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WO2022137624A1 - 圧電振動子及び圧電振動子の製造方法 - Google Patents

圧電振動子及び圧電振動子の製造方法 Download PDF

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Publication number
WO2022137624A1
WO2022137624A1 PCT/JP2021/027916 JP2021027916W WO2022137624A1 WO 2022137624 A1 WO2022137624 A1 WO 2022137624A1 JP 2021027916 W JP2021027916 W JP 2021027916W WO 2022137624 A1 WO2022137624 A1 WO 2022137624A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
substrate
electrode
electrodes
piezoelectric
crystal
Prior art date
Application number
PCT/JP2021/027916
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
滋久 矢後
Original Assignee
株式会社村田製作所
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 株式会社村田製作所 filed Critical 株式会社村田製作所
Publication of WO2022137624A1 publication Critical patent/WO2022137624A1/ja

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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H3/00Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators
    • H03H3/007Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks
    • H03H3/02Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks for the manufacture of piezoelectric or electrostrictive resonators or networks
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic elements; Electromechanical resonators
    • H03H9/02Details
    • H03H9/05Holders or supports
    • H03H9/10Mounting in enclosures
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic elements; Electromechanical resonators
    • H03H9/15Constructional features of resonators consisting of piezoelectric or electrostrictive material
    • H03H9/17Constructional features of resonators consisting of piezoelectric or electrostrictive material having a single resonator
    • H03H9/19Constructional features of resonators consisting of piezoelectric or electrostrictive material having a single resonator consisting of quartz

Definitions

  • the present invention relates to a piezoelectric vibrator and a method for manufacturing a piezoelectric vibrator.
  • the method based on the mass load effect is a method of reducing the mass of the electrode and increasing the resonance frequency of the piezoelectric vibrator by, for example, irradiating the electrode of the piezoelectric vibrator with radiation such as an ion beam and scraping it. ..
  • the shavings of the electrodes due to the irradiation of the ion beam may adhere between the electrodes of the piezoelectric vibrator (for example, between the excitation electrodes, between the substrate electrodes, etc.).
  • the electrodes of the piezoelectric vibrator may be short-circuited, and the piezoelectric vibrator may not be able to stably output the resonance frequency.
  • it is required to suppress the adhesion of the shavings of the electrodes between the electrodes of the piezoelectric vibrator.
  • Patent Document 1 when the resonance frequency of the sound fork type crystal vibrating element is adjusted by irradiating the frequency adjusting electrode with an ion beam and shaving, the shavings of the frequency adjusting electrode by the ion beam are the crystal vibrating portion.
  • a crystal oscillator that employs a configuration in which a protective film is provided on the upper surface of the excitation electrode in order to prevent adhesion between adjacent excitation electrodes provided in the above.
  • the protective film disclosed in Patent Document 1 can prevent electrode shavings due to irradiation of radiation from adhering between the excitation electrodes in the step of adjusting the resonance frequency of the quartz vibration element, but the electrode shavings can be prevented. May fall from the crystal vibrating element toward the substrate and may not be prevented from adhering between the substrate electrodes. As a result, electrode shavings adhering between the substrate electrodes may cause a short circuit between the substrate electrodes, and the stability of the performance of the crystal unit may still be ensured.
  • the present invention has been invented in view of such circumstances, and an object of the present invention is to prevent the occurrence of a short circuit between electrodes due to the adhesion of electrode shavings due to irradiation of radiation by using a simple structure. It is to provide a piezoelectric vibrator that can obtain stable performance.
  • the piezoelectric vibrator is a piezoelectric vibration element having a piezoelectric piece, an excitation electrode formed on the piezoelectric piece, and a connection electrode formed on the piezoelectric piece and electrically connected to the excitation electrode.
  • a substrate electrode formed on the substrate and the main surface of the substrate on the side facing the piezoelectric vibration element of the substrate and electrically connected to the connection electrode via a conductive holding member, and an insulating layer provided on the substrate electrode.
  • a through hole is provided which penetrates the piezoelectric piece in the thickness direction, and penetrates when the main surface of the substrate is viewed in a plan view through the through hole.
  • the substrate electrodes are covered with an insulating layer at positions corresponding to the holes.
  • a piezoelectric vibrator capable of obtaining stable performance by preventing the occurrence of a short circuit between electrodes due to the adhesion of electrode shavings due to irradiation with radiation is provided by using a simple configuration.
  • FIG. 2 is a sectional view taken along line II-II of FIG. It is a top view for demonstrating the state which the crystal vibration element which concerns on this embodiment is mounted on a substrate. It is a flowchart for demonstrating the manufacturing method of the crystal oscillator which concerns on this embodiment. It is a top view for demonstrating the state which the crystal vibrating element which concerns on another embodiment is mounted on a substrate.
  • FIG. 1 is a perspective view showing the appearance of the crystal oscillator 1 according to the present embodiment.
  • FIG. 2 is a sectional view taken along line II-II of FIG.
  • the state of the crystal oscillator 1 shown in FIG. 2 may be referred to as an “assembled state”.
  • the crystal oscillator 1 is an example of a piezoelectric vibrator.
  • the crystal oscillator 1 includes a crystal vibration element (Quartz Crystal Resonator) 10, a lid member 20, and a substrate 30. Further, the crystal oscillator 1 includes a conductive holding member 50, a sealing frame 37, and a joining member 40.
  • the crystal vibrating element 10 is mounted on the substrate 30 via a conductive holding member 50 provided on one end side in the longitudinal direction of the crystal vibrating element 10.
  • the lid member 20 is joined to the substrate 30 so as to cover the crystal vibrating element 10 via the sealing frame 37 and the joining member 40. In this way, the crystal vibrating element 10 is sealed in the internal space of the sealing container composed of the lid member 20 and the substrate 30.
  • the thickness direction, the longitudinal direction, and the lateral direction of the crystal oscillator 1, the crystal vibrating element 10, the crystal piece 11 of the crystal vibrating element 10 described later, and the substrate 30 are shown in FIG. It coincides with the Z'axis direction, the X axis direction, and the Y'axis direction.
  • FIG. 3 is a plan view for explaining a state in which the crystal vibrating element 10 according to the present embodiment is mounted on the substrate 30. In FIG. 3, some electrodes are not shown.
  • the crystal vibrating element 10 is an example of a piezoelectric vibrating element and has a plate shape. Further, the crystal vibrating element 10 includes a crystal piece 11 and a plurality of electrodes provided on the crystal piece 11.
  • the plurality of electrodes of the crystal vibrating element 10 include excitation electrodes 14a and 14b, connection electrodes 16a and 16b, and extraction electrodes 15a and 15b. In the following description, when the excitation electrodes 14a and 14b are not distinguished, they may be collectively referred to as "excitation electrode 14". The same applies to the configurations of the other crystal oscillators 1.
  • the crystal piece 11 is an example of a piezoelectric piece, for example, an AT-cut crystal substrate.
