SE515851C2 - Metod för att kontrollera och montera elektroniska ytmonteringskomponenter - Google Patents
Metod för att kontrollera och montera elektroniska ytmonteringskomponenterInfo
- Publication number
- SE515851C2 SE515851C2 SE9602486A SE9602486A SE515851C2 SE 515851 C2 SE515851 C2 SE 515851C2 SE 9602486 A SE9602486 A SE 9602486A SE 9602486 A SE9602486 A SE 9602486A SE 515851 C2 SE515851 C2 SE 515851C2
- Authority
- SE
- Sweden
- Prior art keywords
- component
- surface mounting
- contact points
- liquid metal
- metal
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/341—Surface mounted components
- H05K3/3431—Leadless components
- H05K3/3436—Leadless components having an array of bottom contacts, e.g. pad grid array or ball grid array components
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
- G01R1/06755—Material aspects
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2886—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/02—Fillers; Particles; Fibers; Reinforcement materials
- H05K2201/0203—Fillers and particles
- H05K2201/0206—Materials
- H05K2201/0215—Metallic fillers
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/03—Conductive materials
- H05K2201/0332—Structure of the conductor
- H05K2201/0335—Layered conductors or foils
- H05K2201/035—Paste overlayer, i.e. conductive paste or solder paste over conductive layer
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/10—Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
- H05K2201/10613—Details of electrical connections of non-printed components, e.g. special leads
- H05K2201/10954—Other details of electrical connections
- H05K2201/10992—Using different connection materials, e.g. different solders, for the same connection
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/03—Metal processing
- H05K2203/0338—Transferring metal or conductive material other than a circuit pattern, e.g. bump, solder, printed component
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/16—Inspection; Monitoring; Aligning
- H05K2203/162—Testing a finished product, e.g. heat cycle testing of solder joints
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/17—Post-manufacturing processes
- H05K2203/176—Removing, replacing or disconnecting component; Easily removable component
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/3457—Solder materials or compositions; Methods of application thereof
- H05K3/3485—Applying solder paste, slurry or powder
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Description
lO l5 20 25 30 35 515 851 serns plan. Det kan vara fråga om elektriskt ledande nålar som löper vinkelrätt mot interposerns plan mellan BGA-kompo- nenten och testkortet eller anisotropiskt ledande filmer.
Vidare har nyligen ett fåtal socklar utvecklats som ansluts till BGA-komponenten respektive testkortet.
Alla dessa kända tekniker har den nackdelen att det krävs att ett högt mekaniskt tryck appliceras på BGA-komponenten för att erhålla tillräckligt god fysisk, och därmed elektrisk, kontakt med testkortet.
Emellertid förekommer ofta kvarstående problem i form av hög elektrisk kontaktresistans, förekomst av parasitisk induktans och kapacitans. Vidare är nämnda interposer, anisotropiskt ledande filmer och nämnda socklar dyra att konstruera och tillverka.
Föreliggande uppfinning löser de angivna problemen.
Föreliggande uppfinning erbjuder en metod som är billig, som endast kräver ett lågt kontakttryck mellan BGA-komponenten och testkortet, som ger låga kontaktresistanser och som ger låga parasitiska induktanser och kapacitanser.
Föreliggande uppfinning hänför sig således till metod för att kontrollera och i vissa fall montera elektroniska ytmonte- ringskomponenter, vilka komponenter på dess ena sida har ett antal kontaktställen vilka skall bringas till elektrisk an- sar- att i slutning till kontaktställen på ett testkorts ena sida, skilt BGA-komponenter och motsvarande och utmärkes av, ett första steg komponentens kontaktställen bringas att dop- pas i en vid rumstemperatur eller förhöjd rumstemperatur fly- tande metall, där metallens djup bringas att understiga höj- den av ytmonteringskomponentens kontaktställen, av att i ett andra steg komponenten lyfts uppifrån metallens yta, varvid den flytande metallen till del kvarstannar på kontaktställena och av att i ett tredje steg de med flytande metall försedda lO 15 20 25 30 35 515 851 kontaktställena bringas till anliggning mot motsvarande kon- taktställen pà testkortet.
