PL186905B1 - Sposób wytwarzania wysokooporowych kryształów objętościowych GaN - Google Patents
Sposób wytwarzania wysokooporowych kryształów objętościowych GaNInfo
- Publication number
- PL186905B1 PL186905B1 PL97320392A PL32039297A PL186905B1 PL 186905 B1 PL186905 B1 PL 186905B1 PL 97320392 A PL97320392 A PL 97320392A PL 32039297 A PL32039297 A PL 32039297A PL 186905 B1 PL186905 B1 PL 186905B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- crystals
- concentration
- metals
- temperature
- producing high
- Prior art date
Links
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B9/00—Single-crystal growth from melt solutions using molten solvents
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B11/00—Single-crystal growth by normal freezing or freezing under temperature gradient, e.g. Bridgman-Stockbarger method
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B29/00—Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
- C30B29/10—Inorganic compounds or compositions
- C30B29/40—AIIIBV compounds wherein A is B, Al, Ga, In or Tl and B is N, P, As, Sb or Bi
- C30B29/403—AIII-nitrides
- C30B29/406—Gallium nitride
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S117/00—Single-crystal, oriented-crystal, and epitaxy growth processes; non-coating apparatus therefor
- Y10S117/906—Special atmosphere other than vacuum or inert
- Y10S117/907—Refluxing atmosphere
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
- Led Devices (AREA)
Abstract
Sposób wytwarzania wysokooporowych krysztalów objetosciowych GaN, w którym krystalizacja odbywa sie w roztworze atomowego azotu w stopionej mieszaninie metali zawierajacej gal w koncentracji nie mniejszej niz 90 at.% oraz metale grupy II ukladu okre- sowego: magnez, wapn, cynk, beryl lub kadm, w koncentracji 0,01-10 at.%, a proces pro- wadzi sie pod cisnieniem azotu 0,5-2.0 GPa i w temperaturze 1300-1700°C, znamienny tym, ze gradient temperatury jest nie wiekszy niz 10°C na centymetr. PL PL
Description
Przedmiotem wynalazku jest sposób wytwarzania wysokooporowych kryształów objętościowych GaN dla potrzeb optoelektroniki.
Z francuskiego opisu zgłoszeniowego nr FR 12313976 znany jest sposób wytwarzania monokryształów azotku galu poprzez krystalizację w kąpieli płynnego galu znajdującej pod ciśnieniem azotu w zakresie od 0,1 do 2,5 GPa, przy czym proces prowadzony jest w temperaturze od 1100 do 1300°C, a jego efektem są kryształy o dobrym przewodnictwie elektrycznym.
W publikacji międzynarodowej WO 95/04845 ujawniono sposób otrzymywania domieszkowanych kryształów GaN poprzez krystalizację w roztworze atomowego azotu w stopionej mieszaninie metali zawierającej gal w ilości nie mniejszej niż 90 at.% oraz metale grupy II układu okresowego takie jak magnez, wapń, cynk, beryl lub kadm w koncentracji 0,01-10 at.%. Proces krystalizacji prowadzony jest w temperaturze 400-2000°C, pod ciśnieniem azotu do 1 GPa i w gradiencie temperatury. Powstanie kryształów GaN stanowi pierwszy etap procesu otrzymywania półprzewodnikowych struktur wielowarstwowych. W jednym z przykładów realizacji wynalazku w pierwszym etapie tygiel z ciekłym galem umieszczono pod ciśnieniem azotu równym 1 GPa, a następnie wytworzono w tyglu gradient temperatury (pomiędzy częściami o temperaturach 1410°C i 1350°C), w wyniku czego powstały kryształy GaN. W drugim etapie procesu ciśnienie obniżono o 0,1 GPa i na powstałych wcześniej kryształach narastała warstwa GaN o niskiej koncentracji wakansji azotowych. W celu domieszkowania końcowej części kryształu do roztworu dodano 10 at.% magnezu.
Żadna z cytowanych wyżej publikacji nie zawierała wskazówek dotyczących wielkości gradientu temperatury procesu.
