SU127062A1 - Способ дилатометрического исследовани материалов и объемный дилатометр дл осуществлени способа - Google Patents

Description

Изобретение относитс  к способам дилатометрического исследовани  материалов в сочетании е металлографическими исследовани ми.

Известные подобные способы предусматривают раздельное проведение дилатометрических и металлографических исследований и не позвол ют вести наблюдение за-структурны ми изменени ми в процессе термического расширени-  исследуемого материала.

Дл  устранени  этого «едостатка предлагаетс  дилатометрирование испытуемого образца совмещать с металлографическим исследованием шлифа, выполненного на одной из вертикальных граней образца. Дллосуществлени  способа предлагаетс , использовать объемный) дилатометр , снабженный металломикроскопом, а также катодной трубкой дл  ионного облучени  шлифа, присоединенной к дилатометру посредством сильфонного устройства.

На чертеже показано устройство дилатометра дл  осуществлени  предлагаемого способа.

Исследуемый образец / в форме стержн  помещаетс  на упорах и кварцевой трубке 2 на подвижном кварцевом стержне 3. Трубка 2 жесгко закрепл етс  в корпусе 4 гайкой о. Дл  нагрева образца имеетс  трубчатый нагреватель 6 с разрезом. Подвод электрического тока к нагревателю производитс  через вводы 7 и 8. Экран 9 предназначен дл  уменьшени  тепловых потерь. Температура образца контролируетс  при помощи термопары JO, а температура нагревател -термопары //. Измерение темнературы .осуществл етс  при помощи приборов 12 и 13. В предлагаемом устройстве предусмотрен нагрев образца в вакууме. Дл  этой цеЛИ водоохлаждаемый металлический корпус 14 соединен с корпусом 4 при помощи подвижного вакуумного сопр жени . Откачка газоз из рабочей камеры производитс  через патрубок 15, а измерение оста№ 127062

точного давлени -через трубку 16. Просмотр образца и его фотографирование производитс  через кварцевое стекло 17 при помощи объектива 18 и металлографического микроскопа 19, снабженного фотоприставкой 20. Дл  регистра-ции удлинений образца в процессе нагрева и охлаждени  имеетс  рычажна  система, содержаща  стойку 21, рычаг 22 Иемкостной датчик 23. Пружина 54 прижимает стержень 3 к образцу . Быстродей)ствующее устройство 25 регистрирует изменение длины образца.

Как известно, при нагреве в вакууме образцов металла до температуры , превыщающей половину температуры плавлени  металла образца , на полированной поверхности последнего возникает микрорельеф, позвол ющий исследовать структуру металла. При более низкой температуре примен ют метод «катодного вакуумного травлени , использу  ионную бомбардировку поверхности образца. В предлагаемой установке дл  ионной бомбардировки образца микроскоп отводитс  в сторону и при помощи руко тки 26 кожух 14 по-ворачиваетс  на 180°. При этом против прореза в трубке 2 и против полированной зоны образца располагаетс  устройство дл  ионной бомбардировки.

Сильфон 27 позвол ет подвигать ползун 2Sc герметической колбой2Р. Ползун перемещают по направл ющей 30 при помощи руко тки 31. Анод 32 соедин етс  с положительным полюсом высоковольтного выпр мител  33. Гибкий провод 34 соедин ет образец с корпусом.

Предмет изобретени 

Claims (2)

1.Способ дилатометрического исследовани  материалов, отличающийс  тем, что, с целью вы влени  структурных изменений материалов в процессе их термического расширени , дилатометрирование испытуемого образца совмещают с металлографическим исследованием шлифа, выполненного на одной из вертикальных граней образца.

2.Объемный дилато 1етр дл  осуществлени  способа по п. 1, о тл ичающийс  тем, то он снабжен металломикроскопом дл  наблюдени  за изменением микроструктуры и ее фотографировани , а также катодной трубкой дл  ионного облучени  щлифа, присоединенной к дилатометру посредством сильфонного устройства.