die WP2-Subtraktion-Koef fiziententabelle 194 in Fig. 8A bzw. 8B registriert.

Fig. 13 zeigt die Registrierungsinhalte jeder der Koef fiziententabellen 182 bis 194 in Fig. 8A und 8B, die durch die vorhergehende Lichtemissionsgrobeinstellung registriert wurden. Durch Aufstellen von Beziehungsgleichungen der li nearen Approximation, indem die Werte der Steigungen und der Kreuzungspunkte mit der y-Achse verwendet werden, kann die Umwandlung von einem willkürlichen Überwachungsspannung Meßwert in die Meßenergie und die Umwandlung von einer will kürlichen Energie in den Stromanweisungswert für den ADC realisiert werden.

[Lichtemissionsfeineinstellung]

Ein Lichtemissionsfeineinstellprozeß der Erfindung durch die in Fig. 8A und 8B vorgesehene Verarbeitungseinheit 164 für eine Lichtemissionsfeineinstellung wird nun beschrieben. Nach Abschluß der Grobeinstellung durch die Verarbeitungs einheit 162 für eine Lichtemissionsgrobeinstellung führt die Verarbeitungseinheit 164 für eine Lichtemissionsfeineinstel lung die Lichtemissionseinstellung der Laserdiode 100 im Auf-Spur-Zustand des Strahlflecks zum Medium aus, in welchem sowohl die Fokussier-Servoeinrichtung als auch die Nachführ-Servo einrichtung eingeschaltet sind. Die Lichtemissions feineinstellung ist im wesentlichen die gleiche wie die Lichtemissionsgrobeinstellung. Im Fall des MO-Kassetten mediums, bei dem die Lösch-Operation notwendig ist, läßt man bezüglich jeder der Löschenergie, der ersten Schreibenergie und der zweiten Schreibenergie den Lichtstrahl die Testzone des Mediums in einem Zustand aufsuchen, in dem die Auf-Spur-Steuer 56821 00070 552 001000280000000200012000285915671000040 0002019813871 00004 56702ung bestätigt ist, wird nacheinander die Lichtemission gemäß den Testenergien an vorbestimmten zwei Punkten der Lichtemissionsstromquellenschaltung 154 angewiesen, und wird die Laserdiode 100 zur Lichtemission angesteuert. Gleich zeitig werden den Testenergien an zwei Punkten entsprechende spezifizierte Subtraktionsströme der Subtraktionsstromquel lenschaltung 156 angewiesen, und der Registeranweisungswert zur Lichtemissionsstromquellenschaltung 154 wird so einge stellt, daß die Meßenergie der Überwachungsenergie-Meß einheit 155 gleich der Zieltestenergie ist. Auf der Basis der Einstellungsergebnisse der Testenergien an diesen beiden Punkten wird die Beziehung mit dem Registeranweisungswert y der Lichtemissionsstromquellenschaltung 154 für die willkür liche lichtemittierende Energie x durch die lineare Approxi mation erhalten, und die Tabelleninformation, in der die Steigung und der Kreuzungspunkt der y-Achse registriert wur den, wird korrigiert. In der Lichtemissionsfeineinstellung des Kassettenmediums des Direkt-Überschreib-Korrespondenz- Typs, worin die Lösch-Operation unnötig ist, läßt man bezüg lich sowohl des Falles [(Hilfsenergie) + (erste Schreib energie)] als auch des Falles [(Hilfsenergie) + (zweite Schreibenergie)] den Lichtstrahl die Testzone des Mediums in einem Zustand aufsuchen, in dem die Auf-Spur-Steuerung be stätigt ist, wird nacheinander die Lichtemission gemäß den Testenergien an zwei voreingestellten Punkten der Lichtemis sionsstromquellenschaltung 154 angewiesen, und wird die La serdiode 100 zur Lichtemission angesteuert. Zur gleichen Zeit werden den Testenergien an zwei. Punkten entsprechende spezifizierte Subtraktionsströme der Subtraktionsstromquel lenschaltung 156 angewiesen, und der Registeranweisungswert für die Lichtemissionsstromquellenschaltung 154 wird so ein gestellt, daß die Meßenergie der Überwachungsenergie-Meß einheit 155 gleich der Zieltestenergie ist. Auf der Basis der Einstellungsergebnisse gemäß den Testenergien an diesen beiden Punkten wird durch die lineare Approximation die Be ziehung zwischen der willkürlichen lichtemittierenden Ener gie x und dem Registeranweisungswert y der Lichtemissions stromquellenschaltung 154 erhalten. Die Tabelleninformation, in der die Steigung und der Kreuzungspunkt mit der y-Achse registriert wurden, wird korrigiert. Zusätzlich zur Ver arbeitungseinheit 164 für die Lichtemissionsfeineinstellung, wie oben erwähnt, sind gemäß der Erfindung die automatische Energiesteuerung-Halteeinheit 166, die Lichtemission-Zeit steuereinheit 168 und die Testzone-Bestätigungseinheit 170 vorgesehen. Wenn die Laserdiode 100 durch die Verarbeitungs einheit 164 für eine Lichtemissionsfeineinstellung zur Lich temission angesteuert wird, steuert während einer Zeitspanne einer Lichtemission die automatische Energiesteuerung-Halte einheit 166 die automatische Energiesteuereinheit (APC) 138 in einen Haltezustand. Daher wird die Rückkopplungs regelung, um die Meßenergie mit der Zielleseenergie überein stimmen zu lassen, durch die automatische Energie steuereinheit 138 während der Lichtemission der Laserdiode 100 gemäß der Testenergie nicht ausgeführt. In der Über wachungs-Energiemeßeinheit 155 wird die tatsächliche licht emittierende Energie auf der Basis der angewiesenen Energie der Laserdiode 100 gemessen, wodurch ermöglicht wird, daß der Anweisungswert zur Lichtemissionsstromquellenschaltung 154 durch die Verarbeitungseinheit 164 für eine Lichtemis sionsfeineinstellung genau eingestellt wird. Zu der Zeit der Einstellung durch die Testlichtemission der Laserdiode durch die Verarbeitungseinheit 164 für eine Lichtemissionsfein einstellung unterscheidet die Testzone-Bestätigungseinheit 170, ob die gegenwärtige Position des Strahlflecks innerhalb eines vorbestimmten Bereichs der Testzone des Mediums liegt oder nicht. Wenn bestätigt wird, daß die gegenwärtige Posi tion des Strahlflecks innerhalb des Bereichs der Testzone liegt, wird die Lichtemissionseinstellung aktiviert.

In dem Fall des Mediums mit 128 MB hat beispielsweise eine Testzone des Mediums einen Aufbau, wie in Fig. 14 dar gestellt ist. Das Medium ist in eine Testzone, eine Steuer spurzone, eine Datenzone (Benutzerzone) und eine Steuerspur zone von der Innenseite aus eingeteilt, und bezüglich dieser Zonen wurden radiale Positionen und Spurnummern bestimmt. Unter diesen liegt die Testzone, die zur Zeit der Lichtemis sionsfeineinstellung der Erfindung aufgesucht oder gesucht wird, bei der Radialposition auf dem Medium innerhalb eines Bereichs von 23,53 bis 23,75 mm, und die Spurnummer liegt innerhalb eines Bereichs von -292 bis -17. Was die Testzone anbetrifft, kann im wesentlichen eine innerste Nicht-Benutzer-Zone in jedem beliebigen der Medien mit 230 MB, 540 MB und 640 MB verwendet werden.

Wieder auf Fig. 8A und 8B verweisend, kann, wenn die Testzone durch die Testzone-Bestätigungseinheit 170 bestä tigt wird, eine (in einem Register 174 gespeicherte) ID-Information durch das Lesen des Spursektors, wenn die Test zone aufgesucht wird, oder eine (im Register 174 gespei cherte) Wagendetektierposition des Wagenpositionssensors 56 verwendet werden, der vorgesehen ist, um die absolute Posi tion des Wagens 76 zu detektieren, wie in Fig. 2 dargestellt ist. Das heißt, weil die Spurnummer in der ID-Information enthalten ist, kann durch Vergleichen der Spurnummer mit dem Bereich der Spurnummern der Testzone, die vorher zugewiesen worden sind, unterschieden werden, ob die gegenwärtige Posi tion innerhalb des Bereichs der Testzone liegt oder nicht.

Detektier-Charakteristiken des Wagenpositionssensors 56 in Fig. 2 für die Medienposition sind so, wie in Fig. 15 dargestellt ist. In den Detektier-Charakteristiken wurde ein Testzone-Detektierbereich 254 des Wagenpositionssensors 56 entsprechend einer an der Innenseite gelegenen Testzone 252 für eine Benutzer-Zone 250 in der auf einer Abszissenachse dargestellten Mediumposition bestimmt. Durch Vergleichen des Detektionswertes des Wagenpositionssensors 56, wenn man den Lichtstrahl die Testzone mit dem Testzone-Detektierbereich 254 aufsuchen läßt, kann unterschieden werden, ob die gegen wärtige Position in der Testzone vorliegt oder nicht. Bei der Erkennung der gegenwärtigen Position durch die ID-Infor mation und Erkennung der gegenwärtigen Position durch die Wagendetektierposition kann in einem Fall, in dem die ID-Information verwendet wird, durch die ID-Information auf ei ner Spureinheitsbasis genau unterschieden werden, ob die ge genwärtige Position in der Testzone vorliegt oder nicht; in dem Fall, in dem die Wagendetektierposition verwendet wird, wird andererseits eine Unterscheidungsgenauigkeit der Test zone durch die Auflösung des Wagenpositionssensors 56 be stimmt. Da eine Auflösung einer Detektionsdistanz des PSD, der als ein Wagenpositionssensor 56 verwendet wird, in der Größenordnung von z. B. 100 Mikrometer liegt, ist es gewöhn lich möglich, sicher zu bestimmen, ob die gegenwärtige Posi tion in einem Bereich von 23,53 bis 23,75 mm der radialen Position entsprechend der Testzone in Fig. 14 vorliegt oder nicht. Es ist auch möglich, für einen Bestätigungsprozeß durch die Testzone-Bestätigungseinheit 170 in der Art und Weise zu konstruieren, daß sowohl die ID-Information als auch die Wagendetektierposition verwendet werden und, wenn beispielsweise die gegenwärtige Position aus der ID-Informa tion nicht erkannt werden kann, die gegenwärtige Position durch die Wagendetektierposition erkannt wird. Im Gegensatz dazu ist es auch möglich, auf eine solche Art und Weise zu konstruieren, daß die Wagendetektierposition vorzugsweise verwendet wird und, wenn die gegenwärtige Position aus der Wagendetektierposition nicht erkannt werden kann, die gegen wärtige Position aus der ID-Information erkannt wird.