Celem wynalazku było opracowanie sposobu otrzymywania objętościowych kryształów azotku galu o wysokiej oporności elektrycznej a jednocześnie wysokiej jakości strukturalnej. Cel ten zrealizowano poprzez określenie maksymalnego gradientu temperatury, przy którym uzyskuje się kryształy o pożądanych własnościach.
Krystalizacja sposobem według wynalazku odbywa się w roztworze atomowego azotu w stopionej mieszaninie metali zawierającej gal w koncentracji nie mniejszej niż 90 at.% oraz metale grupy II układu okresowego: magnez, wapń, cynk, beryl lub kadm, w koncentracji 0,01-10 at.%. Proces prowadzi się pod ciśnieniem azotu 0,5-2.0 GPa i w temperaturze 13001700°C. Sposób według wynalazku charakteryzuje się tym, że gradient temperatury jest nie większy niż 10°C na centymetr.
Taki gradient zapewnia niskie przesycenie w strefie wzrostu, potrzebne do otrzymania prędkości wzrostu GaN nie większej niż 0,2 mm/h, wymaganej dla stabilnego wzrostu kryształów o dużych rozmiarach. W rezultacie otrzymuje się kryształy GaN w formie heksagonalnych płytek o wysokiej oporności właściwej, równej 104-108 Qcm, bardzo wysokiej jakości strukturalnej i parametrach sieci zbliżonych do idealnych. Kryształy takie stanowią doskonałe podłoża do uzyskiwania nienaprężonych warstw homoepitaksjalnych.
186 905
W przykładowej realizacji wynalazku do pionowego tygla z grafitu pyrolitycznego wlano w osłonie gazu obojętnego mieszaninę metali o czystości półprzewodnikowej, zawierającą 99,5 at.% galu oraz 0,5 at.% magnezu. Tygiel umieszczono w trzystrefowym piecu grafitowym, który z kolei umieszczono wewnątrz komory wysokociśnieniowej. W komorze tej w pierwszym etapie wytworzono próżnie 10'5 Torr. Następnie układ wygrzewano w próżni w temperaturze 800°C w czasie 12 godzin. Po wygrzaniu układu komorę napełniono azotem o czystości 6N uzyskując wstępne ciśnienie z butli 10-15 MPa. Gaz sprężono do ciśnienia 1,5 GPa i po sprężeniu układ podgrzano do temperatury 1550°C, utrzymując stałą temperaturę wzdłuż osi tygla. Następnie temperaturę dolnego końca tygla obniżono o 30°C uzyskując gradient temperatury wzdłuż osi tygla nie większy niż 10°C/cm. Takie warunki procesu utrzymywano w czasie 120 godzin. Po 120 godzinach krystalizacji układ schłodzono z prędkością 5°Ć/min do temperatury pokojowej, po czym ciśnienie azotu obniżono do ciśnienia atmosferycznego. Po wyjęciu tygla z komory wysokociśnieniowej, podgrzano go do temperatury 50°C i wylano metal z tygla. Na dnie tygla znajdowały się kryształy GaN w formie heksagonalnych płytek o rozmiarach 68 mm. Kryształy wydobyto z tygla i poddano trawieniu w wodzie królewskiej w celu usunięcia resztek metalu. Uzyskane kryształy charakteryzowały się opornością właściwą równą 106 Gem i bardzo wysoką jakością strukturalną. Szerokość połówkowa rentgenowskiej krzywej odbić dla refleksu (0004) takich kryształów wynosi 20-30 sekund kątowych, a parametry sieci a i c są bardzo jednorodne i w wynoszą odpowiednio 3,1877 A i 5,1848 A.
186 905
Departament Wydawnictw UP RP. Nakład 50 egz. Cena 2,00 zł.
Claims (1)
- Zastrzeżenie patentoweSposób wytwarzania wysokooporowych kryształów objętościowych GaN, w którym krystalizacja odbywa się w roztworze atomowego azotu w stopionej mieszaninie metali zawierającej gal w koncentracji nie mniejszej niż 90 at.% oraz metale grupy II układu okresowego: magnez, wapń, cynk, beryl lub kadm, w koncentracji 0,01-10 at.%, a proces prowadzi się pod ciśnieniem azotu 0,5-2.0 GPa i w temperaturze 1300-1700°C, znamienny tym, że gradient temperatury jest nie większy niż 10°C na centymetr.