Nedan beskrives uppfinningen närmare, delvis i samband med ett pà bifogade ritning visat utföringsexempel av uppfinning- en, där - figur 1 - 3 visar olika steg enligt föreliggande metod - figur 4 visar en utföringsform av uppfinningen.
I figurerna 1 - 3 illustreras föreliggande metod för att kon- trollera elektroniska ytmonteringskomponenter. I figurerna exemplifieras ytmonteringskomponenten med en BGA-komponent 1.
BGA-komponenten 1 har pà dess ena sida ett antal kontaktstäl- len 2, vanligen bestående av c:a 60% tenn och 40% bly. Dessa kontaktställen 2 skall bringas till elektrisk anslutning till kontaktställen (Pads) (PCB) 4 ena sida, 3 pä ett testkorts se figur 3.
Enligt uppfinningen bringas i ett första steg komponentens l kontaktställen 2 att förses med en vid rumstemperatur eller förhöjd rumstemperatur flytande metall 5. Detta illustreras i figur 2. Det är föredraget att doppa kontaktställena 2 i den flytande metallen. Emellertid kan metallen pàföras kontakt- ställena genom ett förfarande som motsvarar ett tryckförfa- rande, där exempelvis en cylinderyta innehållande den flytan- de metallen rullande förs över den yta av komponenten där kontaktställena finns.
Enligt en föredragen utföringsform bringas den flytande me- tallen att vara pà en plan yta, sàsom pá en glasskiva 6 eller kiselskiva. Metallens djup pà skivan bringas företerädesvis att understiga höjden av ytmonteringskomponentens 1 kontakt- ställen 2, för att säkerställa att endast kontaktställena 2 kommer i kontakt med den flytande metallen 5. Härvid väter metallen kontaktställena 2.
I ett andra steg enligt föreliggande metod lyfts komponenten lO 15 20 25 30 35 515 851 upp från metallens yta, såsom illustreras i figur 2, varvid den flytande metallen till en del 7 kvarstannar pà kontakt- ställena.
I ett tredje steg bringas de med flytande metall 7 försedda kontaktstàllena 2 till anliggning mot motsvarande kontakt- ställen, pads, 3 på testkortet 4, såsom illustreras i figur 3, varvid kontaktställena 2 på komponenten står i god elekt- risk kontakt med de motsvarande kontaktställena 3 på test- kortet.
Därefter utföres tester av ytmonteringskomponenten 1.
I ett valbart fjärde steg upplyfts ytmonteringskomponenten 1 varefter den flytande metallen 7 avlägsnas från ytmonterings- komponentens kontaktställen 2. Det har visat sig att vatten och ett vanligt tvättmedel med fördel kan användas för att ta bort metallen 7. Det fjärde steget är valbart pà grund av, såsom nedan beskrives, detta inte alltid utföres. Enligt en mycket föredragen utföringsform är den flytande metallen gal- (Ga) lium eller en galliumlegering.
Enligt en annan utföringsform av uppfinningen, som dock på grund av miljöskäl inte är lika föredragen, är den flytande metallen kvicksilver (Hg) eller en kvicksilverlegering.
Gallium och galliumlegeringar föreligger i flytande fas vid rumstemperatur eller en något förhöjd rumstemperatur. De har vidare en låg resistivitet, nämligen cza 14 mikroOhm x cm.
Som jämförelse kan nämnas att koppar har 1.56 mikroOhm X cm.
Vidare är gallium och dess legeringar lätta att använda där- för att de inte är hälsofarliga eller miljöfarliga bl.a. på grund av det låga ångtrycket. Flytande gallium har ett ex- tremt lågt ångtryck, nämligen endast 107” torr vid 400 °C.
Kvicksilver har ett betydligt högre ångtryck, nämligen 10” torr vid 400 °C. lO l5 20 25 30 515 851 I nedanstående tabell visas exempel på i föreliggande samman- hang användbara legeringar: Tabell 1.
