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TW201621864A - 有機發光顯示器件及其驅動方法 - Google Patents

有機發光顯示器件及其驅動方法 Download PDF

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TW201621864A
TW201621864A TW104118276A TW104118276A TW201621864A TW 201621864 A TW201621864 A TW 201621864A TW 104118276 A TW104118276 A TW 104118276A TW 104118276 A TW104118276 A TW 104118276A TW 201621864 A TW201621864 A TW 201621864A
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TW
Taiwan
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compensation method
data
image data
organic light
compensation
Prior art date
Application number
TW104118276A
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English (en)
Inventor
梁洙敏
方成熏
柳映旭
Original Assignee
三星顯示器有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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Publication date
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Abstract

本發明揭示一種有機發光顯示器件，其包含：一顯示單元，包含複數個畫素，該等畫素各自具有一有機發光二極體(OLED)；一控制器，用以累積每一訊框之影像資料並使用一基於該所累積影像資料而確定之劣化補償方法來產生經補償影像資料，以補償各該畫素之該有機發光二極體之劣化；以及一資料驅動器，用以根據該經補償影像資料產生一資料電壓並將該資料電壓提供至該等畫素。

Description

有機發光顯示器件及其驅動方法 【優先權聲明】
本申請案主張於2014年12月15日在韓國智慧財產局(Korean Intellectual Property Office)提出申請之第10-2014-0180364號韓國專利申請案之優先權及權利，該韓國專利申請案之揭露內容以引用方式全文併入本文中。
本發明實施例之態樣是關於一種有機發光顯示器件及其驅動方法。
最近，正在開發各種能夠解決陰極射線管(cathode ray tube；CRT)之缺點(例如重量重且體積大)之平板顯示器件。平板顯示器件之實例包含液晶顯示(liquid crystal display；LCD)器件、場發射顯示(field emission display；FED)器件、電漿顯示面板(plasma display panel；PDP)器件、及有機發光顯示器件。
有機發光顯示器件是藉由使用有機發光二極體(organic light-emitting diodes；OLEDs)來顯示一影像，該等有機發光二極體經由電子與電洞之復合(recombination)而產生光。有機發光顯示器件提供各種益處，例如響應速度快及低功率消耗。
為達成均一圖片品質，一有機發光顯示器件之畫素電路補償各畫素之薄膜電晶體(thin-film transistor；TFT)間之性質差異。此外，由於有機發光二極體之效率因在該等有機發光二極體中使用之有機材料發生劣化而隨時間降低，因此該等有機發光二極體之亮度會降低。亦即，隨著有機發光二極體不斷劣化，該等有機發光二極體之電阻不斷增加。因此，在各該有機發光二極體中流動之一電流會減小，且該等有機發光二極體之亮度會降低。
本發明實施例之態樣是關於一種有機發光顯示器件，該有機發光顯示器件能夠改良(例如，降低)可由有機發光二極體(OLED)之劣化造成的亮度退化及不規則性。
本發明實施例之態樣亦提供一種用於一有機發光顯示器件之驅動方法，該驅動方法能夠改良(例如，降低)可由有機發光二極體之劣化造成的亮度退化及不規則性。
然而，本發明之實例性實施例並不限於本文中所述之實施例。藉由參照下文所給出之本發明詳細說明，本發明所屬技術領域中之通常知識者將會更加明瞭本發明之以上及其他實例性實施例。
根據本發明之一實例性實施例，提供一種有機發光顯示器件，包含：一顯示單元(display unit)，包含複數個畫素，該等畫素各自具有一有機發光二極體(OLED)；一控制器，用以累積每一訊框之影像資料並使用一基於該所累積影像資料而確定之劣化補償方法(degradation compensation method)來產生經補償影像資料，以補償各該畫素之該有機發 光二極體之劣化；以及一資料驅動器(data driver)，用以根據該經補償影像資料產生一資料電壓並將該資料電壓提供至該等畫素。
在一實施例中，該有機發光顯示器件更包含：一感測器，用以藉由感測各該畫素之該有機發光二極體之該劣化之一程度來產生感測資料(sensing data)，其中該控制器用以基於該所累積影像資料而將一第一補償方法及一第二補償方法至少其中之一確定為該劣化補償方法，其中該第一補償方法使用該感測資料，且該第二補償方法使用該所累積影像資料。
在一實施例中，該控制器用以因應於該所累積影像資料大於第一參考資料(reference data)且小於第二參考資料而將該第一補償方法及該第二補償方法二者確定為該劣化補償方法。
在一實施例中，該控制器用以因應於該所累積影像資料小於該第一參考資料而將該第一補償方法確定為該劣化補償方法，並因應於該所累積影像資料大於該第二參考資料而將該第二補償方法確定為該劣化補償方法，其中該第二參考資料大於該第一參考資料。