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PL97320392A PL186905B1 (pl) | 1997-06-05 | 1997-06-05 | Sposób wytwarzania wysokooporowych kryształów objętościowych GaN |
PCT/PL1998/000023 WO1998055671A1 (en) | 1997-06-05 | 1998-06-03 | THE METHOD OF FABRICATION OF HIGHLY RESISTIVE GaN BULK CRYSTALS |
JP50218799A JP4198762B2 (ja) | 1997-06-05 | 1998-06-03 | 高抵抗性GaNバルク結晶の製造方法 |
AT98923236T ATE211189T1 (de) | 1997-06-05 | 1998-06-03 | Verfahren zur herstellung von gan kristallen mit hohem widerstand |
DE69803067T DE69803067T2 (de) | 1997-06-05 | 1998-06-03 | VERFAHREN ZUR HERSTELLUNG VON GaN KRISTALLEN MIT HOHEM WIDERSTAND |
EP98923236A EP0986655B1 (en) | 1997-06-05 | 1998-06-03 | THE METHOD OF FABRICATION OF HIGHLY RESISTIVE GaN BULK CRYSTALS |
US09/445,169 US6273948B1 (en) | 1997-06-05 | 1998-06-03 | Method of fabrication of highly resistive GaN bulk crystals |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PL97320392A PL186905B1 (pl) | 1997-06-05 | 1997-06-05 | Sposób wytwarzania wysokooporowych kryształów objętościowych GaN |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
PL320392A1 PL320392A1 (en) | 1998-12-07 |
PL186905B1 true PL186905B1 (pl) | 2004-03-31 |
Family
ID=20070025
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
PL97320392A PL186905B1 (pl) | 1997-06-05 | 1997-06-05 | Sposób wytwarzania wysokooporowych kryształów objętościowych GaN |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6273948B1 (pl) |
EP (1) | EP0986655B1 (pl) |
JP (1) | JP4198762B2 (pl) |
AT (1) | ATE211189T1 (pl) |
DE (1) | DE69803067T2 (pl) |
PL (1) | PL186905B1 (pl) |
WO (1) | WO1998055671A1 (pl) |
Families Citing this family (81)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5679152A (en) * | 1994-01-27 | 1997-10-21 | Advanced Technology Materials, Inc. | Method of making a single crystals Ga*N article |
FR2796657B1 (fr) * | 1999-07-20 | 2001-10-26 | Thomson Csf | Procede de synthese de materiaux massifs monocristallins en nitrures d'elements de la colonne iii du tableau de la classification periodique |
US6447604B1 (en) | 2000-03-13 | 2002-09-10 | Advanced Technology Materials, Inc. | Method for achieving improved epitaxy quality (surface texture and defect density) on free-standing (aluminum, indium, gallium) nitride ((al,in,ga)n) substrates for opto-electronic and electronic devices |
WO2002043466A2 (en) | 2000-11-30 | 2002-06-06 | North Carolina State University | Non-thermionic sputter material transport device, methods of use, and materials produced thereby |
WO2002044443A1 (en) | 2000-11-30 | 2002-06-06 | North Carolina State University | Methods and apparatus for producing m'n based materials |
PL207400B1 (pl) | 2001-06-06 | 2010-12-31 | Ammono Społka Z Ograniczoną Odpowiedzialnością | Sposób i urządzenie do otrzymywania objętościowego monokryształu azotku zawierającego gal |
EP1770189B1 (en) * | 2001-06-06 | 2013-07-10 | Ammono S.A. | Apparatus for obtaining bulk monocrystalline gallium-containing nitride |
CA2464083C (en) * | 2001-10-26 | 2011-08-02 | Ammono Sp. Z O.O. | Substrate for epitaxy |
WO2003036771A1 (fr) | 2001-10-26 | 2003-05-01 | Ammono Sp.Zo.O. | Laser a semi-conducteurs a base de nitrure et procede de production de ce laser |
JP3910047B2 (ja) * | 2001-11-20 | 2007-04-25 | 松下電器産業株式会社 | 半導体記憶装置 |
