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CN102735945A - 信号测试装置 - Google Patents

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CN102735945A
CN102735945A CN2011100861492A CN201110086149A CN102735945A CN 102735945 A CN102735945 A CN 102735945A CN 2011100861492 A CN2011100861492 A CN 2011100861492A CN 201110086149 A CN201110086149 A CN 201110086149A CN 102735945 A CN102735945 A CN 102735945A
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test
pin
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Pending
Application number
CN2011100861492A
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李华
吴瑞
付晓伟
岳华
王太诚
刘雪红
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Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Original Assignee
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
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Publication date
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    • G06F11/2205—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
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Abstract

一种信号测试装置，包括一电路板、一第一金手指及一第一测试电路，所述第一金手指设置于电路板的第一侧，所述第一测试电路包括一第一测试点、一第二测试点及一第一电容，所述第一电容的第一端接地，第二端与第一金手指的第一引脚相连，所述第二测试点及第一金手指的第二引脚均接地，所述第一测试点及第二测试点用于对应与两探棒相连。上述信号测试装置可更方便且精确的对主板上的插槽进行信号测试。

Description

信号测试装置
技术领域
本发明涉及一种信号测试装置，特别涉及一种对PCI（Peripheral Component Interconnection，外设部件互连）插槽及PCIE（PCI-Express）插槽的时钟信号进行测试的装置。
背景技术
在对主板上PCI或PCIE插槽的信号进行测试时，一般是通过在PCI或PCIE插槽背面的电路层上焊接测试点来完成。该传统的测试方法具有以下几个缺点：第一，当焊接的测试点较多较密时，探棒与测试点接触的难度较大，且容易短路，从而损坏主板及高端精密探棒；第二，当待测主板有多个PCI或PCIE插槽时需要多次焊接；第三，焊接的测试点无法尽量靠近PCI或PCIE插槽，从而使得接入的反射信号较大，无法准确的反映真实的信号。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种更为方便且精确的信号测试装置。
一种信号测试装置，包括一电路板、一第一金手指及一第一测试电路，所述第一金手指设置于电路板的第一侧，所述第一测试电路包括一第一测试点、一第二测试点及一第一电容，所述第一电容的第一端接地，第二端与第一金手指的第一引脚相连，所述第二测试点及第一金手指的第二引脚均接地，所述第一测试点及第二测试点用于对应与两探棒相连。
上述信号测试装置通过第一测试电路将插槽内的信号引出，以方便对插槽的信号进行测量，同时所述第一测试电路中的第一电容还可以减少第一测试点处的反射信号，从而可以提高所测试的精确度。
附图说明
图1为本发明信号测试装置的较佳实施方式的第一面的示意图。
图2为图1中信号测试装置的另一面的示意图。
主要元件符号说明
电路板 10
第一金手指 12
第二金手指 15
引脚 120、121、150、151、152
第一测试电路 18
第二测试电路 19
电容 C1、C2、C3
测试点 A、B、D、E、F、G、H、I
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
下面结合附图及较佳实施方式对本发明作进一步详细描述：
请参考图1及图2，本发明信号测试装置的较佳实施方式包括一电路板10、一第一金手指12、一第二金手指15、一第一测试电路18及一第二测试电路19。
所述第一金手指12设置于电路板10的第一侧，所述第二金手指15设置于电路板10的第二侧，其中第一侧与第二侧相垂直。本实施方式中，所述第一金手指12与现有PCI卡之金手指相同，所述第二金手指15与现有PCIE卡之金手指相同。
所述第一测试电路18与第一金手指12中的引脚120及121相连，所述第二测试电路19与第二金手指15中的引脚150-152相连。
所述第一测试电路18包括一电容C1、一第一测试点A及一第二测试点B。所述电容C1的第一端接地，第二端与第一金手指12中的引脚120及第一测试点A均相连，所述第二测试点B及引脚121均接地。
当需要对主板上的PCI插槽的时钟信号进行测试时，即将所述信号测试装置的第一金手指12插入到主板的PCI插槽中，此时，所述引脚120则与PCI插槽中的时钟引脚相连、引脚121则与PCI插槽中的接地引脚相连，如此将两探棒分别与第一测试点A及第二测试点B相接触即可对PCI插槽的时钟信号进行测量。所述电容C1的电容值与连接第一测试点A及引脚120之间的传输线的阻抗相匹配，以减少第一测试点A处的反射信号，从而可以提高所测试的精确度。
所述第二测试电路19包括两电容C2及C3、第三至第八测试点D-I。所述电容C2的第一端接地，第二端与第三测试点D及引脚150均相连。所述第四测试点E接地。所述电容C3的第一端接地，第二端与第五测试点F及引脚151均相连，第六测试点G接地。所述第七测试点H与第三测试点D相连，第八测试点I与第五测试点F相连。所述第二金手指15的引脚152接地。
当需要对主板上的PCIE插槽的时钟信号进行测试时，即将所述信号测试装置的第二金手指15插入到主板的PCIE插槽中，此时，所述引脚150及151则对应与PCIE插槽中的时钟引脚相连、引脚152则与PCIE插槽中的接地引脚相连，其中所述PCIE插槽中的两时钟引脚传输差分信号。如此将两探棒分别与第三测试点D及第四测试点E相接触即可对PCIE插槽的第一时钟信号进行测量。当将两探棒分别与第五测试点F及第六测试点G相接触即可对PCIE插槽的第二时钟信号进行测量。当将两探棒分别与第七测试点H及第八测试点I相接触即可对PCIE插槽的差分时钟信号进行测量。
所述电容C2的电容值与连接第三测试点D及引脚150之间的传输线的阻抗相匹配，以减少第三测试点D处的反射信号，从而可以提高所测试的精确度。同理，所述电容C3的电容值与连接第五测试点F及引脚151之间的传输线的阻抗相匹配，以减少第五测试点F处的反射信号。
本实施方式中，所述第一测试电路18设置于所述电路板10的第一面上，第二测试电路19则设置于电路板10的第二面上，以使得具有更广阔的布线空间。当然若所述电路板10的第一面或第二面上能够容纳第一测试电路18及第二测试电路19，则所述第一测试电路18及第二测试电路19均可设置于电路板10的同一面上。

