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WO2006016486A1 - 薬液供給システム - Google Patents

薬液供給システム Download PDF

Info

Publication number
WO2006016486A1
WO2006016486A1 PCT/JP2005/013919 JP2005013919W WO2006016486A1 WO 2006016486 A1 WO2006016486 A1 WO 2006016486A1 JP 2005013919 W JP2005013919 W JP 2005013919W WO 2006016486 A1 WO2006016486 A1 WO 2006016486A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
supply
chemical
chemical liquid
pump
discharge
Prior art date
Application number
PCT/JP2005/013919
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Katsuya Okumura
Shigenobu Itoh
Tetsuya Toyoda
Kazuhiro Sugata
Original Assignee
Ckd Corporation
Octec Inc.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ckd Corporation, Octec Inc. filed Critical Ckd Corporation
Priority to KR1020077005377A priority Critical patent/KR101132118B1/ko
Priority to US11/659,727 priority patent/US7988429B2/en
Publication of WO2006016486A1 publication Critical patent/WO2006016486A1/ja

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/6715Apparatus for applying a liquid, a resin, an ink or the like
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B05SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05CAPPARATUS FOR APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05C11/00Component parts, details or accessories not specifically provided for in groups B05C1/00 - B05C9/00
    • B05C11/10Storage, supply or control of liquid or other fluent material; Recovery of excess liquid or other fluent material
    • B05C11/1002Means for controlling supply, i.e. flow or pressure, of liquid or other fluent material to the applying apparatus, e.g. valves
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F04POSITIVE - DISPLACEMENT MACHINES FOR LIQUIDS; PUMPS FOR LIQUIDS OR ELASTIC FLUIDS
    • F04BPOSITIVE-DISPLACEMENT MACHINES FOR LIQUIDS; PUMPS
    • F04B43/00Machines, pumps, or pumping installations having flexible working members
    • F04B43/02Machines, pumps, or pumping installations having flexible working members having plate-like flexible members, e.g. diaphragms
    • F04B43/06Pumps having fluid drive
    • F04B43/073Pumps having fluid drive the actuating fluid being controlled by at least one valve
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F04POSITIVE - DISPLACEMENT MACHINES FOR LIQUIDS; PUMPS FOR LIQUIDS OR ELASTIC FLUIDS
    • F04BPOSITIVE-DISPLACEMENT MACHINES FOR LIQUIDS; PUMPS
    • F04B43/00Machines, pumps, or pumping installations having flexible working members
    • F04B43/12Machines, pumps, or pumping installations having flexible working members having peristaltic action
    • F04B43/14Machines, pumps, or pumping installations having flexible working members having peristaltic action having plate-like flexible members
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F04POSITIVE - DISPLACEMENT MACHINES FOR LIQUIDS; PUMPS FOR LIQUIDS OR ELASTIC FLUIDS
    • F04FPUMPING OF FLUID BY DIRECT CONTACT OF ANOTHER FLUID OR BY USING INERTIA OF FLUID TO BE PUMPED; SIPHONS
    • F04F1/00Pumps using positively or negatively pressurised fluid medium acting directly on the liquid to be pumped
    • F04F1/06Pumps using positively or negatively pressurised fluid medium acting directly on the liquid to be pumped the fluid medium acting on the surface of the liquid to be pumped
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T137/00Fluid handling
    • Y10T137/2931Diverse fluid containing pressure systems
    • Y10T137/3115Gas pressure storage over or displacement of liquid
    • Y10T137/3124Plural units

Definitions

  • the present invention relates to a chemical solution supply system for inhaling and discharging a chemical solution by a pump and dropping the discharged chemical solution.
  • the present invention relates to a chemical solution supply system suitable for use in a chemical solution use process of a semiconductor manufacturing apparatus such as a chemical solution coating process such as a photoresist solution.
  • a chemical solution supply system as disclosed in Patent Document 1 has been proposed in order to apply a predetermined amount of a chemical solution such as a photoresist solution to a semiconductor wafer.
  • a flexible tube is interposed in the flow channel of the chemical solution in the pump, and an elastically deformable bellows is provided outside the flexible tube.
  • the bellows has a small bellows portion and a large bellows portion with different inner diameters arranged side by side in the axial direction of the flexible tube, and there is no space between the bellows and the flexible tube.
  • An incompressible medium is enclosed.
  • the small bellows part is expanded and the large bellows part is contracted by the motor actuator assembled integrally with the pump, and the volume of the flexible tube is reduced via the incompressible medium, and the chemical solution is discharged.
  • the small bellows part is contracted and the large bellows part is expanded, the volume of the flexible tube is increased through the incompressible medium, and the chemical solution is inhaled.
  • the motor actuator is expensive and complicates the system configuration.
  • the heat generated at the time of operation has a large amount of heat, and there is a risk of damaging a semiconductor wafer disposed in the vicinity of the pump so that the chemical liquid can be supplied by the pump.
  • Patent Document 2 a technique for solving the above problem is disclosed in Patent Document 2, for example.
  • a diaphragm that separates a pump chamber for filling the pump with a chemical solution and a pressurizing chamber (working chamber) is used.
  • the volume of the pump chamber is increased in order to inhale the chemical solution.
  • the air pressure in the pressurization chamber of the pump is lowered by a regulator, and the diaphragm is deformed to the anti-pump chamber side.
  • the chemical solution supply system uses a motor with a large calorific value! Therefore, there is no possibility of damaging the semiconductor wafer due to heat.
  • the pump is equipped with a spring for deforming the diaphragm to the anti-pump chamber side, it becomes a problem in miniaturizing the pump.
  • Patent Document 1 Japanese Patent Laid-Open No. 10-61558
  • Patent Document 2 Japanese Patent Laid-Open No. 11-343978
  • the present invention relates to a discharge pump for dripping a tip-nozzle chemical solution, which prevents heat generation during operation and eliminates an urging means for operating the variable volume member to the side opposite to the pump chamber.
  • the main purpose is to provide a chemical solution supply system that can be realized.
  • the chemical solution supply system according to the present invention is configured as follows. That is,
  • the pump chamber filled with the chemical and the working chamber are partitioned by a variable volume member, and the volume of the pump chamber is reduced by supplying the working gas to the working chamber to reduce the volume of the pump chamber.
  • a discharge pump for discharging the chemical liquid based on
  • An open / close-type discharge-side shutoff valve provided between the discharge pump and the tip nozzle; a first state in which the working gas having a set pressure is supplied to the working chamber; and a first state in which the working chamber is opened to the atmosphere.
  • Chemical supply means for supplying the chemical liquid to the discharge pump with a positive pressure
  • An open / close-type supply-side shut-off valve provided between the discharge pump and the chemical solution supply means; When discharging the chemical liquid, the supply side shut-off valve is switched to the closed position, the discharge side shut-off valve is switched to the open position, and the switching means is switched to the first state.