在一實施例中，因應於該第一補償方法及該第二補償方法二者被確定為該劣化補償方法，該控制器更用以藉由根據一基於該所累積影像資料而計算之比率將一由該第一補償方法產生之補償量(compensation amount)與一由該第二補償方法產生之補償量相加來計算一最終補償量，並使用該最終補償量來產生該經補償影像資料。
在一實施例中，該比率是藉由將該所累積影像資料與該第一參考資料之差除以該第二參考資料與該第一參考資料之差而計算。
在一實施例中，該感測器用以藉由如下操作來產生該感測 資料：向各該畫素施加一感測電壓，並量測根據該感測電壓而在各該畫素之該有機發光二極體中流動之一電流。
在一實施例中，該有機發光顯示器件更包含：一感測器，用以藉由感測各該畫素之該有機發光二極體之該劣化之一程度來產生感測資料，其中該控制器用以因應於該所累積影像資料繼續被累積而自一第一補償方法切換至一第二補償方法，其中該第一補償方法使用該感測資料，且該第二補償方法使用該所累積影像資料。
在一實施例中，該控制器用以在自該第一補償方法切換至該第二補償方法之該切換期間提供一過渡週期(transitional period)，在該過渡週期期間，該第一補償方法及該第二補償方法二者被使用。
在一實施例中，該控制器包含一影像處理器及一影像補償器(image compensator)，其中該影像處理器用以將一自一外部源提供至該影像處理器之影像訊號處理成該影像資料，且該影像補償器用以藉由補償該影像資料來產生該經補償影像資料。
在一實施例中，該影像補償器包含一資料累積器(data accumulator)及一補償方法確定器(compensation method determiner)，其中該資料累積器用以在其中儲存該影像資料，且該補償方法確定器用以根據該所累積影像資料來確定該劣化補償方法。
根據本發明之一實例性實施例，提供一種用於一有機發光顯示器件之驅動方法，該有機發光顯示器件包含複數個畫素，該等畫素各自具有一有機發光二極體，該驅動方法包含：累積每一訊框之影像資料，並基於該所累積影像資料而確定一劣化補償方法；基於該所確定劣化補償 方法而為各該畫素計算一補償量；藉由根據該所計算補償量對該影像資料進行補償來產生經補償影像資料；以及基於該經補償影像資料而產生一資料電壓。
在一實施例中，該確定該劣化補償方法之步驟包含：基於該所累積影像資料而將一第一補償方法及一第二補償方法至少其中之一確定為欲使用之該劣化補償方法，且其中該第一補償方法使用藉由量測各該畫素之該有機發光二極體之劣化之一程度而獲得之感測資料，且該第二補償方法使用該所累積影像資料。
在一實施例中，因應於該所累積影像資料大於第一參考資料且小於第二參考資料而將該第一補償方法及該第二補償方法二者確定為欲使用之該劣化補償方法。
在一實施例中，因應於該所累積影像資料小於第一參考資料而將該第一補償方法確定為欲使用之該劣化補償方法，且因應於該所累積影像資料大於第二參考資料而將該第二補償方法確定為欲使用之該劣化補償方法，其中該第二參考資料大於該第一參考資料。
在一實施例中，因應於該第一補償方法及該第二補償方法二者被確定為欲使用之該劣化補償方法，藉由根據一基於該所累積影像資料而計算之比率將一由該第一補償方法產生之補償量與一由該第二補償方法產生之補償量相加來計算一最終補償量，且該經補償影像資料是使用該最終補償量而產生。
在一實施例中，該比率是藉由將該所累積影像資料與第一參考資料之差除以第二參考資料與該第一參考資料之差而計算。
在一實施例中，該驅動方法更包含：自一第一補償方法切換至一第二補償方法，其中因應於該所累積影像資料繼續被累積，該第一補償方法使用藉由量測各該畫素之該有機發光二極體之劣化之一程度而獲得之感測資料，且該第二補償方法使用該所累積影像資料。
在一實施例中，該自該第一補償方法切換至該第二補償方法之步驟包含：在自該第一補償方法切換至該第二補償方法之該切換期間提供一過渡週期，在該過渡週期期間，該第一補償方法及該第二補償方法二者被使用。
在一實施例中，該感測資料是藉由如下操作而獲得：向各該畫素施加一感測電壓，並量測根據該感測電壓而在各該畫素之該有機發光二極體中流動之一電流。
根據該等實例性實施例，可自一有機發光顯示器件收集精確之劣化資訊。
此外，可藉由基於所收集劣化資訊執行劣化補償來改良(例如，降低或補償)亮度退化及不規則性。
依據以下詳細說明、圖式、及申請專利範圍，其他特徵及實例性實施例將顯而易見。
10‧‧‧有機發光顯示器件
110‧‧‧顯示單元
110a‧‧‧第一區域
110b‧‧‧第二區域
110c‧‧‧第三區域
120‧‧‧控制單元
121‧‧‧訊號處理器
122‧‧‧影像處理器
123‧‧‧影像補償器
123a‧‧‧資料累積器
123b‧‧‧補償方法確定器
123c‧‧‧資料補償器
130‧‧‧資料驅動單元
140‧‧‧掃描驅動單元
150‧‧‧感測單元
C‧‧‧電容器
CD‧‧‧補償確定資料
CONT1~CONT3‧‧‧第一驅動控制訊號至第三驅動控制訊號
CP1‧‧‧第一補償方法
CP2‧‧‧第二補償方法
CS‧‧‧控制訊號
d1‧‧‧第一方向
d2‧‧‧第二方向
D1~Dm‧‧‧資料電壓
DATA‧‧‧影像資料
DATA1‧‧‧經補償影像資料
Dj‧‧‧第j資料電壓
DL1~DLm‧‧‧資料線
DLj‧‧‧第j資料線
EL‧‧‧有機發光二極體
ELVDD‧‧‧第一電源電壓
ELVSS‧‧‧第二電源電壓
G1~Gn‧‧‧感測控制訊號
Gi‧‧‧第i感測控制訊號
GL1~GLn‧‧‧感測控制線
GLi‧‧‧第i感測控制線
N1‧‧‧第一節點
N2‧‧‧第二節點
PX‧‧‧畫素
PXij‧‧‧畫素
P11~Pnm‧‧‧畫素
R、G、B‧‧‧影像訊號
S110~S140‧‧‧步驟
S1~Sn‧‧‧掃描訊號
SD‧‧‧感測資料
Si‧‧‧第i掃描訊號
SL1~SLn‧‧‧掃描線
SLi‧‧‧第i掃描線
SP‧‧‧所累積資料
SP1‧‧‧第一參考資料
SP2‧‧‧第二參考資料
T1~T3‧‧‧第一電晶體至第三電晶體
第1圖是根據本發明一實例性實施例，一種有機發光顯示器件之方塊圖。
