KR20060039704A - 다파장 레이저 다이오드 및 그 제조방법 - Google Patents
다파장 레이저 다이오드 및 그 제조방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20060039704A KR20060039704A KR1020040088901A KR20040088901A KR20060039704A KR 20060039704 A KR20060039704 A KR 20060039704A KR 1020040088901 A KR1020040088901 A KR 1020040088901A KR 20040088901 A KR20040088901 A KR 20040088901A KR 20060039704 A KR20060039704 A KR 20060039704A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- layer
- type
- compound semiconductor
- laser diode
- resonant
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Ceased
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/40—Arrangement of two or more semiconductor lasers, not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
- H01S5/4025—Array arrangements, e.g. constituted by discrete laser diodes or laser bar
- H01S5/4031—Edge-emitting structures
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/40—Arrangement of two or more semiconductor lasers, not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/02—Structural details or components not essential to laser action
- H01S5/022—Mountings; Housings
- H01S5/0235—Method for mounting laser chips
- H01S5/02375—Positioning of the laser chips
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/40—Arrangement of two or more semiconductor lasers, not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
- H01S5/4025—Array arrangements, e.g. constituted by discrete laser diodes or laser bar
- H01S5/4087—Array arrangements, e.g. constituted by discrete laser diodes or laser bar emitting more than one wavelength
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/02—Structural details or components not essential to laser action
- H01S5/022—Mountings; Housings
- H01S5/0233—Mounting configuration of laser chips
- H01S5/0234—Up-side down mountings, e.g. Flip-chip, epi-side down mountings or junction down mountings
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/30—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
- H01S5/32—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures
- H01S5/323—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser
- H01S5/32308—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser emitting light at a wavelength less than 900 nm
- H01S5/32316—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser emitting light at a wavelength less than 900 nm comprising only (Al)GaAs
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/30—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
- H01S5/32—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures
- H01S5/323—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser
- H01S5/32308—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser emitting light at a wavelength less than 900 nm
- H01S5/32325—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser emitting light at a wavelength less than 900 nm red laser based on InGaP
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/30—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
- H01S5/32—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures
- H01S5/323—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser
- H01S5/32308—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser emitting light at a wavelength less than 900 nm
- H01S5/32341—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser emitting light at a wavelength less than 900 nm blue laser based on GaN or GaP
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
Abstract
Description
Claims (20)
- 플레이트 상에 적어도 3개의 레이저 다이오드가 접합되어 있고, 상기 레이저 다이오드는 각각의 발광점 중심부가 일직선 상에 정렬되도록 배열되는 것을 특징으로 하는 다파장 레이저 다이오드.
- 제 1 항에 있어서,상기 플레이트는 AlN, SiC 및 금속재료로 이루어지는 그룹에서 선택된 어느 하나로 형성된 것을 특징으로 하는 다파장 레이저 다이오드.
- 제 1 항에 있어서,상기 플레이트 상에 접합된 제1 레이저 다이오드는,제1공진층, 상기 제1공진층의 양면에 각각 마련되는 제1 n형 화합물 반도체층 및 제1 p형 화합물 반도체층을 구비하는 제1레이저 발진층;상기 제1레이저 발진층의 양면에 각각 마련되는 제1 n형 전극층 및 제1 p형 전극층; 및상기 제1 n형 전극층 및 제1 p형 전극층 중 적어도 어느 하나의 일면에 마련 되는 본딩메탈층;을 구비하는 것을 특징으로 하는 다파장 레이저 다이오드.
- 제 3 항에 있어서,상기 제1 p형 화합물 반도체층은,상기 제1 p형 전극층 상에 GaN으로 형성된 제1 p형 콘택트층; 및상기 제1 p형 콘택트층 상에 AlGaN으로 형성된 제1 p형 클래드층;을 구비하고,상기 제1공진층은,InGaN으로 형성된 제1활성층; 및상기 제1활성층의 상하부에 각각 InGaN으로 형성된 제1도파층;을 구비하고,상기 제1 n형 화합물 반도체층은,상기 제1공진층 상에 AlGaN으로 형성된 제1 n형 클래드층;상기 제1 n형 클래드층 상에 GaN으로 형성된 제1버퍼층; 및상기 제1버퍼층 상에 적층된 GaN 기판;을 구비하는 것을 특징으로 하는 다파장 레이저 다이오드.