  • the AT-cut crystal substrate has the Y-axis and Z-axis around the X-axis at 35 degrees 15 minutes ⁇ 1 minute in the direction from the Y-axis to the Z-axis.
  • the axes rotated for 30 seconds are the Y'axis and the Z'axis, respectively, the plane parallel to the plane specified by the X-axis and the Y'axis (hereinafter referred to as "XY'plane" is specified by another axis.
  • the crystal vibrating element 10 that employs the AT-cut crystal piece 11 has a thickness slip vibration mode as the main vibration.
  • the cut angle of the crystal piece 11 is not limited, and for example, a BT cut, a GT cut, an SC cut, or the like can be applied.
  • the crystal piece 11 is a plate-shaped member.
  • the crystal piece 11 is a rectangular parallelepiped.
  • the shape of the crystal piece 11 is not limited to a rectangular parallelepiped, and may have, for example, a mesa structure having a thick central portion and a thin peripheral portion.
  • the crystal piece 11 has two main surfaces 12a and 12b on both sides in the thickness direction.
  • the plan view shapes of the main surfaces 12a and 12b are rectangular.
  • a pair of excitation electrodes 14a and 14b are provided at the center of the main surfaces 12a and 12b.
  • a through hole 120 that penetrates the crystal piece 11 in the thickness direction is provided in the region near the excitation electrode 14. Specifically, the through hole 120 is provided at one end of the crystal piece 11 in the longitudinal direction.
  • the excitation electrodes 14a and 14b are electrodes for causing the crystal piece 11 to slide and vibrate in thickness when a voltage is applied. Further, the excitation electrodes 14a and 14b are metal films made of the same material. For example, the excitation electrodes 14a and 14b are composed of a chromium (Cr) layer and a gold (Au) layer on the surface of the chromium layer. Further, in the present embodiment, the other electrodes of the crystal oscillator 1 (excluding the via electrodes 34a and 34b) described later and the electrodes of the substrate 30 are also made of the same material as the excitation electrodes 14a and 14b.
  • connection electrodes 16a and 16b are terminals for electrically connecting the crystal vibrating element 10 to the substrate 30. Further, the connection electrodes 16a and 16b are provided on the main surface 12b side of the peripheral edge portion 110.
  • the extraction electrodes 15a and 15b are electrodes for electrically connecting the excitation electrodes 14a and 14b to the connection electrodes 16a and 16b. The extraction electrodes 15a and 15b are provided on the peripheral edge portion 110.
  • the substrate 30 is an example of a substrate on which the crystal vibrating element 10 is mounted, and has a plate shape.
  • the substrate 30 has a substrate 31 and a plurality of electrodes provided on the substrate 31.
  • the plurality of electrodes of the substrate 30 include substrate electrodes 33a, 33b, via electrodes 34a, 34b, and external electrodes 35a, 35b, 35c, 35d.
  • the substrate 31 is made of a light-transmitting material, for example, glass. Further, the substrate 31 has two substrate main surfaces 32a and 32b on both sides in the thickness direction and two via holes 32c penetrating the substrate 31 in the thickness direction.
  • the main surface 32a of the substrate is a surface for mounting the crystal vibrating element 10.
  • the substrate main surface 32a is the substrate main surface on the side facing the crystal vibrating element 10.
  • Substrate electrodes 33a and 33b are provided at one end of the main surface 32a of the substrate in the longitudinal direction.
  • the substrate electrodes 33a and 33b are terminals for electrically connecting to the connection electrodes 16a and 16b of the crystal vibrating element 10.
  • the substrate electrodes 33a and 33b are located in the central portion of the substrate 31 rather than the first electrode portions 331a and 331b located at the peripheral portion of the substrate 31 and the first electrode portions 331a and 331b in the longitudinal direction of the substrate 31. It has second electrode portions 332a and 332b.
  • the first electrode portions 331a and 331b are located at positions corresponding to the connection electrodes 16a and 16b of the crystal vibration element 10, that is, the connection electrodes 16a, It is formed below 16b.
  • the second electrode portions 332a and 332b are formed at positions corresponding to the through holes 120 of the crystal vibrating element 10, that is, below the through holes 120. That is, the second electrode portions 332a and 332b are part of the substrate electrodes 33a and 33b formed at positions corresponding to the through holes 120 when the substrate main surface 32a is viewed in a plan view through the through holes 120 of the crystal vibrating element 10. Is.
  • the second electrode portions 332a and 332b are covered with insulating layers 60a and 60b.
  • the insulating layers 60a and 60b and the substrate main surface 32a are exposed inside the through hole 120 as shown in FIG. There is. In other words, the substrate electrodes 33a and 33b are not exposed inside the through hole 120.
  • the insulating layers 60a and 60b are examples of protective layers of the second electrode portions 332a and 332b.
  • the material of the insulating layers 60a and 60b is, for example, glass.
  • the thickness of the insulating layer 60 is, for example, 10 ⁇ m. With such insulating layers 60a and 60b, it is possible to prevent the radiation used in the manufacturing process of the crystal oscillator 1 from directly irradiating the second electrode portions 332a and 332b.
  • the protective effect of the insulating layer 60 will be described after explaining the production of the crystal oscillator 1.
  • the substrate main surface 32b is a surface facing an external mounting substrate (not shown).
  • External electrodes 35a, 35b, 35c, and 35d are provided at the four corners of the main surface 32b of the substrate.
  • the external electrodes 35a to 35d are terminals for electrically connecting to an external mounting board.
  • the external electrodes 35a and 35b are input / output electrodes to which the input / output signals of the crystal vibrating element 10 are supplied, and the external electrodes 35c and 35d are electrodes to which the input / output signals of the crystal vibrating element 10 are not supplied. be.
  • Via electrodes 34a and 34b are provided in the two via holes 32c.
  • the via electrodes 34a and 34b are electrodes for connecting the substrate electrodes 33a and 33b and the external electrodes 35a and 35b. Further, the via electrodes 34a and 34b are formed by filling, for example, a via hole 32c with a metal material such as molybdenum.
  • the conductive holding member 50 is an adhesive for electrically connecting the connection electrodes 16a and 16b of the crystal vibrating element 10 and the substrate electrodes 33a and 33b of the substrate 30. Further, the conductive holding member 50 is formed by, for example, thermosetting a conductive adhesive.
  • the conductive holding member 50 is not provided with the insulating layer 60 on the upper surfaces of the connection electrodes 16a and 16b of the crystal vibrating element 10 and the substrate electrodes 33a and 33b of the substrate 30 in the Z'axis direction. It is provided between the part and the part of. In this way, the crystal vibrating element 10 and the substrate 30 are electrically connected by the conductive holding member 50, and the crystal vibrating element 10 is excitedably held by the substrate 30.
  • the lid member 20 has a box shape in which an opening is formed on the side to be joined to the substrate 30.
  • the material of the lid member 20 is made of a conductive material such as metal.
  • the inner surface of the lid member 20 and the substrate main surface 32a of the substrate 30 form an internal space for accommodating the crystal vibrating element 10.
  • the sealing frame 37 and the joining member 40 are configured to metal-bond the lid member 20 and the substrate 30.
