TWI450851B - 電子元件測試分類機 - Google Patents

Description

電子元件測試分類機

本發明係提供一種可利用變距式載具搭配不同移料臂，而有效簡化移料臂之機構設計，使移料臂易於製作組裝，且利於增設取放器之電子元件測試分類機。

按，請參閱第1圖，係為坊間電子元件測試分類機之示意圖，其係於機台之前方設有供料裝置10，該供料裝置10係設有至少一具容置槽之料盤11，用以盛裝複數個待測之電子元件，於機台之後方則設有收料裝置20，該收料裝置20係設有複數個具容置槽之料盤21，用以盛裝不同等級完測之電子元件，另於機台上設有測試裝置30及輸送裝置40，該測試裝置30係設有具複數個測試座32之測試電路板31，用以測試電子元件，該輸送裝置40係於測試裝置30之前、後方分別設有可作X軸向位移之第一載具41及第二載具42，第一、二載具41、42各具有複數個定位槽411、421，用以承置待測/完測電子元件，並於供、收料裝置10、20及第一、二載具41、42間設有第一移料臂43，該第一移料臂43係具有複數個取放器431，用以於供料裝置10之料盤11處取出待測之電子元件，並移載至第一載具41之定位槽411上，亦可於第二載具42之定位槽421上取出完測之電子元件，並移載至收料裝置20之料盤21處收置，另該輸送裝置40係於測試裝置30之上方設有第二移料臂44及第三移料臂45，該第二移料臂44係具有複數個取放器441，用以於第一載具41之定位槽411處取出待測之電子元件，並移載至測試裝置30之測試座32中，而執行測試作業，該第三移料臂45亦具有複數個取放器451，用以於測試裝置30之各測試座32處取出完測之電子元件，並移載至第二載具42之定位槽421，以便輸出分類收置。

然由於各類型電子元件之尺寸不同，使得盛裝用料盤之各容置槽間距不同，以及測試用之各測試座間距不同，當測試分類機欲測試不同電子元件時，即必須使第一、二、三移料臂43、44、45之各取放器431、441、451可調整間距，以便對應不同料盤的容置槽間距及各測試座之間距，方可於料盤及測試座處取放待測/完測之電子元件；因此，請參閱第2、3圖，以變距式第一移料臂43為例，其係於機架432上設有複數組Z軸向驅動源433，用以分別驅動一具X軸向滑槽4341之傳動板434作Z軸向位移，各傳動板434之X軸向滑槽4341則供一取放器431之滾輪4311滑置，而各取放器431之背面係設有Z軸向滑軌4312，並使其滑置於一滑動板435之Z軸向滑座4351上，各滑動板435則以X軸向滑座4352滑置於機架432之X軸向滑軌4321上，且分別連結於機架432後方之X軸向驅動源436，於調整各取放器431之X軸向間距時，係可控制X軸向驅動源436帶動各滑動板435作X軸向位移，各滑動板435則利用Z軸向滑座4351及Z軸向滑軌4312帶動取放器431作X軸向位移，各取放器431即以滾輪4311沿X軸向滑槽4341作X軸向位移而調整間距，於調整各取放器431之X軸向間距完畢後，即可控制Z軸向驅動源433驅動傳動板434作Z軸向位移，使傳動板434以X軸向滑槽4341頂推取放器431之滾輪4311，而帶動取放器431作Z軸向位移以取放元件；惟，該變距式移料臂之整體機構設計，其各元件之配置及連動關係相當複雜，不僅製作、組裝不易，且體積大而佔用空間，但測試分類機為因應不同料盤之容置槽間距及各測試座之間距，而必須於供、收料裝置10、20及第一、二載具41、42間設有變距式第一移料臂43，並於測試裝置30及第一、二載具41、42間設有變距式第一、二移料臂44、45，造成大幅增加設備成本，且不利於機台空間配置之缺失，再者，當業者欲增設複數列Y軸向平行排列之取放器431、441、451(例如8個取放器)，以提升取放元件作業產能時，即必須使第一、二、三移料臂43、44、45之各列取放器431、441、451可作X-Y軸向間距之調整，但在第一、二、三移料臂43、44、45之整體機構設計已相當複雜的情況下，若再增設複數列取放器，以及使複數列取放器可作X-Y-Z軸向位移，不僅複數列取放器增設不易，勢必使得整體機構設計更不易製作、組裝，而大幅增加成本。