  • the supply-side shut-off valve When the discharge pump is filled with the chemical solution, the supply-side shut-off valve is switched to the open position, the discharge-side shut-off valve is switched to the closed position, and the switching means is switched to the second state so that the chemical solution by the chemical solution supply means Control means for controlling the both shut-off valves and the switching means for starting supply;
  • the downsizing of the discharge pump has advantages in the following points.
  • the downsizing of the discharge pump can make the installation space for the discharge pump more narrow than ever.
  • the discharge pump is arranged in the vicinity of the semiconductor wafer in order to improve the accuracy of the discharge amount of the chemical solution.
  • the installation space including this semiconductor wafer requires the highest level of cleanliness. Considering the cost of cleaning, it is required to make such a space as narrow as possible.
  • the above configuration can greatly reduce the cost because the installation space can be narrowed.
  • the discharge pump can be installed closer to the tip nozzle than ever before.
  • the working chamber is evacuated to drive the volume variable member to the working chamber side to expand the volume of the pump chamber so that the pump itself performs the chemical solution suction operation.
  • Conceivable It is not necessary to incorporate a spring or the like into the pump even with a powerful configuration It becomes. However, vacuuming is artificially creating a harsh state, so various problems may occur, such as the need for a structure that can withstand such conditions.
  • a spring or the like is not required and a discharge pump can be reduced in size by providing a separate chemical supply means and supplying a chemical to the discharge pump. is there.
  • the filter when the filter is provided between the discharge pump and the chemical liquid supply container, the chemical liquid in the pump chamber becomes negative pressure when the working chamber is vacuumed to perform the chemical liquid suction operation. Then, a pressure difference occurs between the front and back of the filter due to the pressure loss of the filter, and bubbles that damage the dropping target are generated.
  • the chemical liquid having a positive pressure is supplied from the chemical liquid supply means to the discharge pump, it is possible to prevent generation of bubbles when the chemical liquid passes through the filter.
  • the other end of the chemical liquid supply pipe is disposed in the chemical liquid in the chemical liquid supply container, and the chemical liquid supply means is the control means.
  • the chemical liquid supply means is the control means.
  • a chemical supply command from a configuration in which a pressurized gas at a set pressure is supplied to the space above the chemical solution inside the sealed chemical solution supply container and the chemical solution is sent out at a positive pressure.
  • a pressurized gas having a set pressure is supplied to the space above the chemical solution inside the chemical solution supply container in response to a command for starting the supply of the chemical solution with the control means, and the discharge pump is thereby supplied from the chemical solution supply container.
  • the chemical is sent out.
  • the pressure in the space above the chemical solution becomes the supply pressure of the chemical solution as it is.
  • This supply pressure is a positive pressure compared to the atmospheric pressure.
  • the pressure in the space above the chemical liquid is set to the set pressure almost simultaneously with the supply of the pressurized gas, so that the supply pressure can be set to the set pressure with high responsiveness to the chemical liquid supply start command.
  • the supply pressure can be maintained constant, and thus the supply of the chemical solution can be easily controlled. Furthermore, when the chemical solution supply system is not in operation, no chemical solution supply command is issued from the control means. Therefore, when the chemical solution supply container is replaced, the space above the chemical solution is pressurized. Therefore, the pressurized gas does not inadvertently leak the chemical supply container force.
  • one end is connected to a discharge pump.
  • the other end of the chemical solution supply pipe is placed in the chemical solution in the chemical solution supply container, and the chemical solution supply means constantly supplies pressurized gas at a set pressure to the space above the chemical solution inside the sealed chemical solution supply container to positively supply the chemical solution.
  • the pressure is sent out.
  • the pressurized gas having a set pressure is constantly supplied to the space above the chemical solution inside the chemical solution supply container, and thereby the chemical solution is sent from the chemical solution supply container to the discharge pump. At this time, the pressure in the space above the chemical solution becomes the supply pressure of the chemical solution as it is.
  • This supply pressure is positive compared to atmospheric pressure.
  • the pressure in the space above the chemical solution is set to the set pressure almost simultaneously with the supply of the pressurized gas, so that the supply pressure can be set to the set pressure with high responsiveness to the start command for supplying the chemical solution.
  • the supply pressure can be kept constant, so that the control of the chemical solution supply becomes easy.
  • the control burden on the control means can be reduced.
  • FIG. 1 is a circuit explanatory diagram showing an entire circuit in an embodiment of a chemical solution supply system.
  • FIG. 2 is a time chart showing an operation sequence in one embodiment of the chemical liquid supply system.
  • the chemical solution supply system includes a discharge pump 11 for discharging the chemical solution. Although the internal structure of the discharge pump 11 is not shown, a space is formed inside it.
  • the internal space is partitioned into a working chamber in which air pressure acts and a pump chamber filled with a chemical solution by a flexible membrane such as a diaphragm constituting a variable volume member.
  • a flexible membrane such as a diaphragm constituting a variable volume member.
  • a supply pipe 12 is connected to a supply port (not shown) provided on the chemical solution supply side of the discharge pump 11.
  • the other end of the supply pipe 12 is led into a resist solution R as a chemical solution of the resist bottle 15 through a supply side valve 13 and a filter 14.
  • the resist bottle 15 forms a chemical supply container.
  • the supply side valve 13 is an inexpensive air operated valve that can be simply switched between an open position and a closed position, and constitutes a supply side shut-off valve.
  • the filter 14 removes dust and the like when the resist solution R passes through the supply pipe 12.
  • a pressure pipe 16 is inserted into the resist bottle 15, and one end thereof is disposed in a space (upper layer space) 15a above the resist solution R.
  • the upper space 15a in the resist bottle 15 is sealed.
  • a first switching valve 17 which is a two-position three-port electromagnetic switching valve.
  • One of the remaining two ports of the first switching valve 17 is open to the atmosphere, and the other is connected to the air source 19 via the pressure control valve 18.
  • the electromagnetic solenoid provided in the first switching valve 17 is OFF, the inside of the pressurizing pipe 16 is atmospheric. Released.
  • the electromagnetic solenoid is ON, the pressure pipe 16 is communicated with the air source 19 via the pressure control valve 18.
  • Air compressed by a compressor or the like is supplied from the air source 19, and the compressed air is set to a pressure set by the pressure control valve 18, and then the compressed air having the set pressure is supplied to the first switching valve 17. Yes. Therefore, when the electromagnetic solenoid of the first switching valve 17 is turned on, the compressed air set to the set pressure by the pressure control valve 18 is supplied to the upper space 15 a in the resist bottle 15.
  • the chemical solution supply means includes the first switching valve 17, the pressure control valve 18, and the like.
