TWI694456B - 反及閘型快閃記憶體控制系統及其方法 - Google Patents
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Abstract
一種反及閘型快閃記憶體控制方法包含:利用一溫度偵測單元,每隔固定時間間距偵測記憶體溫度;利用主控單元,接收記憶體溫度,藉以運算出溫度差值,並在溫度差值大於差距門檻值且目前溫度處於異溫狀態時,產生資料傳送信號;利用控制單元,自來源區塊讀取並傳送出來源資料;利用資料緩衝單元,接收並儲存來源資料;利用錯誤修正計算單元,接收原始錯誤修正代碼與原始位元錯誤率,據以重新計算出更新錯誤修正代碼;利用控制單元,利用更新錯誤修正代碼將來源資料自記憶體緩衝單元寫入至目的區塊。藉以因應因為溫度而提升修正需求。
Description
本發明係有關於一種系統及方法,尤其是指一種反及閘型快閃記憶體控制系統及其方法。
一般來說,記憶體分為揮發性(Volatile)記憶體與非揮發性(Non-volatile)記憶體。其中,非揮發性記憶體又包含唯讀記憶體(Read Only Memory;ROM)與快閃記憶體(Flash)
快閃記憶體又可區分為反或閘型快閃記憶體(NOR Flash)與反及閘型快閃記憶體(NAND Flash)。反或閘型快閃記憶體相較於反及閘型快閃記憶體,更早被應用,讀取的速度也較快,但是寫入的速度較慢,價格也較為昂貴。反及閘型快閃記憶體則是因為寫入速度快,價格較低,故目前的應用較為廣泛,例如:USB硬碟和手機儲存空間。
然而,反及閘型快閃記憶體在搬移資料的過程中,會因為未重新計算錯誤修正代碼(Error
correcting code;ECC)就將資料再次寫入反及閘型快閃記憶體中,導致錯誤的資料位元數持續累積。當錯誤的資料位元數累積過多時,會造成錯誤修正代碼無法修復該資料而導致資料錯誤。上述造成資料錯誤的情形在寬溫(-20℃至70℃)狀態下的高溫區(高於40℃)與低溫區(低於-10℃)更容易發生,因此,先前技術中的反及閘型快閃記憶體具有改善的空間。
有鑒於在先前技術中,反及閘型快閃記憶體在寬溫的狀態下容易發生資料錯誤的情形及其衍伸出的種種問題。本發明之一主要目的係提供一種反及閘型快閃記憶體控制系統及其方法,用以解決先前技術中的至少一個問題。
本發明為解決先前技術之問題,所採用之必要技術手段為提供一種反及閘型快閃記憶體控制系統,包含一反及閘型快閃記憶體模組與一主控模組。反及閘型快閃記憶體模組包含一溫度偵測單元、一來源區塊、一控制單元、一記憶體緩衝單元與一目的區塊。主控模組通信連結反及閘型快閃記憶體模組,並包含一主控單元、一資料緩衝單元與一錯誤修正計算單元。
溫度偵測單元用以在每隔一固定時間間距偵測一記憶體溫度。來源區塊儲存有一具有一原始錯誤修正代碼之來源資料。控制單元通信連接來源區塊,用以在接收到一資料傳送信號時,自來源區塊讀取並傳
送出來源資料,且每次讀取來源資料時係增加來源資料之一原始位元錯誤率。記憶體緩衝單元通信連結控制單元與來源區塊,用以接收一更新錯誤修正代碼與來源資料。目的區塊通信連結記憶體緩衝單元。
主控單元用以擷取所有上述之記憶體溫度,定義目前擷取到之記憶體溫度為一目前溫度,定義前次擷取到之記憶體溫度為一前次溫度,藉以運算出一溫度差值,在溫度差值大於一差距門檻值且目前溫度處於一異溫狀態時,產生上述資料傳送信號,並將資料傳送信號傳送至控制單元。資料緩衝單元接收並儲存來源資料。錯誤修正計算單元通信連接資料緩衝單元,用以接收原始錯誤修正代碼與原始位元錯誤率,據以重新計算出更新錯誤修正代碼。其中,異溫狀態係指溫度大於等於40℃或小於等於-10℃,且控制單元利用更新錯誤修正代碼將來源資料自記憶體緩衝單元寫入至目的區塊。
在上述必要技術手段的基礎下,本發明所衍生之一附屬技術手段為使反及閘型快閃記憶體控制系統中之主控模組,更包含一計時單元,且計時單元係用以計算固定時間間距,並在計算完固定時間間距時產生一驅動信號,藉以使主控單元接收到驅動信號後,要求溫度偵測單元傳送出目前溫度。