Die Lichtemission-Zeitsteuereinheit 168 in Fig. 8A und 8B wird nun beschrieben. Im Fall eines Einstellens der Lich temission der Laserdiode 100 gemäß der Testenergie durch die Verarbeitungseinheit 164 für eine Lichtemissionsfeineinstel lung erlaubt die Lichtemission-Zeitsteuereinheit 168, daß die Lichtemissionseinstellung der Laserdiode gemäß der Test energie in allein dem Datenfeld (MO-Feld) ausgeführt wird, während das ID-Feld jedes Sektors bezüglich jedes der Spur sektoren der Testzone im Auf-Spur-Zustand vermieden wird.

Fig. 16A bis 16G sind Zeitdiagramme für die Verarbei tungsoperation durch die Verarbeitungseinheit 164 für eine Lichtemissionsfeineinstellung der Erfindung und beziehen sich als ein Beispiel auf die Lichtemissionsfeineinstellung der Löschenergie. Das heißt, in dieser Reihenfolge zeigt Fig. 16A eine Sektorinformation, zeigt Fig. 16B ein ID-Detektionssignal, zeigt Fig. 16C ein Schreib-Tor-Signal, zeigt Fig. 16D ein APC-Haltesignal, zeigt Fig. 16E einen Subtraktion-DAC-Wert für die Löschenergie und zeigt Fig. 16G ferner einen Überwachung-ADC-Wert. Wie sich aus den Zeit diagrammen offensichtlich versteht, ist die Sektorinforma tion in Fig. 16A durch ID-Felder und Datenfelder aufgebaut. Eine Information in dem ID-Feld wird durch Bilden körper licher Vertiefungen aufgezeichnet. Da durch die magneto optische Aufzeichnung Vertiefungen gebildet werden, ist be züglich des Datenfeldes die Medienoberfläche körperlich eine Spiegeloberfläche. Daher fluktuiert im Fall einer Lichtemis sionsansteuerung der Laserdiode 100 im Auf-Spur-Zustand das Rückkehrlicht durch die Bestrahlung des Strahlflecks auf die Medienspur durch die konkaven und konvexen Teile der körper lichen Vertiefungen im ID-Feld. Da es im Datenfeld jedoch keine körperlichen konkaven und konvexen Teile gibt, ist ein Aufzeichnungssignal bei einem vorbestimmten Pegel stabil. Wie sich aus dem erläuternden Diagramm des optischen Systems von Fig. 4 offensichtlich versteht, wird das Rückkehrlicht vom Medium, wie oben erwähnt wurde, durch einen Halbspiegel 303 reflektiert und tritt in den Detektor 102 zum Überwachen ein. Die Meßenergie (die durch die Überwachungsenergie-Meß einheit 155 in Fig. 8A und 8B gemessen wird) der Laserdiode 100 zur Zeit der Lichtemission gemäß der Testenergie fluk tuiert durch das Rückkehrlicht. In der Erfindung wird daher die Laserdiode 100 zur Lichtemission angesteuert, und die Lichtemissionseinstellung wird bezüglich allein des Daten feldes durchgeführt, während das ID-Feld der Sektorinforma tion vermieden wird. Ein ID-Detektionssignal, wie in Fig. 16B dargestellt ist, wird erzeugt, um die Lichtemissions ansteuerung im Datenfeld der Sektorinformation zu ermög lichen, wie oben erwähnt wurde. Das ID-Detektionssignal ent steht aus dem AUS-Zustand bis zum EIN-Zustand an der End position des ID-Feldes und wird im EIN-Zustand während einer Zeitspanne aufrechterhalten, während der die Lichtemissions einstellung im Datenfeld durchgeführt werden kann, und wird anschließend ausgeschaltet. Die Dauer der EIN-Zeitspanne des ID-Detektion-Abschlußsignals wurde auf der Basis der physi kalischen Länge des Datenfeldes, der radialen Position des Mediums und der Drehgeschwindigkeit des Mediums durch den Spindelmotor vorbestimmt. Das Schreib-Tor-Signal von Fig. 16C wird zu dem Zeitpunkt bestätigt, wenn das ID-Detektion-Ab schlußsignal eingeschaltet wird, wodurch ermöglicht wird, daß die Lichtemissionsansteuerung gemäß den Testenergien z. B. dreimal während der EIN-Zeitspanne ausgeführt wird. Zur Meßzeit der Überwachungsenergie (Überwachung-ADC-Wert) von Fig. 16G in der EIN/AUS-Zeitperiode entsprechend dem Daten feld des Schreib-Tor-Signals werden die Messung der Lesee nergie für die erste AUS-Periode P1 und die Messung der Überwachungsenergie durch die Testenergie an jedem der Punk te P2, P3 und P4 im EIN-Zustand des nachfolgenden Schreib- Tor-Signals ausgeführt. Wie in Fig. 16D dargestellt ist, wird das Schreib-Tor-Signal von Fig. 16C als ein APC-Haltesignal für die automatische Energiesteuereinheit 138 ausgegeben. Das heißt, das APC-Haltesignal der APC 138 wird ebenfalls synchron mit der EIN-Zeitsteuerung des Schreib- Tor-Signals eingeschaltet. Die APC 138 wird bei der Lichte mission-Zeitsteuerung der Laserdiode durch die Testenergie in den Haltezustand geschaltet. Die Rückkopplungsregelung, um die Zielleseenergie aufrechtzuerhalten, wird aufgehoben, wodurch ermöglicht wird, daß die Messung der Überwachungsenergie gemäß der Testenergie durchgeführt wird. Ein Subtrak tion-DAC-Wert für die Löschenergie von Fig. 16E wird während einer Zeitspanne der Lichtemissionseinstellung der Löschen ergie auf einem vorbestimmten Wert gehalten. Was den Lichte mission-DAC-Wert für die Löschenergie von Fig. 16F anbe trifft, wird ein Fehler zwischen dem Überwachung-ADC-Wert von Fig. 16G zu dieser Zeit und dem Zielwert bei der Lese energie z. B. für jeden Sektor erhalten. Der Lichtemission- DAC-Wert wird durch die Lichtemissionseinstellung des Daten feldes des nächsten Sektors korrigiert, wodurch die Lichte missionseinstellung durchgeführt wird. In den Fällen der Fig. 16A bis 16G wird der Lichtemission-DAC-Wert zum Löschen durch die Lichtemissionseinstellung im Datenfeld dreier Sek toren so eingestellt, daß der Überwachung-ADC-Wert mit dem Zielwert übereinstimmt.

Die Verarbeitungsoperation der Verarbeitungseinheit 164 für eine Lichtemissionsfeineinstellung in Fig. 8A und 8B wird nun mit Verweis auf Flußdiagramme beschrieben. Fig. 17A und 17B sind Flußdiagramme für den Medieneinsetzprozeß, in dem der Lichtemissionsfeineinstellprozeß der Erfindung aus geführt wird. Im Medieneinsetzprozeß wird in Verbindung mit dem Einsetzen des Mediums zuerst in Schritt S1 die Tempera tur im Gerät überprüft. In Schritt S2 wird die Drehsteuerung des Spindelmotors gestartet. In Schritt S3 wird der VCM durch Drücken des Wagens zur Außenseite grob eingestellt. In Schritt S4 wird die Laserdiode 100 eingeschaltet, und die Lichtemissionsgrobeinstellung der Laserdiode 100 wird durch die Verarbeitungseinheit 162 für eine Lichtemissionsgrob einstellung in Fig. 8A und 8B ausgeführt. In Schritt S5 wird eine Überprüfung vorgenommen, um zu sehen, ob das Medium ein voller ROM ist. Die Unterscheidung über den vollen ROM kann vorgenommen werden, indem das Vorhandensein oder Nicht vorhandensein eines Schreibschutzknopfes (engl. write pro tection knob) der Medienkassette geprüft wird. Das heißt, da der Abschnitt des Schreibschutzknopfes des vollen ROM ein Raum ist, wird durch Detektieren dieses Raumabschnitts er kannt, daß die Medienkassette der volle ROM ist. Im Fall des vollen ROM wird die Leseenergie für das wiederbeschreibbare Medium reduziert. Da weder die Schreibenergie noch die Lö schenergie verwendet wird, gibt es keine Notwendigkeit, die Einstellung durchzuführen. In Schrift S6 wird der Wagen zu einer Position nahe der Mitte des Mediums bewegt. Die Wagen bewegung wird durchgeführt, indem spezifizierte Ströme für eine Beschleunigung, konstante Geschwindigkeit und Ver zögerung im Grobeinstellzustand des VCM geliefert werden, der in Schritt S3 zur Außenseite gedrückt wurde. Die Fokus sier-Servoeinrichtung wird in Schritt S7 eingeschaltet. In Schritt S8 wird eine Offseteinstellung des Spurfehlersignals durchgeführt. Danach wird in Schritt S9 die Fokussierposi tion gesteuert, um die maximale Amplitude des Spurfehler signals zu erhalten, wird ein Offset detektiert, in welchem die Fokussierposition, bei der die maximale Amplitude erhal ten wurde, auf eine Fokussier-Optimallinie eingestellt ist, und wird dieser Offset in die Fokussier-Servoeinrichtung eingestellt. In Schritt S10 wird ein Offset des abgewichenen Spurfehlersignals in einem Zustand eingestellt, in dem die Offsetdetektion der Fokussier-Optimallinie beendet ist. In Schritt S11 wird die Amplitudeneinstellung des Spurfehlersi gnals gemäß der Art des eingesetzten Mediums durchgeführt. Nach Abschluß der Amplitudeneinstellung des Spurfehlersi gnals wird die Offseteinstellung des Spurfehlersignals wie der in Schritt S12 durchgeführt. In Schritt S13 wird eine Überprüfung vorgenommen, um zu sehen, ob die Drehung des Spindelmotors eine bestimmte Drehgeschwindigkeit erreicht hat. In Schritt S14 wird die Nachführ-Servoeinrichtung ein geschaltet, so daß der Auf-Spur-Steuerzustand des Strahl flecks erhalten wird. In Schritt S15 wird ein Schnitt-Pegel (Echo-Schnitt-Pegel) zum Bestätigen der Löschlichtemission eingestellt. Beim Einstellen des Schnitt-Pegels zum Bestä tigen der Löschlichtemission wird, da die Schreib-Operation des Mediums in drei Stufen der Löschlichtemission, der Schreiblichtemission und der Leselichtemission zur Bestäti gung ausgeführt wird und, wenn die Löschlichtemission nicht durchgeführt wird, das normale Datenaufzeichnen und -schrei ben durch die nächste Schreiblichtemission nicht durchge führt werden kann, der Schnitt-Pegel, um die Löschlichtemis sion zu bestätigen, auf einen Wert zwischen der Löschlicht energie und der Leseenergie eingestellt. In Schritt S16 läßt man den Lichtstrahl die Steuerspur des Mediums aufsuchen, und die Inhalte in der Steuerspur werden ausgelesen. In Schritt S17 wird die Lichtemissionsfeineinstellung des La serdiode-Ansteuerstroms durch die Verarbeitungseinheit 164 für eine Lichtemissionsfeineinstellung in Fig. 8A und 8B ausgeführt. Schließlich wird in Schritt S18 eine alternie rende Information des Mediums ausgelesen und in den RAM ge speichert.