  • a discharge pipe 21 is connected to a discharge port (not shown) provided on the chemical liquid discharge side of the discharge pump 11.
  • the other end of the discharge pipe 21 is a tip nozzle.
  • the tip nozzle is directed downward and is arranged so that the resist solution R is dropped at the center position of the semiconductor wafer 47 placed on the rotating plate 46.
  • a discharge side shutoff valve 22 is interposed in the middle of the discharge pipe 21 leading to the tip nozzle.
  • the discharge side shutoff valve 22 is the air operated valve described above.
  • the resist solution R in the resist bottle 15 is guided along the flow path to the tip nozzle of the discharge pipe 21 via the supply pipe 12, the pump chamber in the discharge pump 11 and the discharge pipe 21. It is becoming like that. In order to improve the accuracy of the discharge amount of the resist solution R, it is preferable to shorten the discharge pipe 21. Accordingly, the discharge pump 11 and the discharge side shut-off valve 22 are arranged in the vicinity of the rotating plate 46 on which the semiconductor wafer 47 is placed.
  • the discharge pump 11 is provided with a supply / discharge port (not shown) communicating with the working chamber, and an air pipe 25 is connected to the supply / discharge port.
  • the air piping 25 is connected to a second switching valve 26 which is a two-position three-port electromagnetic switching valve.
  • the second switching valve 26 constitutes switching means. One of the remaining two ports of the second switching valve 26 is open to the atmosphere, and the other is connected to an air source 28 via an electropneumatic regulator 27.
  • the air piping 25 is opened to the atmosphere when the electromagnetic solenoid provided in the second switching valve 26 is OFF, and the air piping 25 is communicated with the air source 28 via the electropneumatic regulator 27 when the electromagnetic solenoid is ON.
  • the supply side valve 13, the first switching valve 17, the second switching valve 26, the electropneumatic regulator 27, and the discharge side shut-off valve 22 are connected to a controller 29 including a microcomputer or the like.
  • the controller 29 constitutes a control means. Then, the electromagnetic solenoids of the first switching valve 17 and the second switching valve 26 are turned ON / OFF by a signal from the controller 29.
  • the supply side valve 13 and the discharge side shut-off valve 22 are individually turned ON / OFF by the controller 29 to control the open / close state thereof. Further, a signal for setting the pressure of the compressed air is sent from the controller 29 to the electropneumatic regulator 27.
  • the first command signal from the controller 29 sets the compressed air of the air source 28 to the pressure set by the electropneumatic regulator 27 , and the compressed air of the set pressure is supplied to the second switching valve 26. ing.
  • the supply side valve 13 is switched to the closed position.
  • the supply pipe 12 is closed at the position of the supply side valve 13.
  • the fifth command signal from the controller 29 is set to the OFF level, and the first switching valve 17 is switched to the closed position.
  • the pressurization to the upper space 15a in the resist bottle 15 is stopped.
  • the supply of the resist solution R is stopped in a state in which the pump chamber of the discharge pump 11 is filled with the resist solution R.
  • the supply and filling of the resist solution R will be described later.
  • the electromagnetic solenoid of the second switching valve 26 is turned ON by the fourth command signal from the controller 29, and the second switching valve 26 is switched to the open position. Then, the compressed air having the set pressure supplied to the second switching valve 26 flows into the working chamber. Thereby, the flexible membrane presses the pump chamber by the pressure in the working chamber, so that the pressure in the working chamber becomes the discharge pressure of the resist solution R filled in the pump chamber as it is.
  • the discharge-side shut-off valve 22 is switched to the open position. .
  • the discharge pipe 21 is opened, and the resist solution R is dropped from the tip nozzle of the discharge pipe 21 based on the pressure in the pump chamber.
  • the third command signal from the controller 29 is turned OFF at the timing t3 when a predetermined dropping time has elapsed.
  • the discharge-side shutoff valve 22 is switched to the closed position. As a result, the discharge pipe 17 is closed, and the dropping operation of the resist solution R is completed.
  • the second command signal and the fifth command signal from the controller 29 are also turned ON.
  • the supply side valve 13 is switched to the open position, and the supply pipe 12 is opened.
  • the fifth command signal is turned ON, the first switching valve 17 is switched to the open position.
  • the compressed air having the set pressure supplied to the first switching valve 17 is supplied to the upper layer space 15 a in the resist bottle 15. Since the upper space 15a is sealed, when compressed air is supplied, the pressure in the upper space 15a becomes the set pressure of the atmospheric pressure compressed air, which pressurizes the resist solution R.
  • the pressure in the upper space 15a becomes the supply pressure of the resist solution R in the supply pipe 12 as it is.
  • This supply pressure is a positive pressure compared to the atmospheric pressure. Since the supply pipe 12 is open, the resist solution R is supplied and filled into the pump chamber of the discharge pump 11 while dust and the like are removed by the filter 14 at this supply pressure. Since the pump chamber is filled with the resist solution R by such pressure and pressure feeding, it is not necessary to provide a chemical solution suction mechanism in the discharge pump 11 itself. Therefore, the discharge pump 11 itself can be downsized.
  • the positive pressure resist chemical R is pressurized and fed into the pump chamber of the discharge pump 11. For this reason, it is not necessary to adopt a configuration in which the flexible film of the discharge pump 11 is driven to the working chamber side by using a spring or the like to perform the suction operation of the resist liquid R as in the prior art. This eliminates the electric motor so that the semiconductor wafer 47 is not damaged by heat, and the discharge pump 11 itself can be further downsized.
  • the installation space of the discharge pump 11 can be made narrower than ever.
  • the discharge pump 11 is disposed in the vicinity of the rotating plate 46 on which the semiconductor wafer 47 is placed.
  • the installation space including the rotating plate 46 is required to have the highest level of cleanliness. The power required to make such a space as small as possible when considering the cost of taring, can greatly contribute to cost reduction in that the installation space described above can be reduced.
  • the downsizing of the discharge pump 11 makes it possible to install the discharge pump 11 closer to the tip nozzle than ever before.
  • the working chamber is evacuated to drive the flexible membrane to the working chamber side to expand the volume of the pump chamber, and the pump itself performs a chemical solution suction operation. It is possible to do this. It is not necessary to incorporate a spring or the like into the discharge pump 11 even with a powerful configuration. However, the construction of evacuating the working chamber is artificially harsh Since it creates a state, various problems may occur, such as the need for a structure that can withstand it. In this regard, according to the present embodiment, when a separate pressurizing and pressure feeding means is provided and the resist solution R is supplied to the discharge pump 11 by this, the spring or the like is not required with a very simple configuration, and the discharge is performed. There is an advantage that the pump 11 can be downsized.
  • the resist solution R in the pump chamber becomes negative pressure. Then, a pressure difference occurs between the front and rear of the filter 14 due to the pressure loss of the filter 14, and bubbles that damage the semiconductor wafer 47 are generated.