本發明為解決先前技術之問題,所採用之必要技術手段為另外提供一種反及閘型快閃記憶體控制方法,並包含:(a)利用溫度偵測單元,在每隔固定時間間距偵測記憶體溫度,並將目前偵測到之記憶體溫度定
義為目前溫度,且將前次偵測到之記憶體溫度定義為前次溫度,利用來源區塊,儲存具有原始錯誤修正代碼之來源資料;(b)利用主控單元,接收目前溫度與前次溫度,藉以運算出溫度差值,並在溫度差值大於差距門檻值時,進一步判斷目前溫度是否處於異溫狀態,且在判斷結果為是時產生資料傳送信號;(c)利用控制單元,自來源區塊讀取並傳送出來源資料;(d)利用資料緩衝單元,接收並儲存來源資料;(e)利用錯誤修正計算單元,接收原始錯誤修正代碼與原始位元錯誤率,據以重新計算出更新錯誤修正代碼;(f)利用記憶體緩衝單元接收更新錯誤修正代碼與來源資料;以及,(g)利用控制單元,利用更新錯誤修正代碼將來源資料自記憶體緩衝單元寫入至目的區塊。
在上述必要技術手段的基礎下,本發明所衍生之一附屬技術手段為使反及閘型快閃記憶體控制方法,更利用一計時單元,並在步驟(a)之前更包含:(h)利用計時單元,計算固定時間間距。
在上述必要技術手段的基礎下,本發明所衍生之一附屬技術手段為使反及閘型快閃記憶體控制方法,並在步驟(b)判斷為否時,更包含;(i)利用控制單元,自來源區塊讀取並傳送出來源資料;(j)利用記憶體緩衝單元,接收並儲存來源資料;以及,(k)利用該控制單元,將該來源資料自記憶體緩衝單元直接寫入該目的區塊。
承上所述,本發明所提供之反及閘型快閃
記憶體控制系統及其方法,利用溫度偵測單元偵測記憶體溫度,並利用主控單元判斷溫度差值是否大於差距門檻值以及目前溫度是否處於異溫狀態,藉以在反及閘型快閃記憶體模組處於容易發生資料錯誤的情況下,利用資料緩衝單元與錯誤修正計算單元重新計算出更新錯誤修正代碼,使得控制單元可以依據更新錯誤修正代碼,將來源資料自記憶體緩衝單元寫入至目的區塊,進而降低原始位元錯誤率。
100‧‧‧反及閘型快閃記憶體控制系統
1‧‧‧反及閘型快閃記憶體模組
11‧‧‧溫度偵測單元
12‧‧‧控制單元
13‧‧‧記憶體緩衝單元
14‧‧‧來源區塊
15‧‧‧目的區塊
2‧‧‧主控模組
21‧‧‧主控單元
22‧‧‧資料緩衝單元
23‧‧‧錯誤修正計算單元
24‧‧‧計時單元
第一圖係顯示本發明較佳實施例所提供之反及閘型快閃記憶體控制系統之方塊圖;以及
第二A圖與第二B圖係顯示本發明較佳實施例所提供之反及閘型快閃記憶體控制方法。
下面將結合示意圖對本發明的具體實施方式進行更詳細的描述。根據下列描述和申請專利範圍,本發明的優點和特徵將更清楚。需說明的是,圖式均採用非常簡化的形式且均使用非精準的比例,僅用以方便、明晰地輔助說明本發明實施例的目的。
請參閱第一圖至第二B圖,其中,第一圖係顯示本發明較佳實施例所提供之反及閘型快閃記憶體控制系統之方塊圖;以及,第二A圖與第二B圖係顯示本
發明較佳實施例所提供之反及閘型快閃記憶體控制方法。如圖所示,一種反及閘型快閃記憶體控制系統100包含一反及閘型快閃記憶體模組1與一主控模組2。
反及閘型快閃記憶體模組1包含一溫度偵測單元11、一控制單元12、一記憶體緩衝單元13、一來源區塊14與一目的區塊15。
主控模組2包含一主控單元21、一資料緩衝單元22與一錯誤修正計算單元23。在本實施例中,主控模組2更包含一計時單元24。
溫度偵測單元11偵測反及閘型快閃記憶體模組1的一記憶體溫度。計時單元24計算一固定時間間距,並在每次計算完固定時間時產生一驅動信號,固定時間間距可為5秒、10秒、30秒等。主控單元21接收到驅動信號後,便會自溫度偵測單元11擷取記憶體溫度。因此,主控單元21會擷取所有的記憶體溫度。在本實施例中,溫度偵測單元11在每次偵測記憶體溫度時,會將本次偵測到的記憶體溫度定義為目前溫度,同時將前次偵測到的記憶體溫度定義為前次溫度。主控單元21則是每隔固定時間間距便會同時擷取目前溫度與前次溫度。