  • the sealing frame 37 is provided on the peripheral edge of the main surface 32a of the substrate.
  • the material of the sealing frame 37 is a conductive metal.
  • the joining member 40 is provided on the sealing frame 37.
  • the joining member 40 is a brazing member made of, for example, a gold (Au) -tin (Sn) eutectic alloy or the like.
  • FIG. 4 is a flowchart for explaining the manufacturing method of the crystal oscillator 1 according to the present embodiment.
  • the crystal vibrating element 10 and the substrate 30 are prepared (S10).
  • Step S10 is an example of the preparation process. Specifically, a crystal vibrating element 10 having an excitation electrode 14a, 14b, a connection electrode 16a, 16b, an extraction electrode 15a, 15b, and a through hole 120 is prepared, and an external electrode 35a, 35b, 35c, 35d, and a substrate electrode are prepared. A substrate 30 having insulating layers 60a and 60b provided on the second electrode portions 332a and 332b of the substrate electrodes 33a and 33b is prepared.
  • the crystal vibrating element 10 is mounted on the substrate 30 (S20).
  • Step S20 is an example of a mounting process in which the crystal vibrating element 10 is mounted on the substrate 30 so that the connection electrodes 16a and 16b are electrically connected to the substrate electrodes 33a and 33b via the conductive holding member 50.
  • a conductive adhesive that is, a conductive holding member 50 before being thermally cured, is placed on the first electrode portions 331a, 331b of the substrate electrodes 33a, 33b formed on the substrate main surface 32a of the substrate 30. Is provided.
  • the crystal vibrating element 10 is placed on the conductive adhesive so that the connection electrodes 16a and 16b of the crystal vibrating element 10 come into contact with the electric adhesive.
  • the crystal vibrating element 10 is a conductive adhesive so that the through holes 120 are arranged at positions corresponding to the insulating layers 60a and 60b provided on the substrate electrodes 33a and 33b in the Z'axis direction. It is placed on the top.
  • the conductive adhesive is heat-cured. In this way, the crystal vibrating element 10 is mounted on the substrate 30 by the conductive holding member 50 obtained by thermally curing the conductive adhesive.
  • the excitation electrode 14a is trimmed (S30).
  • Step S30 is an example of a trimming step of irradiating radiation from above the crystal vibrating element 10 to trim a part of the exciting electrode 14a of the crystal vibrating element 10 in order to adjust the resonance frequency due to the mass load effect. Further, the trimming step according to step S30 includes irradiating radiation in a range including the through hole 120.
  • step S20 by irradiating radiation from above the crystal vibrating element 10, for example, an ion beam, a part of the excitation electrode 14a formed on the main surface 12a is evaporated and scraped. In this way, after the trimming adjustment, the mass of the excitation electrode 14a becomes lighter, so that the resonance frequency of the crystal vibrating element 10 becomes higher.
  • the excitation electrode 14a is trimmed, and the ion beam irradiates the crystal vibrating element 10 in a range including the through hole 120. Therefore, some ion beams may pass through the through hole 120 and irradiate the substrate 30. The details of the irradiation of the substrate 30 with the ion beam will be described in accordance with the explanation of the protective effect of the insulating layer 60.
  • the crystal vibrating element 10 is sealed by joining the lid member 20 to the substrate 30 (S30).
  • a bonding member 40 is provided on the sealing frame 37 of the substrate 30, and the sealing frame 37 and the bonding member 40 are interposed between the upper surface of the opening of the lid member 20 and the substrate main surface 32a of the substrate 30. Let me. Then, the lid member 20 is joined to the substrate 30 by heating the joining member 40. In this way, the crystal vibrating element 10 is sealed in the internal space by the lid member 20 and the substrate 30.
  • step S30 in the manufacturing process of the crystal oscillator 1 when the ion beam passes through the through hole 120 formed in the vicinity of the excitation electrode 14a, the ion beam is sent to the substrate 30 directly below the through hole 120 in the Z'axis direction. It may irradiate a part of. Further, in the present embodiment, the second electrode portions 332a and 332b of the substrate electrodes 33a and 33b and a part of the substrate main surface 32a of the substrate 31 are provided directly below the through hole 120 in the Z'axis direction.
  • the through holes 120, and the second electrode portions 332a, 332b of the substrate electrodes 33a, 33b having such an arrangement relationship the through holes
  • the ion beam that has passed through 120 directly irradiates the second electrode portions 332a and 332b.
  • the second electrode portions 332a and 332b are scraped, and the electrode scraps of the second electrode portions 332a and 332b are generated by the irradiation of the ion beam.
  • the electrode shavings adhere between the substrate electrode 33a and the substrate electrode 33b the substrate electrode 33a and the substrate electrode 33b are short-circuited, which affects the stability of the resonance frequency of the crystal oscillator 1.
  • the insulating layer 60 when the insulating layer 60 according to the present embodiment is adopted, the ion beam that has passed through the through hole 120 directly irradiates the insulating layer 60. In other words, the ion beam does not directly irradiate the second electrode portions 332a and 332b covered with the insulating layer 60. Therefore, the second electrode portions 332a and 332b are not scraped by the irradiation of the ion beam, and electrode shavings are not generated. As a result, it is possible to prevent a short circuit between the substrate electrode 33a and the substrate electrode 33b due to electrode shavings adhering between the substrate electrode 33a and the substrate electrode 33b. As described above, the insulating layer 60 avoids the influence of the electrode shavings of the substrate electrodes 33a and 33b on the resonance frequency of the crystal oscillator 1.
  • the through hole is formed in the Z'axis direction. It will adhere to a part of the insulating layer 60 and the substrate 31 directly under the 120.
  • both the insulating layer 60 and the substrate 31 are made of glass, even if the electrode shavings of the excitation electrode 14a adhere to their upper surfaces, the substrate electrodes 33a and 33b and the substrate electrodes 33a and 33b pass through the insulating layer 60 and the substrate 31. There is no conduction.
  • the insulating layer 60 it is not necessary to add a configuration for preventing the electrode shavings of the excitation electrode 14a from falling, the configuration of the crystal oscillator 1 can be simplified, and the electrode shaving of the excitation electrode 14a can be realized. It is possible to prevent a short circuit between the substrate electrode 33a and the substrate electrode 33b due to the debris adhering between the substrate electrode 33a and the substrate electrode 33b. As described above, the insulating layer 60 avoids the influence of the electrode shavings of the excitation electrode 14a on the resonance frequency of the crystal oscillator 1.
  • a simple configuration is used to prevent short-circuiting between electrodes due to adhesion of electrode shavings due to irradiation of radiation, and crystal vibration having stable performance. Child 1 can be obtained.
  • the insulating layer 60 has the above-mentioned protective effect and also has the following features.
  • step S30 the insulating layer 60 is scraped by irradiation with an ion beam.
  • the insulating layer 60 is made of glass, even if the insulating shavings of the insulating layer 60 adhere between the substrate electrodes 33a and the substrate electrodes 33b, a short circuit occurs between the substrate electrodes 33a and the substrate electrodes 33b. There is no such thing.