本發明之目的一，係提供一種電子元件測試分類機，包含供料裝置、收料裝置、測試裝置及輸送裝置，該供料裝置係容納複數個待測之電子元件，收料裝置係容納複數個不同等級完測之電子元件，測試裝置係設有具複數個測試座之測試電路板，用以測試電子元件，該輸送裝置係設有至少二具複數個取放器之移料臂及至少一變距式載具，各移料臂之複數個取放器係用以移載待測/完測之電子元件，該載具則設有至少二承座，並設有變距機構用以調整二承座之至少一軸向間距，以供二移料臂之複數個取放器可於載具之二承座上準確取放待測/完測之電子元件；藉此，可利用變距式載具搭配不同移料臂，以有效簡化移料臂之機構設計，而易於製作、組裝，並可縮小體積，達到大幅節省成本及利於空間配置之實用效益。

本發明之目的二，係提供一種電子元件測試分類機，該輸送裝置之變距式載具係可使各承座作至少一軸向變距，用以搭配不同移料臂之複數個取放器，而便利輸送電子元件，毋須配置機構複雜之變距式移料臂，而可易於移料臂上直接增設複數排取放器，以增加移載效能及縮短作業時間，達到提升使用效能之實用效益。

為使　貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解，茲舉一較佳實施例並配合圖式，詳述如后：請參閱第4、5、6圖，本發明電子元件測試分類機係於機台之前方設有供料裝置50，用以盛裝待測之電子元件，於機台之後方則設有收料裝置60，用以盛裝完測之電子元件，另於機台上設有測試裝置70，用以測試電子元件，以及輸送裝置80，用以輸送待測/完測之電子元件，其中，該供料裝置50係設有至少一料盤501，該料盤501係具有複數個容置槽502供承置待測之電子元件，該收料裝置60係設有至少一料盤601，該料盤601係具有複數個容置槽602供承置完測之電子元件，該測試裝置70係設有具測試座72之測試電路板71，該測試座72可為常開型測試座或常閉型測試座，於本實施例中，該測試電路板71係配置有4個常開型測試座72，用以同步執行4個電子元件之測試作業，並使測試器(圖未示出)將測試結果傳輸至中央控制單元(圖未示出)，由中央控制單元控制各裝置作動，該輸送裝置80係設有至少一具複數個承座之變距式載具，以及至少二具複數個取放器之移料臂，用以於供料裝置50、收料裝置60及測試裝置70間輸送待測/完測之電子元件，於本實施例中，該輸送裝置80係於測試裝置70之前方設有第一載具81，第一載具81係具有至少二承座，以及可使二承座作至少一軸向變距調整之變距機構，又於測試裝置70之後方則設有第二載具82，第二載具82亦具有至少二承座，以及可使二承座作至少一軸向變距調整之變距機構，該第一、二載具81、82可為固定或活動之變距式載具，於本實施例中，該第一、二載具81、82均為活動之變距式載具，並分別由第一、二載送驅動源83、84驅動作X軸向位移，用以移載待測/完測之電子元件，以第一載具81為例，該第一載具81係於第一載送驅動源83上設有承架811，並於承架811上設有複數個承座812A、812B、812C、812D及變距機構，而變距機構係設有複數支Y軸向桿件813A、813B、813C、813D，各Y軸向桿件813A、813B、813C、813D可分別作活動式之X軸向相對位移，亦或使一Y軸向桿件813B作為固定基準件，並使其他Y軸向桿件813A、813C、813D相對於Y軸向桿件813B作X軸向位移，於本實施例中，係於承架811上設有一固定式Y軸向桿件813B，並設有至少一X軸向驅動源，用以驅動Y軸向桿件813A、813C、813D作X軸向位移，於本實施例中，該X軸向驅動源係設有馬達814，用以驅動二X軸向皮帶輪組815A、815B，其一X軸向皮帶輪組815A之上層皮帶可供裝配Y軸向桿件813A，並於下層皮帶裝配有Y軸向桿件813C，另一X軸向皮帶輪組815B之下層皮帶則供裝配Y軸向桿件813D，使得二X軸向皮帶輪組815A、815B可帶動各Y軸向桿件813A、813C、813D相對於Y軸向桿件813B作X軸向位移，進而可將承座812A、812B、812C、812D分別裝配於Y軸向桿件813A、813B、813C、813D上，另該輸送裝置80係於供、收料裝置50、60及第一、二載具81、82間設有一可作X-Y-Z軸向位移之第一移料臂85，並於第一移料臂85上固設有複數個取放器851，於本實施例中，係於第一移料臂85上固設有4個取放器851，各取放器851之X軸向間距係相對於料盤501、601之各容置槽502、602的X軸向間距，用以移載待測/完測之電子元件，又於第一載具81與測試裝置70間設有一可作X-Y-Z軸向位移之第二移料臂86，並於第二移料臂86上固設有複數個取放器861，於本實施例中，係於第二移料臂86上固設有4個取放器861，各取放器861之X軸向間距係相對於測試裝置70之各測試座72的X軸向間距，用以移載待測之電子元件，另於第二載具82與測試裝置70間設有一可作X-Y-Z軸向位移之第三移料臂87，並於第三移料臂87上固設有複數個取放器871，於本實施例中，係於第三移料臂87上固設有4個取放器871，各取放器871之X軸向間距係相對於測試裝置70之各測試座72的X軸向間距，用以移載完測之電子元件。