- 제 1 항에 있어서,상기 플레이트 상에 접합된 제2 레이저 다이오드는,제2공진층, 상기 제2공진층의 양면에 각각 마련되는 제2 n형 화합물 반도체층 및 제2 p형 화합물 반도체층을 구비하는 제2레이저 발진층;상기 제2레이저 발진층의 양면에 각각 마련되는 제2 n형 전극층 및 제2 p형 전극층; 및상기 제2 n형 전극층 및 제2 p형 전극층 중 적어도 어느 하나의 일면에 마련되는 본딩메탈층;을 구비하는 것을 특징으로 하는 다파장 레이저 다이오드.
- 제 5 항에 있어서,상기 제2 p형 화합물 반도체층은,상기 제2 p형 전극층 상에 GaAs로 형성된 제2 p형 콘택트층; 및상기 제2 p형 콘택트층 상에 AlGaInP로 형성된 제2 p형 클래드층;을 구비하고,상기 제2공진층은,AlGaInP으로 형성된 제2활성층; 및상기 제2활성층의 상하부에 각각 AlGaInP으로 형성된 제2도파층;을 구비하고,상기 제2 n형 화합물 반도체층은,상기 제2공진층 상에 AlGaInP로 형성된 제2 n형 클래드층;상기 제2 n형 클래드층 상에 GaAs로 형성된 제2버퍼층; 및상기 제2버퍼층 상에 적층된 GaAs 기판;을 구비하는 것을 특징으로 하는 다파장 레이저 다이오드.
- 제 1 항에 있어서,상기 플레이트 상에 접합된 제3 레이저 다이오드는,제3공진층, 상기 제3공진층의 양면에 각각 마련되는 제3 n형 화합물 반도체층 및 제3 p형 화합물 반도체층을 구비하는 제3레이저 발진층;상기 제3레이저 발진층의 양면에 각각 마련되는 제3 n형 전극층 및 제3 p형 전극층; 및상기 제3 n형 전극층 및 제3 p형 전극층 중 적어도 어느 하나의 일면에 마련되는 본딩메탈층;을 구비하는 것을 특징으로 하는 다파장 레이저 다이오드.
- 제 7 항에 있어서,상기 제3 p형 화합물 반도체층은,상기 제3 p형 전극층 상에 GaAs로 형성된 제3 p형 콘택트층; 및상기 제3 p형 콘택트층 상에 AlGaAs로 형성된 제3 p형 클래드층;을 구비하고,상기 제3공진층은,AlGaAs로 형성된 제3활성층; 및상기 제3활성층의 상하부에 각각 AlGaAs로 형성된 제3도파층;을 구비하고,상기 제3 n형 화합물 반도체층은,상기 제3공진층 상에 AlGaAs로 형성된 제3 n형 클래드층;상기 제3 n형 클래드층 상에 GaAs로 형성된 제3버퍼층; 및상기 제3버퍼층 상에 적층된 GaAs 기판;을 구비하는 것을 특징으로 하는 다파장 레이저 다이오드.
- 제1 레이저 다이오드;상기 제1 레이저 다이오드로부터 연장된 기판 상에 형성된 절연층; 및상기 절연층 상에 접합된 적어도 2개의 레이저 다이오드;를 구비하고,상기 제1 레이저 다이오드 및 적어도 2개의 레이저 다이오드는 각각의 발광점 중심부가 일직선 상에 정렬되도록 배치되는 것을 특징으로 하는 다파장 레이저 다이오드.
- 제 9 항에 있어서,상기 제1 레이저 다이오드 및 적어도 2개의 레이저 다이오드로부터 발생되는 열을 흡수하는 히트싱크가 상기 기판의 일측에 더 설치되는 것을 특징으로 하는 다파장 레이저 다이오드.
- 제 10 항에 있어서,상기 히트싱크는 AlN, SiC 및 금속재료로 이루어지는 그룹에서 선택된 어느 하나로 형성된 것을 특징으로 하는 다파장 레이저 다이오드.
