CN1506713A - 产生激光束检测信号的装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种设置在成像装置的光扫描单元内的用于检测预定位置的激光束的装置，以使形成在感光体表面上的静电潜像的起始位置同步。该检测装置包括激光束检测光学装置，激光束检测光学装置可由单个透镜、一个或多个彼此紧靠在一起的透镜组构成。激光检测光学装置在相对感光体起始位置的预定位置接收沿感光体方向导入的激光束，并将所接收的激光束再导向传感器，并使激光束聚焦在传感器的传感区。紧靠在一起的激光束检测光学装置可使导致激光束在传感器的传感区上不能正确聚焦的组装过程中的不对准的可能性被最小化。

Description

产生激光束检测信号的装置

技术领域

本发明一般涉及在诸如打印机、传真机、复印机等成像设备中使用的光扫描装置，具体涉及检测激光束、并产生可在成像设备的同步扫描操作中使用的激光束检测信号的装置，该装置可使部件的尺寸最小化、并能减小因制造和组装过程中部件偏差所导致的性能下降，因此可提高打印质量。

背景技术

通常，诸如打印机、传真机或复印机的成像设备的光扫描装置使用产生如激光束的光束的光源，以便在诸如感光鼓或感光带的感光体上形成静电潜像。

光扫描装置将来自例如半导体激光器光源的激光束经准直透镜转换成预定尺寸的平行光线，并将该激光束引导到高速旋转的光偏转器，该激光束的方向在光偏转器处偏转并经诸如f-θ(f-theta)透镜的扫描透镜沿感光体上的扫描线发射该激光束，从而在感光体上形成静电潜像。

为了准确地定位静电潜像最初在感光体上形成的起始位置，即激光束扫描线的起始位置，用于检测与扫描线预定起始点相关的某些预定位置的激光束的装置被使用。检测激光束的该装置产生图像成像装置所使用的使激光束触发时刻等同步的光束检测信号，以使扫描在预定起始点起动。

图1示意地表示在感光体上形成静电潜像的常规光扫描装置10。

参看图1，光扫描装置10包括：半导体激光器1，它发射激光束14；准直透镜2，它相对半导体激光器1而设置以使激光束14形成平行光线；狭缝3，穿过准直透镜2的激光束14通过狭缝3而转换成预定的形状；柱面透镜4，穿过狭缝3的激光束通过柱面透镜4而变换成线性光；以及光偏转器5，它偏转激光束14。光偏转器5包括旋转多面镜5a，多面镜5a被支承在主轴电动机上(未示出)从而以给定速度被旋转地驱动。

光扫描装置10还包括f-θ透镜6，其用于补偿从旋转多面镜5a偏转的激光束14中的误差、进而将激光束14发射到感光鼓20上。光束检测信号产生部分30产生成像装置所用的信号、以使静电潜像的形成位置沿着图中所示的横跨感光鼓20的激光束扫描线20a而正确地同步。

光束检测信号部分30包括固定在弹簧7上的反射镜8，位于不妨碍沿激光束扫描线20a的长度的激光束14的扫描的位置。反射镜8使激光束14在激光束检测透镜9的方向偏转。激光束检测透镜9具有球形、柱形或平面形的入射面和发射面、以便将激光束14从反射镜8会聚到激光束检测传感器11。激光束检测传感器11可以是光二极管传感器，它根据对激光束14的检测而产生光束检测信号。激光束检测传感器11既可组装在支承半导体激光器1的印刷电路板12(PCB)中、也可组装在分离的印刷电路板中(未示出)。

下面将说明常规光扫描装置10的操作。

根据输入图像信号，激光束14从半导体激光器1发射，并被准直透镜2转换成平行光线。接着，在穿过使激光束14形成预定形状的狭缝3之后，激光束14通过柱面透镜4，而后被由主轴电机以相对较高速度转动的多面镜5a的偏转面偏转。

