WO2024209952A1 - フィルタユニット、照明ユニット、露光装置、及び露光方法 - Google Patents
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Definitions
- Liquid crystal display panels have come into widespread use as display elements for personal computers, televisions, and the like.
- Liquid crystal display panels are manufactured by forming a circuit pattern of thin-film transistors on a plate (glass substrate) using photolithography techniques.
- An exposure device is used for this photolithography process, which projects and exposes an original pattern formed on a mask onto a photoresist layer on the plate via a projection optical system (for example, Patent Document 1).
- the filter unit includes a plurality of filters arranged on the optical axis of an illumination optical system that illuminates an illuminated surface, the plurality of filters including a first filter having a first transmittance distribution and a second filter having a second transmittance distribution, the first transmittance distribution being formed in a first direction of an orthogonal coordinate system in a plane perpendicular to the optical axis of the illumination optical system according to a first function expressed as an n-th degree equation (n is a natural number of 2 or greater) with coordinates in the first direction as variables, and the relative positions of the first filter and the second filter are changeable at least in the first direction.
- n-th degree equation n is a natural number of 2 or greater
- the lighting unit includes an optical integrator into which light emitted from a light source is incident, and the above-mentioned filter unit, and the light emitted from the optical integrator is incident on the filter unit.
- an exposure apparatus includes a plurality of the above-described illumination units; and a plurality of projection optical units corresponding to the plurality of illumination units and projecting a pattern image of a mask illuminated by the plurality of illumination units onto a photosensitive substrate, the plurality of projection optical units including a first projection optical unit and a second projection optical unit, and an exposure area of the first projection optical unit and an exposure area of the second projection optical unit partially overlap.
- an exposure method is an exposure method using the above-mentioned exposure apparatus, and includes illuminating the mask using the illumination unit, and projecting the pattern image of the mask onto the photosensitive substrate using the projection optical unit.
- a filter unit includes a plurality of filters arranged on an optical axis of an optical system, the plurality of filters including a first filter having a first transmittance distribution, a second filter having a second transmittance distribution, the first transmittance distribution is non-uniform in a first direction of a Cartesian coordinate system in a plane perpendicular to the optical axis of the optical system, the second transmittance distribution is non-uniform in the first direction, and a relative position of the first filter and the second filter is changeable at least in the first direction.
- the lighting unit includes an optical integrator into which light emitted from a light source is incident, and the filter unit into which the light emitted from the optical integrator is incident.
- the exposure apparatus includes a plurality of the above-mentioned illumination units and a plurality of projection optical units corresponding to the plurality of illumination units, the plurality of projection optical units including a first projection optical unit and a second projection optical unit, and the exposure area of the first projection optical unit and the exposure area of the second projection optical unit partially overlap.
- an exposure method is an exposure method using the above-mentioned exposure apparatus, and includes illuminating the mask using the multiple illumination units, and projecting the pattern image of the mask onto the photosensitive substrate using the multiple projection optical units.
- the filter unit includes a plurality of filters arranged on an optical axis of an optical system, the plurality of filters including a first filter, a second filter, and a third filter, the first filter having a first transmittance distribution in a region where the illumination light is incident, the first filter having a first transmittance distribution that is non-uniform in a first direction intersecting the optical axis, the second filter having a second transmittance distribution that is non-uniform in the first direction and different from the first transmittance distribution in the region where the illumination light is incident, the third filter having a third transmittance distribution that is non-uniform in the first direction and different from the first transmittance distribution and the second transmittance distribution in the region where the illumination light is incident, the filter unit having a first composite transmittance distribution when the first filter, the second filter, and the third filter are each at a reference position in the first direction, and a second composite transmittance distribution when the first filter is at a position other than the
- the illumination unit includes a fly-eye lens arranged on the optical axis and the filter unit into which the illumination light passes through the fly-eye lens.
- the exposure apparatus includes a first illumination optical system, which is the illumination optical system that illuminates a mask, a first projection optical system that irradiates a substrate with light from the first illumination optical system via the mask, a second illumination optical system different from the first illumination optical system that illuminates the mask, and a second projection optical system different from the first projection optical system that irradiates the substrate with light from the second illumination optical system via the mask, and performs continuous exposure using the first projection optical system and the second projection optical system while moving the substrate in a scanning direction corresponding to the second direction.
- a first illumination optical system which is the illumination optical system that illuminates a mask
- a first projection optical system that irradiates a substrate with light from the first illumination optical system via the mask
- a second illumination optical system different from the first illumination optical system that illuminates the mask
- a second projection optical system different from the first projection optical system that irradiates the substrate with light from the second illumination optical system via the mask
- an exposure apparatus includes the above-mentioned illumination optical system that illuminates a mask, and a projection optical system that irradiates a substrate with light from the illumination optical system via the mask; and after scanning and exposing a first region of the substrate by the projection optical system while moving the substrate in a scanning direction corresponding to the second direction, scanning and exposing a second region of the substrate, which overlaps with a portion of the first region and is different from the first region, by the projection optical system while moving the substrate in a direction parallel to the scanning direction.
- FIG. 1 is a schematic diagram showing the configuration of an exposure apparatus in an embodiment.
- FIG. 2 is a perspective view that shows a schematic arrangement of a plurality of projection optical units.
- FIG. 3(A) is a diagram showing the exposure fields of multiple projection optical units on a substrate
- FIG. 3(B) is a diagram showing the exposure area formed on the substrate when the substrate is scanned in the X direction by the substrate stage and exposed by the exposure fields shown in FIG. 3(A).
- FIG. 4 is a schematic diagram showing the configuration of a lighting unit according to the embodiment.
- FIG. 5A is a schematic diagram showing the configuration of the filter unit
- FIG. 5B is a schematic plan view of a first movable filter, a second movable filter, and a fixed filter.
- Figure 6(A) is a diagram showing the composite transmittance distribution obtained when the first movable filter, the second movable filter, and the fixed filter are each in a reference position
- Figure 6(B) is a diagram showing the composite transmittance distribution obtained when the position of the first movable filter is shifted from the reference position in the Y-axis direction
- Figure 6(C) is a diagram showing the composite transmittance distribution obtained when the position of the second movable filter is shifted from the reference position in the Y-axis direction.
- FIG. 7(A) is a diagram showing a composite transmittance distribution obtained when a fourth filter having a fourth transmittance distribution formed according to a quadratic equation in the Y-axis direction, and a fifth filter having a fifth transmittance distribution complementary to the fourth transmittance distribution, are in reference positions
- FIG. 7(B) is a diagram showing a composite transmittance distribution obtained when the fifth filter is moved ⁇ y ( ⁇ 0) in the Y-axis direction.
- FIG. 8(A) is a diagram illustrating a fourth transmittance distribution expressed by a function having only fourth-order terms and a fourth transmittance distribution expressed by a function having only fifth-order terms
- FIG. 8(B) is a diagram illustrating a fourth transmittance distribution expressed by a function combining a function having only fifth-order terms, a function having only third-order terms, and a function having only first-order terms.
- the exposure device 10 according to one embodiment will be described with reference to Figures 1 to 8(B).
- FIG. 1 is a diagram that shows roughly the configuration of an exposure apparatus 10 according to an embodiment.
- the exposure apparatus 10 is a scanning stepper (scanner) that drives the mask MSK and glass substrate (hereafter referred to as "substrate") P in the same direction and at the same speed relative to the projection optical system PL, thereby transferring a pattern formed on the mask MSK onto the substrate P.
- the substrate P is a rectangular glass substrate used, for example, in liquid crystal display devices (flat panel displays), with at least one side or diagonal length of 500 mm or more.
- the direction in which the mask MSK and substrate P are driven during scanning exposure is defined as the X-axis direction
- the direction perpendicular to this in the horizontal plane is defined as the Y-axis direction
- the direction perpendicular to the X-axis and Y-axis is defined as the Z-axis direction
- the directions of rotation (tilt) around the X-axis, Y-axis, and Z-axis are defined as the ⁇ x, ⁇ y, and ⁇ z directions, respectively.
- the exposure apparatus 10 includes an illumination system IOP, a mask stage MST that holds a mask MSK, a projection optical system PL, a body 70 that supports these, a substrate stage PST that holds a substrate P, and a control system for these.
- the control system provides overall control of each component of the exposure apparatus 10.
- the body 70 comprises a base (vibration isolation table) 71, columns 72A and 72B, an optical base 73, a support 74, and a slide guide 75.
- the base (vibration isolation table) 71 is placed on a floor F and supports the columns 72A, 72B, etc. by isolating vibrations from the floor F.
- the columns 72A and 72B each have a frame shape, and the column 72A is placed inside the column 72B.
- the optical base 73 has a flat plate shape and is fixed to the ceiling of the column 72A.
- the support 74 is supported by the ceiling of the column 72B via a slide guide 75.
- the slide guide 75 comprises an air ball lifter and a positioning mechanism, and positions the support 74 (i.e., the mask stage MST described later) at an appropriate position in the X-axis direction relative to the optical base 73.
- the illumination system IOP is disposed above the body 70.
- the illumination system IOP irradiates the mask MSK with illumination light IL.
- the detailed configuration of the illumination system IOP will be described later.
- the mask stage MST is supported by a support 74.
- a mask MSK having a pattern surface (the lower surface in FIG. 1) on which a circuit pattern is formed is fixed to the mask stage MST by, for example, vacuum adhesion (or electrostatic adhesion).
- the mask stage MST is driven by a drive system including, for example, a linear motor at a predetermined stroke in the scanning direction (X-axis direction) and is also slightly driven in the non-scanning directions (Y-axis direction and ⁇ z direction).
- the position information of the mask stage MST in the XY plane is measured by an interferometer system.
- the interferometer system measures the position of the mask stage MST by irradiating a measurement beam onto a movable mirror (or a mirror-finished reflective surface (not shown)) provided at the end of the mask stage MST and receiving the reflected light from the movable mirror.
- the measurement results are supplied to a control device (not shown), which drives the mask stage MST via a drive system in accordance with the measurement results of the interferometer system.
- the projection optical system PL is supported by an optical base 73 below (-Z side) the mask stage MST.
- the projection optical system PL is configured in the same manner as the projection optical system disclosed in, for example, U.S. Patent No. 5,729,331, and includes multiple (e.g., seven) projection optical units 100a-100g (multi-lens projection optical units) in which the projection areas of the pattern image of the mask MSK are arranged, for example, in a staggered pattern. Note that, of the seven projection optical units 100a-100g, only four projection optical units 100a, 100c, 100e, and 100g are shown in FIG. 1.
- FIG. 2 is a perspective view showing the arrangement of multiple projection optical units 100a-100g.
- four projection optical units 100a, 100c, 100e, and 100g are arranged at a predetermined interval in the Y-axis direction, and the remaining three projection optical units 100b, 100d, and 100f are arranged at a predetermined interval in the Y-axis direction, spaced apart from the four projection optical units 100a, 100c, 100e, and 100g on the +X side.
- Each of the multiple projection optical units 100a-100g is, for example, a two-sided telecentric life-size system that forms an erect normal image.
- FIG. 3(A) is a diagram showing the exposure fields PIa to PIe of the seven projection optical units 100a to 100g on the substrate P.
- the exposure fields PIa, PIc, PIe, and PIg of the projection optical units 100a, 100c, 100e, and 100g, which are arranged in order in the +Y direction, are trapezoids with the short side of the two sides parallel to the Y direction on the +X side and the long side on the -X side.
- the exposure fields PIb, PId, and PIf of the projection optical units 100b, 100d, and 100f, which are arranged in order in the +Y direction, are trapezoids with the short side of the two sides parallel to the Y direction on the -X side and the long side on the +X side.
- the exposure field PIa which is located at the end in the -Y direction, has its illumination light blocked by a field diaphragm (not shown) so that its -Y end is parallel to the X direction.
- the exposure field PIg which is located at the end in the +Y direction, has its illumination light blocked by a field diaphragm so that its +Y end is parallel to the X direction.
- FIG. 3(B) is a diagram showing the exposure areas formed on substrate P when substrate P is scanned in the X direction by substrate stage PST and exposed by exposure fields PIa-PIg shown in FIG. 3(A). Exposure areas (scanning exposure fields) SIa-SIg exposed by each exposure field PIa-PIg by scanning exposure are formed on substrate P.
- exposure areas SIa, SIc, SIe, SIg formed by projection optical units 100a, 100c, 100e, 100g are shown by dashed lines
- exposure areas SIb, SId, SIf formed by projection optical units 100b, 100d, 100f are shown by dashed lines.
