KR101520201B1

KR101520201B1 - 온도 모니터링 기능을 갖춘 패널 히터

Info

Publication number: KR101520201B1
Application number: KR1020137015539A
Authority: KR
Inventors: 크리스토프 데겐; 당 쿠옹 판; 미트야 라타이차크; 안드레아스 슐라르브; 스테판 드로스테; 로베르트 드레제; 군터 포르트마이어; 파트리크 베버; 올라프 에켈트; 발터 슈라이버; 지오르다노 조마
Original assignee: 쌩-고벵 글래스 프랑스
Priority date: 2010-11-18
Filing date: 2011-11-18
Publication date: 2015-05-13
Anticipated expiration: 2031-11-18
Also published as: EA030260B1; ES2591136T3; US20130277352A1; EP2641452A1; PL2641452T3; CN103202095B; WO2012066112A1; CN103202095A; JP5808419B2; EP2641452B1; EA201390728A1; PT2641452T; US9900932B2; JP2014502408A; KR20130112907A

Abstract

본 발명은 적어도 하나의 평판형 기판 및 전기 도전성 코팅을 갖는 패널 히터에 관한 것으로, 도전성 코팅은 기판 영역의 적어도 일부 위에 연장하고, 공급 전압의 인가에 의해, 발열체 어레이에 가열 전류가 흐르도록 전압원의 2개의 단자와의 전기 접속을 위해 제공된 적어도 2개의 접속 전극에 전기적으로 접속되고, 발열체 어레이는 도전성 코팅 내에 형성된 하나 이상의 가열 전류 경로를 구비하고 있다. 패널 히터는 도전성 코팅 내에 형성된 하나 이상의 측정 전류 경로를 갖고 있고, 이들은 적어도 국부적으로 가열 전류 경로들과 상이하고, 각각의 측정 전류 경로는 적어도 발열체 어레이의 소구역에 열적으로 결합되고 상기 측정 전류 경로의 전기 저항을 결정하기 위한 측정 장치를 접속하기 위한 적어도 2개의 접속부를 갖고 있다. 가열 및 측정 전류 경로들은 각각 코팅이 없는 분리 영역들, 예를 들어, 분리 라인들에 의해 도전성 코팅 내에 형성되고, 도전성 코팅에 의해 형성된다. 본 발명은 그러한 패널 히터의 가동 방법 및 그의 용도에도 적용된다.

Description

온도 모니터링 기능을 갖춘 패널 히터{PANEL HEATER WITH TEMPERATURE MONITORING}

본 발명은 패널 히터의 기술 분야에 관한 것이고 온도 모니터링 기능을 갖춘 패널 히터에 관한 것이다.

전기 가열층을 구비한 패널 히터들이 여러 방식으로 사용되고 있다. 이들은 그 자체로 잘 알려져 있고 이미 특허 문헌에서 여러 번 설명되어 있다. 단지 예로서, 이에 관해서 특허 출원들 DE 102008018147 A1, DE　102008029986 A1, DE 10259110 B3, 및 DE 102004018109 B3를 참조한다. 따라서, 예를 들어, 투명 패널 히터가 자동차에서 앞유리로 사용되는데, 그 이유는 앞유리의 시야는 법률적으로 아무런 시야 제한(vision restrictions)도 없어야 하기 때문이다. 가열층에 의해 발생된 열에 의하여, 응결한 습기, 얼음, 및 눈이 단시간 내에 제거될 수 있다. 거주 공간에서, 이들은 거주 공간 난방을 위해 종래의 히터 대신 역할을 할 수 있고, 그 목적으로 이들은, 예를 들어, 벽에 설치되거나 독립형으로 세워진다. 마찬가지로 패널 히터들은 가열 가능한 거울이나 투명한 장식 요소로서 사용될 수 있다.

그러나, 실제로는, 패널 히터들에서, 가열층 위에 위치해 있는 물체들에 의하여, 생성된 열이 더 이상 적절히 주위 환경으로 방산되지 않는 문제가 발생할 수 있다. 그 결과, 국소적 과열("과열점(hot spot)")이 발생할 수 있다. 이는, 예를 들어, 공간 난방을 위해 사용되는 패널 히터들에서 그 위에 부주의로 놓인 의류 물품에 의하여 발생할 수 있다. 국소적 과열은 가열층에 부정적인 영향을 미치고 심지어 이를 손상시킬 수도 있다.

이와 다르게, 본 발명의 목적은, 특히, 투명 패널 히터에서, 간단하면서도 신뢰할 수 있게 온도 모니터링이 가능하도록 종래의 패널 히터를 유리하게 개선하는 것에 있다.

이 목적 및 다른 목적들은 본 발명의 제안에 따라 독립 청구항들의 특징들을 갖는 패널 히터와 그러한 패널 히터를 갖춘 설비에 의해 달성된다. 본 발명의 유리한 실시예들은 종속 청구항들의 특징들에 의해 나타내어진다.

본 발명에 따르면, 적어도 하나의 평판형 기판 및 전기 도전성의, 가열 가능한, 바람직하게는 투명한 코팅을 갖는 패널 히터가 제공된다. 가열 가능한 코팅은 그의 전기 저항이 온도의 변화에 따라 변하도록 구현되어 있다. 가열 가능한 코팅은 평판형 기판의 기판 영역의 적어도 일부 위에 연장한다. 패널 히터는 또한 전압원의 2개의 단자와의 전기 접속을 위해 제공된 적어도 2개의 접속 전극을 구비하고, 이들은 공급 전압의 인가에 의해, 도전성 코팅에 의해 형성된 가열장(heating field)에 가열 전류가 흐르도록 도전성 코팅에 전기적으로 접속된다. 가열장은, 이를 위해, 2개의 접속 전극을 통해 유입된 가열 전류를 전도하는 하나의 또는 복수의 가열 전류 경로를 가지며, 그 경로들은 도전성 코팅이 없는, 즉 코팅이 없는 (전기적으로 격리된) 분리 영역들, 예를 들어, 선형 분리 영역들(분리 라인들)에 의하여 도전성 코팅 내에 형성된다. 따라서 가열 전류 경로들은 도전성 코팅에 의해 형성된다. 투명 코팅의 경우, 가열 전류 경로들은 그에 맞춰 투명하다.

본 발명에 따른 패널 히터는 여러 방식으로 구현될 수 있고, 예를 들어, 거주 공간 난방을 위한 평판형 히터로서, 가열 가능한 거울, 가열 가능한 장식 요소, 또는 가열 가능한 판유리, 특히, 자동차의 앞유리 또는 뒷창문 판유리로서 역할을 할 수 있으며, 이 목록은 단지 예시적인 것이고 어떻게든 본 발명을 제한하고자 하는 것이 아니다.

본 발명의 제안에 따르면, 패널 히터는 가열 전류 경로들과, 적어도 국부적으로, 상이한 도체 트랙들로서 도전성 코팅 내에 형성된 하나의 또는 복수의 측정 전류 경로를 포함한다. 측정 전류 경로들은 도전성 코팅이 없는, 즉 코팅이 없는 (전기적으로 격리된) 분리 영역들, 예를 들어, 선형 분리 영역들(분리 라인들)에 의하여 도전성 코팅 내에 형성된다. 따라서 측정 전류 경로들은 도전성 코팅에 의해 형성된다. 투명 코팅의 경우, 측정 전류 경로들은 투명하다. 각각의 측정 전류 경로는 가열장의 적어도 일부에 열적으로 결합되고 그의 전기 저항을 확인하기 위한 측정 장치를 접속하기 위한 적어도 2개의 접속부를 갖는다. 접속 전극들을 통해 유입된 가열 전류들을 전도하는 역할을 하는 가열 전류 경로들과 다르게, 측정 전류 경로들은 전기 저항을 측정하기 위해 접속 전극들에 유입된 측정 전류를 전도하기 위해 제공된다. 측정 전류 경로들은 가열 전류 경로들보다 길이당 더 큰 전기 저항을 가질 수 있고, 이는 예를 들어 길이에 대해 가로인 측정 전류 경로들의 더 작은 폭에 기인한다.

따라서 본 발명에 따른 패널 히터는 유리하게도 측정 전류 경로의 전기 저항을 확인함으로써 가열장의 적어도 일부에 열적으로 결합된 각각의 측정 전류 경로의 온도를 확인하는 것을 가능하게 한다. 이런 방식으로, 가열장의 영역 내의 국소적 과열점들이 신뢰할 수 있게 그리고 안전하게 탐지될 수 있다.

본 발명에 따른 패널 히터에서, 측정 전류 경로들은 투명 패널 히터에서도 특히 유리하게 가열장의 온도가 모니터링될 수 있도록 도전성 코팅을 구성함으로써 - 투명 도전성 코팅의 경우에 측정 전류 경로들은 투명함 - 간단한 방식으로 생성될 수 있다.

본 발명에 따른 패널 히터의 유리한 실시예에서, 측정 전류 경로들은 가열장을 둘러싸고 가열장과 전기적으로 분리된 에지 스트립 내에, 적어도 국부적으로, 특히 완전히 형성된다. 이러한 측정은 에지 스트립 내의 측정 전류 경로들의 접속부들의 특히 간단한 접촉을 가능하게 한다. 또한, 측정 전류 경로들은 에지 근처의 과열점들의 탐지를 위해 기판 에지를 따라 연장하는 진로를 가질 수 있다. 여기서, 측정 전류 경로들은 서로 상이한 에지 스트립의 부분들에서, 특히 적어도 국부적으로 구현될 수 있고, 이에 의하여 공간적으로 분해된 가열장 내의 과열점들의 탐지가 가능하다.

