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KR102174368B1 - 표시 장치 및 표시 장치의 테스트 방법 - Google Patents

표시 장치 및 표시 장치의 테스트 방법 Download PDF

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KR102174368B1
KR102174368B1 KR1020140022184A KR20140022184A KR102174368B1 KR 102174368 B1 KR102174368 B1 KR 102174368B1 KR 1020140022184 A KR1020140022184 A KR 1020140022184A KR 20140022184 A KR20140022184 A KR 20140022184A KR 102174368 B1 KR102174368 B1 KR 102174368B1
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Abstract

본 발명은 표시 장치 및 표시 장치의 테스트 방법을 개시한다.
본 발명의 표시 장치는, 복수의 주사선들 및 복수의 데이터선들에 연결된 복수의 화소들이 구비된 화소부; 구동 회로와 연결된 복수의 데이터 패드들; 배선 테스트를 위해 상기 복수의 데이터선들을 초기화하는 초기화 신호를 상기 복수의 데이터선들로 공급하는 초기화부; 및 상기 복수의 데이터선들과 상기 복수의 데이터 패드들을 연결하는 복수의 팬아웃선들을 경유하여 상기 초기화된 복수의 데이터선들로 배선 테스트 신호를 공급하는 배선 테스트부;를 포함할 수 있다.

Description

표시 장치 및 표시 장치의 테스트 방법{Display apparatus and test method thereof}
본 발명은 표시 장치 및 표시 장치의 테스트 방법에 관한 것이다.
종래의 표시 장치 제조 공정에서 패널에 대해 다양한 테스트가 수행된다. 이 중 데이터선들로 테스트를 신호를 인가하여 표시되는 화면에 의해 데이터선 또는 팬아웃선의 오픈을 검출하는 테스트를 수행한다.
그러나, 이러한 오픈 검출 테스트는 데이터선 또는 팬아웃선의 저항성 불량은 검출하지 못한다.
본 발명의 실시예는 모듈 공정 전 배선의 오픈 및 저항성 불량을 동시에 검출할 수 있는 표시 장치 및 테스트 방법을 제공하고자 한다.
본 발명의 실시예에 따른 표시 장치는, 복수의 주사선들 및 복수의 데이터선들에 연결된 복수의 화소들이 구비된 화소부; 구동 회로와 연결된 복수의 데이터 패드들; 배선 테스트를 위해 상기 복수의 데이터선들을 초기화하는 초기화 신호를 상기 복수의 데이터선들로 공급하는 초기화부; 및 상기 복수의 데이터선들과 상기 복수의 데이터 패드들을 연결하는 복수의 팬아웃선들을 경유하여 상기 초기화된 복수의 데이터선들로 배선 테스트 신호를 공급하는 배선 테스트부;를 포함할 수 있다.
상기 초기화부는, 상기 복수의 데이터선들과 상기 초기화 신호를 인가하는 초기화선 사이에 구비된 복수의 제1스위치들;을 포함할 수 있다.
상기 복수의 제1스위치들은, 제1화소들에 상기 초기화 신호를 인가하는 제1 초기화 스위치; 제2화소들에 상기 초기화 신호를 인가하는 제2 초기화 스위치; 및 제3화소들에 상기 초기화 신호를 인가하는 제3 초기화 스위치;를 포함할 수 있다.
상기 초기화부는, 상기 배선 테스트와 별개의 점등 테스트에서, 상기 초기화선으로부터 점등 테스트 신호를 인가받고, 상기 복수의 제1스위치들을 통해 상기 점등 테스트 신호를 상기 복수의 화소들로 인가할 수 있다.
상기 복수의 제1스위치들은, 제1화소들에, 상기 배선 테스트에서 상기 초기화 신호를 인가하고, 상기 점등 테스트에서 제1 점등 테스트 신호를 인가하는 제1 초기화 스위치; 제2화소들에, 상기 배선 테스트에서 상기 초기화 신호를 인가하고, 상기 점등 테스트에서 제2 점등 테스트 신호를 인가하는 제2 초기화 스위치; 및 제3화소들에, 상기 배선 테스트에서 상기 초기화 신호를 인가하고, 상기 점등 테스트에서 제3 점등 테스트 신호를 인가하는 제3 초기화 스위치;를 포함할 수 있다.
상기 초기화부는 상기 데이터선들의 일 단에 구비되고, 상기 배선 테스트부는 상기 데이터선들의 타 단에 구비될 수 있다.
상기 초기화부는 상기 화소부와 상기 데이터 패드들의 사이에 구비될 수 있다.
상기 배선 테스트부는, 상기 복수의 팬아웃선들과 상기 배선 테스트 신호를 인가하는 테스트 신호선 사이에 구비된 복수의 제2스위치들;을 포함할 수 있다.
상기 복수의 제2스위치들은, 제1화소들에 상기 배선 테스트 신호를 인가하는 제1 테스트 스위치; 제2화소들에 상기 배선 테스트 신호를 인가하는 제2 테스트 스위치; 및 제3화소들에 상기 배선 테스트 신호를 인가하는 제3 테스트 스위치;를 포함할 수 있다.
상기 배선 테스트부는, 상기 배선 테스트와 별개의 점등 테스트에서, 상기 테스트 신호선으로부터 점등 테스트 신호를 인가받고, 상기 복수의 제2스위치들을 통해 상기 점등 테스트 신호를 상기 복수의 화소들로 인가할 수 있다.
상기 복수의 제2스위치들은, 제1화소들에, 상기 배선 테스트에서 상기 배선 테스트 신호를 인가하고, 상기 점등 테스트에서 제1 점등 테스트 신호를 인가하는 제1 테스트 스위치; 제2화소들에, 상기 배선 테스트에서 상기 테스트 신호를 인가하고, 상기 점등 테스트에서 제2 점등 테스트 신호를 인가하는 제2 테스트 스위치; 및 제3화소들에, 상기 배선 테스트에서 상기 테스트 신호를 인가하고, 상기 점등 테스트에서 제3 점등 테스트 신호를 인가하는 제3 테스트 스위치;를 포함할 수 있다.
본 발명의 실시예에 따른 표시 장치의 테스트 방법은, 복수의 주사선들 및 복수의 데이터선들에 연결된 복수의 화소들로 상기 복수의 데이터선들을 초기화하는 초기화 신호를 공급하는 단계; 및 상기 복수의 데이터선들과 구동 회로와 연결된 복수의 데이터 패드들을 연결하는 복수의 팬아웃선들을 경유하여 상기 초기화된 복수의 데이터선들로 배선 테스트를 위한 배선 테스트 신호를 공급하는 단계;를 포함할 수 있다.