  • the insulating shavings of the substrate 31 due to the irradiation of the ion beam are removed from the substrate electrodes 33a and 33b. Even if it adheres between them, it does not cause a short circuit between the substrate electrode 33a and the substrate electrode 33b.
  • the thickness of the insulating layer 60 according to the present embodiment is 10 ⁇ m, the insulating layer 60 is not completely scraped by the irradiation of the ion beam according to step S30. Therefore, in the present embodiment, after the step S30 is performed, the insulating layer 60 remains on the upper surface of the second electrode portions 332a and 332b. On the other hand, when the thinner insulating layer 60 is adopted, the insulating layer 60 may be completely scraped when the irradiation of the ion beam according to step S30 is completed. In such a case, after step S30 is performed, the insulating layer 60 does not remain on the upper surfaces of the second electrode portions 332a and 332b.
  • FIG. 5 is a plan view for explaining a state in which the crystal vibrating element 10 according to another embodiment is mounted on the substrate 30. In FIG. 5, some electrodes are not shown.
  • the difference between the crystal oscillator 1 according to the other embodiment and the crystal oscillator 1 according to the present embodiment is the formation range of the insulating layer 60, and the other configurations are the same.
  • the description of matters common to the present embodiment of other embodiments will be omitted, and the contents relating to the different points will be described. In particular, the same action and effect due to the same configuration are not mentioned.
  • the insulating layer 60 is formed not only on the second electrode portions 332a and 332b but also on a part of the substrate 31 between the second electrode portions 332a and the second electrode portion 332b. It is also provided to cover. In other words, when the substrate main surface 32a is viewed in a plan view through the through hole 120, the insulating layer 60 is exposed inside the through hole 120.
  • the same effect as that of the present embodiment can be exhibited, and the substrate 31 can be suppressed from being scraped by the irradiation of the ion beam.
  • the crystal oscillator 1 is electrically connected to the crystal piece 11, the excitation electrodes 14a and 14b formed on the crystal piece 11, and the excitation electrodes 14a and 14b formed on the crystal piece 11.
  • the crystal vibrating element 10 having the connected connection electrodes 16a and 16b, the base 31 having the base main surfaces 32a and 32b, and the conductive holding member 50 formed on the base main surface 32a on the side facing the crystal vibrating element 10.
  • a substrate 30 having a substrate electrodes 33a and 33b electrically connected to the connection electrodes 16a and 16b and an insulating layer 60 provided on the substrate electrodes 33a and 33b is provided, and the crystal piece 11 is excited.
  • a through hole 120 that penetrates the crystal piece 11 in the thickness direction is provided, and when the substrate main surface 32a is viewed in a plan view through the through hole 120, the position corresponding to the through hole 120.
  • the second electrode portions 332a and 332b of the substrate electrodes 33a and 33b are covered with the insulating layer 60. According to the above configuration, it is possible to provide a crystal unit that can prevent the occurrence of short circuit between electrodes due to the adhesion of electrode shavings due to irradiation of radiation and can obtain stable performance by using a simple configuration.
  • the insulating layer 60 and the substrate main surface 32a or the insulating layer 60 may be exposed inside the through hole 120. According to the above configuration, by setting the irradiation target of the radiation to the insulating layer and / or the substrate, it is possible to avoid the generation of conductive shavings.
  • the material of the insulating layer 60 may be glass. According to the above configuration, it is possible to prevent the occurrence of a short circuit between electrodes due to the adhesion of shavings from the insulating layer.
  • a crystal piece 11 composed of quartz may be adopted. According to the above configuration, it is possible to provide a crystal oscillator capable of avoiding the occurrence of a short circuit between electrodes due to the adhesion of electrode shavings due to irradiation of radiation and realizing stable improvement in performance.
  • the crystal piece 11, the excitation electrodes 14a and 14b formed on the crystal piece 11, and the excitation electrodes 14a and 14b formed on the crystal piece 11 and the excitation electrodes 14a and 14b are electrically connected. It has a crystal vibrating element 10 having connection electrodes 16a and 16b connected to each other, and the crystal piece 11 having a through hole 120 penetrating the crystal piece 11 in the thickness direction, and a substrate main surface 32a and 32b.
  • the preparation step S10 for preparing the substrate 31, the substrate electrodes 33a and 33b formed on the main surface 32a of the substrate, and the substrate 30 having the insulating layer 60 provided on the substrate electrodes 33a and 33b, and the conductive holding member 50 are provided.
  • the mounting step S20 in which the crystal vibrating element 10 is mounted on the substrate 30 so that the connection electrodes 16a and 16b are electrically connected to the substrate electrodes 33a and 33b radiation is irradiated from above the crystal vibrating element 10.
  • a trimming step S30 for trimming the excitation electrode 14a of the crystal vibrating element 10 is included, and when the substrate main surface 32a is viewed in a plan view through the through hole 120, the second electrodes of the substrate electrodes 33a and 33b are located at positions corresponding to the through hole 120.
  • the portions 332a and 332b are covered with the insulating layer 60, and the trimming step S30 includes irradiating the radiation in a range including the through hole 120.
  • the radiation may be an ion beam. According to the above method, the resonance frequency of the crystal unit can be efficiently adjusted.
  • each of the embodiments described above is for facilitating the understanding of the present invention, and is not for limiting the interpretation of the present invention.
  • the present invention can be modified / improved without departing from the spirit thereof, and the present invention also includes an equivalent thereof. That is, those skilled in the art with appropriate design changes to each embodiment are also included in the scope of the present invention as long as they have the features of the present invention.
  • each element included in each embodiment and its arrangement, material, condition, shape, size, and the like are not limited to those exemplified, and can be appropriately changed.
  • each embodiment is an example, and it goes without saying that partial substitutions or combinations of the configurations shown in different embodiments are possible, and these are also included in the scope of the present invention as long as the features of the present invention are included. ..

