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TW387088B - Sense amplifier of semiconductor memory device - Google Patents

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TW387088B
TW387088B TW086108264A TW86108264A TW387088B TW 387088 B TW387088 B TW 387088B TW 086108264 A TW086108264 A TW 086108264A TW 86108264 A TW86108264 A TW 86108264A TW 387088 B TW387088 B TW 387088B
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TW
Taiwan
Prior art keywords
data
signal
voltage
amplifier
section
Prior art date
Application number
TW086108264A
Other languages
English (en)
Inventor
Jae-Hyeoung Kim
Original Assignee
Hyundai Electronics Ind
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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    • G11CSTATIC STORES
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Description

經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 —-~~—_ _— B7 ' 五、發明説明(^''''' ~ 《發明之範圍》 本發明係關於半導體記憶元件之感應放大器,尤其 別關於-種利用高速及低電力消耗的CM〇S&相器网銘姓 性的光罩ROM的感應放大器。…寺 《發明之背景》 一種不易失記憶元件乃一切斷電源時能保持訊息的 存元件。不易失記憶元件的例子包含··光罩汉⑽;可程式 可请EPROM ; EEPROM ;及閃光EEPROM。 ^ 光罩ROM唯讀記憶元件,用來在一電晶體單元中儲存 並讀取-位元訊息,通常錢用於辦公室自動化設備中, 例如電子手册與印刷物,或遊戲用磁帶錄影機盒,係須古 速運件者。 /、冋 一第1圖為表示傳統式光罩ROM的方塊圖。參照第丨圖, 光罩ROM包含:-記憶單元_6,其具有鎌的記憶單 凡’齡置成複數的字與位元於記憶單元陣列中;一位址輪 ^缓衝器1,用以暫存從外界接收的位址信號;—χ預解碼 =2與-X解碼電路3,以解讀自位址輸入缓衝器丨接收的 卜位址信號,且記憶單元陣列6内的複數字線中選擇一相應 2字1泉;及-Υ預解碼電路4及—γ解碼電路5以解讀從“ 缓衝器1接收的列位址信號,且從記憶單元6_複數 仏元線中選擇一相應的位元線。 光罩ROM更包含··-位址轉移偵測部分7,用以偵測 位址輛入缓衝益1傳來的位址信號的轉移;一感應放太器 8用以感測並放大來自記憶單元6的訊息,其係 本紙張尺度準(CNS) A4規格(2mx2974公羞) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本1} .J—%象--- ---訂--- .1 AJ!
經濟部4-央橾準局員工消費合作社印製 址轉移偵測部分7的一感應放大器啟動信號S E而動作者; 及了輸出缓衝器9用以自感應放大器8接收輸出數據SA而產 生Ή當做自光罩以⑽發出的輸出數據〇。 、^如上揭情形構成的光罩尺0]^的勤作描述如下。外界 位址彳θ號只要經過輸入缓衝器丨傳入乂預解碼電路2與又解碼 電解碼電路即解讀位址信號的排位址信號而傳輪一解 碼信號给記憶單元㈣6,而從記鮮元_㈣的複數字 線中選擇一相應的字線。 / w同時’γ預解碼電路4與¥解碼電路5解讀經位址輪入緩 衝器1收的位址信號巾的列位址信號,而轉移—解碼信號 〜。己L單元陣列以從记憶單元陣列6内的複數位元線中選擇 一相應的位元線。 