상기 초기화 신호 공급 단계는, 상기 복수의 데이터선들과 상기 초기화 신호를 인가하는 초기화선 사이에 구비된 복수의 제1스위치들을 턴온시키는 단계; 및 상기 복수의 제1스위치들을 통해 상기 데이터선들로 상기 초기화 신호를 공급하는 단계;를 포함할 수 있다.
상기 방법은, 상기 배선 테스트와 별개의 점등 테스트를 위해, 상기 복수의 제1스위치들을 턴온시키는 단계; 및 상기 복수의 제1스위치들을 통해 상기 데이터선들로 점등 테스트 신호를 공급하는 단계;를 더 포함할 수 있다.
상기 테스트 신호 공급 단계는, 상기 복수의 팬아웃선들과 상기 테스트 신호를 인가하는 테스트 신호선 사이에 구비된 복수의 제2스위치들을 턴온시키는 단계; 및 상기 복수의 제2스위치들을 통해 상기 데이터선들로 상기 배선 테스트 신호를 공급하는 단계;를 포함할 수 있다.
상기 방법은, 상기 배선 테스트와 별개의 점등 테스트를 위해, 상기 복수의 제2스위치들을 턴온시키는 단계; 및 상기 복수의 제2스위치들을 통해 상기 데이터선들로 점등 테스트 신호를 공급하는 단계;를 더 포함할 수 있다.
상기 방법은, 상기 복수의 화소들 중 주변 화소열보다 높은 휘도로 발광하는 화소열의 데이터선에 연결된 팬아웃선을 불량으로 검출하는 단계;를 더 포함할 수 있다.
본 발명은 모듈과 부착되는 팬아웃선의 크랙에 의한 저항성 불량을 오픈 검출과 동시에 검출할 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 제조 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 의한 표시 장치를 개략적으로 도시한 평면도이다.
도 3은 도 2에 도시된 표시 장치의 일례를 도시한 평면도이다.
도 4는 도 3의 표시 장치의 배선 테스트를 설명하는 타이밍도이다.
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 장치이다.
도 6은 도 5의 표시 장치의 배선 테스트를 설명하는 타이밍도이다.
도 7은 도 5의 표시 장치의 점등 테스트를 설명하는 타이밍도이다.
도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 장치이다.
도 9는 도 8의 표시 장치의 배선 테스트를 설명하는 타이밍도이다.
도 10은 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 장치이다.
도 11은 도 10의 표시 장치의 배선 테스트를 설명하는 타이밍도이다.
도 12는 도 10의 표시 장치의 점등 테스트를 설명하는 타이밍도이다.
도 13은 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 장치를 개략적으로 도시한 평면도이다.
본 발명은 다양한 변환을 가할 수 있고 여러 가지 실시예를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 상세한 설명에 상세하게 설명하고자 한다. 본 발명의 효과 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 다양한 형태로 구현될 수 있다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 상세히 설명하기로 하며, 도면을 참조하여 설명할 때 동일하거나 대응하는 구성 요소는 동일한 도면부호를 부여하고 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
이하의 실시예에서, 제1, 제2 등의 용어는 한정적인 의미가 아니라 하나의 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하는 목적으로 사용되었다. 또한 이하의 실시예에서, 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다.
이하의 실시예에서, 포함하다 또는 가지다 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 또는 구성요소가 존재함을 의미하는 것이고, 하나 이상의 다른 특징들 또는 구성요소가 부가될 가능성을 미리 배제하는 것은 아니다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 제조 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
먼저 기판 상에 화소 회로 어레이를 형성하는 어레이 공정(S1)을 실시한다. 각 화소 회로는 둘 이상의 박막 트랜지스터와 하나 이상의 커패시터로 구성될 수 있다. 이어서, 화소 회로 어레이의 불량 여부를 검출하는 어레이 테스트(S2)를 실시한다. 어레이 테스트(S2)에서 박막 트랜지스터의 정상 동작 여부를 테스트한다. 어레이 테스트(S2)에서 불량품이라고 판단되는 화소 회로는 리페어(repair) 공정(S21)을 거치거나 리페어 불능일 경우에는 다음 공정으로 이행되지 않고 종료 처리된다.
양품이라고 판단되거나 리페어가 완료된 화소 어레이에 대해서는 애노드 전극, 유기 발광층 및 캐소드 전극을 형성하여 유기 발광 소자(OLED)를 완성하는 셀(패널) 공정(S3)을 거쳐 셀 테스트(S4)로 이행한다. 셀 테스트(S4)는 패널에 대한 점등테스트, 배선 테스트, 누설전류테스트 및/또는 에이징 등을 포함할 수 있다. 마찬가지로 셀 테스트(S4)에서 불량품이라고 판단되는 패널은 리페어 공정(S41)을 거치거나 리페어 불능일 경우에는 다음 공정으로 이행되지 않고 종료 처리된다.
양품이라고 판단되거나 리페어가 완료된 패널에 대해서는 모듈 공정(S5)을 거쳐 최종 테스트(S6)를 실시하여 최종 완성품을 선별한다(S7). 최종 테스트(S6)에서 불량품이라고 판단되는 모듈은 리페어 공정(S61)을 거치거나 리페어 불능일 경우에는 종료 처리된다.
도 2는 본 발명의 실시예에 의한 표시 장치를 개략적으로 도시한 평면도이다.
도 2를 참조하면, 본 실시예에 따른 표시 장치(100)는, 화소부(110), 주사 구동부(120), IC 실장 영역(130), 배선 테스트부(140), 초기화부(150) 및 패드부(180)를 포함한다.
표시 장치(100)는 유기 발광 표시 장치, 액정 표시 장치, FED(field emission display) 장치 등 다양한 종류의 표시 장치를 포함할 수 있다.
화소부(110)는 복수의 데이터선들(DL1 내지 DLm) 및 복수의 주사선들(SL1 내지 SLn)의 교차부에 위치되어 서로 다른 색의 빛을 방출하는 복수의 화소들을 포함한다. 복수의 데이터선들(DL1 내지 DLm)은 제1방향을 따라 배치되고, 복수의 주사선들(SL1 내지 SLn)은 제2방향을 따라 배치된다. 이하에서는 설명의 편의를 위해 도면 부호를 좌측부터 인덱싱하였다.
주사 구동부(120)는 외부로부터 공급되는 주사구동전원(VDD, VSS) 및 주사제어신호(SCS)에 대응하여 주사신호를 생성하고, 이를 주사선들(SL1 내지 SLn)로 순차적으로 공급한다.
IC 실장 영역(130)에는 화소부(110)의 데이터선들(DL1 내지 DLm)로부터 연장된 팬아웃선들(FOL1 내지 FOLm) 각각에 연결된 다수의 데이터 패드들이 배치된다. 데이터 구동부(미도시)는 COG(chip on glass) 방식으로 데이터 패드들과 본딩되어 IC 실장 영역(130)에 실장된다. 데이터 구동부는 표시 데이터(DATA) 및 데이터 제어신호(DCS)에 대응하여 데이터 신호를 생성하고, 이를 데이터선들(DL1 내지 DLm)로 공급한다.