본 발명에 따른 패널 히터의 다른 유리한 실시예에서, 하나의 또는 복수의 측정 전류 경로는 각 경우에 이들의 경로 방향이 이하에서 "측정 구역(measuring zone)"이라고 하는 에지 스트립의 공간적으로 제한된 구역에서 여러 번 바뀌도록 구현된다. 측정 전류 경로들은, 측정 구역들에서, 예를 들어, 구불구불하게 굽은 진로를 가질 수 있고, 이와 함께 교호하는 또는 상반되는 경로 방향의 변화를 가진 임의의 다른 진로를 동등하게 제공할 수 있다. 달리 말하면, 각각의 측정 전류 경로는 반대 방향들로 굽은 복수의 전류 경로 부분들을 포함한다. 측정 전류 경로의 도체 트랙의 비교적 큰 부분이, 각 경우에, 측정 구역들에 포함되고, 이는 접속부들에 인가되는 측정 전압의 상응하여 큰 전압 강하를 동반한다. 따라서 측정 구역들은 고감도로 그리고 특히 양호한 공간 분해능으로 과열점들의 탐지를 가능하게 한다. 또한 가열장의 과열점들의 탐지시에 특히 양호한 공간 분해능이 가능하도록, 측정 구역들이 에지 스트립의 적어도 일부에 걸쳐 공간적으로 분산되어, 특히 균일하게 공간적으로 분산되어 배치되는 것이 유리할 수 있다.

본 발명에 따른 패널 히터의 다른 유리한 실시예에서, 측정 전류 경로들은 가열장과 전기적으로 분리된다. 이는, 예를 들어, 측정 전류 경로들이 가열장과 전기적으로 격리된 에지 스트립 내에 완전히 포함되는 것으로 달성될 수 있다. 이러한 조치에 의하여, 가열 및 측정 전류가 전기적으로 분리되고 따라서 측정 전류 경로의 전기 저항의 확인이 특히 간단하게 설계된다.

본 발명에 따른 패널 히터의 다른 유리한 실시예에서, 하나의 또는 복수의 측정 전류 경로는, 각 경우에, 가열 전류 경로의 일부이거나 완전한 가열 전류 경로에 의해 형성되는 측정 전류 경로 부분을 갖는다. 이 경우, 가열 전류 경로에 접속된 접속 전극은, 특히, 측정 전류 경로의 접속부로서 역할을 할 수 있다. 가열 전류 경로에 의해 형성되지 않은 측정 전류 경로의 경로 부분의 전기 저항은 특히 나머지 측정 전류 경로의 전기 저항보다 더 클 수 있으며, 이는 도체 트랙의 상응하여 더 작은 폭에 의하여 간단한 방식으로 실현될 수 있다. 이러한 조치에 의하여, 측정 전류 경로의 간소화된 제조가 유리하게 얻어질 수 있다. 게다가, 측정 전류 경로들이 에지 스트립 내에 부분적으로 이어져 있으므로, 에지 스트립 내에 필요한 공간이 감소되고 따라서 주어진 치수의 에지 스트립에서 도전성 코팅 내에 더 많은 측정 전류 경로가 형성될 수 있다. 또한, 에지 스트립 내의 측정 구역들의 구현이 용이해진다.

본 발명에 따른 패널 히터의 다른 유리한 실시예에서, 접속 전극들은, 각 경우에, 2개의 측정 전류 경로가 직렬로 접속되어 있는, 병렬로 접속된 2개의 측정 전류 경로 어레이에 전기적으로 접속되고, 각각의 측정 전류 경로 어레이는 전기 저항을 확인하기 위한 측정 장치를 접속하기 위해 2개의 직렬 접속된 측정 전류 경로 사이에 배치된 접속부를 갖고 있다. 이러한 조치에 의하여, 측정 전류 경로들은 숙련된 당업자에게 그 자체로 공지된 휘트스톤 브리지에 접속될 수 있고, 이는 특히 정밀한 측정 전류 경로의 저항 변화의 탐지를 가능하게 한다.

본 발명에 따른 패널 히터의 다른 유리한 실시예에서, 적어도 하나의 측정 전류 경로는 다른 측정 전류 경로들에 대한 기준 저항을 탐지하기 위한 기준 전류 경로로서 역할을 한다. 이는 특히 신뢰할 수 있는 가열장 내의 과열점들의 탐지를 가능하게 하는데, 그 이유는 사양에 따른 가열장의 열 방산의 또는 주위 온도의 변화로 인해 측정 전류 경로들의 온도 유발 저항 변화를 탐지할 수 있기 때문이다.

본 발명은 또한 전술한 것과 같은 패널 히터를 구비한 설비에도 적용되며, 이 설비는 전기 저항을 확인하기 위해 측정 전류 경로들의 접속부들에 접속된 적어도 하나의 측정 장치뿐만 아니라 데이터 링크에 의해 측정 장치에 접속된 제어 및 모니터링 장치를 갖고 있다. 제어 및 모니터링 장치는 측정 전류 경로의 전기 저항이 정의 가능한(선택 가능한) 임계치를 초과할 경우 접속 전극들에 인가되는 공급 전압들이 차단되거나 적어도 감소되도록 프로그램에 따라 설정된다. 이러한 조치에 의하여, 가열장의 국소적 과열이 유리하게 자동으로 구제될 수 있다. 제어 및 모니터링 장치는, 이러한 목적으로, 공급 전압을 제공하기 위한 전압원에 연결된 장치에 전기적으로 접속되고, 이 장치에 의하여 공급 전압이 감소되거나 차단될 수 있다.

본 발명에 따른 설비의 유리한 실시예에서, 제어 및 모니터링 장치는 광학 및/또는 청각 신호를 출력하기 위한 광학 및/또는 청각 출력 장치에 데이터 링크에 의해 접속되고, 제어 및 모니터링 장치는 측정 전류 경로의 전기 저항이 위에 언급한 임계치 또는 다른 사전 정의 가능한 임계치를 초과할 경우 광학 및/또는 청각 신호가 출력되도록 설계된다. 이러한 조치에 의하여, 사용자는 과열이 있는 경우에 유리하게 경보를 받을 수 있고 따라서 적절한 조치가 취해질 수 있다. 특히, 사용자는 공급 전압이 차단되기 전에 이미 경보를 받을 수 있다.

본 발명은 또한 적어도 하나의 평판형 기판 및 전기 도전성 코팅을 갖는 패널 히터를 가동하는 방법에도 적용되며, 도전성 코팅은 기판 영역의 적어도 일부 위에 연장하고, 공급 전압의 인가에 의해, 가열장에 가열 전류가 흐르도록 전압원의 2개의 단자와의 전기 접속을 위해 제공된 적어도 2개의 접속 전극에 전기적으로 접속되어 있다. 패널 히터는, 특히, 전술한 것과 같은 패널 히터일 수 있다. 본 발명에 따른 방법에서, 가열장에 열적으로 결합된 하나의 또는 복수의 측정 전류 경로의 전기 저항이 확인되고, 측정 전류 경로들은, 각 경우에, 코팅이 없는 분리 영역들, 예를 들어, 분리 영역들에 의해, 도전성 코팅 내에 형성되고, 도전성 코팅에 의해 형성되어 있다.

본 발명에 따른 방법의 유리한 실시예에서, 측정 전류 경로의 전기 저항이 사전 정의 가능한 임계치를 초과할 경우 공급 전압이 감소되거나 차단된다.

본 발명에 따른 방법의 다른 유리한 실시예에서, 측정 전류 경로의 전기 저항이 위에 언급한 임계치 또는 다른 사전 정의 가능한 임계치를 초과할 경우 광학 및/또는 청각 신호가 출력된다.

본 발명은 또한 기능적 및/또는 장식적 개별 부품으로서 또는 가구, 장치들, 및 건물들의 붙박이 부품으로서, 특히 거주 공간 내의 히터로서, 예를 들어, 벽에 설치 가능한 또는 독립형 히터로서, 뿐만 아니라 육상, 공중, 또는 수상에서의 이동을 위한 수송 수단에, 특히 자동차에, 예를 들어, 앞유리, 뒷창문, 옆창문, 및/또는 유리 지붕으로서 전술한 것과 같은 패널 히터의 용도에도 적용된다.

물론, 위에 언급한 특징들 및 하기에서 설명될 특징들은, 본 발명의 범위에서 벗어나지 않고, 언급한 조합들뿐만 아니라, 다른 조합들로 또는 단독으로도 사용될 수 있다.

이제 첨부 도면들을 참조하여 모범적 실시예들을 이용하여 본 발명을 상세히 설명한다. 첨부 도면들은 간소화된, 일정하지 않은 비율 표현으로 도시하고 있다.
도 1은 측정 전류 경로가 에지 스트립 내에 이어져 있는 본 발명에 따른 패널 히터의 제1 모범적 실시예의 개략적인 평면도;
도 2-4는, 각 경우에, 복수의 전류 경로가 에지 스트립 내에 이어져 있는 도 1의 패널 히터의 상이한 변형예들의 개략적인 평면도;
도 5는 측정 전류 경로들이 부분적으로는 가열장 내에 부분적으로는 에지 스트립 내에 이어져 있는 본 발명에 따른 패널 히터의 다른 모범적 실시예의 개략적인 평면도;
도 6은 도 5의 패널 히터의 변형예의 개략적인 평면도;
도 7a-7c는 본 발명에 따른 패널 히터의 다른 모범적 실시예의 개략적인 평면도(도 7a)로서, 측정 전류 경로들(도 7b)이 가열장에 있고, 휘트스톤 브리지로서 접속되어 있는(도 7c) 도면;
도 8은 패널 히터의 가열 코팅의 전기 저항의 온도에 따른 변화를 예시하는 도면.

아래에서 표현된 "위쪽", "아래쪽", "왼쪽", 및 "오른쪽"과 같은 위치 및 방향 표시들은 도면들에 묘사된 패널 히터를 나타내며 오직 본 발명의 보다 간단한 설명을 위해 사용된다. 물론, 패널 히터들은, 각 경우에, 이들 표현이 제한적으로 해석되어서는 안 되도록 상이하게 배향될 수 있다.