Smälttemperatur Pulvertillsats Ga 30 °C Ag Ga/Sn 16 °C Cu Ga/In 15 °C Sn Ga/In/Sn 5 °C Ni Som framgår av tabell 1 har ett antal galliumlegeringar med tenn, eller indium eller både tenn och indium smälttemperatu- rer under rumstemperatur. Härvid avses legeringar med en eutektisk sammansättning.
Dessa legeringar kan också skräddarsys med avseende på visko- siteten genom att pulverformig metall kan blandas i den fly- tande legeringen. Många olika metaller kan användas för detta ändamål. I tabell l ges exempel på föredragna metaller i den högra kolumnen. Det är föredraget att inblanda högst 20 vikts% metallpulver. Genom att inblanda metallpulver kan en pasta baserad på flytande gallium åstadkommas i vilken kon- taktställena doppas på ovan angivet sätt. Tjockleken av pas- tan på skivan 6 samt viskositeten bestämmer hur mycket av pastan som fastnar på kontaktställena när dessa doppas i pas- tan.
I nedanstående tabell visas vätningsegenskaperna för gallium och galliumbaserade legeringar. lO 15 20 25 30 35 515 851 6 Tabell 2 Material: Metall Glas Kisel Keramik Epoxi Vätnings- Bra Bra Bra Dàliga Dàliga egenskaper Som framgår av tabell 2 väter gallium och en galliumbaserad legering bra, eller mycket bra, pà metall men dåligt pà kera- miska material och pà epoxy. Detta är en viktig egenskap som gör galliumbaserade legeringar idealiska för föreliggande ändamål, eftersom kontaktställena 2, 3 pà både komponenten 1 och testkortet 4 är av metall medan omgivande material är av keramik eller epoxy.
En annan viktig egenskap som gallium och galliumbaserade legeringar har är att de är oxidbrytande vad avser den oxid som kan finnas pä kontaktställena 2, 3, därför att gallium bildar legeringar med det material som kontaktställena bestàr av. Detta innebär att en extremt god elektrisk kontakt erhäl- les, där kontaktresistansen normalt understiger 1 mOhm.
Den ovannämnda parasitiska induktansen och parasitiska kapa- citansen blir mycket làga pà grund av liten materialmängd vid kontaktpunkten mellan respektive kontaktställe 2, 3.
Det ovan nämnda gäller pà motsvarande sätt för kvicksilver. Även om det för uppfinningens funktion inte är av stor bety- delse om kvicksilver eller kvicksilverlegeringar används i stället, främst ur miljö- och hanteringssynpunkt. För det fall kvick- är gallium eller galliumlegeringar att föredraga, silver används mäste åtgärder vidtagas pà grund av dess höga àngtryck och pà grund av att kvicksilverföreningar är tox- iska. Exempelvis mäste metoden utföras i ett slutet rum, där kvicksilverföreningarna omhändertas pà ett ur hälsosynpunkt och miljösynpunkt godtagbart sätt. lO 15 20 25 30 35 515 851 Enligt ett föredraget utförande av uppfinningen införes yt- monteringskomponenten 1 i en ram 8 som uppbär testkortet 4 för att inrikta av ytmonteringskomponenten 1 i ett förutbe- Ramen 8 kan ha stämt läge relativt testkortet 4, se figur 4. en undre del 9 och en övre del 10. Den undre delen 9 har lämpligen innermàtt som motsvarar komponentens 1 yttermätt.
Den övre delen 10 är lämpligen försedd med en överliggare 11 anordnad att anligga mot komponentens översida. Genom att an- ordna dragfjädrar 12, 13 som med lämplig kraft drar den övre delen 10 i riktning mot den undre delen 9 uppnås att kompo- nenten 1 pressas mot testkortet med en lämplig kraft för att säkerställa att alla kontaktställen 2 har god anliggning mot testkortets pads 3.
Ovan nämndes att i ett fjärde steg komponenten upplyftes fràn testkortet efter avslutad test och att kontaktställena ren- görs.