배선 테스트부(140)는 팬아웃선들(FOL1 내지 FOLm), 즉 화소부(110)의 데이터선들(DL1 내지 DLm)과 IC 실장 영역(140)의 데이터 패드들을 연결하는 배선들의 저항성 불량 및 오픈(open)을 동시에 검출할 수 있다. 저항성 불량 검출은 팬아웃선의 크랙(crack)에 의한 저항 증가에 따라 화면에 발생하는 세로선 불량을 검출하는 것이다. 오픈 검출은 데이터선 또는 팬아웃선의 단선을 검출하는 것이다. 배선 테스트부(140)는 테스트 신호 및 테스트 제어신호를 공급받고, 테스트 제어신호에 대응하여 테스트 신호를 팬아웃선들(FOL1 내지 FOLm)을 경유하여 데이터선들(DL1 내지 DLm)로 공급한다. 배선 테스트부(140)가 활성일 때, 초기화부(150)는 비활성이다.
초기화부(150)는 배선 테스트부(140)가 활성화되기 전에 먼저 활성화되어 데이터선들(DL1 내지 DLm)을 초기화하는 초기화 신호를 데이터선들(DL1 내지 DLm)로 공급한다. 초기화부(150)는 팬아웃선들(FOL1 내지 FOLm)을 경유하지 않고 데이터선들(DL1 내지 DLm)로 초기화 신호를 공급한다. 초기화부(150)가 활성일 때, 배선 테스트부(140)는 비활성이다.
패드부(180)는 외부로부터 공급되는 전원들 및/또는 신호들을 패널(100) 내부로 전달하기 위한 다수의 패드(P)들을 구비한다. 도 1에서 패드부(180)와 패널 (100) 내의 각 구성부를 연결하는 라인의 위치와 수는 편의상 도시된 것으로, 다수의 라인들이 다른 위치에 배치될 수 있다. 예를 들어, 패드부(180)로부터 주사 구동부(120)로 신호를 공급하는 라인은 주사구동전원(VDD/VSS), 주사제어신호(SCS)로서 스타트 펄스(SP), 주사 클럭신호(CLK) 및 출력 인에이블 신호(OE)를 공급받는 다섯 개의 라인들로 구성될 수 있다.
도 2의 실시예에서 주사 구동부(120)가 우측에 도시되어 있으나, 본 발명의 실시예는 이에 한정되지 않고, 좌측 또는 좌우 양측에 구비될 수 있다.
도 3은 도 2에 도시된 표시 장치의 일례를 도시한 평면도이다. 도 4는 도 3의 표시 장치의 배선 테스트를 설명하는 타이밍도이다.
도 3을 참조하면, 화소부(110)는 복수의 화소(P)들이 열 및 행 방향으로 배치될 수 있다. 화소(P)들은 서로 다른 색의 빛을 방출하는 제1화소들, 제2화소들 및 제3화소들을 포함할 수 있다. 제1화소는 적색의 빛을 방출하는 적색 화소로 설정되고, 제2화소는 청색의 빛을 방출하는 청색 화소로 설정되며, 제3화소는 녹색의 빛을 방출하는 녹색 화소로 설정될 수 있다. 도 3에서는 설명의 편의를 위해 복수의 주사선(SL1 내지 SLn)은 생략하였다.
IC 실장 영역(130)에는 데이터선들(DL1 내지 DLm) 각각의 일 단에서 연장된 팬아웃선들(FOL1 내지 FOLm)과 연결된 데이터 패드들(DP1 내지 DPm)이 구비될 수 있다.
초기화부(150A)는 데이터선들(DL1 내지 DLm) 각각의 타 단에 연결된 복수의 제1스위치(SA1)들을 구비한다. 제1스위치(SA1)의 게이트는 초기화 제어신호(INI_GATE)를 공급하는 제어선(15a)에 연결된다. 제1스위치(SA1)의 제1단자는 초기화 신호(INI_DATA)를 공급하는 초기화 신호선(15b)에 연결되고, 제2단자는 데이터선들(DL1 내지 DLm) 중 하나에 연결된다.
테스트부(140A)는 IC 실장 영역(130)의 데이터 패드(DP)들과 테스트 신호선(14b) 사이에 배치된 제2스위치(SA2)들을 포함할 수 있다. 제2스위치(SA2)의 게이트는 테스트 제어신호(TEST_GATE)를 공급하는 제어선(14a)에 연결된다. 제2스위치(SA2)의 제1단자는 테스트 신호(TEST_DATA)를 공급하는 테스트 신호선(14b)에 연결되고, 제2단자는 데이터 패드(DP1 내지 DPm)들 중 하나에 연결된다.
도 4를 참조하면, 배선 테스트는 초기화 구간인 제1기간(T1)과 테스트 구간인 제2기간(T2) 동안 수행될 수 있다.
제1기간(T1)에 제1스위치(SA1)들은 턴 온 상태를 유지하도록 하는 초기화 제어신호(INI_GATE)를 공급받는다. 이에 의해, 제1스위치(SA1)들은 턴 온 상태를 유지하면서 초기화 신호선(15b)으로부터 공급되는 로우 레벨의 제1전압(V1)의 초기화 신호(INI_DATA)를 데이터선들(DL1 내지 DLm)로 공급한다. 제1기간(T1)에 제2스위치(SA2)들은 턴 오프 상태를 유지하도록 하는 테스트 제어신호(TEST_GATE)를 공급받고, 턴 오프 상태를 유지한다.
제2기간(T2)에 제1스위치(SA1)들은 턴 오프 상태를 유지하도록 하는 초기화 제어신호(INI_GATE)를 공급받고, 턴 오프 상태를 유지한다. 제2기간(T2)에 각 화소(P)에는 주사선으로부터 차례로 주사 신호(S1 내지 Sn)가 공급되고, 제2스위치(SA2)들은 턴 온 상태를 유지하도록 하는 테스트 제어신호(TEST_GATE)를 공급받는다. 이에 의해, 제2스위치(SA2)들은 턴 온 상태를 유지하면서 테스트 신호선(14b)으로부터 공급되는 하이 레벨의 제2전압(V2)의 테스트 신호(TEST_DATA)를 데이터선들(DL1 내지 DLm)로 공급한다.
팬아웃선들(FOL1 내지 FOLm) 중 저항성 불량인 팬아웃선을 통해 공급되는 데이터선에는 제2전압(V2)보다 낮은 전압(Vr)이 공급된다. 따라서 저항성 불량을 갖는 팬아웃선과 연결된 데이터선이 구비된 열의 화소들은 주변 열의 화소들에 비해 전압차(△V=V2-Vr)에 대응하는 휘도 차를 갖고 세로선 불량이 발생하게 된다.