- 제 9 항에 있어서,제1 레이저 다이오드는,제1공진층, 상기 제1공진층의 양면에 각각 마련되는 제1 n형 화합물 반도체층 및 제1 p형 화합물 반도체층을 구비하는 제1레이저 발진층;상기 제1레이저 발진층의 양면에 각각 마련되는 제1 n형 전극층 및 제1 p형 전극층; 및상기 제1 n형 전극층 및 제1 p형 전극층 중 적어도 어느 하나의 일면에 마련되는 본딩메탈층;을 구비하는 것을 특징으로 하는 다파장 레이저 다이오드.
- 제 12 항에 있어서,상기 제1 n형 화합물 반도체층은,GaN 기판;상기 GaN 기판의 소정영역 상에 GaN으로 형성된 제1버퍼층; 및상기 제1버퍼층 상에 AlGaN으로 형성된 제1 n형 클래드층;을 구비하고,상기 제1공진층은,InGaN으로 형성된 제1활성층; 및상기 제1활성층의 상하부에 각각 InGaN으로 형성된 제1도파층;을 구비하고,상기 제1 p형 화합물 반도체층은,상기 제1공진층 상에 AlGaN으로 형성된 제1 p형 클래드층; 및상기 제1 p형 클래드층 상에 GaN으로 형성된 제1 p형 콘택트층;을 구비하는 것을 특징으로 하는 다파장 레이저 다이오드.
- 제 9 항에 있어서,상기 절연층 상에 접합된 제2 레이저 다이오드는,제2공진층, 상기 제2공진층의 양면에 각각 마련되는 제2 n형 화합물 반도체층 및 제2 p형 화합물 반도체층을 구비하는 제2레이저 발진층;상기 제2레이저 발진층의 양면에 각각 마련되는 제2 n형 전극층 및 제2 p형 전극층; 및상기 제2 n형 전극층 및 제2 p형 전극층 중 적어도 어느 하나의 일면에 마련되는 본딩메탈층;을 구비하는 것을 특징으로 하는 다파장 레이저 다이오드.
- 제 14 항에 있어서,상기 제2 p형 화합물 반도체층은,상기 제2 p형 전극층 상에 GaAs로 형성된 제2 p형 콘택트층; 및상기 제2 p형 콘택트층 상에 AlGaInP로 형성된 제2 p형 클래드층;을 구비하고,상기 제2공진층은,AlGaInP으로 형성된 제2활성층; 및상기 제2활성층의 상하부에 각각 AlGaInP으로 형성된 제2도파층;을 구비하고,상기 제2 n형 화합물 반도체층은,상기 제2공진층 상에 AlGaInP로 형성된 제2 n형 클래드층;상기 제2 n형 클래드층 상에 GaAs로 형성된 제2버퍼층; 및상기 제2버퍼층 상에 적층된 GaAs 기판;을 구비하는 것을 특징으로 하는 다파장 레이저 다이오드.
- 제 9 항에 있어서,상기 절연층 상에 접합된 제3 레이저 다이오드는,제3공진층, 상기 제3공진층의 양면에 각각 마련되는 제3 n형 화합물 반도체층 및 제3 p형 화합물 반도체층을 구비하는 제3레이저 발진층;상기 제3레이저 발진층의 양면에 각각 마련되는 제3 n형 전극층 및 제3 p형 전극층; 및상기 제3 n형 전극층 및 제3 p형 전극층 중 적어도 어느 하나의 일면에 마련되는 본딩메탈층;을 구비하는 것을 특징으로 하는 다파장 레이저 다이오드.
- 제 16 항에 있어서,상기 제3 p형 화합물 반도체층은,상기 제3 p형 전극층 상에 GaAs로 형성된 제3 p형 콘택트층; 및상기 제3 p형 콘택트층 상에 AlGaAs로 형성된 제3 p형 클래드층;을 구비하고,상기 제3공진층은,AlGaAs로 형성된 제3활성층; 및상기 제3활성층의 상하부에 각각 AlGaAs로 형성된 제3도파층;을 구비하고,상기 제3 n형 화합물 반도체층은,상기 제3공진층 상에 AlGaAs로 형성된 제3 n형 클래드층;상기 제3 n형 클래드층 상에 GaAs로 형성된 제3버퍼층; 및상기 제3버퍼층 상에 적층된 GaAs 기판;을 구비하는 것을 특징으로 하는 다파장 레이저 다이오드.