US7125453B2 (en) | 2002-01-31 | 2006-10-24 | General Electric Company | High temperature high pressure capsule for processing materials in supercritical fluids |
US7063741B2 (en) | 2002-03-27 | 2006-06-20 | General Electric Company | High pressure high temperature growth of crystalline group III metal nitrides |
WO2003097906A1 (fr) | 2002-05-17 | 2003-11-27 | Ammono Sp.Zo.O. | Installation de production de monocristal en vrac utilisant de l'ammoniaque supercritique |
WO2003098757A1 (en) | 2002-05-17 | 2003-11-27 | Ammono Sp.Zo.O. | Light emitting element structure having nitride bulk single crystal layer |
PL225422B1 (pl) | 2002-06-26 | 2017-04-28 | Ammono Spółka Z Ograniczoną Odpowiedzialnością | Sposób otrzymywania objętościowych monokryształów azotku zawierającego gal |
JP4824313B2 (ja) * | 2002-12-11 | 2011-11-30 | アンモノ・スプウカ・ジ・オグラニチョノン・オドポヴィエドニアウノシツィオン | ガリウム含有窒化物バルク単結晶を得るためのプロセス、得られた結晶から不純物を排除するためのプロセス、及びガリウム含有窒化物バルク単結晶からなる基板を製造するためのプロセス |
US7101433B2 (en) * | 2002-12-18 | 2006-09-05 | General Electric Company | High pressure/high temperature apparatus with improved temperature control for crystal growth |
US9279193B2 (en) | 2002-12-27 | 2016-03-08 | Momentive Performance Materials Inc. | Method of making a gallium nitride crystalline composition having a low dislocation density |
US7859008B2 (en) * | 2002-12-27 | 2010-12-28 | Momentive Performance Materials Inc. | Crystalline composition, wafer, device, and associated method |
US7786503B2 (en) * | 2002-12-27 | 2010-08-31 | Momentive Performance Materials Inc. | Gallium nitride crystals and wafers and method of making |
WO2004061923A1 (en) | 2002-12-27 | 2004-07-22 | General Electric Company | Gallium nitride crystal, homoepitaxial gallium-nitride-based devices and method for producing same |
US8089097B2 (en) * | 2002-12-27 | 2012-01-03 | Momentive Performance Materials Inc. | Homoepitaxial gallium-nitride-based electronic devices and method for producing same |
US20070040181A1 (en) * | 2002-12-27 | 2007-02-22 | General Electric Company | Crystalline composition, wafer, and semi-conductor structure |
US8357945B2 (en) * | 2002-12-27 | 2013-01-22 | Momentive Performance Materials Inc. | Gallium nitride crystal and method of making same |
US7098487B2 (en) | 2002-12-27 | 2006-08-29 | General Electric Company | Gallium nitride crystal and method of making same |
US20060169996A1 (en) * | 2002-12-27 | 2006-08-03 | General Electric Company | Crystalline composition, wafer, and semi-conductor structure |
US7638815B2 (en) * | 2002-12-27 | 2009-12-29 | Momentive Performance Materials Inc. | Crystalline composition, wafer, and semi-conductor structure |
US7170095B2 (en) * | 2003-07-11 | 2007-01-30 | Cree Inc. | Semi-insulating GaN and method of making the same |
US7009215B2 (en) * | 2003-10-24 | 2006-03-07 | General Electric Company | Group III-nitride based resonant cavity light emitting devices fabricated on single crystal gallium nitride substrates |
JP4489446B2 (ja) * | 2004-01-21 | 2010-06-23 | 独立行政法人科学技術振興機構 | ガリウム含有窒化物単結晶の製造方法 |
US20080025902A1 (en) * | 2004-04-27 | 2008-01-31 | Arizona Board Of Regents, A Body Corpate Acting On Behalf Of Arizona State University | Method To Synthesize Highly Luminescent Doped Metal Nitride Powders |
DE102004048453A1 (de) * | 2004-10-05 | 2006-04-20 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Verfahren zur Erhöhung des Umsatzes von Gruppe-III-Metall zu Gruppe-III-Nitrid in einer Gruppe-III-haltigen Metallschmelze |