먼저 도 1을 참조하면, 본 발명의 제1 모범적 실시예로서, 전체로서 참조 번호 1로 참조되는 패널 히터 또는 패널 히터(1)를 포함하는 설비(39)가 예시되어 있다. 패널 히터(1)는 평판형 열 발생을 위해 사용되며, 예를 들어, 거주 공간을 따뜻하게 만들기 위한 종래의 히터 대신 사용될 수 있다. 이를 위해, 그것은 벽에 부착되거나 그 안에 통합될 수 있지만, 독립형 설치도 가능하다. 패널 히터(1)를 거울이나 장식품으로 구현하는 것도 생각할 수 있다. 패널 히터(1)의 다른 모범적 응용예는 그것을 자동차 창문 판유리, 특히 자동차의 앞유리로 사용하는 것이다.

패널 히터(1)는 전기 절연 재료로 제조된 적어도 하나의 평판형 기판(2)을 포함하는데, 패널 히터(1)는, 단일 판유리로서, 단일 기판(2)과, 복합 판유리로서, 열가소성 접착층에 의해 서로 고정되게 접합된 2개의 기판(2)을 가진다. 기판(2)은 유리 재료, 예를 들어, 플로트 유리, 주조 유리, 또는 세라믹 유리 또는 비유리 재료, 예를 들어, 플라스틱, 특히 폴리스티렌(PS), 폴리아미드(PA), 폴리에스테르(PE), 폴리염화비닐(PVC), 폴리카보네이트(PC), 폴리메틸 메타크릴레이트(PMA), 또는 폴리에틸렌 테레프탈레이트(PET)로 제조될 수 있다. 일반적으로, 충분한 내화학성, 적당한 형상 및 크기 안정성뿐만 아니라, 원한다면, 적절한 광학 투명성을 가진 어떤 재료라도 사용될 수 있다. 예를 들어, 복합 판유리에서 2개의 기판(2)을 접합하기 위한 접착층으로 플라스틱, 특히 폴리비닐 부티랄(PVB), 에틸렌 비닐 아세테이트(EVA), 및 폴리우레탄(PU)계 플라스틱이 사용될 수 있다.

도 1에 도시된 모범적 실시예에서, 패널 히터는 2개의 짧은 에지(5)와 2개의 긴 에지(6)로 구성된 주위 기판 에지(4)를 갖는 직사각형 기판(2)을 포함한다. 물론, 본 발명은 이에 제한되지 않고, 기판(2)은 실제 응용에 적합한 임의의 다른 형상, 예를 들어, 정사각형, 원형, 또는 타원형을 가질 수도 있다. 패널 히터(1)의 응용예에 따라, 기판(2)은 강성이나 연성일 수 있다. 이는 그의 두께에도 적용되며, 그 두께는 매우 다양할 수 있고, 유리 기판(2)의 경우, 예를 들어, 그 범위는 1 내지 24 mm이다.

평판형 열 발생을 위해, 패널 히터(1)는 전기 도전성의 가열 가능한 코팅(3)을 포함하며, 이는 여기서, 예를 들어, 기판(2)의 (주) 표면 영역 또는 기판 영역(42)에 도포된다. 코팅(3)은, 예를 들어, 기판(2)의 기판 영역(42)의 50% 초과, 바람직하게는 70% 초과, 특히 바람직하게는 80% 초과, 그리고 한층 더 바람직하게는 90% 초과를 차지한다. 코팅(3)은, 특히, 기판 영역(42)의 전체 표면 위에 도포될 수 있다. 코팅(3)에 의해 덮인 영역은, 응용예에 따라, 예를 들어, 100 cm²에서 25 m²까지 다양할 수 있다. 기판(2) 상에 코팅(3)을 도포하지 않고, 대신, 그것을 대면적 캐리어(large-area carrier)에 도포하고, 그 후 이를 기판(2)에 부착하는 것도 가능할 것이다. 그러한 캐리어는, 특히, 예를 들어, 폴리아미드(PA), 폴리우레탄(PU), 폴리염화비닐(PVC), 폴리카보네이트(PC), 폴리에스테르(PE), 또는 폴리비닐 부티랄(PVB)로 제조된 플라스틱 필름일 수 있다. 대안으로, 그러한 캐리어는 또한 접착 필름(예를 들어, PVB 필름)에 접합되고 복합 판유리의 2개의 기판(2)에 3층 구조로서 끈끈하게 접합될 수 있다.

코팅(3)은 전기 도전성 재료를 포함하거나 전기 도전성 재료로 제조된다. 이것의 예로는 은, 구리, 금, 알루미늄, 또는 몰리브덴 등의 높은 전기 전도율을 가진 금속, 팔라듐과 합금된 은 등의 금속 합금뿐만 아니라, 투명한 도전성 산화물(transparent conductive oxide, TCO)이 있다. TCO는 바람직하게는 인듐 주석 산화물, 불소를 도핑한 주석 산화물, 알루미늄을 도핑한 주석 이산화물, 갈륨을 도핑한 주석 이산화물, 붕소를 도핑한 주석 이산화물, 주석 아연 산화물, 또는 안티몬을 도핑한 주석 산화물이다. 코팅(3)은 하나의 도전성 개별 층이거나 적어도 하나의 도전성 부분층(conductive sublayer)을 포함하는 층 구조물로 이루어질 수 있다. 예를 들어, 그러한 층 구조물은 적어도 하나의 도전성 부분층, 바람직하게는 은(Ag), 및 반사 방지층 및 차단제 층과 같은 다른 부분층을 포함한다. 코팅(3)의 두께는 응용예에 따라 매우 다양할 수 있고, 모든 점에서 그 두께의 범위는, 예를 들어, 30 nm 내지 100 ㎛이다. TCO의 경우, 두께의 범위는, 예를 들어, 100 nm 내지 1.5 ㎛이고, 바람직하게는 150 nm 내지 1 ㎛이고, 한층 더 바람직하게는 200 nm 내지 500 nm이다. 유리하게는, 코팅(3)은 기능 저하 없이 기판(2)으로 사용되는 판유리의 휨(프리스트레싱)에 필요한 통상적으로 600℃보다 높은 온도를 견뎌낼 정도로 높은 열적 안정성을 가진다. 그러나, 유리판의 프리스트레싱 후에 도포되는, 낮은 열적 안정성을 가진 코팅(3)이 또한 제공될 수 있다. 코팅(3)은 프리스테리싱되지 않은 기판(2)에 도포될 수도 있다. 코팅(3)의 시트 저항은 바람직하게는 단위 면적당 20 옴 미만이고, 예를 들어, 그 범위는 단위 면적당 0.25 내지 20 옴이다. 도시된 모범적 실시예에서, 도전성 코팅(3)의 시트 저항은 단위 면적당 수 옴이고, 예를 들어, 단위 면적당 1 내지 2 옴에 달한다.

코팅(3)은, 예를 들어, 기체상으로부터 증착되고, 이를 위해 그 자체로 공지된 방법들, 예를 들어, 화학 기상 증착법(CVD) 또는 물리 기상 증착법(PVD)이 사용될 수 있다. 바람직하게는, 코팅(3)은 스퍼터링(마그네트론 음극 스퍼터링)에 의해 기판(2)에 도포된다.

도 1에 예시된 패널 히터(1)의 경우, 예를 들어, 독립형 히터 또는 자동차의 앞유리로서, 그의 실제 응용을 위해, 그것은 350 nm 내지 800 nm의 파장 범위 내의 가시광에 투명한 것이 유리할 수 있고, 여기서 "투명성"이라는 용어는 50% 초과, 바람직하게는 70% 초과, 특히 바람직하게는 80% 초과의 광 투과율을 의미하는 것으로 이해된다. 이는, 예를 들어, 은으로 제조된 투명 기판(2)과 은(Ag) 기반 투명 코팅(3)에 의하여 얻어질 수 있다.

패널 히터(1)에서, 도전성 코팅(3)은 기판 에지(4)를 따라 기판 에지(4)로부터, 예를 들어, 수 cm, 특히 1 내지 2 cm의 거리에 주변의 전기적으로 격리된 제1 분리 라인(7)을 구비하고 있다. 이 제1 분리 라인(7)에 의하여, 도전성 코팅(3)의 바깥쪽 에지 스트립(8)은, 가열장(9)의 역할을 하는, 도전성 코팅(3)의 안쪽 나머지로부터 전기적으로 구분된다. 에지 스트립(8)은 외부에 대하여 가열장(9)을 전기적으로 절연시키고 기판 에지(4)로부터 침투하는 부식으로부터 가열장(9)을 보호한다. 게다가, 코팅(3)은 예를 들어 에지 스트립(8)의 수 밀리미터 폭 부분에서 에지 절연을 개선하기 위해 주변으로 제거될 수 있는데, 이는 도 1에 상세히 도시되지 않다.

패널 히터(1)에서는, 가열장(9)만이 평판형 열 발생에 기여한다. 이를 위해, 가열장(9)에 갈바니 전기적으로 접속된 2개의 접속 전극(10, 11)이 제공되는데, 이들은 여기서, 예를 들어, 아래쪽 긴 에지(6) 상에 오른쪽 짧은 에지(5) 가까이 배치되어 있다. 접속 전극들(10, 11)은 외부로부터 도입되어 공급된 공급 전압을 가열장(9)에 인가하는 데 기여하고, 도입된 가열 전류로 인해 가열장(9)에 의해 면적 방식으로(area-wise) 열이 방출된다. 이를 위해, 2개의 접속 전극(10, 11)은 전압원(도시되지 않음)의 2개의 단자에 접속될 수 있다. 예를 들어, 각 경우에, 4분의 1 원반의 모양으로 여기에 구현된 접속 전극들(10, 11)은, 예를 들어, 인쇄 공정, 특히 스크린 인쇄 공정에서 금속 인쇄 판으로부터 생성된다. 대안으로, 2개의 접속 전극(10, 11)을, 예를 들어, 금속 박으로부터 생성하고 그 후 이들을 특히 납땜으로 가열장(9)에 접속하는 것도 가능할 것이다. 여기서, 코팅(3)이 먼저 기판(2)에 도포되고 접속 전극들(10, 11)이 그 후 생성되는가 아니면 접속 전극들(10, 11)이 먼저 생성되고 코팅(3)이 그 후 도포되는가는 중요하지 않다. 특히, 인쇄 방법으로 생성된 접속 전극들(10, 11)에 대한 고유 전기 저항의 범위는, 예를 들어, 2 내지 4 μOhm·cm이다.

