KR102003781B1 - 초분광영상화 기법을 이용한 글라스(Glass) 결함 검출 장치 - Google Patents
초분광영상화 기법을 이용한 글라스(Glass) 결함 검출 장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR102003781B1 KR102003781B1 KR1020140122929A KR20140122929A KR102003781B1 KR 102003781 B1 KR102003781 B1 KR 102003781B1 KR 1020140122929 A KR1020140122929 A KR 1020140122929A KR 20140122929 A KR20140122929 A KR 20140122929A KR 102003781 B1 KR102003781 B1 KR 102003781B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- image
- data
- defect
- defects
- glass
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/958—Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
Description
도 2 는 본 발명의 바람직한 일 실시예로서, 검사 대상 글라스(140)의 검사항목에 따른 결함을 검출하고, 결함별 분광데이터를 표시한 일 예를 도시한다.
도 3 는 본 발명의 바람직한 일 실시예로서, 검사 대상 글라스(140)의 초분광 영상에서 결함이 검출되는 대역의 분광 영상을 검출한 일 실시예를 도시한다.
도 4 는 본 발명의 바람직한 일 실시예로서, 검사 대상 글라스(140)의 검사항목에 따라 결함을 검출하고, 검출된 결함마다 측정한 파장값과 기설정된 기준값을 개시한다.
도 5 는 본 발명의 바람직한 일 실시예로서, 검사 대상 글라스(140)의 검사항목에 따라 검출된 결함의 농담치 측정값 및 결함검출(Blob)데이터를 개시한다.
도 6은 본 발명의 바람직한 일 실시예로서, 결함의 결함검출(Blob)데이터의 일 예를 도시한다.
도 7 은 본 발명의 바람직한 일 실시예로서, 영상데이터, 분광데이터 및 공간데이터를 모두이용하여 글라스(Glass) 결함을 검출하는 일 예를 도시한다.
도 8은 본 발명의 바람직한 일 실시예로서, 초분광영상화 기법을 이용한 글라스(Glass) 결함 검출 흐름도를 도시한다.
Claims (15)
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 초분광영상화 기법을 이용한 글라스(Glass) 결함 검출 장치로서,
영상촬영장치 및 분광기를 이용하여 검사 대상 글라스의 초분광영상을 생성하는 초분광영상생성부;
상기 초분광영상을 이용하여 기설정된 검사항목에 대응하는 결함 각각을 영상데이터, 분광데이터 및 공간데이터 값으로 표시하는 초분광영상분석부;및
상기 표시된 영상데이터, 분광데이터 및 공간데이터 값을 모두 이용하여 상기 결함 중 불량을 검출하는 불량검출부;를 포함하고,
상기 분광데이터를 이용하여 상기 생성된 초분광영상에서 검출된 결함을 종류별로 재분류하며, 이 경우 상기 분광데이터는 파장을 포함하는 것을 특징으로 하는 장치. - 제 10 항에 있어서, 상기 공간데이터는
결함의 총 수, 결함 각각의 좌표, 무게 중심 좌표, 면적, 둘레길이, 대각선 길이 중 적어도 하나 이상을 포함하는 것을 특징으로 하는 장치. - 제 10 항에 있어서, 상기 불량검출부는
상기 분광데이터로 결함 각각의 파장값을 이용하고, 상기 영상데이터로 결함 각각의 그레이스케일값을 이용하며, 상기 공간데이터로 결함 각각의 좌표, 무게 중심 좌표, 면적, 둘레길이, 대각선 길이 중 적어도 하나 이상을 이용하는 것을 특징으로 하는 장치. - 삭제
- 제 10 항에 있어서, 상기 기설정된 검사항목은
인쇄 색상, 인쇄 변색, 스크래치, 이물, 찍힘, 치핑, 얼룩, 덴트(dent), 물때(Mura), IR 또는 카메라 홀 불량 중 적어도 하나 이상을 포함하는 것을 특징으로 하는 장치. - 제 10 항에 있어서, 상기 불량검출부는
상기 표시된 영상데이터, 분광데이터 및 공간데이터 값 중 적어도 하나 이상이 기설정된 값을 벗어나는 경우 결함으로 판단하는 것을 특징으로 하는 장치.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020140122929A KR102003781B1 (ko) | 2014-09-16 | 2014-09-16 | 초분광영상화 기법을 이용한 글라스(Glass) 결함 검출 장치 |
PCT/KR2015/003634 WO2016043397A1 (ko) | 2014-09-16 | 2015-04-10 | 초분광영상화 기법을 이용한 글라스 결함 검출 방법 및 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020140122929A KR102003781B1 (ko) | 2014-09-16 | 2014-09-16 | 초분광영상화 기법을 이용한 글라스(Glass) 결함 검출 장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20160032593A KR20160032593A (ko) | 2016-03-24 |
KR102003781B1 true KR102003781B1 (ko) | 2019-07-25 |
Family
ID=55533418
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020140122929A Expired - Fee Related KR102003781B1 (ko) | 2014-09-16 | 2014-09-16 | 초분광영상화 기법을 이용한 글라스(Glass) 결함 검출 장치 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR102003781B1 (ko) |
WO (1) | WO2016043397A1 (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20240071959A (ko) | 2022-11-14 | 2024-05-23 | 오즈레이 주식회사 | 검사체와 조명모듈간 거리에 대응해 조명모듈의 밝기를 조절하는 방법 |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR3053126B1 (fr) * | 2016-06-27 | 2019-07-26 | Saint-Gobain Glass France | Procede et dispositif de localisation de l'origine d'un defaut affectant un empilement de couches minces deposees sur un substrat |
KR101958539B1 (ko) * | 2017-01-17 | 2019-03-14 | 서울시립대학교 산학협력단 | 초분광 이미지를 이용하여 콘크리트 상태를 판정하는 장치 및 방법 |
KR102633672B1 (ko) | 2017-11-15 | 2024-02-05 | 코닝 인코포레이티드 | 유리 시트들 상의 표면 결함들을 검출하기 위한 방법들 및 장치 |
JP2019152518A (ja) * | 2018-03-02 | 2019-09-12 | セイコーエプソン株式会社 | 検査装置、検査システム、及び検査方法 |
CN109001213B (zh) * | 2018-07-19 | 2021-08-10 | 华南理工大学 | 一种卷到卷超薄柔性ic基板外观检测方法 |
CN113853631A (zh) * | 2019-07-25 | 2021-12-28 | 松下知识产权经营株式会社 | 图像数据处理方法、图像数据处理装置及图像数据处理系统 |
CN111445452B (zh) * | 2020-03-23 | 2022-03-01 | Oppo(重庆)智能科技有限公司 | 电子产品的缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质 |
CN111693546A (zh) * | 2020-06-16 | 2020-09-22 | 湖南大学 | 缺陷检测系统、方法及图像采集系统 |
CN112465741B (zh) * | 2020-10-10 | 2024-03-26 | 湖南大捷智能装备有限公司 | 悬架弹簧和气门弹簧的缺陷检测方法、装置及存储介质 |
KR102388752B1 (ko) * | 2020-10-22 | 2022-04-20 | (주)레이텍 | 연질성 이물을 검출할 수 있는 초분광 검사장치 |
US12177548B2 (en) | 2021-03-22 | 2024-12-24 | Electronics And Telecommunications Research Institute | Hyperspectral sensor, hyperspectral imaging system including the sensor, and hyperspectral imaging method using the system |
CN114466183B (zh) * | 2022-02-21 | 2024-09-24 | 江东电子材料有限公司 | 基于特征光谱的铜箔瑕疵检测方法、装置和电子设备 |
CN115880301B (zh) * | 2023-03-06 | 2023-06-06 | 长沙韶光芯材科技有限公司 | 一种玻璃基板气泡缺陷的识别系统 |
CN116297497B (zh) * | 2023-05-23 | 2023-08-15 | 武汉大学 | 一种基于高光谱遥感的手机面板质量检测方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20030218743A1 (en) | 2002-05-13 | 2003-11-27 | Klaus Gerstner | Method and apparatus for detecting defects in a continuously moving strip of transparent material |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101367078B1 (ko) * | 2006-12-26 | 2014-02-25 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정 표시장치의 얼룩 검사 방법 |
US9128036B2 (en) * | 2011-03-21 | 2015-09-08 | Federal-Mogul Corporation | Multi-spectral imaging system and method of surface inspection therewith |
KR101278249B1 (ko) * | 2011-06-01 | 2013-06-24 | 주식회사 나노텍 | 유리기판 에지부의 결함유무 검출을 위한 장치 및 방법 |
JP2013061185A (ja) | 2011-09-12 | 2013-04-04 | Toshiba Corp | パターン検査装置およびパターン検査方法 |
KR101400757B1 (ko) * | 2012-07-19 | 2014-05-27 | (주) 인텍플러스 | 디스플레이 패널 검사장치 |
-
2014
- 2014-09-16 KR KR1020140122929A patent/KR102003781B1/ko not_active Expired - Fee Related
-
2015
- 2015-04-10 WO PCT/KR2015/003634 patent/WO2016043397A1/ko active Application Filing