接着，激光束14选择地穿过f-θ透镜6而以光点形式会聚到感光鼓20上，从而沿图1所示的主扫描方向扫描预定的有效扫描宽度的扫描线20a。此时，感光鼓20被驱动电机(未示出)驱动而沿次扫描方向转动。于是，作为沿主扫描方向的光点扫描运动和感光鼓20沿次扫描方向的转动的结果，使预定的静电潜像形成在感光鼓20上。

为了在正确的起始点启动每个扫描线20a，可在激光束扫描线20a的有效扫描宽度开始之前或结束之后，在预定位置检测从旋转多面镜5a偏转的激光束14。在图1所示的实施例中，所示的光束检测在扫描线20a开始之前的位置进行。已经穿过f-θ透镜6的激光束14被位于预定位置的反射镜8沿主扫描方向反射到激光束检测透镜9。当反射镜8所偏转的激光束14被激光束检测传感器11接收时，激光束检测传感器11响应到达的激光束14而产生光束传感信号。该光束传感信号本身可被作为光束检测信号，或作为选择还可被设置在同一PCB12上的光束检测信号产生电路(未示出)转换成适当的电压和/或电流，以便产生光束检测信号。

这样产生的光束检测信号被输送到控制器单元(未示出)，控制器单元控制在感光鼓20上的扫描开始和光点成像的时刻。该控制器利用光束检测信号确定扫描开始的正确位置。

但是，如上操作的常规光扫描装置10的结构相当复杂，其中，反射镜8和激光束检测透镜9在光扫描装置10的狭窄空间中以较大的距离分开。另外，在制造和组装诸如反射镜8、激光束检测透镜9、和激光束检测传感器11的部件的过程中，尺寸和组装偏差或误差频繁发生。

在制造和组装过程中出现误差时，激光束检测透镜9的光轴中心不能与反射镜8正确对准，使得激光束14不规则地入射到激光束检测传感器11上。于是，激光束的检测位置发生变化，因此不能保证恒定的打印质量。

发明内容

所以，本发明的一个方面是提供一个用于检测激光束检测信号的装置，其中，不使用分离的反射镜，诸如聚焦透镜的激光束检测透镜具有反射镜的功能，以使部件尺寸最小化，并减小制造和组装过程中因偏差导致的性能下降、从而提高打印质量。

本发明的另一方面提供用于检测激光束检测信号的装置，该装置能够减少部件数量而使组装过程变得较简单，从而降低制造成本。

本发明的其它方面和优点将在下文中被部分地说明，并从下文中获知或从本发明的实践中了解。

通过提供用于在光扫描单元中产生激光束检测信号的装置可实现上述和/或其它的方面，该光扫描单元使激光束横跨成像装置的感光体的表面进行扫描而在感光体上形成静电潜像，该激光束至少在具有起始点和结束点的一个扫描线上横跨感光体表面进行扫描，该成像装置使用该激光束检测信号控制光扫描单元以便在所需位置产生起始点，该激光扫描单元至少包括激光源和将激光束从激光源引导发射到定位位置范围的装置，该产生激光束检测信号的装置包括：激光束检测传感器，该传感器位于定位位置范围之外的传感器位置；单一集成光学元件，它位于该定位位置范围内的预定位置，用于接收来自该引导装置的激光束，并将所接收的激光束偏转而后将被偏转的激光束聚焦到激光束检测传感器上，激光束检测传感器响应聚焦在其上的激光束而产生表示在预定位置检测到激光束的信号。

单一集成光学元件可包括：第一面，其上形成有反射面；和第二面，它具有入射表面和形成在其上的发射表面，该入射表面具有将从引导装置接收的激光束以一入射角度引向该反射表面的第一形状，该发射表面具有将从该反射表面反射的激光束聚焦到激光束检测传感器的传感区的第二形状。

