TWI671536B - 電子元件校正單元及其應用之作業分類機 - Google Patents
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Abstract
一種電子元件校正單元，其係於載具上配置具驅動源及掣動具之驅動機構，該掣動具係設有第一、二導移部件，並承置第一校正具及第二校正具，該第一校正具係承置電子元件，並具有校正電子元件之第一校正部件，以及由第一導移部件帶動位移之第一承導部件，該第二校正具係設有相對第一校正部件且校正電子元件之第二校正部件，以及由第二導移部件帶動位移之第二承導部件，利用驅動機構之掣動具帶動第一校正具及第二校正具作相對位移而推移校正電子元件，達到精準校正電子元件之實用效益。
Description
本發明係提供一種可精準校正電子元件之校正單元。
在現今，電子元件日趨精密輕巧，自動化作業設備係以移料器將電子元件移載至各裝置之承置器，該承置器可為料盤、預溫盤或載台等，若電子元件偏移擺置於承置器內，當移料器將偏置之電子元件移入下一製程之測試座時，由於該偏置之電子元件的中心位置無法對位測試座之中心位置，不僅影響電子元件移入測試座之準確性，更將影響測試品質，故業者係於機台上設有一校正機構，用以校正電子元件之中心位置，以期提升移料器之取放料精準性。
請參閱第1圖，該校正機構係於一台板11上固設一呈L型之基準件12，並於基準件12之對角處設有一由壓缸13驅動位移之夾持件14，當移料器21將電子元件22移入基準件12與夾持件14之間，且置放於台板11上時，該壓缸13即驅動夾持件14相對基準件12作位移，令夾持件14推移電子元件22，使電子元件22之一角部靠抵於基準件12而定位，進而校正電子元件22之中心位置A，使電子元件22之中心位置A相對於移料器21之中心位置，再供移料器21取出已校正之電子元件22，並移載至下一製程之測試座(圖未示出)而執行測試作業；惟，由於不同型式之電子元件具有不同尺寸，當移料器21將另一批次大尺寸之電子元件23移入校正機構時，該夾持件14雖可推移電子元件23靠抵於基準件12而定位，但大尺寸之電子元件23的中心位置B已改變，當移料器2
1位移至預設取料位置時，移料器21之中心位置並無法對位於大尺寸電子元件23之中心位置B，導致移料器21取出偏置之電子元件23，進而降低校正使用效能。
本發明之目的一，係提供一種電子元件校正單元，其係於載具上配置具驅動源及掣動具之驅動機構，該掣動具係設有第一、二導移部件，並承置第一校正具及第二校正具，該第一校正具係承置電子元件，並具有校正電子元件之第一校正部件，以及由第一導移部件帶動位移之第一承導部件，該第二校正具係設有相對第一校正部件且校正電子元件之第二校正部件，以及由第二導移部件帶動位移之第二承導部件，利用驅動機構之掣動具帶動第一校正具及第二校正具作相對位移而推移校正電子元件，達到精準校正電子元件之實用效益。
本發明之目的二，係提供一種電子元件校正單元，其更包含檢知機構，該檢知機構係於該第一校正具設有至少一相通第一校正部件之第一通槽，以及於該第二校正具設有至少一相通第二校正部件之第二通槽，另於載具上設置至少一感測器，藉以利用第一、二校正具之第一、二通槽形成的檢知通道，而供感測器檢知第一校正具上是否殘留電子元件，以有效避免疊料或壓損電子元件，達到提升使用效能之實用效益。
本發明之目的三，係提供一種應用電子元件校正單元之作業分類機，其包含機台、供料裝置、收料裝置、作業裝置、輸送裝置、校正單元及中央控制裝置，該供料裝置係配置於機台上，並設有至少一容納待作業電子元件之供料承置器，該收料裝置係配置於機台上，並設有至少一容納已作業電子元件之收料承置器，該作業裝置係配置於機台上，並設有至少一對電子元件執行預設作業之作業器，該輸送裝置係配置於機台上，並設有至少一移載電子元件之移料器，以及設置至少一本發明之校正單元，以校正電子元件，該中央控制裝置係用以控制及整合各裝置作
動，以執行自動化作業，達到提升作業效能之實用效益。
〔習知〕
11‧‧‧台板
12‧‧‧基準件
13‧‧‧壓缸
14‧‧‧夾持件
21‧‧‧移料器
22、23‧‧‧電子元件
A、B‧‧‧中心位置
〔本發明〕
30‧‧‧校正單元
31‧‧‧載具
311‧‧‧載板
312‧‧‧第一架體
313‧‧‧第二架體
314‧‧‧第三架體
3141‧‧‧容置空間
3142‧‧‧第二滑軌
