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AT68119B - Elektrostatischer Spannungsmesser. - Google Patents

Elektrostatischer Spannungsmesser.

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Publication number
AT68119B
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Authority
AT
Austria
Prior art keywords
scale
instrument
quadrant
curve
quadrants
Prior art date
Application number
Other languages
English (en)
Inventor
Josef Dr Ing Zelisko
Original Assignee
Josef Dr Ing Zelisko
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Josef Dr Ing Zelisko filed Critical Josef Dr Ing Zelisko
Application granted granted Critical
Publication of AT68119B publication Critical patent/AT68119B/de

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  • Vessels, Lead-In Wires, Accessory Apparatuses For Cathode-Ray Tubes (AREA)

Description


   <Desc/Clms Page number 1> 
 



  Elektrostatischer Spannungsmesser. 



   Vorliegende Erfindung bildet. eine Neuerung an   elektrostatischen Spannungsmessern   jener Ai't, bei welchen die Messung von elektrischen Potentialen mit achsial verstellbaren Quadranten erfolgt. Die Erfindung bezweckt, durch eine   eigenartige Ausgestaltung den Quadrantenstell-     w erkes bzw.   der Skalenanordnung ein   Messinstrument   zu schaffen, das die Erzielung eines sehr   grossen Messbereiches   bei überaus hoher   Emptindlichkeit   gewährleistet. Dieser Zweck wird der Hauptsache nach dadurch erreicht, dass der totale Messbereich des Instrumentes in zwei Teile geteilt wird, von denen der erste auf einer in bezug auf das hängende Quadrantensystem ruhend 
 EMI1.1 
 Lnue leder Fig. 3. Die Fig. 6 bis 12 veranschaulichen Einzelheiten des Instrumentes. 



   X stellt das achsial verstellbare Quadrantensystem dar. das durch   piu     Stellwerk beliebiger   
 EMI1.2 
 gemeinsamen, mit Innenzahnung versehenen Zahukranz 4 angetrieben werden. Y veranschaulicht das auf dem Torsionsdraht 5   befestigte Torsionaplattensystem,   das in die Quadranten des verstellbaren Systems X eintaucht. S1 und 82 veranschaulichen die Ableseskalen des Instrumentes. 



  Die Skala   81 wird   von dem Zeiger   Z des hängenden Systems bestrichen,   während die   Skala s2   
 EMI1.3 
   Zahnkranz 4) angeordnet ist und mit dem Zeiger Z2 zusammenwirkt.   



   Als Normalzustand des Instrumentes sei jener Zustand angenommen, bei welchem das Quadrantensystem X des Instrumentes sich m seiner Höohstlage befinde. In diesem Zustande stellt das Instrument ein gewöhnliches Quadrantenelektrometer dar. Der obere Zeiger   Z1 des     Instrumentes spielt bei diesem Zustand   auf die Marke 0 der Skala 81 ein, während der untere Zeiger Z2 auf die Anfangsmarke E1 der unteren   Skala S2   einspielt. 
 EMI1.4 
 zumWerteE1gemessenwerden. 



   Soll bei dieser Einstellung des Instruments auf demselben eine Spannung gemessen werden, die grösser als E1 ist, so wird der Zeiger   Zl selbstverständlich Über   die auf der oberen Skala Sl   betindliche Marke hinausgehen. Zufolge   der Verstellbarkeit der Quadranten X und der eigenartigen Skalenanordnung kann man jedoch diese höhere Spannung auch auf eine andere Art messen, die nachstehend näher erläutert werde : 
 EMI1.5 
 

 <Desc/Clms Page number 2> 

 
 EMI2.1 
   sogenannten"Ubergangsspannung"ist   eigentlich freigestellt. Versuche haben jedoch ergeben, dass es einen ganz bestimmten Wert für die sogenannte Ubergangsspannung gibt, der die höchste absolute Empfindlichkeit der Messeinrichtung gewährleistet. 



   Dies erhellt aus folgenden an der Hand des Diagrammes angestellten Untersuchungen :
Angenommen, die Kurve I stelle die Eichkurve des Instrumentes bei der   Höohstlage   der Quadranten   z   und   idiostatischer   Schaltung des Instrumentes dar. Aus dieser Kurve lässt sich nach bekannten Methoden die Kurve Il (Kurve der absoluten Empfindlichkeit) ableiten. Die Ordinaten 
 EMI2.2 
 
Wie aua dem Diagramm (Fig. 1) ersichtlich, zeigt die Kurve II im Punkte   H   einen Höchstwert. Der dazugehörige Spannungswert sei EI, dessen Grösse mit dem Werte der früher gewählten ,,Übergangsspannung" genau gleich ist.

