KR102375894B1 - 표시 장치 및 그 제조 방법 - Google Patents
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 7
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims abstract description 187
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 claims abstract description 69
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 claims abstract description 60
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 43
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 38
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 32
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 32
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims abstract description 7
- 238000000059 patterning Methods 0.000 claims abstract description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 11
- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 68
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 description 11
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 9
- 238000002161 passivation Methods 0.000 description 7
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 7
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- BOTDANWDWHJENH-UHFFFAOYSA-N Tetraethyl orthosilicate Chemical compound CCO[Si](OCC)(OCC)OCC BOTDANWDWHJENH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000000178 monomer Substances 0.000 description 6
- 239000012044 organic layer Substances 0.000 description 6
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 5
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 5
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 5
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 5
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 5
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 4
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 4
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 3
- 229910004205 SiNX Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 3
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 3
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 3
- 229920000058 polyacrylate Polymers 0.000 description 3
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 3
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 3
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 3
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011575 calcium Substances 0.000 description 2
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 2
- 229910001507 metal halide Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000005309 metal halides Chemical class 0.000 description 2
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 2
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 2
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 2
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 2
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 2
- -1 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 2
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 2
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N Calcium Chemical compound [Ca] OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 1
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004695 Polyether sulfone Substances 0.000 description 1
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 125000004386 diacrylate group Chemical group 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000005525 hole transport Effects 0.000 description 1
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 1
- 239000005001 laminate film Substances 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
- 229920006393 polyether sulfone Polymers 0.000 description 1
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 1
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 1
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
- YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N zinc indium(3+) oxygen(2-) Chemical compound [O--].[Zn++].[In+3] YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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-
- H01L27/3258—
-
- H01L27/3248—
-
- H01L27/3269—
-
- H01L51/56—
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- H—ELECTRICITY
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- H10D30/01—Manufacture or treatment
- H10D30/021—Manufacture or treatment of FETs having insulated gates [IGFET]
- H10D30/031—Manufacture or treatment of FETs having insulated gates [IGFET] of thin-film transistors [TFT]
- H10D30/0312—Manufacture or treatment of FETs having insulated gates [IGFET] of thin-film transistors [TFT] characterised by the gate electrodes
- H10D30/0314—Manufacture or treatment of FETs having insulated gates [IGFET] of thin-film transistors [TFT] characterised by the gate electrodes of lateral top-gate TFTs comprising only a single gate
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- H10D30/00—Field-effect transistors [FET]
- H10D30/01—Manufacture or treatment
- H10D30/021—Manufacture or treatment of FETs having insulated gates [IGFET]
- H10D30/031—Manufacture or treatment of FETs having insulated gates [IGFET] of thin-film transistors [TFT]
- H10D30/0321—Manufacture or treatment of FETs having insulated gates [IGFET] of thin-film transistors [TFT] comprising silicon, e.g. amorphous silicon or polysilicon
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- H10D30/00—Field-effect transistors [FET]
- H10D30/60—Insulated-gate field-effect transistors [IGFET]
- H10D30/67—Thin-film transistors [TFT]
- H10D30/6729—Thin-film transistors [TFT] characterised by the electrodes
- H10D30/673—Thin-film transistors [TFT] characterised by the electrodes characterised by the shapes, relative sizes or dispositions of the gate electrodes
- H10D30/6731—Top-gate only TFTs
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- H10D30/00—Field-effect transistors [FET]
- H10D30/60—Insulated-gate field-effect transistors [IGFET]
- H10D30/67—Thin-film transistors [TFT]
- H10D30/674—Thin-film transistors [TFT] characterised by the active materials
- H10D30/6741—Group IV materials, e.g. germanium or silicon carbide
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- H10D86/021—Manufacture or treatment of multiple TFTs
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- H10K59/12—Active-matrix OLED [AMOLED] displays
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- H01L2227/32—
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Abstract
Description
도 2는 도 1의 II-II선을 따라 잘라 도시한 단면도이다.
도 3은 본 발명의 한 실시예에 따른 표시 장치의 한 화소의 등가 회로도이다.
도 4는 도 3의 유기 발광 표시 장치의 한 화소의 개략적인 단면도이다.
도 5는 도 1의 V부분을 확대한 평면도이다.
도 6은 도 5의 VI-VI선을 따라 잘라 도시한 단면도이다.
도 7 내지 도 10은 본 발명의 한 실시예에 따른 표시 장치를 제조하기 위한 중간 단계에서의 단면도이다.
도 11은 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 장치의 패드부의 단면도이다.
도 12 내지 15는 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 장치의 패드부의 제조 방법을 설명하기 위한 중간 단계에서의 단면도이다.