Claims (8)

1.一种信号测试装置，包括一电路板、一第一金手指及一第一测试电路，所述第一金手指设置于电路板的第一侧，所述第一测试电路包括一第一测试点、一第二测试点及一第一电容，所述第一电容的第一端接地，第二端与第一金手指的第一引脚相连，所述第二测试点及第一金手指的第二引脚均接地，所述第一测试点及第二测试点用于对应与两探棒相连。
2.如权利要求1所述的信号测试装置，其特征在于：所述第一金手指用于插入一PCI插槽内。
3.如权利要求1所述的信号测试装置，其特征在于：所述第一金手指的第一、第二引脚用于传输时钟信号。
4.如权利要求1所述的信号测试装置，其特征在于：所述信号测试装置还包括一第二金手指及一第二测试电路，所述第二金手指设置于电路板的第二侧，所述电路板的第一侧与第二侧相互垂直，所述第二测试电路包括一第二电容、一第三电容及第三至第八测试点，所述第二电容的第一端接地，第二端与第三测试点及第二金手指的第一引脚相连，所述第四测试点接地，所述第三电容的第一端接地，第二端与第五测试点及第二金手指的第二引脚均相连，第六测试点接地，所述第七测试点与第三测试点相连，第八测试点与第五测试点相连，所述第二金手指的第三引脚接地，所述第三与第四测试点、第五与第六测试点或第七与第八测试点用于对应与两探棒相连。
5.如权利要求4所述的信号测试装置，其特征在于：所述第二金手指用于插入一PCIE插槽内。
6.如权利要求4所述的信号测试装置，其特征在于：所述第二金手指的第一、第二及第三引脚用于传输时钟信号。
7.如权利要求4所述的信号测试装置，其特征在于：所述第一及第二测试电路分别设置于电路板的第一面及第二面。
8.如权利要求4所述的信号测试装置，其特征在于：所述第一及第二测试电路均设置于电路板的第一面或第二面。
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