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Abstract

水晶振動子1は、水晶片11と、励振電極14a,14bと、接続電極16a,16bとを有する水晶振動素子10と、基体31と、基板電極33a,33bと、基板電極33a,33bに設けられた絶縁層60a,60bとを有する基板30と、を備え、水晶片11の励振電極14aの近傍の領域には、水晶片11を厚み方向に貫通する貫通穴120が設けられており、貫通穴120を通して基体主面32aを平面視するとき、貫通穴120に対応する位置において基板電極33a,33bが絶縁層60a,60bによって覆われている。

Description

圧電振動子及び圧電振動子の製造方法
 本発明は、圧電振動子及び圧電振動子の製造方法に関する。
 従来、圧電振動子の共振周波数を調整するために、質量負荷効果による調整方法が採用されている。質量負荷効果による方法は、例えば、イオンビーム等の放射線を用いて、圧電振動子の電極を照射して削ることで、電極の質量を減少させて、圧電振動子の共振周波数を高める方法である。一方、質量負荷効果による調整方法を採用する場合、イオンビームの照射による電極の削り屑は、圧電振動子の電極間(例えば、励振電極間、基板電極間等)に付着することがある。その結果、圧電振動子の電極間がショートしてしまい、圧電振動子は、安定して共振周波数を出力できなくなることがある。このようなことに対して、圧電振動子の性能を維持するために、電極の削り屑における圧電振動子の電極間への付着を抑制することが求められている。
 例えば、特許文献1には、イオンビームを周波数調整用電極に照射して削ることによって、音叉型水晶振動素子の共振周波数を調整する場合、イオンビームによる周波数調整用電極の削りクズが水晶振動部に設けられた隣接する励振用電極間に付着することを防ぐために、励振用電極の上面に保護膜が設けられた構成を採用した水晶振動子が開示されている。
特開2016-139899号公報
 しかしながら、特許文献1に開示された保護膜は、水晶振動素子の共振周波数の調整工程において、放射線の照射による電極削り屑が励振用電極間に付着することを防ぐことができるが、電極削り屑が水晶振動素子から基板に向かって落下し、基板電極間に付着することを防ぐことができない場合がある。その結果、基板電極間に付着した電極削り屑によって、基板電極間のショートが発生し、水晶振動子の性能の安定性は依然として確保できることがある。
 本発明はこのような事情に鑑みて発明されたものであり、本発明の目的は、簡易な構成を用いて、放射線の照射による電極削り屑の付着に起因する電極間ショートの発生を防ぎ、安定な性能が得られる圧電振動子を提供することである。
 本発明の一側面に係る圧電振動子は、圧電片と、圧電片に形成された励振電極と、圧電片に形成されかつ励振電極に電気的に接続された接続電極とを有する、圧電振動素子と、基体と、基体の圧電振動素子を向く側の基体主面に形成され、導電性保持部材を介して接続電極に電気的に接続された基板電極と、基板電極に設けられた絶縁層とを有する、基板と、を備え、圧電片の励振電極の近傍の領域には、圧電片を厚み方向に貫通する貫通穴が設けられており、貫通穴を通して基体主面を平面視するとき、貫通穴に対応する位置において基板電極が絶縁層によって覆われている。
 本発明によれば、簡易な構成を用いて、放射線の照射による電極削り屑の付着に起因する電極間ショートの発生を防ぎ、安定な性能が得られる圧電振動子を提供する。
本実施形態に係る水晶振動子の外観を示す斜視図である。 図1のII-II線断面図である。 本実施形態に係る水晶振動素子が基板に搭載された状態を説明するための平面図である。 本実施形態に係る水晶振動子の製造方法を説明するためのフローチャート図である。 他の実施形態に係る水晶振動素子が基板に搭載された状態を説明するための平面図である。
 以下に本発明の実施形態を説明する。以下の図面の記載において、同一又は類似の構成要素は同一又は類似の符号で表している。図面は例示であり、各部の寸法や形状は模式的なものであり、本願発明の技術的範囲を実施形態に限定して解するべきではない。
 [本実施形態]
 <水晶振動子1の概要>
 まず、図1及び図2を参照しつつ、本実施形態に係る水晶振動子(Quartz Crystal Resonator Unit)1の構成を説明する。図1は、本実施形態に係る水晶振動子1の外観を示す斜視図である。図2は、図1のII-II線断面図である。以下の説明では、図2に示す水晶振動子1の状態を「組立状態」と呼ぶことがある。
 本実施形態に係る水晶振動子1は、圧電振動子の一例である。水晶振動子1は、水晶振動素子(Quartz Crystal Resonator)10と、蓋部材20と、基板30とを備える。また、水晶振動子1は、導電性保持部材50と、封止枠37と、接合部材40とを備える。
 組立状態において、水晶振動素子10は、水晶振動素子10の長手方向の一端側に設けられた導電性保持部材50を介して、基板30に搭載されている。蓋部材20は、封止枠37及び接合部材40を介して、水晶振動素子10を覆うように基板30と接合されている。こうして、水晶振動素子10が、蓋部材20及び基板30によって構成される封止容器の内部空間に封止されている。
 また、組立状態において、水晶振動子1、水晶振動素子10、後述する水晶振動素子10の水晶片11、及び基板30のそれぞれの厚み方向、長手方向、及び短手方向は、図1に示されているZ´軸方向、X軸方向、及びY´軸方向と一致している。
 <水晶振動子1の詳細>
 次に、図1乃至図3を参照しつつ、水晶振動子1の各構成について詳細に説明する。図3は、本実施形態に係る水晶振動素子10が基板30に搭載された状態を説明するための平面図である。なお、図3において、一部の電極の図示は省略されている。
 (水晶振動素子10)
 水晶振動素子10は、圧電振動素子の一例であり、板状をなしている。また、水晶振動素子10は、水晶片11と、水晶片11に設けられている複数の電極とを備える。水晶振動素子10の複数の電極は、励振電極14a,14b、接続電極16a,16b、及び引出電極15a,15bを含む。以下の説明では、励振電極14a,14bを区別しないとき、「励振電極14」と総称することがある。その他の水晶振動子1の構成も同様とする。
 水晶片11は、圧電片の一例であり、例えば、ATカットの水晶基板である。ATカットの水晶基板は、水晶の結晶軸であるX軸、Y軸、Z軸のうち、Y軸及びZ軸をX軸の周りにY軸からZ軸の方向に35度15分±1分30秒回転させた軸をそれぞれY´軸及びZ´軸とした場合、X軸及びY´軸によって特定される面と平行な面(以下、「XY´面」とする。他の軸によって特定される面についても同様である。)を主面として人工水晶(Synthetic Quartz Crystal)から切り出されたものである。ATカットの水晶片11を採用する水晶振動素子10は、厚みすべり振動モードを主要振動とする。なお、水晶片11のカット角度は限定されるものではなく、例えば、BTカット、GTカット又はSCカット等を適用することができる。
 また、水晶片11は、板状部材である。本実施形態では、水晶片11は、直方体をなしている。なお、水晶片11は、水晶片の形状は直方体に限定されないものではなく、例えば、中央部が厚くて周辺が薄いメサ構造であってもよい。
 また、水晶片11は、厚み方向の両側にある2つの主面12a,12bを有する。主面12a,12bの平面視形状は、矩形状をなしている。主面12a,12bの中央には、一対の励振電極14a,14bが設けられている。
 また、水晶片11において、励振電極14の近傍の領域には、水晶片11を厚み方向に貫通する貫通穴120が設けられている。具体的には、貫通穴120は、水晶片11の長手方向の一方側の端部に設けられている。