즉, 본 발명의 실시예는 주변 열에 비해 높거나 낮은 휘도로 발광하는 열의 데이터선에 연결된 팬아웃선을 저항성 불량 또는 쇼트로 검출할 수 있다. 그리고 주변 열과의 휘도 차이 정도에 따라 쇼트 불량과 저항성 불량을 구별할 수 있다.
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 장치이다. 도 6은 도 5의 표시 장치의 배선 테스트를 설명하는 타이밍도이고, 도 7은 도 5의 표시 장치의 점등 테스트를 설명하는 타이밍도이다.
도 5를 참조하면, 화소부(110)는 적색 화소(R), 녹색 화소(G), 청색 화소(B)가 각 열에 일렬로 배치된다. 도 5에서는 설명의 편의를 위해 복수의 주사선(SL1 내지 SLn)은 생략하였다. 도 5의 실시예에서는 초기화부(150B)에서 배선 테스트의 초기화 동작 외에 점등 테스트를 수행할 수 있도록 한다. 이에 따라 점등 테스트를 위한 별도의 회로를 구성할 필요가 없다.
IC 실장 영역(130)에는 데이터선들(DL1 내지 DLm) 각각의 일 단에서 연장된 팬아웃선들(FOL1 내지 FOLm)과 연결된 데이터 패드들(DP1 내지 DPm)이 구비될 수 있다.
초기화부(150B)는 데이터선들(DL1 내지 DLm) 각각의 타 단에 연결된 복수의 제1스위치(SB1)들을 구비한다. 제1스위치(SB1)들은 제1 초기화 스위치(SB11)들, 제2 초기화 스위치(SB12)들 및 제3 초기화 스위치(SB13)들을 포함할 수 있다. 제1 내지 제3 초기화 스위치들(SB11, SB12, SB13)의 게이트는 초기화 제어신호(DC_GATE)를 공급하는 제어선(16a)에 연결된다. 제1 초기화 스위치(SB11)의 제1단자는 제1 초기화 신호(DC_R)를 공급하는 제1신호선(16b)에 연결되고, 제2단자는 적색 화소(R)가 배열된 열의 데이터선에 연결된다. 제2 초기화 스위치(SB12)의 제1단자는 제2 초기화 신호(DC_G)를 공급하는 제2신호선(16c)에 연결되고, 제2단자는 녹색 화소(G)가 배열된 열의 데이터선에 연결된다. 제3 초기화 스위치(SB13)의 제1단자는 제3 초기화 신호(DC_B)를 공급하는 제3신호선(16d)에 연결되고, 제2단자는 청색 화소(B)가 배열된 열의 데이터선에 연결된다.
테스트부(140B)는 IC 실장 영역(130)의 데이터 패드(DP)들과 테스트 신호선(14b) 사이에 배치된 제2스위치(SB2)들을 포함할 수 있다. 제2스위치(SB2)의 게이트는 테스트 제어신호(TEST_GATE)를 공급하는 제어선(14a)에 연결된다. 제2스위치(SB2)의 제1단자는 테스트 신호(TEST_DATA)를 공급하는 테스트 신호선(14b)에 연결되고, 제2단자는 데이터 패드(DP1 내지 DPm)들 중 하나에 연결된다.
도 6을 참조하면, 배선 테스트는 초기화 구간인 제1기간(T1)과 테스트 구간인 제2기간(T2) 동안 수행될 수 있다.
제1기간(T1)에 제1 내지 제3 초기화 스위치들(SB11, SB12, SB13)은 턴 온 상태를 유지하도록 하는 초기화 제어신호(DC_GATE)를 공급받고, 턴 온 상태를 유지한다. 이때 제1 내지 제3 신호선들(16b, 16c, 16d)에는 동일한 로우 레벨의 제1전압(V1)의 제1 내지 제3 초기화 신호(DC_R, DC_G, DC_B)가 공급되고, 제1 내지 제3 초기화 스위치들(SB11, SB12, SB13)은 제1 내지 제3 초기화 신호(DC_R, DC_G, DC_B)를 데이터선들(DL1 내지 DLm)로 공급한다. 제1기간(T1)에 제2스위치(SB2)들은 턴 오프 상태를 유지하도록 하는 테스트 제어신호(TEST_GATE)를 공급받고, 턴 오프 상태를 유지한다.
제2기간(T2)에 제1 내지 제3 초기화 스위치들(SB11, SB12, SB13)은 턴 오프 상태를 유지하도록 하는 초기화 제어신호(DC_GATE)를 공급받고, 턴 오프 상태를 유지한다. 제2기간(T2)에 각 화소(P)에는 주사선으로부터 차례로 주사 신호(S1 내지 Sn)가 공급되고, 제2스위치(SB2)들은 턴 온 상태를 유지하도록 하는 테스트 제어신호(TEST_GATE)를 공급받는다. 이에 의해, 제2스위치(SB2)들은 턴 온 상태를 유지하면서 테스트 신호선(14b)으로부터 공급되는 하이 레벨의 제2전압(V2)의 테스트 신호(TEST_DATA)를 데이터선들(DL1 내지 DLm)로 공급한다.
팬아웃선들(FOL1 내지 FOLm) 중 저항성 불량인 팬아웃선을 통해 공급되는 데이터선에는 제2전압(V2)보다 낮은 전압(Vr)이 공급된다. 따라서 저항성 불량을 갖는 팬아웃선과 연결된 데이터선이 구비된 열의 화소들은 주변 열의 화소들에 비해 전압차(△V=V2-Vr)에 대응하는 휘도 차를 갖게 된다.
즉, 본 발명의 실시예는 주변 열에 비해 높거나 낮은 휘도로 발광하는 열의 데이터선에 연결된 팬아웃선을 저항성 불량 또는 쇼트로 검출할 수 있다. 그리고 주변 열과의 휘도 차이 정도에 따라 쇼트 불량과 저항성 불량을 구별할 수 있다.
도 7을 참조하면, 배선 테스트와 별개의 점등 테스트는 초기화부(150B)에 의해 수행될 수 있다.
점등 테스트 동안 배선 테스트부(140B)는 비활성이다. 즉, 제2스위치(SB2)들은 턴 오프 상태를 유지하도록 하는 테스트 제어신호(TEST_GATE)를 공급받고, 턴 오프 상태를 유지한다.
