KR101606490B1

KR101606490B1 - Emi 저항 및 통전 검사 장치

Info

Publication number: KR101606490B1
Application number: KR1020160006528A
Authority: KR
Inventors: 원종우
Original assignee: 주식회사 새광이엔지
Priority date: 2016-01-19
Filing date: 2016-01-19
Publication date: 2016-03-25
Anticipated expiration: 2036-01-19

Abstract

본 발명은 EMI 저항 및 통전 검사 장치에 관한 것으로, 해결하고자 하는 기술적 과제는 피검사체의 검사지점들에 대한 EMI 저항 검사와 통전 검사를 동시에 진행함으로써 검사에 소요되는 시간을 최소화하며 보다 정확하고 신뢰도 높은 검사 결과를 제공하는데 있다.
일례로, 피검사체가 안착되는 적어도 하나 이상의 안착 유닛; 상기 안착 유닛의 높이를 조절하기 위한 제1 이동 유닛; 상기 안착 유닛의 상부에 위치하고, 상기 안착 유닛에 안착된 피검사체의 EMI(electromagnetic interference)의 전사 또는 방사에 대한 저항 값과 통전 검사를 위한 절연 저항 값을 각각 측정하기 위한 다수의 검사 프로브; 상기 검사 프로브를 상하 방향으로 수직 이동시키기 위한 제2 이동 유닛; 피검사체의 EMI 저항에 대한 정상여부를 판별하기 위한 제1 저항검사조건과 제1 저항검사범위, 및 피검사체의 통전에 대한 정상여부를 판별하기 위한 제2 저항검사조건과 제2 저항검사범위가 각각 설정되어, 상기 검사 프로브를 통해 측정된 EMI 저항 값이 상기 제1 저항검사조건을 만족하면 해당 검사지점에 대한 EMI 저항이 정상인 것으로 판정하되, 상기 제1 저항검사범위의 포함 여부에 따라 해당 검사지점의 통전 여부를 판정하고, 상기 검사 프로브를 통해 측정된 절연 저항 값이 상기 제2 저항검사조건을 만족하면 해당 검사지점에 대한 통전 상태가 정상인 것으로 판정하되, 상기 제2 저항검사범위를 벗어나면 통전 상태가 불량인 것으로 판정하는 판정 유닛; 및 상기 제1 이동 유닛을 제어하고, 상기 제1 저항검사조건, 상기 제2 저항검사조건, 상기 제1 저항검사범위 및 상기 제2 저항검사범위를 각각 설정하며, 상기 검사 프로브를 통해 측정된 결과와 상기 판정 유닛을 통해 판정된 결과를 각각 표시하기 위한 터치 스크린이 구비된 제어 유닛을 개시한다.

Description

EMI 저항 및 통전 검사 장치{DEVICE FOR TESTING ELECTROMAGNETIC INTERFERENCE RESISTANCE AND CURRENT FLOW}

본 발명의 실시예는 EMI 저항 및 통전 검사 장치에 관한 것이다.

전자기기 또는 전자기기 내에 탑재되는 PCB(printed circuit board)와 같은 회로기판의 구간 별 전자파방해(electromagnetic interference, EMI)에 대한 저항 검사와 각 부품이나 연결 구간에 대한 통전 검사 또는 절연 저항 검사는 제품에 대한 안전 검증과 양품 판정을 위해 필수적으로 이루어지는 과정이다.

종래의 EMI 저항 검사와 통전 검사 장치는 대부분 별도로 제작되어 진행됨에 따라 실제 검사를 위한 시간이 상당히 소요되거나, 검사 진행이 번거롭다는 단점이 있다.

또한, 하나의 검사시편에 대한 EMI 저항과 통전 검사를 위하여 해당 검사시편을 각 장치로 옮겨 진행함에 따라 검사 포인트에 대한 오차가 발생되어 특정 검사 포인트에 대한 검사 결과에 대한 신뢰성이나 정확도가 떨어진다는 문제점이 있다.

한국공개특허공보 제10-2011-0112605호(2011.10.13) 'FPCB 제품의 불량 검출방법' 일본공개특허공보 제2013-257259호(2013.12.26) '저항 측정 장치 및 회로 기판 검사 장치'

본 발명의 실시예는, 피검사체의 검사지점들에 대한 EMI 저항 검사와 통전 검사를 동시에 진행함으로써 검사에 소요되는 시간을 최소화하며 보다 정확하고 신뢰도 높은 검사 결과를 제공할 수 있는 EMI 저항 및 통전 검사 장치를 제공한다.

본 발명의 실시예에 따른 EMI 저항 및 통전 검사 장치는, 피검사체가 안착되는 적어도 하나 이상의 안착 유닛; 상기 안착 유닛의 높이를 조절하기 위한 제1 이동 유닛; 상기 안착 유닛의 상부에 위치하고, 상기 안착 유닛에 안착된 피검사체의 EMI(electromagnetic interference)의 전사 또는 방사에 대한 저항 값과 통전 검사를 위한 절연 저항 값을 각각 측정하기 위한 다수의 검사 프로브; 상기 검사 프로브를 상하 방향으로 수직 이동시키기 위한 제2 이동 유닛; 피검사체의 EMI 저항에 대한 정상여부를 판별하기 위한 제1 저항검사조건과 제1 저항검사범위, 및 피검사체의 통전에 대한 정상여부를 판별하기 위한 제2 저항검사조건과 제2 저항검사범위가 각각 설정되어, 상기 검사 프로브를 통해 측정된 EMI 저항 값이 상기 제1 저항검사조건을 만족하면 해당 검사지점에 대한 EMI 저항이 정상인 것으로 판정하되, 상기 제1 저항검사범위의 포함 여부에 따라 해당 검사지점의 통전 여부를 판정하고, 상기 검사 프로브를 통해 측정된 절연 저항 값이 상기 제2 저항검사조건을 만족하면 해당 검사지점에 대한 통전 상태가 정상인 것으로 판정하되, 상기 제2 저항검사범위를 벗어나면 통전 상태가 불량인 것으로 판정하는 판정 유닛; 및 상기 제1 이동 유닛을 제어하고, 상기 제1 저항검사조건, 상기 제2 저항검사조건, 상기 제1 저항검사범위 및 상기 제2 저항검사범위를 각각 설정하며, 상기 검사 프로브를 통해 측정된 결과와 상기 판정 유닛을 통해 판정된 결과를 각각 표시하기 위한 터치 스크린이 구비된 제어 유닛을 포함한다.