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20030218743A1 (en) | 2002-05-13 | 2003-11-27 | Klaus Gerstner | Method and apparatus for detecting defects in a continuously moving strip of transparent material |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20240071959A (ko) | 2022-11-14 | 2024-05-23 | 오즈레이 주식회사 | 검사체와 조명모듈간 거리에 대응해 조명모듈의 밝기를 조절하는 방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20160032593A (ko) | 2016-03-24 |
WO2016043397A1 (ko) | 2016-03-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR102003781B1 (ko) | 초분광영상화 기법을 이용한 글라스(Glass) 결함 검출 장치 | |
US11830179B2 (en) | Food inspection assisting system, food inspection assisting apparatus and computer program | |
JP6629455B2 (ja) | 外観検査装置、照明装置、撮影照明装置 | |
TWI399534B (zh) | And a defect inspection device for performing defect inspection using image analysis | |
JP6670327B2 (ja) | 宝石用原石の色測定 | |
JP6052590B2 (ja) | 自動車車体の表面検査装置および表面検査方法 | |
US9927369B2 (en) | Automated defect detection and mapping for optical filters | |
KR102240757B1 (ko) | Lctf-기반 다분광 영상 기술을 이용한 가공 채소류 내 포함된 이물질 실시간 검출 시스템 | |
JP7139243B2 (ja) | 画像分析システム及び方法 | |
Boukouvalas et al. | ASSIST: automatic system for surface inspection and sorting of tiles | |
US20100271633A1 (en) | Semiconductor test instrument and the method to test semiconductor | |
CN108090890B (zh) | 检查装置以及检查方法 | |
CN112689752B (zh) | 用于对基于视觉的检查系统的光学组件进行自主诊断验证的系统、方法和装置 | |
WO2015136620A1 (ja) | 錠剤検査装置、錠剤検査方法、錠剤検査プログラム | |
JP2016090476A (ja) | 異物検出方法 | |
CN111879789A (zh) | 金属表面缺陷检测方法及系统 | |
WO2023098187A1 (zh) | 一种处理方法及处理装置、处理系统 | |
JPH0534281A (ja) | メロンの外観評価装置 | |
JP2007271507A (ja) | 欠陥検出方法、欠陥検出装置、及び欠陥検出プログラム | |
JP2010038723A (ja) | 欠陥検査方法 | |
JP4820971B2 (ja) | 表面検査方法 | |
KR101536693B1 (ko) | 다파장 영상구현 및 영상분석을 통한 흑색종판별방법 및 흑색종판별시스템 | |
JP2023073399A (ja) | 評価方法及び評価システム | |
US20060066846A1 (en) | Apparatus and method for detection of contaminant particles or component defects | |
JP2002243647A (ja) | 試料表面の欠損の検出及び分析方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20140916 |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
A201 | Request for examination | ||
PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 20170721 Comment text: Request for Examination of Application Patent event code: PA02011R01I Patent event date: 20140916 Comment text: Patent Application |
|
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20181022 Patent event code: PE09021S01D |
|
N231 | Notification of change of applicant | ||
PN2301 | Change of applicant |
Patent event date: 20190409 Comment text: Notification of Change of Applicant Patent event code: PN23011R01D |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20190620 |
|
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20190719 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20190722 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20220620 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
PC1903 | Unpaid annual fee |
Termination category: Default of registration fee Termination date: 20250429 |