Fig. 18A und 18B sind Flußdiagramme für den Such-Wieder holprozeß, in dem der Lichtemissionsfeineinstellprozeß der Erfindung ausgeführt wird. Wenn die Suchoperation zur Ziel spur auf der Basis eines übergeordneten Befehls scheitert und ein Suchfehler auftritt, wird der Such-Wiederholbefehl in Fig. 18A und 18B ausgeführt. Im Such-Wiederholprozeß wird eine Überprüfung vorgenommen, um zu sehen, ob das Gerät im Fokussier-EIN-Zustand ist. In Schritt S2 wird eine Überprü fung vorgenommen, um zu sehen, ob das Gerät im Nachführ-EIN-Zu stand ist. Wenn entweder der Fokussierzustand oder der Nachführzustand AUS ist, wird ein Initialisierungsprozeß ausgeführt, der dem Medieneinsetzprozeß nach Schritt S6 äquivalent ist, und danach wird ein Spur-Rücksprung (engl. re-jump) für eine Such-Wiederholung ausgeführt. Wenn das Ge rät in Schritt S1 im Fokussier-EIN-Zustand ist und wenn es im Schritt S2 im Nachführ-EIN-Zustand ist, wird in Schritt S3 die Nachführ-Servoeinrichtung eingeschaltet. Danach wird in Schritt S4 eine Überprüfung vorgenommen, um zu sehen, ob die Verarbeitungsroutine normal beendet ist. Falls in Schritt S5 JA gilt, wird eine Wiederhol-Suchoperation für einen Rücksprung zur Zielspur ausgeführt. Selbst nachdem die Nachführ-Servoeinrichtung in Schritt S3 eingeschaltet wurde, geht andererseits, falls das normale Ende, bei dem der Lichtstrahl mit eingeschaltetem Nachführen zur Zielspur ge führt wird, in Schritt S4 nicht erhalten wird, die Verar beitungsroutine zu Prozessen in Schritt S6 und folgenden Schritten weiter. Die Prozesse in den Schritten S6 bis S8 sind die gleichen wie die Verarbeitungsschritte S6 bis S17 im Medieneinsetzprozeß in Fig. 8A und 8B. Der Prozeß der Lichtemissionsfeineinstellung der Laserdiode gemäß der Er findung ist in Schritt S17 enthalten. Ein Endschritt S18 be zieht sich auf den Fall, in welchem die Einstellprozesse in den Schritten S6 bis S17 normal beendet werden und die Such-Wiederholung für einen Rücksprung zur Zielspur ausgeführt wird. Wenn irgendeiner der Einstellprozesse in den Schritten S6 bis S17 abnorm ist, wird die Verarbeitungsroutine als ab norm beendet.

Fig. 19 ist ein schematisches Flußdiagramm für die Lich temissionsfeineinstellung der Laserdiode gemäß der Erfin dung, die in Schritt S17 für den Medieneinsetzprozeß in Fig. 8A und 8B und in Schritt S17 für den Such-Wiederholprozeß in Fig. 18A und 18B ausgeführt wird. In der Lichtemissionsfein einstellung der Laserdiode läßt man zuerst in Schritt S1 den Lichtfleck die innerste Testzone des Mediums aufsuchen. In Schritt S2 wird der ADC-Überwachungswert bei der Leseenergie gelesen und auf den APC-Zielwert in der automatischen Ener giesteuerung eingestellt. In Schritt S3 wird die Lichtemis sionsfeineinstellung der Löschenergie EP ausgeführt. In Schritt S4 wird die Lichtemissionsfeineinstellung der ersten Schreibenergie WP1 durchgeführt. Ferner wird in Schritt S5 die Lichtemissionsfeineinstellung der zweiten Schreibenergie WP2 ausgeführt. Die Einstellungswerre werden in Schritt S6 gespeichert, und die Verarbeitungsroutine wird beendet. Die Lichtemissionsfeineinstellung gemäß jeder der Löschenergie, der ersten Schreibenergie und der zweiten Schreibenergie in den Schritten S3 bis S5 bezieht sich auf den Fall, in dem das eingesetzte Medium die PWM-Aufzeichnung verwendet und das Medium mit 540 MB oder ein MO-Kassettenmedium mit 640 MB ist, bei dem die Lösch-Operation notwendig ist. Andererseits wird in dem Fall des Mediums mit 540 MB oder 640 MB, das die PWM-Aufzeichnung des Direkt-Überschreib-Korrespondenz-Typs verwendet und bei dem der Löschbetrieb unnötig ist, die Lichtemissionsfeineinstellung gemäß jeder der ersten Schrei benergie und der zweiten Schreibenergie in den Schritten S4 und S5 ausgeführt, und die Lichtemissionsfeineinstellung der Löschenergie in Schritt S2 wird übersprungen. In den Medien mit 128 MB und 230 MB, die die PPM-Aufzeichnung verwenden, wird die Lichtemissionsfeineinstellung gemäß jeder der Lö schenergie und der ersten Schreibenergie in den Schritten S3 und S4 ausgeführt, und die Lichtemissionsfeineinstellung der zweiten Schreibenergie in Schritt S5 wird übersprungen.

Fig. 20 und 21 sind Flußdiagramme für die Lichtemissi onsfeineinstellung der Löschenergie in Schritt S3 in Fig. 19. In Fig. 20 werden zuerst in Schritt S1 die Beziehungs gleichung des Lichtemission-DAC-Werts

y = a1.x + b1

und die Beziehungsgleichung des Subtraktion-DAC-Werts

z = c1.x + d1

der Löschenergie EP eingestellt, die durch die Lichtemissi onsgrobeinstellung in Schritt S1 erhalten wurden. In Schritt S2 wird die Testenergie (x1 = 3 mW) für die erste Lichtemis sion gemäß der Löschenergie eingestellt, und der Lichtemis sion-DAC-Wert y1 wird aus den Beziehungsgleichungen in Schritt S1 berechnet. Bezüglich der Testenergie (x1 = 3 mW) wird der Subtraktion-DAC-Wert z1 aus der Beziehungsgleichung des Subtraktion-DAC-Wertes berechnet. In diesem Fall werden die Lichtemission-DAC-Werte und die Subtraktion-DAC-Werte gemäß den ersten und zweiten Schreibenergien WP1 und WP2 ge löscht. Anschließend wird in Schritt S3 die Zahl (n) von Schleifenmalen, um die Überwachungsmeßwerte zu mitteln, wenn die Lichtemission gemäß den Testenergien durchgeführt wird, nämlich die Zahl von Malen der Messung, eingestellt. In Schritt S4 wird ein vorbestimmter Zeitgeberwert in einen ID-Zeitgeber eingestellt, um eine Detektierzeit des ID-Feldes einzustellen, und ein Prozeß wird gestartet. In Schritt S5 wird eine Prüfung vorgenommen, um zu sehen, ob das ID-Feld detektiert worden ist. Bis das ID-Feld detektiert wird, wird eine Prüfung in Schritt S6 vorgenommen, um zu sehen, ob der ID-Zeitgeber die Zeit überschritten hat. Falls der ID-Zeit geber die Zeit überschreitet, wird die Verarbeitungsroutine als Abnormität beendet. Wenn die ID-Detektion in Schritt S5 erkannt wird, folgt Schritt S7, und das ID-Feld wird ge lesen. Da die Spurnummer an der gegenwärtigen Position durch das Lesen des ID-Feldes erkannt werden kann, wird durch Ver gleichen der erkannten Spurnummer mit der Spurnummer an der Grenze der vorbestimmten Testzone unterschieden, ob die ge genwärtige Position innerhalb des Testzonenbereichs liegt oder nicht. Falls die gegenwärtige Position außerhalb der Testzone liegt, folgt Schritt S9, und man läßt den Licht strahl wieder die Testzone aufsuchen. Wenn in Schritt S8 die gegenwärtige Position innerhalb der Testzone liegt, folgt Schritt S10, und die Zahl (m) von Malen einer Schleife der Lichtemission gemäß der Testenergie in einem Sektor wird eingestellt. In Schritt S11 wird die Löschlichtemission der Laserdiode gemäß dem Lichtemission-DAC-Wert y1 entsprechend der Testenergie von 3 mW durchgeführt, die in Schritt S2 durch das Einschalten des Schreib-Tors eingestellt wurde. In diesem lichtemittierenden Zustand wird der Überwachung-ADC-Wert y in Schritt S12 gelesen. Die Lichtemission wird durch das Ausschalten des Schreib-Tores in Schritt S13 gestoppt. In Schritt S14 wird eine Prüfung vorgenommen, um zu sehen, ob die Zahl von Malen eines Mittelns, um die Lichtemissions einstellung der Löschenergie auszuführen, nämlich die Zahl (n) von Sektoren, um die Lichtemissionseinstellung der Lö schenergie durchzuführen, die spezifizierte Zahl von Malen erreicht hat. Falls der Wert von (n) geringer als die spezi fizierte Zahl von Malen ist, wird in Schritt S15 eine Prü fung vorgenommen, um zu sehen, ob die Zahl (m) von Malen der Lichtemission in einem Sektor geringer als eine spezifi zierte Zahl von Malen ist oder nicht. Es werden Prozesse wiederholt, so daß der Wert von (m) geringer als die spezi fizierte Zahl von Malen ist, die Verarbeitungsroutine zu Schritt S11 zurückgeführt wird, die Löschlichtemission durch das nächste Einschalten des Schreib-Tores durchgeführt wird, der Überwachung-ADC-Wert y zu dieser Zeit in Schritt S12 ge lesen wird und die Lichtemission durch das Ausschalten des Schreib-Tors in Schritt S13 gestoppt wird. Wenn in Schritt S15 die Zahl (m) von Malen der Lichtemission in einem Sektor die spezifizierte Zahl von Malen erreicht, wird die Ver arbeitungsroutine zu Schritt S4 zurückgeführt. Der Zeit geberwert wird wieder in den ID-Zeitgeber eingestellt, und der Prozeß wird gestartet. Die Löschlichtemission durch die Testenergie im nächsten Sektor auf der Basis der neuen ID-Detektion und der Erkennung des Testzonenbereichs werden ausgeführt. Durch Wiederholen der Prozesse in den Schritten S4 bis S15, wie oben erwähnt wurde, folgt Schritt S16, falls die Zahl von Überwachung-ADC-Werten y, die zum Mitteln ver wendet werden, nämlich die Zahl (n) von Malen eines Mit telns, die spezifizierte Zahl von Malen in Schritt S14 er reicht, und die bislang erhaltenen Überwachung-ADC-Werte y werden gemittelt. Die Verarbeitungsroutine geht zu Schritt S17 in Fig. 21 weiter. Der Zielwert, der als ein Über wachung-Meßwert der Tor-Energie dient, die als ein APC-Ziel wert in Schritt S2 in Fig. 19 erhalten wurde, wird mit dem gemittelten Überwachung-ADC-Wert verglichen, wodurch unter schieden wird, ob sie nahezu übereinstimmen oder nicht. Im Falle eines Fehlers, bei dem eine Differenz zwischen dem Zielwert und dem gemittelten Überwachung-ADC-Wert einen spe zifizierten Wert überschreitet, folgt Schritt S18. Es wird unterschieden, ob der Zielwert größer als der gemittelte Überwachung-ADC-Wert ist oder nicht. Wenn der Zielwert grö ßer ist, geht die Verarbeitungsroutine zu Schritt S20 wei ter, weil dies bedeutet, daß der gemittelte Überwachung-ADC-Wert klein ist. Eine Korrektur wird durchgeführt, um den Lichtemission-DAC-Wert y1, auf den die Testenergie einge stellt wurde, um eine vorbestimmte Einheit zu erhöhen. Die Verarbeitungsroutine wird zu Schritt S3 in Fig. 20 zurück geführt, und die Lichtemissionsfeineinstellung der Lösch energie, die den Lichtemission-DAC-Wert y1 nach der Korrek tur verwendet, wird ausgeführt. Wenn der gemittelte Über wachung-ADC-Wert in Schritt S18 den Zielwert überschreitet, folgt Schritt S19, und eine Korrektur wird durchgeführt, um den Lichtemission-DAC-Wert y1 um eine Einheit zu reduzieren. Ähnlich wird die Verarbeitungsroutine zu Schritt S3 in Fig. 20 zurückgeführt, und die Lichtemissionsfeineinstellung der Löschenergie unter Verwendung des Lichtemission-DAC-Wertes y1 nach der Korrektur wird ausgeführt. Wenn der Zielwert und der gemittelte Überwachung-ADC-Wert in Schritt S17 innerhalb eines spezifizierten Fehlerbereichs nahezu übereinstimmen, wird bestimmt, daß die Feineinstellung der ersten Testener gie (x1 = 3 mW) beendet worden ist. Es folgt Schritt S21. Die Testenergie der Löschenergie EP wird am zweiten Punkt auf (x2 = 5 mW) eingestellt. Der Lichtemission-DAC-Wert y2 wird ähnlich berechnet, und der Subtraktion-DAC-Wert z2 wird berechnet. In diesem Fall werden ebenso durch die ersten und zweiten Schreibenergien WP1 und WP2 die Lichtemission-DAC-Werte und die Subtraktion-DAC-Werte gelöscht. In Schritt S22 wird der Feineinstellprozeß für die Löschlichtemission am zweiten Punkt der Testenergie (x2 = 5 mW) ausgeführt. Der Feineinstellprozeß für die Löschlichtemission am zweiten Punkt in Schritt S22 ist der gleiche wie die Prozesse in den Schritten S3 bis S20 am ersten Punkt. Wenn der Einstellpro zeß für die Löschlichtemission am zweiten Punkt in Schritt S22 beendet wird, folgt Schritt S23. Der Koeffizient a1 und der Kreuzungspunkt b1 mit der y-Achse der Beziehungsglei chung

