KR900013522A - 반도체 불휘발성 기억장치와 그것을 사용한 정보처리시스템 - Google Patents
반도체 불휘발성 기억장치와 그것을 사용한 정보처리시스템 Download PDFInfo
- Publication number
- KR900013522A KR900013522A KR1019900000592A KR900000592A KR900013522A KR 900013522 A KR900013522 A KR 900013522A KR 1019900000592 A KR1019900000592 A KR 1019900000592A KR 900000592 A KR900000592 A KR 900000592A KR 900013522 A KR900013522 A KR 900013522A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- nonvolatile memory
- erasing
- erase
- memory device
- semiconductor nonvolatile
- Prior art date
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims 21
- 230000010365 information processing Effects 0.000 title claims 8
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims 7
- 230000006870 function Effects 0.000 claims 6
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000008030 elimination Effects 0.000 description 1
- 238000003379 elimination reaction Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C17/00—Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards
- G11C17/08—Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards using semiconductor devices, e.g. bipolar elements
Landscapes
- Read Only Memory (AREA)
- Non-Volatile Memory (AREA)
- Semiconductor Memories (AREA)
Abstract
Description
Claims (19)
- 각각 1개씩 워드선, 데이타선의 교차점에서 1개의 메모리셀이 구성되고, 상기 메모리셀이 전기적으로소거가능한 불휘발성 기억장치에 있어서, 외부에서의 소거지시에 따라서 소거동작을 개시하고, 그 후는 외부에서의 어드레스신호, 입력데이타, 제어신호에 관계없이 자동적으로 소거가 실행되고, 상기 소거가 완료된 다음 외부에서의 어드레스신호, 입력데이타, 제어신호에 의해 바라는 동작이 가능하게 되는 반도체 불휘발성 기억장치.
- 특허 청구의 범위 제1항에 있어서, 상기 소거증, 소거모드를 중단 또는 종료시키지 않고, 외부에서의 제어신호에 의해 소거중인가, 소거종료인가의 판정신호를 외부로 송출하는 반도체 불휘발성 기억장치.
- 행 및 열로 되는 매트릭스 형상으로 배치되어서 이루어지고, 전기적으로 라이트, 소거가 가능한 불휘발성 메모리이며, 상기 소거에서 리드사이클시간 이하의 단일 펄스를 입력하는 것에 의해 소거를 개시하고, 그 후는 외부에서의 어드레스, 데이타, 제어신호의 입력에 관계 없이 자동적으로 소거를 행하고, 상기 소거가 종료된 다음에 외부에서의 어드레스, 데이타, 제어신호의 입력에 관계없이 자동적으로 소거를 행하고, 상기 소거가 종료된 다음에 외부에서의 어드레스, 데이타, 제어신호를 받아들이는 반도체 불휘발성 기억장치.
- 행 및 열로 되는 매트릭스 형상으로 배치되어서 이루어지고, 전기적으로 라이트, 소거가 가능한 불휘발성메모리를 포함하고, 마이크로프로세서와 시스템버스에 의해 접속된 정보처리시스템에 있어서, 상기 소거에서 리드사이클 이하의 단일펄스를 입력하는 것에 의해 소거를 개시하고, 그 후는 시스템버스에서의 어드레스,데이타, 제어신호에 관계없이 자동적으로 소거를 실행하고, 상기 소거가 종료된 다음에 시스템버스에서의 신호를 받아들이는 반도체 불휘발성 기억장치를 포함하는 정보처리시스템.
- 전기적으로 소거가능하게 된 불휘발성 기억소자가 매트릭스형상으로 배치되어서 이루어지는 메모리어레이와 외부에서의 소거동작의 지시에 따라서 소거동작을 실행한 다음에 대응하는 메모리셀을 적어도 1회의 리등동작을 실행하고, 상기 리드정보에 따라서 소거동작의 계속, 정지를 제어하는 소거제어회로를 구비해서 이루어지는 반도체 불휘발성 기억장치.