第2圖是根據本發明一實例性實施例，有機發光顯示器件 之一畫素之電路圖。
第3圖是第1圖所例示一控制單元之方塊圖。
第4圖是第3圖所例示一影像補償器之方塊圖。
第5圖是一曲線圖，其例示第一補償方法及第二補償方法之補償精度(compensation precision)根據所累積資料量之變化。
第6圖是一可被應用不同劣化補償方法之顯示面板之示意圖。
第7圖是例示根據本發明一實例性實施例，一種用於一有機發光顯示器件之驅動方法之流程圖。
藉由參照下文對較佳實施例之詳細說明、及圖式，將會更容易地理解本發明之態樣及特徵以及達成該等態樣及特徵之方法。然而，本發明可實施為諸多不同形式而不應被理解為僅限於本文中所述之實施例。更確切而言，提供此等實施例是為了使本發明透徹及完整起見，且向熟習此項技術者全面地傳達本發明之概念，且本發明將由隨附申請專利範圍及其等效內容界定。在本說明書通篇中，相同參考編號表示相同元件。
本文中所使用之術語僅用於闡述特定實施例而並非旨在限制本發明。除非上下文另有清晰指示，否則本文中所使用之單數形式「一(a及an)」皆旨在亦包含複數形式。更應理解，當在本說明書中使用用語「包含(include、including、或者comprise及/或comprising)」時，是指明所陳述特徵、整數、步驟、操作、元件、及/或組件之存在，但並不排除一或多個 其他特徵、整數、步驟、操作、元件、組件、及/或其群組之存在或添加。
將理解，當將一元件或層稱作位於另一元件或層「上」、「連接至」、或「耦合至」另一元件或層時，該元件或層可以是直接位於該另一元件或層上、連接至、或耦合至該另一元件或層，抑或可能存在中間元件或層。相比而言，當將一元件稱作「直接」位於另一元件或層「上」、「直接連接至」、或「直接耦合至」另一元件或層時，則不存在中間元件或層。本文中所使用之用語「及/或(and/or)」包含相關列出項其中之一或多個項之任意及所有組合。
將理解，雖然本文中可使用用語第一、第二等來闡述各種元件、組件、區域、層及/或區段，但此等元件、組件、區域、層及/或區段不應受此等用語限制。此等用語僅用於將一個元件、組件、區域、層、或區段與另一區域、層、或區段區分開。因此，下文所論述之一第一元件、組件、區域、層、或區段可稱為一第二元件、組件、區域、層、或區段，此並不背離本發明之教示內容。
為便於說明，本文中可使用諸如「在……下面」、「在……下方」、「下部」、「在……上方」、「上部」等空間相對關係用語來闡述如各圖中所例示一個元件或特徵與另一(些)元件或特徵之關係。將理解，該等空間相對關係用語旨在除圖中所繪示之取向以外亦囊括器件在使用或運作時之不同取向(Orientations)。舉例而言，若將圖中之器件翻轉，則闡述為在其他元件或特徵「下方」或「下面」之元件則將被取向為在其他元件或特徵「上方」。因此，實例性用語「在……下方」可囊括在……上方及在……下方二種取向。可以其他方式對器件進行取向(旋轉90度或以其他取向形式)，且本文中所使用之空間相對關係將相應地進行解釋。
本文中所使用之用語「及/或」包含相關列出項其中之一或多個項之任意及所有組合。當諸如「至少其中之一(at least one of)」等表達語位於一系列元件之前時，是修飾整個系列元件而非修飾該系列中之個別元件。此外，在闡述發明性概念之實施例時所使用之「可(may)」是表示「發明性概念之一或多個實施例」。此外，用語「實例性(exemplary)」旨在表示一實例或例證。
本文中所使用之用語「實質上(substantially)」、「約(about)」、及類似用語是用作近似用語而非用作程度用語，且旨在將此項技術中之通常知識者將認識到的所量測或所計算值之固有變化考量在內。
本文中所使用之用語「使用(use、using及used)」可分別被視為與用語「利用(utilize、utilizing及utilized)」同義。
可利用任何適合硬體、韌體(例如，一應用專用積體電路(application-specific integrated circuit))、軟體、或軟體、韌體及硬體之一適合組合來實施根據本文所述本發明實施例之有機發光顯示器件及/或任何其他相關器件或組件。舉例而言，該有機發光顯示器件之各種組件可形成於一個積體電路(integrated circuit；IC)晶片上或單獨之積體電路晶片上。此外，該有機發光顯示器件之各種組件可實施於一撓性印刷電路膜(flexible printed circuit film)、一膠帶載體封裝(tape carrier package；TCP)、一印刷電路板(printed circuit board；PCB)上，或者可形成於同一基板上。此外，該有機發光顯示器件之各種組件可以是一種程序(process)或執行緒(thread)，該程序或執行緒在一或多個計算器件中之一或多個處理器上運行、用於執行電腦程式指令並與其他系統組件互動以執行本文中所述之各種功能。該等電腦程式指令儲存於可使用一標準記憶體器件(例如，一隨 機存取記憶體(random access memory；RAM))而於一計算器件中實施之一記憶體中。該等電腦程式指令亦可儲存於其他非暫時性電腦可讀媒體(non-transitory computer readable media)(例如，光碟只讀記憶體(Compact Disc Read-Only Memory；CD-ROM)、隨身碟(flash drive)等)中。此外，熟習此項技術者應認識到，各種計算器件之功能可被組合或整合至單一計算器件中，或者一特定計算器件之功能可跨一或多個其他計算器件分佈，此並不背離本發明實例性實施例之範圍。
本文中參照作為理想化實施例(及中間結構)之示意圖的剖視圖來闡述實施例。因此，預期會因例如製造技術及/或容差(Tolerances)而與各圖所示之形狀有所變化。因此，此等實施例不應被理解為僅限於本文所例示之特定區域形狀。舉例而言，被例示為一矩形之一經植入區域通常將具有圓形或彎曲特徵，及/或在其邊緣處具有一植入濃度梯度而非自經植入區域至未植入區域具有二元變化(binary change)。同樣，藉由植入操作來形成一隱埋區域(buried region)可能會在該隱埋區域與進行該植入所經由之表面間之區域中引起某種程度之植入。因此，各圖中所例示之區域本質上是示意性的，且其形狀並非旨在例示一器件之一區域之實際形狀，且並非旨在限制本發明之範圍。