請參閱第7圖，於調整放大各承座812A、812B、812C、812D之X軸向間距時，該第一載具81係控制馬達814驅動二X軸向皮帶輪組815A、815B，使X軸向皮帶輪組815A帶動Y軸向桿件813A及813C相對於Y軸向桿件813B作X軸向向外位移，並使另一X軸向皮帶輪組815B帶動Y軸向桿件813D相對於Y軸向桿件813B作X軸向向外位移，使各Y軸向桿件813A、813C、813D帶動承座812A、812C、812D作X軸向間距調整；反之，請參閱第8圖，於調整縮小各承座812A、812B、812C、812D之X軸向間距時，該第一載具81則控制馬達814驅動二X軸向皮帶輪組815A、815B反向轉動，使X軸向皮帶輪組815A帶動Y軸向桿件813A及813C相對於Y軸向桿件813B作X軸向向內位移，並使另一X軸向皮帶輪組815B帶動Y軸向桿件813D相對於Y軸向桿件813B作X軸向向內位移，使各Y軸向桿件813A、813C、813D帶動承座812A、812C、812D作X軸向間距調整。

請參閱第9、10、11圖，係本發明變距式載具之另一實施例，該第一載具81係於承架811上設有第一列承座812A、812B、812C、812D與第二列承座812E、812F、812G、812H，以及變距機構，該變距機構係設有複數支Y軸向桿件813A、813B、813C、813D，以及複數支X軸向桿件816A、816B，且使各Y軸向桿件813A、813B、813C、813D與二X軸向桿件816A、816B具有高度位差，進而於承架811上設有一固定式Y軸向桿件813B，並設有馬達814，用以驅動二X軸向皮帶輪組815A、815B，其一X軸向皮帶輪組815A之上、下層皮帶可分別裝配Y軸向桿件813A、813C，另一X軸向皮帶輪組815B之下層皮帶則供裝配Y軸向桿件813D，使得二X軸向皮帶輪組815A、815B可帶動各Y軸向桿件813A、813C、813D相對於Y軸向桿件813B作X軸向位移，進而可於Y軸向桿件813A上裝配承座812A、812E，於Y軸向桿件813B上裝配承座812B、812F，於Y軸向桿件813C上裝配承座812C、812G，於Y軸向桿件813D上裝配承座812D、812H，使Y軸向桿件813A、813C、813D可帶動第一列之承座812A、812C、812D及第二列之承座812E、812G、812H作X軸向間距調整，另於承架811上設有Y軸向驅動源，該Y軸向驅動源係設有馬達817，用以驅動一Y軸向皮帶輪組818，並於Y軸向皮帶輪組818之上、下層皮帶分別裝配有X軸向桿件816A、816B，而可帶動X軸向桿件816A、816B作Y軸向相對位移，再於X軸向桿件816A上裝配第一列之承座812A、812B、812C、812D，於X軸向桿件816B上則裝配第二列之承座812E、812F、812G、812H，使二X軸向桿件816A、816B可分別帶動第一列之承座812A、812B、812C、812D及第二列之承座812E、812F、812G、812H作Y軸向間距調整。

