KR970017597A - 가변 출력 임피던스를 구비한 버퍼 회로 - Google Patents
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Abstract
Description
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- 선정된 입력 전압을 수신하기 위한 입력 단자, 및 선정된 입력 전압의 전압 레벨에 해당하는 디지탈 코드를 제공하기 위한 다수의 출력 단자를 구비한 아날로그-디지탈 변환기; 및 각각이 전원 공급 전압 단자에 연결된 제1의 전류 전극과, 디지탈 코드의 해당 비트 선정된 논리 상태에 반응해서 데이타 신호를 수신하기 위해 선택적으로 연결된 제어 전극, 및 출력 신호를 제공하기 위한 출력 단자에 연결 제2의 전류 전극을 구비하는 다수의 2진 가중 출력 트랜지스터를 구비한 출력 가등기 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 버퍼 회로.
- 버퍼 회로의 입력 단자에 연결된 저항 소자와; 전원 공급 전압 단자에 연결된 제1의 전류 전극과, 제어 전극, 및 버퍼 회로의 입력 단자에 연결된 제2의 전류 전극을 구비하는 제1의 트랜지스터와; 저항 소자의 제1의 단자에 연결된 제1의 입력 단자와, 기준 전압을 수신하기 위한 제2의 입력 단자, 및 제1의 트랜지스터의 제어 전극에 연결된 출력 단자를 구비하는 피드백 증폭기와; 전원 공급 전압 단자에 연결된 제1의 전류 전극과, 피드백 증폭기의 출력 단자에 연결된 제어 전극, 및 제2의 전류 전극을 구비하는 제2의 트랜지스터와; 입력 전압을 수신하기 위한 제2의 트랜지스터의 제2의 전류 전극에 연결된 입력 단자, 및 입력 전압의 전압 레벨에 해당하는 디지탈 코드를 제공하기 위한 다수의 출력 단자를 구비하는 아날로그-디지탈 변환기; 및 각각이 전원 공급 전압 단자에 연결된 제1의 전류 전극과, 디지탈 코드의 해당 비트의 선정된 논리 상태에 반응해서 데이타 신호를 수신하기 위해 선택적으로 연결된 제어 전극, 및 출력 신호를 제공하기 위해 출력 구동기 회로의 출력 단자에 연결된 제2의 전류 전극을 구비하는 다수의 2진 가중 트랜지스터를 구비한 구동기 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 가변 출력 임피던스를 구비한 버퍼 회로.
- 제1의 선정된 입력 전압을 수신하기 위한 입력 단자, 및 제1의 선정된 입력 전압의 전압 레벨에 해당하는 풀-업 디지탈 코드를 제공하기 위한 다수의 출력 단자를 구비한 풀-업 아날로그-디지탈 변환기와; 제2의 선정된 입력 전압을 수신하기 위한 입력 단자, 및 제2의 선정된 입력 전압의 전압 레벨에 해당하는 풀-다운 디지탈 코드를 제공하기 위한 다수의 출력 단자를 구비한 풀-다운 아날로그-디지탈 변환기; 및 각각이 제1의 전원 공급 전압 단자에 연결된 제1의 전류 전극과, 풀-업 디지탈 코드의 해당 비트의 선정된 논리 상태에 반응해서 제1의 데이타 신호를 수신하기 위해 선택적으로 연결된 제어 전극, 및 출력 신호를 풀링업(pulling up)하기 위한 출력 단자에 연결된 제2의 전류 전극을 구비한 다수의 2진 가중 풀-업 트랜지스터; 및 각각이 제2의 전원 공급 전압 단자에 연결된 제1의 전류 전극과, 풀-다운 디지탈 코드의 해당 비트의 선정된 논리 상태에 반응해서 제2의 데이타 신호를 수신하기 위해 선택적으로 연결된 제어 전극, 및 출력 신호를 풀링 다운(pulling down)하기 위한 출력 단자에 연결된 제2의 전류 전극을 구비한 다수의 2진 가중 풀-다운 트랜지스터를 포함하는 출력 구동기 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 가변 출력 임피던스를 구비한 버퍼 회로.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US523,165 | 1990-05-14 | ||
US08/523,165 US5606275A (en) | 1995-09-05 | 1995-09-05 | Buffer circuit having variable output impedance |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR970017597A true KR970017597A (ko) | 1997-04-30 |
KR100498789B1 KR100498789B1 (ko) | 2005-10-04 |
Family
ID=24083917
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019960037788A Expired - Fee Related KR100498789B1 (ko) | 1995-09-05 | 1996-09-02 | 가변출력임피던스를갖는버퍼회로 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5606275A (ko) |
JP (1) | JP3871381B2 (ko) |
KR (1) | KR100498789B1 (ko) |
Families Citing this family (62)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
1995
- 1995-09-05 US US08/523,165 patent/US5606275A/en not_active Expired - Lifetime
-
1996
- 1996-09-02 KR KR1019960037788A patent/KR100498789B1/ko not_active Expired - Fee Related
- 1996-09-04 JP JP25381596A patent/JP3871381B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100498789B1 (ko) | 2005-10-04 |
JPH09130229A (ja) | 1997-05-16 |
JP3871381B2 (ja) | 2007-01-24 |
US5606275A (en) | 1997-02-25 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 19960902 |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
A201 | Request for examination | ||
PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 20010903 Comment text: Request for Examination of Application Patent event code: PA02011R01I Patent event date: 19960902 Comment text: Patent Application |
|
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20040625 Patent event code: PE09021S01D |
|
N231 | Notification of change of applicant | ||
PN2301 | Change of applicant |
Patent event date: 20041117 Comment text: Notification of Change of Applicant Patent event code: PN23011R01D |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20050329 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20050623 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20050624 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20080414 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20090415 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
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Payment date: 20100531 Start annual number: 6 End annual number: 6 |
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Payment date: 20110530 Start annual number: 7 End annual number: 7 |
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PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20120607 Start annual number: 8 End annual number: 8 |
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FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130611 Year of fee payment: 9 |
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PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20130611 Start annual number: 9 End annual number: 9 |
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FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140611 Year of fee payment: 10 |
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PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20140611 Start annual number: 10 End annual number: 10 |
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LAPS | Lapse due to unpaid annual fee | ||
PC1903 | Unpaid annual fee |