- These exposure areas SIa-SIg are the exposure fields PIa-PIg extended in the X direction by scanning exposure in the X direction.
- the illumination light IL that has passed through the mask MSK forms a projected image (partial upright image) of the circuit pattern of the mask MSK in the illumination area in the irradiation area (exposure area (conjugate to the illumination area)) on the substrate P arranged on the image plane side of the projection optical system PL via the projection optical system PL.
- a resist sensitizer
- the substrate stage PST By synchronously driving the mask stage MST and the substrate stage PST, i.e., by driving the mask MSK in the scanning direction (X-axis direction) relative to the illumination area (illumination light IL) and driving the substrate P in the same scanning direction relative to the exposure area (illumination light IL), the substrate P is exposed and the pattern of the mask MSK is transferred onto the substrate P.
- the substrate stage PST is placed on a base (vibration isolation table) 71 below (on the -Z side) the projection optical system PL.
- the substrate P is held on the substrate stage PST via a substrate holder (not shown).
- the position information of the substrate stage PST in the XY plane (including rotation information (yawing amount (amount of rotation in the ⁇ z direction ⁇ z), pitching amount (amount of rotation in the ⁇ x direction ⁇ x), and rolling amount (amount of rotation in the ⁇ y direction ⁇ y))) is measured by an interferometer system.
- the interferometer system measures the position of the substrate stage PST by irradiating a measurement beam from the optical base 73 to a movable mirror (or a mirror-finished reflective surface (not shown)) provided at the end of the substrate stage PST and receiving the reflected light from the movable mirror.
- the measurement result is supplied to a control device (not shown), which drives the substrate stage PST in accordance with the measurement result of the interferometer system.
- alignment measurement (e.g., EGA, etc.) is performed prior to exposure, and the results are used to expose the substrate P in the following procedure.
- the mask stage MST and substrate stage PST are synchronously driven in the X-axis direction in accordance with instructions from the control device. This performs scanning exposure on the first shot area on the substrate P.
- the control device moves (steps) the substrate stage PST to a position corresponding to the second shot area. Then, scanning exposure is performed on the second shot area.
- the control device similarly repeats stepping between shot areas of the substrate P and scanning exposure on the shot areas to transfer the pattern of the mask MSK to all shot areas on the substrate P.
- FIG. 4 is a diagram showing a schematic configuration of the illumination system IOP.
- the illumination system IOP includes a light source section 20 and a plurality of illumination optical systems (illumination units) 80a to 80g (see FIG. 2) corresponding to the plurality of projection optical units 100a to 100g included in the projection optical system PL.
- FIG. 4 illustrates the illumination optical system 80a and the illumination optical system 80b, which are arranged apart in the X direction, among the plurality of illumination optical systems 80a to 80g.
- the illumination optical systems 80a to 80g may be referred to as the illumination optical system 80 unless there is a particular need to distinguish between them.
- the light source unit 20 includes a light source 21 such as a mercury lamp, an elliptical mirror 22, a folding mirror 23, a relay lens 24, a folding mirror 25, a relay lens 26, and an optical fiber 27.
- the illumination light supplied from the light source 21 is supplied to the illumination optical systems 80a to 80g via a light guide optical system including the elliptical mirror 22, the folding mirror 23, the relay lens 24, the folding mirror 25, the relay lens 26, and the optical fiber 27.
- the optical fiber 27 splits the illumination light incident on one entrance side 271 approximately evenly and outputs it to seven exit sides 272a to 272g (only two are shown in FIG. 4).
- a laser light source, a UV (Ultra Violet)-LED (Light Emitting Diode) light source, or the like may also be used as the light source 21.
- the illumination optical system 80a includes an input lens 83, a fly-eye lens FEL, a condenser lens 84, and a filter unit 85. Note that an optical integrator other than a fly-eye lens (such as a rod integrator) may also be used.
- the illumination light emitted from the exit side 272a of the optical fiber 27 enters the input lens 83 provided in the illumination optical system 80a.
- the fly-eye lens FEL is constructed by, for example, arranging a large number of lens elements having positive refractive power vertically and horizontally and densely so that their optical axes are parallel to the reference optical axis AXa.
- Each lens element constituting the fly-eye lens FEL has a rectangular cross section similar to the shape of the illumination field to be formed on the mask MSK (and thus the shape of the exposure area to be formed on the substrate P).
- the reference optical axis AXa and the reference optical axis AXb of the illumination optical system 80b may be referred to as the optical axis AX.
- the light beam incident on the fly-eye lens FEL is wavefront split by multiple lens elements, and one light source image is formed on or near the rear focal plane (exit surface) of each lens element.
- a substantial surface light source i.e., a secondary light source, consisting of multiple light source images is formed on or near the rear focal plane (exit surface) of the fly-eye lens FEL.
- the light beam from the secondary light source formed on or near the rear focal plane (exit surface) of the fly-eye lens FEL is subjected to the focusing action of the condenser lens 84, and then illuminates the filter unit 85 in a superimposed manner.
- the substrate stage PST is moved (stepped) to a position corresponding to the second shot area (the first shot area and the second shot area are aligned along the non-scanning direction), and the scanning exposure of the second shot area is performed so as to overlap a part of the first shot area (in the case of screen synthesis), the light shielding plate is driven so as to overlap with the opening of the field stop (trapezoid) included in the projection optical unit that exposes the overlapping part of the first shot area and the second shot area (the joint part in the screen synthesis), thereby changing the size of the exposure field (trapezoid) of the projection optical unit that exposes the joint part in the screen synthesis, and making it possible to change the position of the joint part in the screen synthesis.
- the opening of the field stop trapezoid
- the field stop it is preferable to suppress the nonuniformity of the illuminance distribution in the X-axis direction (scanning direction).
- the exposure apparatus 10 is equipped with a filter unit 85 that has the function of making the illuminance distribution of the illumination light IL that illuminates the mask MSK uniform.
- the illumination light IL whose illuminance distribution has been made uniform by the filter unit 85, illuminates the mask MSK.
- Figure 5 (A) is a schematic diagram showing the configuration of the filter unit 85.
- the filter unit 85 includes a first movable filter 85a (first filter), a second movable filter 85b (third filter), and a fixed filter 85c (second filter) arranged along the optical axis AX (corresponding to the Z-axis direction).
- the first movable filter 85a, the second movable filter 85b, and the fixed filter 85c each have the form of a parallel plane plate made of an optical material such as quartz or i-line glass, and their thickness is approximately constant.
- a dense pattern of light-shielding dots made of chromium, chromium oxide, or the like is formed on the optical surface of each of the first movable filter 85a, the second movable filter 85b, and the fixed filter 85c.
- the first movable filter 85a, the second movable filter 85b, and the fixed filter 85c each have a transmittance distribution that differs depending on the position of incidence of light (more specifically, the position in the X-axis direction and the Y-axis direction).
- FIG. 5(B) is a schematic plan view of the first movable filter 85a, the second movable filter 85b, and the fixed filter 85c.
- the first movable filter 85a, the second movable filter 85b, and the fixed filter 85c have, for example, a circular outer shape centered on the optical axis AX.
- the first movable filter 85a is configured to be movable along the X-axis direction and the Y-axis direction while maintaining a position in which its incident surface is perpendicular to the optical axis AX.
- the second movable filter 85b is configured to be movable along the Y-axis direction while maintaining a position in which its incident surface is perpendicular to the optical axis AX.
- the second movable filter 85b may also be configured to be movable in the X-axis direction.
- the relative positions of the first movable filter 85a and the fixed filter 85c can be changed in the X-axis direction and the Y-axis direction.
- the relative positions of the second movable filter 85b and the fixed filter 85c can be changed in the Y-axis direction.
- the positions where the centers of the first movable filter 85a, the second movable filter 85b, and the fixed filter 85c coincide with the optical axis AX are referred to as the reference positions.
- the first movable filter 85a has a first transmittance distribution T1 (x, y) represented by local coordinates (x, y).
- the first transmittance distribution T 1 (x, y) is formed in the Y-axis direction according to a function Ty 1 (y) expressed as an n-th degree equation (n is a natural number of 2 or more) with the y coordinate as a variable.
- the first transmittance distribution T 1 (x, y) is formed in the X-axis direction according to a function Tx 1 (x) expressed as a k-th degree equation (k is a natural number of 2 or more) with the x coordinate as a variable.
- the second movable filter 85b has a second transmittance distribution T2 (x,y) represented by local coordinates (x,y). More specifically, the second transmittance distribution T2 (x,y) is formed in the Y-axis direction according to a function Ty2 (y) expressed by an m-th degree equation (m is a natural number of 2 or more) with the y-coordinate as a variable.
- the fixed filter 85c has a third transmittance distribution T3 (x,y) that is complementary to the first transmittance distribution T1 (x,y) and the second transmittance distribution T2 (x,y).
- “complementary to the first transmittance distribution T1 (x,y) and the second transmittance distribution T2 (x,y)” means that the product of the first transmittance distribution T1 (x,y) and the third transmittance distribution T3 (x,y) is substantially constant (substantially flat), and the product of the second transmittance distribution T2 (x,y) and the third transmittance distribution T3 (x,y) is substantially constant (substantially flat).
- the third transmittance distribution T 3 (x, y) is formed in the Y-axis direction according to a function Ty 3 (y) that is complementary to the functions Ty 1 (y) and Ty 2 (y).
- "complementary to the functions Ty 1 (y) and Ty 2 (y)” means that the product of the functions Ty 1 (y) and Ty 3 (y) is substantially constant (almost flat), and the product of the functions Ty 2 (y) and Ty 3 (y) is substantially constant.
- the third transmittance distribution T 3 (x, y) is formed in the X-axis direction according to a function Tx 3 (x) that is complementary to the function Tx 1 (x).
- “complementary to the function Tx 1 (x)” means that the product of the functions Tx 1 (x) and Ty 3 (y) is substantially constant.
- the function Ty1 (y) may be referred to as the first transmittance distribution Ty1 (y) in the Y-axis direction, the function Ty2 (y) as the second transmittance distribution Ty2 (y) in the Y-axis direction, the function Tx1 (x) as the first transmittance distribution Tx1 (x) in the X-axis direction, and the function Ty3 (y) as the third transmittance distribution Ty3 (y) in the Y-axis direction.
- the illuminance distribution of the light incident on the filter unit 85 is corrected according to a composite transmittance distribution Tcmb (x,y) obtained by combining the first transmittance distribution T1 (x,y), the second transmittance distribution T2(x,y), and the third transmittance distribution T3 ( x,y).
- Tcmb (y) the composite transmittance distribution in the Y-axis direction
- Fig. 6(A) is a diagram showing a composite transmittance distribution in the Y-axis direction obtained when the first movable filter 85a, the second movable filter 85b, and the fixed filter 85c are each in a reference position
- Fig. 6(B) is a diagram showing a composite transmittance distribution obtained when the position of the first movable filter 85a is shifted from the reference position in the Y-axis direction
- Fig. 6(C) is a diagram showing a composite transmittance distribution obtained when the position of the second movable filter 85b is shifted from the reference position in the Y-axis direction. Note that in Figs.
- the third transmittance distribution Ty 3 (y) in the Y-axis direction is complementary to the first transmittance distribution Ty 1 (y) in the Y-axis direction and the second transmittance distribution Ty 2 (y) in the Y-axis direction, so that the composite transmittance distribution Ty cmb (y) in the Y-axis direction obtained when the first movable filter 85 a, the second movable filter 85 b, and the fixed filter 85 c are each in the reference position is approximately constant (almost flat) in the Y-axis direction.
- the composite transmittance distribution Ty cmb (y) in the Y-axis direction becomes one order lower than the order of the first transmittance distribution Ty 1 (y) in the Y-axis direction and the second transmittance distribution Ty 2 (y) in the Y-axis direction, respectively.
- FIG. 7A is a diagram showing a composite transmittance distribution obtained when a fourth filter having a fourth transmittance distribution Ty4 formed according to a quadratic equation in the Y-axis direction and a fifth filter having a fifth transmittance distribution Ty5 complementary to the fourth transmittance distribution Ty4 are located at reference positions
- FIG. 7B is a diagram showing a composite transmittance distribution obtained when the fifth filter is moved by ⁇ y ( ⁇ 0) in the Y-axis direction.
- the composite transmittance distribution is Since f(y) 2 ⁇ T ave 2 , As a result, as shown in FIG. 7A, the composite transmittance distribution becomes approximately constant (almost flat).
