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KR880003247A - 반도체 집적회로장치 - Google Patents

반도체 집적회로장치 Download PDF

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KR880003247A
KR880003247A KR870004715A KR870004715A KR880003247A KR 880003247 A KR880003247 A KR 880003247A KR 870004715 A KR870004715 A KR 870004715A KR 870004715 A KR870004715 A KR 870004715A KR 880003247 A KR880003247 A KR 880003247A
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사도루 기시다
가즈히로 사까시다
도시아끼 하니부찌
이찌로오 도미오까
다까히꼬 아라가와
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시기 모리야
미쓰비시 뎅끼 가부시끼가이샤
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Abstract

내용 없음

Description

반도체 집적회로장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 일실시예에 의한 반도체 집적회로장치의 회로도.
제2도(a)는 당해장치의 스캔레지스터회로의 일구성 예시도.
제2도(b)는 당해장치의 래치회로의 일구성 예시도.
제2'도(a')는 당해장치의 스캔레지스터회로의 일구성 예시도.
제3도는 종래의 반도체 집적회로장치의 회로도.

Claims (2)

  1. 적어도 그 중의 1개는 순서회로를 포함한 복수개의 회로 블록간에서 데이터 전송을 실행함과 동시에 상기 각 회로 블록을 스캔테스트방식으로 테스트가능하게한 반도체 집적회로장치로서 상기 복수개의 회로 블록사이의 각각에 전파되는 데이터의 비트수에 대응하게 설정되며 통상 동작시는 전단회로 블록의 출력데이터를 그대로 출력하고 테스트 동작시는 전단회로 블록의 출력데이터 또는 스캔테스트용의 테스트 데이터를 외부클럭에 동기하여 유지 출력하고 전체로서 1개의 시프트레지스터 기능을 갖도록 각 회로 상호간이 시프트레지스트 패스로 접속되어서된 복수의 스캔레지스터와 그 데이터 입력단자가 대응하는 스캔레지스터의 데이터 출력단자에 접속설치되며 통상 동작시는 대응하는 스캔레지스터의 출력데이터를 그대로 차단의 회로블록에 출력하고 테스트 동작시의 스캔모드에 있어서는 스캔동작전의 대응하는 스캔레지스터의 출력데이터를 유지하여 당해 데이터를 차단의 회로 블록에 계속인가하고 테스트모드에 있어서는 대응하는 스캔레지스터의 출력데이터를 외부 클럭에 동기하여 유지 출력하는 래치회로와 상기 스캔레지스터의 각각에 장치외부에서 테스트용의 시리얼데이터를 설정하기 위한 테스트데이터설정수단과 상기 각 스캔레지스터의 데이터를 시리얼데이터로서 장치외부에 순차 출력하기 위한 테스트결과 출력수단과 통상 동작과 테스트 동작의 전환 스캔모드와 테스트모드의 전환을 하는 동작전환수단과를 구비함을 특징으로하는 반도체 집적회로장치.
  2. 적어도 그 중의 1개는 순서회로를 포함하는 복수개의 회로 블록간에서 데이터 전송을 함과 동시에 상기 각 회로 블록을 스캔테스트 방식으로 테스트 가능하게한 반도체 집적회로장치로서 상기 복수개의 회로 블록간의 각기에 전파되는 데이터의 비트수에 대응하게 설정되며 통상 동작시는 전단회로 블록의 출력데이터를 그대로 출력하고 테스트 동작시는 전단회로 블록의 출력데이터 또는 스캔테스트용의 테스트데이터를 외부클럭에 동기하여 유지 출력하고 전체로서 1개의 시프트레지스터 기능을 갖도록 각 회로 상호간 이 시프트레지스트 패스로 접속되어서 된 복수의 스캔레지스터와 그 데이터 입력단자가 대응하는 스캔레지스터의 데이터 출력단자에 접속 설치되며 통상 동작시는 대응하는 스캔레지스터의 출력데이터를 그대로 차단의 회로블록에 출력하고 테스트 동작시의 스캔모드에 있어서는 스캔동작전의 대응하는 스캔레지스터의 출력데이터를 유지하여 당해 데이터를 차단의 회로 블록에 인가를 계속하고 테스트모드에 있어서는 대응하는 스캔레지스터의 출력데이터를 외부 클럭에 동기하여 유지 출력하는 래치회로와 상기 스캔 레지스터의 각각에 장치외부에서 테스트용의 시티얼데이터를 설정하기 위한 테스트데이터 설정수단과 상기 각 스캔레지스터의 데이터를 시리얼데이터로서 장치 외부에 순차출력하기 위한 테스트결과 출력 수단과 통상 동작과 테스트동작의 전환 스캔모드와 테스트모드의 전환을 하는 동작 전환수단과를 구비함여 상기 스캔레지스터는 제1, 제2의 래치를 보유하고 통상 동작시 및 테스트 동작시의 테스트 모드시에는 상기 제1의 래치만을 통하여 데이터를 출력하고 테스트 동작시의 스캔모드시에는 상기 제1 및 제2의 래치를 통하여 테스트 데이터를 출력하는 것인 것을 특징으로하는 반도체 집적회로장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019870004715A 1986-08-04 1987-05-13 반도체 집적회로장치 KR900002770B1 (ko)

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