[go: up one dir, main page]

CN102087451A - 有源矩阵基板、显示装置、和有源矩阵基板的检查方法 - Google Patents

有源矩阵基板、显示装置、和有源矩阵基板的检查方法 Download PDF

Info

Publication number
CN102087451A
CN102087451A CN2011100518962A CN201110051896A CN102087451A CN 102087451 A CN102087451 A CN 102087451A CN 2011100518962 A CN2011100518962 A CN 2011100518962A CN 201110051896 A CN201110051896 A CN 201110051896A CN 102087451 A CN102087451 A CN 102087451A
Authority
CN
China
Prior art keywords
distribution
inspection
input
wiring lead
check
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN2011100518962A
Other languages
English (en)
Inventor
吉田昌弘
谷本和宪
三村泰裕
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Publication of CN102087451A publication Critical patent/CN102087451A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/70—Testing, e.g. accelerated lifetime tests
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1345—Conductors connecting electrodes to cell terminals
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1345—Conductors connecting electrodes to cell terminals
    • G02F1/13458—Terminal pads
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362—Active matrix addressed cells
    • G02F1/136254—Checking; Testing
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362—Active matrix addressed cells
    • G02F1/136286—Wiring, e.g. gate line, drain line
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F2203/00—Function characteristic
    • G02F2203/69—Arrangements or methods for testing or calibrating a device
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2300/00—Aspects of the constitution of display devices
    • G09G2300/04—Structural and physical details of display devices
    • G09G2300/0421—Structural details of the set of electrodes
    • G09G2300/0426—Layout of electrodes and connections
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/22—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
    • G09G3/30—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
    • G09G3/32—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED]
    • G09G3/3208—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED]
    • G09G3/3225—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED] using an active matrix
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/34—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source
    • G09G3/36—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source using liquid crystals
    • G09G3/3611—Control of matrices with row and column drivers
    • G09G3/3648—Control of matrices with row and column drivers using an active matrix
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10—OLED displays
    • H10K59/12—Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • H10K59/131—Interconnections, e.g. wiring lines or terminals

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

本发明提供有源矩阵基板、显示装置和有源矩阵基板的检查方法。若使上侧的栅极侧开关元件(40c)成为导通状态，同时，向上侧第一、第二栅极引出检查配线(52b、52c)输入相互独立的检查信号，则能够检测出在上侧栅极配线(40)中邻接的栅极配线(40)间等的短路。若使下侧的栅极侧开关元件(40c′)成为导通状态，同时，向下侧第一、第二栅极引出检查配线(53b、53c)输入相互独立的检查信号，则能够检测出在下侧栅极配线(40)中邻接的栅极配线(40)间等的短路。若使源极侧开关元件(41c)成为导通状态，同时，向源极引出检查配线(55)输入相互独立的检查信号，则能够检测出邻接的源极配线(41)间等的短路。