y = a1.x + b1

zwischen der Löschenergie x und dem Lichtemission-DAC-Wert y, der als deren Registeranweisungswert dient, werden aus den Beziehungsgleichungen zweier Punkte (x1, y1) und (x2, y2) berechnet, die durch die Lichtemissionseinstellung er halten wurden. Die berechneten Werte von a1 und b1 werden aktualisiert und in die in Fig. 8B und 8B dargestellte EP-Lichtemission-DAC-Koeffiziententabelle 184 registriert.

Fig. 22 und 23 sind Flußdiagramme für die Lichtemissi onsfeineinstellung der ersten Schreibenergie WP1 in Schritt S4 in Fig. 19. Was die Lichtemissionsfeineinstellung der er sten Schreibenergie anbetrifft, wird in Fig. 22 zuerst in Schritt S1 die Beziehungsgleichung zwischen dem Lichtemissi on-DAC-Wert und dem Subtraktion-DAC-Wert bei der Löschener gie EP, die durch die Lichtemissionsgrobeinstellung erhalten wurde, in einer zu Schritt S1 für die Löschenergie-Feinein stellung in Fig. 21 ähnlichen Weise eingestellt. Danach wird die Beziehungsgleichung zwischen dem Lichtemission-DAC-Wert und dem Subtraktion-DAC-Wert, der durch die Grobeinstellung der ersten Schreibenergie WP1 erhalten wurde, wie in (2) dargestellt festgelegt. Anschließend wird in Schritt S2

WP1 + EP = 3 mW + 2 mW = 5 mW

als eine Testenergie am ersten Punkt festgelegt. Um die Feineinstellung der ersten Schreibenergie zu realisieren, werden der Lichtemission-DAC-Wert und der Subtraktion-DAC-Wert aus der in Schritt S1 festgelegten Beziehungsgleichung bezüglich der ersten Schreibenergie (WP1 = 3 mW) berechnet, und der Lichtemission-DAC-Wert und der Subtraktion-DAC-Wert werden bezüglich der Löschenergie (EP = 2 mW) aus der Bezie hungsgleichung berechnet, die in Schritt S1 festgelegt wur de. In diesem Fall werden der Lichtemission-DAC-Wert und der Subtraktion-DAC-Wert bei der zweiten Schreibenergie WP2 ge löscht. Prozesse in Schritt S3 bis Schritt S20 in Fig. 23 sind im wesentlichen die gleichen wie diejenigen der Licht emissionsfeineinstellung der Löschenergie in Fig. 20 und 21. Das heißt, ein unterschiedlicher Punkt ist, daß in Schritt S21 bei der Lichtemission der Laserdiode durch das Einschal ten des Schreib-Tors die Lichtemission mit 5 mW durch die Stromaddition wegen jedes der Lichtemission-DAC-Anweisungs werte durch die erste Schreibenergie WP1 bzw. Löschenergie EP ausgeführt wird. In den Schritten S19 und S20 in Fig. 23 unterscheidet sich die Korrektur in dem Fall, in dem der Zielwert und der gemittelte Überwachung-DAC-Wert nicht in nerhalb eines vorbestimmten Fehlerbereichs übereinstimmen, bezüglich eines Punktes, daß der Lichtemission-DAC-Wert y1 der ersten Schreibenergie WP1 korrigiert wird. Wenn der ge mittelte Überwachung-DAC-Wert des ersten Zeitpunktes mit dem Zielwert innerhalb des spezifizierten Bereichs in Schritt S17 in Fig. 23 übereinstimmt, folgt Schritt S21 und die Ein stellung der Testenergie des zweiten Zeitpunktes wird durch geführt. Obwohl die Energie die gleiche wie die Löschenergie (= 2 mW) bezüglich des zweiten Punktes ist, wird sie zur er sten Schreibenergie WP1 (= 7 mW) erhöht, und die Testenergie wird auf 9 mW eingestellt. Bezüglich der Testenergie am zweiten Punkt werden ebenso in einer zu oben ähnlichen Weise der Lichtemission-DAC-Wert und der Subtraktion-DAC-Wert je der der eingestellten lichtemittierenden Energien berechnet, und danach wird der Lichtemissionseinstellprozeß bei der er sten Schreibenergie am zweiten Punkt in Schritt S22 ausge führt. Der Lichtemissionseinstellprozeß bei der ersten Schreibenergie am zweiten Punkt ist der gleiche wie die Pro zesse in einem Bereich von Schritt S3 in Fig. 22 bis Schritt S20 in Fig. 23. Wenn der Lichtemissionseinstellprozeß bei der ersten Schreibenergie am zweiten Punkt in Schritt S22 beendet ist, werden in Schritt S23 der Koeffizient a2 und der Kreuzungspunkt b2 mit der y-Achse der Beziehungsglei chung

y = a2.x + b2

der ersten Schreibenergie aus der Beziehungsgleichung an zwei Punkten (x1, y1) und (x2, y2) bezüglich der durch die Lichtemissionseinstellung erhaltenen ersten Schreibenergie berechnet, und die WP1-Lichtemission-DAC-Tabelle in Fig. 8A und 8B wird aktualisiert und registriert.

Fig. 24 und 25 sind Flußdiagramme für die Lichtemissi onsfeineinstellung der zweiten Schreibenergie WP2 in Schritt S5 in Fig. 19. In Fig. 24 wird in der Lichtemissionsfeinein stellung der zweiten Schreibenergie zuerst in Schritt S1 in einer zur Lichtemissionsfeineinstellung der ersten Schreib energie ähnlichen Weise, nachdem eine Beziehungsgleichung zwischen dem Lichtemission-DAC-Wert und dem Subtraktion-DAC-Wert festgelegt wurde, die durch die Lichtemissionsfein einstellung der Löschenergie EP erhalten wurden, eine Bezie hungsgleichung zwischen dem Lichtemission-DAC-Wert und dem Subtraktion-DAC-Wert der zweiten Schreibenergie festgelegt, die durch die Lichtemissionsgrobeinstellung erhalten wurden. In Schritt S2 wird die Testenergie am ersten Punkt durch

WP2 + EP = 3 mW + 2 mW = 5 mW

festgelegt. Ein Lichtemission-DAC-Wert und ein Subtraktion- DAC-Wert jeder Energie werden jeweils aus den Beziehungs gleichungen berechnet, die in Schritt S1 eingestellt wurden. Die Lichtemissionsfeineinstellung der zweiten Schreibenergie des ersten Zeitpunktes wird in Schritten S3 bis S20 ausge führt. Die Lichtemissionsfeineinstellung der zweiten Schrei benergie des ersten Zeitpunktes ist die gleiche wie die Lichtemissionsfeineinstellung der ersten Schreibenergie in Fig. 22 und 23. In Schritt S17 in Fig. 25 folgt Schritt S21, wenn der gemittelte Überwachung-DAC-Wert innerhalb eines spezifizierten Fehlerbereichs durch die Lichtemissionsein stellung der zweiten Schreibenergie am ersten Punkt mit dem Zielwert übereinstimmt. Die Testenergie von 9 mW am zweiten Punkt wird eingestellt, und der Lichtemission-DAC-Wert und der Subtraktion-DAC-Wert entsprechend jeder Energie werden berechnet. Danach wird in Schritt S22 der Lichtemis sionseinstellprozeß der zweiten Schreibenergie am zweiten Punkt ausgeführt. Im letzten Schritt S23 werden der Koeffi zient a3 und der Kreuzungspunkt b3 mit der y-Achse einer Be ziehungsgleichung

y = a3.x + b3

der zweiten Schreibenergie WP2 aus der Beziehungsgleichung an zwei Punkten berechnet, die durch die Lichtemissions einstellung erhalten wurden, und werden in die WP2-Licht emission-DAC-Tabelle 192 in Fig. 8A und 8B aktualisiert und registriert. Im Fall des Kassettenmediums mit 540 MB oder 640 MB des Direkt-Überschreib-Korrespondenz-Typs reicht es aus, die Löschenergie EP für die Hilfsenergie AP in Fig. 20 bis 25 zu substituieren und die Lichtemissionsfeineinstel lung durchzuführen.