- the composite transmittance distribution of the fourth transmittance distribution and the fifth transmittance distribution is expressed as follows: It can be seen that this is expressed by an equation that is one order smaller than the fourth transmittance distribution.
- the fourth transmittance distribution of the fourth filter should be expressed by a jth degree equation.
- the transmittance width increases as the order of the function representing the fourth transmittance distribution increases. If the transmittance width increases, the transmittance decreases too much when the fourth filter is shifted from the reference position, and the illuminance of the illumination light decreases.
- the transmittance width W3 of the fourth transmittance distribution formed according to the function f5(y) is smaller than the transmittance width W2 of the fourth transmittance distribution formed according to the function f2(y).
- the function expressed by the jth degree equation that represents the transmittance distribution can reduce the transmittance width by including terms of the j-1th degree or lower.
- the second transmittance distribution Ty2 (y) in the Y-axis direction of the second movable filter 85b is a cubic expression ( ⁇ y3 + ⁇ y+ ⁇ ) including a linear term ( ⁇ y).
- the illuminance in the illumination area formed by multiple illumination units was measured and the illuminance uniformity was investigated when a conventional filter unit was used and when the filter unit 85 according to this embodiment was used.
- each filter has a transmittance distribution that varies depending on the position of incidence of light (more specifically, the position in the X-axis and Y-axis directions), and a predetermined transmittance distribution corresponding to tilt correction and curvature correction is formed.
- a filter corresponding to the illuminance distribution to be corrected is selected, and a method is adopted in which the non-uniformity (illuminance unevenness) of the illuminance distribution in the Y-axis direction, which is calculated by averaging the accumulated scanning illuminance in the X-axis direction (called the scan average), is corrected by rotating the filter.
- the evaluation was performed under conditions where a filter unit was installed to perform tilt correction and curvature correction, and the rotation angle was calculated and correction was performed for the uneven illuminance of each data, and the above index value was calculated.
- the evaluation was performed under conditions where the movable filter was equipped with tilt correction in the X-axis and Y-axis directions and curvature correction in the Y-axis direction, and the amount of movement in the X-axis and Y-axis directions was calculated for the illuminance unevenness of each data, correction was performed, and the above index value was calculated.
- the method according to this embodiment can reduce illuminance unevenness to approximately 50% or less compared to conventional methods in all of the above indicators.
- the conventional method is designed to correct illuminance unevenness after averaging the scan, and there are limitations to correcting illuminance unevenness over the entire illuminated area, but the method according to this embodiment ensures the freedom to correct illuminance unevenness over the entire illuminated area by appropriately calculating the amount of movement of the movable filter, and illuminance unevenness can be suppressed to approximately 1/3 or less on the average data compared to the conventional method. In this way, it has been shown that the filter unit 85 according to this embodiment exhibits a significant improvement in illuminance unevenness compared to conventional filter units.
- the use of the filter unit 85 according to this embodiment improved the illuminance uniformity.
- the filter unit 85 includes a plurality of filters arranged on the optical axis AX of the illumination optical system 80 that illuminates the mask MSK.
- the plurality of filters include a first movable filter 85a having a first transmittance distribution T1 (x,y) and a fixed filter 85c having a third transmittance distribution T3 (x,y).
- the first transmittance distribution T1 (x,y) is formed in the Y-axis direction of an XY coordinate system in a plane perpendicular to the optical axis AX of the illumination optical system 80 according to a function Ty1 (y) expressed by an n-th degree equation (n is a natural number of 2 or more) with the coordinate in the Y-axis direction as a variable, the third transmittance distribution T3 (x,y) is complementary to at least the first transmittance distribution Ty1 (y) in the Y-axis direction, and the relative positions of the first movable filter 85a and the fixed filter 85c are changeable at least in the Y-axis direction.
- the multiple filters include a second movable filter 85b having a second transmittance distribution T2 (x,y).
- the second transmittance distribution is formed in the Y-axis direction according to a function Ty2 (y) expressed by an m-th degree equation (m is a natural number of 2 or more) with the coordinate in the Y-axis direction as a variable
- the third transmittance distribution T3 (x,y) of the fixed filter 85c is complementary to the first transmittance distribution Ty1 (y) and the second transmittance distribution Ty2 (y) in the Y-axis direction
- the relative position of the fixed filter 85c and the second movable filter 85b is changeable in the Y-axis direction.
- the function Ty 2 (y) has terms of order m-1 or less. This makes it possible to reduce the transmittance width, which is the difference between the maximum transmittance and the minimum transmittance of the second movable filter 85b, as described with reference to Figures 8A and 8B. This makes it possible to suppress a decrease in the illuminance of the illumination light IL caused by the filter unit 85.
- the order (third order) of the function Ty2 (y) representing the second transmittance distribution in the Y-axis direction is greater than the order (second order) of the function Ty1 (y) representing the first transmittance distribution in the Y-axis direction, which allows different correction functions (tilt correction, curvature correction) to be assigned to the first movable filter 85a and the second movable filter 85b.
- the first transmittance distribution is formed in the X-axis direction according to a function Tx1 (x) expressed by a kth degree equation (k is a natural number greater than or equal to 2) with the coordinate in the X-axis direction as a variable
- the third transmittance distribution T3 (x, y) is complementary to the first transmittance distribution Tx1 (x) in the X-axis direction
- the relative positions of the first movable filter 85a and the fixed filter 85c are changeable in the Y-axis direction and the X-axis direction.
- the function Tx 1 (x) representing the first transmittance distribution in the X-axis direction includes terms of order k-1 or lower. This makes it possible to reduce the transmittance width, which is the difference between the maximum transmittance and the minimum transmittance of the first movable filter 85a, as described with reference to Figures 8A and 8B. This makes it possible to suppress a decrease in the illuminance of the illumination light IL caused by the filter unit 85.
- the correction of the illuminance distribution of the illumination light IL by the filter unit 85 is performed at a predetermined timing when the exposure apparatus 10 is installed, when the exposure apparatus 10 is maintained, and when the exposure apparatus 10 is used.
- the illuminance distribution of the illumination light IL is measured, and the positions of the first movable filter 85a and the second movable filter 85b that can make the illuminance distribution of the illumination light IL uniform are calculated based on the measurement results, and the first movable filter 85a and the second movable filter 85b are moved to the positions.
- the positions of the first movable filter 85a and the second movable filter 85b may be moved manually or by using an actuator such as a motor.
- the first movable filter 85a has a function of correcting the illuminance distribution in the X-axis direction
- the second movable filter 85b may have a function of correcting the illuminance distribution in the X-axis direction
- a filter other than the first movable filter 85a and the second movable filter 85b may have a function of correcting the illuminance distribution in the X-axis direction.
- the fixed filter 85c has a third transmittance distribution that is complementary to the first transmittance distribution of the first movable filter 85a and the second transmittance distribution of the second movable filter 85b in the Y-axis direction and complementary to the first transmittance distribution of the first movable filter 85a in the X-axis direction.
- a filter having a transmittance distribution complementary to the first transmittance distribution and a filter having a transmittance distribution complementary to the second transmittance distribution may be separately arranged.
- a filter having a transmittance distribution complementary to the first transmittance distribution in the Y-axis direction and a filter having a transmittance distribution complementary to the first transmittance distribution in the X-axis direction may be separately arranged.
- the third transmittance distribution of the fixed filter 85c may not be complementary to the first transmittance distribution of the first movable filter 85a and the second transmittance distribution of the second movable filter 85b in the Y-axis direction, and may not be complementary to the first transmittance distribution of the first movable filter 85a in the X-axis direction.
- the transmittance distribution in the X-axis direction of the second movable filter 85b is constant, but the transmittance distribution in the X-axis direction may be formed according to a function expressed as a jth degree equation (j is a natural number of degree two or higher) with the coordinate in the X-axis direction as a variable.
- the filter unit 85 one of the elements constituting the illumination optical system 80, is positioned closest to the mask MSK, but this is not limited to the above.
- the filter unit 85 only needs to be positioned at an appropriate position on the optical path of the illumination optical system 80.
- a spatial light modulation element such as a digital micromirror device (DMD) in which a large number of micromirrors that are minutely displaced are regularly arranged can be used and positioned at an appropriate position.
- DMD digital micromirror device
- the fixed filter 85c does not move (is fixed) in the X-axis direction and the Y-axis direction, but the fixed filter 85c may be movable in at least one of the X-axis direction and the Y-axis direction.
- the filter unit 85 includes a plurality of filters arranged on the optical axis AX of the illumination optical system 80.
- the plurality of filters include a first movable filter 85a, a second movable filter 85b, and a fixed filter 85c.
- the first movable filter 85a has a first transmittance distribution that is non-uniform in the Y-axis direction intersecting the optical axis AX in the region where the illumination light IL is incident
- the second movable filter 85b has a second transmittance distribution that is non-uniform in the Y-axis direction and different from the first transmittance distribution in the region where the illumination light IL is incident
- the fixed filter 85c has a third transmittance distribution that is non-uniform in the Y-axis direction and different from the first transmittance distribution and the second transmittance distribution in the region where the illumination light IL is incident.
- the filter unit 85 has a first composite transmittance distribution when the first movable filter 85a, the second movable filter 85b, and the fixed filter 85c are each at a reference position in the Y-axis direction, has a second composite transmittance distribution when the first movable filter 85a is at a position other than the reference position in the Y-axis direction and the second movable filter 85b and the fixed filter 85c are each at a reference position in the Y-axis direction, and has a third composite transmittance distribution when the first movable filter 85a and the fixed filter 85c are each at a reference position in the Y-axis direction and the second movable filter 85b is at a position other than the reference position in the Y-axis direction.
- the first composite transmittance distribution has a transmittance within a predetermined range
- the second composite transmittance distribution monotonically increases from one side to the other side in the Y-axis direction so that the transmittance is smaller than the lower limit of the predetermined range on one side in the Y-axis direction and larger than the upper limit of the predetermined range on the other side in the Y-axis direction, or monotonically decreases from one side to the other side in the Y-axis direction so that the transmittance is larger than the upper limit of the predetermined range on one side in the Y-axis direction and smaller than the lower limit of the predetermined range on the other side in the Y-axis direction
- the third composite transmittance distribution is convex toward the higher transmittance side so that the transmittance is smaller than the lower limit of the predetermined range on both sides in the Y-axis direction, or is convex toward the lower transmittance side so that the transmittance is larger than the upper limit of the predetermined range on both sides in the Y
- the first movable filter 85a has a first transmittance distribution along the X-axis direction perpendicular to the Y-axis direction in the region where the illumination light IL is incident, which is non-uniform in the Y-axis direction
- the second movable filter 85b has a second transmittance distribution along the X-axis direction, which is non-uniform in the Y-axis direction, in the region where the illumination light IL is incident
- the fixed filter 85c has a third transmittance distribution along the X-axis direction, which is non-uniform in the Y-axis direction, in the region where the illumination light IL is incident.
- the first composite transmittance distribution is substantially constant
- the second composite transmittance distribution is inclined
- the third composite transmittance distribution is curved.
- the reference positions of the first movable filter 85a, the second movable filter 85b, and the fixed filter 85c are positions in the Y-axis direction where the center of the first movable filter 85a, the center of the second movable filter 85b, and the center of the fixed filter 85c coincide with the optical axis AX.
- the first movable filter 85a is movable in the Y-axis direction
- the second movable filter 85b is movable in the Y-axis direction
- the fixed filter 85c is fixed to a reference position in the Y-axis direction.
- the area into which the illumination light IL is incident on each of the first movable filter 85a, the second movable filter 85b, and the fixed filter 85c is rectangular.
- the difference between the upper and lower limits of the specified range is smaller than the difference between the maximum and minimum transmittances of the first transmittance distribution, smaller than the difference between the maximum and minimum transmittances of the second transmittance distribution, and smaller than the difference between the maximum and minimum transmittances of the third transmittance distribution.
- the first transmittance distribution is convex toward the higher transmittance side or convex toward the lower transmittance side
- the second transmittance distribution includes a first region that is convex toward the higher transmittance side and a second region that is convex toward the lower transmittance side
- the third transmittance distribution includes a region that is convex toward the lower transmittance side and corresponds to the first region, and a region that is convex toward the higher transmittance side and corresponds to the second region.
- the filter unit 85 is positioned so that light from the filter unit 85 enters the mask MSK without passing through a lens.
- the illumination optical system 80 includes a fly-eye lens FEL arranged on the optical axis AX, and a filter unit 85 into which the illumination light IL enters via the fly-eye lens FEL.