또한, 상기 본체와 상기 키트 간을 전기적으로 연결하여 소정의 데이터와 제어신호를 송수신하기 위한 아답터 보드를 더 포함할 수 있다.

또한, 상기 안착 유닛, 상기 제1 이동 유닛, 상기 검사 프로브 및 상기 제2 이동 유닛은, 상기 판정 유닛과 상기 제어 유닛을 포함하는 본체에 조립되는 하나의 키트(KIT)로 구성될 수 있다.

또한, 상기 제1 저항검사조건은, 피검사체에 대한 EMI 저항 사양 값과, 피검사체로부터 측정된 EMI 저항 값이 상기 EMI 저항 사양 값보다 크면 정상인지 작으면 정상인지를 판별하기 위한 제1 업/다운 입력 값을 포함하고, 상기 제2 저항검사조건은, 피검사체에 대한 절연 저항 사양 값과, 피검사체로부터 측정된 절연 저항 값이 상기 절연 저항 사양 값보다 크면 정상인지 작으면 정상인지를 판별하기 위한 제2 업/다운 입력 값을 포함할 수 있다.

또한, 상기 제2 저항검사범위는 상기 제1 저항검사범위보다 크게 설정될 수 있다.

또한, 피검사체의 EMI 저항에 대한 정상여부 판정을 위한 검사 시 상기 판정 유닛은, 상기 제어 유닛을 통해 상기 제1 저항검사조건과 상기 제1 저항검사범위가 설정되고, 상기 검사 프로브를 통해 측정된 EMI 저항 값이 상기 저항검사조건을 만족하면서 상기 제1 검사범위 내에 있는 경우 해당 검사지점에 대한 EMI 저항 상태를 정상으로 판정하되, 상기 제1 저항검사범위를 초과하는 경우 해당 검사지점이 개방된 것으로 판정하고, 피검사체의 통전에 대한 정상여부 판정을 위한 검사 시 상기 판정 유닛은, 상기 제어 유닛을 통해 상기 제2 저항검사조건과 상기 제2 저항검사범위가 설정되고, 상기 검사 프로브를 통해 측정된 절연 저항 값이 상기 제2 저항검사조건을 만족하면 경우 해당 검사지점에 대한 통전 상태가 정상인 것으로 판정하되, 상기 제2 저항검사범위 미만인 경우 단락인 것으로 판정하며, 상기 제2 저항검사범위를 초과하는 경우 개방된 것으로 판정할 수 있다.

본 발명의 실시예에 따르면, 피검사체의 검사지점들에 대한 EMI 저항과 통전 검사를 동시에 진행함으로써 검사에 소요되는 시간을 최소화하며 보다 정확하고 신뢰도 높은 검사 결과를 제공할 수 있는 EMI 저항 및 통전 검사 장치를 제공할 수 있다.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 EMI 저항 및 통전 검사 장치의 전면 사진이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 EMI 저항 및 통전 검사 장치의 후면 사진이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 키트의 전후면 사진이다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 본체의 전면 사진이다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 터치 스크린을 통해 표시되는 부팅 화면을 나타낸 도면이다.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 터치 스크린을 통해 표시되는 설정 모드 화면을 나타낸 도면이다.
도 7은 본 발명의 실시예에 따른 터치 스크린을 통해 표시되는 시스템 모드 화면을 나타낸 도면이다.
도 8은 본 발명의 실시예에 따른 EMI 저항 및 통전 검사 장치의 동작 개시 이후 터치 스크린을 통해 표시되는 출력 화면을 나타낸 도면이다.
도 9는 본 발명의 실시예에 따른 검사 결과를 터치 스크린을 통해 표시되는 메인 화면을 나타낸 도면이다.
도 10은 본 발명의 실시예에 따른 채널 및 검사지점 별 메인 화면들을 나타낸 도면이다.
도 11은 본 발명의 실시예에 따른 세부 검사 결과 및 항목을 설명하기 위하여 나타낸 도면이다.
도 12는 본 발명의 실시예에 따른 양부 판정에 대한 검사 결과를 나타낸 도면이다.
도 13은 본 발명의 실시예에 따른 검사 수동 모드 및 수동 모드를 통해 진행되는 검사 결과를 나타낸 도면이다.

본 명세서에서 사용되는 용어에 대해 간략히 설명하고, 본 발명에 대해 구체적으로 설명하기로 한다.

본 발명에서 사용되는 용어는 본 발명에서의 기능을 고려하면서 가능한 현재 널리 사용되는 일반적인 용어들을 선택하였으나, 이는 당 분야에 종사하는 기술자의 의도 또는 판례, 새로운 기술의 출현 등에 따라 달라질 수 있다. 또한, 특정한 경우는 출원인이 임의로 선정한 용어도 있으며, 이 경우 해당되는 발명의 설명 부분에서 상세히 그 의미를 기재할 것이다. 따라서 본 발명에서 사용되는 용어는 단순한 용어의 명칭이 아닌, 그 용어가 가지는 의미와 본 발명의 전반에 걸친 내용을 토대로 정의되어야 한다.

명세서 전체에서 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있음을 의미한다. 또한, 명세서에 기재된 "...부", "모듈" 등의 용어는 적어도 하나의 기능이나 동작을 처리하는 단위를 의미하며, 이는 하드웨어 또는 소프트웨어로 구현되거나 하드웨어와 소프트웨어의 결합으로 구현될 수 있다.

아래에서는 첨부한 도면을 참고하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다.

우선, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 EMI 저항 및 통전 장치의 구성에 대하여 설명한다.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 EMI 저항 및 통전 검사 장치의 전면 사진이고, 도 2는 본 발명의 실시예에 따른 EMI 저항 및 통전 검사 장치의 후면 사진이고, 도 3은 본 발명의 실시예에 따른 키트의 전후면 사진이며, 도 4는 본 발명의 실시예에 따른 본체의 전면 사진이다.