- 제1면과 이에 대향하는 제2면을 각각 가지는 적어도 3개의 레이저 다이오드를 준비하는 제1단계;상기 제1 레이저 다이오드의 소정영역을 제2면에서부터 소정깊이까지 에칭하여 상기 제1 레이저 다이오드의 기판을 노출시키는 제2단계;상기 제1 레이저 다이오드의 노출된 기판 상에 절연층을 형성하는 제3단계;상기 절연층 상에 상기 제2 레이저 다이오드의 제2면을 접합하는 제4단계;및상기 절연층 상에 상기 제3 레이저 다이오드의 제2면을 접합하는 제5단계;를 포함하여,적어도 3개의 레이저 다이오드는 각각의 발광점 중심부가 일직선 상에 정렬되도록 배치되는 것을 특징으로 하는 다파장 레이저 다이오드의 제조방법.
- 제 18 항에 있어서,상기 제1 레이저 다이오드의 제1면에 상기 제1, 제2 및 제3 레이저 다이오드로부터 발생되는 열을 흡수하는 히트싱크가 더 설치되는 것을 특징으로 하는 다파장 레이저 다이오드의 제조방법.
- 제 19 항에 있어서,상기 히트싱크는 AlN, SiC 및 금속재료로 이루어지는 그룹에서 선택된 어느 하나로 형성된 것을 특징으로 하는 다파장 레이저 다이오드의 제조방법.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020040088901A KR20060039704A (ko) | 2004-11-03 | 2004-11-03 | 다파장 레이저 다이오드 및 그 제조방법 |
US11/220,789 US20060093000A1 (en) | 2004-11-03 | 2005-09-08 | Multiple-wavelength laser diode and method of fabricating the same |
JP2005285563A JP2006135306A (ja) | 2004-11-03 | 2005-09-29 | 多波長レーザーダイオード及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020040088901A KR20060039704A (ko) | 2004-11-03 | 2004-11-03 | 다파장 레이저 다이오드 및 그 제조방법 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20060039704A true KR20060039704A (ko) | 2006-05-09 |
Family
ID=36261813
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020040088901A Ceased KR20060039704A (ko) | 2004-11-03 | 2004-11-03 | 다파장 레이저 다이오드 및 그 제조방법 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20060093000A1 (ko) |
JP (1) | JP2006135306A (ko) |
KR (1) | KR20060039704A (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100658939B1 (ko) * | 2005-05-24 | 2006-12-15 | 엘지전자 주식회사 | 발광 소자의 패키지 |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006313875A (ja) * | 2005-04-08 | 2006-11-16 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体レーザ装置 |
US8275013B2 (en) * | 2007-06-18 | 2012-09-25 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Semiconductor laser device and method of manufacturing the same |
JP5227666B2 (ja) * | 2007-06-18 | 2013-07-03 | 三洋電機株式会社 | 半導体レーザ装置およびその製造方法 |
JP2010016095A (ja) * | 2008-07-02 | 2010-01-21 | Sanyo Electric Co Ltd | 半導体レーザ装置およびその製造方法 |
EP2401794B1 (en) * | 2009-02-25 | 2012-09-05 | Philips Intellectual Property & Standards GmbH | Output power stabilization for laser diodes using the photon-cooling dependent laser voltage |
US20120223354A1 (en) * | 2009-10-18 | 2012-09-06 | Technion-Research & Development Foundation | Semiconductor two-photo device |
JP5234130B2 (ja) | 2011-03-29 | 2013-07-10 | 住友電気工業株式会社 | 光半導体素子 |
US10186833B2 (en) * | 2015-02-18 | 2019-01-22 | Ii-Vi Incorporated | Densely-spaced laser diode configurations |
KR102452494B1 (ko) * | 2021-03-17 | 2022-10-07 | 서울대학교산학협력단 | 광자결정 반도체 레이저 소자 및 그 제작 방법 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2780981B2 (ja) * | 1988-06-27 | 1998-07-30 | 三菱電機株式会社 | 多点発光型半導体レーザ及びその製造方法 |
US5777350A (en) * | 1994-12-02 | 1998-07-07 | Nichia Chemical Industries, Ltd. | Nitride semiconductor light-emitting device |
JPH11186651A (ja) * | 1997-12-19 | 1999-07-09 | Sony Corp | 集積型半導体発光装置 |