Description

有源矩阵基板、显示装置、和有源矩阵基板的检查方法
本案是申请日为2007年3月12日、申请号为200780016866.X、发明名称为有源矩阵基板、显示装置、和有源矩阵基板的检查方法的专利申请的分案申请。
技术领域
本发明涉及有源矩阵基板、显示装置、和有源矩阵基板的检查方法，更详细地说，涉及包括在显示区域中形成的多个第一配线、与第一配线交叉并且在显示区域中形成的多个第二配线、和在安装区域中形成的多个端子的有源矩阵基板、显示装置、和有源矩阵基板的检查方法。
背景技术
液晶面板具有薄且轻、消耗电力少的优点。因此，液晶面板被广泛利用于例如便携式电话或PDA等便携式的终端装置、个人计算机、电视机、摄像机、数码相机等电子设备。
图4表示一直以来采用的COG(Chip On Glass：玻璃基芯片)方式的液晶面板100的一个例子。液晶面板100包括有源矩阵基板101、和与有源矩阵基板101相对的相对基板102。在有源矩阵基板101与相对基板102之间夹持有未图示的液晶层。
有源矩阵基板101具有显示区域103、引出配线区域104和安装区域105。显示区域103是以相互正交的方式形成有栅极配线103a和源极配线103b的区域。引出配线区域104是引出有栅极配线103a和源极配线103b的区域。安装区域105是用于安装例如未图示的驱动电路的区域。此外，将液晶面板100的一边设为第一边100a(在图4中为下面的边)，将夹着该第一边100a的、左右的边分别设为第二边100b、第三边100c，将与第一边100a相对的边设为第四边100d。
安装区域105形成有多个栅极端子105a和多个源极端子105b。为了实现液晶面板100的窄边框化，多个栅极端子105a和多个源极端子105b形成在有源矩阵基板101的一个区域中(例如，参照特开2003-241217号公报)。
当将有源矩阵基板101和相对基板102贴合时，有源矩阵基板101的安装区域105位于比相对基板102更靠近第一边100a一侧的位置。因此，有源矩阵基板101的第二边100b的长度H比相对基板102的第二边100b的长度L长。
在显示区域103中包括：沿着行方向(在图4中为左右方向)形成的多个栅极配线103a1、103a2、……103am；和沿着列方向(在图4中为上下方向)形成的多个源极配线103b1、103b2、……103bn。在栅极配线103a与源极配线103b的交叉部分，形成有未图示的薄膜晶体管(TFT：Thin Film Transistor)和与该薄膜晶体管连接的未图示的像素电极等。
上侧栅极引出配线106与在显示区域103的上侧(第四边100d侧)形成的栅极配线103a和在安装区域105中形成的栅极端子105a连接。上侧栅极引出配线106沿着第三边100c形成。下侧栅极引出配线107与在显示区域103的下侧(第一边100a侧)形成的栅极配线103a和在安装区域105中形成的栅极端子105a连接。下侧栅极配线103a沿着第二边100b形成。此外，图5是图4的液晶面板100的变形例，表示在显示区域103中形成的多个栅极配线103a1、103a2、……103am被交替地引出至第二边100b侧和第三边100c侧的例子。
上侧栅极配线的断线检查用配线108分别与从上侧栅极引出配线106所连接的多个栅极端子105a分别延伸出的延长配线连接。另外，上侧栅极配线的断线检查用配线108与上侧栅极配线检查衬垫109连接。因为上侧栅极配线的断线检查用配线108与上侧栅极配线检查衬垫109连接，所以，能够将栅极检查信号从上侧栅极配线检查衬垫109经由上侧栅极引出配线106一并输入至上侧栅极配线103a。
下侧栅极配线的断线检查用配线110分别与从下侧栅极引出配线107所连接的栅极端子105a分别延伸出的延长配线连接。另外，下侧栅极配线的断线检查用配线110与下侧栅极配线检查衬垫111连接。因为下侧栅极配线的断线检查用配线110与下侧栅极配线检查衬垫111连接，所以，能够将栅极检查信号从下侧栅极配线检查衬垫111经由下侧栅极引出配线107一并输入至下侧栅极配线103a。
源极引出配线112与在显示区域103中形成的源极配线103b和在安装区域105中形成的源极端子105b连接。源极侧开关元件113与源极配线103b连接。源极引出检查配线114与源极侧开关元件113和源极配线检查衬垫115连接。源极引出检查配线114沿着第三边100c和第四边100d形成。
源极配线检查衬垫115具有：输入将源极侧开关元件113导通/断开的控制信号的切换衬垫115a；对奇数侧的源极配线103b1、103b3、……103bn-1输入源极检查信号的检查衬垫115b；和对偶数侧的源极配线103b2、103b4、……103bn输入源极检查信号的检查衬垫115c。由此，能够对邻接的源极配线(例如，源极配线103b1和源极配线103b2)的各个输入不同的源极检查信号。
位于引出配线区域104的第二边100b侧的共用检查配线116，与共用电极衬垫117连接。另外，共用检查配线116与以包围显示区域103的方式形成的共用配线118连接。共用配线118具有基板间电极连接衬垫(transfer pad)118a。基板间电极连接衬垫118a与在相对基板102上形成的未图示的共用电极连接。因此，能够从共用电极衬垫117对在相对基板102上形成的共用电极施加共用电压。
在这样的液晶面板100中，在安装区域105中安装驱动电路之前进行有源矩阵基板101的电连接状态的检查(例如，参照特开2004-325956号公报和特开2005-241988号公报)。作为检查方法，使例如未图示的检查用的探针与上侧栅极配线检查衬垫109、下侧栅极配线检查衬垫111、源极配线检查衬垫115和共用电极衬垫117接触，向栅极配线103a输入栅极检查信号，向源极配线103b输入源极检查信号。由此，控制液晶的分子排列方向，例如，当利用背光源那样的照射单元从液晶面板100的背面进行照射时，在液晶面板100的显示区域103显示图像。因此，在液晶面板100的显示区域103上，能够通过例如检查员的目视检查，检查有源矩阵基板101的电连接状态。
例如，从上侧栅极配线检查衬垫109向上侧栅极配线103a和上侧栅极引出配线106输入栅极检查信号。另外，从下侧栅极配线检查衬垫111向下侧栅极配线103a和下侧栅极引出配线107输入栅极检查信号。由此，能够在液晶面板100的显示区域103上检测出栅极配线103a和栅极引出配线106、107的断线。
另外，从源极配线检查衬垫115向源极配线103b和源极引出配线112输入源极检查信号。由此，能够在液晶面板100的显示区域103上检测出源极配线103b的断线。另外，从源极配线检查衬垫115向邻接的源极配线103b的各个输入不同的源极检查信号。由此，能够在液晶面板100的显示区域103上检测出源极配线103b和源极引出配线112的短路(漏电)。
发明内容
但是，在上述的液晶面板的有源矩阵基板中，从上侧栅极配线检查衬垫将栅极检查信号一并输入至上侧栅极配线和上侧栅极引出配线。另外，从下侧栅极配线检查衬垫将栅极检查信号一并输入至下侧栅极配线和下侧栅极引出配线。即，对邻接的栅极配线的各个输入同一栅极检查信号。因此，在上述的有源矩阵基板中，会产生不能检测出栅极配线和栅极引出配线的短路(漏电)的问题。
特别地，上述的有源矩阵基板，为了实现液晶面板的窄边框化，多个栅极端子和多个源极端子集中形成在有源矩阵基板的一个区域。因此，安装区域上的栅极端子彼此的间隔和源极端子彼此的间隔变窄。因而，栅极引出配线彼此的间隔和源极引出配线彼此的间隔也变窄。因此，容易发生栅极引出配线和源极引出配线的短路。
本发明鉴于上述问题而做出，其目的在于提供能够通过简单的结构可靠地检测出有源矩阵基板的配线的短路、检查遗漏减少的有源矩阵基板、显示装置和有源矩阵基板的检查方法。
为了达到上述目的，本发明的有源矩阵基板包括：在显示区域中相互平行地形成的多个第一配线；在上述显示区域中与上述第一配线交叉、并且相互平行地形成的多个第二配线；和在安装区域中形成的多个端子，其特征在于：上述多个第一配线包括：相互邻接并在一端一侧具有驱动信号的输入端的第一组的第一配线；和相互邻接并在另一端一侧具有驱动信号的输入端的第二组的第一配线，上述有源矩阵基板包括：将上述第一组的第一配线的一端和上述端子连接的第一引出配线；将上述第二组的第一配线的另一端和上述端子连接的第二引出配线；与上述第一组的第一配线的另一端连接的第一开关元件；与上述第二组的第一配线的一端连接的第二开关元件；将上述第二配线的一端和上述端子连接的第三引出配线；与上述第二配线或上述第三引出配线连接的第三开关元件；能够向上述第一开关元件输入导通/断开控制信号的第一开关元件控制配线；能够向上述第二开关元件输入导通/断开控制信号的第二开关元件控制配线；能够向上述第三开关元件输入导通/断开控制信号的第三开关元件控制配线；能够向与上述第一组的第一配线连接的第一开关元件中相互不邻接的第一开关元件输入检查信号的第一检查配线；连接于与上述第一组的第一配线连接的第一开关元件中不与上述第一检查配线连接并且相互不邻接的第一开关元件、并能够向该第一开关元件输入检查信号的第二检查配线；能够向与上述第二组的第一配线连接的第二开关元件中相互不邻接的第二开关元件输入检查信号的第三检查配线；连接于与上述第二组的第一配线连接的第二开关元件中不与上述第三检查配线连接并且相互不邻接的第二开关元件、并能够向该第二开关元件输入检查信号的第四检查配线；能够向与上述第二配线连接的第三开关元件中相互不邻接的第三开关元件输入检查信号的第五检查配线；和连接于与上述第二配线连接的第三开关元件中不与上述第五检查配线连接并且相互不邻接的第三开关元件、并能够向该第三开关元件输入检查信号的第六检查配线。
为了达到上述目的，本发明的显示装置包括上述本发明的有源矩阵基板。
为了达到上述目的，本发明的有源矩阵基板的检查方法，是上述有源矩阵基板的检查方法，其特征在于，包括：通过从上述第一断线检查用配线输入检查信号，进行第一组的第一配线的检查的工序；通过从上述第二断线检查用配线输入检查信号，进行第二组的第一配线的检查的工序；将上述第一延长配线和第二延长配线切断的切断工序；使上述第一开关元件成为导通状态，同时，向第一检查配线和第二检查配线输入相互独立的检查信号，由此进行上述第一组的第一配线和第一引出配线的检查的工序；使上述第二开关元件成为导通状态，同时，向第三检查配线和第四检查配线输入相互独立的检查信号，由此进行上述第二组的第一配线和第二引出配线的检查的工序；和使上述第三开关元件成为导通状态，同时，向第五检查配线和第六检查配线输入相互独立的检查信号，由此进行上述第二配线的检查的工序。
发明效果
如以上所述，本发明的有源矩阵基板、显示装置和有源矩阵基板的检查方法，能起到以下效果：能够通过简单的结构可靠地检测出有源矩阵基板的配线的短路，检查遗漏减少。
附图说明
图1是表示本发明的实施方式的液晶面板的平面图。
图2是表示本发明的实施方式的另一个液晶面板的平面图。
图3是表示本发明的实施方式的另一个液晶面板的平面图。
图4是表示以往的液晶面板的平面图。
图5是表示以往的另一个液晶面板的平面图。
具体实施方式
为了达到上述目的，本发明的有源矩阵基板包括：在显示区域中相互平行地形成的多个第一配线；在上述显示区域中与上述第一配线交叉、并且相互平行地形成的多个第二配线；和在安装区域中形成的多个端子，其特征在于：上述多个第一配线包括：相互邻接并在一端一侧具有驱动信号的输入端的第一组的第一配线；和相互邻接并在另一端一侧具有驱动信号的输入端的第二组的第一配线，上述有源矩阵基板包括：将上述第一组的第一配线的一端和上述端子连接的第一引出配线；将上述第二组的第一配线的另一端和上述端子连接的第二引出配线；与上述第一组的第一配线的另一端连接的第一开关元件；与上述第二组的第一配线的一端连接的第二开关元件；将上述第二配线的一端和上述端子连接的第三引出配线；与上述第二配线或上述第三引出配线连接的第三开关元件；能够向上述第一开关元件输入导通/断开控制信号的第一开关元件控制配线；能够向上述第二开关元件输入导通/断开控制信号的第二开关元件控制配线；能够向上述第三开关元件输入导通/断开控制信号的第三开关元件控制配线；能够向与上述第一组的第一配线连接的第一开关元件中相互不邻接的第一开关元件输入检查信号的第一检查配线；连接于与上述第一组的第一配线连接的第一开关元件中不与上述第一检查配线连接并且相互不邻接的第一开关元件、并能够向该第一开关元件输入检查信号的第二检查配线；能够向与上述第二组的第一配线连接的第二开关元件中相互不邻接的第二开关元件输入检查信号的第三检查配线；连接于与上述第二组的第一配线连接的第二开关元件中不与上述第三检查配线连接并且相互不邻接的第二开关元件、并能够向该第二开关元件输入检查信号的第四检查配线；能够向与上述第二配线连接的第三开关元件中相互不邻接的第三开关元件输入检查信号的第五检查配线；和连接于与上述第二配线连接的第三开关元件中不与上述第五检查配线连接并且相互不邻接的第三开关元件、并能够向该第三开关元件输入检查信号的第六检查配线。
根据本发明的有源矩阵基板，在制造时等的检查工序中，如果利用上述导通/断开控制信号使第一开关元件成为导通状态，同时，向第一检查配线和第二检查配线输入相互独立的检查信号，则能够通过第一开关元件向第一组的第一配线和第一引出配线输入检查信号。此外，第一检查配线能够向与第一组的第一配线连接的第一开关元件中相互不邻接的第一开关元件输入检查信号。另外，第二检查配线连接于与第一组的第一配线连接的第一开关元件中不与第一检查配线连接并且相互不邻接的第一开关元件、并能够向该第一开关元件输入检查信号。因此，能够向在第一组中邻接的第一配线和邻接的第一引出配线输入相互独立的检查信号。由此，能够检测出在第一组中邻接的第一配线间的短路(漏电)、和邻接的第一引出配线间的短路。另外，与此同样，如果利用上述导通/断开控制信号使第二开关元件成为导通状态，同时，向第三检查配线和第四检查配线输入相互独立的检查信号，则能够检测出在第二组中邻接的第一配线间的短路、和邻接的第二引出配线间的短路。另外，与上述同样，如果利用上述导通/断开控制信号使第三开关元件成为导通状态，同时，向第五检查配线和第六检查配线输入相互独立的检查信号，则能够检测出邻接的第二配线间的短路、和邻接的第三引出配线间的短路。其结果，能够实现能够通过简单的结构可靠地检测出配线的短路、检查遗漏减少的有源矩阵基板。
为了达到上述目的，本发明的有源矩阵基板优选为以下方式：上述第一组的第一配线相对于上述安装区域配置在比上述第二组的第一配线更远的位置，上述第二开关元件控制配线、上述第三检查配线和上述第四检查配线形成在比上述第一引出配线更靠近显示区域一侧的位置。
在该方式中，上述第一组的第一配线相对于上述安装区域配置在比上述第二组的第一配线更远的位置，因此，上述第二开关元件控制配线、上述第三检查配线和上述第四检查配线形成在比第一组的第一引出配线更靠近显示区域一侧的位置，从而不会与第一引出配线交叉。另一方面，假设与上述相反，当将第一引出配线形成在比上述第二开关元件控制配线、上述第三检查配线和上述第四检查配线更靠近显示区域一侧的位置时，第一引出配线与上述第二开关元件控制配线、上述第三检查配线和上述第四检查配线交叉，在交叉部分产生静电电容。这样，根据本发明的上述方式，上述第二开关元件控制配线、上述第三检查配线和上述第四检查配线以不与第一引出配线交叉的方式形成在比该第一引出配线更靠近显示区域一侧的位置，由此，通过上述第一引出配线输入至上述第一组的第一配线的信号的延迟不会变大。即，不会发生由于在显示区域的第一组的第一配线和第二组的第一配线中到达电位不同而引起的所谓的块分离。
为了达到上述目的，本发明的有源矩阵基板优选还包括：从与上述第一引出配线连接的上述多个端子分别延伸出的第一延长配线；分别与上述第一延长配线连接、并能够输入检查信号的第一断线检查用配线；从与上述第二引出配线连接的上述多个端子分别延伸出的第二延长配线；和分别与上述第二延长配线连接、并能够输入检查信号的第二断线检查用配线。
根据该方式，能够从第一断线检查用配线通过第一延长配线和上述端子，向上述第一引出配线和上述第一组的第一配线输入检查信号。另外，能够从第二断线检查用配线通过第二延长配线和上述端子，向上述第二引出配线和上述第二组的第一配线输入检查信号。但是，当有源矩阵基板的配线带有静电时，在不同的配线隔着绝缘膜交叉的部分等，有可能产生伴随短路或断线的放电。与此相对，在该方式中，从多个端子分别延伸出的第一和第二延长配线分别与第一和第二断线检查用配线连接，因此，能够将在有源矩阵基板中发生的静电从第一和第二断线检查用配线除去。因此，能够抑制由静电引起的有源矩阵基板的不良的发生。其结果，能够提高有源矩阵基板的成品率。
为了达到上述目的，本发明的有源矩阵基板优选为上述第三开关元件与上述第三引出配线连接的方式。
根据该方式，从第五检查配线和第六检查配线，通过第三引出配线向第二配线输入检查信号。因此，不仅能够检测出第二配线的断线，也能够检测出第三引出配线的断线。其结果，能够实现检查遗漏减少的有源矩阵基板。
为了达到上述目的，本发明的有源矩阵基板优选上述第一配线为栅极配线、上述第二配线为源极配线的方式。
根据该方式，在检查时，第一～第四检查配线作为栅极配线起作用，第五检查配线和第六检查配线作为源极配线起作用。因此，在有源矩阵基板的显示区域上，能够检测出有源矩阵基板的配线的断线和短路。
为了达到上述目的，本发明的显示装置包括上述本发明的有源矩阵基板。此外，显示装置例如为液晶显示装置。因此，根据本发明的显示装置，因为包括可靠地检测出有源矩阵基板的配线的短路、检查遗漏少的有源矩阵基板，所以能够提高显示装置的成品率。
为了达到上述目的，本发明的有源矩阵基板的检查方法是对上述本发明的有源矩阵基板的电连接状态进行检查的有源矩阵基板的检查方法，其特征在于，包括：通过从上述第一断线检查用配线输入检查信号，进行第一组的第一配线的检查的工序；通过从上述第二断线检查用配线输入检查信号，进行第二组的第一配线的检查的工序；将上述第一延长配线和第二延长配线切断的切断工序；使上述第一开关元件成为导通状态，同时，向第一检查配线和第二检查配线输入相互独立的检查信号，由此进行上述第一组的第一配线和第一引出配线的检查的工序；使上述第二开关元件成为导通状态，同时，向第三检查配线和第四检查配线输入相互独立的检查信号，由此进行上述第二组的第一配线和第二引出配线的检查的工序；和使上述第三开关元件成为导通状态，同时，向第五检查配线和第六检查配线输入相互独立的检查信号，由此进行上述第二配线的检查的工序。