도 1 내지 도 4를 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 EMI 저항 및 통전 검사 장치(1000)는 키트(100)와 본체(200)를 포함한다.

상기 키트(100)는 도 3에 도시된 바와 같이 안착 유닛(110), 제1 이동 유닛(120), 다수의 검사 프로브(130) 및 제2 이동 유닛(140)을 포함할 수 있다. 더불어, 상기 키트(100)는 제1 아답터 보드(150), 키트 상부 지지 프레임(161), 키트 하부 지지 프레임(162), 키트 지지 기둥(163), 하부 실린더 공압 배선(164) 및 상부 실린더 공압 배선(165)를 더 포함하여 구성될 수 있다.

상기 안착 유닛(110)은 상기 키트(100)의 하부에 위치하고 적어도 하나의 피검사체(미도시)을 안착 및 고정할 수 있다. 상기 안착 유닛(110)은 도 3에 도시된 바와 같이 두 개의 피검사체를 고정할 수 있도록 2채널로 이루어질 수 있으나, 본 실시예에서는 상기 안착 유닛(110)의 채널 개수를 한정하는 것은 아니며 더 많은 채널 수를 갖도록 설계될 수도 있다. 상기 피검사체는 전자기기 또는 전자기기 내에 구성된 회로기판 등일 수 있으나 본 발명에서는 피검사체에 대하여 한정하는 것은 아니다. 본 실시예에서는 어느 한 채널에서 EMI 저항 검사를 실시하면서 다른 한 채널에서 통전 검사 또는 절연 저항 검사를 실시할 수 있으며, 모든 채널에서 EMI 저항 검사 또는 통전 검사를 실시할 수 있다.

또한, 상기 안착 유닛(110)은 볼트 등과 같은 체결수단을 이용하여 피검사체를 결합 및 고정할 수 있다. 이때, 상기 안착 유닛(110)은 상기 체결수단을 이용하여 피검사체의 외주부와 결합 및 고정되도록 설치될 수 있으나, 본 실시예에서는 상기 안착 유닛(110)의 구조를 한정하는 것은 아니며, 다양한 형태로 피검사체를 안착 및 고정시킬 수 있도록 설계될 수도 있다.

상기 제1 이동 유닛(120)은 상기 안착 유닛(110)과 연결되고 외부로부터 공급되는 공압에 따라 상기 안착 유닛(110)을 상하 방향으로 수직 이동시킬 수 있다. 이러한 제1 이동 유닛(120)은 하부 공압 실린더를 포함할 수 있으며, 하부 실린더 공압 배선(164)을 통해 소정의 공압을 공급 받아 구동하여 상기 안착 유닛(110)의 높이를 조절할 수 있다.

상기 다수의 검사 프로브(130)는 상기 안착 유닛(110)의 상부에 위치하고 상기 안착 유닛(100)에 안착된 피검사체의 검사지점(또는 포인트)에 대한 EMI(electromagnetic interference) 저항 값(resistance, ?)과 절연 저항 값을 각각 측정할 수 있다.

좀 더 구체적으로, 상기 검사 프로브(130)는 피검사체의 a지점과 b지점 간에 방사 또는 전도되는 EMI와 같은 전자파에 대한 저항 값을 측정할 수 있는데, 여기서 EMI는 방사 또는 전도되는 전자파가 다른 기기의 기능에 장애를 주는 것을 의미하며, EMI 저항 값은 해당 검사구간이 얼마나 전류가 잘 통하느냐에 대한 판정 기준이 될 수 있다. 상기 검사 프로브(130)를 통해 해당 검사지점(특정 구간과 접지가 연결되는 부분)으로 전자파를 흘려 보내주는데 이때 해당 검사구간의 저항을 측정할 수 있다. 따라서, 상기 검사 프로브(130)를 통해 측정되는 EMI 저항 값이 낮을수록 해당 검사구간으로 방사 또는 전도되는 전자파가 접지를 통해 잘 흘러 나갈 수 있음을 의미하며, 양품 판정을 받는데 유리하다.

또한, 상기 검사 프로브(130)는 피검사체의 검사구간에 대한 절연 저항 값을 측정할 수 있는데, 여기서 절연 저항은 해당 검사구간이 얼마나 전류가 잘 통하지 않느냐에 대한 판정 기준이 될 수 있으며, 해당 검사구간에 대한 절연 저항 값이 클수록 양품 판정을 받는데 유리하다.

따라서, 상기 검사 프로브(130)는 피검사체의 각 특정구간에 대하여 EMI에 대한 특정이 기준에 만족하는지 여부와 절연 특성이 기준에 만족하는지 여부를 판정하기 위한 저항 값을 측정하기 위한 수단일 수 있다.

상기 검사 프로브(130)는 검사구간에 인가된 전압과 전류를 읽어서 연상하여 각각의 해당 저항 값 즉 EMI 저항과 절연 저항 값을 각각 연산할 수 있다. 또는, 상기 검사 프로브(130)는 전류가 잘 통하는 금속 재질로 이루어져 있고, 후술하는 판정 유닛(210)이나 제어부(220) 또는 별도의 연산 유닛에서 상기 검사 프로브(130)를 통해 전압이나 전류를 읽어 저항 값을 각각 연산하도록 구성될 수 있다.

본 실시예에 따른 검사 프로브(130)는 검사에 필요한 소스 전압과 측정하고자 하는 분압된 전압을 각각 분리된 전선을 통해 공급하고 읽는 4선식 측정 방법이 적용되도록 구현된 것일 수 있다. 만약, 2선식으로 저항을 측정하는 경우 선간 저항 및 검사 보드에서 측정하고자 하는 저항까지 연결된 커넥터에 의해 발생하는 접촉 저항이 누적 되어 측정 값에 영향을 주게 되므로, 4선식 측정 방법이 좀 더 바람직하다. 여기서, 측정하고자 하는 저항 값이 큰 경우(수십 킬로 옴)에는 선간 저항과 커넥터 접촉 저항은 무시될 수 있지만 본 실시예에 따른 검사 장치는 EMI 저항 검사에 대한 측정 범위가 0~20 Ω으로 설정되므로, 선간 저항이나 커넥터 접촉 저항이 측정 값에 영향을 받지 않기 위하여 4선식 방식을 통해 저항 측정을 실시한다.