DE102004050806A1 (de) * | 2004-10-16 | 2006-11-16 | Azzurro Semiconductors Ag | Verfahren zur Herstellung von (AI,Ga)N Einkristallen |
US7704324B2 (en) | 2005-01-25 | 2010-04-27 | General Electric Company | Apparatus for processing materials in supercritical fluids and methods thereof |
US7897490B2 (en) * | 2005-12-12 | 2011-03-01 | Kyma Technologies, Inc. | Single crystal group III nitride articles and method of producing same by HVPE method incorporating a polycrystalline layer for yield enhancement |
US7942970B2 (en) | 2005-12-20 | 2011-05-17 | Momentive Performance Materials Inc. | Apparatus for making crystalline composition |
JP4223540B2 (ja) * | 2006-01-20 | 2009-02-12 | パナソニック株式会社 | 半導体発光素子、iii族窒化物半導体基板、及びその製造方法 |
JP5187846B2 (ja) * | 2006-03-23 | 2013-04-24 | 日本碍子株式会社 | 窒化物単結晶の製造方法および装置 |
US9790617B2 (en) | 2006-04-07 | 2017-10-17 | Sixpoint Materials, Inc. | Group III nitride bulk crystals and their fabrication method |
US9909230B2 (en) | 2006-04-07 | 2018-03-06 | Sixpoint Materials, Inc. | Seed selection and growth methods for reduced-crack group III nitride bulk crystals |
JP2007284267A (ja) * | 2006-04-13 | 2007-11-01 | Sumitomo Electric Ind Ltd | GaN結晶の製造方法 |
US8097081B2 (en) | 2008-06-05 | 2012-01-17 | Soraa, Inc. | High pressure apparatus and method for nitride crystal growth |
US9157167B1 (en) | 2008-06-05 | 2015-10-13 | Soraa, Inc. | High pressure apparatus and method for nitride crystal growth |
US8871024B2 (en) * | 2008-06-05 | 2014-10-28 | Soraa, Inc. | High pressure apparatus and method for nitride crystal growth |
US9404197B2 (en) | 2008-07-07 | 2016-08-02 | Soraa, Inc. | Large area, low-defect gallium-containing nitride crystals, method of making, and method of use |
US8979999B2 (en) | 2008-08-07 | 2015-03-17 | Soraa, Inc. | Process for large-scale ammonothermal manufacturing of gallium nitride boules |
US10036099B2 (en) | 2008-08-07 | 2018-07-31 | Slt Technologies, Inc. | Process for large-scale ammonothermal manufacturing of gallium nitride boules |
US8878230B2 (en) * | 2010-03-11 | 2014-11-04 | Soraa, Inc. | Semi-insulating group III metal nitride and method of manufacture |
US9543392B1 (en) | 2008-12-12 | 2017-01-10 | Soraa, Inc. | Transparent group III metal nitride and method of manufacture |
USRE47114E1 (en) | 2008-12-12 | 2018-11-06 | Slt Technologies, Inc. | Polycrystalline group III metal nitride with getter and method of making |
US9589792B2 (en) | 2012-11-26 | 2017-03-07 | Soraa, Inc. | High quality group-III metal nitride crystals, methods of making, and methods of use |
US20100147210A1 (en) * | 2008-12-12 | 2010-06-17 | Soraa, Inc. | high pressure apparatus and method for nitride crystal growth |
US8987156B2 (en) | 2008-12-12 | 2015-03-24 | Soraa, Inc. | Polycrystalline group III metal nitride with getter and method of making |
US8509275B1 (en) | 2009-05-29 | 2013-08-13 | Soraa, Inc. | Gallium nitride based laser dazzling device and method |
US9800017B1 (en) | 2009-05-29 | 2017-10-24 | Soraa Laser Diode, Inc. | Laser device and method for a vehicle |
US9250044B1 (en) | 2009-05-29 | 2016-02-02 | Soraa Laser Diode, Inc. | Gallium and nitrogen containing laser diode dazzling devices and methods of use |
US9175418B2 (en) | 2009-10-09 | 2015-11-03 | Soraa, Inc. | Method for synthesis of high quality large area bulk gallium based crystals |