根据本发明的有源矩阵基板的检查方法，通过从第一断线检查用配线和第二断线检查用配线分别输入检查信号，能够检测出第一配线的断线。然后，在切断工序中，将第一延长配线和第二延长配线切断，由此，通过第一断线检查用配线和第二断线检查用配线电连接的端子被电切断。此后，实施使第一开关元件成为导通状态，同时，向第一检查配线和第二检查配线输入相互独立的检查信号，由此进行第一组的第一配线的检查的工序，以及同样地进行第二组的第一配线的检查的工序，由此，至少能够检测出第一组和第二组的第一配线、第一引出配线和第二引出配线的短路。其结果，能够实现能够通过简单的检查方法可靠地检测出有源矩阵基板的配线的断线和短路、检查遗漏减少的有源矩阵基板的检查方法。此外，进行上述第二配线的检查的工序，可以在上述切断工序之前也可以在其之后。
以下，参照附图对本发明的实施方式进行说明。但是，以下所参照的各图，为了说明的方便，仅简化表示了本发明的一个实施方式的构成部件中，用于说明本发明所需要的主要部件。因此，本发明的液晶面板(特别是液晶面板的有源矩阵基板)能够具备本说明书参照的各图中没有表示的任意的构成部件。另外，各图中的部件的尺寸并没有忠实地表示出实际的构成部件的尺寸和各部件的尺寸比率等。
本实施方式的液晶面板1，如图1所示，包括有源矩阵基板2、和与有源矩阵基板2相对的相对基板3。在有源矩阵基板2与相对基板3之间，夹持有未图示的液晶层。此外，本实施方式的液晶面板1能够广泛应用于便携式电话或PDA等的便携式的液晶显示装置、游戏用的液晶显示装置、汽车导航系统、个人计算机、电视机、摄像机、数码相机等的液晶显示装置。另外，在CRT(Cathode Ray Tube：阴极射线管)显示器、等离子体显示器、有机EL显示器等液晶显示装置以外的显示装置中也可以具备本实施方式的有源矩阵基板2。
有源矩阵基板2具有显示区域4、引出配线区域5和安装区域6。显示区域4是以相互交叉的方式形成有栅极配线(第一配线、第二配线)40和源极配线(第二配线、第一配线)41的区域。引出配线区域5是栅极配线40和源极配线41被引出的区域。安装区域6是用于安装例如未图示的驱动电路的区域。此外，以下，将液晶面板1的一边设为第一边1a(在图1中为下面的边)，将夹着该第一边1a的、左右的边分别设为第二边1b、第三边1c，将与第一边1a相对的边设为第四边1d。
当将有源矩阵基板2和相对基板3贴合时，有源矩阵基板2的安装区域6位于比相对基板3更靠近第一边1a一侧的位置。因此，有源矩阵基板2的第二边1b的长度H比相对基板3的第二边1b的长度L长。
安装区域6形成有多个栅极端子6a和多个源极端子6b。安装区域6是驱动电路以COG(Chip On Glass：玻璃基芯片)方式安装的区域。安装区域6并不限于该COG方式，也可以是以TCP(Tape CarrierPackage：卷带式封装)方式、COF(Chip On Film：薄膜基芯片)方式安装驱动电路或者安装有驱动电路的挠性配线基板的区域。
在显示区域4中具有：沿着行方向(在图1中为左右方向)相互平行地形成，被输入驱动信号的多个栅极配线401、402、……40m；和沿着列方向(在图1中为上下方向)相互平行地形成，被输入像素数据的多个源极配线411、412、……41n。即，栅极配线40与源极配线41以相互正交的方式形成。在栅极配线40与源极配线41的交叉部分，形成有未图示的TFT(Thin Film Transistor：薄膜晶体管)或MIM(MetalInsulator Metal：金属-绝缘体-金属)、和与该TFT或MIM连接的未图示的像素电极等。
以下，首先，对在引出配线区域5中引出有栅极配线40的结构进行说明。
此外，以下，将在显示区域4的上侧(第四边1d侧)形成的栅极配线40称为上侧栅极配线(第一组)40。另外，将在显示区域4的下侧(第一边1a侧)形成的栅极配线40称为下侧栅极配线(第二组)40。在本实施方式中，显示区域4的上侧是指图1中箭头U所示的方向。另外，显示区域4的下侧是指图1中箭头D所示的方向。但是，显示区域4的上侧和下侧并不限定于此。
上侧栅极引出配线(第一引出配线)50与上侧栅极配线40的一端部40a和在安装区域6中形成的栅极端子6a连接。上侧栅极引出配线50沿着第三边1c和第四边1d形成。此外，上侧栅极配线40的一端部40a是驱动信号的输入端。
下侧栅极引出配线(第二引出配线)51与下侧栅极配线40的另一端部40b和在安装区域6中形成的栅极端子6a连接。下侧栅极引出配线51沿着第二边1b和第四边1d形成。此外，下侧栅极配线40的另一端部40b是驱动信号的输入端。另外，上侧栅极引出配线50和下侧栅极引出配线51的配线数可以相同也可以不同。
上侧栅极配线的断线检查用配线(第一断线检查用配线)70，与从与上侧栅极引出配线50连接的多个栅极端子6a分别延伸出的第一延长配线70a连接。另外，上侧栅极配线的断线检查用配线70与第一检查用的上侧栅极配线检查衬垫7连接。此外，优选上侧栅极配线的断线检查用配线70与从多个栅极端子6a分别延伸出的第一延长配线70a分别连接。即，当有源矩阵基板2的配线带有静电时，在与带有静电的配线不同的配线隔着绝缘膜交叉的部分等，有可能产生伴随短路或断线的放电。另外，在栅极配线40与源极配线41的交叉部分设置的TFT或MIM等的特性有时会发生变化。因此，当上侧栅极配线的断线检查用配线70分别与第一延长配线70a连接时，能够将在有源矩阵基板2中产生的静电从上侧栅极配线的断线检查用配线70除去。另外，当上侧栅极配线的断线检查用配线70与第一延长配线70a分别连接时，能够从第一检查用的上侧栅极配线检查衬垫7一并向上侧栅极配线40和上侧栅极引出配线50输入栅极检查信号。
下侧栅极配线的断线检查用配线(第二断线检查用配线)80，与从与下侧栅极引出配线51连接的多个栅极端子6a分别延伸出的第二延长配线80a连接。另外，下侧栅极配线的断线检查用配线80与第一检查用的下侧栅极配线检查衬垫8连接。此外，下侧栅极配线的断线检查用配线80，基于与上述的上侧栅极配线的断线检查用配线70同样的理由，优选分别与从多个栅极端子6a分别延伸出的第二延长配线80a连接。
上侧栅极引出检查配线52具有上侧的栅极侧开关元件控制配线52a、上侧第一栅极引出检查配线52b和上侧第二栅极引出检查配线52c。
上侧的栅极侧开关元件控制配线(第一开关元件控制配线)52a与上侧的栅极侧开关元件(第一开关元件)40c连接。此外，上侧的栅极侧开关元件40c与上侧栅极配线40的另一端部40b连接。另外，上侧的栅极侧开关元件控制配线52a与第二检查用的上侧栅极配线检查衬垫9中的切换衬垫9a连接。上侧的栅极侧开关元件控制配线52a是能够向上侧的栅极侧开关元件40c输入导通/断开控制信号的控制配线。
上侧第一栅极引出检查配线(第一检查配线)52b与上侧的栅极侧开关元件40c连接。另外，上侧第一栅极引出检查配线52b与第二检查用的上侧栅极配线检查衬垫9中的检查衬垫9b连接。上侧第一栅极引出检查配线52b与上侧的栅极侧开关元件40c中相互不邻接的上侧的栅极侧开关元件40c连接。上侧第一栅极引出检查配线52b是能够向该上侧的栅极侧开关元件40c输入栅极检查信号的检查配线。
上侧第二栅极引出检查配线(第二检查配线)52c与上侧的栅极侧开关元件40c连接。另外，上侧第二栅极引出检查配线52c与第二检查用的上侧栅极配线检查衬垫9中的检查衬垫9c连接。上侧第二栅极引出检查配线52c连接于不与上侧第一栅极引出检查配线52b连接并且相互不邻接的上侧的栅极侧开关元件40c。上侧栅极引出检查配线52c是能够向该上侧的栅极侧开关元件40c输入栅极检查信号的检查配线。
在此，第二检查用的上侧栅极配线检查衬垫9具有：被输入将上侧的栅极侧开关元件40c导通/断开的控制信号的切换衬垫9a；向奇数侧的上侧栅极配线401、403、……输入栅极检查信号的检查衬垫9b；和向偶数侧的上侧栅极配线402、404、……输入栅极检查信号的检查衬垫9c。由此，能够向邻接的上侧栅极配线40(例如，栅极配线401和栅极配线402)的各个输入不同的栅极检查信号。
下侧栅极引出检查配线53具有下侧的栅极侧开关元件控制配线53a、下侧第一栅极引出检查配线53b和下侧第二栅极引出检查配线53c。
下侧的栅极侧开关元件控制配线(第二开关元件控制配线)53a与下侧的栅极侧开关元件(第二开关元件)40c′连接。此外，下侧的栅极侧开关元件40c与下侧栅极配线40的一端部40a连接。另外，下侧的栅极侧开关元件控制配线53a与第二检查用的下侧栅极配线检查衬垫10中的切换衬垫10a连接。下侧的栅极侧开关元件控制配线53a是能够向下侧的栅极侧开关元件40c′输入导通/断开控制信号的控制配线。
下侧第一栅极引出检查配线(第三检查配线)53b与下侧的栅极侧开关元件40c′连接。另外，下侧第一栅极引出检查配线53b与第二检查用的下侧栅极配线检查衬垫10中的检查衬垫10b连接。下侧第一栅极引出检查配线53b与相对于下侧的栅极侧开关元件40c′相互不邻接的下侧的栅极侧开关元件40c′连接。下侧第一栅极引出检查配线53b是能够向该下侧的栅极侧开关元件40c′输入栅极检查信号的检查配线。