 励振電極14a,14bは、電圧が印加されることで水晶片11を厚みすべり振動をさせるための電極である。また、励振電極14a,14bは、同じ材料によって構成された金属膜である。例えば、励振電極14a,14bは、クロム(Cr)層と、クロム層の表面にある金(Au)層とからなるものである。また、本実施形態では、後述する水晶振動子1の他の電極(ビア電極34a,34bを除く)及び基板30の各電極も、励振電極14a,14bと同じ材料によって構成されている。
 接続電極16a,16bは、水晶振動素子10を基板30に電気的に接続するための端子である。また、接続電極16a,16bは、周縁部110の主面12b側に設けられている。引出電極15a,15bは、励振電極14a,14bを接続電極16a,16bに電気的に接続するための電極である。引出電極15a,15bは、周縁部110に設けられている。
 (基板30)
 基板30は、水晶振動素子10を搭載する基板の一例であり、板状をなしている。基板30は、基体31と、基体31に設けられている複数の電極とを有する。基板30の複数の電極は、基板電極33a,33b、ビア電極34a,34b、及び外部電極35a,35b,35c,35dを含む。
 基体31は、光透過性を有する材料、例えばガラスによって構成されている。また、基体31は、厚み方向の両側にある2つの基体主面32a,32bと、基体31を厚み方向に貫通する2つのビアホール32cとを有する。
 基体主面32aは、水晶振動素子10を搭載するための面である。言い換えれば、基体主面32aは、水晶振動素子10を向く側における基体主面である。基体主面32aの長手方向の一方側の端部には、基板電極33a,33bが設けられている。基板電極33a,33bは、水晶振動素子10の接続電極16a,16bと電気的に接続するための端子である。また、基板電極33a,33bは、基体31の長手方向において、基体31の周縁部分に位置する第1電極部331a,331bと、第1電極部331a,331bよりも基体31の中央部分に位置する第2電極部332a,332bとを有する。
 図2及び図3に示すように、組立状態において、Z´軸方向にて、第1電極部331a,331bは、水晶振動素子10の接続電極16a,16bに対応する位置、すなわち接続電極16a,16bの下方に形成されている。第2電極部332a,332bは、水晶振動素子10の貫通穴120に対応する位置、すなわち貫通穴120の下方に形成されている。つまり、第2電極部332a,332bは、水晶振動素子10の貫通穴120を通して基体主面32aを平面視するとき、貫通穴120に対応する位置に形成された、基板電極33a,33bの一部である。
 また、第2電極部332a,332bには、絶縁層60a,60bによって覆われている。こうして、水晶振動素子10の貫通穴120を通して基体主面32aを平面視するとき、図3に示すように、貫通穴120の内側には、絶縁層60a,60b及び基体主面32aが露出している。言い換えれば、貫通穴120の内側には、基板電極33a,33bは露出してはいない。
 絶縁層60a,60bは、第2電極部332a,332bの保護層の一例である。絶縁層60a,60bの材料は、例えば、ガラスである。絶縁層60の厚さは、例えば、10μmである。このような絶縁層60a,60bによって、水晶振動子1の製造過程に使用される放射線が第2電極部332a,332bを直接照射することを回避することができる。なお、絶縁層60による保護効果については、水晶振動子1の製造を説明した後に説明する。
 基体主面32bは、図示しない外部の実装基板に向かう面である。基体主面32bの4つの角部には、外部電極35a,35b,35c,35dが設けれている。外部電極35a乃至35dは、外部の実装基板と電気的に接続するための端子である。具体的には、外部電極35a,35bは、水晶振動素子10の入出力信号が供給される入出力電極であり、外部電極35c,35dは、水晶振動素子10の入出力信号が供給されない電極である。
 2つのビアホール32cには、ビア電極34a,34bが設けられている。ビア電極34a,34bは、基板電極33a,33bと、外部電極35a,35bとを接続するための電極である。また、ビア電極34a,34bは、例えばビアホール32cにモリブデン等の金属材料を充填して形成されている。
 (導電性保持部材50)
 導電性保持部材50は、水晶振動素子10の接続電極16a,16bと基板30の基板電極33a,33bとを電気的に接続するための接着材である。また、導電性保持部材50は、例えば、導電性接着剤が熱硬化して形成されたものである。
 組立状態において、導電性保持部材50は、Z´軸方向において、水晶振動素子10の接続電極16a,16bと、基板30の基板電極33a,33bの上面の、絶縁層60が設けられていない他の一部との間に設けられている。こうして、導電性保持部材50によって、水晶振動素子10と基板30とが電気的に接続されているとともに、水晶振動素子10が基板30に励振可能に保持される。
 (蓋部材20)
 蓋部材20は、基板30と接合する側に開口が形成されている箱状をなしている。また、蓋部材20の材質は、例えば金属等の導電材料で構成される。組立状態において、蓋部材20の内面と、基板30の基体主面32aとは、水晶振動素子10を収容する内部空間を構成する。
 (封止枠37及び接合部材40)
 封止枠37及び接合部材40は、蓋部材20と基板30とを金属接合する構成である。封止枠37は、基体主面32aの周縁に設けられている。封止枠37の材料は、導電性を有する金属である。接合部材40は、封止枠37の上に設けられている。接合部材40は、例えば金(Au)‐錫(Sn)共晶合金等によって構成されたろう部材である。
 <水晶振動子1の製造>
 続いて、図1乃至図4を参照しつつ、水晶振動子1の製造について説明する。図4は、本実施形態に係る水晶振動子1の製造方法を説明するためのフローチャート図である。
 まず、水晶振動素子10及び基板30を準備する(S10)。
 ステップS10は、準備工程の一例である。具体的には、励振電極14a,14b、接続電極16a,16b、引出電極15a,15b、及び貫通穴120を有する水晶振動素子10を準備するとともに、外部電極35a,35b,35c,35d、基板電極33a,33b、及び基板電極33a,33bの第2電極部332a,332bに設けられた絶縁層60a,60bを有する基板30を準備する。
 次に、水晶振動素子10を基板30に搭載する(S20)。
 ステップS20は、導電性保持部材50を介して接続電極16a,16bを基板電極33a,33bに電気的に接続するように、水晶振動素子10を基板30に搭載する搭載工程の一例である。
 具体的には、基板30の基体主面32aに形成された基板電極33a,33bの第1電極部331a,331bの上に導電性接着剤、すなわち、熱硬化される前の導電性保持部材50を設ける。次に、水晶振動素子10の接続電極16a,16bのそれぞれが電性接着剤と接触するように、水晶振動素子10を導電性接着剤の上に載置する。また、この場合、水晶振動素子10は、Z´軸方向において、貫通穴120が基板電極33a,33bに設けられた絶縁層60a,60bに対応する位置に配置されるように、導電性接着剤の上に載置されている。その後、導電性接着剤を熱硬化させる。こうして、導電性接着剤を熱硬化させて得られる導電性保持部材50によって、水晶振動素子10が基板30に搭載される。
 続いて、励振電極14aをトリミングする(S30)。