- the exposure apparatus 10 includes an illumination optical system 80a that illuminates the mask MSK, a projection optical unit 100a that irradiates the substrate with light from the illumination optical system 80a via the mask MSK, an illumination optical system 80b different from the illumination optical system 80a that illuminates the mask MSK, and a projection optical unit 100b different from the projection optical unit 100a that irradiates the substrate P with light from the illumination optical system 80b via the mask MSK, and performs continuous exposure using the projection optical unit 100a and the projection optical unit 100b while moving the substrate P in a scanning direction corresponding to the X-axis direction.
- the exposure apparatus 10 includes an illumination optical system 80 that illuminates the mask MSK, and a projection optical system PL that irradiates the substrate P with light from the illumination optical system 80 via the mask MSK.
- the projection optical system PL may scan-expose a first region of the substrate P while the substrate P is moved in a scanning direction corresponding to the X-axis direction, and then the projection optical system PL may scan-expose a second region of the substrate P that overlaps with part of the first region and is different from the first region while the substrate P is moved in a direction parallel to the scanning direction.
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Abstract
フィルタユニットは、被照射面を照明する照明光学系の光軸上に配置される複数のフィルタを含むフィルタユニットであって、前記複数のフィルタは、第1透過率分布を有する第1フィルタと、第2透過率分布を有する第2フィルタと、を含み、前記第1透過率分布は、前記照明光学系の光軸と直交する平面内の直交座標系の第1方向において、前記第1方向における座標を変数とするn次式(nは2以上の自然数)で表される第1関数にしたがって形成され、前記第1フィルタと前記第2フィルタとの相対位置は、少なくとも前記第1方向において変更可能である。
Description
フィルタユニット、照明ユニット、露光装置、及び露光方法に関する。
近年、パソコンやテレビ等の表示素子として、液晶表示パネルが多用されている。液晶表示パネルは、プレート(ガラス基板)上にフォトリソグラフィの手法で薄膜トランジスタの回路パターンを形成することによって製造される。このフォトリソグラフィ工程のための装置として、マスク上に形成された原画パターンを、投影光学系を介してプレート上のフォトレジスト層に投影露光する露光装置が用いられている(例えば、特許文献1)。
露光光の照度均一性を向上させることが望まれている。
第1の開示の態様によれば、フィルタユニットは、被照射面を照明する照明光学系の光軸上に配置される複数のフィルタを含むフィルタユニットであって、前記複数のフィルタは、第1透過率分布を有する第1フィルタと、第2透過率分布を有する第2フィルタと、を含み、前記第1透過率分布は、前記照明光学系の光軸と直交する平面内の直交座標系の第1方向において、前記第1方向における座標を変数とするn次式(nは2以上の自然数)で表される第1関数にしたがって形成され、前記第1フィルタと前記第2フィルタとの相対位置は、少なくとも前記第1方向において変更可能である。
第2の開示の態様によれば、照明ユニットは、光源から出射された光が入射されるオプティカルインテグレータと、上記フィルタユニットと、を備え、前記オプティカルインテグレータから出射された光は前記フィルタユニットに入射される。
第3の開示の態様によれば、露光装置は、複数の上記照明ユニットと、
前記複数の照明ユニットに対応し、前記複数の照明ユニットにより照明されるマスクのパターン像を感光性基板上に投影する複数の投影光学ユニットと、を備え、前記複数の投影光学ユニットは第1投影光学ユニットと第2投影光学ユニットとを含み、前記第1投影光学ユニットの露光領域と前記第2投影光学ユニットの露光領域とは部分的に重なる。
前記複数の照明ユニットに対応し、前記複数の照明ユニットにより照明されるマスクのパターン像を感光性基板上に投影する複数の投影光学ユニットと、を備え、前記複数の投影光学ユニットは第1投影光学ユニットと第2投影光学ユニットとを含み、前記第1投影光学ユニットの露光領域と前記第2投影光学ユニットの露光領域とは部分的に重なる。
第4の開示の態様によれば、露光方法は、上記露光装置を用いた露光方法であって、前記照明ユニットを用いて前記マスクを照明することと、前記投影光学ユニットを用いて前記マスクの前記パターン像を前記感光性基板へ投影することと、を含む。
第5の開示の態様によれば、フィルタユニットは、光学系の光軸上に配置される複数のフィルタを含むフィルタユニットであって、前記複数のフィルタは、第1透過率分布を有する第1フィルタと、第2透過率分布を有する第2フィルタと、
を含み、前記第1透過率分布は、前記光学系の前記光軸と直交する平面内の直交座標系の第1方向において不均一であり、前記第2透過率分布は、前記第1方向において不均一であり、前記第1フィルタと前記第2フィルタとの相対位置は、少なくとも前記第1方向において変更可能である。
を含み、前記第1透過率分布は、前記光学系の前記光軸と直交する平面内の直交座標系の第1方向において不均一であり、前記第2透過率分布は、前記第1方向において不均一であり、前記第1フィルタと前記第2フィルタとの相対位置は、少なくとも前記第1方向において変更可能である。
第6の開示の態様によれば、照明ユニットは、光源から出射された光が入射されるオプティカルインテグレータと、前記オプティカルインテグレータから出射された光が入射される上記フィルタユニットと、を含む。
第7の開示の態様によれば、露光装置は、複数の上記照明ユニットと、前記複数の照明ユニットに対応した複数の投影光学ユニットと、を含み、前記複数の投影光学ユニットは第1投影光学ユニットと第2投影光学ユニットとを含み、前記第1投影光学ユニットの露光領域と前記第2投影光学ユニットの露光領域とは部分的に重なる。
第8の開示の態様によれば、露光方法は、上記露光装置を用いた露光方法であって、前記複数の照明ユニットを用いて前記マスクを照明することと、前記複数の投影光学ユニットを用いて前記マスクの前記パターン像を前記感光性基板へ投影することと、を含む。
第9の開示の態様によれば、フィルタユニットは、光学系の光軸上に配置された複数のフィルタを含むフィルタユニットであって、前記複数のフィルタは、第1フィルタ、第2フィルタ、および第3フィルタを含み、前記第1フィルタは、照明光が入射する領域において、前記光軸と交差する第1方向において不均一である第1透過率分布を有し、前記第2フィルタは、前記照明光が入射する領域において、前記第1方向において不均一であり前記第1透過率分布と異なる第2透過率分布を有し、前記第3フィルタは、前記照明光が入射する領域において、前記第1方向において不均一であり前記第1透過率分布および前記第2透過率分布と異なる第3透過率分布を有し、前記フィルタユニットは、前記第1フィルタ、前記第2フィルタ、および、前記第3フィルタがそれぞれ前記第1方向において基準位置にあるときに、第1合成透過率分布を有し、前記第1フィルタが前記第1方向において前記基準位置以外にあり、かつ、前記第2フィルタおよび前記第3フィルタがそれぞれ前記第1方向において前記基準位置にあるときに、第2合成透過率分布を有し、前記第1フィルタと前記第3フィルタがそれぞれ前記第1方向において前記基準位置にあり、かつ、前記第2フィルタが前記第1方向において前記基準位置以外にあるときに、第3合成透過率分布を有し、前記第1合成透過率分布は、透過率が所定範囲内にあり、前記第2合成透過率分布は、透過率が、前記第1方向の一方側において前記所定範囲の下限よりも小さく、前記第1方向の他方側において前記所定範囲の上限よりも大きくなるように、前記第1方向の前記一方側から前記他方側に向かうにつれて単調増加し、または、前記第1方向の前記一方側において前記所定範囲の上限よりも大きく、前記第1方向の前記他方側において前記所定範囲の下限よりも小さくなるように、前記第1方向の前記一方側から前記他方側に向かうにつれて単調減少し、前記第3合成透過率分布は、透過率が、前記第1方向の前記一方側および前記他方側において前記所定範囲の下限よりも小さくなるように、透過率が高い方に向かって凸であり、または、前記第1方向の前記一方側および前記他方側において前記所定範囲の上限よりも大きくなるように、透過率が低い方に向かって凸である。
第10の開示の態様によれば、照明ユニットは、光軸上に配置されたフライアイレンズと、前記フライアイレンズを介した前記照明光が入射する上記フィルタユニットと、を備える。
第11の開示の態様によれば、露光装置は、マスクを照明する上記照明光学系である第1照明光学系と、前記マスクを介した前記第1照明光学系からの光を基板に照射する第1投影光学系と、前記マスクを照明する、前記第1照明光学系とは異なる第2照明光学系と、前記マスクを介した前記第2照明光学系からの光を前記基板に照射する、前記第1投影光学系とは異なる第2投影光学系と、を備え、前記基板を前記第2方向と対応する走査方向に移動させながら前記第1投影光学系および前記第2投影光学系により継ぎ露光を行う。
第12の開示の態様によれば、露光装置は、マスクを照明する上記照明光学系と、前記マスクを介した前記照明光学系からの光を基板に照射する投影光学系と、
を備え、前記基板を前記第2方向と対応する走査方向に移動させながら前記投影光学系により前記基板の第1領域を走査露光した後、前記基板を前記走査方向と平行な方向に移動させながら前記投影光学系により前記第1領域の一部と重なり、前記第1領域とは異なる、前記基板の第2領域を走査露光する。
を備え、前記基板を前記第2方向と対応する走査方向に移動させながら前記投影光学系により前記基板の第1領域を走査露光した後、前記基板を前記走査方向と平行な方向に移動させながら前記投影光学系により前記第1領域の一部と重なり、前記第1領域とは異なる、前記基板の第2領域を走査露光する。
なお、後述の実施形態の構成を適宜改良しても良く、また、少なくとも一部を他の構成物に代替させても良い。更に、その配置について特に限定のない構成要件は、実施形態で開示した配置に限らず、その機能を達成できる位置に配置することができる。
一実施形態に係る露光装置10について、図1~図8(B)に基づいて説明する。
(露光装置の構成)
図1は、実施形態に係る露光装置10の構成を概略的に示す図である。
図1は、実施形態に係る露光装置10の構成を概略的に示す図である。
露光装置10は、マスクMSKとガラス基板(以下、「基板」と呼ぶ)Pとを投影光学系PLに対して同一方向に同一速度で駆動することで、マスクMSKに形成されたパターンを基板P上に転写するスキャニング・ステッパ(スキャナ)である。基板Pは、例えば液晶表示装置(フラットパネルディスプレイ)に用いられる矩形のガラス基板であり、少なくとも一辺の長さ又は対角長が500mm以上である。
以下においては、走査露光の際にマスクMSK及び基板Pが駆動される方向(走査方向)をX軸方向とし、これに直交する水平面内での方向をY軸方向、X軸及びY軸に直交する方向をZ軸方向、X軸、Y軸、及びZ軸回りの回転(傾斜)方向をそれぞれθx、θy、及びθz方向とする。
露光装置10は、照明系IOP、マスクMSKを保持するマスクステージMST、投影光学系PL、これらを支持するボディ70、基板Pを保持する基板ステージPST、及びこれらの制御系等を備える。制御系は、露光装置10の構成各部を統括制御する。
ボディ70は、ベース(防振台)71、コラム72A,72B、光学定盤73、支持体74、及びスライドガイド75を備える。ベース(防振台)71は、床F上に配置され、床Fからの振動を除振してコラム72A,72B等を支持する。コラム72A,72Bはそれぞれ枠体形状を有し、コラム72Bの内側にコラム72Aが配置されている。光学定盤73は、平板形状を有し、コラム72Aの天井部に固定されている。支持体74は、コラム72Bの天井部にスライドガイド75を介して支持されている。スライドガイド75は、エアボールリフタと位置決め機構とを備え、支持体74(すなわち後述するマスクステージMST)を光学定盤73に対してX軸方向の適当な位置に位置決めする。
照明系IOPは、ボディ70の上方に配置されている。照明系IOPは、照明光ILをマスクMSKに照射する。照明系IOPの詳細な構成については、後述する。
マスクステージMSTは、支持体74に支持されている。マスクステージMSTには、回路パターンが形成されたパターン面(図1における下面)を有するマスクMSKが、例えば真空吸着(あるいは静電吸着)により固定されている。マスクステージMSTは、例えばリニアモーターを含む駆動系により走査方向(X軸方向)に所定のストロークで駆動されるとともに、非走査方向(Y軸方向及びθz方向)に微小駆動される。
マスクステージMSTのXY平面内の位置情報(θz方向の回転情報を含む)は、干渉計システムにより計測される。干渉計システムは、マスクステージMSTの端部に設けられた移動鏡(又は鏡面加工された反射面(不図示))に測長ビームを照射し、移動鏡からの反射光を受光することにより、マスクステージMSTの位置を計測する。その計測結果は制御装置(不図示)に供給され、制御装置は、干渉計システムの計測結果に従って、駆動系を介してマスクステージMSTを駆動する。
投影光学系PLは、マスクステージMSTの下方(-Z側)において、光学定盤73に支持されている。投影光学系PLは、例えば米国特許第5,729,331号明細書に開示された投影光学系と同様に構成され、マスクMSKのパターン像の投影領域が例えば千鳥状に配置された複数(例えば7)の投影光学ユニット100a~100g(マルチレンズ投影光学ユニット)を含む。なお、図1では、7つの投影光学ユニット100a~100gのうち、4つの投影光学ユニット100a,100c,100e,100gのみを図示している。
図2は、複数の投影光学ユニット100a~100gの配置を概略的に示す斜視図である。ここでは、4つの投影光学ユニット100a,100c,100e,100gがY軸方向に所定間隔で配置され、残りの3つの投影光学ユニット100b,100d,100fが、4つの投影光学ユニット100a,100c,100e,100gから+X側に離間して、Y軸方向に所定間隔で配置されている。複数の投影光学ユニット100a~100gのそれぞれとして、例えば両側テレセントリックな等倍系で正立正像を形成するものが用いられる。
図3(A)は、基板P上での、7つの投影光学ユニット100a~100gの各露光視野PIa~PIeを示す図である。+Y方向に順に並んだ投影光学ユニット100a,100c,100e,100gの露光視野PIa,PIc,PIe,PIgは、Y方向に平行な2辺のうちの短辺が+X側に、長辺が-X側にある台形である。一方、+Y方向に順に並んだ投影光学ユニット100b,100d,100fの露光視野PIb,PId,PIfは、Y方向に平行な2辺のうちの短辺が-X側に、長辺が+X側にある台形である。
-Y方向の端に配置されている露光視野PIaは、視野絞り(不図示)により、その-Y方向の端部がX方向に平行となるように照明光が遮光されている。また、+Y方向の端に配置されている露光視野PIgは、視野絞りにより、その+Y方向の端部がX方向に平行となるように照明光が遮光されている。
図3(B)は、基板Pが基板ステージPSTによりX方向に走査され、図3(A)に示した露光視野PIa~PIgにより露光された際に、基板P上に形成される露光領域を示す図である。基板P上には、走査露光により各露光視野PIa~PIgにより露光される露光領域(走査露光視野)SIa~SIgが形成される。図3(B)において、投影光学ユニット100a,100c,100e,100gが形成する露光領域SIa,SIc,SIe,SIgは1点鎖線で示し、投影光学ユニット100b,100d,100fが形成する露光領域SIb,SId,SIfは2点鎖線で示している。
これらの露光領域SIa~SIgは、露光視野PIa~PIgがX方向への走査露光によりX方向に延長されたものである。各露光領域SIa~SIgのY方向(非走査方向)の端部は、それぞれ隣接する他の露光領域SIa~SIgの非走査方向の端部とオーバーラップしている。
照明系IOPからの照明光ILによってマスクMSK上の照明領域が照明されると、マスクMSKを透過した照明光ILにより、投影光学系PLを介して、その照明領域内のマスクMSKの回路パターンの投影像(部分正立像)が、投影光学系PLの像面側に配置される基板P上の照射領域(露光領域(照明領域に共役))に形成される。ここで、基板Pの表面にはレジスト(感応剤)が塗布されている。マスクステージMSTと基板ステージPSTとを同期駆動する、すなわちマスクMSKを照明領域(照明光IL)に対して走査方向(X軸方向)に駆動するとともに、基板Pを露光領域(照明光IL)に対して同じ走査方向に駆動することで、基板Pが露光されて基板P上にマスクMSKのパターンが転写される。
基板ステージPSTは、投影光学系PLの下方(-Z側)のベース(防振台)71上に配置されている。基板ステージPST上に、基板Pが、基板ホルダ(不図示)を介して保持されている。
基板ステージPSTのXY平面内の位置情報(回転情報(ヨーイング量(θz方向の回転量θz)、ピッチング量(θx方向の回転量θx)、ローリング量(θy方向の回転量θy))を含む)は、干渉計システムによって計測される。干渉計システムは、光学定盤73から基板ステージPSTの端部に設けられた移動鏡(又は鏡面加工された反射面(不図示))に測長ビームを照射し、移動鏡からの反射光を受光することにより、基板ステージPSTの位置を計測する。その計測結果は制御装置(不図示)に供給され、制御装置は、干渉計システムの計測結果に従って基板ステージPSTを駆動する。
露光装置10では、露光に先立ってアライメント計測(例えば、EGA等)を行い、その結果を用いて、以下の手順で、基板Pを露光する。まず、制御装置の指示に従い、マスクステージMST及び基板ステージPSTをX軸方向に同期駆動する。これにより、基板P上の1つめのショット領域への走査露光を行う。1つめのショット領域に対する走査露光が終了すると、制御装置は、基板ステージPSTを2つめのショット領域に対応する位置へ移動(ステッピング)する。そして、2つめのショット領域に対する走査露光を行う。制御装置は、同様に、基板Pのショット領域間のステッピングとショット領域に対する走査露光とを繰り返して、基板P上の全てのショット領域にマスクMSKのパターンを転写する。
(照明系IOPの構成)
次に、本実施形態における照明系IOPの構成について説明する。図4は、照明系IOPの構成を概略的に示す図である。図4に示すように、照明系IOPは、光源部20と、投影光学系PLが備える複数の投影光学ユニット100a~100gそれぞれに対応する複数の照明光学系(照明ユニット)80a~80g(図2参照)を備える。なお、図4では、複数の照明光学系80a~80gのうち、X方向に離間して配置された照明光学系80aと照明光学系80bとを図示している。なお、以後の説明において特に区別する必要のない場合、照明光学系80a~80gを照明光学系80と記載する場合がある。
次に、本実施形態における照明系IOPの構成について説明する。図4は、照明系IOPの構成を概略的に示す図である。図4に示すように、照明系IOPは、光源部20と、投影光学系PLが備える複数の投影光学ユニット100a~100gそれぞれに対応する複数の照明光学系(照明ユニット)80a~80g(図2参照)を備える。なお、図4では、複数の照明光学系80a~80gのうち、X方向に離間して配置された照明光学系80aと照明光学系80bとを図示している。なお、以後の説明において特に区別する必要のない場合、照明光学系80a~80gを照明光学系80と記載する場合がある。
光源部20は、水銀ランプ等の光源21、楕円ミラー22、折り曲げミラー23、リレーレンズ24、折り曲げミラー25、リレーレンズ26、及び光ファイバー27等を備える。光源21から供給される照明光は、楕円ミラー22、折り曲げミラー23、リレーレンズ24、折り曲げミラー25、リレーレンズ26、光ファイバー27等の導光光学系を介して、照明光学系80a~80gに供給される。光ファイバー27は、1つの入射側271に入射した照明光を略均等に分岐して、7つの射出側272a~272g(図4では2つのみ図示)に射出する。なお、光源21として、レーザ光源、UV(Ultra Violet)-LED(Light Emitting Diode)光源等を用いてもよい。
照明光学系80a~80gは同一の構成を有するため、照明光学系80aについて説明する。照明光学系80aは、インプットレンズ83と、フライアイレンズFELと、コンデンサーレンズ84と、フィルタユニット85と、を備える。なお、フライアイレンズ以外のオプティカルインテグレータ(ロッドインテグレータなど)を用いてもよい。
光ファイバー27の射出側272aから射出された照明光は、照明光学系80aが備えるインプットレンズ83に入射する。
フライアイレンズFELは、たとえば正の屈折力を有する多数のレンズエレメントをその光軸が基準光軸AXaと平行になるように縦横に且つ稠密に配列することによって構成されている。フライアイレンズFELを構成する各レンズエレメントは、マスクMSK上において形成すべき照野の形状(ひいては基板P上において形成すべき露光領域の形状)と相似な矩形状の断面を有する。なお、以後の説明において特に区別する必要のない場合、基準光軸AXa及び照明光学系80bの基準光軸AXbを光軸AXと記載する場合がある。
したがって、フライアイレンズFELに入射した光束は多数のレンズエレメントにより波面分割され、各レンズエレメントの後側焦点面(出射面)またはその近傍には1つの光源像がそれぞれ形成される。すなわち、フライアイレンズFELの後側焦点面(出射面)またはその近傍には、多数の光源像からなる実質的な面光源すなわち二次光源が形成される。フライアイレンズFELの後側焦点面(出射面)またはその近傍に形成された二次光源からの光束は、コンデンサーレンズ84の集光作用を受けた後、フィルタユニット85を重畳的に照明する。
露光装置では、マスクMSKを照明する照明光IL(露光光)の照度均一性を向上させることが望まれている。また、基板P上の1つめのショット領域に対する走査露光が終了し、基板ステージPSTを2つめのショット領域(1つめのショット領域と2つめのショット領域は非走査方向に沿って並ぶ)に対応する位置へ移動(ステッピング)し、そして、1つめのショット領域の一部と重なるように2つめのショット領域に対する走査露光を行う場合(画面合成する場合)、1つめのショット領域と2つめのショット領域の重なる部分(画面合成における継ぎ部)を露光する投影光学ユニットに含まれる視野絞り(台形)の開口と重なるように遮光板を駆動させることで、画面合成における継ぎ部を露光する投影光学ユニットの露光視野(台形)の大きさを変え、画面合成における継ぎ部の位置を可変にすることができる。このとき、X軸方向(走査方向)の照度分布の不均一性を抑制しておくことが好ましい。なお、視野絞りはマスクMSK、基板Pに対して略共役な位置に配置するとよい。
そこで、本実施形態に係る露光装置10は、マスクMSKを照明する照明光ILの照度分布を均一にする機能を有するフィルタユニット85を備えている。フィルタユニット85により照度分布が均一化された照明光ILは、マスクMSKを照明する。
次に、フィルタユニット85の構成について説明する。図5(A)は、フィルタユニット85の構成を示す概略図である。
フィルタユニット85は、光軸AX(Z軸方向に対応)に沿って配置された第1可動フィルタ85a(第1フィルタ)と、第2可動フィルタ85b(第3フィルタ)と、固定フィルタ85c(第2フィルタ)と、を備える。
第1可動フィルタ85a、第2可動フィルタ85b、及び固定フィルタ85cは各々、例えば石英またはi線用硝種等の光学材料により形成された平行平面板の形態を有し、その厚さはほぼ一定である。第1可動フィルタ85a、第2可動フィルタ85b、及び固定フィルタ85c各々の光学面にはクロムや酸化クロム等からなる遮光性ドットの濃密パターンが形成されている。
第1可動フィルタ85a、第2可動フィルタ85b、及び固定フィルタ85c各々は、光の入射位置(より詳細にはX軸方向及びY軸方向の位置)に応じて透過率の異なる透過率分布を有する。