除非另有定義，否則本文中所使用之所有術語(包含技術及科學術語)皆具有與本發明所屬技術領域中之通常知識者通常所理解之含義相同的含義。更應理解，諸如常用字典中所定義之術語等術語應被解釋為具有與其在相關技術及本說明書之背景中之含義相一致之含義，而將不被解釋為具有理想化或過度正式之意義，除非本文中明確如此定義。
下文將參照圖式來闡述實例性實施例。
第1圖是根據本發明一實例性實施例，一種有機發光顯示器件之方塊圖；以及第2圖是根據本發明一實例性實施例，有機發光顯示器件之一畫素之電路圖。
參照第1圖及第2圖，一有機發光顯示器件100包含一顯示單元110、一控制單元(例如，一控制器)120、一資料驅動單元(例如，一資料驅動器)130、一掃描驅動單元(例如，一掃描驅動器)140、及一感測單元(例如，一感測器)150。
顯示單元110可以是用於在其中顯示一影像之一區域。顯示單元110可包含複數條掃描線SL1至SLn(其中n是一大於1之自然數)、複數條與掃描線SL1至SLn交叉之資料線DL1至DLm(其中m是一大於1之自然數)、以及複數個由掃描線SL1至SLn與資料線DL1至DLm界定之畫素PX。資料線DL1至DLm可與掃描線SL1至SLn交叉並絕緣。亦即，資料線DL1至DLm可沿一第一方向d1延伸，且掃描線SL1至SLn可沿一第二方向d2延伸，第二方向d2與第一方向d1相交。第一方向d1可以是一行方向，且第二方向d2可以是為一列方向。顯示單元110亦可包含複數條感測控制線GL1至GLn。感測控制線GL1至GLn可延伸以分別與掃描線SL1至SLn對應。亦即，如同掃描線SL1至SLn，感測控制線GL1至GLn可沿第二方向d2延伸。
畫素PX可被排列成一矩陣形式。各該畫素PX皆可由掃描線SL1至SLn其中之一、資料線DL1至DLm其中之一、及感測控制線GL1至GLn其中之一界定。亦即，各該畫素PX皆可連接至掃描線SL1至SLn其中之一、資料線DL1至DLm其中之一、及感測控制線GL1至GLn其中之一。各該畫素PX可包含至少一個有機發光二極體(OLED)「EL」。因此，各該畫素可發射具有與一資料電壓對應之亮度之光，該資料電壓是因應於經由掃描 線SL1至SLn其中之一接收到一掃描訊號而經由資料線DL1至DLm其中之一提供至各該畫素。可藉由一電晶體來感測有機發光二極體「EL」之劣化資訊(例如，劣化位準)，該電晶體是藉由感測控制線GL1至GLn其中之一導通。
第2圖例示顯示單元110中所包含之畫素PX其中之任一者之電路。亦即，第2圖例示與一第i掃描線SLi及一第j資料線DLj連接之一畫素PX之結構，然而，畫素PX之結構並不限於第2圖所示之結構。參照第2圖，畫素PX可包含一第一電晶體T1、一第二電晶體T2、一第三電晶體T3、一第一電容器C、及一有機發光二極體「EL」。
第一電晶體T1可包含一連接至第i掃描線SLi之閘電極、一連接至第j資料線DLj之第一電極、及連接至一第一節點N1之一第二電極。第一電晶體T1可由一施加至第i掃描線SLi的具有一閘極導通電壓(gate-on voltage)之第i掃描訊號Si導通，且可將一施加至第j資料線DLj之第j資料電壓Dj傳送至第一節點N1。第一電晶體T1可以是為一切換電晶體，其用於選擇性地將第j資料電壓Dj提供至一驅動電晶體。在一實例性實施例中，第一電晶體T1、第二電晶體T2、及第三電晶體T3皆可以是為p通道場效電晶體(field effect transistor；FET)。亦即，第一電晶體T1可由具有一低位準電壓之一掃描訊號導通，且可由具有一高位準電壓之一掃描訊號斷開。然而，本發明並不限於此實例性實施例。亦即，在一替代實例性實施例中，第一電晶體T1、第二電晶體T2、及第三電晶體T3可以是為n通道場效電晶體。
第二電晶體T2可包含一連接至第一節點N1之閘電極、一連接至第一電源電壓ELVDD之第一電極、及一連接至一第二節點N2之第二電極。第一電容器C可位於第一節點N1與第一電源電壓ELVDD之間。第一電 容器C可被充以第j資料電壓Dj，且充給第一電容器C之資料電壓可被提供至第二電晶體T2之閘電極。有機發光二極體「EL」之陽極電極可連接至第二節點N2。第二電晶體T2可以是為一驅動電晶體，且可根據第一節點N1之電壓來控制自第一電源電壓ELVDD施加至有機發光二極體「EL」之一驅動電流。
有機發光二極體「EL」可包含一連接至第二節點N2之陽極電極、一連接至第二電源電壓ELVSS之陰極電極、及一有機發光層。該有機發光層可發射具有三種原色(亦即，紅色、綠色及藍色)其中之一的光。可藉由該三種原色之一空間和或時間和來表示一種所需色彩。該有機發光層可包含與每一種色彩對應之一低分子有機材料或一高分子有機材料。與每一種色彩對應之有機材料可根據在該有機發光層中流動(例如，通過)該有機發光層之電流量而產生並發射光。
第三電晶體T3可包含一連接至一第i感測控制線GLi之閘電極、一連接至第j資料線DLj之第一電極、及一連接至第二節點N2之第二電極。可在一感測模式被啟用時提供一第i感測控制訊號Gi。在感測模式期間，可將具有一預設或預定位準之一感測電壓Vgp提供至第二電晶體T2之閘電極，且可因感測電壓Vgp而產生具有一預設或預定位準之一電流。可經由第j資料線DLj提供感測電壓Vgp；然而，本發明並非僅限於此。亦即，可經由除一資料線以外之一線來提供感測電壓Vgp。在有機發光二極體「EL」中流動之電流量可能會降低，且可根據有機發光二極體「EL」之劣化程度而變化。亦即，可藉由感測流入至有機發光二極體「EL」中之電流量來量測有機發光二極體「EL」之劣化資訊(例如，劣化位準)。可經由第三電晶體T3來量測一流入至第二節點N2之電流。舉例而言，可經由與第三電晶體 T3之第一電極連接之第j資料線DLj來量測流入至第二節點N2之電流，然而，本發明並非僅限於此。稍後將更詳細地闡述對流入至第二節點N2之電流進行之量測。