3143‧‧‧第三滑軌
3144‧‧‧第三通槽
315‧‧‧第一滑軌
32‧‧‧驅動機構
321‧‧‧馬達
3221‧‧‧螺桿
3222‧‧‧螺座
323‧‧‧掣動具
3231‧‧‧第一導移部件
3232‧‧‧第二導移部件
324‧‧‧第一滑座
33‧‧‧第一校正具
331‧‧‧第一塊體
332‧‧‧第二塊體
3321‧‧‧承置部
333、333A‧‧‧第三塊體
3331、3331A‧‧‧第一校正部件
3332、3332A‧‧‧第一通槽
334‧‧‧第一承導部件
335‧‧‧第二滑座
L‧‧‧中心軸線
34‧‧‧第二校正具
341‧‧‧第四塊體
342‧‧‧第五塊體
343、343A‧‧‧第六塊體
3431、3431A‧‧‧第二校正部件
3432、3432A‧‧‧第二通槽
344‧‧‧第二承導部件
345‧‧‧第三滑座
35‧‧‧檢知機構
351‧‧‧投光元件
352‧‧‧接光元件
40‧‧‧移料器
P‧‧‧中心位置
41、42‧‧‧電子元件
C、D‧‧‧中心位置
50‧‧‧機台
60‧‧‧供料裝置
61‧‧‧供料承置器
70‧‧‧收料裝置
71‧‧‧收料承置器
80‧‧‧作業裝置
81‧‧‧電路板
82‧‧‧測試座
90‧‧‧輸送裝置
91‧‧‧第一移料器
92‧‧‧第一入料載台
93‧‧‧第二入料載台
94‧‧‧第二移料器
95‧‧‧第三移料器
96‧‧‧第一出料載台
97‧‧‧第二出料載台
98‧‧‧第四移料器
第1圖：習知電子元件校正機構之使用示意圖。
第2圖：本發明電子元件校正單元之外觀圖。
第3圖：本發明電子元件校正單元之零件分解圖。
第4圖：本發明電子元件校正單元之俯視圖。
第5圖：係校正小尺寸電子元件之使用示意圖(一)。
第6圖：係校正小尺寸電子元件之使用示意圖(二)。
第7圖：係校正小尺寸電子元件之使用示意圖(三)。
第8圖：係校正小尺寸電子元件之使用示意圖(四)。
第9圖：係校正大尺寸電子元件之使用示意圖(一)。
第10圖：係校正大尺寸電子元件之使用示意圖(二)。
第11圖：係校正大尺寸電子元件之使用示意圖(三)。
第12圖：係校正單元應用於作業分類機之示意圖。
為使 貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解，茲舉一較佳實施例並配合圖式，詳述如後：請參閱第2、3、4圖，本發明電子元件校正單元30包含載具31、驅動機構32、第一校正具33、第二校正具34及檢知機構35；該載具31係為固定式配置而固設於機台(圖未示出)上，或為活動式配置而由至少一動力源(圖未示出)驅動作至少一方向位移，於本實施例中，該載具31係設有一固設於機台之載板311，並於載板311上設置第一架體312及第二架體313，一跨置固設於第一架體312及第二架體313上之第三架體314，該第三架體314係設有中空之容置空間3141；該驅動機構32係裝配於載具31上，並設有驅動源及由該驅動源驅動位移之掣動具，更進一步，該驅動源可為壓缸、線性馬達或包含馬達及傳動組，於本實施例中，該驅
動源包含馬達321，以及由該馬達321驅動且為螺桿螺座組之傳動組，該馬達321係水平斜向配置，該螺桿螺座組之螺桿3221係連結馬達321，並以螺座3222連結掣動具323，以帶動掣動具323作水平斜向位移，該掣動具323係設有第一導移部件3231及第二導移部件3232，更進一步，第一導移部件3231及第二導移部件3232係為導槽或導桿，於本實施例中，該第一導移部件3231及第二導移部件3232均為導槽，該驅動機構32另於掣動具323與載具31之間設有至少一第一滑軌組，於本實施例中，係於載具31之載板311上固設有呈斜向配置之第一滑軌315，並於掣動具323之底面裝配有可滑置於第一滑軌315上之第一滑座324；該第一校正具33係位於驅動機構32之掣動具323上，並設有至少一承置電子元件之承置部，以及設有至少一校正電子元件之第一校正部件，更進一步，該第一校正具33係為一體成型，或包含複數個塊體，於本實施例中，該第一校正具33係設有第一塊體331、第二塊體332及複數個第三塊體333，該第一塊體331上係裝配一具有承置部3321之第二塊體332，其承置部3321係承置電子元件，並供裝配複數個具第一校正部件3331之第三塊體333，該第一校正部件3331係為一角部，用以校正電子元件，又該第一校正具33係設有至少一與掣動具323之第一導移部件3231相互配合之第一承導部件334，於本實施例中，係於第一塊體331之底面設置一為導桿之第一承導部件334，並令第一承導部件334插置且位移於掣動具323之第一導移部件3231，另於第一校正具33與載具31之第三架體314間係設有至少一第二滑軌組，於本實施例中，係於載具31之第三架體314固設呈斜向配置之第二滑軌3142，並於第一校正具33之第一塊體331上裝配有滑置於第二滑軌3142上之第二滑座335；該第二校正具34係位於驅動機構32之掣動具323上，並設有至