- 특허 청구의 범위 제5항에 있어서, 상기 소거 제어회로는 상기의 소거동작에 앞서서 전체 메모리셀에 대해서 라이트하는 프리라이트기능을 갖는 반도체 불휘발성 기억장치.
- 특허 청구의 범위 제5항 또는 제6항에 있어서, 상기 메모리셀은 플로팅게이트와 콘트롤 게이트의 2층 게이트구조를 갖는 MOSFET이며, 플로팅게이트에 축적된 정보전하를 터널현상을 이용해서 소오스, 드레인 또는 웰로 인출하는 것에 의해 전기적으로 소거되는 것인 반도체 불휘발성 기억장치.
- 특허 청구의 범위 제5항 또는 제6항에 있어서, 상기 메모리어레이를 구성하는 메모리셀은 메모리어레이 전체 또는 그 일부의 메모리셀군의 소오스, 드레인이 공통화되고, 공통화된 메모리셀마다 일괄해서 전기적인 소거동작을 실행하는 것인 반도체 불휘발성 기억장치.
- 특허 청구의 범위 제5항 또는 제6항에 있어서, 상기 소거제어회로는 메모리셀을 선택하기 위한 어드레스 발생회로를 포함하는 반도체 불휘발성 기억장치.
- 특허 청구의 범위 제5항 또는 제6항에 있어서, 상기 소거의 계속, 정지를 제어하기 위한 메모리셀의 리드동작은 콘트롤게이트에 전달되는 워드선의 선택전위를 비교적 낮은 전위로 설정해서 실행되는 것인 반도체 불휘발성 기억장치.
- 특허 청구의 범위 제10항에 있어서, 상기 워드선의 선택전위를 비교적 낮은 전위로 설정하기 위한 동작전압은 기준전압 발행회로에서 형성된 기준전압을 받고, 이득설정용 저항소자에 따라서 바라는 출력전압으로 변환하는 제1의 연산증폭회고, 상기 제1의 연산증폭회로의 출력신호를 받아서 출력전압을 형성하는 전압추종 형태의 제2연산증폭회로의 출력단자에서 얻는 것인 반도체 불휘발성 기억장치.
- 전기적으로 소거가능하게 된 불휘발성 기억소자가 매트릭스 형상으로 배치되어서 이루어지는 메모리어레이, 외부에서의 소거동작의 지시에 따라서 소거동작을 실행한 다음에 대응하는 메모리셀을 적어도 1회의 리드동작을 실행하고 그 리드정보에 따라서 소거동작의 계속, 정지를 제어하는 소거제어회로, 외부에서의 지시에 따라 소거동작의 계속, 정지등의 내부상태를 외부로 출력시키는 기능을 갖는 출력회로를 구비해서 이루어지는 반도체 불휘발성 기억장치.
- 전기적으로 소거가능하게 된 불휘발성 기억소자가 매트릭스 형상으로 배치되어서 이루어지는 메모리어레이, 외부에서의 소거동작의 지시에 따라서 소거동작을 실행한 다음에 대응하는 메모리셀을 적어도 1회의 리드동작을 실행하고 그 리드 정보에 따라서 소거동작의 계속, 정지를 제어하는 소거제어회로, 소거동작의 계속, 정지등의 내부 상태를 외부로 출력시키는 기능을 갖는 출력회로를 구비해서 이루어지는 반도체 불휘발성 기억장치, 소정의 정보처리기능을 갖는 마이크로프로세서, 상기 반도체 불휘발성 기억장치와 마이크로프로세서를 접속하는 시스템버스를 포함하고, 상기 반도체 불휘발성 기억장치는 상기 마이크로프로세서에서의 소거 지시에 따라서 마이크로프로세서와 분리된 상태에서 내부의 소거제어회로에 의해 자동적으로 소거동작을 실행하는 정보처리시스템.