図5(B)は、第1可動フィルタ85a、第2可動フィルタ85b、及び固定フィルタ85cの概略平面図である。第1可動フィルタ85a、第2可動フィルタ85b、及び固定フィルタ85cは、例えば光軸AXを中心とする円形状の外形形状を有する。
本実施形態において、第1可動フィルタ85aは、その入射面が光軸AXと直交するような姿勢を維持しつつ、X軸方向及びY軸方向に沿って移動可能に構成されている。第2可動フィルタ85bは、その入射面が光軸AXと直交するような姿勢を維持しつつ、Y軸方向に沿って移動可能に構成されている。なお、第2可動フィルタ85bについても、X軸方向に移動可能に構成してもよい。
これにより、本実施形態において、第1可動フィルタ85aと固定フィルタ85cとの相対位置は、X軸方向およびY軸方向において変更可能となっている。また、第2可動フィルタ85bと固定フィルタ85cとの相対位置は、Y軸方向において変更可能となっている。なお、第1可動フィルタ85a、第2可動フィルタ85b、及び固定フィルタ85c各々の中心と光軸AXとが一致する位置を基準位置と称する。
次に、第1可動フィルタ85a、第2可動フィルタ85b、及び固定フィルタ85cの透過率分布について説明する。
第1可動フィルタ85aは、図5(B)のように、円形状の第1可動フィルタ85aの中心(光軸AXと一致)を原点としたXY座標系(直交座標系)を規定した場合に、局所座標(x,y)により表される第1透過率分布T1(x,y)を有する。
より具体的には、第1透過率分布T1(x,y)は、Y軸方向において、y座標を変数とするn次式(nは2以上の自然数)で表される関数Ty1(y)にしたがって形成されている。
また、第1透過率分布T1(x,y)は、X軸方向において、x座標を変数とするk次式(kは2以上の自然数)で表される関数Tx1(x)にしたがって形成されている。
第2可動フィルタ85bは、局所座標(x,y)により表される第2透過率分布T2(x,y)を有する。より具体的には、第2透過率分布T2(x,y)は、Y軸方向において、y座標を変数とするm次式(mは2以上の自然数)で表される関数Ty2(y)にしたがって形成されている。
また、本実施形態において、第2透過率分布T2(x,y)は、X軸方向において、同一の透過率(例えば、100%)を有する。すなわち、第2透過率分布T2(x,y)は、X軸方向において、関数Tx2(x)=const(constは定数)にしたがって形成されている。
固定フィルタ85cは、第1透過率分布T1(x,y)と第2透過率分布T2(x,y)とに相補的な第3透過率分布T3(x,y)を有する。ここで、第1透過率分布T1(x,y)と第2透過率分布T2(x,y)とに相補的とは、第1透過率分布T1(x,y)と第3透過率分布T3(x,y)との積が略一定(ほぼフラット)となり、かつ、第2透過率分布T2(x,y)と第3透過率分布T3(x,y)との積が略一定(ほぼフラット)となることをいう。
第3透過率分布T3(x,y)は、Y軸方向において、関数Ty1(y)と関数Ty2(y)とに相補的な関数Ty3(y)にしたがって形成さている。ここで、関数Ty1(y)と関数Ty2(y)とに相補的とは、関数Ty1(y)と関数Ty3(y)との積が略一定(ほぼフラット)であり、かつ、関数Ty2(y)と関数Ty3(y)との積が略一定であることをいう。また、第3透過率分布T3(x,y)は、X軸方向において、関数Tx1(x)に相補的な関数Tx3(x)にしたがって形成されている。ここで、関数Tx1(x)に相補的とは、関数Tx1(x)と関数Ty3(y)との積が略一定であることをいう。
なお、以後の説明において、関数Ty1(y)をY軸方向における第1透過率分布Ty1(y)と記載し、関数Ty2(y)をY軸方向における第2透過率分布Ty2(y)と記載し、関数Tx1(x)をX軸方向における第1透過率分布Tx1(x)と記載することがある。また、関数Ty3(y)をY軸方向における第3透過率分布Ty3(y)と記載することがある。
フィルタユニット85に入射した光は、第1可動フィルタ85a、第2可動フィルタ85b、固定フィルタ85cを順に通過する。このとき、フィルタユニット85に入射した光の照度分布は、第1透過率分布T1(x,y)、第2透過率分布T2(x,y)、及び第3透過率分布T3(x,y)を合成した合成透過率分布Tcmb(x,y)に応じて補正される。なお、以下の説明において、Y軸方向における合成透過率分布をTcmb(y)で表す。
ここで、合成透過率分布について説明する。なお、説明及び理解を容易にするため、以後、Y軸方向における照度分布の補正について説明するが、X軸方向の照度分布の補正についても同様である。
図6(A)は、第1可動フィルタ85a、第2可動フィルタ85b、及び固定フィルタ85c各々が基準位置にある場合に得られるY軸方向における合成透過率分布を示す図であり、図6(B)は、Y軸方向において第1可動フィルタ85aの位置を基準位置からずらした場合に得られる合成透過率分布を示す図であり、図6(C)は、Y軸方向において第2可動フィルタ85bの位置を基準位置からずらした場合に得られる合成透過率分布を示す図である。なお、図6(A)~図6(C)において、Y軸方向における第1透過率分布を表す関数Ty1(y)は、Ty1(y)=αy2+β(α,βは任意の係数)で表される2次式であり、Y軸方向における第2透過率分布を表す関数Ty2(y)は、Ty2(y)=γy3+ωy+λ(γ,ω,λは任意の係数)で表される3次式である。
図6(A)に示すように、Y軸方向における第3透過率分布Ty3(y)は、Y軸方向における第1透過率分布Ty1(y)とY軸方向における第2透過率分布Ty2(y)とに相補的であるため、第1可動フィルタ85a、第2可動フィルタ85b、及び固定フィルタ85c各々が基準位置にある場合に得られるY軸方向における合成透過率分布Tycmb(y)は、Y軸方向に略一定(ほぼフラット)となる。
図6(B)に示すように、Y軸方向において第1可動フィルタ85aの位置を基準位置からずらした場合、得られるY軸方向における合成透過率分布Tycmb(y)は、第1透過率分布Ty1(y)の次数(2次)より1次低い1次式で表される分布となる。したがって、照度分布がY軸方向において傾斜している場合に、Y軸方向における第1透過率分布がTy1(y)=αy2+βで表される第1可動フィルタ85aを用いると、Y軸方向において傾斜した照度分布を補正することができる。これを傾斜補正と称する。
また、図6(C)に示すように、Y軸方向において第2可動フィルタ85bの位置を基準位置からずらした場合、得られるY軸方向における合成透過率分布Tycmb(y)は、Y軸方向における第2透過率分布Ty2(y)の次数(3次)より1次低い2次式で表される分布となる。したがって、照度分布がY軸方向において湾曲している場合に、Y軸方向における第2透過率分布がTy2(y)=γy3+ωy+λで表される第2可動フィルタ85bを用いると、Y軸方向において湾曲した照度分布を補正することができる。これを湾曲補正と称する。
ここで、Y軸方向において第1可動フィルタ85aの位置を基準位置からずらした場合及び第2可動フィルタ85bの位置を基準位置からずらした場合、Y軸方向における合成透過率分布Tycmb(y)が、Y軸方向における第1透過率分布Ty1(y)及びY軸方向における第2透過率分布Ty2(y)の次数よりそれぞれ1次低くなる原理について説明する。
図7(A)は、Y軸方向において2次式にしたがって形成された第4透過率分布Ty4を有する第4フィルタと、第4透過率分布Ty4と相補的な第5透過率分布Ty5を有する第5フィルタと、が基準位置にある場合に得られる合成透過率分布を示す図であり、図7(B)は、第5フィルタをY軸方向にΔy(<0)移動させたときに得られる合成透過率分布を示す図である。
この場合、第4フィルタと第5フィルタとが基準位置にある場合、合成透過率分布は、
となり、f(y)2<<Tave
2であるため、
となり、図7(A)に示すように、合成透過率分布は略一定(ほぼフラット)となる。
以上のことから、第4透過率分布をj次式(jは2次以上の自然数)で表される関数にしたがって形成した場合、第4フィルタを、第4透過率分布と相補的な第5透過率分布を有する第5フィルタと組み合わせることにより、j-1次式で表される合成透過率分布を得ることができる。
すなわち、目標とする合成透過率分布がj-1次式で表される場合、第4フィルタの第4透過率分布をj次式とすればよい。しかしながら、jが大きくなるほど(第4透過率分布を表す関数の次数が高くなるほど)、透過率幅(最小透過率と最大透過率との差)が大きくなってしまう。したがって、Y軸方向における第4透過率分布は、j-1次以下の項を有することが好ましい。この点について説明する。
図8(A)は、4次の項のみを有する関数f1(y)=ay4(aは任意の係数)で表される第4透過率分布と、5次の項のみを有する関数f2(y)=by5(bは任意の係数)で表される第4透過率分布と、を例示する図である。図8(A)に示すように、関数f2(y)=by5で表される第4透過率分布の透過率幅W2は、関数f1(y)=ay4で表される第4透過率分布の透過率幅W1よりも大きい。このように、第4透過率分布を表す関数の次数が大きくなるほど、透過率幅が大きくなる。透過率幅が大きくなると、第4フィルタを基準位置からずらしたときに、透過率が低下しすぎてしまい、照明光の照度が低下してしまう。
本発明者は、j次式の関数で表される第4透過率分布において、当該関数がj-1次以下の項を含むことで、透過率幅を減少できることを見出した。図8(B)は、f2(y)=by5(bは任意の係数)と、関数f3(y)=cy3(cは任意の係数)と、関数f4(y)=py(pは任意の係数)と、を組み合わせた関数f5(y)=f2(y)+f3(y)+f4(y)=by5+cy3+pyにしたがって形成された第4透過率分布を表す図である。
図8(B)に示すように、関数f5(y)にしたがって形成された第4透過率分布の透過率幅W3は、関数f2(y)にしたがって形成された第4透過率分布の透過率幅W2よりも小さいことがわかる。このように、透過率分布を表すj次式で表される関数が、j-1次以下の項を含むことにより、透過率幅を減少させることができる。
このため、本実施形態において、第2可動フィルタ85bのY軸方向における第2透過率分布Ty2(y)は、1次の項(ωy)を含む3次式(γy3+ωy+λ)としている。このように構成することで、透過率幅を小さくし、透過率の低下を抑えることができる。
従来のフィルタユニットを用いた場合と、本実施形態に係るフィルタユニット85を用いた場合とで、複数の照明ユニットにより形成される照明領域における照度を計測し、照度均一性について調査した。
従来のフィルタユニットでは、遮光性ドットの濃密パターンが形成されたフィルタを複数枚用意し、それぞれのフィルタは、光の入射位置(より詳細にはX軸方向及びY軸方向の位置)に応じて透過率の異なる透過率分布を有しており、傾斜補正および湾曲補正に対応した所定の透過率分布が形成されている。このフィルタユニットにおいて、補正したい照度分布に対応したフィルタを選択し、フィルタを回転させることで、X軸方向の走査積算照度を平均(スキャン平均と呼称)したY軸方向の照度分布の不均一性(照度むら)を補正する方法を取っている。
複数の照明光学系を合わせた照明領域全体の照度分布、またスキャン平均後のY軸方向の照度分布、またそのY軸方向照度分布の照度変化率を指標として、露光装置の製造精度を反映した複数の照度むらデータに対し、従来手法を用いた場合と本実施形態に係る方法を用いた場合とで、どの程度まで照度むらが補正できるかを調査した。
従来手法では傾斜補正と湾曲補正をそれぞれ行うためのフィルタユニットを搭載した条件で評価を行い、それぞれのデータの照度むらに対し、回転角度を算出して補正を実施し、上記指標値を算出した。
本実施形態においては、可動フィルタをX軸方向およびY軸方向の傾斜補正、Y軸方向の湾曲補正を搭載した条件で評価を行い、それぞれのデータの照度むらに対し、X軸方向およびY軸方向の可動量を算出して補正を実施、上記指標値を算出した。
調査データの平均値で比較すると、上記のいずれの指標においても本実施形態に係る方法では、従来手法に比べて照度むらが約50%以下に抑えられるという結果が算出された。
特に従来手法ではスキャン平均後の照度むら補正を意図した形態となっており、照明領域全体の照度むらの補正には限界があるが、本実施形態に係る方法においては、上記可動フィルタの可動量を適切に算出することで、照明領域全体の照度むらが補正できる自由度を確保することができ、従来手法に比べてデータの平均値で約1/3以下に照度むらの抑制ができている。このように、本実施形態に係るフィルタユニット85は、従来のフィルタユニットに比べ照度むらについて大幅な改善効果を発揮することが示された。
以上のように、本実施形態に係るフィルタユニット85を用いることで照度均一性が向上したことが確認された。
以上詳細に説明したように、本実施形態によれば、フィルタユニット85は、マスクMSKを照明する照明光学系80の光軸AX上に配置される複数のフィルタを含む。複数のフィルタは、第1透過率分布T1(x,y)を有する第1可動フィルタ85aと、第3透過率分布T3(x,y)を有する固定フィルタ85cと、を含む。第1透過率分布T1(x,y)は、照明光学系80の光軸AXと直交する平面内のXY座標系のY軸方向において、Y軸方向における座標を変数とするn次式(nは2以上の自然数)で表される関数Ty1(y)にしたがって形成され、第3透過率分布T3(x,y)は、Y軸方向において、少なくとも第1透過率分布Ty1(y)に相補的であり、第1可動フィルタ85aと固定フィルタ85cとの相対位置は、少なくともY軸方向において変更可能である。
