[go: up one dir, main page]

TWI301744B - Micropin heat exchanger - Google Patents

Micropin heat exchanger Download PDF

Info

Publication number
TWI301744B
TWI301744B TW093134005A TW93134005A TWI301744B TW I301744 B TWI301744 B TW I301744B TW 093134005 A TW093134005 A TW 093134005A TW 93134005 A TW93134005 A TW 93134005A TW I301744 B TWI301744 B TW I301744B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
micro
pins
substrate
outlet
inlet
Prior art date
Application number
TW093134005A
Other languages
English (en)
Other versions
TW200520675A (en
Inventor
Ravi Prasher
Original Assignee
Intel Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Intel Corp filed Critical Intel Corp
Publication of TW200520675A publication Critical patent/TW200520675A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI301744B publication Critical patent/TWI301744B/zh

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/36Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
    • H01L23/367Cooling facilitated by shape of device
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/36Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
    • H01L23/367Cooling facilitated by shape of device
    • H01L23/3677Wire-like or pin-like cooling fins or heat sinks
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/46Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements involving the transfer of heat by flowing fluids
    • H01L23/467Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements involving the transfer of heat by flowing fluids by flowing gases, e.g. air
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32225Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73201Location after the connecting process on the same surface
    • H01L2224/73203Bump and layer connectors
    • H01L2224/73204Bump and layer connectors the bump connector being embedded into the layer connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73253Bump and layer connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/153Connection portion
    • H01L2924/1531Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
    • H01L2924/15311Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a ball array, e.g. BGA