   Verzeichnet man die der Kurve 11 entsprechenden analogen Empfindliohkeitskurven für die verschiedenen Stellungen der Quadranten X, so zeigt es sich, dass der   Höchstwert   der Ordinaten dieser Kurven für alle Stellungen   smh   nahezu bei ein und demselben Abszissenwert, ergibt. Wird daher alss Obergangsspannung der Wert   E1   gewählt, so ergibt sich, dass bei dem vorliegenden Instrument bei allen Quadrantenstellungen stets mit der höchsten, jeweils zur Verfügung stehenden absoluten Empfindlichkeit gemessen wird. 



   Aus den vorstehenden Ausführungen geht weiters hervor, dass für die effektive Eichkurve des neuen Instrumentes nur der Kurvenast O-O1 der Kurve I Geltung hat. Um den   weitere) !   Verlauf der effektiven Eichkurve zu bestimmen, ist es nur nötig auf die Verdrehwinkel des unteren Zahnkranzes 4, d. h. also auf die abgelesenen Werte auf der unteren Skala SI überzugehen. Zu diesem Zweck ist es nur erforderlich im Punkte   01   ein neues Koordinatensystem X1, O1, Y1 zu errichten. Als Ordinatenmassstab dieses Systems ist derselbe zu wählen wie beim System   X,   0, Y. Für den Abszissenmassstab muss jedoch von der Drehwmkeleinheit der unteren Skala ausgegangen werden.

   Bei Benutzung dieser Massstäbe erhält man den vom Punkt 01 aus-   gehenden Kurvenast III, der in Vereinigung mit dem Kurvenast O-O1 der Kurve I die ,,effektive   Eichkurve" des neuen Instrumentes darstellt. 
 EMI2.3 
 

 <Desc/Clms Page number 3> 

 
 EMI3.1 
 welle 24 aufgekeilten Triebling 25 in Eingriff steht. Die Welle S4 wird mittels eines   Grinrades 26   oder bei Fernrohrablesungen mittels eines   Stabrohrantriebes   vom Fernrohrstand angetrieben. 



   Das Mitdrehen der Schraubenspindel 20 beim Drehen der Mutter 21 wird durch eine die hohle Spindel diametral durchsetzende   Metallschiene 29 verhindert,   die durch die fensterförmigen Ausnehmungen 30 der Schraubenspindel 20 hindurchragt. Auf der Querachiene selbst ist das   Dimpfunggefass   28 sowie die später   erläuterten Vorrichtungen   zur automatischen Zentrierung der Quadranten angeordnet. Die sonstige Bauart des Instrumentes stimmt im Wesen mit der Bauart des un Stammpatente beschriebenen Instrumentes überein. 



   Die Materialbeschaffenheit und Konstruktion der Zylinderquadranten des Instrumentes kann beliebig gewählt werrden. Als besonders   vorteilhaft haben sieh Quadrantennächen   von der in den Fig. 7 bis 10 und der in Fig. 6 dargestellten Bauart erwiesen. Die Quadrantenflächen gemäss Fig. 7 bis 10 bestehen aus einem gepressten Rahmen 40 aus   ! leichtem Baustoff   (z. B. Aluminium), dessen Rahmenseitenteile die seitlich von Fig. 9 ausgeworfenen Querschnittsprofile aufweisen. Der Rahmen 40 ist mit mehreren   fensterförmigen Ausnehmungen 41   versehen, die vor der Fertigstellung des Rahmens mit einer Membrane aus leitendem Baustoff oder mit einer Folie aus nichtleitendem Material und einer auf dieser Folie aufgebrachten leitenden Schicht (z. B. echtem Goldblatt) verklebt werden.

   Die   Quadrantenftächen   werden mit ihren   Ansätzen   in der aus Fig. 7 und 8 ersichtlichen Weise in einen   gepressten Alumimumdoppel-   träger 44 eingehängt und in der richtigen   Montierungalage   an dem Träger entweder durch Lötung oder durch Bindung mit Seide und nachträglicher   Verkittung befestigt.   
 EMI3.2 
 denke man sich das früher betrachtete Instrument mit breiten Quadranten (Fig 9) nunmehr mit ganz schmalen   Quadrantenftiichen   gemäss Fig. 10 ausgerüstet. Verzeichnet man für dieses Instrument wieder die Eichkurve, so erhält man die Kurve IV (Fig.   l). Diese Kurve stimmt   ungefähr bis zum Teilstrich 8 der Skala mit der früheren Kurve I überein und geht erst von diesem in einen aufsteigenden Ast über.

   Aus dieser Untersuchung folgt., dass es bei Spiegelinstrumenten, wo nur Ausschläge bis zirka 5  beobachtet werden, vollständig zwecklos wäre,   breite Quadrantenfachen   von der in Fig. 9 dargestellten Form zu benutzen. Im Gegenteil ist es 
 EMI3.3 
 Verwendung dieser das Gewicht des hängenden Systems verringert und die Empfindlichkeit des   Messinstrumente   gesteigert wird. 