도 1에 도시된 바와 같이, 가열장(9)은 다수의 전기적으로 격리된 제2 분리 라인들(30)에 의해 병렬로 전기 접속된 복수의 가열 전류 경로들(12)로 나누어져 있다. 가열 전류 경로들(12)은, 각 경우에, 하나의 제1 접속 전극(10)에서 시작되고 다른 하나의 제2 접속 전극(11)에서 종단되고, 제2 분리 라인들(30)이 없는 가열장(9)의 부분은 2개의 접속 전극(10, 11)에 바로 인접해 있다. 따라서, 가열장(9)에서, 2개의 접속 전극(10, 11)에 의해 도입된 가열 전류의 정의된 진로가 제2 분리 라인들(30)에 의해 정의된 가열 전류 경로들(12)을 따라 얻어질 수 있다. 원하는 열 출력을 위한 전기 저항은 가열 전류 경로들(12)의 폭 또는 단면적과 길이에 의하여 정확하게 조정될 수 있다. 분리 라인들에 의해 가열장(9)을 분할하여 병렬 가열 전류 경로들(12)을 생성하는 것은, 예를 들어, 도입부에서 언급한 특허들로부터 그 자체로 공지되어 있으므로, 이를 여기에 상세히 설명하는 것은 불필요하다. 각 경우에, 도전성 코팅(3)이 완전히 제거되어 있는 분리 라인들(7, 30)은, 예를 들어, 레이저 절단 로봇을 이용한 레이저 묘화(laser writing)에 의해 도전성 코팅(3)에 포함될 수 있다. 도 1에 도시된 제2 분리 라인들(30)의 레이아웃은 예시에 불과하고 상이한 진로를 가진 가열 전류 경로들(12)이 패널 히터(1)에제공될 수도 있다는 점에 유의한다.

또한 도 1에 도시된 바와 같이, 가열장(9)과 전기적으로 격리된 도전성 트랙 형태의 측정 전류 경로(13)가 에지 스트립(8) 내의 도전성 코팅(3)에 형성되어 있다. 측정 전류 경로(13)는 코팅(3)의 도전성 재료에 의해 형성되고, 이를 위해, 예를 들어, 레이저 가공을 통해, 측정 전류 경로(13)의 둘레를 한정하는 분리 라인이 에지 스트립(8)에 도입되는데, 이는 명확성을 위해 도 1에 상세히 도시되어 있지 않다. 도전성 코팅(3)이 완전히 제거되어 있는 이 분리 라인에 의하여, 측정 전류 경로(13)는 에지 스트립(8)의 나머지로부터 전기적으로 구분된다. 2개의 접속 전극(10, 11) 레벨의 제1 접속부(14)에서 출발하여, 측정 전류 경로(13)는 아래쪽 긴 에지(6), 이에 인접한 오른쪽 긴 에지(5), 이에 인접한 위쪽 긴 에지(6)를 따라 거의 왼쪽 가열장 코너(20)의 레벨까지 그리고 다시 반대 방향으로 2개의 접속 전극(10, 11)의 레벨에서 제2 접속부(15)까지 구간을 이어져 있고, 이에 의하여 도체 루프가 형성된다. 측정 전류 경로(13)의 2개의 접속부(14, 15)는 전기 측정 장치(16)의 접속 라인들(34)에 전기 접속되어 있다. 이를 위해, 그것들은 갈바니 전기적으로 연결된 전극들을 구비할 수 있는데, 이는 도 1에 상세히 도시되어 있지 않다. 2개의 접속부(14, 15)에 의하여, 측정 전류 경로(13)는 그 사이에 접속된 측정 장치(16)와 단락되어(short-circuited) 측정 전류 경로(13)의 전기 저항을 확인하기 위해 전압 또는 전류를 측정하는 측정 회로를 형성한다. 기판 에지(4)에 2개의 접속부(14, 15)를 배치함으로써 특히 간단한 접촉이 가능하다. 물론, 에지 스트립(8) 내의 측정 전류 경로(13)의 정확한 진로는 본 발명이 도 1에 도시된 진로로 제한되지 않도록 선택적으로 설계될 수 있다.

여기서, 측정 전류 경로(13)는, 예를 들어, 균일한 단면적을 가지며 이는 도체 트랙의 길이에 대해 가로인 도체 트랙의 균일한 두께(기판(2) 상에 일정한 두께로 도포된 코팅(3)에 대응)와 폭에 기인한다. 따라서, 측정 전류 경로(13)는 실질적으로 균일한 전기 저항을 가지며 따라서 2개의 접속부(14, 15)에 인가된 측정 전압은 측정 전류 경로(13)에 걸쳐 적어도 거의 균일하게 강하한다. 본 모범적 실시예에서, 기판(2) 또는 기판 영역(42)에 수직으로 그리고 전류 경로(13)의 길이에 대해 가로로 측정된 도체 트랙의 두께의 범위는, 예를 들어, 50 내지 100 나노미터(nm)이다. 기판(2) 또는 기판 영역(42)에 평행으로 그리고 측정 전류 경로(13)의 길이에 대해 가로로 측정된 도체 트랙의 폭의 범위는, 예를 들어, 100 미크론(㎛)보다는 크고 5 밀리미터(mm)보다는 작다. 측정 전류 경로(13)의 비교적 작은 폭으로 인해, 그의 전기 저항은 가열장(9) 내의 가열 전기 경로들(12) 중 어느 하나의 전기 저항보다 실질적으로 더 크다. 가열 전류 경로들(12)의 폭은, 예를 들어, 10 mm보다 크고, 특히, 30 mm이다.

이제, 유리 기판(2)과 도전성 재료 은(Ag)에 기반한 투명 코팅(3)을 갖는 패널 히터(1)에 대한 온도 변화와 관련된 코팅(3)의 저항 변화가 예로서 예시되어 있는 도 8을 고려해보자. 제시된 도면에서는, 코팅(3)의 전기 저항 R(옴)이 그의 온도 T(℃)와 비교하여 그려져 있다. 전기 저항 R과 온도 T 사이에 적어도 거의 선형 상관관계가 있는 것을 관찰할 수 있으며, 따라서 코팅(3)의 온도 증가는 항상 전기 저항의 증가를 동반한다. 50℃만큼의 온도 증가는 여기서, 예를 들어, 대략 10 옴만큼 전기 저항을 증가시키며, 따라서 국소적인 또는 전반적인 온도 증가를 신뢰할 수 있게 그리고 안전하게 탐지할 수 있다.

다시 도 1을 참조하여, 이제 위쪽 긴 에지(6) 가까이에 가열장(9)에 국소적 과열("과열점")이 나타난다고 가정해보자. 이는, 예를 들어, 수건이나 한 벌의 의류가 위쪽 긴 에지(6) 위에 걸려 있어, 가열장(9)에서 발생된 열이 주위로 방산되지 못한다는 사실에 기인하여 일어날 수 있다. 가열장(9)에서의 국소적 온도 증가는 과열점에 인접한 측정 전류 경로(13)의 부분에서의 온도 증가를 야기한다. 그 이유는 기판(2)의 열 전도뿐만 아니라 작게는 복사열에 주로 기인하는 가열장(9)과 측정 경로(13) 간의 열적 결합 때문이다. 측정 전류 경로(13)는 이에 의해 데워지고 따라서 그의 전기 저항이 증가한다. 이러한 저항의 변화는 측정 장치(16)에 의해 탐지될 수 있고, 비교적 작은 저항 변화조차 양호한 신호 대 잡음비로 신뢰할 수 있게 그리고 안전하게 탐지될 수 있다. 측정 전류 경로(13)는 가열장(9)과 전기적으로 격리되어 있으므로, 측정 전류 경로(13)의 전기 저항의 측정은 가열 전류와 관계없이 일어날 수 있다. 틀림없이, 예를 들어, 유리 기판(2)은 다소 빈약한 열 전도체여서 가열장(9)과 측정 전류 경로(13) 간의 열적 결합은 비교적 경미하지만, 실제로는, 이러한 경우에도, 적어도 그에 인접한 과열점들로 인한 측정 전류 경로(13)의 저항의 상당한 증가가 관찰될 수 있다. 가열장(9)과 에지 스트립(8) 내의 측정 전류 경로(13) 간에 추가 열적 결합을 제공하는 것도 상상할 수 있을 것이다. 예를 들어, 가열장(9)과 에지 스트립(8)은 양호한 열 전도성을 가진 전기 절연 재료로 만들어진 층에 의해 연결될 수 있고, 그 층은 기판(2)에 도포되고 제1 분리 라인(7)의 형성시에 제거되지 않는다.

일반적으로, 판유리 히터(1)의 특정 설계에 따라서, 이하 "탐지 구역(detection zone)"이라고 하는 가열장(9)의 구역(19)이 측정 전류 경로(13)와 관련될 수 있고, 그 구역은 온도 변화가 측정 전류 경로(13)의 (상당한) 저항 변화를 야기하도록 측정 전류 경로(13)와 열적으로 결합된다. 탐지 구역(19)의 각각의 크기는 가열장(9)과 측정 전류 경로(13) 간의 열적 결합에 따라 다르고, 열적 결합이 양호할수록 탐지 구역(19)은 더 커지고 그 반대도 마찬가지이다. 전적으로 본질적으로는 아니고, 통상적으로, 탐지 구역(19)은 측정 전류 경로(13)에 인접한 가열장(9)의 부분에 걸쳐 확장하고, 탐지 구역(19)은 전체 가열장(9)에 걸쳐서 확장할 수도 있고, 이에 상응하여 양호한 열적 결합이 생긴다.

