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KR970060534A - 전력반도체장치 및 그의 제조방법 - Google Patents

전력반도체장치 및 그의 제조방법 Download PDF

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KR970060534A KR1019960001676A KR19960001676A KR970060534A KR 970060534 A KR970060534 A KR 970060534A KR 1019960001676 A KR1019960001676 A KR 1019960001676A KR 19960001676 A KR19960001676 A KR 19960001676A KR 970060534 A KR970060534 A KR 970060534A
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Abstract

본 발명은 래치업을 제어하는 불순물주입구조를 갖는 전력반도체장치와 그의 제조방법에 관한 것으로서, 고농도의 n+형의 반도체층(14)내에 형성된 저농도의 p-형의 웰(19)내에 형성되어 있고, 상기 웰(19)의 표면에 형성된 고농도의 n+형의 소오스접합영역(25)들 사이에서 고농도의 불순물이 도프된 p+형의 캐소드 오믹접촉영역(27)을 상기 웰(19)내에 형성하는 공정과; 상기 캐소드 오믹접촉영역(27)과 상기 웰(19)사이에서 상기 소오스접합영역(25)의 하부를 덮도록 연장되어 있으며, 그리고 상기 캐소드 오믹접촉영역(27)의 불순물농도보다 낮고 그리고 상기 웰(19)의 불순물농도보다 높은 불순물이 도프된 p형의 불순물확산영역(24)을 상기 웰(19)내에 형성하는 공정에 의해 전력반도체장치를 제조한다. 상술한 방법에 의해서 제조된 전력반도체장치는 p형 불순물확산층(24)이 p-형 웨(19)과 p+형 캐소드오믹접촉영역 (27)사이에 형성되어 있어서 상기 소오스접합영역(25)의 아래로 흐르는 홀전류의 증가를 방지할 수 있고, 그 결과 래치업의 발생을 방지할 수 있다.

Description

전력반도체장치 및 그의 제조방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명의 실시예에 따른 전력반도체장치의 구조를 보여주고 있는 단면도.

Claims (5)