控制單元120可接收一控制訊號CS及一影像訊號「R、G、B」。影像訊號「R、G、B」可包含畫素PX之亮度資訊。該亮度資訊可包含一預定數目個灰階，例如，1024個、256個、或64個灰階。控制訊號CS可包含一垂直同步訊號Vsync、一水平同步訊號Hsync、一資料啟動訊號DE、及一時脈訊號CLK。控制單元120可根據影像訊號「R、G、B」及控制訊號CS而產生第一驅動控制訊號CONT1至第三驅動控制訊號CONT3以及影像資料DATA。控制單元120可藉由以下操作來產生影像資料DATA：根據垂直同步訊號Vsync以訊框為單位劃分影像訊號「R、G、B」，並根據水平同步訊號Hsync以掃描線SL1至SLn為單位劃分影像訊號「R、G、B」。控制單元120可補償影像資料DATA，且可將經補償影像資料DATA1與第一驅動控制訊號CONT1一起傳送至資料驅動單元130。稍後將更詳細地闡述產生經補償影像資料DATA1之操作。控制單元120可將一第二驅動控制訊號CONT2傳送至掃描驅動單元140，且可將一第三驅動控制訊號CONT3傳送至感測單元150。
掃描驅動單元140可藉由掃描線SL1至SLn及感測控制線GL1至GLn連接至顯示單元110。第二驅動控制訊號CONT2可以是為一用於控制輸出複數個掃描訊號S1至Sn及複數個感測控制訊號G1至Gn之訊號。掃描驅動單元140可將掃描訊號S1至Sn依序分別施加至掃描線SL1至SLn。掃描驅動單元140可將感測控制訊號G1至Gn分別施加至感測控制線GL1至GLn，以量測顯示單元110之各該畫素PX之劣化資訊(例如，量測各該畫素PX之劣化位準)。可在感測模式被啟用時提供感測控制訊號G1至Gn。亦即， 掃描驅動單元140可將感測控制訊號G1至Gn提供至顯示單元110。為此，掃描驅動單元140可包含：一移位暫存器(shift register)，用於將掃描訊號S1至Sn依序分別施加至掃描線SL1至SLn；一感測模組，用於將一感測控制訊號施加至與一或多個欲被量測一電流之畫素連接之一感測控制線；以及一切換電路，用於經由一切換操作來選擇該移位暫存器或該感測模組。
資料驅動單元130可連接至顯示單元110之資料線DL1至DLm。資料驅動單元130可藉由以下操作來產生複數個資料電壓D1至Dm：根據第一驅動控制訊號CONT1對輸入至資料驅動單元130之經補償影像資料DATA1進行取樣及保持，並將所取樣及保持之影像資料轉換成類比電壓資料。資料驅動單元130可將資料電壓D1至Dm分別傳送至資料線DL1至DLm。顯示單元110之各該畫素PX可由具有一閘極導通電壓之掃描訊號S1至Sn其中之一導通，且可被提供資料電壓D1至Dm其中之一。
感測單元150可根據第三驅動控制訊號CONT3而產生具有一預設或預定位準之感測電壓Vgp，且可將感測電壓Vgp提供至畫素PX。感測單元150可由第三驅動控制訊號CONT3啟用。可在有機發光顯示器件10之運作期間執行感測模式，然而，本發明並非僅限於此。在實例性實施例中，可啟用有機發光顯示器件10之感測單元150，以在有機發光顯示器件10正被導通或斷開時產生感測資料。
感測單元150可將感測電壓Vgp提供至資料線DL1至DLm，然而，本發明並非僅限於此。亦即，當感測單元150提供感測電壓Vgp時，自其輸出資料電壓D1至Dm之互連線與資料線DL1至DLm可彼此斷開。如上文所提及，感測單元150可量測在第二節點N2中流動之電流量。感測單元150可包含複數個分別連接至資料線DL1至DLm之讀出電路(read-out circuit)，且可經由資料線DL1至DLm來量測在各該畫素PX之有機發光二極體「EL」中流動之電流量。感測單元150可將所量測電流量轉換成一數位值。感測單元150可經由對該數位值進行映射而產生感測資料SD，且可將感測資料SD提供至控制單元120。控制單元120可藉由基於感測資料SD補償影像資料DATA而產生經補償影像資料DATA1。藉由感測單元150感測劣化資訊(例如，劣化位準)之操作並不限於本文中所述之方法。下文將更詳細地闡述藉由控制單元120產生經補償影像資料DATA1之操作。
第3圖是為第1圖所例示控制單元之方塊圖。第4圖是第3圖所例示一影像補償器之方塊圖。第5圖是為一曲線圖，其例示第一補償方法及第二補償方法之補償精度根據所累積資料量之變化。第6圖是可被應用不同劣化補償方法之一顯示面板之示意圖。
參照第3圖至第6圖，控制單元120可包含一訊號處理器121、一影像處理器122、及一影像補償器123。訊號處理器121可產生第一驅動控制訊號CONT1、第二驅動控制訊號CONT2、及第三驅動控制訊號CONT3。影像處理器122可藉由處理影像訊號「R、G、B」而產生影像資料DATA。影像補償器123可藉由補償影像資料DATA而產生經補償影像資料DATA1。經補償影像資料DATA1可以是為藉由補償各該畫素PX之有機發光二極體「EL」之劣化而獲得之影像資料。亦即，鑒於各該畫素之有機發光二極體「EL」之亮度因各該畫素PX之有機發光二極體「EL」發生劣化而隨時間降低，影像補償器123可藉由補償影像資料DATA來使得向已劣化畫素PX施加之一電壓可高於向未劣化或劣化程度較輕之畫素PX施加之電壓而產生經補償影像資料DATA1。
影像補償器123可使用至少一種補償方法來補償輸入至各 該畫素PX之影像資料DATA。影像補償器123可使用由感測單元150產生之感測資料SD來補償影像資料DATA。亦即，影像補償器123可基於感測資料SD而偵測已嚴重劣化之畫素PX，且可補償輸入至已嚴重劣化之畫素PX之影像資料DATA，以防止或實質上防止出現亮度不規則性。
影像補償器123可使用所累積資料SP來補償影像資料DATA。所累積資料SP可以是為藉由累積複數個先前訊框及一當前訊框之影像資料DATA而獲得之資料。亦即，影像補償器123可為各該畫素PX累積該等先前訊框及該當前訊框之影像資料DATA，且可基於所累積資料而補償欲輸入至各該畫素PX之影像資料DATA。大量之所累積資料SP可意味著，各該畫素PX之有機發光二極體「EL」已發射光達一長時間，且因此各該畫素PX之有機發光二極體「EL」之劣化亦已持續一長時間。在一畫素PX與另一畫素PX之間，所累積資料SP可變化。影像補償器123可藉由分析所累積資料SP而偵測已嚴重劣化之畫素PX，且可補償欲輸入至所偵測畫素PX之影像資料DATA，以防止或實質上防止出現亮度不規則性。