상기 제2 이동 유닛(140)은 상기 검사 프로브(130)와 연결되고 상기 본체(200)로부터 수신되는 소정의 제어신호에 따라 상기 검사 프로브(130)를 상하 방향으로 수직 이동시킬 수 있다. 이러한 제2 이동 유닛(140)은 상부 공압 실린더(도장 실린더)를 포함할 수 있으며, 상부 실린더 공압 배선(165)을 통해 상기 본체(200)로부터 소정의 공압을 공급 받아 구동할 수 있다. 이때, 상기 본체(200)는 외부로부터 공급되는 공압을 조절하여 상기 제1 이동 유닛(120)의 하부 공압 실린더의 구동을 제어할 수 있다.

상기 제1 아답터 보드(150)는 상기 키트(100)와 컨트롤 박스(200A) 간의 회로 연결을 위한 구성으로, 상기 컨트롤 박스(200A)의 제2 아답터 보드(230)와 전기적으로 연결되어 상기 키트(100)를 통해 측정된 데이터를 소정의 신호 처리를 거쳐 상기 컨트롤 박스(200A)로 전송하거나, 상기 컨트롤 박스(200A)로부터 출력되는 제어 신호 등을 상기 제2 아답터 보드(230)를 통해 수신하는 역할을 할 수 있다.

상기 키트 상부 지지 프레임(161)은 상기 제2 이동 유닛(140)이 연결되어 상기 검사 프로브(130)를 지지 및 고정할 수 있다. 상기 키트 상부 지지 프레임(161)은 상기 제2 이동 유닛(140)의 상부 공압 실린더 구동에 의해 상기 키트 지지 기둥(163)을 따라 이동함으로써 상기 검사 프로브(130)의 변경 위치가 각각 고정되도록 할 수 있다.

상기 키트 하부 지지 프레임(162)에는 상기 안착 유닛(110)과 상기 제1 이동 유닛(120)이 설치될 수 있으며, 상기 안착 유닛(110)과 상기 제1 이동 유닛(120)은 상기 키트 하부 지지 프레임(162)에 의해 지지 및 고정될 수 있다.

상기 키트 지지 기둥(163)은 상기 키트 상부 지지 프레임(161)과 상기 키트 하부 지지 프레임(162) 사이에 연결되어 상기 키트 상부 지지 프레임(161)을 상기 키트 하부 지지 프레임(162)으로부터 지지할 수 있다. 또한, 상기 키트 지지 기둥(163)은 상기 키트 상부 지지 프레임(161)과 상기 키트 하부 지지 프레임(162)이 소정의 간격을 갖도록 이격시키며, 상기 키트 상부 지지 프레임(161)의 이동 시 상하 방향으로 가이드하는 역할을 할 수 있다.

상기 하부 실린더 공압 배선(164)은 상기 제1 이동 유닛(120)의 하부 공압 실린더와 연결되고, 상기 본체(200)로부터 공급되는 소정의 공압을 상기 제1 이동 유닛(120)의 하부 공압 실린더로 전달할 수 있다.

상기 상부 실린더 공압 배선(165)은 상기 제2 이동 유닛(140)의 상부 공압 실린더와 연결되고, 상기 본체(200)로부터 공급되는 소정의 공압을 상기 제2 이동 유닛(140)의 상부 공압 실린더로 전달할 수 있다.

상기 본체(200)는 도 4에 도시된 바와 같이 컨트롤 박스(200A)와 키트 결합 유닛(200B)을 포함할 수 있다.

상기 컨트롤 박스(200A)는 도 4에 도시된 바와 같이 판정 유닛(210)과 제어 유닛(220)을 포함할 수 있다. 더불어, 상기 컨트롤 박스(200A)는 제2 아답터 보드(230), 공압 조절 다이얼(241), 압력 게이지(241), 부저(243), 카운터(244), 비상 스위치(245), 메인 전원 단자 및 전원 스위치(246), 공압 메인 입력부(247) 및 상부 실린더 공압 연결부(248)을 더 포함하여 구성될 수 있다.

상기 판정 유닛(210)은, EMI 저항 검사를 위한 제1 저항검사조건과 제1 저항검사범위가 각각 설정되며, 통전 검사(절연 저항 측정)를 위한 제2 저항검사조건과 제2 저항검사범위가 각각 설정될 수 있다. 이러한 저항검사조건과 저항검사범위에 따라 피검사체에 대한 EMI 저항 상태와 통전 상태의 정상 또는 불량을 판정할 수 있다.

상기 제1 저항검사조건은, 본 실시예에 따른 EMI 저항 검사에 대한 양부를 판별하기 위한 기준 데이터으로서, 마스터 피검사체에 대한 EMI 저항 사양 값과, 피검사체로부터 측정된 EMI 저항 값이 상기 EMI 저항 사양 값보다 크면 정상인지 작으면 정상인지를 판별하기 위한 제1 업/다운 입력 값을 포함할 수 있다.

상기 제2 저항검사조건은, 본 실시예에 따른 절연 저항 검사에 대한 양부를 판별하기 위한 기준 데이터로서, 피검사체로부터 측정된 절연 저항 값이 마스터 피검사체에 대한 절연 저항 사양 값보다 크면 정상인지 작으면 정상인지를 판별하기 위한 제2 업/다운 입력 값을 포함할 수 있다.

상기 제1 저항검사범위는, 상기 제1 저항검사조건의 따라 EMI 저항이 불량으로 판정될 경우, 해당 검사구간이 개방된 상태인지를 판별하기 위한 기준 데이터로서 본 실시예에서는 0~20 Ω으로 설정될 수 있다. 따라서, 상기 제1 저항검사조건을 만족하지 않으면 단순히 불량인 것으로 판정할 뿐만 아니라, 20 Ω을 초과하는 것으로 측정되면 개방에 의한 불량인 것으로 알려주어 통전 상태까지 파악할 수 있다.