下侧第二栅极引出检查配线(第四检查配线)53c与下侧的栅极侧开关元件40c′连接。另外，下侧第二栅极引出检查配线53c与第二检查用的下侧栅极配线检查衬垫10中的检查衬垫10c连接。下侧第二栅极引出检查配线53c连接于与下侧第一栅极引出检查配线53b不连接并且相互不邻接的下侧的栅极侧开关元件40c′。下侧栅极引出检查配线53c是能够向该下侧的栅极侧开关元件40c′输入栅极检查信号的检查配线。
在此，第二检查用的下侧栅极配线检查衬垫10具有：被输入将下侧的栅极侧开关元件40c′导通/断开的控制信号的切换衬垫10a；向奇数侧的下侧栅极配线40m-1、40m-3、……输入栅极检查信号的检查衬垫10b；和向偶数侧的下侧栅极配线40m、40m-2、……输入栅极检查信号的检查衬垫10c。由此，能够向邻接的下侧栅极配线40(例如，栅极配线40m和栅极配线40m-1)的各个输入不同的栅极检查信号。
此外，下侧栅极引出检查配线53优选为形成在比上侧栅极引出配线50更靠近显示区域4一侧的位置的方式。即，当如图2所示，将上侧栅极引出配线50形成在比下侧栅极引出检查配线53更靠近显示区域4一侧的位置时，上侧栅极引出配线50与下侧栅极引出检查配线53在交叉部分A交叉。与此相对，当如图1所示，将下侧栅极引出检查配线53形成在比上侧栅极引出配线50更靠近显示区域4一侧的位置时，上侧栅极引出配线50与下侧栅极引出检查配线53不交叉。因此，不会在上侧栅极引出配线50与下侧栅极引出检查配线53的交叉部分产生静电电容。因此，向显示区域4的上侧栅极配线40输入的信号的延迟不会变大。即，不会发生由于在显示区域4的上侧和下侧到达电位不同而引起的所谓的块分离。
接着，对在引出配线区域5中引出有源极配线41的结构进行说明。
源极引出配线(第三引出配线)54与在显示区域4中形成的源极配线41的一端部41a、和在安装区域6中形成的源极端子6b连接。
源极引出检查配线55具有源极侧开关元件控制配线55a、第一源极引出检查配线55b和第二源极引出检查配线55c。
源极侧开关元件控制配线(第三开关元件控制配线)55a与源极侧开关元件(第三开关元件)41c连接。此外，源极侧开关元件41c与源极配线41的另一端部41b连接。另外，源极侧开关元件控制配线55a与源极配线检查衬垫11中的切换衬垫11a连接。源极侧开关元件控制配线55a是能够向源极侧开关元件41c输入导通/断开控制信号的控制配线。
第一源极引出检查配线(第五检查配线)55b与源极侧开关元件41c连接。另外，第一源极引出检查配线55b与源极配线检查衬垫11中的检查衬垫11b连接。第一源极引出检查配线55b与相对于源极侧开关元件41c相互不邻接的源极侧开关元件41c连接。第一源极引出检查配线55b是能够向该源极侧开关元件41c输入源极检查信号的检查配线。
第二源极引出检查配线(第六检查配线)55c与源极侧开关元件41c连接。另外，第二源极引出检查配线55c与源极配线检查衬垫11中的检查衬垫11c连接。第二源极引出检查配线55c连接于与第一源极引出检查配线55b不连接并且相互不邻接的源极侧开关元件41c。第二源极引出检查配线55c是能够向该源极侧开关元件41c输入源极检查信号的检查配线。
在此，源极配线检查衬垫11具有：被输入将源极侧开关元件41c导通/断开的控制信号的切换衬垫11a；向奇数侧的源极配线411、413、……41n-1输入源极检查信号的检查衬垫11b；和向偶数侧的源极配线412、414、……41n输入源极检查信号的检查衬垫11c。由此，能够向邻接的源极配线41(例如，源极配线411和源极配线412)的各个输入不同的源极检查信号。
但是，源极侧开关元件41c，优选为如图3所示，与源极引出配线54的连结部54a连接的方式。即，源极引出配线54的连结部54a形成在安装区域6侧(第一边1a侧)。由此，从源极配线检查衬垫11按照源极引出配线54、源极配线41的顺序输入源极检查信号。因此，不仅能够检测出源极配线41的断线，也能够检测出源极引出配线54的断线。
接着，对在引出配线区域5中形成的共用检查配线56和共用配线57进行说明。
位于引出配线区域5的第二边1b侧的共用检查配线56，与共用电极衬垫12连接。另外，共用检查配线56与以包围显示区域4的方式形成的共用配线57连接。共用配线57具有基板间电极连接衬垫(transfer pad)57a。在图1中，具有4个基板间电极连接衬垫57a。基板间电极连接衬垫57a与在相对基板3上形成的未图示的共用电极连接。由此，能够从共用电极衬垫12向在相对基板3上形成的共用电极施加共用电压。
接着，对本实施方式的液晶面板1的制造方法进行说明。此外，以下，特别对检查液晶面板1的电连接状态的检查工序详细地进行说明。
在透明的玻璃基板上，叠层导电膜、绝缘膜、保护膜、取向膜等薄膜，制造形成有多个将要作为有源矩阵基板2被切出的有源矩阵基板区域的有源矩阵基板用的基底基板。另外，在透明的玻璃基板上，叠层黑矩阵、彩色滤光片、导电膜、取向膜等薄膜，制造形成有多个将要作为相对基板3被切出的相对基板区域的相对基板用的基底基板。在两个基底基板中的一个基底基板上涂敷密封剂。在涂敷密封剂之后，将两个基底基板贴合。被贴合的两个基底基板，作为形成有任意块数的具有有源矩阵基板2和相对基板3的液晶面板1的母基板进行切断。在作为母基板被切断的各个液晶面板1中，通过在有源矩阵基板2与相对基板3之间形成的注入口，通过使用例如真空注入方式注入液晶材料。此外，也可以通过使用滴下注入方式代替真空注入方式来注入液晶材料。另外，图1所示的液晶面板1表示注入液晶材料后的作为母基板切断后的1个液晶面板。因此，虽然图示省略，但在图1的液晶面板1的例如上下左右形成有其它的液晶面板。
在安装区域6中安装驱动电路之前，进行检查液晶面板1的电连接状态的检查工序。检查工序检查液晶面板1的有源矩阵基板2中的配线的断线和短路(漏电)。另外，检查工序分为检查栅极配线40的断线等的第一检查工序、和检查栅极配线40的短路等的第二检查工序。
作为检查方法，在第一检查工序中，使例如检查用的探针与第一检查用的上侧栅极配线检查衬垫7、第一检查用的下侧栅极配线检查衬垫8、源极配线检查衬垫11和共用电极衬垫12接触，并施加电压。另外，在第二检查工序中，使例如检查用的探针与第二检查用的上侧栅极配线检查衬垫9、第二检查用的下侧栅极配线检查衬垫10、源极配线检查衬垫11和共用电极衬垫12接触，并施加电压。由此，向栅极配线40输入作为扫描信号起作用的栅极检查信号。另外，向源极配线41输入作为像素数据起作用的源极检查信号。因此，液晶的分子排列方向被控制，例如当利用背光源那样的照射单元从液晶面板1的背面进行照射时，液晶面板1的显示区域4显示图像。因此，在液晶面板1的显示区域4上，能够通过例如检查员的目视检查，检查到液晶面板1的有源矩阵基板2中的配线的断线和短路。此外，也可以代替检查员的目视检查或者除了检查员的目视检查以外，使用检查装置等进行检查。
在此，对第一检查工序进行详细叙述。
以下，首先，对栅极配线40和栅极引出配线50、51的断线的检测方法进行说明。
从第一检查用的栅极配线检查衬垫7、8向栅极配线40和栅极引出配线50、51输入栅极检查信号。因此，当栅极配线40断线时，液晶面板1的显示区域4中，与断线的部位以后的栅极配线40对应的行不显示。因此，能够检测出栅极配线40的断线。另外，当栅极引出配线50、51断线时，液晶面板1的显示区域4中，与连接于已断线的栅极引出配线50、51的栅极配线40对应的1行全部不显示。因此，能够检测出栅极引出配线50、51的断线。
但是，在上述情况下，从第一检查用的栅极配线检查衬垫7、8向栅极配线40和栅极引出配线50、51一并输入栅极检查信号。即，向邻接的栅极配线40的各个输入同一栅极检查信号。因此，邻接的栅极配线40的各个成为相同电位。因此，在从第一检查用的栅极配线检查衬垫7、8向栅极配线40和栅极引出配线50、51一并输入栅极检查信号的第一检查工序中，无法检测出栅极配线40和栅极引出配线50、51的短路。因此，在后述的第二检查工序中，检查栅极配线40和栅极引出配线50、51有无短路。
接着，对源极配线41和源极引出配线54的断线的检测方法进行说明。
从源极配线检查衬垫11向源极配线41和源极引出配线54输入源极检查信号。因此，当源极配线41断线时，液晶面板1的显示区域4中，与已断线的部位以后的源极配线41对应的行不显示。因此，能够检测出源极配线41的断线。
但是，即使源极引出配线54断线，在图1所示的例子中，在液晶面板1的显示区域4上，也不能检测出源极引出配线54的断线。即，因为从源极配线检查衬垫11经由源极配线41向源极引出配线54输入源极检查信号。因此，源极侧开关元件41c，优选为如图3所示，与源极引出配线54的连结部54a连接的方式。这样一来，从源极配线检查衬垫11经由源极引出配线54向源极配线41输入源极检查信号。因此，当源极引出配线54断线时，液晶面板1的显示区域4中，与连接于已断线的源极引出配线54的源极配线41对应的1行全部不显示。因此，不仅能够检测出源极配线41的断线，也能够检测出源极引出配线54的断线。