该反射表面至少可具有平面形和圆柱形中的一种形状，第一形状和第二形状至少可具有球形和圆柱形中的一种形状。

该预定位置可位于沿定位位置范围的至少一个扫描线的起始点的上游，以便在激光束入射到至少一个扫描线的起始点之前，从引导装置接收的激光束被单一集成光学元件接收。

该传感器位置可位于该至少一个扫描线与预定位置相反的一侧。

通过提供用于在光扫描单元中产生激光束检测信号的装置也可实现上述和/或其它的方面，该装置使激光束横跨成像装置的感光体的表面进行扫描而在感光体上形成静电潜像，该激光束至少在具有起始点和结束点的一个扫描线上横跨感光体表面进行扫描，该成像装置使用该激光束检测信号控制光扫描单元以便在所需位置产生起始点，该激光扫描单元至少包括激光源和将激光束从激光源引导发射到感光体的装置，该产生激光束检测信号的装置包括：激光束检测传感器；和一个或多个紧密排列的光学元件，所述光学元件聚集在预定位置、即聚集在第一预定位置和第二预定位置中至少一个预定位置，第一预定位置是所述至少一个扫描线的起始点的上游，这样在激光束入射到至少一个扫描线的起始点之前，从引导装置接收的激光束被紧密排列的一个或多个光学元件中的至少一个光学元件接收，第二预定位置是所述至少一个扫描线的结束点的下游，这样在激光束入射到所述至少一个扫描线的结束点之后，从引导装置接收的激光束被紧密排列的一个或多个光学元件中的至少一个光学元件接收，所述一个或多个紧密排列的光学元件被配置成用于接收来自该引导装置的激光束，并将所接收的激光束向激光束检测传感器偏转，而后将被偏转的激光束聚焦到激光束检测传感器上，激光束检测传感器响应聚焦在其上的激光束而产生表示在预定位置检测到激光束的信号。

一个或多个紧密排列的光学元件可包括单一集成光学元件，该单一集成光学元件具有：第一面，其上形成有反射面；和第二面，它具有入射表面和形成在其上的发射表面，该入射表面具有将从引导装置接收的激光束以一入射角度引向该反射表面的第一形状，该发射表面具有将从该反射表面反射的激光束聚焦到激光束检测传感器的传感区的第二形状。

该反射表面至少可具有平面形和圆柱形中的一种形状，该入射面和发射面至少可具有球形和圆柱形中的一种形状。

通过提供用于横跨成像装置的感光体表面的扫描激光束而在感光体上形成静电潜像的光扫描单元也可实现上述和/或其它的方面，该光扫描单元包括：激光源，用于产生激光束；用于将来自激光源的激光束引导到定位位置范围的装置，至少定位位置范围一部分是至少一个横跨感光体表面的扫描线，所述至少一个扫描线具有起始点和结束点；激光束检测传感器，它设置在光扫描单元的位于定位位置范围外的传感器位置；和一个或多个紧密排列的聚集在定位位置范围内的预定位置的光学元件，所述预定位置至少是第一预定位置和第二预定位置之一，第一预定位置是所述至少一个扫描线的起始点的上游，这样在激光束入射到至少一个扫描线的起始点之前，从引导装置接收的激光束被紧密排列的一个或多个光学元件中的至少一个光学元件接收，第二预定位置是所述至少一个扫描线的结束点的下游，这样在激光束入射到所述至少一个扫描线的结束点之后，从引导装置接收的激光束被紧密排列的一个或多个光学元件中的至少一个光学元件接收，所述一个或多个紧密排列的光学元件被配置成用于接收来自该引导装置的激光束，并将所接收的激光束向激光束检测传感器偏转，而后将被偏转的激光束聚焦到激光束检测传感器上，激光束检测传感器响应聚焦在其上的激光束而产生表示在预定位置检测到激光束的信号。