一位址轉移偵測部分7偵測接收自位址輸Λ缓衝器!的位 址信號的轉移以輸出—感應放大器聽信號SE給感岸放大 ㈣。被啟動信號SE所啟動的感應放大器8讀出並放大來自 元陣列6内所選擇的記憶單元的訊息,然後傳輪所讀 ίίίί的訊息SAGUt给輸出缓衝器9。繼而訊息SA_.經 輸出綾衝器9輸出做為光罩R0M—輸出 乃 所選:碼電路3斯解碼電路5的解碼信號 所選擇之—冰早凡相―低電流,而將其變成 號。兹有兩種感應放大器,其一為差動型咸應哭^ -為交叉揭合型『-_篇。特別的中声二 =器使用一電流鏡子者,其特徵為有“ΐ 本紙悵尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公釐)~-—-. I— I - - - II I I I I - 訂 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) A7 B7 五 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 、發明説明( 一第2圖為傳統的差動型感應放大器的電路圖。如第竭 動型感應放大器包括··—預充電電路10,用以預 =連接於仿真單元⑽仿真線14朗充電—速接於一記 m1」的—位元線13,預充電時係利甩一來自等化器 •於:不〕-的等化信號⑽施加所需電壓;及一數據讀出 被感應放大器敝_號犯所啟動而從仿真線 由線13之間的電壓差來產生—輸出信號sa_,盆 中·^轉錄記憶單元11祕息產生者。 ’、 真單元12與記憶單元11係同型。但仿真單元12中的 ^位串㈣記料元时的二倍,故其可允許較記情 早31多—半的電流通過仿真單元12。由是,在仿真單 ^2具有32個财_電池串時,記憶單元⑽ NAND電池串。 個 兩壓各1G具有第—與第二預充電機構夯別用所需 电壓預无电位元線13與仿真線14,係使用共同的機構。 盥充電機構包含:第一與第二觸S電晶體灿 (、[12’串聯配置.以使利用等化信號呵用所需電壓 死电位兀線13 ;及一第3PM〇S電晶體ρτΐ3,以所雷 預无電位元線13。第二預充電機構包含··第四: —s電晶體ΡΤ_ΡΤ15,串聯配置以便利用等化 /EQ用所需電壓預先充電仿真線14;及—pM〇s電j PT16,以所需電壓預先充電仿真線14。 日曰把 數據讀出電路20包含:-電射竟子,其具有第七心 八歷S電晶體則與PT22,以允許—恒定電流流通;^ 本纸&尺度適用中國國家標準(CMS ) Α4規格(2丨0Χ2$7公爱了 (諳先閱讀背面之注意事項再填寫本瓦)
、發明説明( 、、泉14與位元線丨3,及一讀出機構用來讀出自記憶單元u經 位元線13傳來的數據。讀出機構包含:第一與第二NMOS ,晶體NT21與NT22連接於預充電電路1 〇用以依照記憶單 兀内的數據完成位元線丨3與仿真線i 4間的電壓差的差動放 大;及一第三NMOS電晶體NT23被感應放大器的啟動信號 SE啟動而驅動第一與第:NM〇s電晶體奶21與价22。 —傳統感應放大器亦具有NMO S電晶體NT24與NT2 5 做為被施加自參考電壓產生器(圖中未標示)的一參考電 ,vref所驅動,而且分別連接於位元線13與仿真線14 •,及 第九與第十PMOS電晶體ΡΤ23與PT24並聯於策一與第二 NMOS電晶體Ν21與Ν22,分別作用如同一電流鏡子。 ,具有上揭構造的傳統感應放大器中,位元線13的第 —與=二PMOS電晶體ρΤ11與ΡΤ12及預充電路1〇的仿真線 Η的第三與第四PMOS電晶體ΡΤ14與ΡΤ15被傳自等化器的 等化信號/EQ點燃。因而位元線13與仿真線14,亦即節點 'a'與V遂被以所需電壓點燃。 在數據讀出動作時,NM0S電晶體]^丁23被感應放大器 啟動信號SE所點燃而啟動數據讀出電路2〇。數據讀出電路 依據記憶單元11中的數據經第一與第二NM〇s電晶體NT2 i 與NT22將存在於位元線〗3與仿真線丨4間的電壓以差動方 式放大。被差動放大的信號做為數據讀出電路2〇的輪出信 號SAout經反相器15產生。 本纸伕尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(2丨〇.χ 297公楚 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