これにより、図7(A)及び図7(B)を用いて説明したように、第1可動フィルタ85aを基準位置から移動させることにより、n-1次式で表される合成透過率分布を生じさせることができ、照明光ILの照度分布をn-1次式で表される合成透過率分布によって補正することができる。
また、本実施形態において、複数のフィルタは、第2透過率分布T2(x,y)を有する第2可動フィルタ85bを含む。第2透過率分布は、Y軸方向において、Y軸方向における座標を変数とするm次式(mは2以上の自然数)で表される関数Ty2(y)にしたがって形成され、固定フィルタ85cの第3透過率分布T3(x,y)は、Y軸方向において、第1透過率分布Ty1(y)と第2透過率分布Ty2(y)とに相補的であり、固定フィルタ85cと第2可動フィルタ85bとの相対位置は、Y軸方向において変更可能である。
これにより、Y軸方向において第2可動フィルタ85bをΔy移動させることにより、m-1次式で表される合成透過率分布を生じさせることができる。これにより、照明光ILの照度分布をm-1次式で表される合成透過率分布によって補正することができる。
また、本実施形態において、関数Ty2(y)は、m-1次以下の項を有する。これにより、図8(A)及び図8(B)を用いて説明したように、第2可動フィルタ85bの最大透過率と最小透過率との差である透過率幅を減少させることができる。これにより、フィルタユニット85に起因する照明光ILの照度低下を抑制することができる。
また、本実施形態において、Y軸方向における第2透過率分布を表す関数Ty2(y)の次数(3次)は、Y軸方向における第1透過率分布を表す関数Ty1(y)の次数(2次)よりも大きい。これにより、第1可動フィルタ85a及び第2可動フィルタ85bに、互いに異なる補正機能(傾斜補正、湾曲補正)を割り当てることが出来る。
また、本実施形態において、第1透過率分布は、X軸方向において、X軸方向における座標を変数とするk次式(kは2以上の自然数)で表される関数Tx1(x)にしたがって形成され、第3透過率分布T3(x,y)は、X軸方向において、第1透過率分布Tx1(x)に相補的であり、第1可動フィルタ85aと固定フィルタ85cとの相対位置は、Y軸方向及びX軸方向において変更可能である。
これにより、X軸方向において第1可動フィルタ85aを基準位置から移動させることにより、X軸方向においてk-1次式で表される合成透過率分布を生じさせることができ、照明光ILのX軸方向における照度分布をk-1次式で表される合成透過率分布によって補正することができる。
また、本実施形態において、X軸方向における第1透過率分布を表す関数Tx1(x)は、k-1次以下の項を含む。これにより、図8(A)及び図8(B)を用いて説明したように、第1可動フィルタ85aの最大透過率と最小透過率との差である透過率幅を減少させることができる。これにより、フィルタユニット85に起因する照明光ILの照度低下を抑制することができる。
上記フィルタユニット85による照明光ILの照度分布の補正は、露光装置10の設置時、露光装置10のメンテナンス時、また、露光装置10の使用時の所定のタイミングで行われる。この場合、照明光ILの照度分布を計測し、当該計測結果に基づいて照明光ILの照度分布を均一にできる第1可動フィルタ85a及び第2可動フィルタ85bの位置を算出し、当該位置に第1可動フィルタ85a及び第2可動フィルタ85bを移動させればよい。第1可動フィルタ85a及び第2可動フィルタ85bの位置は、手動で移動させてもよいし、モータなどのアクチュエータを用いて移動させてもよい。これにより、露光装置に搭載される異なるσ値を持つ複数の照明光学系に対してもそれぞれ最適な調整が可能である。また露光装置の使用状況に応じた照度むら(照度分布の不均一性)の変化に対しても所定のタイミングで照度分布を計測して可動フィルタの位置を算出し、最適な調整を行うことが可能である。さらに、基板P上への露光領域を様々なマスクのパターン形状に合わせて変形させる場合においても、照明領域全体の照度むらを抑制することが可能となっていることにより、マルチレンズの継ぎ部領域を含めた露光量むらの抑制に効果を有する。
なお、上記実施形態において、第1可動フィルタ85aに、X軸方向の照度分布を補正する機能を持たせていたが、第2可動フィルタ85bにX軸方向の照度分布を補正する機能を持たせてもよい。また、第1可動フィルタ85a及び第2可動フィルタ85bとは別のフィルタに、X軸方向の照度分布を補正する機能を持たせてもよい。
また、上記実施形態において、固定フィルタ85cは、Y軸方向において、第1可動フィルタ85aの第1透過率分布と第2可動フィルタ85bの第2透過率分布とに相補的であり、X軸方向において、第1可動フィルタ85aの第1透過率分布と相補的である第3透過率分布を有していたが、第1透過率分布に相補的な透過率分布を有するフィルタと、第2透過率分布に相補的な透過率分布を有するフィルタとを別々に配置してもよい。また、Y軸方向において第1透過率分布に相補的な透過率分布を有するフィルタと、X軸方向において第1透過率分布に相補的な透過率分布を有するフィルタと、を別々に配置してもよい。また、固定フィルタ85cが有する第3透過率分布は、Y軸方向において、第1可動フィルタ85aの第1透過率分布と第2可動フィルタ85bの第2透過率分布とに相補的でなくてもよく、X軸方向において、第1可動フィルタ85aの第1透過率分布と相補的でなくてもよい。
また、上記実施形態において、第2可動フィルタ85bのX軸方向の透過率分布は一定であるとしたが、X軸方向の座標を変数とするj次式(jは2次以上の自然数)で表される関数にしたがってX軸方向の透過率分布を形成してもよい。
また、上記実施形態において、照明光学系80を構成する要素のうちフィルタユニット85をマスクMSKに最も近い位置に配置していたが、これに限られるものではない。フィルタユニット85は、照明光学系80の光路上の適切な位置に配置されていればよい。また、マスクMSKの代わりに、微小変位するマイクロミラーの多数を規則的に配列したデジタル・マイクロミラー・デバイス(DMD)等の空間光変調素子を用いることができ、適切な位置に配置することができる。
また、上記実施形態において、固定フィルタ85cは、X軸方向及びY軸方向において移動しない(固定されている)としたが、固定フィルタ85cをX軸方向及びY軸方向の少なくとも一方において移動可能としてもよい。
また、上記実施形態によれば、フィルタユニット85は、照明光学系80の光軸AX上に配置された複数のフィルタを含む。複数のフィルタは、第1可動フィルタ85a、第2可動フィルタ85b、および固定フィルタ85cを含む。第1可動フィルタ85aは、照明光ILが入射する領域において、光軸AXと交差するY軸方向において不均一である第1透過率分布を有し、第2可動フィルタ85bは、照明光ILが入射する領域において、Y軸方向において不均一であり第1透過率分布と異なる第2透過率分布を有し、固定フィルタ85cは、照明光ILが入射する領域において、Y軸方向において不均一であり第1透過率分布および第2透過率分布と異なる第3透過率分布を有する。フィルタユニット85は、第1可動フィルタ85a、第2可動フィルタ85b、固定フィルタ85cがそれぞれY軸方向において基準位置にあるときに、第1合成透過率分布を有し、第1可動フィルタ85aがY軸方向において基準位置以外にあり、かつ、第2可動フィルタ85bおよび固定フィルタ85cがそれぞれY軸方向において基準位置にあるときに、第2合成透過率分布を有し、第1可動フィルタ85aと固定フィルタ85cとがそれぞれY軸方向において基準位置にあり、かつ、第2可動フィルタ85bがY軸方向において基準位置以外にあるときに、第3合成透過率分布を有する。第1合成透過率分布は、透過率が所定範囲内にあり、第2合成透過率分布は、透過率が、Y軸方向の一方側において所定範囲の下限よりも小さく、Y軸方向の他方側において所定範囲の上限よりも大きくなるように、Y軸方向の一方側から他方側に向かうにつれて単調増加し、または、Y軸方向の一方側において所定範囲の上限よりも大きく、Y軸方向の他方側において所定範囲の下限よりも小さくなるように、Y軸方向の一方側から他方側に向かうにつれて単調減少し、第3合成透過率分布は、透過率が、Y軸方向の一方側および他方側において所定範囲の下限よりも小さくなるように、透過率が高い方に向かって凸であり、または、Y軸方向の一方側および他方側において所定範囲の上限よりも大きくなるように、透過率が低い方に向かって凸である。
また、上記実施形態において、第1可動フィルタ85aは、照明光ILが入射する領域において、Y軸方向において不均一である第1透過率分布をY軸方向に直交するX軸方向に沿って有し、第2可動フィルタ85bは、照明光ILが入射する領域において、Y軸方向において不均一である第2透過率分布をX軸方向に沿って有し、固定フィルタ85cは、照明光ILが入射する領域において、Y軸方向において不均一である第3透過率分布をX軸方向に沿って有する。
また、上記実施形態において、第1合成透過率分布は、略一定であり、第2合成透過率分布は、傾斜していて、第3合成透過率分布は、湾曲している。
また、上記実施形態において、第1可動フィルタ85a、第2可動フィルタ85b、および固定フィルタ85cの基準位置はそれぞれ、Y軸方向において、第1可動フィルタ85aの中心、第2可動フィルタ85bの中心、および固定フィルタ85cの中心が、光軸AXと一致する位置である。
また、上記実施形態において、第1可動フィルタ85aは、Y軸方向に移動可能であり、第2可動フィルタ85bは、Y軸方向に移動可能であり、固定フィルタ85cは、Y軸方向において基準位置に固定されている。
また、上記実施形態において、第1可動フィルタ85a、第2可動フィルタ85b、および固定フィルタ85cそれぞれの照明光ILが入射する領域は、矩形である。
また、上記実施形態において、所定範囲の上限と下限との差は、第1透過率分布の最大透過率と最小透過率との差より小さく、第2透過率分布の最大透過率と最小透過率との差より小さく、かつ、第3透過率分布の最大透過率と最小透過率との差より小さい。
また、上記実施形態において、第1透過率分布は、透過率が高い方に向かって凸、または、透過率が低い方に向かって凸であり、第2透過率分布は、透過率が高い方に向かって凸である第1区域と、透過率が低い方に向かって凸である第2区域と、を含み、第3透過率分布は、透過率が低い方に向かって凸であり前記第1区域に対応する区域と、透過率が高い方に向かって凸であり前記第2区域に対応する区域と、を含む。
また、上記実施形態において、フィルタユニット85は、フィルタユニット85からの光がレンズを介さずにマスクMSKに入射するように配置される。
また、上記実施形態によれば、照明光学系80は、光軸AX上に配置されたフライアイレンズFELと、フライアイレンズFELを介した照明光ILが入射するフィルタユニット85と、を備える。
また、上記実施形態によれば、露光装置10は、マスクMSKを照明する照明光学系80aと、マスクMSKを介した照明光学系80aからの光を基板に照射する投影光学ユニット100aと、マスクMSKを照明する、照明光学系80aとは異なる照明光学系80bと、マスクMSKを介した照明光学系80bからの光を基板Pに照射する、投影光学ユニット100aとは異なる投影光学ユニット100bと、を備え、基板PをX軸方向と対応する走査方向に移動させながら投影光学ユニット100aおよび投影光学ユニット100bにより継ぎ露光を行う。
なお、上記実施形態において、露光装置10は、マスクMSKを照明する照明光学系80と、マスクMSKを介した照明光学系80からの光を基板Pに照射する投影光学系PLと、を備え、基板PをX軸方向と対応する走査方向に移動させながら投影光学系PLにより基板Pの第1領域を走査露光した後、基板Pを走査方向と平行な方向に移動させながら投影光学系PLにより第1領域の一部と重なり、第1領域とは異なる、基板Pの第2領域を走査露光するようにしてもよい。
上述した実施形態は本発明の好適な実施の例である。但し、これに限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変形実施可能である。
10 露光装置
80a~80g 照明光学系
85 フィルタユニット
85a 第1可動フィルタ
85b 第2可動フィルタ
85c 固定フィルタ
100 投影光学ユニット
21 光源
MSK マスク
PL 投影光学系
80a~80g 照明光学系
85 フィルタユニット
85a 第1可動フィルタ
85b 第2可動フィルタ
85c 固定フィルタ
100 投影光学ユニット
21 光源
MSK マスク
PL 投影光学系
Claims (35)
- 被照射面を照明する照明光学系の光軸上に配置される複数のフィルタを含むフィルタユニットであって、
前記複数のフィルタは、