상기 제2 저항검사범위는 상기 제2 저항검사조건에 따라 통전 상태가 정상인 것으로 판정되더라도, 그 검사범위를 벗어나는 경우 개방인지 또는 단락인지를 판별하여 판정에 대한 정확도를 높일 수 있다. 예를 들어, 상기 제2 저항검사범위의 미만으로 측정되는 경우 해당 검사구간이 단락된 것으로 판정하며, 상기 제2 저항검사범위를 초과하는 것으로 측정되면 개방된 것으로 판정할 수 있다. 본 실시예에 따른 상기 제2 저항검사범위는 20~100 MΩ로 설정될 수 있다.

상기 판정 유닛(210)은, 상기 제1 저항검사조건, 제1 저항검사범위, 제2 저항검사조건 및 제2 저항검사범위의 설정 정보에 기초하여, 상기 검사 프로브(130)를 통해 측정된 EMI 저항 값이 상기 제1 저항검사조건을 만족하면 해당 검사지점에 대한 EMI 저항이 정상인 것으로 판정하되, 상기 제1 저항검사범위의 포함 여부에 따라 해당 검사지점의 통전 여부를 판정하고, 상기 검사 프로브(130)를 통해 측정된 절연 저항 값이 상기 제2 저항검사조건을 만족하면 해당 검사지점에 대한 통전 상태가 정상인 것으로 판정하되, 상기 제2 저항검사범위를 벗어나면 통전 상태가 불량인 것으로 판정할 수 있다.

좀 더 구체적으로, 피검사체의 EMI 저항에 대한 정상여부 판정을 위한 검사 시, 상기 판정 유닛(210)은, 상기 제어 유닛(220)을 통해 상기 제1 저항검사조건과 제1 저항검사범위가 각각 설정되고, 이와 같이 설정된 상태에서 상기 검사 프로브(130)를 통해 측정된 EMI 저항 값이 상기 제1 저항검사조건을 만족하는 것으로 연산되는 경우 해당 검사지점에 대한 EMI 저항 상태를 정상으로 판정할 수 있다. 다만, 상기 제1 저항검사범위(0~20 Ω)를 초과하는 것으로 연산되는 경우 상기 판정 유닛(210)은 해당 검사지점에 대한 통전 상태를 개방에 의한 불량인 것으로 판정할 수 있다.

또한, 피검사체의 통전에 대한 정상여부 판정을 위한 검사 시, 상기 판정 유닛(210)은, 상기 제어 유닛(220)을 통해 상기 제2 저항검사조건과 제2 저항검사범위가 각각 설정되고, 이와 같이 설정된 상태에서 상기 검사 프로브(130)를 통해 측정된 EMI 저항 값이 상기 저항검사조건을 만족하면서 상기 제2 저항검사범위 내에 있는 것으로 연산되는 경우 해당 검사지점에 대한 통전 상태를 정상으로 판정할 수 있다. 다만, 상기 제2 저항검사범위 미만으로 연산되는 경우 상기 판정 유닛(210)은 해당 검사지점에 대한 통전 상태를 단락으로 판정하고, 상기 제2 저항검사범위를 초과하는 것으로 연산되는 경우 개방으로 판정할 수 있다.

상기 판정 유닛(210)에 대해서는 EMI 저항 및 통전 검사 장치(1000)의 사용 방법에 대한 설명에서 보다 상세히 설명한다.

상기 제어 유닛(220)은, 상기 제1 이동 유닛(120)과 제2 이동 유닛(140)을 제어하고, 상기 저항검사조건과 저항검사범위를 설정하며, 상기 검사 프로브(130)를 통해 측정된 결과와 상기 판정 유닛(210)을 통해 판정된 결과를 표시할 수 있다. 여기서 상기 제어 유닛(220)은 제어, 설정 및 결과 표시를 위하여 터치 스크린(221)을 포함할 수 있다. 본 실시예에서는 상기 터치 스크린(221)을 7인치 TFT-LCD 모니터(800 X 480 dots)로 적용하였다.

상기 제어 유닛(220)에 대해서는 EMI 저항 및 통전 검사 장치(1000)의 사용 방법에 대한 설명에서 보다 상세히 설명한다.

상기 제2 아답터 보드(230)는 상기 컨트롤 박스(200A)와 상기 키트(100) 간의 회로 연결을 위한 구성으로, 상기 키트(100)의 제1 아답터 보드(150)와 전기적으로 연결되어 상기 컨트롤 박스(200A)를 통해 출력되는 제어 신호 등을 상기 제1 아답터 보드(150)를 통해 상기 키트(100)로 전송하거나 상기 키트(100)를 통해 측정된 데이터를 소정의 신호 처리를 거쳐 상기 컨트롤 박스(200A)로 전송하는 역할을 할 수 있다.

상기 공압 조절 다이얼(241)는 상기 제2 이동 유닛(140)로 공급되는 공기압을 조절할 수 있다.

상기 압력 게이지(241)는 상기 공압 조절 다이얼(241)을 통해 조절 및 공급되는 공기압을 표시하기 위한 수단일 수 있다.

상기 부저(243)는 상기 판정 유닛(210)을 통한 판정 결과를 다양한 소리로 출력하기 위한 수단으로, 불량 판정 시 소정의 부저음(경고음)이 짧게 세 번 울리고, 양품 판정 시 짧게 한 번 울리도록 구성될 수 있다.

상기 카운터(244)는 검사 횟수를 나타내는 표시장치로, 리셋 버튼을 눌러 검사 횟수를 '0'으로 리셋할 수 있다.

상기 비상 스위치(245)는, 상기 EMI 저항 및 통전 검사 장치(1000)의 운전 중 응급 상황 시 사용될 수 있으며, 눌려질 경우 특정 음이 출력되면서 상태 표시 LED 램프(259)이 깜빡이며 상기 제2 이동 유닛(140)의 상부 공압 실린더가 올라간 상태가 되면서 검사 진행이 중단될 수 있다.

상기 메인 전원 단자(110V / 220V 겸용 (50~60Hz)) 및 전원 스위치(246)는 상기 EMI 저항 및 통전 검사 장치(1000)에 외부 전원을 공급 받고, 공급된 전원으로 해당 장치(1000)를 전원을 턴온 시키기 위한 수단일 수 있다.