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Description

1301744 (1) 九、發明說明 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種冷卻電子設備和系統,但亦不排P余 關於微冷卻技術。 【先前技術】 由於電子裝置變成更有效力和更小(亦即,更密封裝 ),由這些電子裝置所耗費的電源會導致大量熱的產生。 由這些電子裝置所產生的熱會對電子裝置之操作造成損害 。因此,一般所關心的是電子構件的熱移除。 例如,電子裝置可包括一積體電路(1C )晶粒。散熱 模式可藉由熱耦合至1C晶粒以利於從1C晶粒的熱發散。 一般而言,散熱模式可爲具有多數翼片或通道的散熱座形 式(亦即,被動模式)。由於氣流通過翼片或通道,因此 ,熱可從1C晶粒經由翼片或通道傳送至週遭氣體。替代 的,主動散熱模式可爲壓迫流體通過翼片或通道的形式。 但是,因爲各種效應,例如從1C晶粒上的不同區所產生 的熱變化,使用翼片或通道無法提供有效且均勻的從1C 晶粒移除熱。 【發明內容】和【實施方式】 在各種實施例中,所說明的是包括微銷散熱模式的設 備。在下述說明中,將說明各種實施例。但是,熟悉此項 技藝的人士可瞭解即使無其中之一或多個特殊細節’或以 -4- (2) 1301744 〃匕方法材料,或元件等,於此亦可實施各種實施例。 此外已知的構造,材料,或操作並未詳細說明或顯示, 以避免封本發明的各個實施例造成阻礙。相似的,爲了說 明的·目的,所述的特殊數値,材料,和構造乃爲了提供對 本發明的徹底瞭解。但是,本發明可在無此特殊細節下實 施。此外’已知的特性於此省略或簡化以免造成對本發明 的阻礙。再者,需暸解的是,圖式所示之各個實施例只是 用於說明’而不需以刻度描繪。 在整篇說明書中,”一實施例,,意即相關於該實施例的 特殊特性’構造,材料,或特徵包括在本發明的至少一實 施例中。因此’在整篇說明書中,所謂一實施例不非意指 相同實施例或發明。再者,在一或多個實施例中,這些特 殊的特性,構造,材料,或特徵可以任何適當方式結合。 各種操作將輪流以多重離散操作而說明,其最有助於 瞭解本發明。但是,於此說明的順序不應被解讀爲這些操 作有需要的順序相依性。特別的,這些操作無需以所呈現 的順序執行。 圖1 a-1 b爲依照本發明之一實施例的具有微銷散熱模 式的設備。圖1 a顯不該設備1 0 0的側視圖。在圖1 a中, 設備1〇〇包括一基底1〇2和多數微銷104。圖lb爲該設備 1 〇〇的頂視圖。因此,依照本發明的各個實施例,如圖1 b 所示,微銷104安排成圖素形圖型在基底102上。 參考圖1 b,微銷1 〇4可安排以在微銷1 04間提供一預 定空間。更詳細而言,此預定空間可部份基於至少流經空 -5- (3) (3)1301744 間的、例如但非限制以液體形式的水、材料。再者,如圖 1 b所示安排成圖素形圖型的微銷1 04有利於材料的流動在 所有方向,例如但並非限制,在至少兩方向(如x方向和 y方向),如圖lb所示。 在圖la所示的實施例中,微銷104可形成在基底ι〇2 上。亦即’可使用各種蝕刻方法,例如但並非限制,深反 應離子蝕刻(DRIE)、濕蝕刻、微加工等,以從基底ι〇2 形成微銷1 04。因此,微銷1 〇4可以半導體材料製成,例 如但並非限制於矽。