一个或多个紧密排列的光学元件可包括单一集成光学元件，该单一集成光学元件具有：第一面，其上形成有反射面；和第二面，它具有入射表面和形成在其上的发射表面，该入射表面具有将从引导装置接收的激光束以一入射角度引向该反射表面的第一形状，该发射表面具有将从该反射表面反射的激光束聚焦到激光束检测传感器的传感区的第二形状。

如果所述一个或多个紧密排列的光学元件定位在第二预定位置，则传感器位置可靠近第一预定位置，如果所述一个或多个紧密排列的光学元件定位在第一预定位置、则传感器位置可靠近第二预定位置。

该反射表面至少可具有平面形和圆柱形中的一种形状，该入射面和发射面至少可具有球形和圆柱形中的一种形状。该反射表面可由形成在第一面上的反射膜或安装在第一面上的反射镜元件构成。

附图说明

下面结合附图对优选实施例的说明将使本发明的这些和其它方面及优点变得清楚和更易于理解，在附图中：

图1是常规光扫描装置的示意顶视平面图；

图2是具有基于本发明原理的用于产生光束检测信号的装置的光扫描装置示例性实施例的顶视平面图；

图3是可在基于本发明的用于产生光束检测信号的装置中使用的聚焦透镜的示例性实施例的顶视平面图；

图4是基于本发明原理的光扫描装置的另一示例性实施例的顶视平面图。

具体实施方式

下面结合附图中所示的实例、具体说明本发明的优选实施例，其中，相同标号始终表示相同部件。

图2表示具有本发明的实施例的用于产生光束检测信号的装置130的光扫描装置100。

光扫描装置100包括：半导体激光器101，用于发射诸如激光束114的光束；准直透镜102，它形成平行光线；狭缝103，它将激光束114转换成预定形状；柱面透镜104，它将激光束114变换成线性光；光偏转器105，它偏转激光束114的方向；扫描透镜106，例如f-θ透镜，它补偿激光束114中的误差并将激光束发射到感光鼓120。

由于这些元件与上述常规装置中的元件相似，因此这里省略对它们结构的说明。

根据本发明实施例的用于产生光束检测信号的装置130包括聚焦透镜108，聚焦透镜108沿激光束114的路径，在相对感光鼓120的预定位置设置。聚焦透镜108形成激光束检测路径，并将从光偏转器105接收的激光束114偏转和聚焦到激光束检测传感器111。激光束检测传感器111根据对从聚焦透镜108反射的激光束114的检测而产生光束检测信号。控制器(未示出)利用该光束检测信号使激光束扫描线120a的起始位置同步。激光束检测传感器111可被支承在PCB112上。

在图2所示的实施例中，聚焦透镜108设置在扫描透镜106与感光鼓120之间。因此，半导体激光器101、准直透镜102、狭缝103、柱面透镜104、光偏转器105、扫描透镜106和激光束检测传感器111与聚焦透镜108一起构成激光束检测路径。

如图3所示，聚焦透镜108具有：第一面109，其上形成有用于反射激光束114的反射表面109a；和第二面110，其上形成有入射表面110a和发射表面110b。入射表面110a将激光束114的部分引导到反射表面109a，而发射表面110b将反射表面109a反射的激光束114向激光束检测传感器111的传感区发射。

入射表面110a和发射表面110b可由球形或柱面形构成，反射表面109a可由平面形或柱面形构成。

因此，聚焦透镜108的入射表面110a/反射表面109a/发射表面110b由球形/柱面形/球形、球形/平面形/球形、柱面形/柱面形/柱面形、或柱面形/平面形/柱面形的组合构成。

在将聚焦透镜108的第一面109机械加工成适当形状后，通过沉积或附着薄膜形式的反射膜或安装分离的反射镜部件，可在聚焦透镜108的第一面109上形成反射表面109a。

根据优选实施例，在装置130的聚焦透镜108中，聚焦透镜108的第一面109和第二面110被示为整体构成的单个部件。但是，在其它实施例中，聚焦透镜108可包括两个或多个彼此紧靠的光学元件，以致两个相应邻接元件之间的距离不易受到前述常规光扫描装置中可能出现的准直偏离程度的影响。

