KR101236855B1 - 기판 처리 방법 및 장치 - Google Patents
기판 처리 방법 및 장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR101236855B1 KR101236855B1 KR1020087015337A KR20087015337A KR101236855B1 KR 101236855 B1 KR101236855 B1 KR 101236855B1 KR 1020087015337 A KR1020087015337 A KR 1020087015337A KR 20087015337 A KR20087015337 A KR 20087015337A KR 101236855 B1 KR101236855 B1 KR 101236855B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- substrate
- edge
- delete delete
- polishing
- polishing film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 208
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 30
- 238000012545 processing Methods 0.000 title description 3
- 238000005498 polishing Methods 0.000 claims abstract description 186
- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims description 45
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 claims description 19
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 7
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims description 2
- 239000003082 abrasive agent Substances 0.000 claims 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 17
- 230000007717 exclusion Effects 0.000 description 6
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 3
- 229920002635 polyurethane Polymers 0.000 description 3
- 239000004814 polyurethane Substances 0.000 description 3
- 239000004372 Polyvinyl alcohol Substances 0.000 description 2
- 239000008367 deionised water Substances 0.000 description 2
- 229910021641 deionized water Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 238000005461 lubrication Methods 0.000 description 2
- 229920002451 polyvinyl alcohol Polymers 0.000 description 2
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 2
- 229920002379 silicone rubber Polymers 0.000 description 2
- 239000004945 silicone rubber Substances 0.000 description 2
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 2
- 229920002554 vinyl polymer Polymers 0.000 description 2
- 229920004943 Delrin® Polymers 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011354 acetal resin Substances 0.000 description 1
- 239000003570 air Substances 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000013536 elastomeric material Substances 0.000 description 1
- 238000011010 flushing procedure Methods 0.000 description 1
- 239000006260 foam Substances 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 239000000314 lubricant Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000013011 mating Effects 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007517 polishing process Methods 0.000 description 1
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 1
- 229920006324 polyoxymethylene Polymers 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 239000004094 surface-active agent Substances 0.000 description 1
- 238000013519 translation Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/302—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
- H01L21/304—Mechanical treatment, e.g. grinding, polishing, cutting
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02002—Preparing wafers
- H01L21/02005—Preparing bulk and homogeneous wafers
- H01L21/02008—Multistep processes
- H01L21/0201—Specific process step
- H01L21/02021—Edge treatment, chamfering
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B21/00—Machines or devices using grinding or polishing belts; Accessories therefor
- B24B21/004—Machines or devices using grinding or polishing belts; Accessories therefor using abrasive rolled strips
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B9/00—Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor
- B24B9/02—Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of materials specific to articles to be ground
- B24B9/06—Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of materials specific to articles to be ground of non-metallic inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain
- B24B9/065—Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of materials specific to articles to be ground of non-metallic inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain of thin, brittle parts, e.g. semiconductors, wafers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Grinding And Polishing Of Tertiary Curved Surfaces And Surfaces With Complex Shapes (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
Abstract
Description
Claims (65)
- 기판 에지의 폴리싱 장치로서,기판에 맞춰 형상을 가지도록 구성되는 가요성 폴리싱 필름;상기 가요성 폴리싱 필름의 적어도 제 1 길이에 장력을 가하도록 구성되는 프레임으로서, 상기 가요성 폴리싱 필름의 제 1 길이는 기판과 접촉하기 이전에 제 1 평면을 형성하는, 프레임; 및기판 회전 구동기로서, 상기 기판의 에지와 상기 가요성 폴리싱 필름의 접촉 표면이 증가하게끔, 그리고 상기 가요성 폴리싱 필름이상기 기판에 장력을 가하고,적어도 외부 에지와 제 1 사면을 포함하는 상기 기판의 에지에 맞춰 형상을 가지며,상기 기판이 회전될 때 상기 외부 에지와 제 1 사면을 폴리싱하도록 구성되게끔, 상기 제 1 길이의 일부분을 따라 상기 가요성 폴리싱 필름에 대해 상기 기판을 회전시키도록 구성되는, 기판 회전 구동기를 포함하며,상기 가요성 폴리싱 필름과 상기 프레임은 교체가능한 카세트 내에 수용되는,기판 에지의 폴리싱 장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 프레임은 가요성 폴리싱 필름용 공급 스풀과 테이크-업 스풀을 포함하며, 상기 프레임은 또한 상기 기판과 접촉하는 상기 가요성 폴리싱 필름의 일부분이 교체될 수 있도록 구성되는,기판 에지의 폴리싱 장치.