상기 공압 메인 입력부(247)는 상기 컨트롤 박스(200A)가 외부로부터 메인 공압을 공급 받을 수 있다. 이와 같이 공급된 메인 공압은 상기 제2 이동 유닛(140)으로 공급되며 상기 공압 조절 다이얼(241)를 통해 조절될 수 있다.

상기 상부 실린더 공압 연결부(248)는, 상기 컨트롤 박스(200A)와 상기 상부 실린더 공압 배선(165)가 연결되는 부분으로 상기 컨트롤 박스(200A)에서 상기 제2 이동 유닛(140)으로 소정의 공압이 배출될 수 있다.

상기 키트 결합 유닛(200B)은 본체 상부 지지 프레임(251), 본체 하부 지지 프레임(252), 본체 지지 기둥(253), 안전 센서(254), 하부 실린더 연결 휘팅(255), 하부 고정 볼트 체결부(256), 제1 시작 버튼(257), 제2 시작 버튼(258) 및 상태 표시 LED 램프(259)를 포함할 수 있다.

상기 본체 상부 지지 프레임(251)은 상기 컨트롤 박스(200A)를 거치할 수 있으며 대략 평평한 플레이트로 이루어질 수 있다.

상기 본체 하부 지지 프레임(252)은 상기 본체 지지 기둥(253)을 통해 상기 본체 상부 지지 프레임(251)을 지지할 수 있으며, 대략 평평한 플레이트로 이루어질 수 있다. 또한, 상기 본체 하부 지지 프레임(252)의 하면의 각 모퉁이 부분에는 상기 EMI 저항 및 통전 장치(1000)의 이동을 용이하게 하도록 바퀴가 설치될 수 있다.

상기 본체 지지 기둥(253)는 상기 본체 상부 지지 프레임(251)과 상기 본체 하부 지지 프레임(252) 사이를 연결하며 상기 본체 하부 지지 프레임(252)으로부터 상기 본체 상부 지지 프레임(251)을 지지할 수 있다.

상기 안전 센서(254)는 상기 EMI 저항 및 통전 장치(1000)의 검사 운행 간에 다양한 위험 상황을 센싱할 수 있다. 예를 들어, EMI 저항 및 통전 검사 시 상기 안전 센서(254)는 피검사체의 주변 온도를 센싱하고, 상기 컨트롤 박스(200A)는 상기 안전 센서(254)를 통해 센싱된 값이 미리 설정된 온도 값을 초과하는 경우 검사 운행을 즉시 중단시킬 수 있다.

상기 하부 실린더 연결 휘팅(255)은 상기 상부 실린더 공압 배선(165)과 연결되어 외부로부터 소정의 공압이 상기 제1 이동 유닛(120)으로 공급되도록 할 수 있다.

상기 하부 고정 볼트 체결부(256)는 상기 키트(100)와 본체(200)가 체결하여 상기 키트(100)르 상기 본체(200)에 견고히 고정시킬 수 있다.

상기 제1 시작 버튼(257)과 제2 시작 버튼(258)은 상기 EMI 저항 및 통전 장치(1000)의 검사 운행을 시작하기 위한 버튼으로, 두 개의 시작 버튼을 동시에 눌러 검사가 시작되도록 구성될 수 있다. 이때, 두 개의 시작 버튼 중 하나라도 눌려져 있지 않으면 검사 동작이 시작되지 않도록 구성될 수 있다.

상기 상태 표시 LED 램프(259)는 상기 안착 유닛(110)의 개수(채널 수)에 맞게 설치될 수 있으며, 각 채널 별로 검사 결과를 표시할 수 있다. 또한, 상기 상태 표시 LED 램프(259)는 검사 결과에 따라 서로 상이한 색상으로 발광하여 검사 결과를 표시할 수 있으며, 예를 들어, 검사 결과 양품인 경우 녹색으로 발광하며, 불량인 경우 적색으로 발광할 수 있다.

다음, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 EMI 저항 및 통전 장치의 사용 방법에 대하여 설명한다.

도 5에는 본 발명의 실시예에 따른 터치 스크린을 통해 표시되는 부팅 화면이 도시되어 있다.

상기 메인 전원(110/220 AC) 단자/전원 스위치(246)를 턴온시키면, 도 5의 (a)에 도시된 바와 같이 상기 터치 스크린(221)에 특정 로고가 표시되면서 부팅이 이루어진다. 이후, 부팅이 완료되면 도 5의 (b)에 도시된 바와 같이 메인 화면으로 이동하며, 설정 버튼(setting)을 클릭하면 설정 모드 화면으로 이동할 수 있다.

도 6에는 본 발명의 실시예에 따른 터치 스크린을 통해 표시되는 설정 모드 화면이 도시되어 있다.

도 6에 도시된 바와 같이 설정 모드 화면에는, 모델 이름 입력 버튼(601), 시스템 설정 화면 진입 버튼(602), 검사구간 번호(603), EMI 저항 사양 값 입력버튼(604), 저항 단위 선택 버튼(Ω/MΩ), 업/다운(UP/DN) 선택 버튼(606), 채널 선택 버튼(607), 공압 실린더 동작 후 검사 전 딜레이(delay) 설정 버튼(608), 해당 포인트 사양 값을 0.0으로 삭제하기 위한 삭제 버튼(609), 저장 버튼(610) 및 이전 화면 이동 버튼(611)이 표시될 수 있다. 여기서, EMI 저항 사양 값이 0.0인 검사구간은 검사에서 제외될 수 있다.

도 7에는 본 발명의 실시예에 따른 터치 스크린을 통해 표시되는 시스템 모드 화면이 도시되어 있다.

도 7에 도시된 바와 같이 시스템 모드 화면에는, 메인 화면 이동 버튼(701), 현재 시간 표시 및 설정 버튼(702), 화면 밝기 표시 및 설정 버튼(703), 솔벨브 별 사용 구분 설정 버튼(704), 저항 검사 릴레이 대기 시간 설정 버튼(705), 측정 샘플링 횟수 및 간격 설정 버튼(706) 및 실린더 동작 방식 설정 버튼(707)이 표시될 수 있다.