例如，根据本发明的另一实施例，聚焦透镜108可包括两个光学部件，第一个光学部件具有第一面109，另一个光学部件具有第二面110。两个光学部件可相互紧靠。换言之，在这个实施例中，图3所示的聚焦透镜108可沿垂直于聚焦透镜108光轴的线被分成或劈成两个部件，当它们的光轴准直时，该两个部件可相互紧靠。

在另一实施例中，图3所示的聚焦透镜108可被分成或劈成两个或多个部件，所有的光学元件相互紧靠，使得共同构成聚焦透镜108的光学元件组位于激光束扫描线120a的同一侧，即该组中的所有光学元件在激光束扫描线120a的起始之前或激光束扫描线120a的结束之后相互紧靠地设置。由于反射表面109a相对第二面110的紧密度，组装过程中的偏离可被最小化，所以可避免打印质量下降。

另外，虽然图3所示的优选实施例示出了三个表面，即反射表面109a、入射表面110a和发射表面110b分别执行将激光束接收和反射偏转到激光束检测传感器111并将激光束114聚焦到激光束检测传感器111的传感区的功能，这三个功能可由具有适宜的反射质量和曲率半径为R的单个凹面实现，该凹面允许入射到其上的激光束114被反射和聚焦到激光束检测传感器111的传感区。

此外，图2的优选实施例示出了位于激光束扫描线120a起始点前面的聚焦透镜108，但是，只要不妨碍横跨激光束扫描线120a而扫描的激光束114，则聚焦透镜108可位于沿激光束114扫描路径的任何位置。

可以是光电二极管传感器的激光束检测传感器111被固定在PCB112上，PCB112上用于产生激光束114的半导体激光器101可被设置成光源。

另外，激光束检测传感器111可被支承在取代PCB112的分离的支座(未示出)或分离的PCB(未示出)上。

下面将结合图2和3说明优选实施例中的装置130的操作。

首先，当激光束114从半导体激光器101发射并随后穿过准直透镜102、狭缝103、和柱面透镜104而被多面镜105a的偏转面偏转时，来自多面镜105a的激光束114穿过扫描透镜106以预定入射角入射在聚焦透镜108的入射表面110a上。

接着，入射到入射表面110a的激光束114以基于入射表面110a形状的预定折射率被折射，并被导向反射表面109a。

在反射表面109a，激光束114以与入射到反射表面109a的激光束114的入射角对称的角度被反射，并以与发射表面110b的形状相应的预定折射率被折射，进而穿过发射表面110b在激光束检测传感器111的方向会聚。对于本领域的技术人员而言，以下情况是显而易见和易于理解的，即：入射表面110a和发射表面110b的相应曲率可以是相同的，或是基于聚焦透镜108相对多面镜105和激光束检测传感器111的相对位置而明显不同的。

之后，激光束114被聚焦到支承在PCB112上的激光束检测传感器111的传感区上。

激光束检测传感器111基于所接收激光束114，或由其本身或与附加电路一起将光束检测信号发送到控制器(未示出)，该控制器控制光点在感光鼓120上的扫描开始和形成图像的时刻。

图4表示又一个实施例的光扫描装置100’，光扫描装置100’具有产生光束检测信号的装置130。

除了聚焦透镜108具有改型的扫描透镜106’，其取代图2所示的扫描透镜106而将来自光偏转器105的激光束114引导反射到聚焦透镜108之外，光扫描装置100’结构与图2所示的光扫描装置100相同。

在光扫描装置100’中，半导体激光器101、准直透镜102、狭缝103、柱面透镜104、光偏转器105和激光束检测传感器111与聚焦透镜108一起构成激光束检测路径。