- 제 2 항에 있어서,상기 가요성 폴리싱 필름은 길이방향에서 상기 공급 스풀과 상기 테이크-업 스풀 사이에 걸쳐 있으며, 상기 기판 회전 구동기는 상기 가요성 폴리싱 필름의 길이방향으로 상기 기판의 에지를 이동시키는,기판 에지의 폴리싱 장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 교체가능한 카세트는,상기 가요성 폴리싱 필름에 지지를 제공하기 위한 패드, 및가요성의 그리고 동적의(dynamic) 반대-압력을 상기 패드에 제공하기 위한 편향 장치를 더 포함하는,기판 에지의 폴리싱 장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 프레임은 또한 상기 가요성 폴리싱 필름이 상기 기판의 외부 에지, 제 1 사면, 및 제 2 사면과 접촉되도록 상기 기판의 외부 에지에 접하는 축 주위에서 상기 가요성 폴리싱 필름을 각운동시키도록 구성되는,기판 에지의 폴리싱 장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 프레임은 또한 상기 기판의 에지 주위에서 상기 가요성 폴리싱 필름을 상기 기판에 대해 원주 방향으로 회전시키도록 구성되는,기판 에지의 폴리싱 장치.
- 제 1 항에 있어서,유체 공급 채널을 더 포함하며, 상기 유체 공급 채널은 상기 기판의 에지로 유체를 전달하도록 구성되는,기판 에지의 폴리싱 장치.
- 제 7 항에 있어서,상기 유체 공급 채널은 또한 상기 가요성 폴리싱 필름을 통해 상기 기판의 에지로 유체를 전달하도록 구성되는,기판 에지의 폴리싱 장치.
- 제 7 항에 있어서,상기 유체 공급 채널은 상기 기판의 에지로 소닉 에너지를 전달하도록 구성되는,기판 에지의 폴리싱 장치.
- 기판 에지의 폴리싱 장치로서,기판에 맞춰 형상을 가지도록 구성되는 복수의 가요성 폴리싱 필름;각각의 가요성 폴리싱 필름의 적어도 제 1 길이를 따라 상기 가요성 폴리싱 필름 각각에 장력을 가하도록 구성되는 하나 이상의 프레임으로서, 각각의 상기 가요성 폴리싱 필름의 제 1 길이는 상기 기판과 접촉하기 이전에 제 1 평면을 형성하는, 하나 이상의 프레임; 및기판 회전 구동기로서, 상기 기판의 에지와 상기 가요성 폴리싱 필름의 접촉 표면이 증가하게끔, 그리고 상기 기판과 접촉하는 임의의 가요성 폴리싱 필름이 상기 기판에 압력을 가하고, 상기 기판의 에지에 맞춰 형상을 가지며, 상기 기판이 회전될 때 상기 에지를 폴리싱하게끔, 상기 가요성 폴리싱 필름 중 하나 이상의 상기 제 1 길이의 일부분에 대해 상기 기판을 회전시키도록 구성되는, 기판 회전 구동기를 포함하며,상기 각각의 가요성 폴리싱 필름이 교체가능한 카세트 내에 수용되는,기판 에지의 폴리싱 장치.
- 제 10 항에 있어서,상기 프레임은 복수의 헤드를 포함하며, 각각의 상기 헤드는 하나 이상의 가요성 폴리싱 필름을 지지하도록 구성되며, 상기 복수의 헤드는, 동시에, 지지된 가요성 폴리싱 필름을 상기 기판의 에지와 접촉시키도록 구성되는,기판 에지의 폴리싱 장치.