US6546035B2 (en) * | 2000-02-29 | 2003-04-08 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Semiconductor laser diode array and method of fabricating the same |
JP2004022717A (ja) * | 2002-06-14 | 2004-01-22 | Sharp Corp | 多波長レーザ装置 |
JP3759081B2 (ja) * | 2002-07-18 | 2006-03-22 | Nec化合物デバイス株式会社 | 半導体レーザ装置 |
TWI227585B (en) * | 2002-12-13 | 2005-02-01 | Ind Tech Res Inst | Resonant cavity component array applicable on wavelength division multiplexing (WDM) and method for producing the same |
-
2004
- 2004-11-03 KR KR1020040088901A patent/KR20060039704A/ko not_active Ceased
-
2005
- 2005-09-08 US US11/220,789 patent/US20060093000A1/en not_active Abandoned
- 2005-09-29 JP JP2005285563A patent/JP2006135306A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100658939B1 (ko) * | 2005-05-24 | 2006-12-15 | 엘지전자 주식회사 | 발광 소자의 패키지 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2006135306A (ja) | 2006-05-25 |
US20060093000A1 (en) | 2006-05-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8275013B2 (en) | Semiconductor laser device and method of manufacturing the same | |
JP5182537B2 (ja) | 半導体発光素子、光ピックアップ装置および情報記録再生装置 | |
JP4288620B2 (ja) | 半導体発光素子およびその製造方法 | |
JP4544892B2 (ja) | 半導体レーザ装置およびその製造方法 | |
US20110200064A1 (en) | Optical device and optical apparatus | |
JP4466503B2 (ja) | 半導体レーザ | |
US20010048703A1 (en) | Two-wavelength laser diode, and manufacturing method therefor | |
JP4583128B2 (ja) | 半導体レーザ装置 | |
JP2006278576A (ja) | 半導体レーザ装置、半導体レーザ装置の製造方法および光ピックアップ装置 | |
KR20060039704A (ko) | 다파장 레이저 다이오드 및 그 제조방법 | |
JP3759081B2 (ja) | 半導体レーザ装置 | |
JP4411540B2 (ja) | 半導体レーザ装置 | |
JP4844791B2 (ja) | 半導体発光装置およびそれを用いた光装置 | |
JP5227666B2 (ja) | 半導体レーザ装置およびその製造方法 | |
JP5633670B2 (ja) | 発光装置およびそれを用いた光装置 | |
KR100862483B1 (ko) | 다파장 레이저 다이오드 및 그 제조방법 | |
JP2006080307A (ja) | 半導体レーザアレイ及びその製造方法、多波長半導体レーザ装置 | |
JP2007035854A (ja) | 半導体レーザアレイ及び半導体レーザ装置 | |
JP2005327826A (ja) | 集積型半導体レーザ装置、集積型半導体レーザ装置の製造方法、集積型半導体発光装置、集積型半導体発光装置の製造方法、光学ピックアップ装置および光ディスク装置 | |
JP2013084672A (ja) | 多波長半導体レーザ装置及び多波長半導体レーザ装置の製造方法 | |
KR100360143B1 (ko) | 반도체 레이저 소자 및 그의 제조방법 | |
KR101137558B1 (ko) | 반도체 레이저 소자 | |
JP2007115724A (ja) | 半導体レーザ装置 | |
KR20040005269A (ko) | 두 파장 레이저다이오드 및 그 제조방법 | |
KR20010107524A (ko) | 2파장 레이져 다이오드 및 그 제조방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20041103 |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
A201 | Request for examination | ||
PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 20070509 Comment text: Request for Examination of Application Patent event code: PA02011R01I Patent event date: 20041103 Comment text: Patent Application |
|
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20080221 Patent event code: PE09021S01D |
|
E601 | Decision to refuse application | ||
PE0601 | Decision on rejection of patent |
Patent event date: 20080807 Comment text: Decision to Refuse Application Patent event code: PE06012S01D Patent event date: 20080221 Comment text: Notification of reason for refusal Patent event code: PE06011S01I |