Bei der Lichtemissionsfeineinstellung jeder der Lösch energie, der ersten Schreibenergie und der zweiten Schreib energie, die in Fig. 20 bis 25 dargestellt sind, wird in Schritt S7 die Spurnummer aus der Leseinformation des ID-Feldes erkannt, wird die Endposition des ID-Feldes aus der ID-Leseinformation erkannt, und wird die Lichtemissionsfein einstellung durchgeführt. Als eine andere Ausführungsform der Erfindung kann jedoch das Ende des ID-Feldes auch durch Verwenden einer Sektormarkierung und einer Adreßmarkierung, die im ID-Feld enthalten sind, und ferner eines HF-Detek tionssignals des ID-Feldes oder dergleichen detektiert wer den. Bei der Unterscheidung des Testzonenbereichs kann eben so statt der Detektionsinformation des ID-Feldes ein Detek tionssignal des Wagenpositionssensor 56 verwendet werden, der vorgesehen ist, um die absolute Position des Wagens zu detektieren.

Fig. 26 ist ein Blockdiagramm, das die ID-Detektions information darstellt, die für die Detektion der Endposition des ID-Feldes durch die Lichtemission-Zeitsteuereinheit 168 erhalten wird, die für die in Fig. 8A und 8B dargestellte Verarbeitungseinheit 164 für eine Lichtemissionsfeineinstel lung vorgesehen ist. Die Lese-LSI-Schaltung 24 demoduliert ein Taktsignal und Lesedaten auf der Basis des ID-Signals und MO-Signals vom Detektor 32 für ID/MO und liefert sie an das Optische-Platte-Steuergerät 14. Das Optische-Platte-Steuer gerät 14 sendet eine ID-Feld-Aktualisierbenachrich tigung, eine Servomarkierung-Detektierbenachrichtigung und ferner eine Adreßmarkierung-Detektierbenachrichtigung von den gelesenen Daten des ID-Feldes an die MPU 12. Die Lese- LSI-Schaltung 24 kann eine ID-HF-Detektierbenachrichtigung durch das Verarbeitungssignal der vom Detektor 32 für ID/MO abgeleiteten ID an die MPU 12 senden. Adreßdaten, um einen Lesezugriff z. B. auf eine Spurnummer und eine Sektornummer auszuführen, werden von der MPU 12 an das Optische-Platte-Steuer gerät 14 und die Lese-LSI-Schaltung 24 geliefert, und eine ID-Information und Lesedaten, die diesen Nummern ent sprechen, werden erhalten.

Fig. 27 ist ein Blockdiagramm des Lesesystems der Lese- LSI-Schaltung 24 und des Optische-Platte-Steuergeräts 14 in Fig. 26. Nachdem das ID-Signal von der Detektorseite durch eine AGC-Schaltung 400 verstärkt wurde, wird es in der Lese- LSI-Schaltung 24 in einen Multiplexer 404 eingegeben. Nach dem das MO-Signal durch eine AGC-Schaltung 402 ebenfalls verstärkt wurde, wird es in den Multiplexer 404 eingegeben. Der Multiplexer 404 wählt durch ein ID/MO-Schaltsignal ir gendeine der AGC-Schaltungen 400 und 402 aus und gibt ein Signal von der ausgewählten AGC-Schaltung ab. Wenn die ID-Feld-Endposition gemäß der Erfindung detektiert wird, wird der Multiplexer 404 zur Seite der AGC-Schaltung 400 geschal tet, und das ID-Signal wird an eine Differenzierschaltung 406 ausgegeben. Die Differenzierschaltung 406 detektiert die Spitze des ID-Signals bei einer Nulldurchgangszeitsteuerung und liefert einen Detektionspuls an eine PLL-Schaltung 408. Die Schaltung 406 erzeugt ein Lesedatensignal während einer Zeitspanne des ID-Feldes. Die PLL-Schaltung 408 gibt die Le sedaten von dem MO-Signal für eine Zeitspanne des Daten feldes aus. Eine Ausgabe der Differenzierschaltung 406 wird ferner an eine Differenzierschaltung 410 geliefert. Ein Si gnal, das zweimal differenziert wurde, wird durch eine Ver gleichsschaltung 412 mit einem vorbestimmten Schwellenwert verglichen, wodurch ein im ID-Feld enthaltenes Sektorpuls signal erhalten wird. Eine Ausgabe der AGC-Schaltung 400, die das ID-Signal empfing, wird an eine Vergleichseinheit 414 gesendet. Das ID-Signal mit einer vorbestimmten Hoch frequenzkomponente wird durch einen vorbestimmten Schnitt- Pegel abgeschnitten, so daß ein HF-Detektionssignal erhalten werden kann, das während der Zeitspanne des ID-Signals ein geschaltet ist. Das Lesesystem des Optische-Platte-Steuer geräts 14 weist eine RLL-Daten-Demodulierschaltung 416, eine Synchronisier- oder Sync-Byte-Detektierschaltung 418, eine Adreßmarkierung-Detektierschaltung 420, eine ECC-Schaltung 422, eine CRC-Prüfschaltung 424, eine ID-Detektierschaltung 426 und eine Sektormarkierung-Detektier schaltung 428 auf. In den Lesedaten von der Lese-LSI- Schaltung 24 wird zuerst z. B. ein 1-7-RLL-Code durch die RLL-Daten-Demodulierschaltung 416 invers umgewandelt. Das heißt, da die Schreibdaten in z. B. den 1-7-RLL-Code umge wandelt werden, werden sie im Schreibsystem des Optische- Platte-Steuergeräts 14 beim Lesen invers umgewandelt. In diesem Fall werden ein Ergebnis der Detektion des Sync-Bytes des ID-Feldes durch die Sync-Byte-Detektierschaltung 418 und ein Ergebnis der Detektion der Adreßmarkierung durch die Adreßmarkierung-Detektierschaltung 420 verwendet, und das Datenfeld im Sektor wird erkannt. Die Demodulationsdaten der RLL-Daten-Demodulierschaltung 416 werden in die ECC-Schal tung 422 eingegeben. Wenn aus den Schreibdaten ein ECC-Code gebildet wird, bildet das Schreibsystem einen CRC-Code und addiert ihn für (die Schreibdaten + den ECC-Code) als ein Ziel. Daher führt die CRC-Prüfschaltung 424 eine CRC-Prüfung der Lesedaten durch und sendet ein Prüfungsergebnis an die ECC-Schaltung 422. Wenn kein CRC-Prüffehler vorliegt, detek tiert und korrigiert die ECC-Schaltung 422 einen Fehler der gelesenen Daten und gibt die korrigierten Daten als NRZ-Daten aus. In diesem Fall detektiert die ID-Detektierschal tung 426 das ID-Feld aus den gelesenen Daten des ID-Feldes und gibt ein Aktualisier-Benachrichtigungssignal der ID-Detektion bei einer Endzeitsteuerung des ID-Feldes an die MPU 12 aus. Die Adreßmarkierung-Detektierschaltung 420 de tektiert die in den Lesedaten des ID-Feldes enthaltene Adreßmarkierung und gibt ein Adreßmarkierung-Detektionssig nal an die MPU 12 aus. Ferner detektiert die Sektormarkie rung-Detektierschaltung 428 die Sektormarkierung, die an der Kopfposition des ID-Feldes vorhanden ist, und gibt ein Sek tormarkierung-Detektionssignal an die MPU 12 aus.

Fig. 28A bis 28G sind Zeitdiagramme für das ID-Signal, HF-Detektionssignal, Sektormarkierung-Detektionssignal, Er ste-Adreßmarkierung-Detektionssignal, Zweite-Adreßmarkie rung-Detektionssignal und das ID-Detektion-Abschlußsignal für die Sektorinformation zur Zeit der Lichtemissionsfein einstellung. In der Sektorinformation von Fig. 28A wurden zuerst eine Servomarkierung SM, eine VFO, eine erste Adreß markierung AM1, erste ID-Information 1, eine zweite Adreß markierung AM2 und eine zweite ID-Information 2 im ID-Feld am Kopf des Sektors aufgezeichnet. Die Aufzeichnungsinforma tion des ID-Feldes ist als ein Beispiel im Fall des PWM-Aufzeichnungsmediums dargestellt. Im Fall des PPM-Aufzeich nungsmediums gibt es drei Adreßmarkierungen erster bis drit ter Adreßmarkierungen AM1 bis AM3. Bezüglich des obigen ID-Feldes wird, wie in Fig. 28D dargestellt ist, das ID-Feld signal als ein Hochfrequenzsignal abgeleitet, das durch ein Intervall zwischen den Aufzeichnungsvertiefungen bestimmt ist. Durch Einstellen eines vorbestimmten Schnitt-Pegels wird das HF-Detektionssignal von Fig. 28 während einer Zeit periode des ID-Feldes auf den EIN-Zustand eingestellt. Daher kann das Ende des ID-Feldes bei einer Zeitsteuerung detek tiert werden, wenn das HF-Detektionssignal von, EIN nach AUS geschaltet wird. Das Sektormarkierung-Detektionssignal von Fig. 28D wird zum Zeitpunkt des Endes der Sektormarkierung eingeschaltet. Das Zweite-Adreßmarkierung-Detektionssignal von Fig. 28E wird zum Zeitpunkt des Endes der ersten Adreß markierung AM1 eingeschaltet. Das Zweite-Adreßmarkierung- Detektionssignal von Fig. 28F wird zum Zeitpunkt des Endes der zweiten Adreßmarkierung AM2 eingeschaltet. Zeiten T1, T2 und T3, die vom Einschalten des Sektormarkierung-Detektions signals, Erste-Adreßmarkierung-Detektionssignals und Zweite- Adreßmarkierung-Detektionssignals bis zum Zeitpunkt des En des des ID-Feldes der Sektorinformation erforderlich sind, wurden vorbestimmt. Die Zeiten T1 bis T3 sind Zeiten, die durch die radiale Position der Mediumspur, wo die Sektor information gelesen wird, die Länge in der Umfangsrichtung des ID-Feldes und die Drehgeschwindigkeit des Mediums durch den Spindelmotor bestimmt sind. Bezüglich der Detektion der Endposition des ID-Feldes versteht sich daher, daß es aus reicht, wie in Fig. 28G dargestellt ist, das ID-Detektion-Ab schlußsignal zu den Zeitpunkten einzuschalten, wenn die Wartezeiten der vorbestimmten spezifizierten Zeiten T1, T2 und T3 nach dem Einschalten des Sektormarkierung-Detektions signals, des Erste-Adreßmarkierung-Detektionssignals und des Zweite-Adreßmarkierung-Detektionssignals verstreichen. Be züglich des HF-Detektionssignals von Fig. 28C reicht es aus, das ID-Detektion-Abschlußsignal bei der Zeitsteuerung einzu schalten, wenn es von EIN nach AUS geschaltet wird.