초기화부(150B)의 제1 내지 제3 초기화 스위치들(SB11, SB12, SB13)은 턴 온 상태를 유지하도록 하는 초기화 제어신호(DC_GATE)를 공급받고, 턴 온 상태를 유지한다. 이때 제1신호선(16b), 제2신호선(16c), 제3신호선(16d)에는 차례로 제1 초기화 신호(DC_R), 제2 초기화 신호(DC_G), 제3 초기화 신호(DC_B)가 점등 테스트 신호로서 공급될 수 있다. 이에 따라, 제1 내지 제3 초기화 스위치들(SB11, SB12, SB13)은 제1 초기화 신호(DC_R), 제2 초기화 신호(DC_G), 제3 초기화 신호(DC_B)를 데이터선들(DL1 내지 DLm)로 공급한다.
도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 장치이다. 도 9는 도 8의 표시 장치의 배선 테스트를 설명하는 타이밍도이다.
도 8을 참조하면, 화소부(110)는 적색 화소(R), 녹색 화소(G), 청색 화소(B)가 각 열에 일렬로 배치된다. 도 8에서는 설명의 편의를 위해 복수의 주사선(SL1 내지 SLn)은 생략하였다. 도 8의 실시예에서는 배선 테스트부(140C)에서 배선 테스트 동작 외에 점등 테스트를 수행할 수 있도록 한다. 이에 따라 점등 테스트를 위한 별도의 회로를 구성할 필요가 없다.
IC 실장 영역(130)에는 데이터선들(DL1 내지 DLm) 각각의 일 단에서 연장된 팬아웃선들(FOL1 내지 FOLm)과 연결된 데이터 패드들(DP1 내지 DPm)이 구비될 수 있다.
초기화부(150C)는 데이터선들(DL1 내지 DLm) 각각의 타 단에 연결된 복수의 제1스위치(SC1)들을 구비한다. 제1스위치(SC1)의 게이트는 초기화 제어신호(INI_GATE)를 공급하는 제어선(15a)에 연결된다. 제1스위치(SC1)의 제1단자는 초기화 신호(INI_DATA)를 공급하는 초기화 신호선(15b)에 연결되고, 제2단자는 데이터선들(DL1 내지 DLm) 중 하나에 연결된다.
테스트부(140C)는 IC 실장 영역(130)의 데이터 패드들(DP1 내지 DPm)과 제1 내지 제3 테스트 신호선(16b, 16c, 16d) 사이에 배치된 제2스위치(SC2)들을 포함할 수 있다. 제2스위치(SC2)들은 제1 테스트 스위치(SC21)들, 제2 테스트 스위치(SC22)들 및 제3 테스트 스위치(SC23)들을 포함할 수 있다. 제1 내지 제3 테스트 스위치들(SC21, SC22, SC23)의 게이트는 테스트 제어신호(DC_GATE)를 공급하는 제어선(16a)에 연결된다. 제1 테스트 스위치(SC21)의 제1단자는 제1 테스트 신호(DC_R)를 공급하는 제1신호선(16b)에 연결되고, 제2단자는 데이터 패드(DP1 내지 DPm)들 중 하나에 연결된다. 제2 테스트 스위치(SC22)의 제1단자는 제2 테스트 신호(DC_G)를 공급하는 제2신호선(16c)에 연결되고, 제2단자는 데이터 패드(DP1 내지 DPm)들 중 하나에 연결된다. 제3 테스트 스위치(SC23)의 제1단자는 제3 테스트 신호(DC_B)를 공급하는 제3신호선(16d)에 연결되고, 제2단자는 데이터 패드(DP1 내지 DPm)들 중 하나에 연결된다.
도 9를 참조하면, 배선 테스트는 초기화 구간인 제1기간(T1)과 테스트 구간인 제2기간(T2) 동안 수행될 수 있다.
제1기간(T1)에 제1스위치(SC1)들은 턴 온 상태를 유지하도록 하는 초기화 제어신호(INI_GATE)를 공급받는다. 이에 의해, 제1스위치(SC1)들은 턴 온 상태를 유지하면서 초기화 신호선(15b)으로부터 공급되는 로우 레벨의 제1전압(V1)의 초기화 신호(INI_DATA)를 데이터선들(DL1 내지 DLm)로 공급한다. 제1기간(T1)에 제2스위치(SC2)들은 턴 오프 상태를 유지하도록 하는 테스트 제어신호(DC_GATE)를 공급받고, 턴 오프 상태를 유지한다.
제2기간(T2)에 제1스위치(SC1)들은 턴 오프 상태를 유지하도록 하는 초기화 제어신호(INI_GATE)를 공급받고, 턴 오프 상태를 유지한다. 제2기간(T2)에 화소들(R, G, B)에 주사선으로부터 차례로 주사 신호(S1 내지 Sn)가 공급되고, 제1 내지 제3 테스트 스위치들(SC21, SC22, SC23)은 턴 온 상태를 유지하도록 하는 테스트 제어신호(DC_GATE)를 공급받고, 턴 온 상태를 유지한다. 이때 제1 내지 제3 신호선들(16b, 16c, 16d)에는 동일한 하이 레벨의 제1전압(V2)의 제1 내지 제3 테스트 신호(DC_R, DC_G, DC_B)가 공급된다. 제1 내지 제3 테스트 스위치들(SC21, SC22, SC23)은 제1 내지 제3 테스트 신호(DC_R, DC_G, DC_B)를 데이터선들(DL1 내지 DLm)로 공급한다.
팬아웃선들(FOL1 내지 FOLm) 중 저항성 불량인 팬아웃선을 통해 공급되는 데이터선에는 제2전압(V2)보다 낮은 전압(Vr)이 공급된다. 따라서 저항성 불량을 갖는 팬아웃선과 연결된 데이터선이 구비된 열의 화소들은 주변 열의 화소들에 비해 전압차(△V=V2-Vr)에 대응하는 휘도 차를 갖게 된다.
즉 본 발명의 실시예는 주변 열에 비해 높거나 낮은 휘도로 발광하는 열의 데이터선에 연결된 팬아웃선을 저항성 불량 또는 쇼트로 검출할 수 있다. 그리고 주변 열과의 휘도 차이 정도에 따라 쇼트 불량과 저항성 불량을 구별할 수 있다.
한편, 점등 테스트는 배선 테스트부(140C)에 의해 수행될 수 있다. 점등 테스트 동안 초기화부(150C)는 비활성이다. 즉, 제1스위치(SC1)들은 턴 오프 상태를 유지하도록 하는 초기화 제어신호(INI_GATE)를 공급받고, 턴 오프 상태를 유지한다.