接着，对源极配线41和源极引出配线54的短路的检测方法进行说明。
从源极配线检查衬垫11的切换衬垫11a向源极侧开关元件41c输入将源极侧开关元件41c导通的控制信号。因此，源极侧开关元件41c导通。从检查衬垫11b向奇数侧的源极配线411、413、……41n-1输入源极检查信号。另外，从检查衬垫11c向偶数侧的源极配线412、414、……41n输入源极检查信号。在此，例如不向偶数侧的源极配线412、414、……41n输入源极检查信号，仅向奇数侧的源极配线411、413、……41n-1输入源极检查信号。此时，当源极配线41或源极引出配线54与邻接的配线短路时，液晶面板1的显示区域4中，不仅显示与奇数侧的源极配线41对应的行，也显示与短路的偶数侧的源极配线41对应的行。因此，能够检测出源极配线41和源极引出配线54的短路。
如以上所述，在第一检查工序中，不能检测出栅极配线40和栅极引出配线50、51的短路。因此，为了检查栅极配线40和栅极引出配线50、51有无短路，接下来进行第二检查工序。
在此，在第二检查工序之前，进行将延长配线70a、80a切断的切断工序。具体而言，将延长配线70a、80a沿着例如图1所示的切断线C切断。作为切断方法，例如使用激光进行切断。由此，与上侧栅极引出配线50和下侧栅极引出配线51连接的多个栅极端子6a之间被电切断。此外，只要多个栅极端子6a之间被电切断，也可以代替切断线C沿着其它线进行切断。
接着，对第二检查工序进行详细叙述。
以下，对栅极配线40和栅极引出配线50、51的短路的检测方法进行说明。
从第二检查用的上侧栅极配线检查衬垫9的切换衬垫9a向上侧的栅极侧开关元件40c输入将上侧的栅极侧开关元件40c导通的控制信号。因此，上侧的栅极侧开关元件40c导通。从检查衬垫9b向奇数侧的上侧栅极配线401、403、……输入栅极检查信号。另外，从检查衬垫9c偶数侧的上侧栅极配线402、404、……输入栅极检查信号。在此，例如，不向偶数侧的上侧栅极配线402、404、……输入栅极检查信号，仅向奇数侧的上侧栅极配线401、403、……输入栅极检查信号。此时，当上侧栅极配线40或上侧栅极引出配线50与邻接的配线短路时，液晶面板1的显示区域4中，不仅显示与奇数侧的上侧栅极配线40对应的行，也显示与短路的偶数侧的上侧栅极配线40对应的行。因此，能够检测出上侧栅极配线40和上侧栅极引出配线50的短路。
从第二检查用的下侧栅极配线检查衬垫10的切换衬垫10a向下侧的栅极侧开关元件40c′输入将下侧的栅极侧开关元件40c′导通的控制信号。因此，下侧的栅极侧开关元件40c′导通。从检查衬垫10b向奇数侧的下侧栅极配线40m-1、40m-3、……输入栅极检查信号。另外，从检查衬垫10b向偶数侧的下侧栅极配线40m、40m-2、……输入栅极检查信号。另外，从检查衬垫10c向偶数侧的下侧栅极配线40和偶数侧的下侧栅极引出配线51输入栅极检查信号。在此，例如，不向偶数侧的下侧栅极配线40m、40m-2、……输入栅极检查信号，仅向奇数侧的下侧栅极配线40m-1、40m-3、……输入栅极检查信号。此时，当下侧栅极配线40或下侧栅极引出配线51与邻接的配线短路时，液晶面板1的显示区域4中，不仅显示与奇数侧的下侧栅极配线40对应的行，也显示与短路的偶数侧的下侧栅极配线40对应的行。因此，能够检测出下侧栅极配线40和下侧栅极引出配线51的短路
在此，在第二检查工序中，从第二检查用的栅极配线检查衬垫9、10向栅极配线40输入栅极检查信号。因此，在第二检查工序中，也能够检测出栅极配线40的断线。因此，也可以代替第一检查工序或者除了第一检查工序以外，通过第二检查工序进行栅极配线40的断线的检查。但是，在第二检查工序中，不能检测出栅极引出配线50、51的断线。因此，栅极引出配线50、51的断线的检查需要在第一检查工序中进行。
另外，在第二检查工序中，也从源极检查衬垫11向源极配线41和源极引出配线54输入源极检查信号。因此，在第二检查工序中，也能够检测出源极配线41的断线、源极配线41和源极引出配线54的短路。因此，也可以代替第一检查工序或者除了第一检查工序以外，通过第二检查工序进行源极配线41的断线、源极配线41和源极引出配线54的短路的检查。
但是，在上述的切断工序中，将栅极配线的断线检查用配线70、80切断时，有栅极配线的断线检查用配线70、80的一部分没有被除去而残留的情况。另外，也有由于切断碎屑飞散到安装区域6上而导致栅极端子6b或栅极引出配线50、51短路的情况。因此，优选进行与栅极引出配线50、51连接的栅极端子6a之间是否被电切断的检查。即，从第一检查用的栅极配线检查衬垫7、8向栅极配线的断线检查用配线70、80输入栅极检查信号。因此，当栅极配线的断线检查用配线70、80的一部分没有被除去而残留、或者栅极端子6b或栅极引出配线50、51短路时，液晶面板1的显示区域4会进行显示。因此，能够检测出在上述的切断工序中产生的不良状况。
当通过上述的第一检查工序或第二检查工序，在栅极配线40或源极配线41等中检测出断线或短路时，将检测出断线或短路的液晶面板1作为不良品除去。由此，能够提高液晶面板1的成品率。此外，也可以不将检测出断线或短路的液晶面板1除去，而通过向发生断线或短路的部位照射激光等对断线或短路进行修复。
接着，在上述的检查工序(第一检查工序、第二检查工序)之后，进行安装工序。安装工序是在例如有源矩阵基板2的安装区域6中安装对栅极配线40和源极配线41进行驱动控制的驱动电路的工序。然后，从母基板切出各个液晶面板1。然后，在切出的液晶面板1上粘贴偏光板等光学薄膜。由此，制造出液晶面板1。此外，制造液晶面板1的方法并不限定于上述的方法。例如，在单色用的液晶面板中，也可以不在相对基板上叠层彩色滤光片。另外，也可以在切出各个液晶面板后进行检查工序、安装工序。
如以上所述，根据本实施方式的有源矩阵基板2，在制造时等的检查工序中，如果利用导通/断开控制信号使上侧的栅极侧开关元件40c成为导通状态，同时，向上侧第一栅极引出检查配线52b和上侧第二栅极引出检查配线52c输入相互独立的栅极检查信号，则能够通过上侧的栅极侧开关元件40c向上侧栅极配线40和上侧栅极引出配线50输入栅极检查信号。此外，上侧第一栅极引出检查配线52b能够向与上侧栅极配线40连接的上侧的栅极侧开关元件40c中相互不邻接的上侧的栅极侧开关元件40c输入栅极检查信号。另外，上侧第二栅极引出检查配线52c连接于与上侧栅极配线40连接的上侧的栅极侧开关元件40c中不与上侧第一栅极引出检查配线52b连接并且相互不邻接的上侧的栅极侧开关元件40c、并能够向该上侧的栅极侧开关元件40c输入栅极检查信号。因此，能够向在上侧栅极配线40中邻接的栅极配线40和邻接的栅极引出配线50输入相互独立的栅极检查信号。由此，能够检测出在上侧栅极配线40中邻接的栅极配线40间的短路(漏电)、和邻接的栅极引出配线50间的短路。另外，与此同样，如果利用导通/断开控制信号使下侧的栅极侧开关元件40c′成为导通状态，同时，向下侧第一栅极引出检查配线53b和下侧第二栅极引出检查配线53c输入相互独立的栅极检查信号，则能够检测出在下侧栅极配线40中邻接的栅极配线40间的短路、和邻接的下侧栅极引出配线51间的短路。进一步，与上述同样，如果利用导通/断开控制信号使源极侧开关元件41c成为导通状态，同时，向第一源极引出检查配线55b和第二源极引出检查配线55c输入相互独立的源极检查信号，则能够检测出邻接的源极配线41间的短路、和邻接的源极引出配线54间的短路。其结果，能够实现能够通过简单的结构可靠地检测出配线的短路、检查遗漏减少的有源矩阵基板。
此外，在本实施方式中，说明了对相对基板的共用电极施加共用电压的例子，但是，当然也能够将本发明应用于例如共用电极配置在有源矩阵基板上的IPS(In Plane Switching：面内开关)模式的液晶面板。在IPS模式的液晶面板的有源矩阵基板上，可以不形成基板间电极连接衬垫。另外，当然也能够将本发明广泛地应用于MVA(Multi-DomainVertical Aligned：多畴垂直取向)模式的液晶面板、OCB(OpticallyCompensated bend：光学补偿弯曲)模式的液晶面板等。
另外，在本实施方式中，对各检查衬垫形成在有源矩阵基板上的例子进行了说明，但并不限定于此。即，只要在例如检查用的基板上形成各检查衬垫，在有源矩阵基板上形成有能够输入从各检查衬垫供给的检查信号的检查用配线即可。
另外，在本实施方式中，对在栅极配线和源极配线的奇数侧和偶数侧输入不同的检查信号的例子进行了说明，但是并不限定于此。例如，也可以对源极配线的R(红)、G(绿)和B(蓝)输入不同的检查信号。另外，也可以向栅极配线和源极配线输入多种检查信号。即，只要形成为向邻接的栅极配线的各个输入不同的检查信号、并向邻接的源极配线的各个输入不同的检查信号即可。
本发明并不限定于上述的实施方式，在权利要求书所表示的范围中能够进行各种变更。即，将在权利要求书所示的范围内适当变更后的技术手段组合而得到的实施方式也包括在本发明的技术范围内。
产业上的可利用性
如以上所述，本发明作为能够通过简单的结构可靠地检测出有源矩阵基板的配线的短路、检查遗漏减少的有源矩阵基板、显示装置和有源矩阵基板的检查方法是有用的。

Claims (8)

1.一种有源矩阵基板，其包括：
在显示区域中相互平行地形成的多个第一配线；
在所述显示区域中与所述第一配线交叉、并且相互平行地形成的多个第二配线；和
在安装区域中形成的多个端子，
其特征在于：
所述多个第一配线包括：相互邻接并在一端一侧具有驱动信号的输入端的第一组的第一配线；和相互邻接并在另一端一侧具有驱动信号的输入端的第二组的第一配线，
所述有源矩阵基板包括：
将所述第一组的第一配线的一端和所述端子连接的第一引出配线；
将所述第二组的第一配线的另一端和所述端子连接的第二引出配线；
与所述第一组的第一配线的另一端连接的第一开关元件；
与所述第二组的第一配线的一端连接的第二开关元件；
将所述第二配线的一端和所述端子连接的第三引出配线；
与所述第二配线或所述第三引出配线连接的第三开关元件；
能够向所述第一开关元件输入导通/断开控制信号的第一开关元件控制配线；
能够向所述第二开关元件输入导通/断开控制信号的第二开关元件控制配线；
能够向所述第三开关元件输入导通/断开控制信号的第三开关元件控制配线；
能够向与所述第一组的第一配线连接的第一开关元件中相互不邻接的第一开关元件输入检查信号的第一检查配线；
连接于与所述第一组的第一配线连接的第一开关元件中不与所述第一检查配线连接并且相互不邻接的第一开关元件、并能够向该第一开关元件输入检查信号的第二检查配线；
能够向与所述第二组的第一配线连接的第二开关元件中相互不邻接的第二开关元件输入检查信号的第三检查配线；
连接于与所述第二组的第一配线连接的第二开关元件中不与所述第三检查配线连接并且相互不邻接的第二开关元件、并能够向该第二开关元件输入检查信号的第四检查配线；
能够向与所述第二配线连接的第三开关元件中相互不邻接的第三开关元件输入检查信号的第五检查配线；和
连接于与所述第二配线连接的第三开关元件中不与所述第五检查配线连接并且相互不邻接的第三开关元件、并能够向该第三开关元件输入检查信号的第六检查配线。
2.根据权利要求1所述的有源矩阵基板，其特征在于：
所述第一组的第一配线相对于所述安装区域配置在比所述第二组的第一配线更远的位置，
所述第二开关元件控制配线、所述第三检查配线和所述第四检查配线形成在比所述第一引出配线更靠近显示区域一侧的位置。
3.根据权利要求2所述的有源矩阵基板，其特征在于，还包括：
从与所述第一引出配线连接的所述多个端子分别延伸出的第一延长配线；
分别与所述第一延长配线连接、并能够输入检查信号的第一断线检查用配线；
从与所述第二引出配线连接的所述多个端子分别延伸出的第二延长配线；和
分别与所述第二延长配线连接、并能够输入检查信号的第二断线检查用配线。
4.根据权利要求1～3中任一项所述的有源矩阵基板，其特征在于：
所述第三开关元件与所述第三引出配线连接。
5.根据权利要求1～4中任一项所述的有源矩阵基板，其特征在于：
所述第一配线为栅极配线，所述第二配线为源极配线。
6.一种显示装置，其特征在于：
包括权利要求1～5中任一项所述的有源矩阵基板。
7.根据权利要求6所述的显示装置，其特征在于：
所述显示装置为液晶显示装置。
8.一种有源矩阵基板的检查方法，其为权利要求3～5中任一项所述的有源矩阵基板的检查方法，其特征在于，包括：
通过从所述第一断线检查用配线输入检查信号，进行第一组的第一配线的检查的工序；
通过从所述第二断线检查用配线输入检查信号，进行第二组的第一配线的检查的工序；
将所述第一延长配线和第二延长配线切断的切断工序；
使所述第一开关元件成为导通状态，同时，向第一检查配线和第二检查配线输入相互独立的检查信号，由此进行所述第一组的第一配线和第一引出配线的检查的工序；
使所述第二开关元件成为导通状态，同时，向第三检查配线和第四检查配线输入相互独立的检查信号，由此进行所述第二组的第一配线和第二引出配线的检查的工序；和
使所述第三开关元件成为导通状态，同时，向第五检查配线和第六检查配线输入相互独立的检查信号，由此进行所述第二配线的检查的工序。
CN2011100518962A 2006-07-31 2007-03-12 有源矩阵基板、显示装置、和有源矩阵基板的检查方法 Pending CN102087451A (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006-208642 2006-07-31
JP2006208642 2006-07-31