도 8에는 본 발명의 실시예에 따른 EMI 저항 및 통전 검사 장치의 동작 개시 이후 터치 스크린을 통해 표시되는 출력 화면이 도시되어 있다.

도 8의 (a)에 도시된 바와 같이 출력 화면에는 검사 동작 시작 이후 제2 이동 유닛(140)의 공압 실린더 하강 시간이 표시된 후, (b)에 도시된 바와 같이 각 채널의 1번 검사지점(R01)부터 차례로 측정 결과와 검사 결과가 출력될 수 있다.

도 9에는 본 발명의 실시예에 따른 검사 결과를 터치 스크린을 통해 표시되는 메인 화면이 도시되어 있다.

도 9에 도시된 바와 같이 메인 화면에는 해당 장치(1000)의 모델 이름(901), 설정 화면 진입 버튼(902), 각 채널(CH1, CH2)(903), 각 검사구간 별 사양 값과 결과 값(904), 매뉴얼 모드 진입 버튼(905), 솔벨브 동작 후 대기시간(906) 및 현재 시간(907)이 표시될 수 있다.

도 10에는 본 발명의 실시예에 따른 채널 및 검사지점 별 메인 화면들이 도시되어 있다. 좀 더 구체적으로 도 10의 (a)는 2채널 화면을, (b)는 1채널 10 포인트 이상을 보여주는 화면을, (c)는 1채널 10포인트 이하를 보여주는 화면을 각각 나타낸다.

도 11에는 본 발명의 실시예에 따른 세부 검사 결과 및 항목이 도시되어 있다.

좀 더 구체적으로 도 11의 (a)는 20 Ω 미만의 EMI 저항 검사에 대한 결과 값과 세부 항목을 도시한 것으로, 검사구간 번호(1101), EMI 저항 사양 값(1102a), 업/다운 입력 값(1103a) 및 EMI 저항 측정 값(1104a)이 도시되어 있다.

상기 EMI 저항 및 통전 검사 장치(1000)를 통해 20 Ω 미만의 EMI 저항 검사를 진행하는 경우 제1 저항검사조건으로서 EMI 저항 사양 값이 2.0 Ω(1102a)으로 설정되고, 양품으로 판정하기 위한 입력 값이 다운(DN)(1103a)으로 설정된 상태(즉, EMI 저항 측정 값이 2.0 Ω 보다 작으면 정상)에서, 측정 결과 값이 2.03 Ω(1103a)이 나오면, 상기 판정 유닛(210)은 측정 결과 값 2.03 Ω(1104a)이 EMI 저항 사양 값 2.0 Ω(1102a)보다 큰 것으로 연산함에 따라, 양품으로 판정하기 위한 입력 값 다운(DN)(1103a) 조건을 만족하지 못하는 것으로 판단하여 검사구간 R01에 대한 EMI 저항 상태는 불량인 것으로 판정할 수 있다. 이때, 만약 측정 결과 값 21 MΩ을 초과하는 경우 제1 저항검사범위를 초과하므로 해당 검사구간이 개방에 의해 불량인 상태으로 판정할 수도 있다.

또한, 도 11의 (b)는 20 MΩ 이상의 통전 검사에 대한 결과 값과 세부 항목을 도시한 것으로, 해당 검사구간(R01)에 대한 절연 저항 사양 값(1102b), 업/다운 입력 값(1103b) 및 EMI 저항 측정 값(1104b)이 각각 도시되어 있다.

상기 EMI 저항 및 통전 검사 장치(1000)를 통해 20 MΩ 이상의 통전 검사를 진행하는 경우 제2 저항검사조건으로서 EMI 저항 사양 값이 40.0 MΩ(1102b)으로 설정되고, 양품으로 판정하기 위한 입력 값이 업(UP)(1103b)으로 설정된 상태에서, 측정 결과 값이 도 11의 (b)에 도시된 바와 같이 40.03 MΩ(1104b)이 나오면, 상기 판정 유닛(210)은 측정 결과 값 40.03 MΩ(1104b)이 절연 저항 사양 값 40.0 MΩ(1102b)보다 큰 것으로 연산함에 따라, 양품으로 판정하기 위한 입력 값 업(UP)(1103b) 조건을 만족하는 것으로 판단하여 검사구간 R01에 대한 통전 상태는 정상인 것으로 판정할 수 있다. 이때, 만약 측정 결과 값 20 MΩ 미만인 경우 해당 검사구간(R01)이 단락에 의한 불량인 것으로 판정할 수 있으며, 100 MΩΩ 초과하는 경우 개방에 의한 불량인 것으로 판정할 수 있다.

도 12에는 본 발명의 실시예에 따른 양부 판정에 대한 검사 결과가 도시되어 있다. 좀 더 구체적으로, 도 12의 (a)는 검사 결과가 정상한 경우를 나타낸 것이고, (b)는 불량인 경우를 나타낸 것이다. 여기서, 도 12의 (b)에 도시된 바와 같이 불량이 검출된 검사구간 번호(R05, R06)에 대한 결과 값이 적색으로 각각 표시될 수 있다. 또한, 불량이 검출된 채널(CH2)의 테두리 선이 적색으로 표시될 수 있다.

도 13에는 본 발명의 실시예에 따른 검사 수동 모드 및 수동 모드를 통해 진행되는 검사 결과가 도시되어 있다.

상기 EMI 저항 및 통전 검사 장치(1000)의 수동 모드 시, 검사구간을 선택함으로써 해당 지점에 대한 측정 값이 출력될 수 있으며, 양부 판정에 대한 결과는 출력되지 않는다. 선택된 포인트에 대해서는 측정 값이 각각 표시되며 해제될 때까지 계속하여 저항이 측정될 수 있다. 이러한 수동 모드 시 솔벨브는 개별적으로 제어될 수 있다.