- 특허 청구의 범위 제13항에 있어서, 상기 마이크로프로세서는 반도체 불휘발성 기억장치에 대해서 상기 출력회로를 이용해서 내부상태의 출력을 지시해서 소거동작의 완료의 유무를 판정하는 정보처리 시스템.
- 1개의 게이트 신호선(워드선)과 1개의 드레인신호선(데이타선)에 의해 선택되고, 전기적으로 소거 가능하게 된 불휘발성 기억소자가 매트릭스형상으로 배치되어서 이루어지는 메모리어레이를 갖고, 외부에서의 소거지시에 따라서 소거동작을 개시하고, 그 후는 외부에서의 어드레스신호, 입력데이타, 제어신호에 관계없이 자동적으로 소거가 실행되고, 상기 소거가 완료된 다음 외부에서의 어드레스신호, 입력데이타, 제어신호에 의해 바라는 동작이 가능하게 되는 반도체 불휘발성 기억장치.
- 특허 청구의 범위 제15항에 있어서, 상기 소거중, 소거모드를 중단 또는 종료시키지 않고 외부에서의 제어신호에 의해 소거중인가 소거종료인가를 판정하는 신호를 외부로 송출하는 것인 반도체 불휘발성 기억장치.
- 1개의 게이트신호선(워드선)과 1개의 드레인신호선(데이타선)에 의해 선택되고, 전기적으로 소거 가능하게 된 불휘발성 기억소자가 매트릭스형상으로 배치되어서 이루어지는 메모리어레이를 갖고, 외부에서의 소거동작의 지시에 따라서 소거동작을 개시하고, 그 후는 외부에서의 어드레스신호, 입력데이타, 제어신호에 관계없이 자동적으로 소거가 실행되고, 상기 소거가 완료된 후 외부에서의 어드레스신호, 입력데이타, 제어신호에 의해 바라는 동작이 가능하게 되는 반도체 불휘발성 기억장치, 소정의 정보처리기능을 갖는 마이크로프로세서, 상기 반도체 불휘발성 기억장치와 마이크로 프로세서를 접속하는 시스템버스를 포함하고, 반도체 불휘발성 기억장치는 상기 마이크로프로세서에서의 소거지시에 따라 마이크로 프로세서와 분리된 상태에서 내부의 소거제어회로에 의해 자동적으로 소거동작을 실행하는 정보처리시스템.
- 특허 청구의 범위 제17항에 있어서, 상기 반도체 불휘발성 기억장치는 상기 소거중, 소거 모드를 종료시키지 않고 외부에서의 제어신호에 의해 소거중인가 아닌가를 판정하는 신호를 외부로 송출하는 것인 정보처리시스템.
- 특허 청구의 범위 제17항에 있어서, 상기 마이크로프로세서는 반도체 불휘발성 기억장치에 대해서 상기 소거중, 소거모드를 종료시키지 않고, 외부에서의 제어시호에 의해 소거중인가 아닌가를 판정하는 신호를 외부로 송출하는 기능을 이용해서 내부상태의 출력을 지시해서 소거동작의 완료의 유무를 판정하는 정보처리시스템.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019980017771A KR0176314B1 (ko) | 1989-02-06 | 1998-05-18 | 반도체집적회로장치 |
KR1019980017773A KR0176312B1 (ko) | 1989-02-06 | 1998-05-18 | 반도체집적회로장치를 사용한 정보처리시스템 |
KR1019980017772A KR0176313B1 (ko) | 1989-02-06 | 1998-05-18 | 반도체집적회로장치 |
Applications Claiming Priority (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP89-27271 | 1989-02-06 | ||
JP2727189 | 1989-02-06 | ||
JP1-27271 | 1989-06-02 | ||
JP89-243603 | 1989-09-20 | ||
JP1-243603 | 1989-09-20 | ||
JP24360389A JP2654596B2 (ja) | 1989-02-06 | 1989-09-20 | 不揮発性記憶装置 |
Related Child Applications (3)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019980017771A Division KR0176314B1 (ko) | 1989-02-06 | 1998-05-18 | 반도체집적회로장치 |
KR1019980017772A Division KR0176313B1 (ko) | 1989-02-06 | 1998-05-18 | 반도체집적회로장치 |
KR1019980017773A Division KR0176312B1 (ko) | 1989-02-06 | 1998-05-18 | 반도체집적회로장치를 사용한 정보처리시스템 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR900013522A true KR900013522A (ko) | 1990-09-06 |
KR0161285B1 KR0161285B1 (ko) | 1999-02-01 |
Family
ID=26365177
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019900000592A Expired - Lifetime KR0161285B1 (ko) | 1989-02-06 | 1990-01-19 | 반도체 불휘발성 기억장치와 그것을 사용한 정보처리 시스템 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2654596B2 (ko) |
KR (1) | KR0161285B1 (ko) |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR940006611B1 (ko) * | 1990-08-20 | 1994-07-23 | 삼성전자 주식회사 | 전기적으로 소거 및 프로그램이 가능한 반도체 메모리장치의 자동 소거 최적화회로 및 방법 |
JPH04351794A (ja) * | 1991-05-29 | 1992-12-07 | Hitachi Ltd | 不揮発性記憶装置 |
US6347051B2 (en) | 1991-11-26 | 2002-02-12 | Hitachi, Ltd. | Storage device employing a flash memory |
JP3080744B2 (ja) * | 1991-12-27 | 2000-08-28 | 日本電気株式会社 | 電気的に書き込み一括消去可能な不揮発性半導体記憶装置 |