   An Stelle des eingangs beschriebenen Doppelträgers 44 für die Zvlinderquadranten können 
 EMI3.4 
 achse A-A des Instrumentes zu halten. Wird nämlich der radiale Zwischenraum zwischen den Quadrantenflächen X, Y behufs Erreichtung einer höheren Empfindlichkeit sehr klein gewählt und pendelt   der hangende Platteneinsatz aus   seiner Ruhelage heraus, so bleibt derselbe an irgend einer ungleichartig geladenen Platte des verstellbaren Quadrantensystems kleben. Die Be- 
 EMI3.5 
   ,, Zentrierung" kann   auf die verschiedenartigste Weise erfolgen. 



   Bei dem   Instrument     gemäss   Fig. 3 besteht die magnetische   Zentrierung aus einem   an den 
 EMI3.6 
 stab 61. der gleichfalls in eine Spitze ausläuft. Der Magnetstab 61 ist im Boden des   Dämprungs-   gefässes verstellbar gelagert und kann durch   Betätiging des riffrades 62 in bexug   auf das 
 EMI3.7 
 

 <Desc/Clms Page number 4> 

   gemäss Fig. 3 mögliche Streuung der Kraftlinien   vermieden,   d. h. ea werden vollständig     geschlossene     Kraffinienkreiae   erzielt, die den in Fig. 11 mit strichpunktierten Linien angedeuteten Verlauf nehmen.

   Ein weiterer Vorteil dieser Zentriervorrichtung liegt darin, dass durch dieselbe alle radialen Zugkräfte aufgehoben und gleichzeitig eine elektrische Dämpfung erzielt wird, die bei Drehung des   8ystemträgers   durch die   entstehenden Wirbelströme M)   selbsttätig in Wirkung tritt. 



   Besonders vorteilhaft'hat sich die in Fig. 12 dargestellte magnetische Zentriervorrichtung   bewährtt Dieselbe besteht aus   einem an dem zentralen Systemträger 50 befestigten Rahmen 70 aus   unmagnetischem   Baustoff, auf dessen Unterteil eine Doppelnadel 71, 71'aus Eisen oder Stahl angeordnet ist. Gegenüber diesen Nadeln sind zwei Eisenspitzen   79, 72'angeordnet,   die auf den Polen N, S eines permanenten Magneten 74 befestigt sind. 



   Bei dieser Ausgestaltung der Zentriervorrichtung wird der bei den früher beschriebenen Zentriervorrichtungen vorhandene auftretende magnetische Zug nach abwärts, der den Torsions- 
 EMI4.1 
 durch den gleich grossen nach aufwärts gerichteten Zug 71', 72' aufgehoben wird. Die zentrierende Magnetkraft ist bei dieser Zentriervorrichtung gegenüber den anderen Zentriervorliehtungen verdoppelt und die Streuung der Kraftlinien gleichfalls vermieden, da die vorstehend beschriebene Anordnung vollständig geschlossene Kreise für die Kraftlinien gewährleistet. 



    PATENTANSPRÜCHE :  
1. Elektrostatischer Spannungsmesser mit achsial verstellbaren   Zylinde. rquadranten,   
 EMI4.2 


Claims (1)

  1. 2. Spannungsmesser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass sein Messbereich ill zwei Teile geteilt ist, von denen der erste auf einer in bezug auf das fixe Quadrantensystem ruhend angeordneten Anfangsskala (s1) und der zweite auf einer zwangsläufig mit der achsialen Verstellung der Quadranten sich verdrehenden Übergangsskala (s2) ablesbar ist.
    3. Spannungsmesser nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass auf der ruhenden Skala (si) und auf der drehbaren Skala (s2) zwei korrespondierende Ausgansmarken (EI) verzeichnet sind, deren zugehörige Spannungswerte derart gewählt sind, dass bei denselben das Instrument die höchste absolute Empfindlichkeit besitzt.
    4. Spannungsmesser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Stellwerk des verstellbaren Quadrantensystems aus mehreren auf den Quadrantenträgern befestigten Hub- EMI4.3 (Fig. 3).
    5. Spannungsiuesser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dat-i das Stellwerk des verstellbaren Quadrantensystems aus einer gegen Drehung gesicherten Hubspindel (30) besteht, deren Mutter (21) als Skalenträger ausgebildet ist.
AT68119D 1913-10-21 1913-10-21 Elektrostatischer Spannungsmesser. AT68119B (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
AT68119T 1913-10-21

Publications (1)

Publication Number Publication Date
AT68119B true AT68119B (de) 1915-03-10

Family

ID=3589989

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
AT68119D AT68119B (de) 1913-10-21 1913-10-21 Elektrostatischer Spannungsmesser.

Country Status (1)

Country Link
AT (1) AT68119B (de)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2713523A (en) * 1952-02-26 1955-07-19 Gustav K Medicus Magnetic suspension for rotating structures
US2745062A (en) * 1952-02-26 1956-05-08 Gustav K Medicus Electrostatic instruments with magnetic suspensions
US2871449A (en) * 1953-06-08 1959-01-27 Illinois Testing Laboratories Magnetic restoring force suspension galvanometer

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