少一相對第一校正部件3331且校正電子元件之第二校正部件，更進一步，該第二校正具34係為一體成型，或包含複數個塊體，於本實施例中，該第二校正具34係設有第四塊體341、第五塊體342及複數個第六塊體343，該第四塊體341上係裝配第五塊體342，該第五塊體342係裝配複數個具第二校正部件3431之第六塊體343，該第二校正部件3431係為一角部，用以校正電子元件，又該第二校正具34係設有至少一與掣動具323之第二導移部件3232相互配合之第二承導部件344，於本實施例中，係於第四塊體341之底面設置一為導桿之第二承導部件344，並令第二承導部件344插置且位移於掣動具323之第二導移部件3232，另於第二校正具34與載具31之第三架體314間係設有至少一第三滑軌組，於本實施例中，係於載具31之第三架體314固設有呈斜向配置之第三滑軌3143，並於第二校正具34之第四塊體341上裝配有滑置於第二滑軌3143上之第三滑座345；該檢知機構35係於載具31設有至少一感測器，並於第一校正具33及第二校正具34分別開設有相對應之第一通槽及第二通槽，以供感測器檢知第一校正具33上是否殘留電子元件，於本實施例中，該感測器係於載具31之第一架體312裝配一投光元件351，並於第二架體313裝配一接光元件352，另於第一校正具33之各第三塊體333開設有相通第一校正部件3331之第一通槽3332，以及於第二校正具34之各第六塊體343開設有相通第二校正部件3431之第二通槽3432，以及於載具31之第三架體314開設有第三通槽3144，使得第一通槽3332、第二通槽3432及第三通槽3144形成一檢知通道，以供檢知第一校正具33上是否殘留電子元件。
請參閱第5圖，於執行校正電子元件作業前，該校正單元30係以檢知機構35之投光元件351經第一校正具3
3之第一通槽3332及第二校正具34之第二通槽3432及載具31之第三通槽3144所形成的檢知通道投射光線，當接光元件352經由檢知通道接收到光線時，即代表第一校正具33之承置部3321上並無殘留電子元件，進而有效避免疊料或壓損電子元件，反之，若無接收到光線，則代表第一校正具33之承置部3321上殘留電子元件或驅動源異常，工作人員即需排除異常。
請參閱第6圖，於檢知作業完畢，該校正單元30之驅動機構32係以馬達321經螺桿3221及螺座3222帶動該掣動具323位移，該掣動具323即以第一導移部件3231及第二導移部件3232分別導引頂推第一校正具33之第一承導部件334及第二校正具34之第二承導部件344位移，以帶動第一校正具33及第二校正具34分別向外位移，使第一校正具33之承置部3321提供一較大之入料空間，以供移料器40作Z方向位移順利將偏置之電子元件41移入第一校正具33之承置部3321。
請參閱第7圖，接著該驅動機構32係以馬達321經螺桿3221及螺座3222帶動該掣動具323反向位移，該掣動具323即以第一導移部件3231及第二導移部件3232分別導引頂推第一校正具33之第一承導部件334及第二校正具34之第二承導部件344位移，以帶動第一校正具33及第二校正具34分別向內位移，由於電子元件41係置放於第一校正具33之承置部3321，該第一校正具33係會帶動電子元件41朝向第二校正具34作相對位移，同時，該第二校正具34之第二校正部件3431會頂推電子元件41位移，令電子元件41靠置於第一校正具33之第一校正部件3331，使得第一校正具33之第一校正部件3331及第二校正具34之第二校正部件3431校正電子元件41，由於驅動機構32係以掣動具323之第一導移部件3231及第二導移部件
3232同步作動導引第一校正具33之第一承導部件334及第二校正具34之第二承導部件344位移，而可使第一校正具33及第二校正具34具有相同之位移行程，以令第一校正具33之第一校正部件3331及第二校正具34之第二校正部件3431夾持推移電子元件41之中心位置C對位於第一校正具33之承置部3321的中心軸線L，進而校正電子元件41之中心位置C。
請參閱第8圖，於完成校正作業後，該校正單元30之驅動機構32係以馬達321經螺桿3221及螺座3222帶動該掣動具323位移，該掣動具323即以第一導移部件3231及第二導移部件3232分別導引頂推第一校正具33之第一承導部件334及第二校正具34之第二承導部件344位移，以帶動第一校正具33及第二校正具34分別向外位移，當移料器40位移至預設取料位置時，由於移料器40之中心位置P已預設對位於第一校正具33之承置部3321的中心軸線L，使得移料器40之中心位置P即可對位於電子元件41之中心位置C，該移料器40即可作Z方向向下位移而精準取出電子元件41，以利準確將電子元件41移入至下一作業器(如測試座，圖未示出)。
請參閱第9圖，欲校正大尺寸之電子元件42時，該校正單元30可更換第一校正具33之第三塊體，而於第二塊體332上換裝不同尺寸之複數個具有第一校正部件3331A及第一通槽3332A的第三塊體333A，以及更換第二校正具34之第六塊體，而於第五塊體342上換裝不同尺寸之複數個具有第二校正部件3431A及第二通槽3432A的第六塊體343A；該驅動機構32之馬達321係經由螺桿3221及螺座3222帶動該掣動具323位移，該掣動具323即以第一導移部件3231及第二導移部件3232分別導引頂推第一校正具33之第一承導部件334及第二校正具34之第二承
導部件344位移，以帶動第一校正具33及第二校正具34分別向外位移，使第一校正具33及第二校正具34之間提供一較大之入料空間，該移料器40即可帶動偏置之電子元件42作Z方向向下位移置放於第一校正具33之承置部3321。
請參閱第10圖，接著該驅動機構32係以馬達321經螺桿3221及螺座3222帶動該掣動具323反向位移，該掣動具323即以第一導移部件3231及第二導移部件3232分別導引頂推第一校正具33之第一承導部件334及第二校正具34之第二承導部件344位移，以帶動第一校正具33及第二校正具34分別向內位移，該第一校正具33係會帶動電子元件42朝向第二校正具34作相對位移，同時，該第二校正具34之第二校正部件3431A會頂推電子元件42位移，令電子元件42靠置於第一校正具33之第一校正部件3331A，使得第一校正具33之第一校正部件3331A及第二校正具34之第二校正部件3431A夾持推移電子元件42之中心位置D對位於第一校正具33之承置部3321的中心軸線L，進而校正電子元件42之中心位置D。
請參閱第11圖，於完成校正作業後，該驅動機構32之馬達321經由螺桿3221及螺座3222帶動該掣動具323位移，該掣動具323即以第一導移部件3231及第二導移部件3232分別導引頂推第一校正具33之第一承導部件334及第二校正具34之第二承導部件344位移，以帶動第一校正具33及第二校正具34分別向外位移，當移料器40位移至預設取料位置時，由於移料器40之中心位置P已預設對位於第一校正具33之承置部3321的中心軸線L，使得移料器40之中心位置P即可對位於電子元件42之中心位置D，該移料器40即可作Z方向向下位移而精準取出電子元件42，以利準確將電子元件42移入至下一作業器(如測試座，圖未示出)。
請參閱第2、3、4、12圖，係本發明校正單元
30應用於電子元件作業分類機之示意圖，該作業分類機係於機台50上配置有供料裝置60、收料裝置70、作業裝置80、輸送裝置90及中央控制裝置(圖未示出)；該供料裝置60係裝配於機台50，並設有至少一為供料盤之供料承置器61，用以容納至少一待作業之電子元件；該收料裝置70係裝配於機台50，並設有至少一為收料盤之收料承置器71，用以容納至少一已作業之電子元件；該作業裝置80係裝配於機台50，並設有至少一作業器，以對電子元件執行預設作業，於本實施例中，該作業器係為測試器，該測試器係設有電性連接之電路板81及測試座82，並以測試座82承置及測試電子元件；該輸送裝置90係裝配於機台50上，並設有至少一移載電子元件之移料器，以及設置至少一本發明之校正單元30，以校正電子元件，於本實施例中，該輸送裝置90係設有第一移料器91，以於供料裝置60之供料承置器61取出待測之電子元件，並移載至第一入料載台92及第二入料載台93，第一入料載台92及第二入料載台93將待測之電子元件載送至測試裝置80之側方，該輸送裝置90係以第二移料器94及第三移料器95於第一入料載台92及第二入料載台93取出待測之電子元件，並分別移入二校正單元30而校正電子元件，再以第二移料器94及第三移料器95將二校正單元30內已校正之電子元件移載至作業裝置80之測試座82而執行測試作業，以及將測試座82之已測電子元件移載至第一出料載台96及第二出料載台97，第一出料載台96及第二出料載台97載出已測之電子元件，該輸送裝置90係以第四移料器98於第一出料載台96及第二出料載台97上取出已測之電子元件，並依據測試結果，將已測之電子元件輸送至收料裝置70之收料承置器71處而分類收置；該中央控制裝置係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業，達到提升作業效能之實用效益。
Claims (10)
- 一種電子元件校正單元，包含：載具；驅動機構：係裝配於該載具上，並設有驅動源及由該驅動源驅動位移之掣動具，該掣動具係設有第一導移部件及第二導移部件；第一校正具：係位於該驅動機構之掣動具上，並設有至少一承置電子元件之承置部，以及設有至少一校正電子元件之第一校正部件，另該第一校正具係設有至少一與該掣動具之第一導移部件相互配合之第一承導部件；第二校正具：係位於該驅動機構之掣動具上，並設有至少一校正電子元件之第二校正部件，另該第二校正具係設有至少一與該掣動具之第二導移部件相互配合之第二承導部件。
- 依申請專利範圍第1項所述之電子元件校正單元，其中，該載具係設有載板，該載板設有第一架體及第二架體，一裝配於該第一架體及該第二架體之第三架體，該第三架體係設有容置空間。
- 依申請專利範圍第1項所述之電子元件校正單元，其中，該驅動機構之第一導移部件及該第一校正具之第一承導部件係為相互配合之導槽及導桿，該驅動機構之第二導移部件及該第二校正具之第二承導部件係為相互配合之導槽及導桿。
- 依申請專利範圍第1項所述之電子元件校正單元，其中，該驅動機構係於該掣動具與該載具之間設有至少一第一滑軌組。
- 依申請專利範圍第1項所述之電子元件校正單元，其中，該第一校正具係設有第一塊體、第二塊體及複數個第三塊體，該第二塊體係設有該承置部，該第三塊體係設有該第一校正部件，該第二校正具係設有第四塊體、第五塊體及複數個第六塊體，該第六塊體係設有該第二校正部件。
- 依申請專利範圍第1項所述之電子元件校正單元，其中，該第一校正具與該載具之間係設有至少一第二滑軌組。
- 依申請專利範圍第1項所述之電子元件校正單元，其中，該第二校正具與該載具之間係設有至少一第三滑軌組。
- 依申請專利範圍第1項所述之電子元件校正單元，更包含檢知機構，該檢知機構係設有至少一感測器，該感測器係裝配於該載具。
- 依申請專利範圍第8項所述之電子元件校正單元，其中，該檢知機構係於該第一校正具開設有第一通槽，並於該第二校正具開設有第二通槽，該第一通槽及該第二通槽係形成檢知通道，以供該感測器檢知該第一校正具之承置部。
- 一種應用電子元件校正單元之作業分類機，包含：機台；供料裝置：係配置於該機台上，並設有至少一供料承置器，用以容納至少一待作業之電子元件；收料裝置：係配置於該機台上，並設有至少一收料承置器，用以容納至少一已作業之電子元件；作業裝置：係配置於該機台上，並設有至少一作業器，以對電子元件執行預設作業；輸送裝置：係配置於該機台上，並設有至少一移載電子元件之移料器，以及設置至少一依申請專利範圍第1項所述之電子元件校正單元；中央控制裝置：係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業。
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| TWI718851B (zh) * | 2020-01-20 | 2021-02-11 | 鴻勁精密股份有限公司 | 承載裝置及其應用之作業設備 |
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2018
- 2018-08-31 TW TW107130716A patent/TWI671536B/zh active
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