Enligt en andra, alternativ, utföringsform av uppfinningen utgöres testkortet 4 av ett kretskort 4 pà vilket ytmonte- ringskomponenten 1 slutligen skall monteras i ett förutbe- stämt läge.
Härvid genomföres det första, det andra och det tredje steget varefter en test av ytmonteringskomponenten sker när den pla- cerats i nämnda förutbestämda läge. För det fall testningen visar att komponenten har avsedd prestanda kvarhàlles kompo- nenten 1 pà kretskortet 4 med flussmedel pà kontaktställena 2 och 3, nämnda läge upphettas till en temperatur vid vilken ytmonte- varefter kretskortet med ytmonteringskomponenten i ringskomponentens kontaktställen 2 sammanlöds med motsvarande kontaktställen 3 pà kretskortet 4. Exempelvis är en sådan temperatur omkring 200 °C. Vid sammanlödningen kommer gallium och galliumlegeringar att legera sig med materialet i kon- taktställena 2 och kontaktställena 3.
Enligt en tredje, alternativ, utföringsform av uppfinningen, lO 15 20 25 30 35 515 851 där också testkortet utgöres av ett kretskort 4 pà vilket yt- monteringskomponenten 1 slutligen skall monteras i ett förut- bestämt läge, sker också en test av ytmonteringskomponenten när den placerats i nämnda förutbestämda läge.
Enligt denna utföringsform fixeras ytmonteringskomponenten mekaniskt relativt kretskortet i nämnda läge. Exempelvis sker fixeringen medelst en ram sàsom visas i figur 1, eller pà an- nat lämpligt sätt. För det fall testningen visar att kompo- nenten l har avsedd prestanda, kvarhälles komponenten 1 i nämnda läge vid användning av kretskortet.
Härvid sker således ingen sammanlödning av kontaktställena 2, 3, utan den flytande metallen kvarblir i flytande tillstànd under komponentens användning. Detta utförande har bl.a. de fördelarna att komponenten blir lätt att byta och av att den flytande metallen vid kontaktställena avlastar mekaniska spänningar i komponenten och kretskortet till följd av tempe- raturändringar.
Genom föreliggande uppfinning elimineras de inledningsvis nämnda nackdelarna. Föreliggande metod är billig att använda.
Metoden är mycket bra för testning vid hög frekvens och vid hög hastighet pà grund av att kontaktresistansen, den parasi- tiska induktansen och den parasitiska kapasitansen är lága.
Vidare är metoden enkel att använda eftersom kontakttrycket mellan kontaktställena kan vara mycket lägt.
Ovan har ett antal utföringsformer beskrivits. Emellertid kan andra legeringar än de ovan nämnda användas. Exempelvis kan icke eutektiska föreningar användas vid rumstemperatur eller en förhöjd sådan.
Föreliggande uppfinning skall sàledes inte anses begränsad till ovan angivna utföringsexempel, utan kan varieras inom dess av bifogade patentkrav angivna ram.
Claims (10)
1. Metod för att kontrollera och i vissa fall montera elekt- roniska ytmonteringskomponenter, vilka komponenter på dess ena sida har ett antal kontaktställen vilka skall bringas till elektrisk anslutning till kontaktställen pà ett test- korts ena sida, särskilt BGA-komponenter och motsvarande, k à n n e t e c k n a d (1) kontaktstàllen temperatur eller förhöjd rumstemperatur flytande metall (5), tens där metallens djup bringas att understiga höjden av ytmonte- (l) kontaktställen (2), (1) lyfts upp från metallens den flytande metallen till del (7) (2) och av att i ett tredje steg de med flytande metall försedda kontaktställena (2) (3) av att i ett andra (5) kvarstannar på kontakt- ringskomponentens steg komponenten yta, ställena bringas till anliggning (4). mot motsvarande kontaktställen på testkortet
2. Metod enligt krav 1, k ä n n e t e c k n a d att (5) bringas att vara på en plan yta, (6) a v, den flytande metallen såsom på en glasskiva eller kiselskiva.
