CN103901249A - 接口信号测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种接口信号测试装置，该装置包括线路板，所述线路板上设有第一信号端、地信号端及位于线路板一侧的若干金手指，该金手可插接于待测外围设备快速传递接口插槽内，并用以在测试时将第一信号端及地信号端电连接至待测外围设备快速传递插槽的电源引脚及地引脚，所述第一信号端包括第一凸柱及位于第一凸柱中央的第一凹孔，所述地信号端包括第二凸柱及位于第二凸柱中央的第二凹孔，所述第一凹孔及第二凹孔与外部测试仪的测试插头配合连接。本发明能方便、准确地检测出PCIE插槽的电源引脚的输出电压值。

Description

接口信号测试装置

技术领域

本发明涉及一种接口测试装置，尤其涉及一种测试计算机外围设备接口信号的装置。

背景技术

近年来，随着电子通讯技术的快速发展，电脑连接总线和接口标准已逐渐更新提升。新标准PCIE（Peripheral Component Interconnect Express，主机外围设备快速传递）接口以高传输率、较大兼容性的优点而逐渐取代传统的AGP（Accelerate Graphical Port，快速图形接口）接口和PCI（Peripheral Component Interconnect，外围元件连接）接口。

随着PCIE接口的普及，PCIE端口输出信号的正常与否是备受人们关注的问题。通常，计算机主板上设有与PCIE信号端相连的PCIE插槽，该插槽上设有若干与PCIE信号端相连的引脚，该引脚包括位于B1、B2端口或A2、A3端口的12V电源引脚。随着PCIE插槽功率的提高，其输出的12V电压的准确度也尤为重要。在以往的测试中，通常采用在B1、B2引脚或A2、A3引脚上焊接测试探棒，由测试探棒或引线将两个电源信号端连接到示波器上测量电压及电流。由于PCIE插槽的引脚密集，将测试探棒或引线焊接在对应的电源引脚上会加大焊接难度，若焊接不当，不但会损坏PCIE插槽及主板；还会影响12V电源引脚的电压的正常输出；同时，若焊接处没有靠近PCIE插槽引脚的末端，则会产生干扰信号，使输出的测试电压不准确。

发明内容

本发明提供一种可方便及准确地测出外围设备快速传递插槽的电源引脚的输出电压的装置。

一种接口信号测试装置，包括线路板，所述线路板上设有第一信号端、地信号端及位于线路板一侧的若干金手指，该金手可插接于待测外围设备快速传递接口插槽内，并用以在测试时将第一信号端及地信号端电连接至待测外围设备快速传递插槽的电源引脚及地引脚，所述第一信号端包括第一凸柱及位于第一凸柱中央的第一凹孔，所述地信号端包括第二凸柱及位于第二凸柱中央的第二凹孔，所述第一凹孔及第二凹孔与外部测试仪的测试插头配合连接。

本发明的接口信号测试装置包括一与外围设备快速传递（PCIE，Peripheral Component Interconnect Express）插槽相连的线路板，该线路板上设有与PCIE插槽的12V电源引脚电连接的第一信号端及地信号端，以将PCIE插槽的12V电源引脚引出，进而通过电压表连接至线路板的第一信号端及地信号端，进而，可方便准确地测量出PCIE插槽的12V电源引脚的电压。

附图说明

图1是本发明接口信号测试装置的较佳实施例的示意图。

图2是本发明接口信号测试装置测试待测外围设备快速传递插槽时的示意图。

主要元件符号说明

接口信测试装号置	10
		待测PCIE插槽	11
线路板	12
		电压表	13
负载	15
		第一信号端	120
地信号端	121
		第二信号端	122
板边连接器	123
		引线	124
第一凸柱	201
		第二凸柱	212
第三凸柱	220
		第一凹孔	202
第二凹孔	210
		第三凹孔	222

如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。

具体实施方式

本发明的接口信号测试装置可以既方便又准确地测试出外围设备快速传递(Peripheral Component Interconnect Express, PCIE）插槽的电源输出引脚的电压及电流。

如图1和2所示，本发明的较佳实施例接口信号测试装置10包括线路板12。测试时，将线路板12安装于主板上的PCIE插槽11中。

线路板12上设有用以与待测PCIE插槽11的12V电源引脚电连接的第一信号端120、与待测PCIE插槽11的地引脚电连接的地信号端121、与待测PCIE插槽11的3.3V电压引脚电连接的第二信号端122、位于线路板12一侧的板边连接器123。第一信号端120包括金属材料制成的第一凸柱201，该第一凸柱201中央设第一凹孔202。所述地信号端121包括金属材料制成的第二凸柱212，该第二凸柱212中央设第二凹孔210。所述第三信号端122包括金属材料制成的第三凸柱220，第三凸柱220中央设第三凹孔222。所述第一凹孔202、第二凹孔210及第三凹孔222用于在测试时收容外部测试仪的测试插头。所述板边连接器123包括传输12V电压的若干第一金手指、传输地信号的若干第二金手指及传输3.3V电压的第三金手指，当金手指123插入待测PCIE插槽11时，第一至第三金手指与待测PCIE插槽11传输12V电源、地信号及传输3.3V电压的引脚对应接触。这些第一金手指还通过线路板12上的迹线连接第一信号端120；这些第二金手指还通过线路板12上的迹线连接第二信号端121；这些第三金手指还通过线路板12上的迹线连接第三信号端122。

当测试待测PCIE插槽11上的12V电源引脚的电压时，将该接口信号测试装置10的板边连接器123插入待测PCIE插槽11上，第一信号端120通过第一金手指与待测PCIE插槽11的12V引脚电连接，地信号端121通过第二金手指与待测PCIE插槽11的地引脚电连接。线路板12还包括三根引线124，这三根引线的一端分别焊接至第一凸柱201、第二凸柱212及第三凸柱220上，这三根引线的另一端用以在测试时连接负载。将线路板12的三根导线124连接于负载15两端，将电压表的正极插头插入第一信号端120的第一凹孔202中，将电压表的负极插头插入地信号端121的第二凹孔210中，观察电压表13的读数，即可得出待测PCIE插槽11上的12V电源引脚的电压值。负载15起到模拟插接在PCIE插槽上的PCIE卡的作用, 负载15的工作电流为5.5A。

当测量PCIE插槽上的3.3V的信号端的电压电流与上述测量12V电源引脚的过程相同，即将电压表的正极插头插入第二信号端122的第三凹孔222中，负极插头插入地信号端121的第二凹孔210中，观察电压表13的读数，即可得出待测PCIE插槽11上的3.3V电压引脚的电压值。

这样，就可以方便地测量出PCIE插槽上的12V电源引脚或3.3V电源引脚的电压，避免了采取焊接引线的方式测量信号，从而保护了PCIE插槽及主板不受损。

可以理解的是，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本发明的技术构思做出其它各种相应的改变与变形，而所有这些改变与变形都应属于本发明权利要求的保护范围。

Claims (3)

1.一种接口信号测试装置，包括线路板，所述线路板上设有第一信号端、地信号端及位于线路板一侧的板边连接器，所述板边连接器包括用于传输第一电压的若干第一金手指、传输地信号的若干第二金手指，这些第一金手指电连接至所述第一信号端，这些第二金手指连接至所述地信号端，所述第一信号端包括金属材料制成的第一凸柱，该第一凸柱中央设一第一凹孔，所述地信号端包括金属材料制成的第二凸柱，该第二凸柱中央设一第二凹孔，该板边连接器用于插接于待测设备的插槽内。

2.如权利要求1所述的接口信号测试装置，其特征在于：所述线路板上还设有第二信号端，所述第二信号端包括金属材料制成的第三凸柱，该第三凸柱中央设一第三凹孔，所述板边连接器包括用于传输第二电压的若干第三金手指，这些第三金手指电连接至所述第三凸柱。

3.如权利要求2所述的接口信号测试装置，其特征在于：所述接口信号测试装置还包括三根引线，这三根引线的一端分别焊接至第一至第三凸柱上，这三根引线的另一端用以在测试时连接负载。

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