請參閱第12圖，於使用時，該輸送裝置80係以第一移料臂85帶動複數個取放器851位移至供料裝置50處，由於各取放器851之X-Y軸向間距已固定相對於料盤501之各容置槽502的X-Y軸向間距，使得第一移料臂85可帶動複數個取放器851作Z軸向位移，而直接於料盤501之各容置槽502中取出待測之電子元件100；請參閱第13、14圖，於第一移料臂85之複數個取放器851取出待測之電子元件100後，係移載至第一載具81處，該第一載具81係控制馬達814驅動二X軸向皮帶輪組815A、815B，使二X軸向皮帶輪組815A、815B帶動各Y軸向桿件813A、813C、813D相對於Y軸向桿件813B作X軸向位移，使各Y軸向桿件813A、813C、813D帶動第一列之承座812A、812C、812D及第二列之承座812E、812G、812H分別沿X軸向桿件816A、816B作X軸向間距調整，接著再控制馬達817驅動X軸向皮帶輪組818，使X軸向皮帶輪組818帶動X軸向桿件816A、816B作Y軸向相對位移，使X軸向桿件816A、816B帶動第一列之承座812A、812B、812C、812D及第二列之承座812E、812F、812G、812H分別沿各Y軸向桿件813A、813B、813C、813D作Y軸向間距調整，進而使第一列之承座812A、812B、812C、812D及第二列之承座812E、812F、812G、812H的X-Y軸向間距對應於第一移動臂85之各取放器851的X-Y軸向間距，以供第一移動臂85之各取放器851可準確將待測之電子元件100放置於第一載具81之第一列之承座812A、812B、812C、812D及第二列之承座812E、812F、812G、812H上；請參閱第15、16圖，由於第一、二移動臂85、86之各取放器851、861的X-Y軸向間距不同，於第一載送驅動源83帶動第一載具81位移至測試裝置70之前方時，該第一載具81即再次控制馬達814驅動二X軸向皮帶輪組815A、815B帶動各Y軸向桿件813A、813C、813D相對於Y軸向桿件813B作X軸向位移，使各Y軸向桿件813A、813C、813D帶動第一列之承座812A、812C、812D及第二列之承座812E、812G、812H作X軸向間距調整，並控制馬達817驅動X軸向皮帶輪組818帶動X軸向桿件816A、816B作Y軸向相對位移，使X軸向桿件816A、816B帶動第一列之承座812A、812B、812C、812D及第二列之承座812E、812F、812G、812H作Y軸向間距調整，進而使第一列之承座812A、812B、812C、812D及第二列之承座812E、812F、812G、812H的X-Y軸向間距對應於第二移動臂86之各取放器861的X-Y軸向間距，以供第二移動臂86之各取放器861可準確取出待測之電子元件100；請參閱第17圖，由於第二移動臂86之各取放器861的X-Y軸向間距係對應於測試裝置70之各測試座72的X-Y軸向間距，而可使第二移動臂86之各取放器861將待測之電子元件100移載置入於各測試座72中，各測試座72即執行測試作業，並使測試電路板71將測試訊號傳輸至測試器，測試器再將測試結果傳輸至中央控制單元；請參閱第18圖，於測試座72之測試作業完畢後，由於第三移動臂87之各取放器871的X-Y軸向間距係對應於測試裝置70之各測試座72的X-Y軸向間距，而可使第三移動臂87之各取放器871於各測試座72中取出完測之電子元件100；請參閱第19、20圖，於第三移動臂87之各取放器871取出完測之電子元件100後，第二載送驅動源84係帶動第二載具82位移至測試裝置70之後方，第二載具82亦以變距機構帶動第一列之承座822A、822B、822C、822D及第二列之承座822E、822F、822G、822H作X-Y軸向間距調整，而可對應於第三移動臂87之各取放器871，以供第三移動臂87之各取放器871可準確將完測之電子元件100放置於第一列之承座822A、822B、822C、822D及第二列之承座822E、822F、822G、822H上；請參閱第21、22圖，於第二載具82承載完測之電子元件100後，由於第一、三移動臂85、87之各取放器851、871的X-Y軸向間距不同，於第二載送驅動源84載出第二載具82時，第二載具82再次以變距機構帶動第一列之承座822A、822B、822C、822D及第二列之承座822E、822F、822G、822H作X-Y軸向間距調整，以對應於第一移動臂85之各取放器851，而供第一移動臂85之各取放器851可準確取出完測之電子元件100；請參閱第23圖，第一移動臂85之各取放器851則將完測之電子元件100移載至收料裝置60處，由於第一移動臂85之各取放器851的X-Y軸向間距已相對於料盤601之各容置槽602的X-Y軸向間距，使得第一移料臂85可帶動複數個取放器851作Z軸向位移，並依測試結果(如良品電子元件、不良品電子元件或次級品電子元件)，而直接將完測之電子元件100置入於料盤601之各容置槽602中，以完成分類收置作業。