  • the resist liquid R having a positive pressure is supplied to the discharge pump 11, it is possible to prevent bubbles from being generated when the resist liquid R passes through the filter 14.
  • the resist solution R is used as the chemical solution.
  • the target for dropping the chemical solution is based on the semiconductor wafer 47. Accordingly, the chemical solution and the target for dropping the chemical solution may be other than that.
  • a pressure sensor is provided between the discharge pump 11 and the discharge side shut-off valve 22, and the discharge pump 1
  • the electropneumatic regulator 27 is operated in accordance with the amount of deviation between the set pressure of compressed air (equivalent to the discharge pressure) and the hydraulic pressure signal of the pressure sensor force based on the first command signal from the controller 29. Compressed air is adjusted so that the pressure becomes the set pressure.
  • the discharge pressure can be easily controlled. It can be carried out.
  • the resist solution R is supplied and filled into the pump chamber of the discharge pump 11 by pressurizing and feeding the upper space 15a of the resist bottle 15, but instead, a motor or the like is used.
  • the resist solution R may be supplied by arranging a pump using this actuator on the supply side. Even with a powerful configuration, the effects of downsizing the discharge pump 11 and preventing foaming can be obtained. However, such a pump has a problem that the time lag until the power discharge pressure is set to the set pressure upon receiving the drive signal is large, and there is a problem that it is difficult to control the pump discharge pressure (supply pressure) to be constant. . With such viewpoint power, it is preferable to supply by pressure and pressure feeding according to the above embodiment.
  • the first switching valve 17 and the pressure control valve 18 are replaced with a manual valve (for manually switching the upper space 15a to the open state), a fixed regulator, and the like.
  • the upper space 15a may be pressurized. In this way, there is an advantage that the control burden can be reduced compared to the case of the above embodiment.

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Abstract

 作動時にポンプからの発熱を防止し、先端ノズルから薬液を滴下させる吐出ポンプの小型化を実現できる薬液供給システムを提供する。  レジストボトル15の上層空間15aに圧縮空気を供給することで吐出ポンプ11のポンプ室内に陽圧とされた薬液を加圧圧送することにより、ポンプ室内にレジスト液Rが充填される。このため、吐出ポンプ11の可撓性膜を作動室側へ駆動してレジスト液Rの吸入動作を行わせるべく、スプリング等を使用するという従来の構成を採用する必要がなくなる。これは、電動機を排除して熱によるダメージを半導体ウェハ47に与える虞がないのは勿論のこと、吐出ポンプ11自体をより一層小型化できる。

Description

明 細 書
薬液供給システム
技術分野
[0001] 本発明は、ポンプによって薬液を吸入した上で吐出し、その吐出された薬液を滴下 させるための薬液供給システムに関する。具体的には、フォトレジスト液等の薬液塗 布工程など半導体製造装置の薬液使用工程において用いるのに好適な薬液供給シ ステムに関する。
背景技術
[0002] 半導体製造装置の薬液使用工程においては、フォトレジスト液等の薬液を半導体 ウェハに所定量ずつ塗布するために、例えば特許文献 1のような薬液供給システム が提案されている。この薬液供給システムでは、ポンプ内の薬液の流路に可撓性チ ユーブが介在され、該可撓性チューブの外側に弾性変形自在のベローズが備えられ ている。ベローズには、内径の異なる小型べローズ部と大型べローズ部とが可撓性チ ユーブの軸方向に並んで設けられており、該べローズと可撓性チューブとの間の空 間には非圧縮性媒体が封入されている。そして、ポンプと一体に組み付けられるモー タァクチユエータにより、小型べローズ部を伸張、かつ大型べローズ部を収縮させ、 非圧縮性媒体を介して可撓性チューブの容積を小さくして、薬液を吐出する。逆に 小型べローズ部を収縮、かつ大型べローズ部を伸張させ、非圧縮性媒体を介して可 橈性チューブの容積を大きくして、薬液を吸入する。