从以上所述可知，根据本发明的实施例，基于本发明原理的聚焦透镜不要求反射光学部件与另一光学元件相隔较大的距离、以便将激光束聚焦到激光束检测传感器的传感区，于是可使组装过程中的组装偏差最小化，因而保证了打印质量。在单个光学元件被用作聚焦透镜的优选实施例中，由于部件数量减少，所以制造过程变得较简单并且制造成本可降低。

虽然已结合附图说明了本发明的实施例，但是对于本领域的技术人员来说，显然可以在不脱离本发明原理、构思和权利要求书及它们的等同物所限定的范围的前提下，对所述实施例作出。

Claims (20)

1.用于在光扫描单元中产生激光束检测信号的装置，所述装置使激光束横跨成像装置的感光体的表面进行扫描而在所述感光体上形成静电潜像，所述激光束至少在具有起始点和结束点的一个扫描线上横跨所述感光体表面进行扫描，所述成像装置使用所述激光束检测信号控制所述光扫描单元以便在所需位置产生所述起始点，所述激光扫描单元至少包括激光源和将从所述激光源发射的激光束引导到定位位置范围的装置，所述产生激光束检测信号的装置包括：

激光束检测传感器，它位于所述定位位置范围之外的传感器位置；

单一集成光学元件，它位于所述定位位置范围内的预定位置，用于接收来自所述引导装置的激光束、并将所接收的激光束向所述激光束检测传感器偏转，而后将被偏转的激光束聚焦到所述激光束检测传感器上，所述激光束检测传感器响应聚焦在其上的所述激光束而产生表示在所述预定位置检测到所述激光束的信号。

2.如权利要求1的装置，其特征在于，该单一集成光学元件可包括：

第一面，其上形成有反射面；和

第二面，它具有形成在其上的入射表面和发射表面，该入射表面具有将从所述引导装置接收的激光束以一入射角度引向该反射表面的第一形状，该发射表面具有将从该反射表面反射的激光束聚焦到该激光束检测传感器的传感区的第二形状。

3.如权利要求2的装置，其特征在于，该反射表面至少可具有平面形和圆柱形中的一种形状。

4.如权利要求2的装置，其特征在于，该第一形状至少可具有球形和圆柱形中的一种形状。

5.如权利要求2的装置，其特征在于，该第二形状至少可具有球形和圆柱形中的一种形状。

6.如权利要求1的装置，其特征在于，所述预定位置位于沿所述定位位置范围的所述至少一个扫描线的所述起始点的上游，以便在所述激光束入射到所述至少一个扫描线的所述起始点之前、从所述引导装置接收的激光束被所述单一集成光学元件接收。

7.如权利要求6的装置，其特征在于，所述传感器位置位于所述至少一个扫描线与所述预定位置相反的一侧。

8.用于在光扫描单元中产生激光束检测信号的装置，所述装置使激光束横跨成像装置的感光体的表面进行扫描而在所述感光体上形成静电潜像，所述激光束至少在具有起始点和结束点的一个扫描线上横跨所述感光体表面进行扫描，所述成像装置使用所述激光束检测信号控制所述光扫描单元以便在所需位置产生所述起始点，所述激光扫描单元至少包括激光源和将从所述激光源发射的激光束引导到所述感光体的装置，所述产生激光束检测信号的装置包括：

激光束检测传感器；和

一个或多个紧密排列的光学元件，所述光学元件聚集在预定位置，即聚集在第一预定位置和第二预定位置中至少一个预定位置，所述第一预定位置是所述至少一个扫描线的起始点的上游，它使得在激光束入射到至少一个扫描线的起始点之前，从所述引导装置接收的激光束被紧密排列的一个或多个光学元件中的至少一个光学元件接收，所述第二预定位置是所述至少一个扫描线的结束点的下游，它使得在激光束入射到所述至少一个扫描线的结束点之后，从所述引导装置接收的激光束被紧密排列的一个或多个光学元件中的至少一个光学元件接收，所述一个或多个紧密排列的光学元件被配置成用于接收来自所述引导装置的激光束，并将所接收的激光束向激光束检测传感器偏转，而后将被偏转的激光束聚焦到所述激光束检测传感器上，所述激光束检测传感器响应聚焦在其上的激光束而产生表示在所述预定位置检测到所述激光束的信号。