US6414878B2 (en) | 1992-03-17 | 2002-07-02 | Hitachi, Ltd. | Data line disturbance free memory block divided flash memory and microcomputer having flash memory therein |
TW231343B (ko) | 1992-03-17 | 1994-10-01 | Hitachi Seisakusyo Kk | |
US7057937B1 (en) | 1992-03-17 | 2006-06-06 | Renesas Technology Corp. | Data processing apparatus having a flash memory built-in which is rewritable by use of external device |
US5687345A (en) * | 1992-03-17 | 1997-11-11 | Hitachi, Ltd. | Microcomputer having CPU and built-in flash memory that is rewritable under control of the CPU analyzing a command supplied from an external device |
US6549974B2 (en) | 1992-06-22 | 2003-04-15 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor storage apparatus including a controller for sending first and second write commands to different nonvolatile memories in a parallel or time overlapped manner |
EP0700570B1 (en) * | 1993-05-28 | 2001-07-11 | Macronix International Co., Ltd. | Flash eprom with block erase flags for over-erase protection |
JPH0729386A (ja) * | 1993-07-13 | 1995-01-31 | Hitachi Ltd | フラッシュメモリ及びマイクロコンピュータ |
JPH0773685A (ja) * | 1993-09-06 | 1995-03-17 | Hitachi Ltd | 半導体不揮発性記憶装置 |
JP3448365B2 (ja) * | 1994-09-20 | 2003-09-22 | 三菱電機株式会社 | 不揮発性半導体記憶装置 |
JP3793464B2 (ja) * | 2002-01-21 | 2006-07-05 | 株式会社日立製作所 | 半導体記憶装置 |
JP3793540B2 (ja) * | 2004-04-12 | 2006-07-05 | 株式会社日立製作所 | 半導体記憶装置 |
JP3793542B2 (ja) * | 2004-12-28 | 2006-07-05 | 株式会社日立製作所 | 半導体記憶装置 |
JP5484233B2 (ja) * | 2010-07-16 | 2014-05-07 | 株式会社日立製作所 | フラッシュメモリ劣化判定装置およびフラッシュメモリの劣化判定方法 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2828836C2 (de) * | 1978-06-30 | 1983-01-05 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Wortweise elektrisch löschbarer, nichtflüchtiger Speicher |
JPS62205599A (ja) * | 1986-03-05 | 1987-09-10 | Nec Corp | 書込可能読出専用記憶回路 |
US5053990A (en) * | 1988-02-17 | 1991-10-01 | Intel Corporation | Program/erase selection for flash memory |
-
1989
- 1989-09-20 JP JP24360389A patent/JP2654596B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1990
- 1990-01-19 KR KR1019900000592A patent/KR0161285B1/ko not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2654596B2 (ja) | 1997-09-17 |
KR0161285B1 (ko) | 1999-02-01 |
JPH02289997A (ja) | 1990-11-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR900013522A (ko) | 반도체 불휘발성 기억장치와 그것을 사용한 정보처리시스템 | |
US5831905A (en) | Method for controlling erasure of nonvolatile semiconductor memory | |
JP4965106B2 (ja) | 不揮発性メモリ装置及びそれの高速プログラム方法 | |
JPH05128878A (ja) | 不揮発性半導体記憶装置 | |
KR950020740A (ko) | 불휘발성 반도체 메모리장치 | |
US6466480B2 (en) | Method and apparatus for trimming non-volatile memory cells | |
KR19990006395A (ko) | 비휘발성 반도체 기억 장치 | |
KR970051349A (ko) | 비휘발성 반도체 메모리 및 과소거된 메모리셀의 임계 전압 상승 방법 | |
US5544117A (en) | Non-volatile semiconductor memory device with improved collective erasing operation | |
US6781882B2 (en) | Nonvolatile semiconductor storage device having a shortened time required for a data erasing operation and data erasing method thereof | |
JPH0664920B2 (ja) | 不揮発性メモリ | |