70: 금속막 95: 개구부
110: 기판 100: 표시 패널
112: 버퍼층 120: 배선부
121: 주사 신호선 130: 발광부
135: 반도체 140: 게이트 절연막
150: 제1 패드 155: 제어 전극
160: 층간 절연막 170: 제2 패드
171: 데이터선 172: 구동 전압선
176: 입력 전극 177: 출력 전극
180: 보호막 190: 화소 정의막
260: 봉지 부재 400: 집적 회로 칩
500: 패드부 710: 제1 전극
720: 유기 발광층 730: 제2 전극
1000: 표시 장치
Claims (10)
- 화소 영역과 패드 영역을 가지는 기판 위에 트랜지스터의 반도체를 형성하는 단계,
상기 반도체 위에 게이트 절연막을 형성하는 단계,
상기 게이트 절연막 위에 제어 전극 및 제1 패드를 형성하는 단계,
상기 제어 전극 및 제1 패드 위에 층간 절연막을 형성하는 단계,
상기 화소 영역의 층간 절연막 위에 형성된 제1 부분 및 상기 패드 영역의 층간 절연막 위에 형성되며 상기 제1 부분보다 두꺼운 제2 부분을 가지는 제1 감광막 패턴을 형성하는 단계,
상기 제1 감광막 패턴을 마스크로 상기 층간 절연막을 식각하여 상기 반도체 및 상기 제1 패드를 노출하는 복수의 제1 접촉 구멍 및 복수의 제2 접촉 구멍을 형성하는 단계,
상기 제1 부분을 제거하는 단계,
상기 제1 부분을 포함하는 상기 층간 절연막 위에 금속막을 형성하는 단계,
상기 금속막 위에 제2 감광막 패턴을 형성하는 단계,
상기 제2 감광막 패턴을 마스크로 상기 금속막을 패터닝하여 상기 제1 접촉 구멍을 통해서 상기 반도체와 각각 연결되는 입력 전극, 출력 전극과 상기 제2 접촉 구멍을 통해서 상기 제1 패드와 연결되는 제2 패드를 형성하는 단계,
상기 제2 감광막 패턴 및 상기 제2 부분을 제거하는 단계
를 포함하는 표시 장치의 제조 방법. - 제1항에서,
상기 제2 감광막 패턴를 형성하는 단계에서,
상기 제2 패드와 대응하는 상기 제2 감광막 패턴의 경계선은 상기 제2 부분과 중첩하는 표시 장치의 제조 방법. - 표시 영역 및 패드 영역을 가지는 기판 위에 트랜지스터의 반도체를 형성하는 단계,
상기 반도체 위에 게이트 절연막을 형성하는 단계,
상기 게이트 절연막 위에 제어 전극 및 제1 패드를 형성하는 단계,
상기 제어 전극 및 제1 패드 위에 층간 절연막을 형성하는 단계,
상기 표시 영역의 층간 절연막 위에 형성된 제1 부분, 상기 패드 영역의 층간 절연막 위에 형성되며 상기 제1 부분보다 두꺼운 제2 부분을 가지는 제1 감광막 패턴을 형성하는 단계,
상기 제1 감광막 패턴을 마스크로 상기 층간 절연막을 식각하여 상기 반도체 및 상기 제1 패드를 노출하는 복수의 제1 접촉 구멍 및 복수의 제2 접촉 구멍을 형성하는 단계,
상기 제1 부분을 제거하는 단계,
상기 제1 부분을 포함하는 상기 층간 절연막 위에 금속막을 형성하는 단계,
상기 금속막 위에 제2 감광막 패턴을 형성하는 단계,
상기 제2 감광막 패턴을 마스크로 상기 금속막을 패터닝하여 상기 제1 접촉 구멍을 통해서 상기 반도체와 각각 연결되는 입력 전극, 출력 전극과 상기 제2 접촉 구멍을 통해서 상기 제1 패드와 연결되는 제2 패드를 형성하는 단계,
상기 제2 감광막 패턴 및 상기 제2 부분을 제거하는 단계
를 포함하고,
상기 제1 감광막 패턴의 제1 부분은 상기 패드 영역의 상기 제2 접촉 구멍을 둘러싸도록 형성된 부분을 더 포함하는 표시 장치의 제조 방법. - 제3항에서,
상기 제2 감광막 패턴을 형성하는 단계에서,
상기 제2 패드와 대응하는 상기 제2 감광막 패턴의 제1 경계선은 상기 제2 접촉 구멍과 상기 제2 부분의 제2 경계선 사이에 형성하는 표시 장치의 제조 방법. - 표시 영역 및 패드부를 가지는 기판,
상기 표시 영역의 기판 위에 형성되어 있는 트랜지스터,
상기 패드부의 기판 위에 형성되어 상기 트랜지스터와 연결되어 있으며, 제1 패드를 가지는 배선,
상기 제1 패드 위에 형성되어 있으며 상기 제1 패드를 노출하는 접촉 구멍을 가지는 층간 절연막,
상기 접촉 구멍을 통해서 상기 제1 패드와 연결되는 제2 패드
를 포함하고,
상기 층간 절연막은 상기 제2 패드의 경계선을 따라서 상기 제2 패드와 같은 평면 모양을 가지는 오목부를 가지고,
상기 오목부의 끝단은 상기 제2 패드의 끝단과 연결된 표시 장치. - 제5항에서,
상기 오목부의 폭은 1㎛이하인 표시 장치. - 제6항에서,
상기 트랜지스터와 연결되어 있는 제1 전극,
상기 제1 전극 위에 형성되어 있는 유기 발광층,
상기 유기 발광층 위에 형성되어 있는 제2 전극
을 더 포함하는 표시 장치. - 제5항에서,
상기 트랜지스터는 상기 기판 위에 형성되어 있는 반도체,
상기 반도체 위에 형성되어 있는 게이트 절연막,
상기 게이트 절연막 위에 형성되어 있는 제어 전극
상기 제어 전극 위에 형성되어 있으며 접촉 구멍을 통해서 상기 반도체와 연결되어 있는 입력 전극 및 출력 전극
을 포함하는 표시 장치. - 제8항에서,
상기 제1 패드는 상기 제어 전극과 동일한 층에 동일한 물질로 형성되어 있는 표시 장치. - 제8항에서,
상기 제2 패드는 상기 입력 전극 및 출력 전극과 동일한 층에 동일한 물질로 형성되어 있는 표시 장치.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020150043388A KR102375894B1 (ko) | 2015-03-27 | 2015-03-27 | 표시 장치 및 그 제조 방법 |
US14/919,079 US9911802B2 (en) | 2015-03-27 | 2015-10-21 | Display device and method for manufacturing the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020150043388A KR102375894B1 (ko) | 2015-03-27 | 2015-03-27 | 표시 장치 및 그 제조 방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20160116248A KR20160116248A (ko) | 2016-10-07 |