替代的,微銷1 04可形成和設置在基 底1 02上。亦即,微銷1 〇4可以各種材料和方法製成,例 如但並非限制,金屬(如銅)和微加工法,和而後設置在 基底上。此外,基底10 2可爲一積體電路(I c )晶粒。替 代的,基底102可熱耦合至1C晶粒。 來自基底的熱能(亦即熱)亦可傳送至微銷1 04。在 一實施例中,因爲微銷104形成在基底102上,微銷1〇4 可熱耦合至IC晶粒,而後,微銷1 〇4有利於熱傳送至和 微銷1 〇4實質接觸的材料。替代的,微銷1 04亦可熱耦合 至基底,而後,其亦熱耦合至IC晶粒。亦即,微銷1〇4 有效率的熱耦合至1C晶粒。 圖2爲依照一實施例而形成微銷的方法。圖2爲基底 2 02的側視圖。基底202可由有利於熱傳送的適當材料製 成,例如但並非限制,矽基材料,和金屬基材料(如矽, 銅等)。可對基底2 0 2應用各種蝕刻方法,例如但並非限 制,DRIE,濕鈾刻,微加工等。由於蝕刻處理的結果,多 (4) (4)1301744 數微銷204可從基底202形成。 圖3爲依照另一實施例之具有一微銷散熱模式的設備 。圖3顯示該設備3 00的側視圖。該設備3 00包括一基底 3 02和多數微銷3 04,其相似於圖la-lb所示之設備100。 但是,如圖3所示,此設備300包括一介面層306,其設 置在微銷304和基底3 02間。 依照一實施例,介面層306可爲一材料以提供微銷 3 04之構造支持和利於熱耦合、例如但並非限制、一金剛 石膜。如前所述,微銷3 04可以一半導體材料製成,且因 此,介面層可提供用於微銷3 04之構造支持和利於從基底 3 02到微銷3 04之熱耦合(即熱傳送)。再者,基底可爲 1C晶粒或可熱耦合至1C晶粒的基底。 在一實施例中,介面層3 06以可焊材料製成,該可焊 材料具有各種熱性質、例如但並非限制、銅(Cu ),金( Au),鎳(Ni),鋁(A1),鈦(Ti),鉅(Ta),銀( Ag ),和鉑(Pt ),和其組合。因此,在一實施例中,微 銷3 0 4可以、例如但並非限制、銅之金屬材料製成。 繼續參考圖3,對於熟悉此項技藝的人士而言,除了 介面層3 06外,在微銷3 04和基底3 02間亦可使用各種黏 劑材料(未顯示)。 圖4爲依照另一實施例之具有一微銷散熱模式的設備 。圖4爲具有一裝置400的設備的橫截面圖。裝置400包 括基底402和多數微銷404。如本實施例所示,基底402 提供裝置400的底部。此外,裝置400包括一壁406以實 (7) (7)1301744 圖6a-6b爲依照另一實施例之具有一微銷散熱模式的 設備。圖6a爲具有如圖1-5之設備之具有微銷602之設 備的電子系統600的橫截面圖。如圖所示的電子系統600 具有微銷602直接設置在1C晶粒604頂面上(即,微銷 6 02熱耦合至1C晶粒604 ) 。1C晶粒604可經由多數焊劑 凸塊608而電耦合至基底606。基底606可經由焊球612 而電耦合至一接線板610。因此,由1C晶粒604所產生的 熱可傳送至微銷602。 參考圖6b,圖6b爲具有如圖1-5之設備之具有微銷 6 02之設備的電子系統620的橫截面圖。在圖6b中,微銷 602熱耦合至基底622,而後基底622熱耦合至1C晶粒 624。如圖6b所示,介面層626設置在基底622和1C晶 粒624間。如前所述,介面層626可爲TIM,其可利於基 底622和1C晶粒626的熱耦合,藉以利於從1C晶粒626 至微銷602的熱傳送。 再參考圖6b,該設備可熱耦合至1C晶粒。1C晶粒可 經由焊劑凸塊608而電耦合至基底606。基底606可經由 焊球6 1 2而電耦合至一接線板6 1 0。因此,由1C晶粒所產 生的熱可更有效率的傳送至微銷602,和微銷602可熱耦 合至IC晶粒。 如圖6a-6b所示,微銷602實質容納在電子系統600 和620中。但是,如前所述,微銷602並不需要實質被包 圍(見圖1 - 3 )。此外,在各個實施例中,接線板6 1 0可 具有各種裝置以電親合至、例如但並非限制、一記憶裝置 -10- (9) 1301744 、例如但並非限制、一電滲透泵。此外,使用於熱交換系 統720的材料亦可爲任何材料、例如但並非限制、流體、 氣體、和奈米顆粒。 在圖7b所示的實施例中,泵722提供材料至設備7〇〇 。如前所述,此設備有利於從IC晶粒移除熱。熱交換器 724接收受熱材料和將熱移除至另一散熱座(未顯示)。 値得注意的是,爲了不對本發明的實施例形成阻礙,於此 未顯示熱交換系統720的各個元件。例如,於此可具有各 種閥、和密封件等。 上述已參考所示實施例説明本發明的原理,但是需瞭 解的是所示實施例可在安排上和細節上修改,而未悖離本 原理。再者’雖然則述係針對特殊的實施例做說明,於此 亦可期待有其它的構造。特別的,即使如本說明書所使用 的’’ 一實施例’’,和”另一實施例”等,這些話語意即一般參 考貫施例可能性,而非用於限制本發明在一特殊實施例架 構。如所說明的,這些話語可參考可結合在其它實施例中 的相同或不同的實施例。 因此,從上述可知,本於此所說明的是包括一微銷散 熱模式的新穎設備。 包括在摘要所述的本發明的所述實施例的上述說明並 非佣於排除或限制本發明於所述準確的形式。本發明的特 殊實施例和範例於此只用於說明目的,對於熟悉此項技藝 的人士而言,在本發明的範疇內仍可能有各種等效修改。 因此,這些說明僅可視爲說明而非對本發明的限制。 -12- (10) (10)1301744 因此,有鑒於所述實施例的廣泛變換,於此之詳細說 明只爲了說明而已,而非用於限制本發明的範疇。因此, 本發明之申請專利範圍包括下述申請專利範圍和其等效例 之精神和範疇內之所有變化。 【圖式簡單說明】 圖la-lb爲依照本發明的一實施例的具有微銷散熱模 式的設備; 圖2爲依照一實施例的形成微銷的方法; 圖3爲依照另一實施例的具有微銷散熱模式的設備; 圖4爲依照又一實施例的具有微銷散熱模式的設備; 圖5爲依照又一實施例的具有微銷散熱模式的設備; 圖6a-6b爲依照一變化實施例的具有微銷散熱模式的 設備;和 圖7 a-7b爲依照一變化實施例的微銷散熱模式。 【主要元件符號說明】 100 設備 102 基底 104 微銷 202 基底 204 微銷 206 側壁 300 設備 -13» (11)1301744 302 基底 304 微銷 306 介面層 400 裝置一 402 基底 404 微銷 406 壁 408 蓋 4 10 入口 4 12 出口 4 14 介面 500 裝置 一 502 基底 504 微銷 506 壁 508 蓋 5 10 入口 5 12 出口 514 介面層 600 電子系統 602 微銷 604 1C晶粒 606 基底 608 焊劑凸塊 (12) 接線板 焊球 電子系統 基底 1C晶粒 介面層 設備 熱交換系統 泵 熱交換器 入口 出口 入口 出口 -15-