예를 들어, 도 1에 도시된 패널 히터(1)는 가열장(9)의 위쪽 긴 에지(6)와 오른쪽 짧은 에지(5)의 가까운 근방에서 주로 가열장(9)의 국소적 온도 증가를 탐지하도록 가열장(9)의 일부만을 커버하는 탐지 구역(19)과 측정 전류 경로(13)의 특수한 진로를 통하여 구성된다. 실제 응용에서, 이들은, 예를 들어, 모든 가능성으로, 부적절한 처리로 인해 과열점들이 일어나는 가열장(9)의 영역들일 수 있다.

설비(39)에서, 측정 장치(16)는 패널 히터(1)의 제어 및 모니터링 장치(40)에 연결될 수 있고 따라서 더 이상의 과열이 방지되도록 접속 전극들(10, 11)에 인가되는 공급 전압이 차단되거나 적어도 감소된다. 제어 및 모니터링 장치(40)는 이를 위해 측정 전류 경로(13)의 저항의 증가가 선택적으로 사전 정의된 또는 사전 정의 가능한 임계값을 초과하자마자 공급 전압이 차단되거나 적어도 사전 정의된 또는 사전 정의 가능한 양만큼 감소되도록 프로그램에 따라 설정될 수 있다. 또한, 탐지된 저항값들에 기초하여 공급 전압의 점차적 감소가 이루어질 수 있다. 대안으로 또는 추가로, 제어 및 모니터링 장치(40)는 광학 및/또는 청각 출력 장치(41)와 연결될 수 있고 따라서 가열장(9)의 국소적 과열이 광학적으로 및/또는 청각적으로 표시된다. 이에 따라 사용자는 패널 히터(1)의 공급 전압을 수동으로 차단하거나 감소시키는 것과 같은 적절한 조치를 취할 수 있다.

이제 도 2를 참조하면, 본 발명에 따른 패널 히터(1)의 다른 모범적 실시예가 예시되어 있다. 불필요한 반복을 피하기 위해, 도 1의 모범적 실시예와의 차이점들만을 설명하고 그 외에는 거기서 언급된 진술들을 참조한다.

이에 따르면, 패널 히터(1)는 에지 스트립(8) 내에 도체 트랙들의 형태로 도전성 코팅(3)에 통합된 3개의 측정 전류 경로(13, 13', 13")를 포함하고, 이들은 각 경우에 가열장(9)과 전기적으로 격리되어 있다. 이 3개의 도체 루프는 이들 각각의 진로에 있어서만 서로 상이하다. 따라서, 제1 측정 전류 경로(13)는, 2개의 접속 전극(10, 11)의 레벨에서 제1 접속부(14)에서 출발하여, 거의 왼쪽 가열장 코너(20)의 레벨까지 그리고 다시 반대 방향으로 2개의 접속 전극(10, 11)의 레벨에서 제2 접속부(15)까지 연장한다. 제2 측정 전류 경로(13')는, 2개의 접속 전극(10, 11)의 레벨에서 제1 접속부(14')에서 출발하여, 위쪽 긴 에지(6)를 따라 짧은 구간만 연장하고 다시 반대 방향으로 연장한다. 여기서, 제2 측정 전류 경로(13')는 제1 측정 전류 경로(13)의 도체 트랙의 일부를 사용하고, 따라서 제1 및 제2 측정 전류 경로(13, 13')는, 특히, 공통의 제2 접속부(15)를 공유한다. 제3 측정 전류 경로(13")는, 2개의 접속 전극(10, 11)의 레벨에서 제1 접속부(14")에서 출발하여, 아래쪽 긴 에지(6)을 따라 그리고 다시 반대 방향으로 제2 접속부(15")까지 연장한다.

측정 전류 경로들(13, 13', 13")은 각 경우에 별도의 측정 장치(16)의 접속 라인들(34)에 의해 단락되어 측정 회로를 형성하는데, 여기서 이 순서대로 측정 회로 A, B, 및 C라고 언급된다. 2개의 측정 회로 A, B는 가열장(9) 내의 과열점들의 탐지를 위해 온도에 따른 저항 변화를 탐지하는 역할을 하는 데 반해, 측정 회로 C는 기준 회로로서만 사용된다. 측정 전류 경로들(13, 13', 13")의 탐지 구역들(19)이, 각 경우에, 가열장(9)의 일부분만을 커버한다면, 2개의 측정 회로 A 및 B에 의하여 공간적으로 분해된 과열점들의 탐지가 일어날 수 있고, 측정 회로 A 또는 B에 대한 과열점의 공간적 근접이 탐지될 수 있다. 한편, 적어도 어떤 응용들에서는 실제로(예를 들어, 한정된 장소만의 난방) 아무런 과열점도 발생하지 않을 것으로 추정되는 탐지 구역(19)이 측정 회로와 관련된다. 따라서, 가열장(9)의 순간 온도에 따른 기준 신호가 측정 회로 C에 의해 발생될 수 있고, 그 신호는 측정 회로 A 및 B에서의 저항 변화에 기초하여 신뢰할 수 있고 안전한 과열점들의 확인을 가능하게 한다. 따라서 도 2의 패널 히터(1)는 특히 신뢰할 수 있고 공간적으로 분해된 과열점들의 탐지를 가능케 한다. 물론, 도 2에 도시된 측정 장치들(16)은 단일 측정 장치(16)로 실현될 수도 있다.

이제 도 3을 참조하면, 본 발명에 따른 패널 히터(1)의 또 다른 모범적 실시예가 예시되어 있다. 불필요한 반복을 피하기 위해, 도 2에 도시된 모범적 실시예와의 차이점들만을 설명하고 그 외에는 거기서 언급된 진술들을 참조한다.

이에 따르면, 패널 히터(1)는 에지 스트립(8) 내에 도체 트랙들로서 도전성 코팅(3)에 형성된 3개의 측정 전류 경로(13, 13', 13")를 포함하고, 이들은 각 경우에 가열장(9)과 전기적으로 격리되어 있다. 이 3개의 측정 전류 경로(13, 13', 13")는 도 2에 도시된 것과는 다른 진로를 갖고 있고 오로지 과열점들(17)을 탐지하기 위한 기준 회로 없이 사용되며, 과열점들 중 하나가 예로서 도시되어 있다. 측정 회로 A에 속하는 제1 측정 전류 경로(13)는, 도 2와 유사하게, 2개의 접속 전극(10, 11)의 레벨에서 제1 접속부(14)에서 출발하여, 거의 왼쪽 가열장 코너(20)의 레벨까지 그리고 다시 반대 방향으로 2개의 접속 전극(10, 11)의 레벨에서 제2 접속부(15)까지 연장한다. 측정 회로 B에 속하는 제2 측정 전류 경로(13')는, 2개의 접속 전극(10, 11)의 레벨에서 제1 접속부(14')에서 출발하여, 거의 위쪽 긴 에지(6)의 중심까지 그리고 다시 반대 방향으로 연장한다. 여기서, 제2 측정 전류 경로(13')는 제1 측정 전류 경로(13)의 도체 트랙의 일부를 사용하고, 따라서 제1 및 제2 측정 전류 경로(13, 13')는, 특히, 공통의 제2 접속부(15)를 공유한다. 제3 측정 전류 경로(13")는, 2개의 접속 전극(10, 11)의 레벨에서 제1 접속부(14")에서 출발하여, 오른쪽 짧은 에지(5)를 따라 그리고 다시 반대 방향으로 연장한다. 여기서, 제3 측정 전류 경로(13")는 제1 및 제2 측정 전류 경로(13, 13')의 공통의 도체 트랙의 일부를 사용하고, 따라서 제1, 제2, 및 제3 측정 전류 경로(13, 13', 13")는, 특히, 공통의 제2 접속부(15)를 공유한다. 3개의 측정 전류 경로들(13, 13', 13")과 관련된 탐지 구역들(19)이, 각 경우에, 가열장(9)의 일부분만을 커버한다면, 측정 회로 A, B, C는 공간적으로 분해된 과열점들(17)의 탐지를 가능하게 하고, 측정 회로 A, B, 또는 C에 대한 과열점(17)의 공간적 근접이 탐지될 수 있다. 도 3에 예로서 위쪽 긴 에지(6)의 영역에 도시된 과열점(17)은 제1 측정 전류 경로(13) 또는 측정 회로 A에 대한 가장 큰 공간적 근접을 가지며, 따라서 거기서 가장 강한 온도 상승을 야기하고, 이와 함께, 전기 저항의 최대 변화를 야기한다. 과열점(17)은 측정 회로 B 및 C에서 상응하게 큰 저항 변화를 야기하지 않으므로, 과열점(17)의 공간적 위치는 측정 회로 A의 탐지 구역(19)과 명백히 관련될 수 있다.

이제 도 4를 참조하면, 본 발명에 따른 패널 히터(1)의 또 다른 모범적 실시예가 예시되어 있다. 불필요한 반복을 피하기 위해, 도 3에 도시된 모범적 실시예와의 차이점들만을 설명하고 그 외에는 거기서 언급된 진술들을 참조한다.

이에 따르면, 패널 히터(1)는 에지 스트립(8) 내에 상세히 언급되지 않은 복수의 측정 전류 경로를 포함하고, 이들은 각 경우에 가열장(9)과 전기적으로 격리되어 있고 측정 회로 A, B, C 등을 야기한다. 도 3과는 다르게, 각 측정 전류 경로는 이하에서 "측정 구역"이라고 하는 공간적으로 제한된 구역(18)을 포함하고, 여기서는 도체 트랙이 그의 진로 방향을 여러 번 바꾸며(즉, 반대 방향들로 굽은 복수의 도체 트랙 부분을 가지며), 이 도체 트랙 부분들은 그들 사이에 거의 거리를 두지 않고 측정 구역(18) 내에서 서로 매우 가까이 위치해 있다. 측정 전류 경로들은 개략적으로 도시된 측정 구역들(18)에서, 예를 들어, 구불구불하게 굽은 진로를 가진다. 도 4에 도시된 바와 같이, 서로 인접한 측정 전류 경로들은 공통의 경로 구간을 가지며, 각 측정 전류 경로는 인접한 측정 전류 경로(측정 회로)에 접속된다. 상이한 측정 회로 A, B, C 등의 측정 구역들(18)은 공간적으로 서로 분리되어 있고 위쪽 긴 에지(6)와 오른쪽 짧은 에지(5)를 따라 그들 사이에 거의 동등한 거리를 두고 분산되어 배치되어 있다. 측정 전압은 측정 구역들(18)의 영역에서 현저하게 떨어지므로, 측정 회로 A, B, C 등의 탐지 구역들(19)은, 각 경우에, 공간적으로 분해된 과열점들의 탐지가 가능하도록 측정 구역들(18)과 관련될 수 있으며, 측정 회로 A, B, C 등의 측정 구역(18)에 대한 과열점의 공간적 근접이 탐지될 수 있다. 도 4에는, 측정 회로 A 및 B의 2개의 측정 구역(18)의 부근에 위치해 있는 하나의 과열점(17)이 예로서 도시되어 있다. 따라서, 과열점(17)은 측정 회로 A의 측정 구역(18)에서 가장 강한 온도 상승 또는 저항의 증가를 야기하고 측정 회로 B의 측정 구역(18)에서 이차적으로 중요한 온도 상승 또는 저항의 증가를 야기할 것이다. 따라서 도 4의 패널 히터(1)는 상이한 측정 회로들의 분산 배치된 측정 구역들(18)에 의하여 매우 감도 높고 특히 정확한 공간적으로 분해된 과열점들(17)의 탐지를 가능하게 한다.

이제 도 5를 참조하면, 본 발명에 따른 패널 히터(1)의 또 다른 모범적 실시예가 예시되어 있다. 불필요한 반복을 피하기 위해, 도 1 내지 4에 예시된 모범적 실시예들과의 차이점들만을 설명하고 그 외에는 거기서 언급된 진술들을 참조한다.

도 5의 패널 히터(1)는 가열장(9) 내의 측정 전류 경로들(13)의 부분 진로뿐만 아니라, 그들의 접촉이 이전의 모범적 실시예들과 상이하다. 여기서는, 도 2와 유사하게, 2개의 측정 회로 A 및 B뿐만 아니라, 하나의 기준 회로 C가 제공된다. 따라서, 제1 측정 전류 경로(13)는 가열 전류 경로(12), 이 경우, 예를 들어, 제1 분리 라인(7)에 인접한 가열 전류 경로(12)의 경로 부분을 사용한다. 제1 측정 전류 경로(13)는 여기서 제1 접속부(14)로서 역할을 하는 제1 접속 전극(10)(도 5에서, 왼쪽 접속 전극)의 가열장(9) 내에서, 왼쪽 짧은 에지(5)와 그에 인접한 아래쪽 긴 에지(6)를 따라 연장한다. 그리고, 가열 전류 경로(12)는 그의 진로에서 아래쪽 긴 에지(6)를 따라 여러 번 반대 방향들로 그의 진로의 방향을 바꾼다. 왼쪽 위 가열장 코너(20)의 영역에서, 제1 측정 전류 경로(13)는 가열장(9)을 떠나, 에지 스트립(8)으로 넘어가고, 그로부터 계속해서 완전히 에지 스트립(8) 내에서 이어진다. 에지 스트립(8)이 가열장(9)으로부터 전기적으로 구분되게 하는 제1 분리 라인(7)은 이런 이유로 거기에 구현되지 않는다. 에지 스트립(8)에서, 제1 측정 전류 경로(13)는 코팅(3)에 통합된 도체 트랙으로서 위쪽 긴 에지(6)와 그에 인접한 짧은 에지(5)를 따라, 뿐만 아니라 아래쪽 긴 에지(6)를 따라 짧은 구간 연장하고, 거기서 제2 접속 전극(11)(도 5에서, 오른쪽 접속 전극)의 레벨에서 제2 접속부(15)에서 종단된다. 그들 사이에 측정 장치(16)가 접속되어 있는 2개의 접속 라인(34)이 제1 접속 전극(10) 및 제1 측정 전류 경로(13)의 제2 접속부(15)와 접촉하여 측정 회로 A를 형성한다. 따라서 제1 측정 전류 경로(13)는 가열장(9)에 위치해 있는 가열장 부분(22)과 에지 스트립(8)에 위치해 있는 에지 스트립 부분(23)을 포함한다.

제2 측정 전류 경로(13')는 가열장(9)에서 유사하게 부분적으로 이어져 있고, 이 때문에, 제1 측정 전류 경로(13)와 동일한 가열 전류 경로(12)의 상이한 부분을 이용한다. 제2 측정 전류 경로(13')는 가열 전류 경로(12)에서 제2 접속 전극(11)(도 5에서, 오른쪽 접속 전극)으로부터 아래쪽 긴 에지(6)를 따라 짧은 구간과 그에 인접한 오른쪽 짧은 에지(5)를 연장한다. 오른쪽 위 가열장 코너(21)의 영역에서, 제2 측정 전류 경로(13')는 가열장(9)을 떠나, 에지 스트립(8)으로 넘어가고, 그로부터 계속해서 완전히 에지 스트립(8) 내에서 이어진다. 에지 스트립(8)이 가열장(9)으로부터 전기적으로 구분되게 하는 제2 분리 라인(7)은 이런 이유로 거기에 구현되지 않는다. 에지 스트립(8)에서, 제2 측정 전류 경로(13')는 코팅(3)에 형성된 도체 트랙으로서 오른쪽 짧은 에지(5)를 따라, 뿐만 아니라 아래쪽 긴 에지(6)를 따라 짧은 구간 연장하고, 거기서 제2 접속 전극(11)의 레벨에서 제2 접속부(15')에서 종단된다. 그들 사이에 측정 장치(16)가 접속되어 있는 2개의 접속 라인(34)이 제2 접속 전극(11) 및 제2 측정 전류 경로(13')의 제2 접속부(15')와 접촉하여 측정 회로 B를 형성한다. 따라서 제2 측정 전류 경로(13')는 마찬가지로 가열장(9)에 위치해 있는 가열장 부분(22)과 에지 스트립(8)에 위치해 있는 에지 스트립 부분(23)을 포함한다.

2개의 측정 전류 경로(13, 13')의 가열장 부분(22)의 폭이나 단면적이, 각 경우에, 에지 스트립 부분(23)에서의 폭이나 단면적보다 크기 때문에, 가열장(9) 내의 전기 저항은 에지 스트립(8)에서보다 실질적으로 작다. 도시된 모범적 실시예에서, 가열장(9) 내의 제1 또는 제2 측정 전류 경로(13, 13')의 폭이나 단면적은, 각 경우에, 예를 들어, 에지 스트립(8)에서의 폭이나 단면적의 2배 내지 100배, 특히 85배이다. 물론, 가열장(9) 내의 폭은 가열 전류 경로들(12)의 레이아웃에 따라 다르며 매우 다양할 수 있다. 따라서, 저항 변화를 측정하기 위한 측정 전압은 에지 스트립 부분들(23)에서 상당히 강하한다. 따라서 2개의 측정 전류 경로(13, 13')의 탐지 구역들(19)이 에지 스트립 부분들(23)에 할당될 수 있다. 탐지 구역들(19)이, 각 경우에, 가열장(9)의 일부분만을 커버하는 경우에, 2개의 측정 전류 경로(13, 13')의 에지 스트립 부분들(23)에 의하여 공간적으로 분해된 가열장(9) 내의 과열점들의 탐지가 가능하다. 이 실시예의 특별한 이점은 측정 회로 A 및 B의 도체 트랙들이, 각 경우에, 에지 스트립(8)에서 비교적 작은 공간만을 필요로 하며, 따라서 좁은 에지 스트립(8)을 가지고도 측정 회로 A, B가 구현될 수 있다는 데에 있다. 측정 회로 A, B에서의 전기 저항의 측정은 측정 전압과 공급 전압 간의 전위차에 의하여 가열 전류의 공급과 동시에 일어날 수 있다.

도 2와 유사하게, 제3 측정 전류 경로(13")는 측정 회로 C를 형성하는 데 기여한다. 따라서, 제3 측정 전류 경로(13")는, 2개의 접속 전극(10, 11)의 레벨에서 제1 접속부(14")에서 출발하여 아래쪽 긴 에지(6)와 그에 인접한 위쪽 긴 에지(6)를 따라 코팅(3)에 통합된 도체 트랙의 형태로 연장하고 다시 반대 방향으로 이어지며, 이를 위해 왼쪽 가열장 코너(20)의 영역에서 코팅(3)에 통합된 도체 트랙은 제1 측정 전류 경로(13)의 에지 스트립 부분(23)으로 넘어간다. 측정 장치(16)의 하나의 접속 라인(34)은 제3 측정 전류 경로(13")의 제1 접속부(14")와 접촉하고; 다른 접속 라인(34), 즉 측정 회로 A의 접속 라인(34)은 제1 접속 전극(10)에 접속된다. 측정 회로 C는 기준 회로로서만 사용되며 가열장(9)의 순간 온도에 따른 기준 신호에 기초하여 과열점들의 확인을 가능하게 하므로 특히 신뢰할 수 있고 안전한 과열점들의 탐지가 가능하다.

이제 도 6을 참조하면, 본 발명에 따른 패널 히터(1)의 또 다른 모범적 실시예가 예시되어 있다. 불필요한 반복을 피하기 위해, 도 5를 이용하여 예시된 모범적 실시예와의 차이점들만을 설명하고 그 외에는 거기서 언급된 진술들을 참조한다.

도 6의 패널 히터(1)는 위쪽 긴 에지(6)의 영역에서 제1 측정 전류 경로(13)의 에지 스트립 부분(23)이 그의 진로 방향을 여러 번 반대 방향들로 바꾸고(반대 방향들로 굽은 측정 전류 경로 부분들) 여기서, 예를 들어, 구불구불하게 굽은 진로를 가진다는 점에서만 도 5의 패널 히터와 상이하다. 이러한 조치는 측정 전압이 위쪽 긴 에지(6)에 인접한 에지 스트립 부분(23)에서 상당히 강하하는 것을 가능하게 하고 따라서 이 영역에서 과열점들의 탐지를 위한 감도 및 공간 분해능이 증가된다.

이제, 도 7a-7c를 참조하여, 본 발명에 따른 패널 히터(1)의 또 다른 모범적 실시예를 설명한다. 패널 히터(1)는 측정 전류 경로들의 사실상 모든 진로가 가열장(9) 내에 있다는 것과, 뿐만 아니라 측정 전류 경로들의 접촉에 있어서 도 1 내지 6에 예시된 패널 히터들(1)과는 상이하다. 여기서는, 하기에서 상세히 설명하는 바와 같이, 4개의 측정 회로 A, B, C, 및 D가 형성되어 있다.

도 7a를 먼저 보면, 패널 히터(1)의 레이아웃이 도시되어 있다. 이에 따르면, 패널 히터(1)는 여기서, 예를 들어, 2개의 짧은 에지(5)의 중심을 통과하는 대칭축(27)에 관하여 거울 이미지 대칭 구조를 갖고 있다. 게다가, 2개의 접속 전극(10, 11)은, 각 경우에, 서로 전기적으로 격리된 3개(제1 내지 제3)의 전극 부분들(24-26)로 나누어지고, 하나의 동일한 접속 전극(10, 11)의 3개의 전극 부분들은 코팅(3)과는 다른 평면에서 서로 전기적으로 접속된다(상세히 도시되지 않음). 2개의 접속 전극(10, 11)은 또한 도 7a에서 확대도로 도시되어 있다.

4개의 측정 전류 경로(13, 13', 13", 13'")가 구현되며, 이들은, 각 경우에, 가열 전류 경로(12, 12')의 경로 부분과, 가열장(9)의 도전성 코팅(3)에 통합된, 이하에서 "측정 전류 트랙"이라고 하는, 실질적으로 더 좁은 도체 트랙으로 구성된다. 도 7a에 도시된 바와 같이, 패널 히터(1)는, 이를 위해, 대칭축(27)의 양쪽에, 2개의 측정 전류 트랙, 각 경우에, 즉 제1 측정 전류 트랙(28) 및 제2 측정 전류 트랙(29)과, 뿐만 아니라 제3 측정 전류 트랙(35) 및 제4 측정 전류 트랙(36)을 포함하고, 이들은, 각 경우에, 예를 들어, 도전성 코팅(3)에 레이저 가공을 통해 제3 분리 라인들(37)에 의해 형성된다. 측정 전류 트랙들(28, 29, 35, 36)은, 가열 전류 경로들(12)과 비교하여, (예를 들어, 실질적으로) 더 작은 폭이나 단면적을 가지며, 이는 그에 상응하여 더 큰 전기 저항과 관련되고, 따라서 측정 전류 경로들(13, 13', 13", 13'")에서, 측정 전압은 측정 전류 트랙들(28, 29, 35, 36)에 걸쳐 상당히 강하한다. 여기서, 제1 측정 전류 트랙(28) 및 제3 측정 전류 트랙(35)은, 각 경우에, 제1 분리 라인(7)에 인접한 제1 가열 전류 경로와 그에 인접하여 안쪽에 놓인 제2 가열 전류 경로(12') 사이의 가열장(9)에서 시종, 왼쪽 짧은 기판 에지(5)의 대략 중심 레벨에서 (공통의) 제1 측정 전류 트랙 종단(38)까지 연장한다. 제1 측정 전류 트랙(28)은 제2 접속 전극(11)의 영역에서 제2 접속 전극(11)의 제1 전극 부분(24)과 제2 전극 부분(25) 사이의 제2 전극 중간 공간(32)에서 이어지고 이어서 2개의 접속 전극(10, 11) 사이의 제1 전극 중간 공간(31)으로 넘어가고, 결국 별도의 제1 접속 지점(44)에서 종단된다. 제1 측정 전류 트랙 종단(38)에서, 제1 측정 전류 트랙(28)은 대칭축(27) 아래에 위치해 있는 제1 가열 전류 경로(12)의 부분에 전기 접속된다. 제3 측정 전류 트랙(35)은 제1 접속 전극(10)의 영역에서 제1 접속 전극(10)의 제1 전극 부분(24)과 제2 전극 부분(25) 사이의 제2 전극 중간 공간(32)에서 연장하고 이어서 2개의 접속 전극(10, 11) 사이의 제1 전극 중간 공간(31)으로 넘어가고, 결국 제3 접속 지점(46)에서 종단된다. 제1 측정 전류 트랙 종단(38)에서, 제3 측정 전류 트랙(35)은 대칭축(27) 위에 위치해 있는 제1 가열 전류 경로(12)의 부분에 전기 접속된다. 다르게는, 제1 측정 전류 트랙(28) 및 제3 측정 전류 트랙(35)은 제1 및 제2 가열 전류 경로(12, 12')로부터 전기적으로 구분된다.

각각 더 안쪽에 놓인 제2 측정 전류 트랙(29) 및 제4 측정 전류 트랙(36)은 제2 가열 전류 경로(12')와 인접한 제3 가열 전류 경로(12") 사이의 가열장(9)에서 시종, 각각의 제2 측정 전류 트랙 종단(43)까지 연장한다. 제2 측정 전류 트랙(29)은 제2 접속 전극(11)의 영역에서 제2 접속 전극(11)의 제2 전극 부분(25)과 제3 전극 부분(26) 사이의 제3 전극 중간 공간(33)에서 연장하고 이어서 2개의 접속 전극(10, 11) 사이의 제1 전극 중간 공간(31)으로 넘어가고, 거기서 제2 접속 지점(45)에서 종단된다. 관련된 제2 측정 전류 트랙 종단(43)에서, 제2 측정 전류 트랙(29)은 제2 가열 전류 경로(12')에 전기 접속된다. 제4 측정 전류 트랙(36)은 제1 접속 전극(10)의 영역에서 제1 접속 전극(10)의 제2 전극 부분(25)과 제3 전극 부분(26) 사이의 제3 전극 중간 공간(33)에서 연장하고 이어서 2개의 접속 전극(10, 11) 사이의 제1 전극 중간 공간(31)으로 넘어가고, 거기서 제4 접속 지점(47)에서 종단된다. 관련된 제2 측정 전류 트랙 종단(43)에서, 제4 측정 전류 트랙(36)은 제2 가열 전류 경로(12')에 전기 접속된다. 다르게는, 제2 측정 전류 트랙(29) 및 제4 측정 전류 트랙(36)은 제1 및 제2 가열 전류 경로(12, 12')로부터 전기적으로 구분된다.

이제, 도 7b를 보면, 상이한 측정 회로들이 개략적으로 도시되어 있다. 여기서, 측정 회로 A에 대응하는 제1 측정 전류 경로(13)는 측정 회로 B에 대응하는 제2 측정 전류 경로(13')에 직렬로 접속되어 있다. 제1 측정 전류 경로(13)는, 제1 가열 전류 경로(12) 내의 제2 접속 전극(11)의 제1 전극 부분(24)에서 출발하여 시종, 제1 측정 전류 트랙 종단(38)까지 연장하고, 거기서 제3 측정 전류 트랙(35)으로 넘어간다. 제3 측정 전류 트랙(35)은 제2 측정 전류 경로(13')의 일부인 제2 측정 전류 트랙(29)에 단락된다. 이 때문에, 제3 접속 지점(46)과 제2 접속 지점(45)은 서로 전기 접속된다(상세히 도시되지 않음). 이들 2개의 접속 지점(45, 46)은 함께 제1 접속부(14)를 형성한다. 제2 측정 전류 경로(13')는 관련된 제2 측정 전류 트랙 종단(43)에서, 제1 접속 전극(10)의 제2 전극 부분(25)에 전기 접속되어 있는, 제2 가열 전류 경로(12')로 넘어간다. 한편, 측정 회로 C에 대응하는 제3 측정 전류 경로(13")는 측정 회로 D에 대응하는 제4 측정 전류 경로(13'")에 직렬로 접속되어 있다. 제3 측정 전류 경로(13")는, 제2 가열 전류 경로(12') 내의 제2 접속 전극(11)의 제2 전극 부분(25)에서 출발하여 시종, 관련된 제2 측정 전류 트랙 종단(43)까지 연장하고, 거기서 제4 측정 전류 트랙(36)으로 넘어간다. 제4 측정 전류 트랙(36)은 제4 측정 전류 경로(13'")의 일부인 제1 측정 전류 트랙(28)에 단락된다. 이 때문에, 제4 접속 지점(47)과 제1 접속 지점(44)은 전기 접속된다. 이들 2개의 접속 지점(44, 47)은 함께 제2 접속부(15)를 형성한다. 제4 측정 전류 경로(13'")는 제1 접속 전극(10)의 제1 전극 부분(24)에 전기 접속되어 있는, 제1 가열 전류 경로(12)로 넘어간다. 따라서, 한편으로, 측정 회로 A 및 B와, 다른 한편으로, 측정 회로 C 및 D는 직렬로 접속된다.

도 7c는 패널 히터(1)의 등가 회로도를 도시하고 있다. 여기서, 저항기 R1은 측정 회로 A에 대응하고, 저항기 R2는 측정 회로 B에 대응하고, 저항기 R3는 측정 회로 C에 대응하고, 저항기 R4는 측정 회로 D에 대응한다. 제1 전극(10)은, 예를 들어, 전압원의 마이너스 단자에 접속되고; 제2 전극(11)은 전압원의 플러스 단자에 접속된다. 전기 전압 변화를 확인하는 측정 장치(16)가 2개의 저항기 R1과 R2 사이의 노드와 2개의 저항기 R3와 R4 사이의 다른 노드에 전기 접속되어, 휘트스톤 브리지 회로를 형성한다. 이들 2개의 노드는 2개의 접속부(14, 15)에 대응하고, 이들은 제2 및 제3 접속 지점(45, 46) 또는 제1 및 제4 접속 지점(44, 47)의 전기 접속의 결과로 생긴다.

이렇게 얻어진 휘트스톤 브리지 회로는 저항기 R1-R4의 변화를 특히 간단하고 감도 높게 탐지하는 것을 가능하게 한다. 이는 하기의 수식에 따라서 일어날 수 있다.

U/U₀ = 1/4 (ΔR2/R - ΔR1/R - ΔR4/R + ΔR3/R)

여기서 U₀는 2개의 접속 전극(10, 11)에 인가되는 측정 브리지의 공급 전압이고 U는 브리지 전압이다. ΔR1 내지 ΔR4는 저항기 R1 내지 R4에서의 각각의 저항 변화이다.

1 : 패널 히터
2 : 기판
3 : 코팅
4 : 기판 에지
5 : 짧은 에지
6 : 긴 에지
7 : 제1 분리 라인
8 : 에지 스트립
9 : 가열장
10 : 제1 접속 전극
11 : 제2 접속 전극
12, 12', 12" : 가열 전류 경로
13, 13', 13", 13'" : 측정 전류 경로
14 : 제1 접속부
15 : 제2 접속부
16 : 측정 장치
17 : 과열점
18 : 측정 구역
19 : 탐지 구역
20 : 왼쪽 가열장 코너
21 : 오른쪽 가열장 코너
22 : 가열장 부분
23 : 에지 스트립 부분
24 : 제1 전극 부분
25 : 제2 전극 부분
26 : 제3 전극 부분
27 : 대칭축
28 : 제1 측정 전류 트랙
29 : 제2 측정 전류 트랙
30 : 제2 분리 라인
31 : 제1 전극 중간 공간
32 : 제2 전극 중간 공간
33 : 제3 전극 중간 공간
34 : 접속 라인
35 : 제3 측정 전류 트랙
36 : 제4 측정 전류 트랙
37 : 제3 분리 라인
38 : 제1 측정 전류 트랙 종단
39 : 설비
40 : 제어 및 모니터링 장치
41 : 출력 장치
42 : 기판 영역
43 : 제2 측정 전류 트랙 종단
44 : 제1 접속 지점
45 : 제2 접속 지점
46 : 제3 접속 지점
47 : 제4 접속 지점

Claims

적어도 하나의 평판형 기판(2) 및 전기 도전성 투명 코팅(3)을 갖고 있는 패널 히터(1)로서,
상기 전기 도전성 코팅(3)은 기판 영역(42)의 적어도 일부 위에 연장하고, 공급 전압의 인가에 의해, 가열장(heating field)(9)에 가열 전류가 흐르도록, 전압원의 2개의 단자와의 전기 접속을 위해 제공된 적어도 2개의 접속 전극(10, 11)에 전기적으로 접속되어 있고,
상기 패널 히터(1)는 하나의 또는 복수의 가열 전류 경로들(12) 및 하나의 또는 복수의 측정 전류 경로들(13) - 이들은 각 경우에 코팅이 없는 분리 영역들(30)에 의해 상기 도전성 코팅(3) 내에 형성되고, 상기 도전성 코팅(3)에 의해 형성되어 있음 - 을 구비하고,
상기 측정 전류 경로들(13)은 적어도 국부적으로 상기 가열 전류 경로들(12)과 상이하고, 상기 측정 전류 경로들(13)은 각 경우에 적어도 상기 가열장(9)의 일부분에 열적으로 결합되고 상기 측정 전류 경로의 전기 저항을 확인하기 위한 측정 장치(16)를 접속하기 위한 적어도 2개의 접속부(14, 15)를 갖고 있는 것인 패널 히터(1).
제1항에 있어서, 상기 측정 전류 경로들(13)은 상기 가열장(9)을 둘러싸고 상기 가열장(9)과 전기적으로 격리된 에지 스트립(8)에서 적어도 국부적으로 상기 도전성 코팅(3) 내에 형성되어 있는 것인 패널 히터(1).
제2항에 있어서, 상기 측정 전류 경로들(13)은 서로 다른 상기 에지 스트립(8)의 부분들에서 적어도 국부적으로 구현되어 있는 것인 패널 히터(1).
제2항 또는 제3항에 있어서, 하나의 또는 복수의 측정 전류 경로(13)는 각 경우에 이들의 경로 방향이 상기 에지 스트립(8)의 공간적으로 제한된 측정 구역(18)에서 반복적으로 바뀌도록 구현되어 있는 것인 패널 히터(1).
제4항에 있어서, 상기 측정 구역들(18)은 적어도 상기 에지 스트립(8)의 일부분에 걸쳐 공간적으로 분산되어 배치되어 있는 것인 패널 히터(1).
제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 측정 전류 경로들(13)은 상기 가열장(9)과 전기적으로 격리되어 있는 것인 패널 히터(1).
제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 하나의 또는 복수의 측정 전류 경로(13)는 각 경우에, 가열 전류 경로(12)의 일부이거나 가열 전류 경로(12)에 의해 형성되어 있는, 측정 전류 경로 부분을 갖고 있는 것인 패널 히터(1).
제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 접속 전극들(10, 11)은 병렬로 접속된 2개의 측정 전류 경로 어레이(A-B, C-D)에 전기적으로 접속되어 있고, 상기 2개의 측정 전류 경로 어레이에서는, 각 경우에, 2개의 측정 전류 경로(13, 13'; 13", 13'")가 서로 직렬로 접속되어 있고, 각각의 측정 전류 경로 어레이(A-B, C-D)는 상기 측정 장치(16)를 접속하기 위해 상기 2개의 직렬로 접속된 측정 전류 경로 사이에 배치된 접속부(14, 15)를 갖고 있는 것인 패널 히터(1).
제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 적어도 하나의 측정 전류 경로(13)가 다른 측정 전류 경로들(13)에 대한 기준 저항을 확인하기 위한 기준 전류 경로로서 역할을 하는 것인 패널 히터(1).
제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 따른 패널 히터(1)를 갖고 있는 설비(39)로서,
전기 저항을 확인하기 위한 상기 측정 전류 경로들(13)의 상기 접속부들(14, 15)에 접속된 적어도 하나의 측정 장치(16)뿐만 아니라 상기 측정 장치(16)와의 데이터 링크를 갖고 있는 제어 및 모니터링 장치(40)를 갖고 있고,
상기 제어 및 모니터링 장치(40)는 측정 전류 경로(13)의 전기 저항이 사전 정의 가능한 임계치를 초과할 경우 상기 공급 전압이 감소되거나 차단되도록 설계되어 있는 것인 설비(39).
제10항에 있어서, 상기 제어 및 모니터링 장치(40)는 광학 신호, 청각 신호, 또는 광학 및 청각 신호를 출력하기 위한 출력 장치(41)와의 데이터 링크를 갖고 있고, 상기 제어 및 모니터링 장치는 측정 전류 경로의 전기 저항이 상기 사전 정의 가능한 임계치를 초과할 경우 상기 광학 신호, 청각 신호, 또는 광학 및 청각 신호가 출력되도록 설계되어 있는 것인 설비(39).
적어도 하나의 평판형 기판 및 전기 도전성 투명 코팅(3)을 갖고 있는 패널 히터(1)를 가동하는 방법으로서,
상기 도전성 코팅은 기판 영역의 적어도 일부 위에 연장하고, 공급 전압의 인가에 의해, 가열장(9)에 가열 전류가 흐르도록 전압원의 2개의 단자와의 전기 접속을 위해 제공된 적어도 2개의 접속 전극(10, 11)에 전기적으로 접속되어 있고,
상기 가열장(9)에 열적으로 결합된 하나의 또는 복수의 측정 전류 경로(13)의 전기 저항이 확인되고,
상기 측정 전류 경로들은, 각 경우에, 코팅이 없는 분리 영역들(30)에 의해 상기 도전성 코팅 내에 형성되고, 상기 도전성 코팅에 의해 형성되어 있는 것인 방법.
제12항에 있어서, 측정 전류 경로(13)의 전기 저항이 사전 정의 가능한 임계치를 초과할 경우 상기 공급 전압이 감소되거나 차단되는 방법.
제12항 또는 제13항에 있어서, 측정 전류 경로(13)의 전기 저항이 사전 정의 가능한 임계치를 초과할 경우 광학 신호, 청각 신호, 또는 광학 신호 및 청각 신호가 출력되는 방법.
제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 따른 패널 히터(1)이며,
가구, 장치 또는 건물에서 기능적 또는 장식적 개별 부품으로 또는 붙박이 부품(built-in part)으로 사용되거나, 또는
육상, 공중 또는 수상에서의 이동을 위한 수송 수단에서 앞유리, 뒷창문, 옆창문 또는 유리 지붕으로서 사용되는,
패널 히터(1).