이상에서 설명한 것은 본 발명에 의한 EMI 저항 및 통전 검사 장치를 실시하기 위한 하나의 실시예에 불과한 것으로서, 본 발명은 상기 실시예에 한정되지 않고, 이하의 특허청구범위에서 청구하는 바와 같이 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변경 실시가 가능한 범위까지 본 발명의 기술적 정신이 있다고 할 것이다.

1000: EMI 저항 및 통전 검사 장치 100: 키트
110: 안착 유닛 120: 제1 이동 유닛
130: 검사 프로브 140: 제2 이동 유닛
150: 제1 아답터 보드 161: 키트 상부 지지 프레임
162: 키트 하부 지지 프레임 163: 키트 지지 기둥
164: 하부 실린더 공압 배선 165: 상부 실린더 공압 배선
200: 본체 200A: 컨트롤 박스
210: 판정 유닛 220: 제어 유닛
221: 터치 스크린 230: 제2 아답터 보드
241: 공압 조절 다이얼 242: 압력 게이지
243: 부저 244: 카운터
245: 비상 스위치 246: 메인 전원 단자/전원 스위치
247: 공압 메인 입력부 248: 상부 실린더 공압 연결부
200B: 키트 결합 유닛 251: 본체 상부 지지 프레임
252: 본체 하부 지지 프레임 253: 본체 지지 기둥
254: 안전 센서 255: 하부 실린더 연결 휘팅
256: 하부 고정 볼트 체결부 257: 제1 시작 버튼
258: 제2 시작 버튼 259: 상태 표시 LED 램프

Claims

피검사체가 안착되는 적어도 하나 이상의 안착 유닛;
상기 안착 유닛의 높이를 조절하기 위한 제1 이동 유닛;
상기 안착 유닛의 상부에 위치하고, 상기 안착 유닛에 안착된 피검사체의 EMI(electromagnetic interference)의 전사 또는 방사에 대한 저항 값과 통전 검사를 위한 절연 저항 값을 각각 측정하기 위한 다수의 검사 프로브;
상기 검사 프로브를 상하 방향으로 수직 이동시키기 위한 제2 이동 유닛;
피검사체의 EMI 저항에 대한 정상여부를 판별하기 위한 제1 저항검사조건과 제1 저항검사범위, 및 피검사체의 통전에 대한 정상여부를 판별하기 위한 제2 저항검사조건과 제2 저항검사범위가 각각 설정되어, 상기 검사 프로브를 통해 측정된 EMI 저항 값이 상기 제1 저항검사조건을 만족하면 해당 검사지점에 대한 EMI 저항이 정상인 것으로 판정하되, 상기 제1 저항검사범위의 포함 여부에 따라 해당 검사지점의 통전 여부를 판정하고, 상기 검사 프로브를 통해 측정된 절연 저항 값이 상기 제2 저항검사조건을 만족하면 해당 검사지점에 대한 통전 상태가 정상인 것으로 판정하되, 상기 제2 저항검사범위를 벗어나면 통전 상태가 불량인 것으로 판정하는 판정 유닛; 및
상기 제1 이동 유닛을 제어하고, 상기 제1 저항검사조건, 상기 제2 저항검사조건, 상기 제1 저항검사범위 및 상기 제2 저항검사범위를 각각 설정하며, 상기 검사 프로브를 통해 측정된 결과와 상기 판정 유닛을 통해 판정된 결과를 각각 표시하기 위한 터치 스크린이 구비된 제어 유닛을 포함하는 것을 특징으로 하는 EMI 저항 및 통전 검사 장치.
제1 항에 있어서,
상기 안착 유닛, 상기 제1 이동 유닛, 상기 검사 프로브 및 상기 제2 이동 유닛은, 상기 판정 유닛과 상기 제어 유닛을 포함하는 본체에 조립되는 하나의 키트(KIT)로 구성된 것을 특징으로 하는 EMI 저항 및 통전 검사 장치.
제2 항에 있어서,
상기 본체와 상기 키트 간을 전기적으로 연결하여 소정의 데이터와 제어신호를 송수신하기 위한 아답터 보드를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 EMI 저항 및 통전 검사 장치.
제1 항에 있어서,
상기 제1 저항검사조건은,
피검사체에 대한 EMI 저항 사양 값과, 피검사체로부터 측정된 EMI 저항 값이 상기 EMI 저항 사양 값보다 크면 정상인지 작으면 정상인지를 판별하기 위한 제1 업/다운 입력 값을 포함하고,
상기 제2 저항검사조건은,
피검사체에 대한 절연 저항 사양 값과, 피검사체로부터 측정된 절연 저항 값이 상기 절연 저항 사양 값보다 크면 정상인지 작으면 정상인지를 판별하기 위한 제2 업/다운 입력 값을 포함하는 것을 특징으로 하는 EMI 저항 및 통전 검사 장치.
제4 항에 있어서,
상기 제2 저항검사범위는 상기 제1 저항검사범위보다 크게 설정된 것을 특징으로 하는 EMI 저항 및 통전 검사 장치.
제5 항에 있어서,
피검사체의 EMI 저항에 대한 정상여부 판정을 위한 검사 시 상기 판정 유닛은,
상기 제어 유닛을 통해 상기 제1 저항검사조건과 상기 제1 저항검사범위가 설정되고,
상기 검사 프로브를 통해 측정된 EMI 저항 값이 상기 저항검사조건을 만족하면서 상기 제1 저항검사범위 내에 있는 경우 해당 검사지점에 대한 EMI 저항 상태를 정상으로 판정하되, 상기 제1 저항검사범위를 초과하는 경우 해당 검사지점이 개방된 것으로 판정하고,
피검사체의 통전에 대한 정상여부 판정을 위한 검사 시 상기 판정 유닛은,
상기 제어 유닛을 통해 상기 제2 저항검사조건과 상기 제2 저항검사범위가 설정되고,
상기 검사 프로브를 통해 측정된 절연 저항 값이 상기 제2 저항검사조건을 만족하면 경우 해당 검사지점에 대한 통전 상태가 정상인 것으로 판정하되, 상기 제2 저항검사범위 미만인 경우 단락인 것으로 판정하며, 상기 제2 저항검사범위를 초과하는 경우 개방된 것으로 판정하는 것을 특징으로 하는 EMI 저항 및 통전 검사 장치.