- 제 11 항에 있어서,각각의 가요성 폴리싱 필름과 각각의 헤드가 상기 교체가능한 카세트 내에 수용되는,기판 에지의 폴리싱 장치.
- 삭제
- 기판 에지의 폴리싱 장치로서,기판에 맞춰 형상을 가지도록 구성되는 가요성 폴리싱 필름;기판의 에지 형상과 정합하도록 사전-형성된 형상 맞춤 패드로서, 상기 기판의 에지와 일치하도록 구성되는, 형상 맞춤 패드;상기 가요성 폴리싱 필름의 적어도 제 1 길이에 장력을 가하도록 구성되는 프레임으로서, 상기 가요성 폴리싱 필름의 제 1 길이는 상기 기판과 접촉하기 이전에 제 1 평면을 형성하는 프레임; 및기판 회전 구동기로서, 상기 기판의 에지와 상기 가요성 폴리싱 필름의 접촉 표면이 증가하게끔, 그리고 상기 가요성 폴리싱 필름이상기 기판에 장력을 가하고,적어도 외부 에지와 제 1 사면을 포함하는 상기 기판의 에지에 맞춰 형상을 가지며,상기 기판이 회전될 때 상기 외부 에지와 상기 제 1 사면을 폴리싱하도록 구성되게끔, 상기 제 1 길이의 일부분을 따라 상기 가요성 폴리싱 필름에 대해 상기 기판을 회전시키도록 구성되는 기판 회전 구동기를 포함하며,상기 가요성 폴리싱 필름이 교체가능한 카세트 내에 수용되는,기판 에지의 폴리싱 장치.
- 삭제
- 삭제
- 제 7 항에 있어서,상기 유체는 물과 세정 화학물 중 하나 이상을 포함하는,기판 에지의 폴리싱 장치.
- 제 10 항에 있어서,상기 복수의 가요성 폴리싱 필름은 상이한 연마제를 가지는 필름을 포함하는,기판 에지의 폴리싱 장치.
- 제 10 항에 있어서,상기 프레임은 복수의 헤드를 포함하며, 각각의 헤드는 하나 이상의 가요성 폴리싱 필름을 지지하도록 구성되며, 각각의 상기 헤드는 지지된 가요성 폴리싱 필름을 상이한 시간에 상기 기판의 에지와 접촉시켜 유지하도록 구성되는 패드를 포함하는,기판 에지의 폴리싱 장치.
- 제 19 항에 있어서,각각의 상기 헤드의 패드는 상기 패드를 압박하는 액추에이터에 응답하여 회전하는 기판에 대해 상기 헤드의 가요성 폴리싱 필름을 압박하도록 구성되는,기판 에지의 폴리싱 장치.
- 제 19 항에 있어서,상기 프레임은 또한 상기 가요성 폴리싱 필름이 상기 기판의 외부 에지, 제 1 사면 및 제 2 사면과 접촉되도록 상기 기판의 외부 에지에 접하는 각각의 축 주위에서 각각의 헤드의 가요성 폴리싱 필름을 각운동시키도록 구성되는,기판 에지의 폴리싱 장치.
- 제 19 항에 있어서,상기 프레임은 또한 상기 기판의 에지 주위에서 각각의 헤드의 가요성 폴리싱 필름을 상기 기판에 대해 원주 방향으로 회전시키도록 구성되는,기판 에지의 폴리싱 장치.
- 제 10 항에 있어서,유체 공급 채널을 더 포함하며, 상기 유체 공급 채널은 상기 기판의 에지에 유체를 전달하도록 구성되는,기판 에지의 폴리싱 장치.
- 제 19 항에 있어서,유체 공급 채널을 더 포함하며, 상기 유체 공급 채널은 또한 각각의 헤드의 가요성 폴리싱 필름을 통해 상기 기판의 에지에 유체를 전달하도록 구성되는,기판 에지의 폴리싱 장치.
- 제 23 항에 있어서,상기 유체 공급 채널은 상기 기판의 에지에 소닉 에너지를 전달하도록 구성되는,기판 에지의 폴리싱 장치.
- 제 23 항에 있어서,상기 유체는 물과 세정 화학물 중 하나 이상을 포함하는,기판 에지의 폴리싱 장치.
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US11/299,295 US7993485B2 (en) | 2005-12-09 | 2005-12-09 | Methods and apparatus for processing a substrate |
US11/299,295 | 2005-12-09 | ||
US11/298,555 US20070131653A1 (en) | 2005-12-09 | 2005-12-09 | Methods and apparatus for processing a substrate |
US11/298,555 | 2005-12-09 | ||
PCT/US2006/046765 WO2007070353A2 (en) | 2005-12-09 | 2006-12-07 | Methods and apparatus for processing a substrate |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20080075001A KR20080075001A (ko) | 2008-08-13 |
KR101236855B1 true KR101236855B1 (ko) | 2013-02-26 |
Family
ID=38163413
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020087015337A Expired - Fee Related KR101236855B1 (ko) | 2005-12-09 | 2006-12-07 | 기판 처리 방법 및 장치 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP1976806A4 (ko) |
JP (2) | JP2009518872A (ko) |
KR (1) | KR101236855B1 (ko) |
TW (1) | TWI362697B (ko) |
WO (1) | WO2007070353A2 (ko) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7993485B2 (en) | 2005-12-09 | 2011-08-09 | Applied Materials, Inc. | Methods and apparatus for processing a substrate |
US7976361B2 (en) * | 2007-06-29 | 2011-07-12 | Ebara Corporation | Polishing apparatus and polishing method |
JP5274993B2 (ja) * | 2007-12-03 | 2013-08-28 | 株式会社荏原製作所 | 研磨装置 |
JP2014083647A (ja) * | 2012-10-25 | 2014-05-12 | Avanstrate Inc | ガラス基板研磨用磁性流動体 |
KR102203498B1 (ko) * | 2013-01-31 | 2021-01-15 | 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 | 화학 기계적 평탄화후 기판 클리닝을 위한 방법 및 장치 |
KR102229920B1 (ko) | 2013-10-25 | 2021-03-19 | 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 | 화학 기계적 평탄화 후의 기판 버프 사전 세정을 위한 시스템, 방법 및 장치 |
DE102015008814A1 (de) * | 2015-07-10 | 2017-01-12 | Thielenhaus Technologies Gmbh | Andrückschuh mit Expansionskammer |
JP2017087305A (ja) * | 2015-11-02 | 2017-05-25 | 日本電気硝子株式会社 | 円板状ワークの研磨加工方法及び研磨加工装置 |
JP6920849B2 (ja) * | 2017-03-27 | 2021-08-18 | 株式会社荏原製作所 | 基板処理方法および装置 |
JP6414353B1 (ja) * | 2018-03-27 | 2018-10-31 | 株式会社不二越 | フィルムラップ加工装置 |
JP7121572B2 (ja) * | 2018-07-20 | 2022-08-18 | 株式会社荏原製作所 | 研磨装置および研磨方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH081494A (ja) * | 1994-06-27 | 1996-01-09 | Sanshin:Kk | ウエハー材縁端部研磨装置 |
WO2005081301A1 (en) * | 2004-02-25 | 2005-09-01 | Ebara Corporation | Polishing apparatus and substrate processing apparatus |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4533399A (en) * | 1983-04-12 | 1985-08-06 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Contact lens cleaning method |
JP2924890B2 (ja) * | 1998-04-20 | 1999-07-26 | トヨタ自動車株式会社 | 研摩方法 |
US6629875B2 (en) * | 2000-01-28 | 2003-10-07 | Accretech Usa, Inc. | Machine for grinding-polishing of a water edge |
US6622334B1 (en) * | 2000-03-29 | 2003-09-23 | International Business Machines Corporation | Wafer edge cleaning utilizing polish pad material |
JP2002154041A (ja) * | 2000-11-17 | 2002-05-28 | I M T Kk | 研磨装置 |
JP4156200B2 (ja) * | 2001-01-09 | 2008-09-24 | 株式会社荏原製作所 | 研磨装置及び研磨方法 |
JP4125148B2 (ja) * | 2003-02-03 | 2008-07-30 | 株式会社荏原製作所 | 基板処理装置 |
JP2005186176A (ja) * | 2003-12-24 | 2005-07-14 | Shinko Electric Ind Co Ltd | ウエハ端面研磨装置 |
-
2006
- 2006-12-07 KR KR1020087015337A patent/KR101236855B1/ko not_active Expired - Fee Related
- 2006-12-07 EP EP06844980A patent/EP1976806A4/en not_active Withdrawn
- 2006-12-07 WO PCT/US2006/046765 patent/WO2007070353A2/en active Application Filing
- 2006-12-07 JP JP2008544516A patent/JP2009518872A/ja active Pending
- 2006-12-08 TW TW095146154A patent/TWI362697B/zh not_active IP Right Cessation
-
2012
- 2012-04-25 JP JP2012100094A patent/JP2012183637A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH081494A (ja) * | 1994-06-27 | 1996-01-09 | Sanshin:Kk | ウエハー材縁端部研磨装置 |
WO2005081301A1 (en) * | 2004-02-25 | 2005-09-01 | Ebara Corporation | Polishing apparatus and substrate processing apparatus |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI362697B (en) | 2012-04-21 |
JP2009518872A (ja) | 2009-05-07 |
TW200735200A (en) | 2007-09-16 |
JP2012183637A (ja) | 2012-09-27 |
WO2007070353A3 (en) | 2007-11-29 |
EP1976806A4 (en) | 2011-08-10 |
KR20080075001A (ko) | 2008-08-13 |
EP1976806A2 (en) | 2008-10-08 |
WO2007070353A2 (en) | 2007-06-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101236855B1 (ko) | 기판 처리 방법 및 장치 | |
US7993485B2 (en) | Methods and apparatus for processing a substrate | |
US20090017731A1 (en) | Methods and apparatus for processing a substrate | |
US20090036042A1 (en) | Methods and apparatus for polishing an edge of a substrate | |
US6358127B1 (en) | Method and apparatus for planarizing and cleaning microelectronic substrates | |
US20080293335A1 (en) | Methods and apparatus for substrate edge polishing using a polishing arm | |
TW200908125A (en) | Methods and apparatus for polishing a notch of a substrate using a polishing pad | |
US8142260B2 (en) | Methods and apparatus for removal of films and flakes from the edge of both sides of a substrate using backing pads | |
TWI440525B (zh) | 研磨裝置及研磨方法 | |
CN102007580A (zh) | 用于半导体制造中的衬底斜面和边缘抛光的低成本高性能抛光带的方法和装置 | |
US20080293341A1 (en) | Methods and apparatus for using a rolling backing pad for substrate polishing | |
US20080293334A1 (en) | Methods and apparatus for using a bevel polishing head with an efficient tape routing arrangement | |
US20110003540A1 (en) | Polishing apparatus | |
WO2008106221A1 (en) | Methods and apparatus for cleaning a substrate edge using chemical and mechanical polishing | |
JP4257017B2 (ja) | ウェーハの研磨装置 | |
US20100105291A1 (en) | Methods and apparatus for polishing a notch of a substrate |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PA0105 | International application |
Patent event date: 20080624 Patent event code: PA01051R01D Comment text: International Patent Application |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
A201 | Request for examination | ||
PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 20110629 Comment text: Request for Examination of Application |
|
PA0302 | Request for accelerated examination |
Patent event date: 20111026 Patent event code: PA03022R01D Comment text: Request for Accelerated Examination |
|
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20120106 Patent event code: PE09021S01D |
|
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20120729 Patent event code: PE09021S01D |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20121214 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20130219 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20130220 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20151230 Year of fee payment: 4 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20151230 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20161229 Year of fee payment: 5 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20161229 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee | ||
PC1903 | Unpaid annual fee |