將一種使用所累積資料SP進行之應力剖面儀補償方法(stress profiler compensation method)定義為一第一補償方法CP1，並將一種使用感測資料SD進行之基於直接量測之補償方法(direct measurement-based compensation method)定義為一第二補償方法CP2。第一補償方法CP1及第二補償方法CP2之效率，如第5圖中所例示。
舉例而言，參照第5圖，一第一軸線表示單一畫素PX之所累積資料SP，且大量之所累積資料SP意味著該畫素之有機發光二極體「EL」之劣化已持續一長時間。一與第一軸線相交之第二軸線表示補償精度。一種使用所累積資料SP進行之應力剖面儀補償方法(亦即，第一補償方法CP1) 可在其一早期階段具有一高補償精度；然而，該應力剖面儀補償方法之補償精度可隨著所累積資料SP之量增加而逐漸降低。另一方面，第二補償方法CP2(其涉及自畫素之有機發光二極體「EL」直接量測一電流)可因難以偵測流動電流量之任何差異而在其一早期階段具有一低補償精度；然而，該第二補償方法之補償精度可隨著畫素之有機發光二極體「EL」之劣化進展而逐漸提高。
影像補償器123可根據所累積資料SP之量而對各該畫素PX應用不同補償方法。在尚存僅少量所累積資料SP之一情形中，亦即，在各該畫素之有機發光二極體「EL」尚未發生多少劣化之一情形中，影像補償器123可對各該畫素PX應用第一補償方法CP1。另一方面，在各該畫素之有機發光二極體「EL」已發生嚴重劣化之一情形中，影像補償器123可對各該畫素PX應用第二補償方法CP2。亦即，影像補償器123可根據所累積資料SP之量而非根據各該畫素PX被驅動之時間量而自一種補償方法切換至另一種補償方法。畫素PX已劣化之程度可能根據各該畫素PX被驅動之時間量而變化。因此，可藉由根據所累積資料SP之量而非根據各該畫素PX被驅動之時間量自一種補償方法切換至另一種補償方法而提供一高補償精度。第一補償方法CP1與第二補償方法CP2可產生不同補償量，且因此，在自第一補償方法CP1切換至第二補償方法CP2之切換期間可能會出現亮度不規則性。為防止或實質上防止此種亮度不規則性，可在自第一補償方法CP1切換至第二補償方法CP2之切換期間提供一過渡週期，在該過渡週期期間，第一補償方法CP1及第二補償方法CP2二者可被使用。下文將闡述影像補償器123之結構。
影像補償器123可包含一資料累積器123a、一補償方法確 定器123b、及一資料補償器123c。
資料累積器123a可以是為一記憶體器件，且可以是一用於在其中儲存影像資料DATA之空間。補償方法確定器123b可將一當前訊框之影像資料DATA儲存於資料累積器123a中，且可自資料累積器123a讀出所累積資料SP。所讀出之所累積資料SP可以是當前訊框之影像資料DATA被反映成的資料。
補償方法確定器123b可將各該畫素PX之所累積資料SP與第一參考資料SP1及第二參考資料SP2相比較。第一參考資料SP1及第二參考資料SP2可以是用於確定是否將自一種補償方法切換至另一種補償方法之參考資料，且第二參考資料SP2可大於第一參考資料SP1。舉例而言，因應於所累積資料SP小於第一參考資料SP1，補償方法確定器123b可選擇僅使用第一補償方法CP1，且可藉由應用第一補償方法CP1來產生經補償影像資料DATA1。因應於所累積資料SP大於第一參考資料SP1且小於第二參考資料SP2，補償方法確定器123b可選擇使用第一補償方法CP1及第二補償方法CP2二者。因應於所累積資料SP大於第二參考資料SP2，補償方法確定器123b可選擇僅使用第二補償方法CP2。在一畫素PX與另一畫素PX之間，所累積資料SP可變化。
因此，在一畫素PX與另一畫素PX之間，一種用以對各該畫素PX之有機發光二極體「EL」之劣化進行補償之劣化補償方法可不同。舉例而言，參照第6圖，可對如下畫素應用不同補償方法：已發生嚴重劣化之一第一區域110a中之畫素、已發生劣化但程度並不像第一區域110a那樣嚴重之一第二區域110b中之畫素、及尚未發生多少劣化之一第三區域110c中之畫素。然而，如第6圖所例示對第一區域110a、第二區域110b、及第三區域 110c之分類僅是實例性的，且畫素之劣化型樣並不限於第6圖所述者。可對第一區域110a應用第二補償方法CP2，可對第二區域110b應用第一補償方法CP1及第二補償方法CP2二者，且可對第三區域110c應用第一補償方法CP1。補償方法確定器123b可提供：補償確定資料CD，用於指示被確定為將對輸入至各該畫素PX之影像資料DATA進行補償之一劣化補償方法；以及所累積資料SP，將用以補償輸入至各該畫素PX之影像資料DATA。
資料補償器123c可自感測單元150接收感測資料，且可自資料補償器123c接收補償確定資料CD及所累積資料SP。資料補償器123c可藉由使用由補償確定資料CD指示之劣化補償方法來補償輸入至各該畫素PX之影像資料DATA而產生經補償影像資料DATA1。資料補償器123c可根據由補償方法確定器123b確定之劣化補償方法而為各該畫素PX計算一補償量，且可使用該補償量來產生經補償影像資料DATA1。在確定欲使用第一補償方法CP1及第二補償方法CP2二者之一情形中，可使用以下方程式來計算一最終補償量ΔST：ΔST=(1-S’)×ΔSP+(S’)×ΔSD，其中ΔSP表示一基於所累積資料SP而確定之補償量，ΔSD表示一基於感測資料SD而確定之補償量，且S’表示一基於自當前訊框起所累積資料SP而確定之常數。在一實例性實施例中，可藉由以下方程式來計算常數S’，即：S’=(SP-SP1)/(SP2-SP1)，其中SP1表示第一參考資料，且SP2表示第二參考資料。可使用其中顯示針對每一既定所累積資料SP之一補償量ΔSP之查找表或使用一以所累積資料SP作為一變數之方程式來計算基於所累積資料之補償量ΔSP。亦可使用一查找表或一方程式來計算基於感測資料之補償量ΔSD。資料補償器123c可將經補償影像資料DATA1提供至資料驅動單元130。
資料驅動單元130可基於經補償影像資料DATA1而產生資 料電壓D1至Dm，且可將資料電壓D1至Dm提供至顯示單元110。因此，可給各該畫素PX提供一與藉由前述補償方法獲得之經補償影像資料對應之資料電壓。因此，任何由各該畫素PX之有機發光二極體「EL」之劣化造成之亮度不規則性皆可得以改良(例如，降低或補償)，且有機發光顯示器件10可提供一改良之顯示品質。
下文將闡述根據本發明一實例性實施例，一種用於一有機發光顯示器件之驅動方法。
第7圖是為例示根據本發明一實例性實施例，一種用於一有機發光顯示器件之驅動方法之流程圖。為更好地理解，下文將參照第7圖且更參照第1圖至第6圖來闡述根據本發明一實例性實施例，用於一有機發光顯示器件之驅動方法。
根據本發明一實例性實施例用於一有機發光顯示器件之驅動方法可包含：確定一欲使用之劣化補償方法(S110)、計算一補償量(S120)、產生經補償影像資料(S130)、及輸出複數個資料電壓(S140)。
根據本發明一實例性實施例用於一有機發光顯示器件之驅動方法可適用於第1圖至第6圖所示有機發光顯示器件10。為方便起見，可不再提供對有機發光顯示器件10之一詳細說明。
確定用以對各該畫素之有機發光二極體「EL」之劣化進行補償之一劣化補償方法(S110)。
舉例而言，一第一補償方法CP1可以是一種使用累積資料SP進行之應力剖面儀補償方法，且一第二補償方法CP2可以是一種使用感測資料SD進行之基於直接量測之補償方法。第一補償方法CP1可在各該畫素 PX之有機發光二極體「EL」並未發生多少劣化時提供一高補償精度，且第二補償方法CP2可在各該畫素PX之有機發光二極體「EL」已發生嚴重劣化時提供一高補償精度。各該畫素PX之有機發光二極體「EL」之劣化程度可與所累積資料SP之量成比例。在根據本發明一實例性實施例用於一有機發光顯示器件之驅動方法中，可基於所累積資料SP而確定用以對各該畫素PX之有機發光二極體「EL」進行補償之一劣化補償方法。可藉由根據所累積資料SP之量而非根據各該畫素PX之有機發光二極體「EL」被驅動之時間量自一種補償方法切換至另一種補償方法而均一地提供一高補償精度。第一補償方法CP1與第二補償方法CP2可產生不同補償量，且因此，在自第一補償方法CP1切換至第二補償方法CP2之切換期間可能會出現亮度不規則性。為降低或防止此種亮度不規則性，可在自第一補償方法CP1切換至第二補償方法CP2之切換期間提供一過渡週期，在該過渡週期期間，第一補償方法CP1及第二補償方法CP2二者可被使用。
可藉由將各該畫素PX之所累積資料SP與第一參考資料SP1及第二參考資料SP2相比較來確定用以對各該畫素PX之有機發光二極體「EL」進行補償之一劣化補償方法。第一參考資料SP1及第二參考資料SP2可以是用於確定是否將自一種補償方法切換至另一種補償方法之參考資料，且第二參考資料SP2可大於第一參考資料SP1。可藉由累積複數個先前訊框及一當前訊框之影像資料DATA而獲得所累積資料SP。在一畫素PX與另一畫素PX之間，所累積資料SP可變化。因此，在一畫素PX與另一畫素PX之間，劣化補償方法可不同。舉例而言，因應於所累積資料SP小於第一參考資料SP1，可將第一補償方法CP1確定為欲使用之劣化補償方法。因應於所累積資料SP大於第一參考資料SP1且小於第二參考資料SP2，可將第一補償方法CP1及第二補償方法CP2二者確定為欲使用之劣化補償方法。因應於 所累積資料SP大於第二參考資料SP2，可將第二補償方法CP2確定為欲使用之劣化補償方法。
此後，計算一補償量(S120)。
舉例而言，可根據欲使用之劣化補償方法來計算一補償量。在僅使用第一補償方法CP1之一情形中，可計算一基於所累積資料之補償量ΔSP。在僅使用第二補償方法CP2之一情形中，可計算一基於感測資料之補償量ΔSD。在使用第一補償方法CP1及第二補償方法CP2二者之一情形中，可使用以下方程式來計算一最終補償量ΔST，即：ΔST=(1-S’)×ΔSP+(S’)×ΔSD，其中S’表示一基於自當前訊框起所累積資料SP而確定之常數。在一實例性實施例中，可使用以下方程式來計算常數S’，即：S’=(SP-SP1)/(SP2-SP1)。
此後，產生經補償影像資料(S130)，且輸出複數個資料電壓(S140)。舉例而言，可藉由對影像資料DATA施用為各該畫素PX確定之補償量來獲得經補償影像資料DATA1。控制單元120之影像補償器123可將經補償影像資料DATA1提供至資料驅動單元130。資料驅動單元130可藉由以下操作來產生複數個資料電壓D1至Dm：根據一第一驅動控制訊號CONT1對輸入至資料驅動單元130之經補償影像資料DATA1進行取樣及保持，並將所取樣及保持之影像資料轉換成類比電壓資料。資料驅動單元130可將資料電壓D1至Dm分別傳送至資料線DL1至DLm。顯示單元110之各該畫素PX可由複數個具有一閘極導通電壓之掃描訊號S1至Sn其中之一導通，可被提供以資料電壓D1至Dm其中之一，且因此可對應於提供至各該畫素PX之資料電壓而發射光。亦即，各該畫素PX可被提供以與藉由被確定為欲使用之劣化補償方法而獲得之經補償影像資料對應之一資料電壓。因此， 任何由各該畫素PX之有機發光二極體「EL」之劣化造成之亮度不規則性皆可得以改良(例如，降低或補償)，且根據本發明一實例性實施例用於一有機發光顯示器件之驅動方法可提供一改良之顯示品質。
儘管已參照本發明之實例性實施例具體顯示及闡述了本發明，然而，此項技術中之通常知識者將理解，可對本發明作出各種適合之改變，此並不背離以下申請專利範圍及其等效內容所界定之本發明精神及範圍。該等實例性實施例應被視為僅具有說明性意義，而非用於限制目的。
10‧‧‧有機發光顯示器件
110‧‧‧顯示單元
120‧‧‧控制單元
130‧‧‧資料驅動單元
140‧‧‧掃描驅動單元
150‧‧‧感測單元
CONT1~CONT3‧‧‧第一驅動控制訊號至第三驅動控制訊號
CS‧‧‧控制訊號
d1‧‧‧第一方向
d2‧‧‧第二方向
D1~Dm‧‧‧資料電壓
DATA‧‧‧影像資料
DL1~DLm‧‧‧資料線
G1~Gn‧‧‧感測控制訊號
GL1~GLn‧‧‧感測控制線
PX‧‧‧畫素
S1~Sn‧‧‧掃描訊號
SD‧‧‧感測資料
SL1~SLn‧‧‧掃描線

Claims (20)

  1. 一種有機發光顯示器件，包含：一顯示單元(display unit)，包含複數個畫素，該等畫素各自具有一有機發光二極體(organic light-emitting diode；OLED)；一控制器，用以累積每一訊框之影像資料並使用一基於該所累積影像資料而確定之劣化補償方法(degradation compensation method)來產生經補償影像資料，以補償各該畫素之該有機發光二極體之劣化；以及一資料驅動器(data driver)，用以根據該經補償影像資料產生一資料電壓並將該資料電壓提供至該等畫素。
  2. 如請求項1所述之有機發光顯示器件，更包含：一感測器，用以藉由感測各該畫素之該有機發光二極體之該劣化之一程度來產生感測資料(sensing data)，其中該控制器用以基於該所累積影像資料而將一第一補償方法及一第二補償方法至少其中之一確定為該劣化補償方法，其中該第一補償方法使用該感測資料，且該第二補償方法使用該所累積影像資料。
  3. 如請求項2所述之有機發光顯示器件，其中該控制器用以因應於該所累積影像資料大於第一參考資料(reference data)且小於第二參考資料而將該第一補償方法及該第二補償方法二者確定為該劣化補償方法。
  4. 如請求項3所述之有機發光顯示器件，其中該控制器用以因應於該所累積影像資料小於該第一參考資料而將該第一補償方法確定為該劣化補 償方法，並因應於該所累積影像資料大於該第二參考資料而將該第二補償方法確定為該劣化補償方法，其中該第二參考資料大於該第一參考資料。
  5. 如請求項3所述之有機發光顯示器件，其中因應於該第一補償方法及該第二補償方法二者被確定為該劣化補償方法，該控制器更用以藉由根據一基於該所累積影像資料而計算之比率將一由該第一補償方法產生之補償量(compensation amount)與一由該第二補償方法產生之補償量相加來計算一最終補償量，並使用該最終補償量來產生該經補償影像資料。
  6. 如請求項5所述之有機發光顯示器件，其中該比率是藉由將該所累積影像資料與該第一參考資料之差除以該第二參考資料與該第一參考資料之差而計算。
  7. 如請求項2所述之有機發光顯示器件，其中該感測器用以藉由如下操作來產生該感測資料：向各該畫素施加一感測電壓，並量測根據該感測電壓而在各該畫素之該有機發光二極體中流動之一電流。
  8. 如請求項1所述之有機發光顯示器件，更包含：一感測器，用以藉由感測各該畫素之該有機發光二極體之該劣化之一程度來產生感測資料，其中該控制器用以因應於該所累積影像資料繼續被累積而自一第一補償方法切換至一第二補償方法，其中該第一補償方法使用該感測資料，且該第二補償方法使用該所 累積影像資料。
  9. 如請求項8所述之有機發光顯示器件，其中該控制器用以在自該第一補償方法切換至該第二補償方法之該切換期間提供一過渡週期(transitional period)，在該過渡週期期間，該第一補償方法及該第二補償方法二者被使用。
  10. 如請求項1所述之有機發光顯示器件，其中該控制器包含一影像處理器及一影像補償器(image compensator)，其中該影像處理器用以將一自一外部源提供至該影像處理器之影像訊號處理成該影像資料，且該影像補償器用以藉由補償該影像資料來產生該經補償影像資料。
  11. 如請求項10所述之有機發光顯示器件，其中該影像補償器包含一資料累積器(data accumulator)及一補償方法確定器(compensation method determiner)，其中該資料累積器用以在其中儲存該影像資料，且該補償方法確定器用以根據該所累積影像資料來確定該劣化補償方法。
  12. 一種用於一有機發光顯示器件之驅動方法，該有機發光顯示器件包含複數個畫素，該等畫素各自具有一有機發光二極體，該驅動方法包含：累積每一訊框之影像資料，並基於該所累積影像資料而確定一劣化補償方法；基於該所確定劣化補償方法而為各該畫素計算一補償量；藉由根據該所計算補償量對該影像資料進行補償來產生經補償影像資料；以及基於該經補償影像資料而產生一資料電壓。
  13. 如請求項12所述之驅動方法，其中該確定該劣化補償方法之步驟包含：基於該所累積影像資料而將一第一補償方法及一第二補償方法至少其中之一確定為欲使用之該劣化補償方法，以及其中該第一補償方法使用藉由量測各該畫素之該有機發光二極體之劣化之一程度而獲得之感測資料，且該第二補償方法使用該所累積影像資料。
  14. 如請求項13所述之驅動方法，其中因應於該所累積影像資料大於第一參考資料且小於第二參考資料而將該第一補償方法及該第二補償方法二者確定為欲使用之該劣化補償方法。
  15. 如請求項13所述之驅動方法，其中因應於該所累積影像資料小於第一參考資料而將該第一補償方法確定為欲使用之該劣化補償方法，且因應於該所累積影像資料大於第二參考資料而將該第二補償方法確定為欲使用之該劣化補償方法，其中該第二參考資料大於該第一參考資料。
  16. 如請求項13所述之驅動方法，其中因應於該第一補償方法及該第二補償方法二者被確定為欲使用之該劣化補償方法，藉由根據一基於該所累積影像資料而計算之比率將一由該第一補償方法產生之補償量與一由該第二補償方法產生之補償量相加來計算一最終補償量，且該經補償影像資料是使用該最終補償量而產生。
  17. 如請求項16所述之驅動方法，其中該比率是藉由將該所累積影像資料與第一參考資料之差除以第二參考資料與該第一參考資料之差而計算。
  18. 如請求項12所述之驅動方法，更包含：自一第一補償方法切換至一第二補償方法，其中因應於該所累積影像資料繼續被累積，該第一補償方法使用藉由量測各該畫素之該有機發光二極體之劣化之一程度而獲得之感測資料，且該第二補償方法使用該所累積影像資料。
  19. 如請求項18所述之驅動方法，其中該自該第一補償方法切換至該第二補償方法之步驟包含：在自該第一補償方法切換至該第二補償方法之該切換期間提供一過渡週期，在該過渡週期期間，該第一補償方法及該第二補償方法二者被使用。
  20. 如請求項18所述之驅動方法，其中該感測資料是藉由如下操作而獲得：向各該畫素施加一感測電壓，並量測根據該感測電壓而在各該畫素之該有機發光二極體中流動之一電流。
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