[go: up one dir, main page]

KR940020426A - 반도체 기억장치(semiconductor memory device) - Google Patents

반도체 기억장치(semiconductor memory device) Download PDF

Info

Publication number
KR940020426A
KR940020426A KR1019940002159A KR19940002159A KR940020426A KR 940020426 A KR940020426 A KR 940020426A KR 1019940002159 A KR1019940002159 A KR 1019940002159A KR 19940002159 A KR19940002159 A KR 19940002159A KR 940020426 A KR940020426 A KR 940020426A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
memory cell
memory
protect
circuits
command
Prior art date
Application number
KR1019940002159A
Other languages
English (en)
Other versions
KR960005357B1 (ko
Inventor
신이치 기쿠치
기요타카 우치가네
히데오 가토
Original Assignee
사토 후미오
가부시키가이샤 도시바(Kabushiki Kaisha Toshiba)
오카모토 세이시
도시바 마이크로일레그트로닉스 가부시키가이샤(Toshiba Micro-Electronics Corporation)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 사토 후미오, 가부시키가이샤 도시바(Kabushiki Kaisha Toshiba), 오카모토 세이시, 도시바 마이크로일레그트로닉스 가부시키가이샤(Toshiba Micro-Electronics Corporation) filed Critical 사토 후미오
Publication of KR940020426A publication Critical patent/KR940020426A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR960005357B1 publication Critical patent/KR960005357B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/22Safety or protection circuits preventing unauthorised or accidental access to memory cells
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/10Programming or data input circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/26Sensing or reading circuits; Data output circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/34Determination of programming status, e.g. threshold voltage, overprogramming or underprogramming, retention
    • G11C16/3436Arrangements for verifying correct programming or erasure
    • G11C16/3454Arrangements for verifying correct programming or for detecting overprogrammed cells
    • G11C16/3459Circuits or methods to verify correct programming of nonvolatile memory cells

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Security & Cryptography (AREA)
  • Read Only Memory (AREA)
  • Storage Device Security (AREA)

Abstract

본 발명은 명령입력시의 전원노이즈나 명령노이즈 등에 의한 잘못된 명령에 의해 장치가 오동작하여도 메모리셀의 데이터파괴를 방지할 수 있게 된다.
이를 위해 본 발명은, 명령콘트롤방식을 이용한 불휘발성 반도체 기억장치로, 명령레지스터회로(107)를 갖추고 불휘발성 메모리셀로 이루어진 프로텍트셀(116)과 그것을 독출하는 프로텍트 감지증촉회로(117), 기록이나 소거의 프로그램시에 전압을 공급하는 고전압 검지회로(114), 프로텍트셀의 제어를 하는 프로텍트 제어회로(115) 및, 프로텍트셀의 데이터를 독출하고 그에 따라 메모리셀 어레이(106)로의 명령의 콘트롤을 수행하는 콘트롤회로(108)를 갖춘 것을 특징으로 하고 있다.

Description

반도체 기억장치(SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE)
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 제1실시예에 따른 구성을 나타낸 회로블록도.
제8도는 본 발명의 제2실시예에 따른 구성을 나타낸 회로블록도.

Claims (2)

  1. 전기적으로 프로그램가능한 불휘발성 메모리셀로 이루어진 메모리셀 어레이(106,206)와, 이 메모리셀 어레이(106,206)에 대하여 외부신호에 따라 어드레스를 지정하고, 액세스동작을 수행하는 메모리 주변회로(101∼105, 109∼111, 201∼205, 209∼211), 상기 메모리셀 어레이(106,206)에 대한 데이터의 프로그램에 관한 제어를 위한 고전압 공급수단(VPP, 112, 113, 212, 213), 외부콘트롤신호에 의해 상기 메모리셀 어레이(106,206)에 대하여 전기적인 프로그램동작을 수행하기 위한 명령신호를 출력하는 명령레지스터회로(107,207), 상기 명령신호에 의해 상기 메모리셀 어레이(106,206)의 임의의 메모리셀에 대하여 프로그램동작 및 독출동작중 적어도 한쪽을 수행하기 위해 상기 메모리 주변회로(101∼105, 109∼111, 201∼205, 209∼211)를 제어하는 명령신호 전달수단(108,208), 상기 메모리셀 어레이(106,206)에 대하여 전기적인 프로그램동작이 이루어질 때에 반드시 그 데이터가 판정되는 불휘발성의 프로텍트 메모리수단(116,216-1∼216-n), 이 프로텍트 메모리수단(116,216-1∼216-n)에 대하여 프로그램동작시킬 때에 이용되는 제어신호를 상기 명령레지스터회로(107,207)에 공급하는 고전압 검지회로(114, 214), 상기 프로텍트 메모리수단(116,216-1∼216-n)의 데이터를 독출하기 위한 프로텍트 감지증폭회로(117,217), 상기 명령레지스터회로(107,207)로부터의 명령신호에 의해 상기 프로텍트 메모리셀과 상기 프로텍트 감지증폭회로(117,217)를 동작제어하는 프로텍트 제어회로(115,215) 및, 상기 프로텍트 감지증폭회로(117,217)의 독출데이터에 의해 상기 메모리셀에 대한 프로그램동작을 제어하기 위한 상기 고전압 공급수단(VPP, 112, 113, 212, 213)을 제어하는 콘트롤회로(108,208)를 구비한 것을 특징으로 하는 반도체 기억장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 메모리셀 어레이(106,206)는 몇 개의 블록으로 분할된 메모리셀 어레이블록의 구성으로 되어 있고, 메모리셀 어레이블록마다 상기 프로텍트 메모리수단(216-1∼216-n)을 배치하고 있는 것을 특징으로 하는 반도체 기억장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019940002159A 1993-02-05 1994-02-05 반도체 기억장치 KR960005357B1 (ko)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP93-18277 1993-02-05
JP1827793 1993-02-05
JP314394A JPH07182885A (ja) 1993-02-05 1994-01-17 半導体記憶装置
JP94-3143 1994-01-17