3. Metod enligt krav l eller 2,~k ä n n e t e c k n a d a v, att den flytande metallen (5) är gallium (Ga) eller en galliumlegering.
4. Metod enligt krav 3, k ä n n e t e c k n a d a v, att (5) bringas att innehålla ett elekt- (Ag), (Sn), den flytande metallen riskt ledande metallpulver, såsom silver tenn koppar (Cu) eller nickel (Ni).
5. Metod enligt krav 1 eller 2, k ä n n e t e c k n a d a v, att den flytande metallen (5) är kvicksilver (Hg) eller en kvicksilverlegering. k ä n n e t e c k n a d att
6. Metod enligt krav 5, a V, den flytande metallen (5) bringas att innehålla ett elekt- a v, att i ett första steg komponen- (2) bringas att doppas i en vid rums- varvid lO 15 20 25 30 35 515 851 10 riskt ledande metallpulver, säsom silver (Ag), tenn (Sn), koppar (Cu) eller nickel (Ni).
7. Metod enligt nàgot av föregående krav, k ä n n e - t e c k n a d a v, att ytmonteringskomponenten (1) införs i en ram (8) som testkortet (4) uppbär för att inrikta ytmonte- ringskomponenten (1) i ett förutbestämt läge relativt test- kortet (4).
8. Metod enligt nàgot av föregäende krav, k ä n n e - t e c k n a d a v, att i ett fjärde steg ytmonteringskompo- nenten (1) upplyfts varefter den flytande metallen (5) av- lägsnas från ytmonteringskomponentens (1) kontaktställen (2).
9. Metod enligt nàgot av kraven 1 - 7, k ä n n e t e c k - n a d a v, att testkortet utgöres av ett kretskort (4) pä (1) av att en test av ytmonteringskompo- vilket ytmonteringskomponenten slutligen skall monteras i ett förutbestämt läge, (1) och av att för det fall testningen visar att komponenten (1) (4) nenten i nämnda läge upphettas till en temperatur vid vilken nenten sker när den placerats i nämnda förutbestämda läge har avsedd prestanda kretskortet med ytmonteringskompo- ytmonteringskomponentens kontaktställen (2) sammanlöds med motsvarande kontaktställen (3) pà kretskortet. k ä n n e t e c k- (3) pä slutligen skall monteras i
10. Metod enligt nàgot av kraven 1 - 7, a v, att testkortet utgöres av ett kretskort (1) av att en test av ytmonteringskompo- n a d vilket ytmonteringskomponenten ett förutbestämt läge, nenten (1) sker när den placerats i nämnda förutbestämda läge, av att ytmonteringskomponenten (1) mekaniskt fixeras (3) för det fall testningen visar att komponenten (1) har avsedd prestan- relativt kretskortet i nämnda läge och av att, da, komponenten kvarhàlles i nämnda läge vid användning av kretskortet (3).