도 7에 도시된 바와 같이, 배선 테스트부(140C)의 제1 내지 제3 테스트 스위치들(SC21, SC22, SC23)은 턴 온 상태를 유지하도록 하는 테스트 제어신호(DC_GATE)를 공급받고, 턴 온 상태를 유지한다. 이때 제1신호선(16b), 제2신호선(16c), 제3신호선(16d)에는 차례로 제1 테스트 신호(DC_R), 제2 테스트 신호(DC_G), 제3 테스트 신호(DC_B)가 점등 테스트 신호로서 공급될 수 있다. 이에 따라, 제1 내지 제3 테스트 스위치들(SC21, SC22, SC23)은 제1 테스트 신호(DC_R), 제2 테스트 신호(DC_G), 제3 테스트 신호(DC_B)를 데이터선들(DL1 내지 DLm)로 공급한다.
도 10은 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 장치이다. 도 11은 도 10의 표시 장치의 배선 테스트를 설명하는 타이밍도이고, 도 12는 도 10의 표시 장치의 점등 테스트를 설명하는 타이밍도이다.
도 10을 참조하면, 화소부(110)는 서로 다른 색의 빛을 방출하는 제1화소들, 제2화소들 및 제3화소들을 포함하되, 제1화소 및 제2화소가 동일한 열에 교대로 배열되고, 제3화소가 제1화소 및 제2화소가 배열된 열의 인접한 열에 일렬로 배치되는 구조를 갖는다. 제1화소는 적색의 빛을 방출하는 적색 화소(R)로 설정되고, 제2화소는 청색의 빛을 방출하는 청색 화소(B)로 설정되며, 제3화소는 녹색의 빛을 방출하는 녹색 화소(G)로 설정될 수 있다. 적색 화소(R)와 청색 화소(B)는 동일한 열에 교대로 배열되고, 녹색 화소(G)는 적색 화소(R)와 청색 화소(B)가 배열된 열의 인접한 열에 일렬로 배치된다. 도 10에서는 설명의 편의를 위해 복수의 주사선(SL1 내지 SLn)은 생략하였다.
도 10의 실시예에서는 초기화부(150D)에서 배선 테스트의 초기화 동작 외에 점등 테스트를 수행할 수 있도록 한다. 이에 따라 점등 테스트를 위한 별도의 회로를 구성할 필요가 없다.
IC 실장 영역(130)에는 데이터선들(DL1 내지 DLm) 각각의 일 단에서 연장된 팬아웃선들(FOL1 내지 FOLm)과 연결된 데이터 패드들(DP1 내지 DPm)이 구비될 수 있다.
초기화부(150D)는 데이터선들(DL1 내지 DLm) 각각의 타 단에 연결된 복수의 제1스위치(SD1)들을 구비한다. 제1스위치(SD1)들은 제1 초기화 스위치(SD11)들, 제2 초기화 스위치(SD12)들 및 제3 초기화 스위치(SD13)들을 포함할 수 있다. 적색 화소(R)와 청색 화소(B)가 교대로 배열된 열에는 제1 초기화 스위치(SD11)와 제2 초기화 스위치(SD12)가 연결된다. 녹색 화소(G)가 배열된 열에는 제3 초기화 스위치(SD13)가 연결된다.
제1 초기화 스위치(SD11)의 게이트는 제1 초기화 제어신호(DC_GATE_R)를 공급하는 제어선(17a)에 연결되고, 제1단자는 제1 초기화 신호(DC_R)를 공급하는 제1신호선(18a)에 연결되고, 제2단자는 적색 화소(R)와 청색 화소(B)가 교대로 배열된 열의 데이터선에 연결된다. 제2 초기화 스위치(SD12)의 게이트는 제2 초기화 제어신호(DC_GATE_B)를 공급하는 제어선(17b)에 연결되고, 제1단자는 제2 초기화 신호(DC_B)를 공급하는 제2신호선(18b)에 연결되고, 제2단자는 적색 화소(R)와 청색 화소(B)가 교대로 배열된 열의 데이터선에 연결된다. 제3 초기화 스위치(SD13)의 게이트는 제3 초기화 제어신호(DC_GATE_G)를 공급하는 제어선(17c)에 연결되고, 제1단자는 제3 초기화 신호(DC_G)를 공급하는 제3신호선(18c)에 연결되고, 제2단자는 녹색 화소(G)가 배열된 열의 데이터선에 연결된다.
테스트부(140B)는 IC 실장 영역(130)의 데이터 패드(DP)들과 테스트 신호선(14b) 사이에 배치된 제2스위치(SD2)들을 포함할 수 있다. 제2스위치(SD2)의 게이트는 테스트 제어신호(TEST_GATE)를 공급하는 제어선(14a)에 연결된다. 제2스위치(SB2)의 제1단자는 테스트 신호(TEST_DATA)를 공급하는 테스트 신호선(14b)에 연결되고, 제2단자는 데이터 패드(DP1 내지 DPm)들 중 하나에 연결된다.
도 11을 참조하면, 패널(셀) 테스트(S4) 단계에서 배선 테스트는 초기화 구간인 제1기간(T1)과 테스트 구간인 제2기간(T2) 동안 수행될 수 있다.
제1기간(T1)에 제1 내지 제3 초기화 스위치들(SD11, SD12, SD13)은 턴 온 상태를 유지하도록 하는 제1 내지 제3 초기화 제어신호(DC_GATE_R, DC_GATE_B, DC_GATE_G)를 공급받고, 턴 온 상태를 유지한다. 이때 제1 내지 제3 신호선들(18b, 18c, 18d)에는 동일한 로우 레벨의 제1전압(V1)의 제1 내지 제3 초기화 신호(DC_R, DC_B, DC_G)가 공급되고, 제1 내지 제3 초기화 스위치들(SD11, SD12, SD13)은 제1 내지 제3 초기화 신호(DC_R, DC_B, DC_G)를 데이터선들(DL1 내지 DLm)로 공급한다. 제1기간(T1)에 제2스위치(SD2)들은 턴 오프 상태를 유지하도록 하는 테스트 제어신호(TEST_GATE)를 공급받고, 턴 오프 상태를 유지한다.
제2기간(T2)에 제1 내지 제3 초기화 스위치들(SD11, SD12, SD13)은 턴 오프 상태를 유지하도록 하는 제1 내지 제3 초기화 제어신호(DC_GATE_R, DC_GATE_B, DC_GATE_G)를 공급받고, 턴 오프 상태를 유지한다. 제2기간(T2)에 화소(R, G, B)에는 주사선으로부터 차례로 주사 신호(S1 내지 Sn)가 공급되고, 제2스위치(SD2)들은 턴 온 상태를 유지하도록 하는 테스트 제어신호(TEST_GATE)를 공급받는다. 이에 의해, 제2스위치(SD2)들은 턴 온 상태를 유지하면서 테스트 신호선(14b)으로부터 공급되는 하이 레벨의 제2전압(V2)의 테스트 신호(TEST_DATA)를 데이터선들(DL1 내지 DLm)로 공급한다.