[0003] し力しながら、モータァクチユエータは高価でしかもシステムの構成を複雑ィ匕させて いた。その上、作動時に発生する熱量が大きぐこの熱がポンプにて薬液の供給を受 けるべく該ポンプ近傍に配置される半導体ウェハにダメージを与える虞があった。
[0004] そこで、上記問題を解消する技術が、例えば特許文献 2に開示されて 、る。この薬 液供給システムでは、ポンプに薬液を充填するためのポンプ室と加圧室 (作動室)と を仕切るダイァフラムが用いられて 、る。薬液を吐出させるためにポンプ室の容積を 小さくするには、ポンプの加圧室にレギユレ一タカ エアを加圧供給して、ダイアフラ ムをポンプ室側に変形させる。逆に薬液を吸入させるためにポンプ室の容積を大きく するには、ポンプの加圧室内のエア圧をレギユレータで下げて、ダイアフラムを反ポ ンプ室側に変形させる。この場合、エア圧を単に下げるだけでは、ダイァフラムの反 ポンプ室側への変形量 (作動量)を充分に確保できない。このため、ポンプ内にスプ リングを装備し、該スプリングによってダイアフラムを反ポンプ側に付勢し、ダイアフラ ムを反ポンプ室側に変形させて 、る。
[0005] 当該薬液供給システムでは発熱量の大き!/、モータを使用して 、な 、ため、半導体 ウェハに熱によるダメージを与える虞がなくなった。し力しながら、ダイアフラムを反ポ ンプ室側に変形させるためのスプリングをポンプ内に装備しているため、ポンプの小 型化を図る上で問題となる。
特許文献 1 :特開平 10— 61558号公報
特許文献 2:特開平 11― 343978号公報
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0006] 本発明は、先端ノズル力 薬液を滴下させる吐出ポンプについて、作動時における 発熱を防止するとともに、容積可変部材の反ポンプ室側への作動を行わせる付勢手 段を排除して小型化を実現できる薬液供給システムを提供することを主たる目的とす る。
課題を解決するための手段
[0007] 本発明に係る薬液供給システムを以下のように構成した。すなわち、
薬液が充填されたポンプ室と作動室とを容積可変部材で仕切り、その作動室内へ の作動気体の供給により前記容積可変部材を駆動して前記ポンプ室の容積を縮小 し、力かる容積変化に基づいて前記薬液を吐出する吐出ポンプと、
前記吐出ポンプと先端ノズルとの間に設けられた開閉式の吐出側遮断弁と、 前記作動室に設定圧の前記作動気体を供給する第 1の状態と、前記作動室を大 気開放する第 2の状態とのいずれかに切り換える切換手段と、
薬液を陽圧にして前記吐出ポンプに供給する薬液供給手段と、
前記吐出ポンプと前記薬液供給手段との間に設けられた開閉式の供給側遮断弁と 前記吐出ポンプ力 薬液を吐出する時には前記供給側遮断弁を閉位置に、前記 吐出側遮断弁を開位置に切り換えるとともに、前記切換手段を第 1の状態に切り換え
、前記吐出ポンプに薬液を充填する時には前記供給側遮断弁を開位置に、前記吐 出側遮断弁を閉位置に切り換えるとともに、前記切換手段を第 2の状態に切り換えて 前記薬液供給手段による薬液供給を開始すベぐ前記両遮断弁及び前記切換手段 を制御する制御手段と
を備えた。
[0008] この薬液供給システムの構成では、薬液供給手段により陽圧とされた薬液が吐出 ポンプのポンプ室に供給され、当該ポンプ室内に薬液が充填される。このため、従来 のようにスプリング等を使用して、薬液充填時に吐出ポンプの容積可変部材をポンプ 室の容積が膨張する側へ駆動し薬液吸入動作を行わせる必要がなくなる。この構成 では電動機を利用しないため半導体ウェハ等の薬液の滴下対象に対し熱によるダメ ージを与える虞がな 、のは勿論のこと、薬液を吐出して先端ノズル力 薬液を滴下さ せる吐出ポンプ自体も一層の小型化を実現できる。
[0009] この吐出ポンプの小型化は、次のような点でメリットがある。まず、吐出ポンプの小型 化により、吐出ポンプの設置空間をこれまで以上に狭くすることができる。例えば、半 導体製造装置の場合、薬液の吐出量の精度を向上させるため、吐出ポンプは半導 体ウェハ近傍に配置される。この半導体ウェハを含めた設置空間には最高レベルの クリーン度が要求される。クリーン化のコストを考えるとそのような空間はできるだけ狭 くすることが求められるが、上記構成では前記設置空間を狭くできる点で、コスト削減 に大きく寄与できる。また、吐出ポンプの小型化により、吐出ポンプをこれまで以上に 先端ノズルに近づけて設置できる。これにより、先端ノズルと吐出ポンプとを一対とし た薬液吐出部を複数設置した場合に、各薬液吐出部で吐出ポンプカゝら先端ノズルま での配管長ゃ揚程の違いを小さくできる。このため、各薬液吐出部の制御値を均一 化しやすぐ制御が容易となる。
[0010] また、薬液充填の手段としては、作動室を真空引きすることで容積可変部材を作動 室側へ駆動してポンプ室の容積を膨張させ、ポンプ自身に薬液吸入動作を行わせる ことも考えられる。力かる構成によってもポンプにスプリング等を組み込むことは不要 となる。しかしながら、真空引きは人工的に過酷な状態を作り出すものであるから、そ れに耐えられる構造が必要になる等、各種の問題発生も考えられる。この点、上記構 成によれば、単に薬液供給手段を別に設けてそれにより薬液を吐出ポンプに供給す るという極めて単純な構成によってスプリング等を不要にし、吐出ポンプを小型化で きるというメリットがある。
[0011] さらに、フィルタを吐出ポンプと薬液供給容器との間に設けた場合に、作動室を真 空引き等して薬液吸入動作を行わせると、ポンプ室内の薬液が負圧となる。すると、 フィルタの圧力損失によりフィルタの前後で圧力差が生じ、滴下対象にダメージを与 える気泡が発生してしまう。この点、上記構成によれば、薬液供給手段から陽圧とさ れた薬液が吐出ポンプに供給されるため、薬液がフィルタを通過する際の気泡発生 を防止できる。
[0012] また、上記薬液供給システムの好適な例として、一端が吐出ポンプに接続される薬 液供給配管の他端を薬液供給容器の薬液内に配置し、前記薬液供給手段を、前記 制御手段からの薬液供給指令により、密閉された薬液供給容器内部の薬液上方の 空間に設定圧の加圧気体を供給し薬液を陽圧にして送り出す構成としたものが挙げ られる。
[0013] この構成によれば、制御手段力もの薬液供給開始の指令により、薬液供給容器内 部の薬液上方の空間に設定圧の加圧気体が供給され、これにより薬液供給容器か ら吐出ポンプに薬液が送り出される。このとき、薬液上方の空間内の圧力がそのまま 薬液の供給圧力となる。この供給圧力は大気圧に比べて陽圧となっている。かかる 構成では、薬液上方の空間の圧力は加圧気体の供給とほぼ同時にその設定圧とさ れるため、薬液供給の開始指令に対し応答性よく供給圧力を設定圧とできる。また、 設定圧の加圧気体を薬液上方の空間に供給すれば供給圧力を一定に維持すること ができるから、薬液供給のコントロールが容易となる。さらに、薬液供給システムの非 動作時には制御手段からの薬液供給指令がなされないことから、薬液供給容器の交 換の際に薬液上方の空間が加圧状態力 例えば大気開放状態のような非加圧状態 となるため、不用意に加圧気体が薬液供給容器力も漏れることがない利点もある。