  1. 고농도의 불순물이 도포된 제1도전형의 반도체기판(12)과; 상기 제1도전형의 반도체기판(12)상에 형성된 고농도의 불순물이 도포된 제2도전형의 버퍼층(13)과; 상기 버퍼층(13)상에 에피택셜성장에 의해 형성된 저농도의 제2도전형의 자도체층 (14)과; 상기 반도체층(14)상에 형성되고, 게이트산화막(15)을 사이에 두고 형성된 게이크폴리실리콘막(16); 상기 게이트폴리실리콘막(16)들의 사이에 형성된 저농도의 불순물이 도포된 제1도전형의 웰(19)과; 상기 웰(19)내에 형성되어 있고, 상기 게이트폴리실리콘막(16)의 아래부분을 부분적으로 포함하여 형성된 고농도의 불순물이 도포된 제2도전형의 소오스접합영역(25)과; 상기 웰(19)내에 형성되어 있고, 상기 소오스접합영역(25)들 사이에서 고농도의 불순물이 도프된 제1도전형의 캐소드 오믹접촉영역(27)과; 상기 웰(19)내에서 상기 캐소드 오믹접촉영역(27)과 상기 웰(19) 사이에 형성되어 있고, 상기 소오스접합영역(25)의 하부를 덮고 있지만 채널표면까지 연장되어 있지 않으며, 상기 캐소드 오믹접촉영역(27)의 불순물 농도보다 낮고 그리고 상기 웰(19)의 불순물농도보다 높은 불순물이 도프된 제1도전형의 불순물확산영역(24)을 포함하는 전력반도체장치.
  2. 고농도의 불순물이 도포된 제1도전형의 반도체기판(12)상에 고농도의 불순물이 도포된 제2도전형의 버퍼층(13)을 형성하는 공정과; 상기 버퍼층(13)상에 에피택셜성장에 의해 저농도의 제2도전형의 반도체층(14)을 형성하는 공정과: 상기 반도체층(14)상에 형성되고, 산화막을 상에 두고 폴리실리콘막을 형성하는 공정과; 상기 폴리실리콘막상에 감광막패턴(17)을 형성하여 웰영역을 정의하는 공정과; 상기 감광막패턴(17)을 마스크로 사용하여 상기 폴리실리콘막과 상기 산화막을 선택적으로 제거하여 게이트산화막(15)을 사이에 끼워져 있는 게이트폴리실리콘막 (16)을 형성하는 공정과; 상기 게이트폴리실리콘막(16)을 마스크로 사용하여 불순물이온을 상기 웰영역으로 주입하고 그리고 확산에 의해 제1도전형의 웰(19)을 형성하는 공정과; 다시 상기 웰(19)의 불순물농도보다 높은 농도의 제1도전형의 불순물을 상기 웰(19)내에 주입하여 제1불순물주입층(20)을 형성하는 공정과; 질화막을 도포 및 패터닝하여 소오스접합영역을 정의하는 질환맥패턴 (21)을 형성하는 공정과; 상기 질화막패턴(21)을 소오스접합형성용 마스크로 사용하여 고농도의 제2도전형의 불순물을 상기 웰(19)내에 주입하여 제2불순물주입층 (22)을 형성하는 공정과; 상기 제1, 2불순물주입층(20)을 확산시켜서 상기 웰(19)의 불순물농도보다 높은 불순물농도를 갖는 제1도전형의 불순물확산영역(24)과제2도전형의 소오스접합영역(25)을 형성하고, 상기 불순물확산영역(24)의 상기 소오스접합영역(25)의 저부를 덮게 하는 공정과; 상기 질화막패턴(21)의 제거후, 캐소드오믹접촉형성용 마스크를 사용하는 제1도전형의 불순물이온주입에 의해서 상기 불순물 확산영역(24)의 불순물농도보다 높은 불순물농도를 갖는 제1도전형의 캐소드오믹접촉영역(27)을 형성하는 공전과; 상기 게이트폴리실리콘막(16)과 전기적으로 접촉되게 하는 절연막(28)을 사이에 끼우고 상기 캐소드오믹접촉영역(27)상에 금속전극을 형성하는 공정을 포함하는 전력반도체장치의 제조방법.
  3. 제2항에 있어서, 상기 제1도전형은 p형이고 그리고 제2도전형은 p형인 전련반도체장치.
  4. 반도체기판상에 형성된 저농도의 불순물이 도프된 제1도전형의 웰(19)과, 이 웰(19)내에 형성된 고농도의 불순물이 도프된 제2도전형의 소오스접합영역(25)과, 게이트산화막(15)을 사이에 두고 형성된 게이트폴리실시콘막(16)을 갖는 전력반도체장치에 있어서, 상기 웰(19)내에 형성되어 있고, 상기 소오스접합영역(25)들 사이에서 고농도의 불순물이 도프된 제1도전형 캐소드 오믹접촉영역(27)과; 상기 웰(19)내에서 상기 캐소드오믹접촉영역(27)과 상기 웰(19)의 저부사이에 형성되어 있고, 상기 소오스접합영역(25)의 하부를 덮도록 연장되어 있으며, 그리고 상기 캐소드 오믹접촉영역(27)의 불순물노도보다 낮고 그리고 상기 웰(19)의 불순물농도보다 높은 불순물이 도프된 제1도전형의 불순물확산영역(24)을 포함하는 전력반도체장치.
  5. 반도체기판상에 형성된 저농도의 불순물이 도프된 제1도전형의 웰(19)과, 이 웰(19)내에 형성된 고농도의 불순물이 도프된 제2도전형의 소오스접합영역(25)과, 게이트산화막(15)을 사이에 두고 형성된 게이트폴리실리콘막(16)을 갖는 전력반도체장치의 제조방법에 있어서, 상기 웰(19)내에 형성되어 있고, 상기 소오스집합영역(25)들 사이에서 고농도의 불순물이 도프된 제1도전형 캐소드 오믹접촉영역(27)을 상기 웰(19)내에 형성하는 공정과; 상기 캐소드 오믹접촉영역(27)과 상기 웰(19)사이에서 상기 소오스접합영역(25)의 하부를 덮도록 연장되어 있으며, 그리고 상기 캐소드 오믹접촉영역(27)의 불순물농도보다 낮고 그리고 상기 웰(19)의 불순물농도보다 높은 불순물이 도프된 제2도전형의 불순물확산영역(24)을 상기 웰(19)내에 형성하는 공정을 포함하는 전력반도체장치의 제조방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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