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SE9602486A SE515851C2 (sv) | 1996-06-24 | 1996-06-24 | Metod för att kontrollera och montera elektroniska ytmonteringskomponenter |
PCT/SE1997/001124 WO1997050001A1 (sv) | 1996-06-24 | 1997-06-23 | Meto för att kontrollera och montera elektroniska ytmonteringskomponenter |
EP97930946A EP0907893A1 (en) | 1996-06-24 | 1997-06-23 | A method of testing and fitting electronic surface-mounted components |
JP10502836A JP2000513096A (ja) | 1996-06-24 | 1997-06-23 | 面実装された電子素子のテストおよび取り付け方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SE9602486A SE515851C2 (sv) | 1996-06-24 | 1996-06-24 | Metod för att kontrollera och montera elektroniska ytmonteringskomponenter |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SE9602486D0 SE9602486D0 (sv) | 1996-06-24 |
SE9602486L SE9602486L (sv) | 1997-12-25 |
SE515851C2 true SE515851C2 (sv) | 2001-10-15 |
Family
ID=20403130
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SE9602486A SE515851C2 (sv) | 1996-06-24 | 1996-06-24 | Metod för att kontrollera och montera elektroniska ytmonteringskomponenter |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0907893A1 (sv) |
JP (1) | JP2000513096A (sv) |
SE (1) | SE515851C2 (sv) |
WO (1) | WO1997050001A1 (sv) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008512680A (ja) | 2004-09-13 | 2008-04-24 | カスケード マイクロテック インコーポレイテッド | 両面プロービング構造体 |
JP5080459B2 (ja) | 2005-06-13 | 2012-11-21 | カスケード マイクロテック インコーポレイテッド | 広帯域能動/受動差動信号プローブ |
US7609077B2 (en) | 2006-06-09 | 2009-10-27 | Cascade Microtech, Inc. | Differential signal probe with integral balun |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5007163A (en) * | 1990-04-18 | 1991-04-16 | International Business Machines Corporation | Non-destructure method of performing electrical burn-in testing of semiconductor chips |
US5170930A (en) * | 1991-11-14 | 1992-12-15 | Microelectronics And Computer Technology Corporation | Liquid metal paste for thermal and electrical connections |
JPH06302656A (ja) * | 1993-04-19 | 1994-10-28 | Toshiba Corp | 半導体素子特性評価装置及び該装置を用いる半導体素子特性評価方法 |
-
1996
- 1996-06-24 SE SE9602486A patent/SE515851C2/sv not_active IP Right Cessation
-
1997
- 1997-06-23 JP JP10502836A patent/JP2000513096A/ja active Pending
- 1997-06-23 EP EP97930946A patent/EP0907893A1/en not_active Withdrawn
- 1997-06-23 WO PCT/SE1997/001124 patent/WO1997050001A1/sv not_active Application Discontinuation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0907893A1 (en) | 1999-04-14 |
WO1997050001A1 (sv) | 1997-12-31 |
SE9602486D0 (sv) | 1996-06-24 |
SE9602486L (sv) | 1997-12-25 |
JP2000513096A (ja) | 2000-10-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6139979A (en) | Lead-free solder and soldered article | |
TWI392750B (zh) | Lead-free solder alloy | |
JP5334416B2 (ja) | 電気接触子及び電気部品用ソケット | |
EP0028819B1 (en) | A thick film copper conductor composition and a dielectric substrate having a thin layer of the composition bonded thereto | |
KR20190059972A (ko) | 칩형 전자 부품 | |
JP3684811B2 (ja) | 半田および半田付け物品 | |
Yu et al. | Electrochemical migration of lead free solder joints | |
JP2005123407A (ja) | チップ型電子部品の外部電極形成方法 | |
SE515851C2 (sv) | Metod för att kontrollera och montera elektroniska ytmonteringskomponenter | |
JP6777065B2 (ja) | 積層電子部品 | |
KR102366439B1 (ko) | 전자부품 | |
JP2006245049A (ja) | 電子部品及び電子機器 | |
WO2007019732A1 (en) | Surface mount component having magnetic layer thereon and method of forming same | |
EP2309830A1 (en) | Plating film, printed wiring board, and module substrate | |
JPH08186050A (ja) | 電子部品及びその製造方法 | |
EP1103995A1 (en) | Electronic component, and electronic apparatus in which the electronic component is mounted and its manufacturing method | |
KR0157671B1 (ko) | 전자 회로 장치 | |
CN113884718A (zh) | 电流检测用电阻器以及电路基板 | |
JP4791865B2 (ja) | 多層型プローブピンおよびプローブカード | |
JP2007073882A (ja) | チップ型電子部品 | |
JP4749780B2 (ja) | 銅合金圧延箔 | |
TW202015073A (zh) | 用於氮化矽和其他基板的導電厚膜漿料 | |
JP2002323528A (ja) | 試験方法及び試験用治具 | |
CN103480978A (zh) | 环保无铅防电极溶出焊锡丝 | |
JPH04302116A (ja) | 基台付きチップ型電子部品 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
NUG | Patent has lapsed |