主控單元21會將目前擷取到的記憶體溫度定義為目前溫度,將前次擷取到的記憶體溫度定義為前次溫度。接著,主控單元21會利用目前溫度與前次溫度計算出一溫度差值,並在溫度差值大於一差距門檻值時產生一資料傳送信號。在本實施例中,差距門檻值為20,但不以此為限。實務上,主控單元21會將前次溫度
減掉目前溫度並加上絕對值,而計算出溫度差值。
較佳者,主控單元21在判斷出溫度差值大於差距門檻值時,會進一步判斷目前溫度是否大於等於40℃或是小於等於-10℃。主控單元21在判斷出目前溫度大於等於40℃或小於等於-10℃時,也就是目前溫度處於異溫狀態時,才會產生資料傳送信號。因為,在先前技術中,記憶體溫度處於過高或過低的情況下,才比較容易發生資料錯誤的情形。
控制單元12接收到資料傳送信號後,會自來源區塊14讀取並傳送出一來源資料,其中,來源資料在被儲存至來源區塊14時會具有一原始錯誤修正碼,控制單元12在每次讀取來源資料時都會增加來源資料的一原始位元錯誤率,其中,原始位元錯誤率越高,表示錯誤的位元數越多。控制單元12會將來源資料傳送至記憶體緩衝單元13。
資料緩衝單元22會自記憶體緩衝單元13接收並儲存來源資料。錯誤修正計算單元23會接收原始錯誤修正代碼與原始位元錯誤率,並據以重新計算出一更新錯誤修正代碼。錯誤修正計算單元23重新計算出更新錯誤修正代碼,可以避免錯誤的資料位元數持續累積以及累積過多所衍生出的問題。
更詳細的說明,來源資料經由原始錯誤修正碼修正之後,可以獲得正確的來源資料。但是,當目前溫度處於異溫狀態時,原始位元錯誤率會因此提高,造成錯誤的位元數增加。此時,原始錯誤修正碼已無法
修正所有的錯誤的位元數,導致無法獲得正確的來源資料。因此,錯誤修正計算單元23便會重新計算出更新錯誤修正代碼,以因應因為溫度而提升的原始位元錯誤率,及其所造成的異常數量的錯誤的位元數。
接著,記憶體緩衝單元13會接收更新錯誤修正代碼與來源資料。最後,控制單元12會利用更新錯誤修正代碼,將來源資料自記憶體緩衝單元13寫入目的區塊15,藉以降低來源資料的原始位元錯誤率。當來源資料的原始位元錯誤率被降低後,資料錯誤的情形也會降低。
本發明較佳實施例所提供之反及閘型快閃記憶體控制方法利用如第一圖所示之反及閘型快閃記憶體控制系統100加以實施,並包含以下步驟S101至步驟S109。需說明的是,因圖式大小的限制,故將流程圖分成兩張圖式表示,其中,第二A圖中的圈A是接續至第二B圖中的圈A,第二A圖中的圈B則是接續至第二B圖中的圈B。
步驟S101:利用計時單元,計算該固定時間間距。
計時單元是利用如第一圖中之計時單元24。
步驟S102:利用溫度偵測單元,在每隔固定時間間距偵測記憶體溫度,並將目前偵測到之記憶體溫度定義為目前溫度,且將前次偵測到之記憶體溫度定義為前次溫度,利用來源區塊,儲存具有原始錯誤修正
代碼之來源資料。
溫度偵測單元與來源區塊是利用如第一圖中之溫度偵測單元11與來源區塊14。
步驟S103:利用主控單元,接收目前溫度與前次溫度,藉以運算出溫度差值,並判斷溫度差值是否大於差距門檻值時。
主控單元是利用如第一圖中之主控單元21。步驟S103中的判斷結果為是時,則進入步驟S104;判斷結果為否時,則重複進行步驟S103,直到判斷結果為是。
步驟S104:利用主控單元,判斷目前溫度是否處於異溫狀態。
主控單元21會進一步判斷目前溫度是否處於異溫狀態,並在判斷結果為是時,表示目前處於容易發生資料錯誤的情況下,進入步驟S105;若判斷結果為否時,則進入步驟S205。異溫狀態是指溫度大於等於40℃或小於等於-10℃。
步驟S105:利用控制單元,自來源區塊讀取並傳送出該來源資料。
控制單元是利用如第一圖中之控制單元12。
步驟S106:利用資料緩衝單元,接收並儲存來源資料。
資料緩衝單元是利用如第一圖中之資料緩衝單元22。
步驟S107:利用錯誤修正計算單元,接收原始錯誤修正代碼與原始位元錯誤率,據以重新計算出更新錯誤修正代碼。