Fig. 29 ist ein Flußdiagramm für die Lichtemissionsfein einstellung in dem Fall, in dem das Sektormarkierung-Detek tionssignal und das Adreßmarkierung-Detektionssignal in Fig. 28A bis 28G für den ID-Feld-Detektionsabschluß verwendet werden und das Detektionssignal des Wagenpositionssensors 56 in Fig. 2 zur Unterscheidung bezüglich des Testzonenbereichs verwendet wird. Im Flußdiagramm für die Lichtemissionsfein einstellung sind die Prozesse zwischen Schritt S3 und Schritt S10 in der Lichtemissionsfeineinstellung für jede der Löschenergie, der ersten Schreibenergie und der zweiten Schreibenergie in Fig. 20, 22 und 24 durch eine alternie rende Routine 500 ersetzt, die durch eine abwechselnd lang und kurz gestrichelte Linie dargestellt ist, so daß jede Lichtemissionsfeineinstellung realisiert werden kann. In der alternierenden Routine 500 in Fig. 29 wird zuerst in Schritt S101 ein ID-Detektion-Zeitgeberwert eingestellt, der für die Detektion des ID-Feldes verwendet wird, und der Prozeß wird gestartet. In Schritt S102 wird unterschieden, ob die Sek tormarkierung detektiert worden ist oder nicht. Bis die Sek tormarkierung detektiert wird, wird eine Prüfung in Schritt S103 vorgenommen, um zu sehen, ob der Zeitgeber die Zeit überschritten hat oder abgelaufen ist. Wenn die Sektor markierung in Schritt S102 normal detektiert wird, folgt Schritt S110, und die Positionsinformation des Wagenposi tionssensors wird gelesen. In Schritt S111 wird eine Prüfung vorgenommen, um zu sehen, ob die gegenwärtige Position in nerhalb des Testzonenbereichs liegt. Falls JA gilt, folgt Schritt S113. Da die Sektormarkierung detektiert ist, nach dem man den Prozeß für die vorbestimmte Wartezeit T1 bezüg lich der Detektion der Sektormarkierung warten ließ, wird in diesem Fall der ID-Feld-Detektionsabschluß erkannt, und die Verarbeitungsroutine geht zu den Prozessen in Schritt S10 und folgenden Schritten weiter. Wenn in Schritt S102 die Sektormarkierung nicht detektiert werden kann und der Zeit geber in Schritt S3 die Zeit überschreitet, wird der ID-Detektion-Zeitgeberwert wieder in Schritt S104 eingestellt, und der Prozeß wird gestartet. In Schritt S105 wird eine Prüfung vorgenommen, um zu sehen, ob die erste Adreßmarkie rung AM1 detektiert worden ist. Wenn die erste Adreßmarkie rung normal detektiert werden kann, wird die Positionsinfor mation des Wagenpositionssensors in Schritt S110 gelesen. Wenn in Schritt S111 erkannt wird, daß die gegenwärtige Po sition in der Testzone vorliegt, läßt man den Prozeß in Schritt S113, während einer spezifizierten Zeit bis zum Kopf des Datenfeldes, in diesem Fall zum Zeitpunkt der Detektion der ersten Adreßmarkierung während der spezifizierten Zeit T2 warten. Danach wird bestimmt, daß das Ende des ID-Feldes detektiert wurde. Die Verarbeitungsroutine geht zu Prozessen in Schritt S10 und folgenden Schritten weiter. Wenn die er ste Adreßmarkierung AM1 in Schritt S105 nicht detektiert werden kann und der Zeitgeber in Schritt S106 abläuft, wird der ID-Detektion-Zeitgeberwert wieder eingestellt, und der Prozeß wird in Schritt S107 gestartet. Danach wird in Schritt S108 die zweite Adreßmarkierung AM2 detektiert. Wenn die zweite Adreßmarkierung AM2 detektiert werden kann, geht die Verarbeitungsroutine durch die Schritte S110 und S111 zu Schritt S113 weiter. Wenn die zweite Adreßmarkierung detek tiert wird, läßt man den Prozeß während der spezifizierten Zeit T3 bis zum Kopf des Datenfeldes warten. Das Ende des ID-Feldes wird detektiert, und die Verarbeitungsroutine geht zu Prozessen in Schritt S10 und folgenden Schritten weiter. Wenn die zweite Adreßmarkierung in Schritt S108 nicht detek tiert werden kann und der Zeitgeber in Schritt S109 abläuft, wird die Verarbeitungsroutine als Abnormität beendet. Auf der Basis der Positionsinformation des Wagenpositionssensors in Schritt S111 folgt Schritt S112, wenn bei der Unterschei dung darüber, ob die gegenwärtige Position innerhalb des Testzonenbereichs liegt oder nicht, bestimmt wird, daß die gegenwärtige Position außerhalb des Testzonenbereichs liegt. Den Lichtstrahl läßt man wieder die Testzone aufsuchen. Da nach werden die Prozesse von Schritt S101 an wiederholt.

Fig. 30 ist ein Flußdiagramm einer anderen Ausführungs form zum Detektieren der Endposition des ID-Feldes bei der Lichtemissionsfeineinstellung der Erfindung. In einer Fig. 29 ähnlichen Art und Weise ist dieses Flußdiagramm als eine alternierende Routine 600 dargestellt, die für die Prozesse in Schritten S3 bis S10 in Fig. 20, 22 und 24 substituiert ist. In der alternierenden Routine 600 wird zuerst in Schritt S201 ein ID-Detektion-Zeitgeberwert eingestellt, und der Prozeß wird gestartet. In Schritt S202 wird eine Prüfung vorgenommen, um zu sehen, ob das HF-Signal des ID-Feldes de tektiert worden ist. Da das HF-Detektionssignal des ID-Feldes durch das Lesen des ID-Feldes eingeschaltet wird, wie in Fig. 28C dargestellt ist, wird die HF-Detektion des ID-Feldes durch das Einschalten des HF-Detektionssignals er kannt. Die Verarbeitungsroutine geht zu Schritt S204 weiter, und die Positionsinformation des Wagenpositionssensors wird gelesen. Wenn in Schritt S205 erkannt wird, daß die gegen wärtige Position innerhalb des Testzonenbereichs liegt, läßt man den Prozeß bis zum Ende der HF-Detektion in Schritt S206 warten. Wenn das ID-Feld beendet ist, wie in Fig. 28C darge stellt ist, wird das Ende der HF-Detektion erkannt, weil das HF-Detektionssignal vom EIN-Zustand ausgeschaltet wird. Die Verarbeitungsroutine geht zu Prozessen in Schritt S10 und folgenden Schritten weiter. Wenn das HF-Signal des ID-Feldes in Schritt S202 nicht detektiert wird und der Zeitgeber in Schritt S203 abläuft, wird die Verarbeitungsroutine als Ab normität beendet. Wenn die gegenwärtige Position außerhalb des Testzonenbereichs in Schritt S205 liegt, wird die Verar beitungsroutine zu Schritt S207 zurückgeführt, und man läßt den Lichtstrahl die Testzone aufsuchen. Danach werden die Prozesse von Schritt S201 an wiederholt. Als eine andere Ausführungsform zum Detektieren der Endposition des ID-Feldes wird ferner eines oder mehrere von Detektionssignalen unter dem HF-Detektionssignal, Sektormarkierung-Detektions signal und Erste- und Zweite-Adreßmarkierung-Detektions signalen der Fig. 28C, 28D, 28E und 28F geeignet kombiniert, und in dem Fall, in dem einige spezifische Signale unter den Detektionssignalen nicht detektiert werden können, wird die Endposition des ID-Feldes durch die anderen Detektionssig nale detektiert, wodurch eine Redundanz erhöht und die End position des ID-Feldes sicher bestimmt wird. Die Lichtemis sionsansteuerung für die Lichtemissionsfeineinstellung wird in allein dem Datenfeld durchgeführt, und die genaue Licht emissionseinstellung kann durchgeführt werden, ohne der Fluktuation des Rückkehrlichts unterworfen zu sein.

Gemäß der Erfindung, wie sie oben angeführt wurde, wird in dem Zustand, in dem die Auf-Spur-Steuerung nach dem Auf suchen der Testzone des Mediums bestätigt ist, in dem Fall einer Durchführung der Feineinstellung der lichtemittie renden Energie der Laserdiode, während die automatische Energiesteuerung (APC) mit der lichtemittierenden Zeitsteue rung der Laserdiode synchron gehalten wird, zur Zeit der Lichtemission gemäß der Testenergie unterschieden, ob die gegenwärtige Position innerhalb des Testzonenbereichs liegt oder nicht. Wenn die gegenwärtige Position außerhalb des Testzonenbereichs liegt, kann durch erneutes Aufsuchenlassen des Kopfes der Testzone eine derartige Situation sicher ver mieden werden, daß die Benutzerdaten zur Zeit der Licht emissionsfeineinstellung, die im Auf-Spur-Zustand ausgeführt wird, irrtümlicherweise zerstört werden. Bezüglich der Lich temissionsfeineinstellung, die im Auf-Spur-Zustand durchge führt wird, wird die Lichtemissionsfeineinstellung durch die Lichtemissionsansteuerung der Laserdiode von dem Zeitpunkt der Detektion des Endes des ID-Feldes des Sektors, nämlich vom Kopf des Datenfeldes, an ausgeführt. Somit kann das Pro blem der Art, daß die Fluktuation des Rückkehrlichts infolge der Lichtemissionsansteuerung des ID-Feldes gemessen und der Einstellungsfehler hervorgerufen wird, sicher vermieden wer den. Die Steuerung mit hoher Genauigkeit der licht emittierenden Energie durch die Laserdiode, die an das Auf zeichnungsmedium mit hoher Dichte der PWM-Aufzeichnung ange paßt ist, in der die Lichtemissionsfeineinstellung mit hoher Genauigkeit erforderlich ist, wird realisiert. Die Zuverläs sigkeit der Aufzeichnung und Wiedergabe des Aufzeichnungs mediums mit hoher Dichte kann beachtlich verbessert werden.

Die Erfindung ist nicht auf die in den obigen Ausfüh rungsformen dargestellten Zahlenwerte beschränkt. Die Pro zesse der Lichtemissionsfeineinstellung können durch eine Programmsteuerung durch die MPU realisiert werden oder kön nen auch durch eine zweckbestimmte Firmware oder eine Pro grammsteuerung des DSP realisiert werden.

Claims

1. Optisches Speichergerät mit:
einer Laserdiode zum Emittieren von Strahllicht;
einer Lichtemissionsstromquellenschaltung zum Liefern von Ansteuerströmen gemäß einer Vielzahl von Energien an die Laserdiode;
einer automatischen Energiesteuereinheit zum Steuern ei ner lichtemittierenden Energie der Laserdiode auf eine spe zifizierte Zielenergie;
einem Überwachungsdetektor zum Empfangen eines Laser strahls von der Laserdiode und Detektieren einer Meßenergie;
einer Überwachungsenergie-Meßeinheit zum Lesen eines vom Überwachungsdetektor abgeleiteten Überwachungsstroms als ei nen Energiemeßwert;
einer Verarbeitungseinheit für eine Lichtemissionsfein einstellung zum Liefern eines lichtemittierenden Stroms ei ner vorbestimmten Testenergie an die Laserdiode in einem Zu stand, in dem eine Auf-Spur-Steuerung bestätigt ist, nach Aufsuchen einer vorbestimmten Testzone, zum Lichtemission- Ansteuern der Laserdiode, zum Einstellen des lichtemittie renden Stroms, so daß die Meßenergie gleich der Zielenergie ist, und zum Erhalten einer Beziehung zwischen dem licht emittierenden Strom und der Ziel-Lichtemissionsenergie auf der Basis des Einstellungsergebnisses; und
einer Testzone-Bestätigungseinheit zum Unterscheiden, ob eine gegenwärtige Position innerhalb eines Bereichs der Testzone liegt oder nicht, zur Zeit des Starts der Licht emissionseinstellung der Laserdiode durch die Verarbeitungs einheit für eine Lichtemissionsfeineinstellung und zum Ak tivieren der Lichtemissionseinstellung, wenn die gegenwär tige Position innerhalb des Testzonenbereichs liegt.

2. Gerät nach Anspruch 1, worin die Verarbeitungseinheit für eine Lichtemissionsfeineinstellung nacheinander die Lichtemission bei vorbestimmten Testenergien der Lichtemis sionsstromquellenschaltung in einem Zustand anweist, in dem eine Auf-Spur-Steuerung bestätigt ist, nach Aufsuchen einer vorbestimmten Zone, die Laserdiode zur Lichtemission an steuert, einen Anweisungswert für die Lichtemissionsstrom quellenschaltung einstellt, so daß die Meßenergie gleich der Zielenergie ist, und eine Beziehung zwischen dem Anweisungs wert für die Lichtemissionsstromquellenschaltung und einer willkürlichen lichtemittierenden Energie auf der Basis des Einstellungsergebnisses erhält,
das Gerät ferner eine Subtraktionsstromquellenschaltung zum Subtrahieren eines spezifizierten Subtraktionsstroms entsprechend einer Differenz zwischen der lichtemittierenden Energie und der Zielenergie von einem Lichtabfühlstrom des Überwachungsdetektors, Umwandeln eines resultierenden Stroms in einen Überwachungsstrom und Rückkoppeln des Überwa chungsstroms zur automatischen Energiesteuereinheit auf weist,
die Überwachungsenergie-Meßeinheit den von der Subtrak tionsstromquellenschaltung abgeleiteten Überwachungsstrom als einen Energiemeßwert liest, und
die Verarbeitungseinheit für eine Lichtemissionsfein einstellung nacheinander die Lichtemission bei Testenergien an zumindest zwei vorbestimmten Punkten der Lichtemissions stromquellenschaltung in einem Zustand anweist, in dem die Auf-Spur-Steuerung bestätigt ist, nach Aufsuchen der vorbe stimmten Testzone, die Laserdiode zur Lichtemission ansteu ert, spezifizierte Subtraktionsströme entsprechend den Test energien an den beiden Punkten der Subtraktionsstromquellen schaltung anweist, den Anweisungswert der Lichtemissions stromquellenschaltung so einstellt, daß die Meßenergie der Überwachungsenergie-Meßeinheit gleich der Zielenergie ist,
und die Beziehung zwischen dem Anweisungswert der Licht emissionsstromquellenschaltung und der willkürlichen licht emittierenden Energie auf der Basis des Einstellungsergeb nisses erhält.

3. Gerät nach Anspruch 1, worin die Testzone-Bestäti gungseinheit durch Lesen eines ID-Feldes einer Medienspur unterscheidet, ob die gegenwärtige Position innerhalb des Spurzonenbereichs liegt oder nicht.

4. Gerät nach Anspruch 1, worin in der Testzone-Bestäti gungseinheit eine absolute Position eines Positionierers zum Bewegen einer Bilderzeugungsposition des Lichtstrahls in ei ner radialen Richtung eines Mediums durch einen Positions sensor detektiert wird, wodurch unterschieden wird, ob die gegenwärtige Position innerhalb des Testzonenbereichs liegt oder nicht.

5. Gerät nach Anspruch 1, worin, wenn die gegenwärtige Position außerhalb des Testzonenbereichs liegt, die Test zone-Bestätigungseinheit erlaubt, daß eine Aufsuch- oder Suchoperation zur Testzone wieder ausgeführt wird.

6. Gerät nach Anspruch 1, worin, wenn die gegenwärtige Position nicht erkannt werden kann, die Testzone-Bestäti gungseinheit die Lichtemissionseinstellung der Laserdiode sperrt.

7. Gerät nach Anspruch 1, worin als Merkmale zum Erken nen der gegenwärtigen Position die Testzone-Bestätigungs einheit ein Merkmal eines Lesens eines ID-Feldes einer Me dienspur und ein Merkmal einer absoluten Position eines Po sitionierers aufweist, um eine durch einen Positionssensor detektierte Bilderzeugungsposition des Lichtstrahls einer Objektivlinse in einer radialen Richtung eines Mediums zu bewegen, irgendeines der Vielzahl von Merkmalen ausgewählt wird, um dadurch die gegenwärtige Position zu erkennen, und, wenn die gegenwärtige Position durch das ausgewählte Merkmal nicht erkannt werden kann, das Merkmal zu einem anderen Merkmal gewechselt oder geschaltet wird, dadurch die gegen wärtige Position erkennend.

8. Gerät nach Anspruch 1, worin die Verarbeitungseinheit für eine Lichtemissionsfeineinstellung und die Testzone- Bestätigungseinheit eine Lichtemissionsfeineinstellung der Laserdiode, die von einer Bestätigung der Testzone begleitet wird, durch eine Anfangsoperation durchführen, kurz nachdem eine Medienkassette eingesetzt wurde.

9. Gerät nach Anspruch 1, worin die Verarbeitungseinheit für eine Lichtemissionsfeineinstellung und die Testzone- Bestätigungseinheit eine Lichtemissionsfeineinstellung der Laserdiode, die von einer Bestätigung der Testzone begleitet wird, durch eine Wiederhol-Operation durchführen.

10. Gerät nach Anspruch 1, worin in einem Zustand, in dem ein Befehl von einem übergeordneten Gerät nicht ausge geben wird, die Verarbeitungseinheit für eine Lichtemis sionsfeineinstellung und die Testzone-Bestätigungseinheit eine Lichtemissionsfeineinstellung der Laserdiode, die von einer Bestätigung der Testzone begeleitet wird, in vorbe stimmten Zeitintervallen durchführen.

11. Gerät nach Anspruch 1, worin die Verarbeitungs einheit für eine Lichtemissionsfeineinstellung jede einer Löschenergie und einer ersten Schreibenergie in dem Fall einstellt, in dem ein in das Gerät geladenes Medium ein Auf zeichnungsmedium einer Vertiefung-Position-Modulation (PPM) ist, und jede der Löschenergie, ersten Schreibenergie und einer zweiten Schreibenergie in dem Fall einstellt, in dem das in das Gerät geladene Medium ein Aufzeichnungsmedium einer Pulsbreitenmodulation (PWM) ist.

12. Gerät nach Anspruch 1, ferner mit einer Halteeinheit für die automatische Energiesteuerung zum Halten einer Steuerung der automatischen Energiesteuereinheit während ei ner Zeitspanne einer Lichtemissionsansteuerung, wenn die La serdiode durch die Verarbeitungseinheit für eine Licht emissionsfeineinstellung zur Lichtemission angesteuert wird.

13. Optisches Speichergerät mit:
einer Laserdiode zum Emittieren von Strahllicht;
einer Lichtemissionsstromquellenschaltung zum Liefern von Ansteuerströmen gemäß einer Vielzahl von Energien an die Laserdiode;
einer automatischen Energiesteuereinheit zum Steuern ei ner lichtemittierenden Energie der Laserdiode auf eine spe zifizierte Zielenergie;
einem Überwachungsdetektor zum Empfangen eines Laser strahls von der Laserdiode und Detektieren einer Meßenergie;
einer Überwachungsenergie-Meßeinheit zum Lesen eines vom Überwachungsdetektor abgeleiteten Überwachungsstroms als ei nen Energiemeßwert;
einer Verarbeitungseinheit für eine Lichtemissionsfein einstellung zum Liefern eines lichtemittierenden Stroms ei ner vorbestimmten Testenergie an die Laserdiode in einem Zu stand, in dem eine Auf-Spur-Steuerung bestätigt ist, nach Aufsuchen einer vorbestimmten Testzone, zum Lichtemission- Ansteuern der Laserdiode, zum Einstellen des lichtemittie renden Stroms, so daß die Meßenergie gleich der Zielenergie ist, und zum Erhalten einer Beziehung zwischen dem licht emittierenden Strom und der Ziel-Lichtemissionsenergie auf der Basis des Einstellungsergebnisses; und
einer Lichtemission-Zeitsteuereinheit, um in dem Fall, in dem die Laserdiode durch die Verarbeitungseinheit für ei ne Lichtemissionsfeineinstellung zur Lichtemission ange steuert wird, zu erlauben, daß die Lichtemissionseinstellung der Laserdiode in nur einem Datenfeld, während ein ID-Feld vermieden wird, bezüglich jedes der Spursektoren ausgeführt wird, die Auf-Spur-gesteuert werden.

14. Gerät nach Anspruch 13, worin die Verarbeitungs einheit für eine Lichtemissionsfeineinstellung nacheinander die Lichtemission bei den vorbestimmten Testenergien der Lichtemissionsstromquellenschaltung in einem Zustand an weist, in dem eine Auf-Spur-Steuerung bestätigt ist, nach Aufsuchen einer vorbestimmten Zone, die Laserdiode zur Lich temission ansteuert, einen Anweisungswert für die Lichtemis sionsstromquellenschaltung einstellt, so daß die Meßenergie gleich der Zielenergie ist, und eine Beziehung zwischen dem Anweisungswert für die Lichtemissionsstromquellenschaltung und einer willkürlichen lichtemittierenden Energie auf der Basis des Einstellungsergebnisses erhält,
das Gerät ferner eine Subtraktionsstromquellenschaltung zum Subtrahieren eines spezifizierten Subtraktionsstroms entsprechend einer Differenz zwischen der lichtemittierenden Energie und der Zielenergie von einem Lichtabfüllstrom des Überwachungsdetektors, Umwandeln eines resultierenden Stroms in einen Überwachungsstrom und Rückkoppeln des Überwachungs stroms zur automatischen Energiesteuereinheit aufweist,
die Überwachungsenergie-Meßeinheit den von der Subtrak tionsstromquellenschaltung abgeleiteten Überwachungsstrom als einen Energiemeßwert liest, und
die Verarbeitungseinheit für eine Lichtemissionsfein einstellung nacheinander die Lichtemission bei Testenergien an zumindest zwei vorbestimmten Punkten der Lichtemissions stromquellenschaltung in einem Zustand anweist, in dem die Auf-Spur-Steuerung bestätigt ist, nach Aufsuchen der vorbe stimmten Testzone, die Laserdiode zur Lichtemission ansteu ert, spezifizierte Subtraktionsströme entsprechend den Test energien an den beiden Punkten der Subtraktionsstromquellen schaltung anweist, den Anweisungswert der Lichtemissions stromquellenschaltung so einstellt, daß die Meßenergie der Überwachungsenergie-Meßeinheit gleich der Zielenergie ist, und die Beziehung zwischen dem Anweisungswert der Licht emissionsstromquellenschaltung und der willkürlichen licht emittierenden Energie auf der Basis des Einstellungsergeb nisses erhält.