 ステップS30は、質量負荷効果による共振周波数を調整するために、水晶振動素子10の上方から放射線を照射して、水晶振動素子10の励振電極14aの一部をトリミングするトリミング工程の一例である。また、ステップS30に係るトリミング工程は、貫通穴120を含む範囲で放射線を照射することを含む。
 具体的には、ステップS20の後に、水晶振動素子10の上方から放射線、例えばイオンビームを照射することで、主面12aに形成された励振電極14aの一部を蒸散させることで削る。こうして、トリミング調整後、励振電極14aの質量が軽くなるため、水晶振動素子10の共振周波数が高くなる。
 また、励振電極14aをトリミングするとともに、イオンビームは貫通穴120を含む範囲で水晶振動素子10を照射する。このため、一部のイオンビームは、貫通穴120を通過して基板30を照射することがある。なお、イオンビームによる基板30への照射の詳細については、絶縁層60による保護効果の説明に合わせて説明する。
 その後、基板30に蓋部材20を接合することにより、水晶振動素子10を封止する(S30)。
 具体的には、基板30の封止枠37上に接合部材40を設け、封止枠37及び接合部材40を蓋部材20の開口部の上面と基板30の基体主面32aとの間に介在させる。そして、接合部材40を加熱することで、蓋部材20を基板30に接合する。こうして、水晶振動素子10が蓋部材20及び基板30によって内部空間に封止される。
 このように、水晶振動子1の製造は完了する。
 <絶縁層60による保護効果及び特徴>
 続いて、図3を参照しつつ、絶縁層60による基板電極33への保護効果及びその他の特徴について説明する。
 (絶縁層60による保護効果)
 ここで、絶縁層60による保護効果を説明する前に、まず、イオンビームによる基板30への照射について説明する。水晶振動子1の製造工程におけるステップS30において、イオンビームが励振電極14aの近傍に形成された貫通穴120を通過する場合、イオンビームは、Z´軸方向において貫通穴120の直下にある基板30の一部を照射することがある。また、本実施形態では、基板電極33a,33bの第2電極部332a,332b及び基体31の基体主面32a一部は、Z´軸方向において貫通穴120の直下に設けられている。
 こうして、このような配置関係を有する励振電極14a、貫通穴120、及び基板電極33a,33bの第2電極部332a,332bに対して、本実施形態に係る絶縁層60を採用しない場合、貫通穴120を通過したイオンビームは、第2電極部332a,332bを直接照射することになる。その結果、第2電極部332a,332bが削られ、イオンビームの照射による第2電極部332a,332bの電極削り屑が生じる。また、電極削り屑が基板電極33a及び基板電極33bの間に付着すると、基板電極33a及び基板電極33bの間がショートしてしまい、水晶振動子1の共振周波数の安定性に影響を与える。
 これに対して、本実施形態に係る絶縁層60を採用する場合、貫通穴120を通過したイオンビームは、絶縁層60を直接照射することになる。言い換えれば、イオンビームは、絶縁層60に覆われている第2電極部332a,332bを直接照射することがない。よって、第2電極部332a,332bは、イオンビームの照射によって削られることがなく、電極削り屑は発生しない。その結果、電極削り屑が基板電極33a及び基板電極33bの間に付着することによる基板電極33a及び基板電極33bの間のショートを防ぐことができる。このように、絶縁層60によって、基板電極33a,33bの電極削り屑による水晶振動子1の共振周波数への影響が回避されている。
 また、本実施形態に係る絶縁層60を採用する場合、ステップS30においてイオンビームの照射による励振電極14aの電極削り屑が貫通穴120を通して基板30側に落ちるとしても、Z´軸方向において貫通穴120の直下にある絶縁層60及び基体31の一部に付着することになる。ここで、絶縁層60及び基体31ともガラスによって構成されているため、励振電極14aの電極削り屑がそれらの上面に付着しても、絶縁層60及び基体31を介して基板電極33a,33bと導通することがない。このため、絶縁層60によれば、励振電極14aの電極削り屑の落下を防止する構成を追加する必要がなくなり、水晶振動子1の構成の簡易化を実現できるとともに、励振電極14aの電極削り屑が基板電極33a及び基板電極33bの間に付着することによる基板電極33a及び基板電極33bの間のショートを防ぐことができる。このように、絶縁層60によって、励振電極14aの電極削り屑による水晶振動子1の共振周波数への影響が回避されている。
 以上のとおり、本実施形態に係る絶縁層60によれば、簡易な構成を用いて、放射線の照射による電極削り屑の付着に起因する電極間ショートの発生を防ぎ、安定な性能を有する水晶振動子1を得ることができる。
 (絶縁層60の他の特徴)
 本実施形態に係る絶縁層60は、上述した保護効果が有するほか、以下の特徴を有する。
 ステップS30において、絶縁層60は、イオンビームの照射によって削られる。一方、絶縁層60はガラスによって構成されているため、絶縁層60の絶縁削り屑が基板電極33a及び基板電極33bの間に付着しても、基板電極33a及び基板電極33bの間のショートを起こすことがない。
 なお、絶縁層60と同様に、貫通穴120の直下にある基体31の一部もガラスによって構成されているため、イオンビームの照射による基体31の絶縁削り屑が基板電極33a及び基板電極33bの間に付着しても、基板電極33a及び基板電極33bの間のショートを起こすことがない。
 また、本実施形態に係る絶縁層60の厚さは10μmであるため、ステップS30に係るイオンビームの照射によって、絶縁層60は完全に削られることがない。このため、本実施形態では、ステップS30が行われた後、絶縁層60は第2電極部332a,332bの上面に残っている。一方、より薄い絶縁層60を採用する場合、絶縁層60は、ステップS30に係るイオンビームの照射が完了する時点で、完全に削られる可能性もある。このような場合、ステップS30が行われた後、絶縁層60は第2電極部332a,332bの上面に残っていない。
 [他の実施形態]
 続いて、図5を参照しつつ、他の実施形態に係る水晶振動子1の構成について説明する。図5は、他の実施形態に係る水晶振動素子10が基板30に搭載された状態を説明するための平面図である。なお、図5において、一部の電極の図示は省略されている。
 他の実施形態に係る水晶振動子1と、本実施形態に係る水晶振動子1との相違は、絶縁層60の形成範囲であり、その他の構成は同じである。以下の説明では、他の実施形態の本実施形態と共通の事柄についての記述を省略し、異なる点に係る内容を説明する。特に、同様の構成による同様の作用効果については言及しない。
 図5に示すように、他の実施形態に係る絶縁層60は、第2電極部332a,332bのみならず、第2電極部332a及び第2電極部332bの間にある基体31の一部にも覆うように設けられている。言い換えれば、貫通穴120を通して基体主面32aを平面視するとき、貫通穴120の内側には、絶縁層60が露出している。
 このような他の実施形態に係る絶縁層60によれば、本実施形態と同様の効果を発揮できるとともに、基体31がイオンビームの照射によって削られることを抑制できる。
 以上、本発明の例示的な実施形態について説明した。
 本発明の一実施形態に係る水晶振動子1は、水晶片11と、水晶片11に形成された励振電極14a,14bと、水晶片11に形成されかつ励振電極14a,14bに電気的に接続された接続電極16a,16bとを有する、水晶振動素子10と、基体主面32a,32bを有する基体31と、水晶振動素子10を向く側における基体主面32aに形成され、導電性保持部材50を介して接続電極16a,16bに電気的に接続された基板電極33a,33bと、基板電極33a,33bに設けられた絶縁層60とを有する、基板30と、を備え、水晶片11の励振電極14a,14bの近傍の領域には、水晶片11を厚み方向に貫通する貫通穴120が設けられており、貫通穴120を通して基体主面32aを平面視するとき、貫通穴120に対応する位置において基板電極33a,33bの第2電極部332a,332bが絶縁層60によって覆われている。