錯誤修正計算單元是利用如第一圖中之錯誤修正計算單元23,並重新計算出更新錯誤修正代碼,藉以避免錯誤的資料位元數持續累積,以及累積過多所衍生出的種種問題。
步驟S108:利用記憶體緩衝單元接收更新錯誤修正代碼與來源資料。
記憶體緩衝單元是利用如第一圖中之記憶體緩衝單元13。
步驟S109:利用控制單元,利用更新錯誤修正代碼將來源資料自記憶體緩衝單元寫入至目的區塊。
目的區塊是利用如第一圖中之目的區塊15。最後,控制單元12會利用更新錯誤修正代碼,將來源資料自記憶體緩衝單元13寫入至目的區塊15。更新錯誤修正代碼可以因應因為溫度而提升的原始位元錯誤率,及其所造成的異常數量的錯誤的位元數。因此,在原始位元錯誤率因為溫度而提升造成錯誤的位元數增加時,本發明仍可以利用更新錯誤修正代碼而修正所有錯誤的位元數,進而讀取到正確的來源資料。
在步驟S104中,判斷結果為否時,表示目前溫度並不處於異溫狀態,因此,便進入步驟S205至S207。
步驟S205:利用控制單元,自來源區塊讀取並傳送出來源資料。
步驟S206:利用記憶體緩衝單元,接收並儲存來源資料。
步驟S207:利用控制單元,將來源資料自記憶體緩衝單元寫入至目的區塊。
因為目前溫度並不處於異溫狀態,表示發生資料錯誤的機率並不高。因此,記憶體緩衝單元13儲存來源資料後,控制單元12便會將記憶體緩衝單元13中所儲存的來源資料直接寫入至目的區塊15,而不會再傳送至資料緩衝單元22。
綜上所述,本發明較佳實施例所提供之反及閘型快閃記憶體控制系統及其方法,利用溫度偵測單元偵測記憶體溫度,利用主控單元依據記憶體溫度進一步判斷溫度差值是否大於差距門檻值與記憶體溫度是否位於特定範圍內。當溫度差值大於差距門檻值且記憶體溫度位於特定範圍內,表示反及閘型快閃記憶體模組處於容易發生資料錯誤的情況。此時,來源資料便會被傳送至資料緩衝單元,並利用錯誤修正計算單元重新計算出更新錯誤修正代碼。最後,利用控制單元利用更新錯誤修正代碼將來源資料自記憶體緩衝單元寫入至目的區塊,藉以修正所有因為溫度所新增的錯誤的位元數。
相較於先前技術,本發明在容易發生錯誤的情況下的讀取來源資料的速度與寫入來源資料的速度會稍慢,但是,本發明可以有效降低來源資料發生資料
錯誤的機率。來源資料一旦發生資料錯誤,讀取來源資料或寫入來源資料的速度再快都沒有任何幫助。因此,在容易發生資料錯誤的情況下,本發明稍微捨棄讀取來源資料或寫入來源資料的速度,卻可以有效降低發生資料錯誤的機率,藉以確保來源資料不會發生資料錯誤。
藉由以上較佳具體實施例之詳述,係希望能更加清楚描述本發明之特徵與精神,而並非以上述所揭露的較佳具體實施例來對本發明之範疇加以限制。相反地,其目的是希望能涵蓋各種改變及具相等性的安排於本發明所欲申請之專利範圍的範疇內。
100‧‧‧反及閘型快閃記憶體控制系統
1‧‧‧反及閘型快閃記憶體模組
11‧‧‧溫度偵測單元
12‧‧‧控制單元
13‧‧‧記憶體緩衝單元
14‧‧‧來源區塊
15‧‧‧目的區塊
2‧‧‧主控模組
21‧‧‧主控單元
22‧‧‧資料緩衝單元
23‧‧‧錯誤修正計算單元
24‧‧‧計時單元
Claims (5)
- 一種反及閘型快閃記憶體控制系統,包含:一反及閘型快閃記憶體模組,包含:一溫度偵測單元,係用以在每隔一固定時間間距偵測一記憶體溫度;一來源區塊,係儲存有一具有一原始錯誤修正代碼之來源資料;一控制單元,係通信連接該來源區塊,用以在接收到一資料傳送信號時,自該來源區塊讀取並傳送出該來源資料,且每次讀取該來源資料時係增加該來源資料之一原始位元錯誤率;一記憶體緩衝單元,係通信連結該控制單元與該來源區塊,用以接收一更新錯誤修正代碼與該來源資料;以及一目的區塊,係通信連結該記憶體緩衝單元;以及 一主控模組,係通信連結該反及閘型快閃記憶體模組,並包含:一主控單元,係用以擷取所有上述之記憶體溫度,定義目前擷取到之該記憶體溫度為一目前溫度,定義前次擷取到之該記憶體溫度為一前次溫度,藉以運算出一溫度差值,在判斷出該溫度差值大於一差距門檻值且該目前溫度處於一異溫狀態時,產生該資料傳送信號,並將該資料傳送信號傳送至該控制單元;一資料緩衝單元,係接收並儲存該來源資料;以及 一錯誤修正計算單元,係通信連接該資料緩衝單元,用以接收該原始錯誤修正代碼與該原始位元錯誤率,據以重新計算出該更新錯誤修正代碼;其中,該異溫狀態係指溫度大於等於40℃或小於等於-10℃,且該控制單元係利用該更新錯誤修正代碼將該來源資料自該記憶體緩衝單元寫入至該目的區塊。