第1透過率分布を有する第1フィルタと、
第2透過率分布を有する第2フィルタと、
を含み、
前記第1透過率分布は、前記照明光学系の光軸と直交する平面内の直交座標系の第1方向において、前記第1方向における座標を変数とするn次式(nは2以上の自然数)で表される第1関数にしたがって形成され、
前記第1フィルタと前記第2フィルタとの相対位置は、少なくとも前記第1方向において変更可能である、
フィルタユニット。 - 前記第2透過率分布は、前記第1方向において、少なくとも前記第1透過率分布に相補的である、請求項1に記載のフィルタユニット。
- 前記第1関数は、n-1次以下の項を有する、
請求項2に記載のフィルタユニット。 - 前記複数のフィルタは、第3透過率分布を有する第3フィルタを含み、
前記第3透過率分布は、前記第1方向において、前記第1方向における座標を変数とするm次式(mは2以上の自然数)で表される第2関数にしたがって形成され、
前記第2透過率分布は、前記第1方向において、前記第1透過率分布と前記第3透過率分布とに相補的であり、
前記第2フィルタと前記第3フィルタとの相対位置は、前記第1方向において変更可能である、
請求項1に記載のフィルタユニット。 - 前記第2関数は、m-1次以下の項を有する、
請求項4に記載のフィルタユニット。 - mはnよりも大きい、
請求項4に記載のフィルタユニット。 - 前記第1透過率分布は、前記直交座標系の前記第1方向に直交する第2方向において、前記第2方向における座標を変数とするk次式(kは2以上の自然数)で表される第3関数にしたがって形成され、
前記第2透過率分布は、前記第2方向において、前記第1透過率分布に相補的であり、
前記第1フィルタと前記第2フィルタとの相対位置は、前記第1方向及び前記第2方向において変更可能である、
請求項4に記載のフィルタユニット。 - 前記第3関数は、k-1次以下の項を含む、
請求項7に記載のフィルタユニット。 - 前記複数のフィルタは、
第3透過率分布を有する第3フィルタと、
第4透過率分布を有する第4フィルタと、
を含み、
前記第3透過率分布は、前記第1方向において、前記第1方向における座標を変数とするm次式(mは2以上の自然数)で表される第2関数にしたがって形成され、
前記第4透過率分布は、前記第1方向において、前記第3透過率分布に相補的であり、
前記第3フィルタと前記第4フィルタとの相対位置は、少なくとも前記第1方向において変更可能である、
請求項1に記載のフィルタユニット。 - 前記複数のフィルタは、第3透過率分布を有する第3フィルタを含み、
前記第3透過率分布は、前記直交座標系の前記第1方向に直交する第2方向において、前記第2方向における座標を変数とするk次式(kは2以上の自然数)で表される第2関数にしたがって形成され、
前記第2透過率分布は、前記第2方向において、前記第3透過率分布に相補的であり、
前記第2フィルタと前記第3フィルタとの相対位置は、前記第2方向において変更可能である、
請求項1に記載のフィルタユニット。 - 前記複数のフィルタは、
第3透過率分布を有する第3フィルタと、
第4透過率分布を有する第4フィルタと、
を含み、
前記第3透過率分布は、前記直交座標系の前記第1方向に直交する第2方向において、前記第2方向における座標を変数とするk次式(kは2以上の自然数)で表される第2関数にしたがって形成され、
前記第4透過率分布は、前記第2方向において、前記第3透過率分布に相補的であり、
前記第3フィルタと前記第4フィルタとの相対位置は、前記第2方向において変更可能である、
請求項1に記載のフィルタユニット。 - 光源から出射された光が入射されるオプティカルインテグレータと、
請求項1から請求項11のいずれか一項記載のフィルタユニットと、
を備え、
前記オプティカルインテグレータから出射された光は前記フィルタユニットに入射される、
照明ユニット。 - 複数の請求項12に記載の照明ユニットと、
前記複数の照明ユニットに対応し、前記複数の照明ユニットにより照明されるマスクのパターン像を感光性基板上に投影する複数の投影光学ユニットと、
を備え、
前記複数の投影光学ユニットは第1投影光学ユニットと第2投影光学ユニットとを含み、
前記第1投影光学ユニットの露光領域と前記第2投影光学ユニットの露光領域とは部分的に重なる、
露光装置。 - 前記感光性基板は、少なくとも一辺の長さ又は対角長が500mm以上である、
請求項13に記載の露光装置。 - 請求項13に記載の露光装置を用いた露光方法であって、
前記複数の照明ユニットを用いて前記マスクを照明することと、
前記投影光学ユニットを用いて前記マスクの前記パターン像を前記感光性基板へ投影することと、
を含む露光方法。 - 光学系の光軸上に配置される複数のフィルタを含むフィルタユニットであって、
前記複数のフィルタは、
第1透過率分布を有する第1フィルタと、
第2透過率分布を有する第2フィルタと、
を含み、
前記第1透過率分布は、前記光学系の前記光軸と直交する平面内の直交座標系の第1方向において不均一であり、
前記第2透過率分布は、前記第1方向において不均一であり、
前記第1フィルタと前記第2フィルタとの相対位置は、少なくとも前記第1方向において変更可能である、
フィルタユニット。 - 前記複数のフィルタによる合成透過率分布は、前記複数のフィルタが基準位置にある場合に、前記第1方向において略一定である、請求項16に記載のフィルタユニット。
- 前記複数のフィルタは、第3透過率分布を有する第3フィルタを含み、
前記第3フィルタと前記第2フィルタとの相対位置は、少なくとも前記第1方向において変更可能であり、
前記第1透過率分布は、前記第1方向における座標を変数とするn次式(nは2以上の自然数)で表される第1関数にしたがい、
前記第3透過率分布は、前記第1方向における座標を変数とするk次式(kは3以上の自然数)で表される第3関数にしたがい、
前記第2透過率分布は、前記第1方向における座標を変数とするm次式(mはn+k以上の自然数)で表される第2関数にしたがう、
請求項16に記載のフィルタユニット。 - 前記第3関数はm-1次以下の項を有する、
請求項18に記載のフィルタユニット。 - 光源から出射された光が入射されるオプティカルインテグレータと、
前記オプティカルインテグレータから出射された光が入射される請求項16から請求項19のいずれか一項記載のフィルタユニットと、
を含む照明ユニット。 - 複数の請求項20に記載の照明ユニットと、
前記複数の照明ユニットに対応した複数の投影光学ユニットと、を含み、
前記複数の投影光学ユニットは第1投影光学ユニットと第2投影光学ユニットとを含み、
前記第1投影光学ユニットの露光領域と前記第2投影光学ユニットの露光領域とは部分的に重なる、
露光装置。 - 前記複数の投影光学ユニットに投影される感光性基板は、少なくとも一辺の長さ又は対角長が500mm以上である、
請求項21に記載の露光装置。 - 請求項21に記載の露光装置を用いた露光方法であって、
前記複数の照明ユニットを用いてマスクを照明することと、
前記複数の投影光学ユニットを用いて前記マスクのパターン像を感光性基板へ投影することと、
を含む露光方法。 - 光学系の光軸上に配置された複数のフィルタを含むフィルタユニットであって、
前記複数のフィルタは、第1フィルタ、第2フィルタ、および第3フィルタを含み、
前記第1フィルタは、照明光が入射する領域において、前記光軸と交差する第1方向において不均一である第1透過率分布を有し、
前記第2フィルタは、前記照明光が入射する領域において、前記第1方向において不均一であり前記第1透過率分布と異なる第2透過率分布を有し、
前記第3フィルタは、前記照明光が入射する領域において、前記第1方向において不均一であり前記第1透過率分布および前記第2透過率分布と異なる第3透過率分布を有し、
前記フィルタユニットは、
前記第1フィルタ、前記第2フィルタ、および前記第3フィルタがそれぞれ前記第1方向において基準位置にあるときに、第1合成透過率分布を有し、
前記第1フィルタが前記第1方向において前記基準位置以外にあり、かつ、前記第2フィルタおよび前記第3フィルタがそれぞれ前記第1方向において前記基準位置にあるときに、第2合成透過率分布を有し、
前記第1フィルタと前記第3フィルタとがそれぞれ前記第1方向において前記基準位置にあり、かつ、前記第2フィルタが前記第1方向において前記基準位置以外にあるときに、第3合成透過率分布を有し、
前記第1合成透過率分布は、透過率が所定範囲内にあり、
前記第2合成透過率分布は、透過率が、前記第1方向の一方側において前記所定範囲の下限よりも小さく、前記第1方向の他方側において前記所定範囲の上限よりも大きくなるように、前記第1方向の前記一方側から前記他方側に向かうにつれて単調増加し、または、前記第1方向の前記一方側において前記所定範囲の上限よりも大きく、前記第1方向の前記他方側において前記所定範囲の下限よりも小さくなるように、前記第1方向の前記一方側から前記他方側に向かうにつれて単調減少し、
前記第3合成透過率分布は、透過率が、前記第1方向の前記一方側および前記他方側において前記所定範囲の下限よりも小さくなるように、透過率が高い方に向かって凸であり、または、前記第1方向の前記一方側および前記他方側において前記所定範囲の上限よりも大きくなるように、透過率が低い方に向かって凸である、
フィルタユニット。 - 前記第1フィルタは、前記照明光が入射する領域において、前記第1方向において不均一である前記第1透過率分布を前記第1方向に直交する第2方向に沿って有し、
前記第2フィルタは、前記照明光が入射する領域において、前記第1方向において不均一である前記第2透過率分布を前記第2方向に沿って有し、
前記第3フィルタは、前記照明光が入射する領域において、前記第1方向において不均一である前記第3透過率分布を前記第2方向に沿って有する、
請求項24に記載のフィルタユニット。 - 前記第1合成透過率分布は、略一定であり、
前記第2合成透過率分布は、傾斜していて、
前記第3合成透過率分布は、湾曲している、
請求項24または請求項25に記載のフィルタユニット。 - 前記第1フィルタ、前記第2フィルタ、および前記第3フィルタの前記基準位置はそれぞれ、前記第1方向において、前記第1フィルタの中心、前記第2フィルタの中心、および前記第3フィルタの中心が、前記光軸と一致する位置である、
請求項24から請求項26のいずれか一項に記載のフィルタユニット。 - 前記第1フィルタは、前記第1方向に移動可能であり、
前記第2フィルタは、前記第1方向に移動可能であり、
前記第3フィルタは、前記第1方向において前記基準位置に固定されている、
請求項24から請求項27のいずれか一項に記載のフィルタユニット。 - 前記第1フィルタ、前記第2フィルタ、および前記第3フィルタそれぞれの前記領域は、矩形である、
請求項24から請求項28のいずれか一項に記載のフィルタユニット。 - 前記所定範囲の前記上限と前記下限との差は、前記第1透過率分布の最大透過率と最小透過率との差より小さく、前記第2透過率分布の最大透過率と最小透過率との差より小さく、かつ、前記第3透過率分布の最大透過率と最小透過率との差より小さい、
請求項24から請求項29のいずれか一項に記載のフィルタユニット。 - 前記第1透過率分布は、透過率が高い方に向かって凸、または、透過率が低い方に向かって凸であり、
前記第2透過率分布は、透過率が高い方に向かって凸である第1区域と、透過率が低い方に向かって凸である第2区域と、を含み、
前記第3透過率分布は、透過率が低い方に向かって凸であり前記第1区域に対応する区域と、透過率が高い方に向かって凸であり前記第2区域に対応する区域と、を含む、
請求項24から請求項30のいずれか一項に記載のフィルタユニット。 - 前記フィルタユニットは、前記フィルタユニットからの光がレンズを介さずにマスクに入射するように配置される、
請求項31に記載のフィルタユニット。 - 光軸上に配置されたフライアイレンズと、
前記フライアイレンズを介した前記照明光が入射する請求項24から請求項32のいずれか一項に記載のフィルタユニットと、
を備える照明ユニット。 - マスクを照明する請求項33に記載の照明光学系である第1照明光学系と、
前記マスクを介した前記第1照明光学系からの光を基板に照射する第1投影光学系と、
前記マスクを照明する、前記第1照明光学系とは異なる第2照明光学系と、
前記マスクを介した前記第2照明光学系からの光を前記基板に照射する、前記第1投影光学系とは異なる第2投影光学系と、
を備え、
前記基板を前記第2方向と対応する走査方向に移動させながら前記第1投影光学系および前記第2投影光学系により継ぎ露光を行う、
露光装置。 - マスクを照明する請求項33に記載の照明光学系と、
前記マスクを介した前記照明光学系からの光を基板に照射する投影光学系と、
を備え、
前記基板を前記第2方向と対応する走査方向に移動させながら前記投影光学系により前記基板の第1領域を走査露光した後、前記基板を前記走査方向と平行な方向に移動させながら前記投影光学系により前記第1領域の一部と重なり、前記第1領域とは異なる、前記基板の第2領域を走査露光する、
露光装置。
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