據此，本發明電子元件測試分類機可有效簡化機構設計而易於製作組裝，並易於增設取放器，進而節省成本及提升使用效能，實為一深具實用性及進步性之設計，然未見有相同之產品及刊物公開，從而允符發明專利申請要件，爰依法提出申請。

[習式]

10．．．供料裝置

11．．．料盤

20．．．收料裝置

21．．．料盤

30．．．測試裝置

31．．．測試電路板

32．．．測試座

40．．．輸送裝置

41．．．第一載具

411．．．定位槽

42．．．第二載具

421．．．定位槽

43．．．第一移料臂

431．．．取放器

4311．．．滾輪

4312．．．Z軸向滑軌

432．．．機架

4321．．．X軸向滑軌

433．．．Z軸向驅動源

434．．．傳動板

4341．．．X軸向滑槽

435．．．滑動板

4351．．．Z軸向滑座

4352．．．X軸向滑座

436．．．X軸向驅動源

44．．．第二移料臂

441．．．取放器

45．．．第三移料臂

451．．．取放器

[本發明]

50．．．供料裝置

501．．．料盤

502．．．容置槽

60．．．收料裝置

601．．．料盤

602．．．容置槽

70．．．測試裝置

71．．．測試電路板

72．．．測試座

80．．．輸送裝置

81．．．第一載具

811．．．承架

812A、812B、812C、812D、812E、812F、812G、812H．．．承座

813A、813B、813C、813D．．．Y軸向桿件

814．．．馬達

815A、815B．．．X軸向皮帶輪組

816A、816B．．．X軸向桿件

817．．．馬達

818．．．Y軸向皮帶輪組

82．．．第二載具

822A、822B、822C、822D、822E、822F、822G、822H．．．承座

83．．．第一載送驅動源

84．．．第二載送驅動源

85．．．第一移料臂

851．．．取放器

86．．．第二移料臂

861．．．取放器

87．．．第三移料臂

871．．．取放器

100．．．電子元件

第1圖：習式測試分類機之各裝置配置圖。

第2圖：習式移料臂之前視圖。

第3圖：習式移料臂之側視圖。

第4圖：本發明測試分類機之各裝置配置圖。

第5圖：本發明載具之俯視圖。

第6圖：本發明載具之前視圖。

第7圖：本發明載具調整各承座間距之使用示意圖(一)。

第8圖：本發明載具調整各承座間距之使用示意圖(二)。

第9圖：本發明載具另一實施例之俯視圖。

第10圖：本發明載具另一實施例之前視圖。

第11圖：本發明載具另一實施例之側視圖。

第12圖：本發明測試分類機另一實施例之使用示意圖(一)。

第13圖：本發明測試分類機另一實施例之使用示意圖(二)。

第14圖：本發明載具調整各承座間距之使用示意圖。

第15圖：本發明測試分類機另一實施例之使用示意圖(三)。

第16圖：本發明載具調整各承座間距之使用示意圖。

第17圖：本發明測試分類機另一實施例之使用示意圖(四)。

第18圖：本發明測試分類機另一實施例之使用示意圖(五)。

第19圖：本發明測試分類機另一實施例之使用示意圖(六)。

第20圖：本發明載具調整各承座間距之使用示意圖。

第21圖：本發明測試分類機另一實施例之使用示意圖(七)。

第22圖：本發明載具調整各承座間距之使用示意圖。

第23圖：本發明測試分類機另一實施例之使用示意圖(八)。

50．．．供料裝置

501．．．料盤

502．．．容置槽

60．．．收料裝置

601．．．料盤

602．．．容置槽

70．．．測試裝置

71．．．測試電路板

72．．．測試座

80．．．輸送裝置

81．．．第一載具

82．．．第二載具

83．．．第一載送驅動源

84．．．第二載送驅動源