US9564320B2 (en) | 2010-06-18 | 2017-02-07 | Soraa, Inc. | Large area nitride crystal and method for making it |
US8729559B2 (en) | 2010-10-13 | 2014-05-20 | Soraa, Inc. | Method of making bulk InGaN substrates and devices thereon |
US9694158B2 (en) | 2011-10-21 | 2017-07-04 | Ahmad Mohamad Slim | Torque for incrementally advancing a catheter during right heart catheterization |
US10029955B1 (en) | 2011-10-24 | 2018-07-24 | Slt Technologies, Inc. | Capsule for high pressure, high temperature processing of materials and methods of use |
US10145026B2 (en) | 2012-06-04 | 2018-12-04 | Slt Technologies, Inc. | Process for large-scale ammonothermal manufacturing of semipolar gallium nitride boules |
US9275912B1 (en) | 2012-08-30 | 2016-03-01 | Soraa, Inc. | Method for quantification of extended defects in gallium-containing nitride crystals |
US9299555B1 (en) | 2012-09-28 | 2016-03-29 | Soraa, Inc. | Ultrapure mineralizers and methods for nitride crystal growth |
US9650723B1 (en) | 2013-04-11 | 2017-05-16 | Soraa, Inc. | Large area seed crystal for ammonothermal crystal growth and method of making |
EP3315639B1 (en) * | 2013-08-08 | 2024-05-01 | Mitsubishi Chemical Corporation | Self-standing gan substrate, gan crystal, method for producing gan single crystal, and method for producing semiconductor device |
WO2015179852A1 (en) | 2014-05-23 | 2015-11-26 | Sixpoint Materials, Inc. | Group iii nitride bulk crystals and their fabrication method |
US11437774B2 (en) | 2015-08-19 | 2022-09-06 | Kyocera Sld Laser, Inc. | High-luminous flux laser-based white light source |
US10174438B2 (en) | 2017-03-30 | 2019-01-08 | Slt Technologies, Inc. | Apparatus for high pressure reaction |
US11239637B2 (en) | 2018-12-21 | 2022-02-01 | Kyocera Sld Laser, Inc. | Fiber delivered laser induced white light system |
US11421843B2 (en) | 2018-12-21 | 2022-08-23 | Kyocera Sld Laser, Inc. | Fiber-delivered laser-induced dynamic light system |
US11466384B2 (en) | 2019-01-08 | 2022-10-11 | Slt Technologies, Inc. | Method of forming a high quality group-III metal nitride boule or wafer using a patterned substrate |
US12000552B2 (en) | 2019-01-18 | 2024-06-04 | Kyocera Sld Laser, Inc. | Laser-based fiber-coupled white light system for a vehicle |
US12152742B2 (en) | 2019-01-18 | 2024-11-26 | Kyocera Sld Laser, Inc. | Laser-based light guide-coupled wide-spectrum light system |
US11884202B2 (en) | 2019-01-18 | 2024-01-30 | Kyocera Sld Laser, Inc. | Laser-based fiber-coupled white light system |
CN110643934A (zh) * | 2019-09-20 | 2020-01-03 | 深圳市晶相技术有限公司 | 一种半导体设备 |
US11721549B2 (en) | 2020-02-11 | 2023-08-08 | Slt Technologies, Inc. | Large area group III nitride crystals and substrates, methods of making, and methods of use |
WO2021162727A1 (en) | 2020-02-11 | 2021-08-19 | SLT Technologies, Inc | Improved group iii nitride substrate, method of making, and method of use |
US12091771B2 (en) | 2020-02-11 | 2024-09-17 | Slt Technologies, Inc. | Large area group III nitride crystals and substrates, methods of making, and methods of use |
JP7483669B2 (ja) | 2020-11-02 | 2024-05-15 | エスエルティー テクノロジーズ インコーポレイテッド | 窒化物結晶成長のための超高純度鉱化剤及び改良された方法 |