 上記構成によれば、簡易な構成を用いて、放射線の照射による電極削り屑の付着に起因する電極間ショートの発生を防ぎ、安定な性能が得られる水晶振動子を提供することができる。
 また、上記構成において、貫通穴120を通して基体主面32aを平面視するとき、貫通穴120の内側には、絶縁層60及び基体主面32a、又は、絶縁層60が露出してもよい。
 上記構成によれば、放射線の照射対象を絶縁層及び/又は基体にすることで、導電性の削り屑の発生を回避することができる。
 また、上記構成において、絶縁層60の材料は、ガラスであってもよい。
 上記構成によれば、絶縁層の削り屑の付着に起因する電極間ショートの発生を防止することができる。
 また、上記構成において、水晶によって構成された水晶片11を採用してもよい。
 上記構成によれば、放射線の照射による電極削り屑の付着に起因する電極間ショートの発生を回避し、性能の安定なの向上を実現できる水晶振動子を提供することが可能となっている。
 本発明の他の実施形態に係る水晶振動子1の製造方法では、水晶片11、水晶片11に形成された励振電極14a,14b、及び水晶片11に形成されかつ励振電極14a,14bに電気的に接続された接続電極16a,16bを有し、かつ水晶片11に水晶片11を厚み方向に貫通する貫通穴120が設けられている水晶振動素子10と、基体主面32a,32bを有する基体31、基体主面32aに形成された基板電極33a,33b、及び基板電極33a,33bに設けられた絶縁層60を有する基板30と、を準備する準備工程S10と、導電性保持部材50を介して接続電極16a,16bを基板電極33a,33bに電気的に接続するように、水晶振動素子10を基板30に搭載する搭載工程S20と、水晶振動素子10の上方から放射線を照射して、水晶振動素子10の励振電極14aをトリミングするトリミング工程S30と、を含み、貫通穴120を通して基体主面32aを平面視するとき、貫通穴120に対応する位置において基板電極33a,33bの第2電極部332a,332bは、絶縁層60によって覆われており、トリミング工程S30は、貫通穴120を含む範囲で放射線を照射することを含む。
 上記方法によれば、放射線の照射による電極削り屑の付着に起因する電極間ショートの発生を防ぐことができ、安定な性能を有する水晶振動子を得ることができる。
 また、上記方法において、放射線は、イオンビームであってもよい。
 上記方法によれば、水晶振動子の共振周波数を効率よく調整することができる。
 なお、以上説明した各実施形態は、本発明の理解を容易にするためのものであり、本発明を限定して解釈するためのものではない。本発明は、その趣旨を逸脱することなく、変更/改良され得るとともに、本発明にはその等価物も含まれる。即ち、各実施形態に当業者が適宜設計変更を加えたものも、本発明の特徴を備えている限り、本発明の範囲に包含される。例えば、各実施形態が備える各要素及びその配置、材料、条件、形状、サイズ等は、例示したものに限定されるわけではなく適宜変更することができる。また、各実施形態は例示であり、異なる実施形態で示した構成の部分的な置換又は組み合わせが可能であることは言うまでもなく、これらも本発明の特徴を含む限り本発明の範囲に包含される。
 1…水晶振動子、10…水晶振動素子、11…水晶片、14a,14b…励振電極、16a,16b…接続電極、20…蓋部材、30…基板、31…基体、33a,33b…基板電極、50…導電性保持部材、60,60a,60b…絶縁層、331a,331b…第1電極部、332a,332b…第2電極部

Claims (6)

  1.  圧電片と、前記圧電片に形成された励振電極と、前記圧電片に形成されかつ前記励振電極に電気的に接続された接続電極とを有する、圧電振動素子と、
     基体と、前記基体の前記圧電振動素子を向く側の基体主面に形成され、導電性保持部材を介して前記接続電極に電気的に接続された基板電極と、前記基板電極に設けられた絶縁層とを有する、基板と、を備え、
     前記圧電片の前記励振電極の近傍の領域には、前記圧電片を厚み方向に貫通する貫通穴が設けられており、
     前記貫通穴を通して前記基体主面を平面視するとき、前記貫通穴に対応する位置において前記基板電極が前記絶縁層によって覆われている、
    圧電振動子。
  2.  前記貫通穴を通して前記基体主面を平面視するとき、前記貫通穴の内側には、前記絶縁層及び前記基体主面、又は、前記絶縁層が露出している、請求項1に記載の圧電振動子。
  3.  前記絶縁層の材料は、ガラスである、請求項1又は2に記載の圧電振動子。
  4.  前記圧電片の材料は、水晶である、請求項1乃至3のいずれか一項に記載の圧電振動子。
  5.  圧電片、前記圧電片に形成された励振電極、及び前記圧電片に形成されかつ前記励振電極に電気的に接続された接続電極を有し、かつ前記圧電片に前記圧電片を厚み方向に貫通する貫通穴が設けられている圧電振動素子と、
     基体、前記基体の前記圧電振動素子を向く側の基体主面に形成された基板電極、及び前記基板電極に設けられた絶縁層を有する基板と、
    を準備する準備工程と、
     導電性保持部材を介して前記接続電極を前記基板電極に電気的に接続するように、前記圧電振動素子を前記基板に搭載する搭載工程と、
     前記圧電振動素子の上方から放射線を照射して、前記圧電振動素子の前記励振電極の一部をトリミングするトリミング工程と、を含み、
     前記貫通穴を通して前記基体主面を平面視するとき、前記貫通穴に対応する位置において前記基板電極が形成された前記基板電極の一部は、前記絶縁層によって覆われており、
     前記トリミング工程は、前記貫通穴を含む範囲で前記放射線を照射することを含む、
    圧電振動子の製造方法。
  6.  前記放射線は、イオンビームである、請求項5に記載の圧電振動子の製造方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016084417A1 (ja) * 2014-11-28 2016-06-02 京セラ株式会社 圧電部品
WO2019188381A1 (ja) * 2018-03-30 2019-10-03 株式会社村田製作所 振動素子
JP2020053802A (ja) * 2018-09-26 2020-04-02 株式会社村田製作所 振動素子及び振動子

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016084417A1 (ja) * 2014-11-28 2016-06-02 京セラ株式会社 圧電部品
WO2019188381A1 (ja) * 2018-03-30 2019-10-03 株式会社村田製作所 振動素子
JP2020053802A (ja) * 2018-09-26 2020-04-02 株式会社村田製作所 振動素子及び振動子

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7588531B2 (ja) 2021-03-17 2024-11-22 エスアイアイ・クリスタルテクノロジー株式会社 振動子用パッケージ、圧電振動子及び発振器

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