KR102375894B1 true KR102375894B1 (ko) | 2022-03-17 |
Family
ID=56974417
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020150043388A Active KR102375894B1 (ko) | 2015-03-27 | 2015-03-27 | 표시 장치 및 그 제조 방법 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9911802B2 (ko) |
KR (1) | KR102375894B1 (ko) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102240894B1 (ko) * | 2014-02-26 | 2021-04-16 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 및 표시 장치의 제조 방법 |
KR102512439B1 (ko) * | 2016-09-19 | 2023-03-22 | 삼성디스플레이 주식회사 | 반도체 장치 및 이의 제조방법 |
KR102325171B1 (ko) * | 2017-03-20 | 2021-11-10 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 |
CN108695357B (zh) * | 2017-04-05 | 2020-11-03 | 上海和辉光电有限公司 | 一种显示器件的制备方法及显示器件 |
CN112002715B (zh) * | 2020-09-15 | 2023-03-31 | 武汉华星光电技术有限公司 | 阵列基板及显示面板 |
US20240074256A1 (en) * | 2021-04-08 | 2024-02-29 | Chengdu Boe Optoelectronics Technology Co., Ltd. | Display panel and display device |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11135497A (ja) * | 1997-10-27 | 1999-05-21 | Canon Inc | 層間絶縁膜及び表示装置の製造方法 |
KR100759557B1 (ko) * | 2005-11-12 | 2007-09-18 | 삼성에스디아이 주식회사 | 유기 발광 디스플레이 장치 |
KR100831267B1 (ko) | 2006-12-29 | 2008-05-22 | 동부일렉트로닉스 주식회사 | 반도체 소자 형성 방법 |
KR101232062B1 (ko) | 2007-01-12 | 2013-02-12 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 기판 및 이의 제조 방법 |
WO2009019920A1 (ja) * | 2007-08-09 | 2009-02-12 | Sharp Kabushiki Kaisha | 回路基板及び表示装置 |
KR101796934B1 (ko) * | 2010-12-03 | 2017-12-13 | 엘지디스플레이 주식회사 | 반사 전극을 구비한 유기전계발광 표시장치 및 그 제조 방법 |
KR101786801B1 (ko) * | 2010-12-22 | 2017-10-19 | 엘지디스플레이 주식회사 | 유기전계 발광소자용 기판 및 그 제조 방법 |
KR101980234B1 (ko) * | 2012-10-30 | 2019-05-21 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기 발광 표시 장치와, 이의 제조 방법 |
KR102089309B1 (ko) | 2013-01-24 | 2020-03-16 | 엘지디스플레이 주식회사 | 박막트랜지스터 어레이 기판 및 그의 제조방법 |
-
2015
- 2015-03-27 KR KR1020150043388A patent/KR102375894B1/ko active Active
- 2015-10-21 US US14/919,079 patent/US9911802B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20160116248A (ko) | 2016-10-07 |
US20160284783A1 (en) | 2016-09-29 |
US9911802B2 (en) | 2018-03-06 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20150327 |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
A201 | Request for examination | ||
PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 20200324 Comment text: Request for Examination of Application Patent event code: PA02011R01I Patent event date: 20150327 Comment text: Patent Application |
|
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20210624 Patent event code: PE09021S01D |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20211214 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20220314 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20220314 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration |