KR940020426A - 반도체 기억장치(semiconductor memory device) - Google Patents
반도체 기억장치(semiconductor memory device) Download PDFInfo
- Publication number
- KR940020426A KR940020426A KR1019940002159A KR19940002159A KR940020426A KR 940020426 A KR940020426 A KR 940020426A KR 1019940002159 A KR1019940002159 A KR 1019940002159A KR 19940002159 A KR19940002159 A KR 19940002159A KR 940020426 A KR940020426 A KR 940020426A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- memory cell
- memory
- protect
- circuits
- command
- Prior art date
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract 5
- 238000003491 array Methods 0.000 claims 6
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims 2
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 claims 1
- 208000032368 Device malfunction Diseases 0.000 abstract 1
- 230000006378 damage Effects 0.000 abstract 1
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/22—Safety or protection circuits preventing unauthorised or accidental access to memory cells
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/10—Programming or data input circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/26—Sensing or reading circuits; Data output circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/34—Determination of programming status, e.g. threshold voltage, overprogramming or underprogramming, retention
- G11C16/3436—Arrangements for verifying correct programming or erasure
- G11C16/3454—Arrangements for verifying correct programming or for detecting overprogrammed cells
- G11C16/3459—Circuits or methods to verify correct programming of nonvolatile memory cells
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Security & Cryptography (AREA)
- Read Only Memory (AREA)
- Storage Device Security (AREA)
Abstract
Description
Claims (2)
- 전기적으로 프로그램가능한 불휘발성 메모리셀로 이루어진 메모리셀 어레이(106,206)와, 이 메모리셀 어레이(106,206)에 대하여 외부신호에 따라 어드레스를 지정하고, 액세스동작을 수행하는 메모리 주변회로(101∼105, 109∼111, 201∼205, 209∼211), 상기 메모리셀 어레이(106,206)에 대한 데이터의 프로그램에 관한 제어를 위한 고전압 공급수단(VPP, 112, 113, 212, 213), 외부콘트롤신호에 의해 상기 메모리셀 어레이(106,206)에 대하여 전기적인 프로그램동작을 수행하기 위한 명령신호를 출력하는 명령레지스터회로(107,207), 상기 명령신호에 의해 상기 메모리셀 어레이(106,206)의 임의의 메모리셀에 대하여 프로그램동작 및 독출동작중 적어도 한쪽을 수행하기 위해 상기 메모리 주변회로(101∼105, 109∼111, 201∼205, 209∼211)를 제어하는 명령신호 전달수단(108,208), 상기 메모리셀 어레이(106,206)에 대하여 전기적인 프로그램동작이 이루어질 때에 반드시 그 데이터가 판정되는 불휘발성의 프로텍트 메모리수단(116,216-1∼216-n), 이 프로텍트 메모리수단(116,216-1∼216-n)에 대하여 프로그램동작시킬 때에 이용되는 제어신호를 상기 명령레지스터회로(107,207)에 공급하는 고전압 검지회로(114, 214), 상기 프로텍트 메모리수단(116,216-1∼216-n)의 데이터를 독출하기 위한 프로텍트 감지증폭회로(117,217), 상기 명령레지스터회로(107,207)로부터의 명령신호에 의해 상기 프로텍트 메모리셀과 상기 프로텍트 감지증폭회로(117,217)를 동작제어하는 프로텍트 제어회로(115,215) 및, 상기 프로텍트 감지증폭회로(117,217)의 독출데이터에 의해 상기 메모리셀에 대한 프로그램동작을 제어하기 위한 상기 고전압 공급수단(VPP, 112, 113, 212, 213)을 제어하는 콘트롤회로(108,208)를 구비한 것을 특징으로 하는 반도체 기억장치.
- 제1항에 있어서, 상기 메모리셀 어레이(106,206)는 몇 개의 블록으로 분할된 메모리셀 어레이블록의 구성으로 되어 있고, 메모리셀 어레이블록마다 상기 프로텍트 메모리수단(216-1∼216-n)을 배치하고 있는 것을 특징으로 하는 반도체 기억장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP93-18277 | 1993-02-05 | ||
JP1827793 | 1993-02-05 | ||
JP314394A JPH07182885A (ja) | 1993-02-05 | 1994-01-17 | 半導体記憶装置 |
JP94-3143 | 1994-01-17 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR940020426A true KR940020426A (ko) | 1994-09-16 |
KR960005357B1 KR960005357B1 (ko) | 1996-04-24 |
Family
ID=11967154
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019940002159A KR960005357B1 (ko) | 1993-02-05 | 1994-02-05 | 반도체 기억장치 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07182885A (ko) |
KR (1) | KR960005357B1 (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100659502B1 (ko) * | 2005-02-04 | 2006-12-20 | 삼성전자주식회사 | 플래쉬 셀로 구현한 퓨즈 어레이 회로 |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3489708B2 (ja) * | 1996-10-23 | 2004-01-26 | シャープ株式会社 | 不揮発性半導体記憶装置 |
JP2005317127A (ja) | 2004-04-28 | 2005-11-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 不揮発性半導体記憶装置 |
JP4768298B2 (ja) * | 2005-03-28 | 2011-09-07 | 株式会社東芝 | 不揮発性半導体記憶装置 |
JP4547490B2 (ja) * | 2007-11-02 | 2010-09-22 | スパンション エルエルシー | 不揮発性記憶装置およびその制御方法 |
-
1994
- 1994-01-17 JP JP314394A patent/JPH07182885A/ja active Pending
- 1994-02-05 KR KR1019940002159A patent/KR960005357B1/ko not_active IP Right Cessation
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100659502B1 (ko) * | 2005-02-04 | 2006-12-20 | 삼성전자주식회사 | 플래쉬 셀로 구현한 퓨즈 어레이 회로 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR960005357B1 (ko) | 1996-04-24 |
JPH07182885A (ja) | 1995-07-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE69429462D1 (de) | Halbleitervorrichtung und Versorgungsstrom- Detektionsverfahren | |
KR950004284A (ko) | 반도체 집적회로 | |
KR920018766A (ko) | 불휘발성 반도체 기억장치 | |
KR950009735A (ko) | 불휘발성 반도체 기억장치 | |
KR920017121A (ko) | 기록검증 제어회로를 갖춘 전기적으로 소거 및 프로그램 가능한 독출전용 기억장치 | |
KR960015595A (ko) | 데이타 보호용 메모리 장치 | |
DE69332551D1 (de) | In Speicherblöcke mit störungsfreien Datenleitungen unterteilter Flash-Speicher und Mikrocomputer damit | |
KR950034268A (ko) | 비휘발성 메모리 셀의 스트레스 감소 방법 | |
KR910010526A (ko) | 페이지 소거 가능한 플래쉬형 이이피롬 장치 | |
KR100558486B1 (ko) | 비휘발성 반도체 메모리 장치 및 이 장치의 원 타임프로그래밍 제어방법 | |
KR950020740A (ko) | 불휘발성 반도체 메모리장치 | |
KR940022845A (ko) | 반도체 메모리 및 용장 어드레스 기입방법 | |
KR950012533A (ko) | 반도체 기억 장치 | |
US5210716A (en) | Semiconductor nonvolatile memory | |
US6108235A (en) | Memory device | |
KR950020749A (ko) | 반도체 불휘발성 기억장치 | |
KR100432879B1 (ko) | 강유전체 랜덤 액세스 메모리 장치의 데이터 감지 방법 | |
KR100525794B1 (ko) | 블록 수준 기록 시 판독 방법 및 장치 | |
KR940006146A (ko) | 반도체 다이내믹 억세스 메모리 디바이스 | |
KR950009713A (ko) | 작은 동작 전류로 플래시 기록을 행하는 방법 및 그에 따른 반도체 메모리 회로 | |
JP2726503B2 (ja) | 集積回路 | |
KR100615406B1 (ko) | 반도체 기억 장치 및 그 제어 방법 | |
KR940020426A (ko) | 반도체 기억장치(semiconductor memory device) | |
KR100255161B1 (ko) | 플래쉬 메모리셀의 섹터 보호 회로 | |
KR930001653B1 (ko) | 불휘발성 반도체 기억장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 19940205 |
|
PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 19940205 Comment text: Request for Examination of Application |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
G160 | Decision to publish patent application | ||
PG1605 | Publication of application before grant of patent |
Comment text: Decision on Publication of Application Patent event code: PG16051S01I Patent event date: 19960329 |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 19960724 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 19961017 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 19961017 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 19990327 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20000328 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20010329 Start annual number: 6 End annual number: 6 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20020328 Start annual number: 7 End annual number: 7 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20030401 Start annual number: 8 End annual number: 8 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20040331 Start annual number: 9 End annual number: 9 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20050331 Start annual number: 10 End annual number: 10 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20060331 Start annual number: 11 End annual number: 11 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20070330 Start annual number: 12 End annual number: 12 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20080327 Start annual number: 13 End annual number: 13 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20090410 Start annual number: 14 End annual number: 14 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20100330 Start annual number: 15 End annual number: 15 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20110318 Start annual number: 16 End annual number: 16 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20120418 Year of fee payment: 17 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20120418 Start annual number: 17 End annual number: 17 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130403 Year of fee payment: 18 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20130403 Start annual number: 18 End annual number: 18 |
|
EXPY | Expiration of term | ||
PC1801 | Expiration of term |