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CN102692525A - Pci卡辅助测试装置 - Google Patents

Pci卡辅助测试装置 Download PDF

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Publication number
CN102692525A
CN102692525A CN2011100704078A CN201110070407A CN102692525A CN 102692525 A CN102692525 A CN 102692525A CN 2011100704078 A CN2011100704078 A CN 2011100704078A CN 201110070407 A CN201110070407 A CN 201110070407A CN 102692525 A CN102692525 A CN 102692525A
Authority
CN
China
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pci
testing weld
circuit board
testing
pci slot
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN2011100704078A
Other languages
English (en)
Inventor
付晓伟
亢泽坤
陈岩
岳华
王太诚
刘雪红
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Original Assignee
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd, Hon Hai Precision Industry Co Ltd filed Critical Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Priority to CN2011100704078A priority Critical patent/CN102692525A/zh
Priority to TW100111184A priority patent/TW201239367A/zh
Priority to US13/097,105 priority patent/US20120246371A1/en
Publication of CN102692525A publication Critical patent/CN102692525A/zh
Pending legal-status Critical Current

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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
    • G01R31/2808—Holding, conveying or contacting devices, e.g. test adapters, edge connectors, extender boards

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

一种PCI卡辅助测试装置，包括一电路板及一PCI插槽，所述电路板的第一端设置有若干金手指，第二端与所述PCI插槽相连，且所述若干金手指与PCI插槽电性连接，所述电路板上位于第一端及第二端之间还设置有若干第一测试焊盘以及若干与第一测试焊盘具有不同形状或大小的第二测试焊盘，且所述若干第一测试焊盘以及第二测试焊盘对应与PCI插槽内的若干接触点相连。上述PCI卡辅助测试装置可方便的对PCI卡进行信号测试。

Description

PCI卡辅助测试装置
技术领域
本发明涉及一种辅助测试装置，特别涉及一种PCI（Peripheral Component Interconnection，外设部件互连）卡辅助测试装置。
背景技术
在对PCI网卡进行测试时，需要在PCI网卡测试点处焊接测试探针。如此将会使得测试信号布满整个PCI网卡，从而导致PCI网卡可能被损坏。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种较为方便的PCI卡辅助测试装置。
一种PCI卡辅助测试装置，包括一电路板及一PCI插槽，所述电路板的第一端设置有若干金手指，第二端与所述PCI插槽相连，且所述若干金手指与PCI插槽电性连接，所述电路板上位于第一端及第二端之间还设置有若干第一测试焊盘以及若干与第一测试焊盘具有不同形状或大小的第二测试焊盘，且所述若干第一测试焊盘以及第二测试焊盘对应与PCI插槽内的若干接触点相连。
上述PCI卡辅助测试装置通过在电路板上设置若干不同形状、大小或颜色的测试焊盘，不仅可使得测试者方便将测试探头与测试焊盘相连，还可使得测试者在测试不同的信号参数时能及时找到对应的测试点，节省了测试时间且减少了测试错误。
附图说明
图1为本发明PCI卡辅助测试装置的较佳实施方式的示意图。
图2为图1中辅助测试装置的使用示意图。
主要元件符号说明
PCI卡辅助测试装置 1
电路板 10
PCI插槽 20
金手指 100
第一测试焊盘 110
第二测试焊盘 120
第三测试焊盘 130
主板 50
网卡 80
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
下面结合附图及较佳实施方式对本发明作进一步详细描述：
请参考图1，本发明PCI卡辅助测试装置1的较佳实施方式包括一电路板10及一PCI插槽20。所述电路板10的第一端设置有若干金手指100，第二端与所述PCI插槽20相连，且所述若干金手指100与PCI插槽20电性连接。
所述电路板10上位于第一端和第二端之间还设置有若干第一测试焊盘110、若干第二测试焊盘120以及若干第三测试焊盘130，且该若干测试焊盘对应与PCI插槽20内的接触点相连。
请参考图2，使用时，将所述电路板10具有金手指100的一端插入到一主板50的PCI插槽60上，并将一网卡80插入PCI插槽20内。此时，所述主板50工作时，所述网卡80可依次通过PCI插槽20、若干金手指100以及PCI插槽60与主板50进行通信。由于测试焊盘对应与PCI插槽20内的接触点相连，当网卡80插入到PCI插槽20内时，所述测试焊盘则分别与网卡80对应的金手指相连。测试者通过将测试探头与测试焊盘相连即可测试网卡80的信号参数。
本发明中，所述若干第一测试焊盘110、若干第二测试焊盘120以及若干第三测试焊盘130设计为不同的颜色、大小或者形状，比如，第一测试焊盘110设计为方形焊盘，代表电源信号以及接地信号；第二测试焊盘120设计为三角形焊盘，代表数据信号；第三测试焊盘130则设计为圆形，代表差分信号。如此，测试者即可在测试不同的信号参数时能及时找到对应的测试点，节省了测试时间且减少了测试错误。
可以理解的是，本实施方式中PCI插槽20与主板50上的PCI插槽60的结构相同。当然，本发明PCI卡辅助测试装置亦可用于测试包括PCI接口的显卡、声卡等的信号。

Claims (2)

1.一种PCI卡辅助测试装置，包括一电路板及一PCI插槽，所述电路板的第一端设置有若干金手指，第二端与所述PCI插槽相连，且所述若干金手指与PCI插槽电性连接，所述电路板上位于第一端及第二端之间还设置有若干第一测试焊盘以及若干与第一测试焊盘具有不同形状、大小或颜色的第二测试焊盘，且所述若干第一测试焊盘以及第二测试焊盘对应与PCI插槽内的若干接触点相连。
2.如权利要求1所述的PCI卡辅助测试装置，其特征在于：所述电路板上位于第一端及第二端之间还设置有若干第三测试焊盘，且所述若干第三测试焊盘的形状、大小或颜色与若干第一测试焊盘及第二测试焊盘不相同。
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Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20120926