- 如申請專利範圍第1項所述之反及閘型快閃記憶體控制系統,其中,該主控模組更包含一計時單元,且該計時單元係用以計算該固定時間間距,並在計算完該固定時間間距時產生一驅動信號,藉以使該主控單元接收到該驅動信號後,擷取該溫度偵測單元之該記憶體溫度。
- 一種反及閘型快閃記憶體控制方法,係利用如申請專利範圍第1項所述之反及閘型快閃記憶體控制系統加以實施,並包含:(a)利用該溫度偵測單元,在每隔該固定時間間距偵測該記憶體溫度,並將目前偵測到之該記憶體溫度定義為該目前溫度,且將前次偵測到之該記憶體溫度定義為該前次溫度,利用該來源區塊,儲存該具有該原始錯誤修正代碼之來源資料;(b)利用該主控單元,接收該目前溫度與該前次溫度,藉以運算出該溫度差值,並在該溫度差值大於該差 距門檻值時,進一步判斷該目前溫度是否處於該異溫狀態,且在判斷結果為是時產生該資料傳送信號;(c)利用該控制單元,自該來源區塊讀取並傳送出該來源資料;(d)利用該資料緩衝單元,接收並儲存該來源資料;(e)利用該錯誤修正計算單元,接收該原始錯誤修正代碼與該原始位元錯誤率,據以重新計算出該更新錯誤修正代碼;(f)利用該記憶體緩衝單元接收該更新錯誤修正代碼與該來源資料;以及(g)利用該控制單元,利用該更新錯誤修正代碼將該來源資料自該記憶體緩衝單元寫入至該目的區塊。
- 如申請專利範圍第3項所述之反及閘型快閃記憶體控制方法,更利用一計時單元,並在該步驟(a)之前更包含:(h)利用該計時單元,計算該固定時間間距。
- 如申請專利範圍第3項所述之反及閘型快閃記憶體控制方法,並在該步驟(b)判斷為否時,更包含:(i)利用該控制單元,自該來源區塊讀取並傳送出該來源資料;(j)利用該記憶體緩衝單元,接收並儲存該來源資料;以及(k)利用該控制單元,將該來源資料自記憶體緩衝單元直接寫入該目的區塊。
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TW108144050A TWI694456B (zh) | 2019-12-03 | 2019-12-03 | 反及閘型快閃記憶體控制系統及其方法 |
US16/774,622 US10885948B1 (en) | 2019-12-03 | 2020-01-28 | NAND flash controlling system and method thereof |
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TW108144050A TWI694456B (zh) | 2019-12-03 | 2019-12-03 | 反及閘型快閃記憶體控制系統及其方法 |
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TW202123226A TW202123226A (zh) | 2021-06-16 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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TW108144050A TWI694456B (zh) | 2019-12-03 | 2019-12-03 | 反及閘型快閃記憶體控制系統及其方法 |
Country Status (2)
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