[0014] また、上記薬液供給システムの他の好適な例として、一端が吐出ポンプに接続され る薬液供給配管の他端を薬液供給容器の薬液内に配置し、前記薬液供給手段を、 密閉された薬液供給容器内部の薬液上方の空間に設定圧の加圧気体を常時供給 し薬液を陽圧にして送り出す構成としたものが挙げられる。
[0015] この構成によれば、薬液供給容器内部の薬液上方の空間に設定圧の加圧気体が 常時供給され、これにより薬液供給容器から吐出ポンプに薬液が送り出される。この とき、薬液上方の空間内の圧力がそのまま薬液の供給圧力となる。この供給圧力は 大気圧に比べて陽圧となっている。かかる構成では、薬液上方の空間の圧力は加圧 気体の供給とほぼ同時にその設定圧とされるため、薬液供給の開始指令に対し応答 性よく供給圧力を設定圧とできる。また、設定圧の加圧気体を薬液上方の空間に供 給すれば供給圧力を一定に維持することができるから、薬液供給のコントロールが容 易となる。このように常時加圧気体を薬液供給容器の薬液上方空間に供給するよう にすれば、前述の好適例とは異なり、制御手段による制御負担を低減し得る。但し、 この場合には、手動のバルブなどを接続しておき、薬液供給容器の交換の際に当該 容器内の空間を大気開放できるようにしておくことが好ま 、。
[0016] さらに、前記吐出ポンプと前記薬液供給容器との間にフィルタを設けることが好まし い。
[0017] 前記吐出ポンプと前記薬液供給容器との間にフィルタを設けた場合でも、薬液供 給手段によって陽圧とされた薬液が吐出ポンプに供給されるため、薬液力 Sフィルタを 通過する際の気泡発生を防止できる。しカゝも、手段 4では、薬液供給手段により薬液 供給する際に薬液に混入した塵などを、吐出ポンプに供給する前に除去することが できる。これにより、吐出ポンプ前後の薬液を清浄ィ匕できるし、吐出ポンプの設置空 間をより一層狭くできる。
図面の簡単な説明
[0018] [図 1]薬液供給システムの一実施の形態における全体回路を示す回路説明図である
[図 2]薬液供給システムの一実施の形態における動作シーケンスを示すタイムチヤ一 トである。
符号の説明 [0019] 11· ··吐出ポンプ、 12…薬液供給配管としての供給配管、 13· ··供給側遮断弁とし ての供給側バルブ、 15· ··薬液供給容器としてのレジストボトル 15、 17· ··薬液供給手 段を構成する第 1切換弁、 18· ··薬液供給手段を構成する圧力制御弁、 22· ··吐出側 遮断弁、 26· ··切換手段としての第 2切換弁、 29· ··制御手段としてのコントローラ。 発明を実施するための最良の形態
[0020] 以下、発明を具体ィ匕した一実施の形態を図面に従って説明する。本実施の形態で は、半導体装置等の製造ラインにて使用される薬液供給システムについて具体化し ており、それを図 1の回路図に基づいて説明する。
[0021] この薬液供給システムは薬液を吐出するための吐出ポンプ 11を備えている。吐出 ポンプ 11はその内部構造を図示しないものの、その内部には空間が形成されている
。その内部空間は容積可変部材を構成するダイアフラム等の可撓性膜により、空気 圧が作用する作動室と薬液が満たされるポンプ室とに区画されている。そして、ボン プ室の容積が膨張し薬液を充満した状態で作動室内の空気圧を制御することにより 可撓性膜をポンプ室側に変化させる(ポンプ室の容積を圧縮する)と、ポンプ室から 薬液が吐出される。
[0022] 吐出ポンプ 11の薬液供給側に設けられた図示しない供給ポートには、供給配管 1 2の一端が接続されている。供給配管 12のもう一端は、供給側バルブ 13及びフィル タ 14を介してレジストボトル 15の薬液としてのレジスト液 R内に導かれている。レジスト ボトル 15は薬液供給容器をなす。供給側バルブ 13は開位置と閉位置とに単純に切 り換えられる安価なエアオペレイトバルブであり、供給側遮断弁を構成する。また、前 記フィルタ 14はレジスト液 Rが供給配管 12を通過する際に塵などを除去するもので ある。
[0023] レジストボトル 15内には加圧配管 16の一端が挿入され、その一端はレジスト液 R上 方の空間(上層空間) 15a内に配置されている。このレジストボトル 15内の上層空間 1 5aは密閉された状態とされている。加圧配管 16の他端には 2位置 3ポート型の電磁 切換弁である第 1切換弁 17が接続されて 、る。第 1切換弁 17の残る 2ポートのうち一 方は大気に開放され、もう一方は圧力制御弁 18を介して空気源 19と接続されている 。そして、第 1切換弁 17が備える電磁ソレノイドの OFF時には加圧配管 16内が大気 に開放される。他方、電磁ソレノイドの ON時には加圧配管 16が圧力制御弁 18を介 して空気源 19に連通される。前記空気源 19からはコンプレッサ等によって圧縮され た空気が供給され、その圧縮空気を圧力制御弁 18によって設定された圧力とした上 で当該設定圧の圧縮空気が第 1切換弁 17に供給されている。従って、第 1切換弁 1 7の電磁ソレノイドが ONにされると、レジストボトル 15内の上層空間 15aに圧力制御 弁 18により設定圧とされた圧縮空気が供給される。なお、薬液供給手段は前記第 1 切換弁 17、圧力制御弁 18等により構成されている。
[0024] 吐出ポンプ 11の薬液吐出側に設けられた図示しない吐出ポートには、吐出配管 2 1の一端が接続されている。吐出配管 21のもう一端は先端ノズルとされている。先端 ノズルは、下方に指向されるとともに、回転板 46上に載置された半導体ウェハ 47の 中心位置にレジスト液 Rが滴下されるように配置されている。そして、先端ノズルに至 る吐出配管 21の途中には吐出側遮断弁 22が介在されている。吐出側遮断弁 22は 前述したエアオペレイトバルブである。
[0025] 以上より、レジストボトル 15内のレジスト液 Rは、供給配管 12、吐出ポンプ 11内のポ ンプ室及び吐出配管 21を介して、吐出配管 21の先端ノズルに至る流路に沿って導 かれるようになつている。なお、レジスト液 Rの吐出量の精度を向上させるためには、 吐出配管 21を短くすることが好ましい。従って、吐出ポンプ 11及び吐出側遮断弁 22 は、半導体ウェハ 47を載置する回転板 46の近傍位置に配置されている。