15. Gerät nach Anspruch 13, worin zu einem Zeitpunkt, wenn ein Aktualisieren einer ID-Detektion mitgeteilt wird, die Lichtemission-Zeitsteuereinheit erkennt, daß das ID-Feld beendet ist und die gegenwärtige Position am Kopf des Daten feldes vorliegt, wodurch erlaubt wird, daß die Lichtemis sionseinstellung der Laserdiode ausgeführt wird.

16. Gerät nach Anspruch 13, worin zu einem Zeitpunkt, wenn eine spezifizierte Zeit verstreicht, nachdem eine in dem ID-Feld enthaltene Sektormarkierung detektiert wurde, die Lichtemission-Zeitsteuereinheit erkennt, daß das ID-Feld beendet ist und die gegenwärtige Position am Kopf des Daten feldes vorliegt, wodurch erlaubt wird, daß die Lichtemis sionseinstellung der Laserdiode ausgeführt wird.

17. Gerät nach Anspruch 13, worin zu einem Zeitpunkt, wenn eine spezifizierte Zeit verstreicht, nachdem eine im ID-Feld enthaltene Adreßmarkierung detektiert wurde, die Lichtemission-Zeitsteuereinheit erkennt, daß das ID-Feld be endet ist und die gegenwärtige Position am Kopf des Daten feldes vorliegt, wodurch erlaubt wird, daß die Lichtemis sionseinstellung der Laserdiode ausgeführt wird.

18. Gerät nach Anspruch 13, worin zu einem Zeitpunkt, wenn eine durch Vergleichen eines Lesesignals des ID-Feldes mit einem vorbestimmten Slice- oder Schnitt-Pegel erhaltene Ausgabe nicht fluktuiert, die Lichtemission-Zeitsteuerein heit erkennt, daß das ID-Feld beendet ist und die gegen wärtige Position am Kopf des Datenfeldes vorliegt, wodurch erlaubt wird, daß die Lichtemissionseinstellung der Laser diode ausgeführt wird.

19. Gerät nach Anspruch 13, worin gemäß der Zahl von Ma len, die auf der Basis einer physikalischen Länge des Daten feldes bestimmt ist, die durch eine Medienart und eine Dreh geschwindigkeit des Mediums durch einen Spindelmotor be stimmt ist, die Lichtemission-Zeitsteuereinheit die Laser diode bei einer Zeitsteuerung des Datenfeldes intermittie rend zur Lichtemission ansteuert und die Energie durch die Überwachungsmeßeinheit in jeder Zeitspanne einer Licht emission gemessen wird.

20. Gerät nach Anspruch 13, worin, wenn ein Ende des ID-Feldes nicht erkannt werden kann, die Lichtemission-Zeit steuereinheit die Lichtemissionseinstellung der Laserdiode sperrt.

21. Gerät nach Anspruch 13, worin als Merkmale zum Un terscheiden eines Endes des ID-Feldes die Lichtemission-Zeit steuereinheit ein Merkmal eines Aktualisierzeitpunktes der ID-Detektion, ein Merkmal eines Verstrichen-Zeitpunktes einer vorbestimmten Zeit von einer Detektion einer Sektor markierung an, ein Merkmal eines Verstrichen-Zeitpunktes ei ner vorbestimmten Zeit von einer Detektion einer Adreß markierung an und ein Merkmal eines Zeitpunktes aufweist, wenn ein Signal nicht fluktuiert, das durch Vergleichen ei nes ID-Signals mit einem vorbestimmten Schnitt-Pegel erhal ten wurde, irgendeines der Vielzahl von Unterscheidungsmerk malen ausgewählt wird, um dadurch das Ende des ID-Feldes zu unterscheiden, und, wenn das Ende des ID-Feldes durch das ausgewählte Unterscheidungsmerkmal nicht unterschieden wer den kann, das Unterscheidungsmerkmal zu einem anderen Unter scheidungsmerkmal geschaltet wird, und das Ende des ID-Feldes unterschieden wird.

22. Gerät nach Anspruch 13, worin die Verarbeitungsein heit für eine Lichtemissionsfeineinstellung und die Licht emission-Zeitsteuereinheit eine Lichtemissionsfeineinstel lung der Laserdiode in allein dem Datenfeld, während das ID-Feld vermieden wird, durch eine Anfangsoperation ausführen, kurz nachdem eine Medienkassette eingesetzt wurde.

23. Gerät nach Anspruch 13, worin die Verarbeitungs einheit für eine Lichtemissionsfeineinstellung und die Lich temission-Zeitsteuereinheit eine Lichtemissionsfein einstellung der Laserdiode in allein dem Datenfeld, während das ID-Feld vermieden wird, durch eine Wiederhol-Operation durchführen.

24. Gerät nach Anspruch 13, worin die Verarbeitungsein heit für eine Lichtemissionsfeineinstellung und die Licht emission-Zeitsteuereinheit eine Lichtemissionsfeineinstel lung der Laserdiode in allein dem Datenfeld, während das ID-Feld vermieden wird, zu vorbestimmten Zeitintervallen in ei nem Fall eines Zustands ausführen, in dem von einem überge ordneten Gerät kein Befehl ausgegeben wird.

25. Gerät nach Anspruch 13, worin die Verarbeitungs einheit für eine Lichtemissionsfeineinstellung jede einer Löschenergie und einer ersten Schreibenergie in einem Fall einstellt, in dem ein in das Gerät geladenes Medium ein Auf zeichnungsmedium mit einer Vertiefung-Position-Modulation (PPM) ist, und jede der Löschenergie, der ersten Schreibenergie und ei ner zweiten Schreibenergie in dem Fall einstellt, in dem das in das Gerät geladene Medium ein Aufzeichnungsmedium mit ei ner Pulsbreitenmodulation (PWM) ist.

26. Gerät nach Anspruch 13, ferner mit einer Halte einheit für eine automatische Energiesteuerung zum Halten einer Steuerung der automatischen Energiesteuereinheit wäh rend einer Zeitperiode einer Lichtemissionsansteuerung, wenn die Laserdiode durch die Verarbeitungseinheit für eine Lich temissionsfeineinstellung zur Lichtemission angesteuert wird.

27. Optisches Speichergerät mit:
einer Laserdiode zum Emittieren von Strahllicht, einer Lichtemissionsstromquellenschaltung zum Liefern von Ansteuerströmen gemäß einer Vielzahl von Energien an die Laserdiode;
einer automatischen Energiesteuereinheit zum Steuern ei ner lichtemittierenden Energie der Laserdiode auf eine spe zifizierte Zielenergie;
einem Überwachungsdetektor zum Empfangen eines Teils ei nes Laserstrahls von der Laserdiode und Erkennen eines Lichtabfühlstroms;
einer Subtraktionsstromquellenschaltung zum Subtrahieren eines spezifizierten Subtraktionsstroms entsprechend einer Differenz zwischen der lichtemittierenden Energie und der Zielenergie von einem Lichtabfühlstrom des Überwachungs detektors, Umwandeln eines resultierenden Stroms in einen Überwachungsstrom und Rückkoppeln des Überwachungsstroms an die automatische Energiesteuereinheit;
einer Überwachungsenergie-Meßeinheit zum Lesen eines von der Subtraktionsstromquellenschaltung abgeleiteten Überwa chungsstroms als einen Energiemeßwert;
einer Verarbeitungseinheit für eine Lichtemissionsfein einstellung zum Aufsuchen einer vorbestimmten Testzone in einem Zustand, in dem eine Auf-Spur-Steuerung bestätigt ist, zum Liefern lichtemittierender Ströme gemäß Testenergien an vorbestimmten zwei Punkten an die Laserdiode, zum Licht emission-Ansteuern der Laserdiode, zum Liefern spezifi zierter Subtraktionsströme entsprechend den Testenergien an den beiden Punkten durch die Subtraktionsstromquellenschal tung, zum Einstellen des lichtemittierenden Stroms, so daß die Meßenergie der Überwachungsenergie-Meßeinheit gleich der Zielenergie ist, und zum Erhalten einer Beziehung zwischen der Zielenergie und der lichtemittierenden Energie auf der Basis des Einstellungsergebnisses;
einer Testzone-Bestätigungseinheit zum Unterscheiden, ob zur Zeit des Starts der Lichtemissionseinstellung der Laser diode durch die Verarbeitungseinheit für eine Lichtemis sionsfeineinstellung eine gegenwärtige Position innerhalb eines Bereichs der Testzone liegt oder nicht, und zum Akti vieren der Lichtemissionseinstellung, wenn die gegenwärtige Position innerhalb des Testzonenbereichs liegt; und
einer Lichtemission-Zeitsteuereinheit, um in dem Fall, in dem die Laserdiode durch die Verarbeitungseinheit für ei ne Lichtemissionsfeineinstellung auf eine Lichtemission ein gestellt ist, zu erlauben, daß die Lichtemissionseinstellung der Laserdiode in allein einem Datenfeld, während ein ID-Feld vermieden wird, bezüglich jedes von Spursektoren durch geführt wird, die Auf-Spur-gesteuert werden.

28. Gerät nach Anspruch 27, worin eine Verarbeitungs einheit für eine Lichtemissionsfeineinstellung eine vor bestimmte Testzone in einem Zustand aufsucht, in dem eine Auf-Spur-Steuerung bestätigt ist, nacheinander eine Licht emission bei vorbestimmten Testenergien an vorbestimmten zwei Punkten anweist, die Laserdiode zur Lichtemission an steuert, spezifizierte Subtraktionsströme entsprechend den Testenergien an den beiden Punkten der Subtraktionsstrom quellenschaltung anweist, einen Anweisungswert für die Lich temissionsstromquellenschaltung so einstellt, daß eine Meß energie der Überwachungsenergie-Meßeinheit gleich der Ziele nergie ist, und eine Beziehung zwischen dem Anweisungswert für die Lichtemissionsstromquellenschaltung und einer will kürlichen lichtemittierenden Energie auf der Basis des Ein stellungsergebnisses erhält.

29. Gerät nach Anspruch 27, ferner mit einer Halte einheit für eine automatische Energiesteuerung zum Halten einer Steuerung der automatischen Energiesteuereinheit wäh rend einer Zeitperiode einer Lichtemissionsansteuerung, wenn die Laserdiode durch die Verarbeitungseinheit für eine Lich temissionsfeineinstellung zur Lichtemission angesteuert wird.