팬아웃선들(FOL1 내지 FOLm) 중 저항성 불량인 팬아웃선을 통해 공급되는 데이터선에는 제2전압(V2)보다 낮은 전압(Vr)이 공급된다. 따라서 저항성 불량을 갖는 팬아웃선과 연결된 데이터선이 구비된 열의 화소들은 주변 열의 화소들에 비해 전압차(△V=V2-Vr)에 대응하는 휘도 차를 갖게 된다.
즉 본 발명의 실시에는 주변 열에 비해 높거나 낮은 휘도로 발광하는 열의 데이터선에 연결된 팬아웃선은 저항성 불량 또는 쇼트로 검출될 수 있다. 그리고 주변 열과의 휘도 차이 정도에 따라 쇼트 불량과 저항성 불량을 구별할 수 있다.
도 12를 참조하면, 점등 테스트는 초기화부(150D)에 의해 수행될 수 있다.
점등 테스트 동안 배선 테스트부(140D)는 비활성이다. 즉, 제2스위치(SD2)들은 턴 오프 상태를 유지하도록 하는 테스트 제어신호(TEST_GATE)를 공급받고, 턴 오프 상태를 유지한다.
초기화부(150D)의 제1 내지 제3 초기화 스위치들(SD11, SD12, SD13)은 턴 온 상태를 유지하도록 하는 제1 내지 제3 초기화 제어신호(DC_GATE_R, DC_GATE_B, DC_GATE_G)를 공급받고, 턴 온 상태를 유지한다. 제1 및 제2 초기화 제어신호(DC_GATE_R, DC_GATE_B)는 교대로 공급된다.
이때 제1신호선(18a), 제2신호선(18b), 제3신호선(18c)에는 차례로 제1 초기화 신호(DC_R), 제2 초기화 신호(DC_G), 제3 초기화 신호(DC_B)가 점등 테스트 신호로서 공급될 수 있다. 이에 따라, 제1 내지 제3 초기화 스위치들(SD11, SD12, SD13)은 제1 초기화 신호(DC_R), 제2 초기화 신호(DC_B), 제3 초기화 신호(DC_G), 를 데이터선들(DL1 내지 DLm)로 공급한다.
도 13은 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 장치를 개략적으로 도시한 평면도이다.
도 13의 실시예는 초기화부(250)가 데이터 패드들(DP1 내지 DPm)과 데이터선들(DL1 내지 DLm) 사이에 배치된 점에서, 도 3의 실시예와 상이하다. 이하에서는 동일한 구성의 상세한 설명은 생략하겠다.
도 13을 참조하면, 표시 장치(200)는 화소부(210), 주사 구동부(220), IC 실장 영역(230), 배선 테스트부(240), 초기화부(250)를 포함한다. 각 구성부는 도시되지 않은 패드부로부터 전원 및/또는 신호들을 공급받을 수 있다.
초기화부(250)는 화소부(210)의 데이터선들(DL1 내지 DLm)에 인접하여 배치된다. 초기화부(250)는 데이터선들(DL1 내지 DLm) 각각의 일 단에 연결된 복수의 제1스위치(SE1)들을 구비한다. 제1스위치(SE1)의 게이트는 초기화 제어신호(INI_GATE)를 공급하는 제어선(25a)에 연결된다. 제1스위치(SE1)의 제1단자는 초기화 신호(INI_DATA)를 공급하는 초기화 신호선(25b)에 연결되고, 제2단자는 데이터선들(DL1 내지 DLm) 중 하나에 연결된다.
테스트부(240)는 IC 실장 영역(130)의 데이터 패드(DP)들과 테스트 신호선(24b) 사이에 배치된 제2스위치(SE2)들을 포함할 수 있다. 제2스위치(SE2)의 게이트는 테스트 제어신호(TEST_GATE)를 공급하는 제어선(24a)에 연결된다. 제2스위치(SE2)의 제1단자는 테스트 신호(TEST_DATA)를 공급하는 테스트 신호선(24b)에 연결되고, 제2단자는 데이터 패드(DP1 내지 DPm)들 중 하나에 연결된다.
배선 테스트를 위해, 초기화 구간에 초기화부(250)의 제1스위치(SE1)들을 통해 데이터선들(DL1 내지 DLm)로 초기화 신호(INI_DATA)가 공급되고, 테스트 구간에 테스트부(240)의 제2스위치(SE2)들을 통해 팬아웃선들(FOL1 내지 FOLm)을 경유하여 데이터선들(DL1 내지 DLm)로 테스트 신호(TEST_DATA)가 공급될 수 있다.
본 발명의 실시예들은 팬아웃선을 경유하지 않고 데이터선들로 초기화 신호를 먼저 인가한 후, 팬아웃선을 경유하여 데이터선들로 테스트 신호를 인가함으로써, 보다 정확하게 팬아웃선의 쇼트 불량뿐만 아니라 저항성 불량을 함께 검출할 수 있다.
또한, 본 발명의 실시예는 초기화부 또는 배선 테스트부를 이용하여 배선 테스트 외에 점등 테스트를 겸함으로써, 추가로 점등 테스트 회로를 구성할 필요가 없어 비표시 영역을 최소화할 수 있다.
본 발명의 실시예에서는 화소부가 적색 화소(R), 청색 화소(B), 녹색 화소(G)로 구성되는 것으로 설명하고 있으나, 화소부는 적색, 녹색 및 청색 이외의 색을 디스플레이하기 위한 화소를 더 포함할 수도 있다.
본 발명의 실시예에서는 스위치들이 모두 PMOS 타입의 트랜지스터인 것으로 도시하고 있으나, 본 발명은 이에 한정되지 않고, 모두 NMOS 타입의 트랜지스터 또는 서로 상이한 전도 타입의 트랜지스터일 수 있고, 그에 상응하여 트랜지스터를 온/오프하는 신호 레벨이 달라질 수 있다.
본 명세서에서는 본 발명을 한정된 실시예를 중심으로 설명하였으나, 본 발명의 범위 내에서 다양한 실시예가 가능하다. 또한 설명되지는 않았으나, 균등한 수단도 또한 본 발명에 그대로 결합되는 것이라 할 것이다. 따라서 본 발명의 진정한 보호범위는 아래의 특허청구범위에 의하여 정해져야 할 것이다.