JP2591740B2 (ja) | 不揮発性のプログラム可能な半導体メモリ | |
DE69630228D1 (de) | Flash-speichersystem mit reduzierten störungen und verfahren dazu | |
KR960030428A (ko) | 반도체 비휘발성 기억장치 | |
JPH07287989A (ja) | 不揮発性半導体記憶装置 | |
US5517453A (en) | Memory with multiple erase modes | |
US5381366A (en) | Non-volatile semiconductor memory device with timer controlled re-write inhibit means | |
KR20000070274A (ko) | 가변 페이지 사이즈를 갖는 리프로그래머블 메모리 장치 | |
EP0443777A2 (en) | Write circuit for non-volatile memory device | |
KR19990013057A (ko) | 단일 비트 데이터와 다중 비트 데이터를 동일한 칩에 선택적으로 저장하는 플래시 메모리 장치의 독출 및 기입 방법 | |
JP3180003B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
JP3578478B2 (ja) | 不揮発性半導体記憶装置 | |
JPH05290585A (ja) | 電気的に書き込み可能な不揮発性メモリ | |
JPH0482094A (ja) | 不揮発性半導体記憶装置 | |
RU98111190A (ru) | Способ и устройство для автоматического определения необходимого высокого напряжения для программирования/стирания электрически стираемого программируемого постоянного накопителя |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 19900119 |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
A201 | Request for examination | ||
PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 19941227 Comment text: Request for Examination of Application Patent event code: PA02011R01I Patent event date: 19900119 Comment text: Patent Application |
|
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 19980228 Patent event code: PE09021S01D |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 19980724 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 19980824 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 19980824 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20010731 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20020731 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20030801 Start annual number: 6 End annual number: 6 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20040809 Start annual number: 7 End annual number: 7 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20050801 Start annual number: 8 End annual number: 8 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20060810 Start annual number: 9 End annual number: 9 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20070808 Start annual number: 10 End annual number: 10 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20080808 Start annual number: 11 End annual number: 11 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20090807 Start annual number: 12 End annual number: 12 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20100811 Start annual number: 13 End annual number: 13 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20110720 Start annual number: 14 End annual number: 14 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20120802 Year of fee payment: 15 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20120802 Start annual number: 15 End annual number: 15 |
|
EXPY | Expiration of term | ||
PC1801 | Expiration of term |
Termination date: 20140224 Termination category: Expiration of duration |