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN200780016866XA Division CN101443700B (zh) 2006-07-31 2007-03-12 有源矩阵基板、显示装置、和有源矩阵基板的检查方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN102087451A true CN102087451A (zh) 2011-06-08

Family

ID=38996993

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN200780016866XA Expired - Fee Related CN101443700B (zh) 2006-07-31 2007-03-12 有源矩阵基板、显示装置、和有源矩阵基板的检查方法
CN2011100518962A Pending CN102087451A (zh) 2006-07-31 2007-03-12 有源矩阵基板、显示装置、和有源矩阵基板的检查方法

Family Applications Before (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN200780016866XA Expired - Fee Related CN101443700B (zh) 2006-07-31 2007-03-12 有源矩阵基板、显示装置、和有源矩阵基板的检查方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US7847577B2 (zh)
CN (2) CN101443700B (zh)
WO (1) WO2008015808A1 (zh)

Families Citing this family (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8072572B2 (en) * 2006-07-15 2011-12-06 Sharp Kabushiki Kaisha Substrate for a display panel, a display panel having the substrate, a production process of the substrate, and a production process of the display panel
JP2008164787A (ja) 2006-12-27 2008-07-17 Epson Imaging Devices Corp 液晶表示装置
JP5523839B2 (ja) * 2007-02-08 2014-06-18 シンタ ファーマシューティカルズ コーポレーション 癌などの増殖障害の治療に有用なトリアゾール化合物
WO2008136153A1 (ja) * 2007-04-25 2008-11-13 Sharp Kabushiki Kaisha 液晶表示パネル及びその検査方法
KR100884455B1 (ko) * 2007-06-05 2009-02-20 삼성모바일디스플레이주식회사 유기전계발광 표시장치 및 그 모기판
JP4813621B2 (ja) * 2008-03-14 2011-11-09 シャープ株式会社 アクティブマトリクス基板、表示装置、アクティブマトリクス基板の検査方法、および表示装置の検査方法
CN101999095B (zh) 2008-05-16 2012-05-09 夏普株式会社 有源矩阵基板、显示装置、有源矩阵基板的检查方法和显示装置的检查方法
TWI370310B (en) * 2008-07-16 2012-08-11 Au Optronics Corp Array substrate and display panel thereof
CN102099847B (zh) * 2008-07-23 2013-03-13 夏普株式会社 有源矩阵基板、显示装置、有源矩阵基板的检查方法和显示装置的检查方法
BRPI0917427A2 (pt) * 2008-08-06 2015-12-01 Sharp Kk método para testar dispositivo de exibição de cristal líquido e dispositivo de exibição de cristal líquido
CN101572045B (zh) * 2009-06-01 2011-01-05 深圳华映显示科技有限公司 一种平面显示器及其测试方法
JP5738995B2 (ja) * 2011-07-19 2015-06-24 シャープ株式会社 素子基板の製造方法
US20140028537A1 (en) * 2012-07-24 2014-01-30 Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. Liquid crystal panel and manufacturing method thereof
KR101992273B1 (ko) * 2012-10-22 2019-10-01 삼성디스플레이 주식회사 유기전계발광 표시장치 및 그 검사방법
CN103197446A (zh) * 2013-03-27 2013-07-10 信利半导体有限公司 一种液晶显示装置的测试电路及测试方法
JP2014203000A (ja) * 2013-04-08 2014-10-27 パナソニック液晶ディスプレイ株式会社 表示装置
JP2015043563A (ja) * 2013-07-25 2015-03-05 富士フイルム株式会社 放射線検出素子基板、放射線検出素子基板の検査装置、及び放射線検出素子基板の検査方法
JP2015043564A (ja) * 2013-07-25 2015-03-05 富士フイルム株式会社 放射線検出素子基板、放射線検出素子基板の検査装置、及び放射線検出素子基板の検査方法
US9461072B2 (en) 2013-12-25 2016-10-04 Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. Liquid crystal display array substrates and a method for manufacturing the same
CN103760694B (zh) * 2013-12-25 2017-01-11 深圳市华星光电技术有限公司 一种液晶显示阵列基板及制作方法
US9869913B2 (en) * 2014-05-22 2018-01-16 Sharp Kabushiki Kaisha Active matrix substrate and display device
KR102203281B1 (ko) 2014-08-29 2021-01-13 엘지디스플레이 주식회사 디스플레이 장치와 이의 제조방법
CN105469732B (zh) * 2014-09-05 2019-02-05 联想(北京)有限公司 显示装置和电子设备
CN104535620B (zh) * 2015-01-16 2017-05-24 友达光电(厦门)有限公司 显示面板及其裂纹检测方法
CN108700786B (zh) * 2016-02-10 2021-01-08 夏普株式会社 有源矩阵基板及显示面板
KR102601650B1 (ko) * 2016-07-26 2023-11-13 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
JP2018018006A (ja) * 2016-07-29 2018-02-01 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置
KR102687420B1 (ko) * 2016-08-25 2024-07-22 엘지디스플레이 주식회사 표시패널 및 표시장치
KR102590316B1 (ko) * 2016-12-05 2023-10-17 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
KR102628756B1 (ko) * 2016-12-27 2024-01-24 삼성디스플레이 주식회사 표시 패널 및 표시 패널 크랙 검출 방법
JP2019128536A (ja) * 2018-01-26 2019-08-01 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置
CN108919535B (zh) * 2018-08-30 2022-07-05 京东方科技集团股份有限公司 显示基板母板、显示基板及其制造方法、显示装置
KR102720692B1 (ko) * 2018-11-08 2024-10-23 삼성디스플레이 주식회사 표시장치
CN114333580B (zh) * 2021-12-21 2022-11-25 Tcl华星光电技术有限公司 显示面板及显示装置

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08262485A (ja) 1995-03-20 1996-10-11 Nec Corp 液晶表示装置
JPH09329796A (ja) * 1996-06-10 1997-12-22 Hitachi Ltd 液晶表示基板
JP2003241217A (ja) 2002-02-15 2003-08-27 Matsushita Electric Ind Co Ltd 液晶表示パネル及びそれを用いた液晶表示装置
JP4006304B2 (ja) * 2002-09-10 2007-11-14 株式会社 日立ディスプレイズ 画像表示装置
JP2004325956A (ja) 2003-04-25 2004-11-18 Sharp Corp 表示装置及びその製造方法
KR100491560B1 (ko) * 2003-05-06 2005-05-27 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시소자의 검사방법 및 장치
WO2004100110A1 (ja) * 2003-05-12 2004-11-18 International Business Machines Corporation アクティブマトリックスパネルの検査装置、検査方法、およびアクティブマトリックスｏｌｅｄパネルの製造方法
JP2005241988A (ja) 2004-02-26 2005-09-08 Alps Electric Co Ltd 表示装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN101443700B (zh) 2011-05-04
US20100006838A1 (en) 2010-01-14
WO2008015808A1 (fr) 2008-02-07
US7847577B2 (en) 2010-12-07
CN101443700A (zh) 2009-05-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101443700B (zh) 有源矩阵基板、显示装置、和有源矩阵基板的检查方法
JP4982609B2 (ja) アクティブマトリクス基板、表示装置、アクティブマトリクス基板の検査方法、および表示装置の検査方法
CN101963709B (zh) 玻璃上芯片型液晶显示器及其检查方法
EP2275861B1 (en) Active matrix substrate, display device, method for inspecting active matrix substrate, and method for inspecting display device
CN101965606A (zh) 有源矩阵基板、显示装置、有源矩阵基板的检查方法和显示装置的检查方法
CN100541282C (zh) 阵列基板及具有所述阵列基板的主基板和液晶显示装置
CN104769657B (zh) 有源矩阵基板和显示装置
CN109448617B (zh) 显示面板和显示装置
WO2021169662A1 (zh) 检测结构、显示面板、检测装置及检测系统
KR101137863B1 (ko) 박막트랜지스터 어레이 기판
CN106847145A (zh) 阵列基板测试电路和阵列基板
KR101429904B1 (ko) 액정표시장치 및 이의 리페어 방법
CN103676232A (zh) 走线结构及该走线结构的断路修复方法、液晶面板
CN103676246B (zh) 一种液晶面板线缺陷修复方法
CN208156354U (zh) 一种显示面板母版
CN1731205B (zh) 平面显示装置的测试线路
KR20070120385A (ko) 어레이 기판, 이를 이용한 액정표시장치 및 어레이 기판의제조방법
KR101222979B1 (ko) 박막 트랜지스터 기판
KR20060091434A (ko) 액정 표시 장치의 박막 트랜지스터 어레이 기판
KR101152491B1 (ko) 액정표시소자
WO2023116106A1 (zh) 显示基板及其测试方法和显示装置
KR20050064361A (ko) 액정표시장치 및 그 제조방법
KR20140098319A (ko) 2 픽셀 2 도메인 액정표시장치
JP2007183446A (ja) 電気光学装置、電気光学装置用基板、電気光学装置の製造方法、電気光学装置用基板の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20110608