[0026] 前記吐出ポンプ 11には作動室に連通する図示しない給排ポートが設けられ、その 給排ポートにはエア配管 25が接続されている。エア配管 25には 2位置 3ポート型の 電磁切換弁である第 2切換弁 26が接続されている。この第 2切換弁 26は切換手段を 構成している。第 2切換弁 26の残る 2ポートのうち一方は大気に開放され、もう一方は 電空レギユレータ 27を介して空気源 28と接続されている。そして、第 2切換弁 26が 備える電磁ソレノイドの OFF時にはエア配管 25内が大気に開放され、電磁ソレノイド の ON時にはエア配管 25が電空レギユレータ 27を介して空気源 28に連通される。従 つて、第 2切換弁 26の電磁ソレノイドが OFFにされると作動室が大気に開放される。 一方、第 2切換弁 26の電磁ソレノイドが ONにされると、作動室には電空レギユレータ 27によって設定圧とされた圧縮空気が供給される。 [0027] 前記供給側バルブ 13、第 1切換弁 17、第 2切換弁 26、電空レギユレータ 27及び吐 出側遮断弁 22は、マイクロコンピュータ等を備えたコントローラ 29に接続されている。 コントローラ 29によって制御手段が構成されている。そして、第 1切換弁 17及び第 2 切換弁 26はコントローラ 29からの信号によってその電磁ソレノイドが ONZOFFされ る。また、供給側バルブ 13及び吐出側遮断弁 22は、コントローラ 29によって個別に ONZOFFされることにより、その開閉状態が制御される。さらに、電空レギユレータ 2 7にはコントローラ 29から圧縮空気の圧力を設定する信号が送られる。
[0028] 次に、薬液供給システムの動作シーケンスを図 2に示すタイムチャートに基づいて 説明する。
[0029] 図 2において、コントローラ 29からの第 1指令信号によって空気源 28の圧縮空気が 電空レギユレータ 27によって設定された圧力とされ、その設定圧の圧縮空気が第 2 切換弁 26に供給されている。この状態で、先ず tlのタイミングでコントローラ 29から の第 2指令信号力 OFFレベルとされると、供給側バルブ 13が閉位置に切り換えられ る。これにより、供給配管 12が供給側バルブ 13の位置で閉鎖される。それと同時に、 tlのタイミングではコントローラ 29からの第 5指令信号が OFFレベルとされ、第 1切換 弁 17が閉位置に切り換えられる。すると、レジストボトル 15内の上層空間 15aへの加 圧が停止される。これにより、吐出ポンプ 11のポンプ室内にレジスト液 Rが充満され た状態で、レジスト液 Rの供給が停止される。なお、レジスト液 Rの供給、充填につい ては後述する。
[0030] また、 tlのタイミングでは、コントローラ 29からの第 4指令信号により第 2切換弁 26 の電磁ソレノイドが ONとされて第 2切換弁 26が開位置に切り換えられる。すると、第 2 切換弁 26に供給されていた設定圧の圧縮空気が作動室に流入する。これにより、作 動室内の圧力によって可撓性膜はポンプ室を押圧することになるため、作動室の圧 力がそのままポンプ室に充填されているレジスト液 Rの吐出圧力となる。
[0031] 次いで、 tlから保留時間として設定された時間 T1が経過した t2のタイミングでコン トローラ 29からの第 3指令信号力 ONレベルとされると、吐出側遮断弁 22が開位置に 切り換えられる。これにより、吐出配管 21が開放され、ポンプ室内の圧力に基づいて 吐出配管 21の先端ノズルからレジスト液 Rが滴下される。 [0032] t2のタイミングでレジスト液 Rの滴下が開始された後、予め任意に設定された滴下 時間が経過した t3のタイミングでは、コントローラ 29からの第 3指令信号が OFFレべ ルとされ、吐出側遮断弁 22が閉位置に切り換えられる。これにより、吐出配管 17が閉 鎖され、レジスト液 Rの滴下動作が終了する。
[0033] 次いで、 t3から時間 T2が経過した t4のタイミングでコントローラ 29からの第 4指令 信号が OFFレベルとされると、第 2切換弁 26が閉位置に切り換えられる。これ〖こより、 作動室が大気に開放される。なお、時間 T2だけ間隔を設けたのは、滴下動作の終 了とレジスト液 R充填とを同時に行うと、吐出ポンプ 11から吐出圧力が急激に低下す ることに伴って生じる滴下終了時の液切れ不良等の問題を回避するためである。
[0034] t4のタイミングでは、コントローラ 29からの第 2指令信号及び第 5指令信号も ONレ ベルとされる。第 2指令信号が ONレベルとされると、供給側バルブ 13が開位置に切 り換えられ、供給配管 12が開放される。また、第 5指令信号が ONレベルとされると、 第 1切換弁 17が開位置に切り換えられる。すると、第 1切換弁 17に供給されていた 設定圧の圧縮空気がレジストボトル 15内の上層空間 15aに供給される。当該上層空 間 15aは密閉されているため、圧縮空気が供給されることにより、その上層空間 15a 内の圧力が大気圧力 圧縮空気の設定圧となり、それがレジスト液 Rを加圧する。そ して、上層空間 15aの圧力がそのまま供給配管 12内のレジスト液 Rの供給圧力となる 。この供給圧力は大気圧に比べて陽圧となっている。そして、供給配管 12は開放さ れているから、この供給圧力でレジスト液 Rがフィルタ 14により塵などが除去されなが ら、吐出ポンプ 11のポンプ室に供給、充填される。このような加圧圧送によってポン プ室にレジスト液 Rが充填されるため、吐出ポンプ 11自身に薬液吸入機構を設ける 必要がない。したがって、吐出ポンプ 11それ自体の小型化を実現できる。
[0035] その後、 t5のタイミングでは、コントローラ 29からの第 5指令信号が OFFレベルとさ れ、第 1切換弁 17が閉位置に切り換えられ、レジスト液 Rの供給、充填が停止される 。また、 t5のタイミングでは、先に説明した tlの場合と同様の動作が実行され、以降 それらの動作 (tl〜t4の動作)力繰り返されることになる。
[0036] ここで、吐出ポンプ 11のポンプ室にレジスト液 Rが加圧圧送されて供給、充填され る場合の供給圧力の設定について簡単に説明する。この供給圧力は前述した通り、 圧力制御弁 18によって設定される圧縮空気の圧力設定を反映する。一般に、吐出 ポンプ 11はレジストボトル 15の設置位置よりも高い位置に設置される。その場合には 、供給圧力の設定には揚程 h (図 1参照)を考慮する必要がある。また、供給配管 12 の途中に介在するフィルタ 14を通過する際の抵抗、吐出ポンプ 11の種類によっては 可撓性膜を作動室側へ変形させる力を考慮する必要がある。これらを考慮して供給 圧力が設定される。
[0037] 以上詳述した本実施の形態によれば、以下の優れた効果が得られる。
[0038] レジストボトル 15の上層空間 15aに圧縮空気を供給することで、吐出ポンプ 11のポ ンプ室内に陽圧とされたレジスト薬 Rが加圧圧送され充填される。このため、従来のよ うに、スプリング等を使用して吐出ポンプ 11の可撓性膜を作動室側へ駆動してレジス ト液 Rの吸入動作を行わせるという構成を採用する必要がなくなる。これは、電動機を 排除して熱によるダメージを半導体ウェハ 47に与える虡がないのは勿論のこと、吐出 ポンプ 11自体をより一層小型化できる。