A7 ___B7 五、發明説明() ~ ~ 在傳統感應放大器要讀出位元線13的數據時,電流鏡 子的第七與第八PMOS電晶體PT21與PT22係分別並聯於第 九與第十PMOS電晶體PTB與PTM,以便提高增益。 因此’感應放大器具有一問題,亦即當第三NMOS電 晶體ΝΤ23被感應放大器之啟動信號SE啟動時為了提高增 益,有大量電流連續地流經第九與第十PMOS電晶體ΡΤ23 與ΡΤ24及NMOS電晶體ΝΤ23。 在傳統的感應放大器,電流鏡子的第七與第八PMOS 電晶體ΡΤ21與ΡΤ22與第九與第十PMOS電晶體ΡΤ23與 ΡΤ24乃為了提高增益而被微微的點燃。連接於位元線13與 仿真線14的第一與第二ΝΜΟ S電晶體ΝΤ21與ΝΤ22亦被點 燃。是以電流將繼續流通於同時點燃的PMOS與NMOS電 晶體。 傳統技術的另一問題是全範圍擺動電壓之不能施加於 反相器15而造成的過度電力消耗,.該反相器15乃用以反轉 即點C的電位藉以產生它做為感應放大器的輸出信號 SAout ° 《發明之總論》 因此本發明乃導向製造一種半導體記憶元件的感應放 大器,其可實質的解決由於傳統技術所遇限制與缺點引起 的某些問題。 本發明的一個目的乃在提供一種半導體記憶元件的感 應放大器,其能藉高速而低電力消耗的CMOS反相器的閂 鎖特性來讀出數據並產生一全部的擺動輸出電壓者。 (請先閱讀背面之注^項再填寫本頁)
Α7 Β7 五 ίβ£ · r51v^h 拉4.卩殳 發明説明( 應放大器,其能在讀出數據勳作期間 避免過度的電力祕。 路來 中廣 以r,元的:元 Γ等化信號以所需電壓預^線;=界1 第用:f元線與;真_電= 大器啟動信 幸辣的感應放大器啟動信藉= 卜界 在讀出數獅作時賴預充電部。^田不 分,用以傳輸位元線與仿“;=出:_ 輸入信號’依照來自記憶單元的ς 與弟二 大器:繼號將第-與第二輪入信號给予:據:t應放 加之,在感應放大n巾,吩。 PM〇s電晶體’電源電壓施加^^包含- ::τ的感應放大器制信“其;極連 數據讀出啟動部分舍本.欣 大器啟動信號,依:^元動機構,藉感應放 做數據讀*部分的第—仲 ':彳,輸位兀線的電壓當 u虎,及一第二啟動機構,藉感應 (210X297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁)
A7 B7 五、發明説明() 放大器啟動信號,傳輸仿真線的電壓當做數據讀出部分的 第二信號。 再者,數據讀出啟動部分的第一啟動機構包含一 NMOS電晶體,其閘極施加以感應放大器啟動信號,其源 極連接於數據讀出部分,而其没極速接於位元線,如此依 照記憶單元數據傳輸位元線電壓當做數據讀出部分的第一 輸入信號。數據讀出啟動機構的第二啟動機構包含一第二 NMOS電晶體,其閘極上施加以感應放大器啟動信號,其 汲極連接於仿真線。而其源極連接於數據讀出部分的第二 輸入信號。 在本發明的感應放大器中,其数據讀出部分亦包含: 一第一CMOS反相器,可以經數據讀出啟動部分接收第一 輸入信號且串聯於電源電壓與大地之間;及一第二CMOS 反相器,可以經數據讀出啟動部分接數第二輸入信號且串 聯於電源電壓與大地之間。 再者,在數據讀出部分内的第一與第二CMOS的輸出 信號可利用不同輸入信號回饋,藉此問鎖自數據讀出啟動 部分轉來的第一與第二輸入信號。 所須聲明者,上揭之一般描述及下文中之詳細描述乃 舉例説明而已,且為申請專利範圍項目提供更進一步的解 説者。 《圖面之簡單説明》 10 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(2丨0X297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
發明說明 =下所_面可有助㈣本發明更進—步之明瞭,且 明i本發明書及實補之-部分。㈣®示連同本發 明確解釋本發明之原理,所附圖面為: 第1圖為傳統光罩ROM之方塊圖; 跋闽第2圖為第1圖之傳統光罩ROM中感應放大器的詳細電 塔圖;及 第3圖為本發明之光罩ROM之感應放大器在一實施例 甲的詳細電路圖。 ' 《圖式中元件名稱與符號對照》 第2圖 10 :預充單元 11 :記憶單元 仿真單元 位元線 仿真線 /EQ :等化器信號 :參考電壓 15 :反相器 121314
(請先閱讀背面之注意事碩再填寫本頁) 裝. {一- 20:數據讀出電路 SAout :輸出信號 PT11,PT12 :第一與第二PM0S電 晶體PT13, PT14, PT15 :第三,四, 五PM0S電晶體 打2卜...竹24 :第七.....·十pm〇s 電晶體 NT21……NT23 :第一.....·三NM0S 電晶體NT24 …NT25 : NM0S電晶體 SE :感應放大器啟動信號 11 (CNS ) A4規格(210x297公釐). ----- •線· 票 五、發明説明( A7 B7 第3圖: 30 :預充單元 40 :數據讀出電路 50 :預充電敏動部分 60 :數據讀出敏動單元 71 : 憶單元 72 :仿真單元 73 :位元線 74 :仿真線 VDD :電源電壓 VSS :大地電壓 《較佳具體實施例之詳細説明》 二所附圖面來詳細描述本發明之具體實施例。 -顆:3圖,本發明之光料⑽的感應放大器包含: 連^於仿it30,用來對連接於記憶單元71的位元線73邀 收自二兀Λ2的仿真線74預充電,預充辑'利用i 之:及的等化信號㈣以-所需電壓為 74的電嶋 藉此產輸㈣糾記憶單元71的數據, 、生所凟出數據為輸出信號SAout。 據讀大器更包括:—預充電啟動部分5G,用來在數 ^ t P4G動作_關閉預充電電路观啟動預 電路4G不在動作時依照感應放大ί 啟紅翻仏兀線73與仿真線取㈣健舰電丨及一 SAout:輸出信號 ΡΤ31···ΡΤ36 :第一…六PMOS電晶體 ΡΤ41,ΡΤ51 :第七,八PMOS電晶體 ΝΤ41 :第一NMOS電晶體 ΝΓ61 :第三NMOS電晶體 ΝΓ62 :第四NMOS電晶體 {請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁j ^ 訂. •^ ______ 12 本紙張尺反適 iCNS} ~im (21〇~^~7 A7 -------- -B7^_ 五、發明説明() 〜~~— 數據讀出啟動部分60,用以轉移位元線73的電壓與仿真線 74的電壓為數據讀出電路40的第一與第二輸入信號,係依 據記憶單元71的數據而為者。 在本實施例中的感應放大器,其預充電電路3〇構造 係與第1圖所示者相同,其中包含:第一,第二第三PM〇s 電晶體PT31,PT32與PT33,利用接收自外界的等化器信 號/EQ以所需電壓預充電於位元線73 ;及第四,第五與^ 六PMOS電晶體PT34,PT35與PT36利用接收自外界的等 化器#號以所需電壓預充電於仿真線14。此時預充電電足欠 30係被預充電啟動部分5〇關閉或啟動者。 數據讀出電路40接收一第一輸入信號為其閘極輸入信 號,其乃經數據讀出啟動單元60施加的位元線73的電壓, 數據讀出啟動單元60包含:一第一CMOS反柑器,其中含 有第七PMOS電晶體PTM與一第一NMOS電晶體NIMl串 聯於一電源Vdd與大地電壓Vss之間,第七電晶體PT41與 第一電晶體NT41接收一第一輸入信號為其閘極的輸入信 號,其乃經數據讀出啟動部分6〇施加的位元線73的電壓; 及一第二CMOS反相器包含—第八電晶體pT42與— 第二NM0S電晶體ΝΤ42串聯於電源vdd與大地電壓Vss之 間,第二CMOS反相器接收—第二輸入信號為其閘極輸入 信號,其乃經數據讀出啟動部分60施加之仿真線74的電 壓,以產生一數據輸出信號SA〇ut者。 適用中國國家標準() Λ4規格( (諳先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝- Φ 訂 13 A7 B7 五、發明説明() 、再參照第3圖,第一與第二CMOS反相器之輸出信號係 被來自C Μ 0 S電晶體的輸出信號回饋以閂鎖經數據讀出啟 動單元60傳輸的第一與第二輸入信號。 ”預充電啟動單元50包含:一第九PM0S電晶體ΡΤ51, 電源t壓VDD施加於其源極,感應放大器啟動信號8£施加 於其閘極’其没極則連接於預充電電路。 當感應放大器的啟動信號SE在低位準時,預充電啟動 單元50藉點燃PMOS電晶體PT51以自電源Vdd施加電壓於 預充電電路30,使啟動而用一所需電壓預充電位元線乃與 仿真線74。假如感應放大器的啟動信號SE在高位準時, PM0S電晶體PT50被熄減而切斷電源電壓Vdd,因而預充 電電路30無法對位元線73與仿真線74預充電。 ;數據鏆出啟動部分60包含:一第一啟動機構,可藉感 應放大器啟動信號SE依記憶單元71的數據做為數據讀出電 路4〇的弟一輸入信號施加位元線73的電壓;及一第二啟動 機構,可藉感應放大器啟動信號SE,施加仿真線74的電壓 做為數據讀出電路40的第二輸入信號。 數據讀出啟動部分60的第一啟動機構包含:—第三 NMOS電晶體NT61,感應放大器啟動信號§£施加於其^ 極,其汲極連接於位元線73,及其源極連接於數據讀出電 路40。是以經第一啟動機構,依記憶單元71的数據,位元 線73的電壓利用感應放大器啟動信號被當做數據讀出電路 40的第一輸入信號傳輸。 14 本纸浪尺度適用中國國豕椟準(CNS ) A4規格(210X297公釐〉 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 、\一5 $ 五、發明説明( A7 B7 數據讀出啟動部分60的第二啟動機構包:一第四 NMOS電晶體NT62,感應放大器啟動信號SE施加於其閘 極,其汲極連接於仿真線74,而其源極連接於數據讀出電 =40 °因此仿真線74的電壓利用感應放大器啟動信號8]£經 第二啟動機構做為數據讀出電路4〇的第二輪入信號傳輸。 如上揭構造的感應放大器的動情形描述如下: 、如無經數據讀出電路4〇來讀出記憶單元數據所須讀出 動作週期’轉移自外界的感應放大器啟動信號SE變成低位 準而饋供於預充電部分5〇與數據讀出啟動部分6〇。因而預 充電啟動部分5 〇的PM〇 s電晶體pT5丨被感應放大器啟動俨 號SE驅動而施加電源電壓Vdd於預電部分%。預、充電部^ 等化器信伽⑽所需㈣職電於位元線73^_ 數據f賣出啟動部分6〇防止各屬於位元線73與 的電壓的$ -與第二輸人信鶴人魏_出、7 動信號猶順。s電晶體ντ6ι; .動作。〜果使輯軸雜4G驗完趣據讀出 另方面’在5賣出重力作區域内,無法做予 經數據讀出電路40讀出記憶單福數據,此^ =力= 來的感應放大器啟動信號SE變成高位 克 部分5〇f應電晶體咖因而媳減,以切斷自力 至預充電部分30的電力供應。 電源Vdd 15 {請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁}
A7 B7 五、發明説明( 啟動部分60利用感應放大器啟動信號SE_ 电日曰feNT61與NT62,結果位元線73的電壓與仿 ^74的電壓均饋供於數據讀出部分峨為第—與第入 信號。 八 ' 數據讀出電路4〇触域讀出賴部分崎來的第— 與第二輪人信號絲驗大記憶單元_輯並 器75產生輸出信號SAout。 反相 舉例而言,依據記憶單元内的數據,假定位元線乃的 電壓高於仿真線74的龍時,祕”a,,的電位㈣高於料 ’,=的電位。換言之,假如第一輸入信號高位準而第」輸入 信^為低位準,第—反相器的NM〇s電晶體咖丨被第一輪 入信號點燃,而PMOS電晶體PT42被第二輪入作轳點撳, 結果節點” d”魏低電位而雜?賴高電位。……、 —保持高位準的第工⑽⑽反相器的輪出信號乃產生後 ,反相器75做為輸出信號SA〇ut。第—與第二cm〇s反相 器輸出,號被不同CMOS反相器的輸入信號所回馈,因而 分別以高位準與低位準閂鎖節點"c "與"d "的電壓。 v如果依據記憶單元内的數據,位址線乃的電廖低於仿 真線74的電壓時,節點,,a”的電位變成低於節點,,b”的電 位。換言之,第一輸入信號高而第二輪入信號低。第二 CMOS反相器的NM0S電晶體聰2被第二輪入信號點燃, 而第-反相器的PMOS電晶體PT42被第—輸入信號點燃, 結果節點”c”與”d"分別變成低與高。 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS ) Λ4規格(210 X297公釐广 --- 'Φ) ------------------^——、τ_-----d (請先閱讀背面之注意事項再.填寫本頁) 發明説明( 、保持低位準的第二反相器輸出乃經反相器75產生而做 為輸出信號SAout。第一舆第二CM〇s反相器的輪出信號 被不同的CMOS反相器的輸入信號回饋,因而分別閂鎖 點”c"與”d”的電壓於低與高位準。 " >依據上揭之本發明感應放大器,數據讀出電路4〇包含 高速CMOS反相器以完成一迅速數據讀出動作,藉此經 反相器75輪出所讀出之數據。 全範圍的擺動電壓可施加於反相器75,此乃由於在第 一 CMOS反相器中的pm〇S電晶體PT41與NMOS電晶體 ΝΤ41 ’或在弟一 CMOS反相!§·中’的PMOS電晶體ΡΤ42鼓 NMOS電晶體NT42並非同時點燃之故。 、 再者,本發明之感應放大器中,預充電啟動部分5〇控 制預充電電路30。當數擄讀出動作未發生時,供應於預^ 電部分的電源電壓被預充電啟動部分5〇所切斷以致停止預 充電動作。因此,可避免PMOS電晶體被點燃結果電流亦' 不會流到PM0S電晶體。 依據本發明,感應放大器使用一高速CMOS反相器以 高速讀出記憶單元之數據。加之PMOS與NM0S電晶體可 防止同時點燃,因此全範圍擺動電壓乃可施加於輪出反相 器。 所須聲明者,那些熟習於此方面技藝之人士或可對本 發明之半導體記憶元件之感應放大器做各種修改與變更, 但並未能脱離本發明之精神範圍。因此本發明應涵蓋那些 17 本紙張尺度適用中國國家標隼(CNS ) A4規格(2I0X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁} 裝· J/ -ΐ;.1" 訂1 五、發明説明( A7 B7 脱離不出附錄之申請專利範圍及其同等事項之修改與變 更0 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) —訂-- r 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 18 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS )八4規格(210X297公釐)

Claims (1)

  1. 經濟部中央標準局負工消費合作社印裝 19 387088 ------- i申請專利範圍 體2元件之感應放大器,用於感測-連接於仿真 於簡物蝴之錄 綱物魏號以所I 一數擄讀出部分,利用一外界轉來的 ==舰綱翻 :信號,藉此讀出記憶單元_數據 一輸出信號; 压土 -頭充電制部分,在縣數據鱗巾伽外界轉來的 感^放大器啟動信號停止預充電部分動作,或當不在數 據讀出動作睁啟動預充電部分;及 —數據讀出啟動部分,以記憶單元的數據依照來自外界 的感應放大器啟動信號,傳输位元線的電與仿真線的 電壓分別做為第一與第二輸入信號。 2. 如申請專利範圍第1項所述之感應放大器,其中所述預 充電啟動部分包括一PM〇s電晶體,有一源電壓施加於 其源極上’其閘極上施加來自外界的感應放大器啟動信 號’而其没極連接於數據讀出部分。 3. 如^請專利範圍第1項所述之感應放大器,其中所述數 據鏆出启拳動部分包括: 一第—啟動機構,利用感應放大器教動信號依照記憶單 元的敦據傳輸位元線的電壓做為數據讀出部分的第一輸 入信號;及 本紙掁尺度適用中國國家榡準(CNS ) A4規格(210X297公釐) (許先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) In In ^ · 人J1 A8 B8 C8 D8 387088 六、申請專利範圍 —第二啟動機構,利用感應放大器啟動信號傳輸仿真線 的電壓做為數據讀出部分的第二輸入信號。 4·如申讀專利範圍第3項所述之感應放大器,其中所述數 據出啟動部分的第一啟動機構包括一第一 NMOS電晶 體,其閘極上施加感應放大器啟動信號,其源極連接於 數據讀出部分,而其汲極連接於位元線,藉此依照記憶 單元的數據傳输位元線的電壓做為數據讀出部分的第— 輸入信號。 , . _ 5. 如申請專利範圍第3項所述之感應放大器,其中所述數 據^出啟動部.分·骑鼻马啟動機構包括一第二NMO.S電晶 '體,其閘極上施加感應放大器啟動信號,其没極連接於 仿真線,而其源極連接於數據讀出部分,藉此傳輸仿真 線電壓做為數據讀出部分的第二輸入信號。 6. 如申請專利範圍第1項所婆之感應放大器,其中所述數 據讀出部分包括: 一第一CMOS反相琴,經數據讀出啟動部分接收第一輪 由.信號’而且串聯於電源電壓與大地之間;及 一弟一CMO§反.相器’經教據讀出啟動音收第二輪 出信號,而且串聯於電源電壓與大地之丨| 7. 如申請專利範圍第6項所述之感應放大#$中所述數 攄讀出部分内之第一與第二CMOS反相@輸出信號利 用不同的輸入信號回饋,藉此閃鎖自數據讀出啟動部分 轉來的第一與第二輸入信號。 -- ~~·-___20 中國國豕標準(CNS )八4驗(210X297公釐) *—\辞先聞讀背面之注意事項再填寫本頁} ±.二,!!. 經濟部中央標準局負工消費合作社印策 -----訂-----------------
TW086108264A 1996-06-29 1997-06-14 Sense amplifier of semiconductor memory device TW387088B (en)

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