85．．．第一移料臂

851．．．取放器

86．．．第二移料臂

861．．．取放器

87．．．第三移料臂

871．．．取放器

Claims (10)

1. 一種電子元件測試分類機，包含：機台；供料裝置：係配置於機台上，用以容納複數個待測之電子元件；收料裝置：係配置於機台上，用以容納複數個完測之電子元件；測試裝置：係配置於機台上，並設有具複數個測試座之測試電路板，用以測試電子元件；輸送裝置：係配置於機台上，並設有至少一變距式載具，以及至少二具複數個取放器之第一、二移料臂，第一、二移料臂之複數個取放器係用以移載電子元件，該載具係於承架上設有第一、二列承座，並設有變距機構用以調整第一、二列承座之至少一軸向間距，以供第一、二移料臂之複數個取放器可於載具之第一、二列承座上準確取放電子元件，該變距機構係設有複數支Y軸向桿件及至少一支X軸向桿件，且使該各Y軸向桿件與該至少一支X軸向桿件間具有高度位差，以供裝設該第一、二列承座，另於該承架上設有至少一X軸向驅動源，該X軸向驅動源係設有馬達，用以驅動至少一X軸向皮帶輪組，並以該至少一X軸向皮帶輪組帶動該各Y軸向桿件作X軸向位移，以調整該第一、二列承座之X軸向間距；中央控制單元：係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業。
2. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件測試分類機，其中，該供料裝置係設有至少一具容置槽之料盤，用以承置待測之電子元件。
3. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件測試分類機，其中，該收料裝置係設有複數個具容置槽之料盤，用以承置不同測試結果之完測電子元件。
4. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件測試分類機，其中，該輸送裝置之變距式載具係設有承架，並於承架上設有複數個承座及變距機構，該變距機構係設有複數支Y軸向桿件，並於各Y軸向桿件上分別裝設一承座，另於承架上設有至少一X軸向驅動源，用以驅動各Y軸向桿件作X軸向位移，以調整各承座之X軸向間距。
5. 依申請專利範圍第4項所述之電子元件測試分類機，其中，該X軸向驅動源係設有馬達，用以驅動二X軸向皮帶輪組，並以二X軸向皮帶輪組分別帶動各Y軸向桿件相對於一固定式Y軸向桿件作X軸向位移。
6. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件測試分類機，其中，該變距機構係設有複數支X軸向桿件，且使各Y軸向桿件與各X軸向桿件間具有高度位差，以及設有至少一Y軸向驅動源，用以驅動各X軸向桿件作Y軸向位移，以調整第一、二列承座之Y軸向間距。
7. 依申請專利範圍第6項所述之電子元件測試分類機，其中，該Y軸向驅動源係設有馬達，用以驅動Y軸向皮帶輪組，並以Y軸向皮帶輪組帶動複數支X軸向桿件作Y軸向相對位移。
8. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件測試分類機，其中，該輸送裝置係於機台上設有載送驅動源，用以帶動載具位移。
9. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件測試分類機，其中，該輸送裝置之載具係固設於機台上。
10. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件測試分類機，其中，該輸送裝置係設有可作X-Y-Z軸向位移之第一、二移料臂，第一移料臂係固設有複數個取放器，用以於供、收料裝 置及載具間移載待測/完測之電子元件，第二移料臂係固設有複數個取放器，用以於測試裝置及載具間移載待測/完測之電子元件。