Claims (22)

  1. 복수의 주사선들 및 복수의 데이터선들에 연결된 복수의 화소들이 구비된 화소부;
    구동 회로와 연결된 복수의 데이터 패드들;
    제1기간에 상기 복수의 데이터선들을 초기화하는 초기화 신호를 상기 복수의 데이터선들과 상기 복수의 데이터 패드들을 연결하는 복수의 팬아웃선들을 경유하지 않고 상기 복수의 데이터선들로 공급하는 초기화부; 및
    상기 복수의 데이터선들을 초기화한 후, 상기 제1기간에 후속하는 제2기간에 상기 복수의 팬아웃선들을 경유하여 상기 초기화된 복수의 데이터선들로 제1 테스트 신호를 공급하는 제1 테스트부;를 포함하고,
    상기 복수의 데이터선들에 연결된 화소들이 상기 제1 테스트 신호에 대응하는 휘도로 발광하고,
    상기 복수의 데이터선들이 구비된 화소열들 간의 휘도 차이에 따라 화소열의 데이터선에 연결된 팬아웃선의 쇼트 불량과 저항성 불량이 구별 검출되는, 표시 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 초기화부는,
    상기 복수의 데이터선들과 상기 초기화 신호를 인가하는 초기화선 사이에 구비된 복수의 제1스위치들;을 포함하는, 표시 장치.
  3. 제2항에 있어서, 상기 복수의 제1스위치들은,
    제1화소들에 상기 초기화 신호를 인가하는 제1 초기화 스위치;
    제2화소들에 상기 초기화 신호를 인가하는 제2 초기화 스위치; 및
    제3화소들에 상기 초기화 신호를 인가하는 제3 초기화 스위치;를 포함하는, 표시 장치.
  4. 제2항에 있어서, 상기 초기화부는,
    상기 초기화선으로부터 상기 제1 테스트 신호와 다른 타이밍에 제2 테스트 신호를 인가받고, 상기 복수의 제1스위치들을 통해 상기 제2 테스트 신호를 상기 복수의 화소들로 인가하는, 표시 장치.
  5. 제4항에 있어서, 상기 복수의 제1스위치들은,
    제1화소들에, 상기 초기화 신호 및 상기 제2 테스트 신호를 인가하는 제1 초기화 스위치;
    제2화소들에, 상기 초기화 신호 및 상기 제2 테스트 신호를 인가하는 제2 초기화 스위치; 및
    제3화소들에, 상기 초기화 신호 및 상기 제2 테스트 신호를 인가하는 제3 초기화 스위치;를 포함하는, 표시 장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 초기화부는 상기 데이터선들의 일 단에 구비되고,
    상기 제1 테스트부는 상기 데이터선들의 타 단에 구비되고,
    상기 데이터 패드들이 배치된 영역은 상기 화소부와 상기 제1 테스트부의 사이에 위치된, 표시 장치.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 초기화부는 상기 화소부와 상기 데이터 패드들이 배치된 영역의 사이에 위치되고,
    상기 데이터 패드들이 배치된 영역은 상기 초기화부와 상기 제1 테스트부의 사이에 위치된, 표시 장치.
  8. 제1항에 있어서, 상기 제1 테스트부는,
    상기 복수의 팬아웃선들과 상기 제1 테스트 신호를 인가하는 테스트 신호선 사이에 구비된 복수의 제2스위치들;을 포함하는, 표시 장치.
  9. 제8항에 있어서, 상기 복수의 제2스위치들은,
    제1화소들에 상기 제1 테스트 신호를 인가하는 제1 테스트 스위치;
    제2화소들에 상기 제1 테스트 신호를 인가하는 제2 테스트 스위치; 및
    제3화소들에 상기 제1 테스트 신호를 인가하는 제3 테스트 스위치;를 포함하는, 표시 장치.
  10. 제8항에 있어서, 상기 제1 테스트부는,
    상기 제1 테스트 신호와 다른 타이밍에 상기 테스트 신호선으로부터 제2 테스트 신호를 인가받고, 상기 복수의 제2스위치들을 통해 상기 제2 테스트 신호를 상기 복수의 화소들로 인가하는, 표시 장치.
  11. 제10항에 있어서, 상기 복수의 제2스위치들은,
    제1화소들에, 상기 제1 테스트 신호 및 상기 제2 테스트 신호를 인가하는 제1 테스트 스위치;
    제2화소들에, 상기 제1 테스트 신호 및 상기 제2 테스트 신호를 인가하는 제2 테스트 스위치; 및
    제3화소들에, 상기 제1 테스트 신호 및 상기 제2 테스트 신호를 인가하는 제3 테스트 스위치;를 포함하는, 표시 장치.
  12. 삭제
  13. 삭제
  14. 삭제
  15. 삭제
  16. 삭제
  17. 삭제
  18. 복수의 주사선들 및 복수의 데이터선들에 연결된 복수의 화소들이 구비된 화소부;
    구동 회로와 연결된 복수의 데이터 패드들;
    제1기간에 상기 복수의 데이터선들을 초기화하는 초기화 신호를 상기 복수의 데이터선들로 공급하는 초기화부; 및
    상기 복수의 데이터선들을 초기화한 후, 상기 제1기간에 후속하는 제2기간에 상기 복수의 팬아웃선들을 경유하여 상기 초기화된 복수의 데이터선들로 제1 테스트 신호를 공급하는 제1 테스트부;를 포함하고,
    상기 초기화부는 상기 화소부와 상기 데이터 패드들이 배치된 영역의 사이에 위치되고,
    상기 데이터 패드들이 배치된 영역은 상기 초기화부와 상기 제1 테스트부의 사이에 위치하고,
    상기 복수의 데이터선들에 연결된 화소들이 상기 제1 테스트 신호에 대응하는 휘도로 발광하고,
    상기 복수의 데이터선들이 구비된 화소열들 간의 휘도 차이에 따라 화소열의 데이터선에 연결된 팬아웃선의 쇼트 불량과 저항성 불량이 구별 검출되는, 표시 장치.
  19. 제18항에 있어서, 상기 초기화부는,
    상기 복수의 데이터선들과 상기 초기화 신호를 인가하는 초기화선 사이에 구비된 복수의 제1스위치들;을 포함하는, 표시 장치.
  20. 제19항에 있어서, 상기 복수의 제1스위치들은,
    제1화소들에 상기 초기화 신호를 인가하는 제1 초기화 스위치;
    제2화소들에 상기 초기화 신호를 인가하는 제2 초기화 스위치; 및
    제3화소들에 상기 초기화 신호를 인가하는 제3 초기화 스위치;를 포함하는, 표시 장치.
  21. 제18항에 있어서, 상기 제1 테스트부는,
    상기 복수의 팬아웃선들과 상기 제1 테스트 신호를 인가하는 테스트 신호선 사이에 구비된 복수의 제2스위치들;을 포함하는, 표시 장치.
  22. 제21항에 있어서, 상기 복수의 제2스위치들은,
    제1화소들에 상기 제1 테스트 신호를 인가하는 제1 테스트 스위치;
    제2화소들에 상기 제1 테스트 신호를 인가하는 제2 테스트 스위치; 및
    제3화소들에 상기 제1 테스트 신호를 인가하는 제3 테스트 스위치;를 포함하는, 표시 장치.
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