SU146090A1 - Устройство дл безокислительного напылени реплик - Google Patents
Устройство дл безокислительного напылени репликInfo
- Publication number
- SU146090A1 SU146090A1 SU677689A SU677689A SU146090A1 SU 146090 A1 SU146090 A1 SU 146090A1 SU 677689 A SU677689 A SU 677689A SU 677689 A SU677689 A SU 677689A SU 146090 A1 SU146090 A1 SU 146090A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- sample
- vacuum
- replicas
- spraying
- oxidative
- Prior art date
Links
Landscapes
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Description
Известны устройства дл безокислительного напылени реплик, состо щие из вакуумной камеры, внутри которой установлен образец, подвергаемый воздействию раст гиваемых напр жений и нагреву в широком интервале температур, и оптического устройства дл наблюдени и фотографировани микроструктуры поверхности образца в процессе, а также дл выбора, подлежащего исследованию на электронном микроскопе.
Описываемое устройство отличаетс от известных тем, что оно снабжено испарителем, например в виде спирали из молибденовой проволоки , перемещение которого вдоль испытуемого образца осуществл ют посредством винтового стержн и вакуумного уплотнител , установленных в полости корпуса устройства. Это обесп ечивает испарение и осаждение конденсата при нанесении кварцевых, металлических и угольных реплик на выбранную поверхность образца без предварительного извлечени его из рабочей вакуумной камеры.
На фиг. 1 изображена принципиальна схема од ого из вариантов устройства; на фиг. 2 - схема устройства дл напылени угольных реплик на поверхность исследуемого при нагреве в вакууме металлического образца.
Вакуумна рабоча камера устройства состоит из металлических корпуса / и крышки 2- Исследуемый образец 3 укреплен в захватах 4 и 5. Один конец образца 5 щарнирно соединен с неподвижной опорой 6, жестко св занной с корпусом 1, а второй конец образца через захват 4 и электрически изолирующий его шарнир 7 подвергаетс воздействию раст гивающих напр жений, передаваемых т ге 8- Дл обеспечени возможности перемещени т ги 8 без нарушени герметичности вакуумной камеры служит сильфон 9. Нагрев образца производитс пропусканием по нему переменного тока промышленной частоты (50 гц), подводимого от трансформатора 10 к водоохлаждаемым элект№ 146090- 2,родам // и 12. Последние проход т через специальные вакуумные уплотнени в корпусе. Измерение температуры образца производитс при помощи термопары 13, спай которой приварен к средней части образца , а выводы, пропущенные через вакуумное уплотнение, подключены к гальванометру 14. Откачка воздуха и газов из рабочей камеры осуществл етс через патрубок 15 вакуумной системы (на чертеже не показана ), а патрубок 16 предназначен дл присоединени к вакууйметру . Наблюдение и фотографирование микроструктуры поверхности образца осуществл етс через смотровое кварцевое стекло 17. Объектив 18 металлографического микроскопа обращен к полированной поверхности образца 3. Заслонка /9, приводима в движение руко ткой 20 через коническое вакуумное уплотнение 21, служит дл предотвращени осаждени на смотровом стекле испар ющихс частиц при высокотемпературном нагреве металла (образца и деталей описываемого ниже устройства дл напылени реплик).
Напыление на поверхность образца кварцевых или металлических реплик осуществл етс следующим образом.
Подлежащий напылению материал 22 помещаетс в испаритель 23 (например в спираль из вольфрамовой проволоки). Питание обмотки испарител производитс от трансформатора 24- Ввод питающего напр жени в рабочую камеру осуществл етс через вакуумное уплотнение 25- Дл перемещени в вакууме испарител 23 вдоль образца служит винт 26, приводимый во вращение руко ткой 27 через вакуумное уплотнение 28. При этом сухарь 29 нередвигаетс в направл ющем пазу в опоре 6. В металлическом экране 30 имеетс отверстие, размещенное над образцом по оси испарител . Через это отверстие может производитьс выбор подлежащего исследованию в электронном микросконе участка поверхности, проходить при нанесении реплики поток испар ющихс частиц, а также осуществл тьс фотографирование микроструктуры. При рассматривании микроструктуры испаритель 23 отводитс в сторону от отверсти в экране 30- Дл этой цели предназначен рычаг 31, управл емый руко ткой 32 через вакуумное уплотнение 33. Поворот испарител производитс на оси 34Напыление угольных реплик на поверхность исследуемого при нагреве в вакууме металлического образца осуществл етс следующим образом.
Испытуемый образец 35 (см. фиг- 2), прикрепленный к электроду 36, размещен в вакуумной камере, образуемой корпусом 37 и крыщкой 38. На поверхность образца 35 осаждаетс графит, испар ющийс при горении электрической дупи 39 между угольными электродами 40 и 41- Поворотный экран 42 служит дл предохранени от напылени графита на смотровое стекло 43, а дл ограничени зоны осаждени графита на образце служит передвижкой экран 44. Управление перемещением угольных электродов осуществл етс через электрические изолированные от корпуса камеры вакуу.мные уплотнени 45. Источник 46, питающий дугу напр жени , присоединен к угольным электродам 40 и 41Наблюдение за микроструктурой образца и выбор подлежащего напылению участка производ тс при помощи металлографического микроскопа 47. Патрубки 48 и 49 служат дл соединени с системами откачки и измерени вакуума соответственно.
Предмет и з о б р е т е н и
Устройство дл безокислительного напылени реплик, состо нхее из вакуумной камеры, внутри которой установлен образец, подвергаемый воздействию раст гиваемых напр жений и нагреву в широком интервале температур, и оптического устройства дл наблюдени и фотографировани микроструктуры поверхности образца в процессе проводимого испытани , а также дл выбора, подлежащего исследованию на электронном микроскопе участка, отличающеес тем, что, с целью испарени и осаждени конденсата при нанесении кварцевых, металлических и угольных реплик на выбранную поверхность образца без предварительного извлечени его из рабочей вакуумной камеры, устройство снабжено испарителем, например, в виде спирали из молибденовой проволоки, перемещение которого вдоль испытуемого образца осуществл ют посредством винтового стержн и вакуумного уплотнени , установленных в полости корпуса устройства.
- 3 -№ 146090
Ф1/г
fpuz. г
э
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU677689A SU146090A1 (ru) | 1960-08-29 | 1960-08-29 | Устройство дл безокислительного напылени реплик |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU677689A SU146090A1 (ru) | 1960-08-29 | 1960-08-29 | Устройство дл безокислительного напылени реплик |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU146090A1 true SU146090A1 (ru) | 1961-11-30 |
Family
ID=48301577
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU677689A SU146090A1 (ru) | 1960-08-29 | 1960-08-29 | Устройство дл безокислительного напылени реплик |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU146090A1 (ru) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4045181A (en) * | 1976-12-27 | 1977-08-30 | Monsanto Company | Apparatus for zone refining |
US4201746A (en) * | 1976-12-27 | 1980-05-06 | Monsanto Company | Apparatus for zone refining |
-
1960
- 1960-08-29 SU SU677689A patent/SU146090A1/ru active
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4045181A (en) * | 1976-12-27 | 1977-08-30 | Monsanto Company | Apparatus for zone refining |
US4201746A (en) * | 1976-12-27 | 1980-05-06 | Monsanto Company | Apparatus for zone refining |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN107101735A (zh) | 用于测量表面瞬态温度的片状薄膜热电偶测温系统及应用 | |
Robinson | A wet stage modification to a scanning electron microscope | |
SU146090A1 (ru) | Устройство дл безокислительного напылени реплик | |
US2826701A (en) | Low temperature chamber for electronoptics instruments | |
Barber | Platinum resistance thermometers of small dimensions | |
JP2013161647A (ja) | 荷電粒子線装置および配線方法 | |
GB966918A (en) | Gyromagnetic resonance method and apparatus | |
US2514382A (en) | High temperature device for X-ray diffraction | |
US2417213A (en) | Device for indirect heating of materials | |
GB772621A (en) | An electron microscope | |
SU127062A1 (ru) | Способ дилатометрического исследовани материалов и объемный дилатометр дл осуществлени способа | |
Akbi | A method for measuring the photoelectric work function of contact materials versus temperature | |
US3038993A (en) | Aperture system for electron optical instrument | |
Tian et al. | In situ sample temperature measurement in plasma immersion ion implantation | |
SU729692A1 (ru) | Устройство дл наблюдени процессов на поверхности образцов | |
Timokhin et al. | Technology of thermally stimulated diagnostics of anisotropy and optical axes in crystals | |
Rood et al. | Photodimerization of anthracene single crystals in situ in the electron microscope | |
JPH0518706A (ja) | トンネル顕微鏡用探針清浄化装置 | |
SU94327A1 (ru) | Установка дл измерени микротвердости металлов и сплавов | |
Haymann et al. | An ionic etching unit | |
SU147000A1 (ru) | Устройство дл автоматической наводки и фокусировки микроскопа при наблюдени х микроструктуры металлов и сплавов в процессе деформации с различными скорост ми и нагревом в широком диапазоне температур в вакууме и защитных средах | |
Gulbransen | High temperature furnace for electron diffraction studies | |
JPH09161707A (ja) | 試料冷却観察装置 | |
JP7407689B2 (ja) | 試料ホルダ及びそれを備える荷電粒子線装置 | |
Hillier et al. | The Illuminating System of the Electron Microscope |