9.如权利要求8的装置，其特征在于，所述的一个或多个紧密排列的光学元件包括单一集成光学元件，该单一集成光学元件具有：第一面，其上形成有反射面；第二面，它具有入射表面和形成在其上的发射表面，该入射表面具有将从所述引导装置接收的激光束以一入射角度引向该反射表面的第一形状，该发射表面具有将从该反射表面反射的激光束聚焦到激光束检测传感器的传感区的第二形状。

10.如权利要求9的装置，其特征在于，该反射表面至少可具有平面形和圆柱形中的一种形状。

11.如权利要求9的装置，其特征在于，该入射面至少可具有球形和圆柱形中的一种形状。

12.如权利要求9的装置，其特征在于，该发射面至少可具有球形和圆柱形中的一种形状。

13.用于横跨成像装置的感光体表面而扫描激光束而在所述感光体上形成静电潜像的光扫描单元，该光扫描单元包括：

激光源，用于产生所述激光束；

用于将来自所述激光源的所述激光束引导到定位位置范围的装置，至少所述定位位置范围的一部分是至少一个横跨所述感光体表面的扫描线，所述至少一个扫描线具有起始点和结束点；

激光束检测传感器，它设置在所述光扫描单元的位于所述定位位置范围外的传感器位置；和

一个或多个紧密排列的聚集在所述定位位置范围内的预定位置的光学元件，所述预定位置至少是第一预定位置和第二预定位置之一，所述第一预定位置是所述至少一个扫描线的起始点的上游，它使得在激光束入射到至少一个扫描线的起始点之前，从所述引导装置接收的激光束被紧密排列的一个或多个光学元件中的至少一个光学元件接收，所述第二预定位置是所述至少一个扫描线的结束点的下游、它使得在激光束入射到所述至少一个扫描线的结束点之后，从所述引导装置接收的激光束被紧密排列的一个或多个光学元件中的至少一个光学元件接收，所述一个或多个紧密排列的光学元件被配置成用于接收来自该引导装置的激光束、并将所接收的激光束向所述激光束检测传感器偏转，而后将所述被偏转的激光束聚焦到所述激光束检测传感器上，所述激光束检测传感器响应聚焦在其上的激光束而产生表示在所述预定位置检测到激光束的信号。

14.如权利要求13的光扫描单元，其特征在于，

所述一个或多个紧密排列的光学元件可包括单一集成光学元件，该单一集成光学元件具有：第一面，其上形成有反射面；第二面，它具有入射表面和形成在其上的发射表面，该入射表面具有将从所述引导装置接收的激光束以一入射角度引向该反射表面的第一形状，该发射表面具有将从该反射表面反射的激光束聚焦到激光束检测传感器的传感区的第二形状。

15.如权利要求13的光扫描单元，其特征在于，

如果所述一个或多个紧密排列的光学元件定位在所述第二预定位置、则传感器位置可靠近所述第一预定位置，如果所述一个或多个紧密排列的光学元件定位在所述第一预定位置，则传感器位置可靠近所述第二预定位置。

16.如权利要求14的光扫描单元，其特征在于，该反射表面至少可具有平面形和圆柱形中的一种形状。

17.如权利要求14的光扫描单元，其特征在于，该入射面至少可具有球形和圆柱形中的一种形状。

18.如权利要求14的光扫描单元，其特征在于，该发射面至少可具有球形和圆柱形中的一种形状。

19.如权利要求14的光扫描单元，其特征在于，该反射表面可由形成在第一面上的反射膜构成。

20.如权利要求14的光扫描单元，其特征在于，该反射表面可由安装在第一面上的反射镜元件构成。

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