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR940020426A true KR940020426A (ko) 1994-09-16
KR960005357B1 KR960005357B1 (ko) 1996-04-24

Family

ID=11967154

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019940002159A KR960005357B1 (ko) 1993-02-05 1994-02-05 반도체 기억장치

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JPH07182885A (ko)
KR (1) KR960005357B1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100659502B1 (ko) * 2005-02-04 2006-12-20 삼성전자주식회사 플래쉬 셀로 구현한 퓨즈 어레이 회로

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3489708B2 (ja) * 1996-10-23 2004-01-26 シャープ株式会社 不揮発性半導体記憶装置
JP2005317127A (ja) 2004-04-28 2005-11-10 Matsushita Electric Ind Co Ltd 不揮発性半導体記憶装置
JP4768298B2 (ja) * 2005-03-28 2011-09-07 株式会社東芝 不揮発性半導体記憶装置
JP4547490B2 (ja) * 2007-11-02 2010-09-22 スパンション エルエルシー 不揮発性記憶装置およびその制御方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100659502B1 (ko) * 2005-02-04 2006-12-20 삼성전자주식회사 플래쉬 셀로 구현한 퓨즈 어레이 회로

Also Published As

Publication number Publication date
KR960005357B1 (ko) 1996-04-24
JPH07182885A (ja) 1995-07-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69429462D1 (de) Halbleitervorrichtung und Versorgungsstrom- Detektionsverfahren
KR950004284A (ko) 반도체 집적회로
KR920018766A (ko) 불휘발성 반도체 기억장치
KR950009735A (ko) 불휘발성 반도체 기억장치
KR920017121A (ko) 기록검증 제어회로를 갖춘 전기적으로 소거 및 프로그램 가능한 독출전용 기억장치
KR960015595A (ko) 데이타 보호용 메모리 장치
DE69332551D1 (de) In Speicherblöcke mit störungsfreien Datenleitungen unterteilter Flash-Speicher und Mikrocomputer damit
KR950034268A (ko) 비휘발성 메모리 셀의 스트레스 감소 방법
KR910010526A (ko) 페이지 소거 가능한 플래쉬형 이이피롬 장치
KR100558486B1 (ko) 비휘발성 반도체 메모리 장치 및 이 장치의 원 타임프로그래밍 제어방법
KR950020740A (ko) 불휘발성 반도체 메모리장치
KR940022845A (ko) 반도체 메모리 및 용장 어드레스 기입방법
KR950012533A (ko) 반도체 기억 장치
US5210716A (en) Semiconductor nonvolatile memory
US6108235A (en) Memory device
KR950020749A (ko) 반도체 불휘발성 기억장치
KR100432879B1 (ko) 강유전체 랜덤 액세스 메모리 장치의 데이터 감지 방법
KR100525794B1 (ko) 블록 수준 기록 시 판독 방법 및 장치
KR940006146A (ko) 반도체 다이내믹 억세스 메모리 디바이스
KR950009713A (ko) 작은 동작 전류로 플래시 기록을 행하는 방법 및 그에 따른 반도체 메모리 회로
JP2726503B2 (ja) 集積回路
KR100615406B1 (ko) 반도체 기억 장치 및 그 제어 방법
KR940020426A (ko) 반도체 기억장치(semiconductor memory device)
KR100255161B1 (ko) 플래쉬 메모리셀의 섹터 보호 회로
KR930001653B1 (ko) 불휘발성 반도체 기억장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
PA0109 Patent application

Patent event code: PA01091R01D

Comment text: Patent Application

Patent event date: 19940205

PA0201 Request for examination

Patent event code: PA02012R01D

Patent event date: 19940205

Comment text: Request for Examination of Application

PG1501 Laying open of application
G160 Decision to publish patent application
PG1605 Publication of application before grant of patent

Comment text: Decision on Publication of Application

Patent event code: PG16051S01I

Patent event date: 19960329

E701 Decision to grant or registration of patent right
PE0701 Decision of registration

Patent event code: PE07011S01D

Comment text: Decision to Grant Registration

Patent event date: 19960724

GRNT Written decision to grant
PR0701 Registration of establishment

Comment text: Registration of Establishment

Patent event date: 19961017

Patent event code: PR07011E01D

PR1002 Payment of registration fee

Payment date: 19961017

End annual number: 3

Start annual number: 1

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 19990327

Start annual number: 4

End annual number: 4

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20000328

Start annual number: 5

End annual number: 5

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20010329

Start annual number: 6

End annual number: 6

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20020328

Start annual number: 7

End annual number: 7

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20030401

Start annual number: 8

End annual number: 8

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20040331

Start annual number: 9

End annual number: 9

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20050331

Start annual number: 10

End annual number: 10

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20060331

Start annual number: 11

End annual number: 11

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20070330

Start annual number: 12

End annual number: 12

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20080327

Start annual number: 13

End annual number: 13

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20090410

Start annual number: 14

End annual number: 14

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20100330

Start annual number: 15

End annual number: 15

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20110318

Start annual number: 16

End annual number: 16

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20120418

Year of fee payment: 17

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20120418

Start annual number: 17

End annual number: 17

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130403

Year of fee payment: 18

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20130403

Start annual number: 18

End annual number: 18

EXPY Expiration of term
PC1801 Expiration of term