[0039] この吐出ポンプ 11の小型化により、吐出ポンプ 11の設置空間をこれまで以上に狭 くできる。半導体製造装置の場合、前述した通り、レジスト液 Rの吐出量の精度向上さ せるため、半導体ウエノ、 47を載置する回転板 46の近傍に吐出ポンプ 11が配置され る。この回転板 46を含めた設置空間には最高レベルのクリーン度が要求される。タリ ーン化のコストを考えるとそのような空間はできるだけ狭くすることが求められる力 前 述の設置空間を狭くできる点で、コスト削減に大きく寄与できる。また、吐出ポンプ 11 の小型化により、吐出ポンプ 11をこれまで以上に先端ノズルに近づけて設置できるよ うになる。これにより、先端ノズルと吐出ポンプ 11とを一対とした薬液吐出部を複数設 置した場合に、各薬液吐出部で吐出ポンプ 11から先端ノズルまでの配管長ゃ揚程 の違いを小さくできる。このため、各薬液吐出部の制御値を均一化しやすぐレジスト 液 R滴下の制御が容易となる。
[0040] また、レジスト液 R充填の手段としては、作動室を真空引きすることで可撓性膜を作 動室側へ駆動してポンプ室の容積を膨張させ、ポンプ自身に薬液吸入動作を行わ せることも考えられる。力かる構成によっても吐出ポンプ 11にスプリング等を組み込む ことは不要となる。し力しながら、作動室を真空引きするという構成は人工的に過酷な 状態を作り出すものであるから、それに耐えられる構造が必要になる等、各種の問題 発生も考えられる。この点、本実施の形態によれば、単に加圧圧送の手段を別に設 けてそれによりレジスト液 Rを吐出ポンプ 11に供給すると 、う極めて単純な構成によ つてスプリング等を不要にし、吐出ポンプ 11を小型化できるというメリットがある。
[0041] さらに、作動室を真空引き等してレジスト液 Rの吸入動作を行わせると、ポンプ室内 のレジスト液 Rが負圧となる。すると、フィルタ 14の圧力損失によりフィルタ 14の前後 で圧力差が生じ、半導体ウェハ 47にダメージを与える気泡が発生してしまう。この点 、本実施の形態によれば、陽圧とされたレジスト液 Rが吐出ポンプ 11に供給されるた め、レジスト液 Rがフィルタ 14を通過する際に気泡が発生することを防止できる。
[0042] また、コントローラ 29からの第 5指令信号が ONレベルとされると、レジストボトル 15 の上層空間 15aに設定圧の圧縮空気が供給され、これにより吐出ポンプ 11にレジス ト液 Rが送り出される。このとき、上層空間 15a内の圧力がそのままレジスト液 Rの供 給圧力となる。この供給圧力は大気圧に比べて陽圧となっている。かかる構成では、 上層空間 15aの圧力は圧縮空気の供給とほぼ同時にその設定圧とされるため、指令 信号に対し応答性よく供給圧力を設定圧とできる。また、設定圧の圧縮空気を上層 空間 15aに供給すれば供給圧力を一定に維持することができるから、レジスト液 R供 給のコントロールが容易となる。
[0043] なお、本発明は上記実施の形態の記載内容に限定されず、例えば次のように実施 しても良い。
[0044] すなわち、上記実施の形態では、作動室へ供給される圧縮性媒体として空気を例 に挙げて説明した力 空気以外にも窒素等の他の気体を用いることが可能である。
[0045] また、薬液としてレジスト液 Rを用いた例を示したが、これは薬液の滴下対象が半導 体ウェハ 47を前提としたためである。従って、薬液及び当該薬液の滴下対象はそれ 以外のものでもよい。
[0046] また、吐出ポンプ 11のポンプ室と作動室とを可撓性膜で区画した例を示した力 他 にべローズを用いて区画したポンプを採用してもよ 、。
[0047] また、吐出ポンプ 11と吐出側遮断弁 22との間に圧力センサを設けて吐出ポンプ 1
1から吐出されるレジスト液 Rの液圧を検知し、その圧力センサからの信号を電空レギ ユレータ 27にフィードバックして圧縮空気の設定圧力を調整するようにしてもょ 、。こ の場合、電空レギユレータ 27は、コントローラ 29からの第 1指令信号に基づく圧縮空 気の設定圧力(吐出圧力と同等)と圧力センサ力 の液圧信号の偏差量にしたがつ て作動室内の圧力が設定圧力となるよう圧縮空気を調圧する。これにより、圧縮空気 を設定圧力(吐出圧力と同等)に調整するために、作動室の圧力変化に伴って駆動 する可撓性膜の張力を考慮する必要がなくなり、吐出圧力の制御を容易に行うことが できる。
[0048] また、上記実施の形態では、レジストボトル 15の上層空間 15aを加圧する加圧圧送 によって、吐出ポンプ 11のポンプ室にレジスト液 Rを供給、充填するが、これに代え て、モータ等のァクチユエータを利用したポンプを供給側に配置してレジスト液 Rを供 給してもよい。力かる構成によっても吐出ポンプ 11の小型化、発泡防止という効果は 得られる。もっとも、かかるポンプは、駆動信号を受けて力 吐出圧力を設定圧力とす るまでのタイムラグが大きぐまた、ポンプの吐出圧力(供給圧力)を一定に維持する ためのコントロールが困難という問題もある。このような観点力もすれば、上記実施の 形態の加圧圧送による供給が好ま 、と 、える。
[0049] また、第 1切換弁 17及び圧力制御弁 18を、手動バルブ(手動で上層空間 15aを大 気開放状態に切り換えるためのもの)及び固定レギユレータ等に置換した構成とし、 常時レジストボトル 15の上層空間 15aを加圧してもよい。このようにすれば、上記実 施の形態の場合に比べて制御負担を低減できる利点がある。

Claims

請求の範囲
[1] 薬液が充填されたポンプ室と作動室とを容積可変部材で仕切り、その作動室内へ の作動気体の供給により前記容積可変部材を駆動して前記ポンプ室の容積を縮小 し、力かる容積変化に基づいて前記薬液を吐出する吐出ポンプと、
前記吐出ポンプと先端ノズルとの間に設けられた開閉式の吐出側遮断弁と、 前記作動室に設定圧の前記作動気体を供給する第 1の状態と、前記作動室を大 気開放する第 2の状態とのいずれかに切り換える切換手段と、
薬液を陽圧にして前記吐出ポンプに供給する薬液供給手段と、
前記吐出ポンプと前記薬液供給手段との間に設けられた開閉式の供給側遮断弁と 前記吐出ポンプ力 薬液を吐出する時には前記供給側遮断弁を閉位置に、前記 吐出側遮断弁を開位置に切り換えるとともに、前記切換手段を第 1の状態に切り換え 、前記吐出ポンプに薬液を充填する時には前記供給側遮断弁を開位置に、前記吐 出側遮断弁を閉位置に切り換えるとともに、前記切換手段を第 2の状態に切り換えて 前記薬液供給手段による薬液供給を開始すベぐ前記両遮断弁及び前記切換手段 を制御する制御手段と
を備えたことを特徴とする薬液供給システム。
[2] 一端が吐出ポンプに接続される薬液供給配管の他端を薬液供給容器の薬液内に 配置し、前記薬液供給手段を、前記制御手段力 の薬液供給指令により、密閉され た薬液供給容器内部の薬液上方の空間に設定圧の加圧気体を供給し薬液を陽圧 にして送り出す構成としたことを特徴とする請求項 1に記載の薬液供給システム。
[3] 一端が吐出ポンプに接続される薬液供給配管の他端を薬液供給容器の薬液内に 配置し、前記薬液供給手段を、密閉された薬液供給容器内部の薬液上方の空間に 設定圧の加圧気体を常時供給し薬液を陽圧にして送り出す構成としたことを特徴と する請求項 1に記載の薬液供給システム。
[4] 前記吐出ポンプと前記薬液供給容器との間にフィルタを設けたことを特徴とする請 求項 1乃至 3のいずれかに記載の薬液供給システム。
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