Claims (1)

1301744
Λ 十、申請專利範圍 附件4 第93 1 34005號專利申請案 中文申請專利範圍替換本 民國97年2月15日修正 1. 一種熱交換設備,包含: 一基底;和 熱耦合至基底的多數微銷,該多數微銷在基底上安排 成一圖素狀圖型。 2 ·如申請專利範圍第1項的設備,其中該多數微銷包 含從基底形成的多數微銷。 3 ·如申請專利範圍第1項的設備,其中該基底包含一 積體電路(1C )晶粒。 4·如申請專利範圍第1項的設備,其中該多數微銷包 含耦合至一介面層的多數微銷,和該介面層熱耦合至基底 〇 5 ·如申請專利範圍第4項的設備,其中該介面層包含 一金剛石膜。 6 ·如申請專利範圍第4項的設備,其中該介面層包含 一可焊層。 7.如申請專利範圍第6項的設備,其中該可焊層包含 由銅(Cu ),金(Au ),鎳(Ni ),鋁(A1 ),鈦(Ti ) ,鉅(Ta),銀(Ag ),和鉑(Pt )其中至少之一所形成 1301744 的可焊層。 8·如申 含實質容納 設置在多數 9·如申 包含一入口 10·如申 ,該泵具有 入口。 11 ·如申 包含實質容 和蓋上形成: 1 2.如申 步包含一入 1 3 ·如申 ,該泵具有 入口。 1 4 ·如申 含具有一原: 1 5 ·如申 含具有一複: 1 6.如申 包含安排以 微銷。 淸專利範圍第1項的設備,其中該多數微銷包 在一裝置中的多數微銷,該裝置具有一蓋,其 微銷上。 誇專利範圍第8項的設備,其中該裝置進一步 和一出口。 請專利範圍第9項的設備,進一步包含一泵 一出口’和出口材料可轉換地耦合至該裝置的 請專利範圍第1項的設備,其中該多數微銷 納在一裝置中的多數微銷,該裝置具有一蓋, 有多數微銷。 μ專利fe圍第1 1項的設備,其中該裝置進一 口和一出口。 請專利範圍第1 2項的設備,進一步包含一泵 出□’和出□材料可轉換地耦合至該裝置的 請專利範圍第1項的設備,其中每一微銷包 始幾何形狀的微銷。 請專利範圍第1項的設備,其中每一微銷包 雜幾何形狀的微銷。 邮專利範圍第1項的設備,其中該多數微銷 利於材料流在至少兩方向穿過多數微銷的多數 1301744 17.一種熱交換系統,包含: 一裝置’其具有一入口和一出口,該裝置包含: 一基底,和 # μ ^銷熟耦合至該基底,該多數微銷安排以利 μ # # ^ & s少兩方向穿過多數微銷,和在基底上安 排成圖素狀圖型; 一栗’該聚具有一入口和一出口,該泵的出口材料轉 換的親合至該裝置的入口;和 一熱交換器’該熱交換器具有一入口和一出口,該熱 父換器的入□材料可轉換地耦合至該裝置的出口,和該熱 父換器的出口材料可轉換地耦合至該泵的入口。 1 8 ·如申g靑專利範圍第1 7項的熱交換系統,其中該多 數微銷包含從基底形成的多數微銷。 1 9 ·如申請專利範圍第1 7項的熱交換系統,進一步包 含一積體電路(1C )晶粒熱耦合至多數微銷。 2〇·如申請專利範圍第17項的熱交換系統,其中該裝 置包含實質容納多數微銷的裝置,該裝置具有一蓋,其設 置在多數微銷上。 2 1 ·如申請專利範圍第1 7項的熱交換系統,其中該裝 置包含實質容納多數微銷的裝置,該裝置具有一蓋,和蓋 上形成有多數微銷。 22.—種電子系統,包含: 一基底,該基底熱耦合至一積體電路(1C )晶粒; 多數微銷,其熱耦合至該基底,該多數微銷以圖素狀 -3- 1301744 圖型安排在基底上; 一接線板,其電耦合至I c晶粒;和 一記憶裝置,其電耦合至接線板。 23 ·如申請專利範圍第22項的電子系統,其中該多數 微銷包含從基底形成的多數微銷。 24.如申請專利範圍第22項的電子系統,其中該多數 微銷包含實質容納在一裝置中的多數微銷,該裝置具有一 蓋,其設置在多數微銷上。 2 5 ·如申請專利範圍第2 4項的電子系統,其中該裝置 進一步包含一入口和一出口。 26.如申請專利範圍第25項的電子系統,進一步包含 一泵,該泵具有一出口,和該出口耦合至該裝置的入口。 27·如申請專利範圍第22項的電子系統,其中該多數 微銷包含實質容納在一裝置中的多數微銷,該裝置具有一 蓋,和蓋上形成有多數微銷。 2 8 ·如申請專利範圍第2 7項的電子系統,其中該裝置 進一步包含一^入口和一^出口。 29·如申請專利範圍第28項的電子系統,進一步包含 一泵,該泵具有一出口,和出口材料可轉換地耦合至該裝 置的入口。 3 0 ·如申請專利範圍第22項的電子系統,其中該記憶 裝置包含一快閃記憶裝置。 31.—種電子系統,包含: 一基底,該基底熱耦合至一積體電路(1C )晶粒; -4- 1301744 多數微銷’其熱耦合至該基底,該多數微銷安排以利 於材料流穿過以圖素狀圖型安排在基底上的多數微銷,和 實質的容納在一裝置中,該裝置具有一入口和一出口; 一栗’該泵具有一入口和一出口,和該泵的出口材料 可轉換地耦合至該裝置的入口; 一熱交換器’該熱交換器具有一入口和一出口,該熱 父換器的入□材料可轉換地耦合至該裝置的出口,和該熱 交換器的出口材料可轉換地耦合至該泵的入口; 一接線板’其電耦合至該基底;和 一記億裝置,其電耦合至接線板。 3 2 ·如申請專利範圍第3 1項的電子系統,其中該多數 微銷包含從基底形成的多數微銷。 3 3 .如申請專利範圍第31項的電子系統,其中該裝置 包含具有一盖設置在多數微銷上的裝置。 34·如申請專利範圍第31項的電子系統,其中該裝置 包含具有一蓋的裝置,和該蓋具有多數微銷形成在其上。 3 5·如申請專利範圍第3 1項的電子系統,其中該記億 裝置包含一快閃記憶裝置。
TW093134005A 2003-11-13 2004-11-08 Micropin heat exchanger TWI301744B (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US10/713,236 US7365980B2 (en) 2003-11-13 2003-11-13 Micropin heat exchanger