CN116040966A (zh) * | 2023-01-17 | 2023-05-02 | 东华大学 | 一种利用热高压强处理的玻璃化学强化方法 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2313976A1 (fr) | 1975-06-13 | 1977-01-07 | Labo Electronique Physique | Procede de fabrication de monocristaux de nitrure de gallium et monocristaux obtenus par la mise en oeuvre de ce procede |
PL173917B1 (pl) * | 1993-08-10 | 1998-05-29 | Ct Badan Wysokocisnieniowych P | Sposób wytwarzania krystalicznej struktury wielowarstwowej |
AU7346396A (en) * | 1995-10-13 | 1997-04-30 | Centrum Badan Wysokocisnieniowych | Method of manufacturing epitaxial layers of gan or ga(a1,in)n on single crystal gan and mixed ga(a1,in)n substrates |
JP3876473B2 (ja) * | 1996-06-04 | 2007-01-31 | 住友電気工業株式会社 | 窒化物単結晶及びその製造方法 |
JPH107496A (ja) | 1996-06-25 | 1998-01-13 | Hitachi Cable Ltd | 窒化物結晶の製造方法およびその装置 |
-
1997
- 1997-06-05 PL PL97320392A patent/PL186905B1/pl unknown
-
1998
- 1998-06-03 AT AT98923236T patent/ATE211189T1/de not_active IP Right Cessation
- 1998-06-03 US US09/445,169 patent/US6273948B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1998-06-03 DE DE69803067T patent/DE69803067T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1998-06-03 JP JP50218799A patent/JP4198762B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1998-06-03 EP EP98923236A patent/EP0986655B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1998-06-03 WO PCT/PL1998/000023 patent/WO1998055671A1/en active IP Right Grant
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4198762B2 (ja) | 2008-12-17 |
PL320392A1 (en) | 1998-12-07 |
EP0986655B1 (en) | 2001-12-19 |
JP2002513375A (ja) | 2002-05-08 |
WO1998055671A1 (en) | 1998-12-10 |
EP0986655A1 (en) | 2000-03-22 |
DE69803067D1 (de) | 2002-01-31 |
ATE211189T1 (de) | 2002-01-15 |
US6273948B1 (en) | 2001-08-14 |
DE69803067T2 (de) | 2002-07-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
PL186905B1 (pl) | Sposób wytwarzania wysokooporowych kryształów objętościowych GaN | |
KR100883472B1 (ko) | 단결정 실리콘 카바이드 잉곳, 단결정 실리콘 카바이드웨이퍼 및 이들을 제조하는 방법 | |
US7279040B1 (en) | Method and apparatus for zinc oxide single crystal boule growth | |
CN100550303C (zh) | 第ⅲ族氮化物晶体及其制备方法 | |
US6562124B1 (en) | Method of manufacturing GaN ingots | |
US8491719B2 (en) | Silicon carbide single crystal, silicon carbide single crystal wafer, and method of production of same | |
US8088220B2 (en) | Deep-eutectic melt growth of nitride crystals | |
US20060174826A1 (en) | Tantalum based crucible | |
KR101793394B1 (ko) | n 형 SiC 단결정 및 그 제조 방법 | |
JP2004189549A (ja) | 窒化アルミニウム単結晶の製造方法 | |
WO1981001016A1 (en) | Minimization of strain in single crystals | |
US20060048701A1 (en) | Method of growing group III nitride crystals | |
JP5428706B2 (ja) | SiC単結晶の製造方法 | |
Tabatabai Yazdi et al. | Growth of Cd0. 96Zn0. 04Te single crystals by vapor phase gas transport method | |
JPH11116373A (ja) | 低転位密度の化合物半導体単結晶及びその製造方法並びに製造装置 | |
JPH0784360B2 (ja) | 半絶縁性GaAs基板の製造方法 | |
RU2209861C2 (ru) | Подложка для выращивания эпитаксиальных пленок и слоев нитрида галлия | |
Elizabeth et al. | Growth and extraction of flux free YBCO crystals | |
JPS60210591A (ja) | 半絶縁性GaAs単結晶の製造方法 | |
CN114214723A (zh) | 一种准本征半绝缘碳化硅单晶的制备方法 | |
JP4518782B2 (ja) | 二ホウ化物単結晶の製造方法 | |
Short et al. | The vapour phase growth of lead sulphide single crystals | |
JPH09221384A (ja) | 熱分解窒化ホウ素ルツボ | |
Glass et al. | Control of defects and impurities in production of CdZnTe crystals by the Bridgman method | |
JPH06279198A (ja) | 半絶縁性ガリウム砒素化合物半導体単結晶の製造方法 |