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW200520675A TW200520675A (en) 2005-06-16
TWI301744B true TWI301744B (en) 2008-10-01

Family

ID=34573665

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW093134005A TWI301744B (en) 2003-11-13 2004-11-08 Micropin heat exchanger

Country Status (7)

Country Link
US (2) US7365980B2 (zh)
KR (1) KR100830253B1 (zh)
CN (1) CN100477181C (zh)
DE (1) DE112004002172T5 (zh)
HK (1) HK1098877A1 (zh)
TW (1) TWI301744B (zh)
WO (1) WO2005050737A1 (zh)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7365980B2 (en) * 2003-11-13 2008-04-29 Intel Corporation Micropin heat exchanger
US7612370B2 (en) * 2003-12-31 2009-11-03 Intel Corporation Thermal interface
JP2007294891A (ja) * 2006-03-30 2007-11-08 Dowa Metaltech Kk 放熱器
US8143719B2 (en) * 2007-06-07 2012-03-27 United Test And Assembly Center Ltd. Vented die and package
US20090077553A1 (en) * 2007-09-13 2009-03-19 Jian Tang Parallel processing of platform level changes during system quiesce
US20120006383A1 (en) * 2008-11-20 2012-01-12 Donnelly Sean M Heat exchanger apparatus and methods of manufacturing cross reference
US20120211199A1 (en) * 2011-02-22 2012-08-23 Gerald Ho Kim Silicon-Based Cooling Package with Diamond Coating for Heat-Generating Devices
US9713284B2 (en) 2015-07-15 2017-07-18 Hong Kong Applied Science And Technology Research Institute Co. Ltd. Locally enhanced direct liquid cooling system for high power applications

Family Cites Families (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6487118A (en) 1987-05-21 1989-03-31 Komatsu Mfg Co Ltd Manufacture of micropin fin for heat exchanger and tool for machining said micropin fin
CA2053055C (en) * 1990-10-11 1997-02-25 Tsukasa Mizuno Liquid cooling system for lsi packages
US5158136A (en) 1991-11-12 1992-10-27 At&T Laboratories Pin fin heat sink including flow enhancement
US5344795A (en) * 1992-09-22 1994-09-06 Microelectronics And Computer Technology Corporation Method for encapsulating an integrated circuit using a removable heatsink support block
JPH07211832A (ja) * 1994-01-03 1995-08-11 Motorola Inc 電力放散装置とその製造方法
US5852548A (en) * 1994-09-09 1998-12-22 Northrop Grumman Corporation Enhanced heat transfer in printed circuit boards and electronic components thereof
JP2573809B2 (ja) * 1994-09-29 1997-01-22 九州日本電気株式会社 電子部品内蔵のマルチチップモジュール
US5587880A (en) * 1995-06-28 1996-12-24 Aavid Laboratories, Inc. Computer cooling system operable under the force of gravity in first orientation and against the force of gravity in second orientation
EP0835524A1 (de) * 1996-01-04 1998-04-15 Daimler-Benz Aktiengesellschaft Kühlkörper mit zapfen
US5796049A (en) * 1997-04-04 1998-08-18 Sundstrand Corporation Electronics mounting plate with heat exchanger and method for manufacturing same
CN2349672Y (zh) * 1998-11-26 1999-11-17 官有莹 晶片冷却循环系统装置
CN1148627C (zh) * 1999-04-08 2004-05-05 富准精密工业(深圳)有限公司 电脑芯片散热装置及其制造方法
US6244331B1 (en) * 1999-10-22 2001-06-12 Intel Corporation Heatsink with integrated blower for improved heat transfer
US6729383B1 (en) * 1999-12-16 2004-05-04 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Fluid-cooled heat sink with turbulence-enhancing support pins
CN2447939Y (zh) * 2000-09-25 2001-09-12 万在工业股份有限公司 铝铜焊接式散热器
US6578626B1 (en) * 2000-11-21 2003-06-17 Thermal Corp. Liquid cooled heat exchanger with enhanced flow
US6653730B2 (en) * 2000-12-14 2003-11-25 Intel Corporation Electronic assembly with high capacity thermal interface
KR100778913B1 (ko) 2001-05-21 2007-11-22 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 냉매를 방열재로 사용한 반도체 패키지
DE10159860C2 (de) * 2001-12-06 2003-12-04 Sdk Technik Gmbh Wärmeübertragungsfläche mit einer aufgalvanisierten Mikrostruktur von Vorsprüngen
US6679315B2 (en) * 2002-01-14 2004-01-20 Marconi Communications, Inc. Small scale chip cooler assembly
KR20030068633A (ko) 2002-02-15 2003-08-25 이엠씨테크(주) 열전소자를 이용한 집적회로 냉각장치
US6986382B2 (en) * 2002-11-01 2006-01-17 Cooligy Inc. Interwoven manifolds for pressure drop reduction in microchannel heat exchangers
US20040112571A1 (en) * 2002-11-01 2004-06-17 Cooligy, Inc. Method and apparatus for efficient vertical fluid delivery for cooling a heat producing device
US7000684B2 (en) * 2002-11-01 2006-02-21 Cooligy, Inc. Method and apparatus for efficient vertical fluid delivery for cooling a heat producing device
US6771508B1 (en) * 2003-02-14 2004-08-03 Intel Corporation Method and apparatus for cooling an electronic component
US6820684B1 (en) * 2003-06-26 2004-11-23 International Business Machines Corporation Cooling system and cooled electronics assembly employing partially liquid filled thermal spreader
US7365980B2 (en) 2003-11-13 2008-04-29 Intel Corporation Micropin heat exchanger

Also Published As

Publication number Publication date
TW200520675A (en) 2005-06-16
DE112004002172T5 (de) 2006-09-14
CN100477181C (zh) 2009-04-08
KR100830253B1 (ko) 2008-05-19
US20050104200A1 (en) 2005-05-19
US20050105272A1 (en) 2005-05-19
WO2005050737A1 (en) 2005-06-02
KR20060085956A (ko) 2006-07-28
CN1879214A (zh) 2006-12-13
US7365980B2 (en) 2008-04-29
HK1098877A1 (en) 2007-07-27
US7498672B2 (en) 2009-03-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI277186B (en) Electronic assembly with fluid cooling and associated methods
TWI569388B (zh) 使用矽之晶片級熱消散技術
Sekar et al. A 3D-IC technology with integrated microchannel cooling
US8058724B2 (en) Holistic thermal management system for a semiconductor chip
US7978473B2 (en) Cooling apparatus with cold plate formed in situ on a surface to be cooled
JP4155999B2 (ja) 半導体装置および半導体装置の製造方法
TWI305064B (en) Thermoelectric module
US6785134B2 (en) Embedded liquid pump and microchannel cooling system
CN100592541C (zh) 热电纳米线器件
US20060244127A1 (en) Integrated stacked microchannel heat exchanger and heat spreader
US9472483B2 (en) Integrated circuit cooling apparatus
CN100433313C (zh) 用于半导体模块中的热耗散的方法和装置
US20050141195A1 (en) Folded fin microchannel heat exchanger
JP5818889B2 (ja) 電子冷却用のcmos互換性マイクロチャネルヒートシンクの製造方法
Zhang et al. 3D stacked microfluidic cooling for high-performance 3D ICs
TW200901435A (en) Apparatus for packaging semiconductor devices, packaged semiconductor components, methods of manufacturing apparatus for packaging semiconductor devices, and methods of manufacturing semiconductor components
JP2000150735A (ja) 回路組立体および集積回路デバイスに放熱器を接続する方法
TW200836615A (en) Liquid-based cooling system for cooling a multi-component electronics system
Tang et al. Integrated liquid cooling systems for 3-D stacked TSV modules
CN110192273A (zh) 用于在热接地平面中散布高热通量的方法和设备
TWI301744B (en) Micropin heat exchanger
CN113436977B (zh) 在半导体器件和热交换器间产生热界面键合的装置和方法
US20070200226A1 (en) Cooling micro-channels
TWI324382B (en) Apparatus having reduced warpage in an over-molded ic package and method of reducing warpage in an over-molded ic package
TWI555142B (zh) 半導體封裝結構及其製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees