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KR100917735B1 - 플라즈마 표시 장치 및 그의 구동 방법 - Google Patents

플라즈마 표시 장치 및 그의 구동 방법 Download PDF

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KR100917735B1
KR100917735B1 KR1020070122189A KR20070122189A KR100917735B1 KR 100917735 B1 KR100917735 B1 KR 100917735B1 KR 1020070122189 A KR1020070122189 A KR 1020070122189A KR 20070122189 A KR20070122189 A KR 20070122189A KR 100917735 B1 KR100917735 B1 KR 100917735B1
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scan
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signal
sustain
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허현구
안호영
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김경원
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삼성에스디아이 주식회사
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Abstract

본 발명은 어드레스 소비전력을 줄일 수 있는 플라즈마 표시 장치 및 플라즈마 표시 장치의 구동 방법에 관한 것이다.
이를 위해, 본 발명에 따른 플라즈마 표시 장치는 외부로부터 영상신호를 수신하여 어드레스 제어 신호와 스캔 제어 신호와 서스테인 제어 신호를 생성하며, 한 프레임을 다수의 서브필드로 분할하는 제어부; 상기 어드레스 제어 신호와 상기 스캔 제어 신호와 상기 서스테인 제어 신호와 대응되는 어드레스 펄스와 스캔 펄스와 서스테인 펄스를 생성하는 구동부; 및 어드레스 전극과 스캔 전극과 서스테인 전극을 포함하며, 상기 어드레스 펄스와 상기 스캔 펄스와 상기 서스테인 펄스에 의해 구동되는 플라즈마 표시 패널을 포함하며, 상기 제어부는 상기 다수의 서브필드 중 어드레스 소비전력이 기준값을 초과하는 서브필드를 체크하여, 상기 어드레스 소비 전력이 기준값을 초과하는 서브필드에 대해서 상기 스캔 펄스가 상기 스캔 전극 중 홀수번째 스캔 전극에만 인가되도록 설정하는 스캔 방식의 스캔 제어 신호 또는 상기 스캔 펄스가 짝수번째 스캔 전극에만 인가되도록 설정하는 스캔 방식의 스캔 제어 신호를 생성하며, 상기 스캔 전극의 스캔 방식에 따라 상기 어드레스 펄스가 상기 어드레스 전극에 인가될 수 있도록 어드레스 데이터가 재배열된 어드레스 제어 신호를 생성하는 것을 특징으로 한다.
어드레스 소비전력, 어드레스 데이터, 스캔 방식, 프로그래시브, 스캔 펄스

Description

플라즈마 표시 장치 및 그의 구동 방법{Plasma display device and driving method thereof}
본 발명은 어드레스 소비전력을 줄일 수 있는 플라즈마 표시 장치 및 플라즈마 표시 장치의 구동 방법에 관한 것이다.
플라즈마 표시 장치는 기체 방전에 의해 생성된 플라즈마를 이용하여 문자 또는 영상을 표시하는 평면 표시 장치로서, 이러한 플라즈마 표시 장치의 표시 패널에는 복수의 어드레스 전극, 스캔 전극, 및 서스테인 전극이 형성되고, 어드레스 전극, 스캔 전극, 및 서스테인 전극이 교차하는 지점에 방전 셀들이 형성된다.
일반적으로 플라즈마 표시 장치의 플라즈마 표시 패널은 한 프레임이 각각의 가중치를 가지는 복수의 서브필드로 분할되어 구동되며, 각 서브필드는 리셋 기간(reset period), 어드레스 기간(address period) 및 서스테인 기간(sustain period)으로 이루어진다. 리셋 기간은 어드레스 방전을 안정적으로 수행하기 위해 방전 셀을 초기화하는 기간이다. 어드레스 기간은 플라즈마 표시 패널에서 켜지는 셀과 켜지지 않는 셀을 선택하는 기간이다. 그리고 서스테인 기간은 켜지는 셀에 대해서 실제로 화상을 표시하기 위한 서스테인 방전을 수행하는 기간이다.
상기와 같은 방법으로 각 서브필드의 동작이 수행될 때, 스캔 전극과 서스테인 전극 사이, 어드레스 전극이 형성된 면과 스캔 및 서스테인 전극이 형성된 면 사이의 방전 공간 등은 용량성 부하로 작용하기 때문에 플라즈마 표시 패널에는 커패시턴스가 존재하게 된다.
따라서 어드레싱을 위한 파형을 인가하기 위해서는 어드레스 방전을 위한 어드레스 전력 뿐만 아니라 커패시턴스에 소정의 전압을 발생시키는 전하 주입용 무효 전력이 많이 필요하다. 그런데, 도트 패턴의 화면 구성에서와 같이 어드레스 전극의 데이터 변동이 많으면 어드레스 전극의 스위칭 횟수가 증가하기 때문에, 어드레스 전력이 더욱더 소비되는 문제점이 있다.
본 발명의 목적은 어드레스 소비전력을 줄일 수 있는 플라즈마 표시 장치 및 플라즈마 표시 장치의 구동 방법을 제공하는 데 있다.
상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치는 외부로부터 영상신호를 수신하여 어드레스 제어 신호와 스캔 제어 신호와 서스테인 제어 신호를 생성하며, 한 프레임을 다수의 서브필드로 분할하는 제어부; 상기 어드레스 제어 신호와 상기 스캔 제어 신호와 상기 서스테인 제어 신호와 대응되는 어드레스 펄스와 스캔 펄스와 서스테인 펄스를 생성하는 구동부; 및 어드레스 전극과 스캔 전극과 서스테인 전극을 포함하며, 상기 어드레스 펄스와 상기 스캔 펄스와 상기 서스테인 펄스에 의해 구동되는 플라즈마 표시 패널을 포함하며, 상기 제어부는 상기 다수의 서브필드 중 어드레스 소비전력이 기준값을 초과하는 서브필드를 체크하여, 상기 어드레스 소비 전력이 기준값을 초과하는 서브필드에 대해서 상기 스캔 펄스가 상기 스캔 전극 중 홀수번째 스캔 전극에만 인가되도록 설정하는 스캔 방식의 스캔 제어 신호 또는 상기 스캔 펄스가 짝수번째 스캔 전극에만 인가되도록 설정하는 스캔 방식의 스캔 제어 신호를 생성하며, 상기 스캔 전극의 스캔 방식에 따라 상기 어드레스 펄스가 상기 어드레스 전극에 인가될 수 있도록 어드레스 데이터가 재배열된 어드레스 제어 신호를 생성하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예에 따른 플라즈마 표 시 장치의 구동 방법은 복수의 어드레스 전극, 스캔 전극 및 서스테인 전극을 갖는 플라즈마 표시 패널을 포함하며, 외부로부터 입력되는 영상신호에 따라 한 프레임을 복수의 서브필드로 분할하여 상기 플라즈마 표시 패널을 구동하며,
상기 영상신호를 서브필드 데이터로 변환하고, 상기 서브필드 데이터를 이용하여 어드레스 데이터를 배열하는 서브필드 데이터 변환 단계; 상기 서브필드 데이터를 이용하여 어드레스 소비 전력이 기준값을 초과하는 서브필드를 체크하여, 상기 어드레스 소비전력이 기준값을 초과하는 서브필드에 대해서 상기 스캔 전극 중 홀수번째 스캔 전극에만 스캔 펄스가 인가되도록 설정하는 스캔 방식의 제 1 신호를 생성하거나, 상기 어드레스 소비전력이 기준값을 초과하는 서브필드에 대해서 짝수번째 스캔 전극에만 상기 스캔 펄스가 인가되도록 설정하는 스캔 방식의 제 2 신호를 생성하거나, 상기 어드레스 소비 전력이 기준값을 초과하는 서브필드들 중 인접하는 서브필드들에 대해서 상기 스캔 전극 중 홀수번째 스캔 전극에만 상기 스캔 펄스가 인가되도록 설정하는 스캔 방식과 짝수번째 스캔 전극에만 상기 스캔 펄스가 인가되도록 설정하는 스캔 방식이 교대로 이루어지도록 설정하는 제 3 신호를 생성하는 어드레스 소비전력 체크 단계; 상기 제 1 신호, 상기 제 2 신호 및 상기 제 3 신호 중 선택된 어느 하나의 신호에 대응하여 어드레스 펄스가 상기 어드레스 전극에 인가될 수 있도록 상기 어드레스 데이터를 재배열하는 어드레스 재배열 단계; 상기 제 1 신호, 상기 제 2 신호 및 상기 제 3 신호 중 선택된 어느 하나의 신호에 대응하여 상기 스캔 펄스가 상기 스캔 전극에 인가될 수 있도록 하고, 상기 신호에 해당하는 스캔 전극에 인가되는 서스테인 펄스 수를 상기 어드레스 소비전 력이 기준값 이하인 경우의 스캔 전극에 인가되는 서스테인 펄스 수보다 많도록 설정하는 스캔 제어 신호를 생성하는 스캔 제어 신호 생성 단계; 및 상기 신호에 해당하는 스캔 전극과 대응하는 서스테인 전극에 인가되는 서스테인 펄스 수를 상기 어드레스 소비전력이 기준값 이하인 경우의 서스테인 전극에 인가되는 서스테인 펄스 수보다 많도록 설정하는 서스테인 제어 신호를 생성하는 서스테인 제어 신호 생성 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치 및 그의 구동 방법은 어드레스 소비전력이 기준값을 초과하는 서브필드에 대해서 스캔 펄스를 홀수번째 스캔 전극에만 인가시키는 스캔 방식이나 짝수번째 스캔 전극에만 인가시키는 스캔 방식을 적용하여 어드레스 데이터를 재배열시킴으로써, 어드레스 전극의 스위칭 횟수를 줄여 어드레스 소비전력을 줄일 수 있다.
이하 도면을 참조하면서 실시예를 통해 본 발명을 보다 상세히 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 플라즈마 표시 장치를 나타내는 블럭도이고, 도 2는 도 1에 도시된 제어부를 구체적으로 나타내는 블럭도이고, 도 3은 도트 패턴 화상 데이터를 나타내는 예시도이고, 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치에서 어드레스 소비전력이 기준값을 초과하는 경우 스캔 펄스 인가 순서 및 어드레스 펄스 인가 순서를 개념적으로 나타내는 개념도이고, 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치에서 어드레스 소비전력이 기준값을 초과하는 경우 또다른 스캔 펄스 인가 순서 및 어드레스 펄스 인가 순서를 개념적으로 나타내는 개념도이고, 도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치에서 어드레스 소비전력이 기준값 이하인 경우 스캔 펄스 인가 순서 및 어드레스 펄스 인가 순서를 개념적으로 나타내는 개념도이고, 도 7은 동일한 서브필드에서 어드레스 소비전력이 기준값 이하인 경우 할당되는 서스테인 펄스 수와 어드레스 소비전력이 기준값을 초과하는 경우 할당되는 서스테인 펄스 수를 비교하기 위한 예시도이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치는 플라즈마 표시 패널(100), 어드레스 구동부(200), 스캔 구동부(300), 서스테인 구동부(400), 및 제어부(500)를 포함한다.
플라즈마 표시 패널(100)은 매트릭스 형태로 배열된 다수의 방전셀(C)들을 이용하여 화상을 표시한다. 방전셀(C)은 열방향으로 신장된 다수의 어드레스 전극들(A1 내지 Am)과, 행방향으로 신장된 다수의 스캔 전극들(Y1 내지 Yn)과, 스캔 전극들(Y1 내지 Yn)과 쌍을 이루면서 행방향으로 신장된 다수의 서스테인 전극들(X1 내지 Xn)로 구성된다. 여기서, 어드레스 전극들(A1 내지 Am)은 스캔 전극들(Y1 내지 Yn)과 서스테인 전극들(X1 내지 Xn)과 교차하도록 형성된다.
어드레스 구동부(200)는 제어부(500)로부터의 어드레스 제어신호에 응답하여 표시하고자 하는 방전셀을 선택하기 위한 데이터 신호를 어드레스 전극들(A1 내지 Am)에 공급한다.
스캔 구동부(300)는 제어부(500)로부터 스캔 제어신호에 응답하여 스캔 전극들(Y1 내지 Yn)에 구동 전압들을 인가한다.
서스테인 구동부(400)는 제어부(500)로부터 서스테인 제어 신호에 응답하여 서스테인 전극들(X1 내지 Xn)에 구동 전압을 인가한다.
제어부(500)는 한 프레임을 복수의 서브필드로 분할하여 구동하며, 각 서브필드는 시간적인 동작 변화로 표현하면 리셋 기간, 어드레스 기간 및 서스테인 기간으로 이루어진다. 그리고, 제어부(500)는 수직/수평 동기신호를 입력받아 각 구동부(200,300,400)에 필요한 어드레스 제어 신호, 스캔 제어 신호 및 서스테인 제어 신호를 생성한다. 생성된 제어신호는 해당 구동부(200,300,400)에 공급됨으로써 제어부(500)는 각 구동부(200,300,400)를 제어하게 된다.
이러한 제어부(500)에 대하여 도 2를 참조하여 구체적으로 설명하기로 한다.
도 2에 도시된 제어부(500)는 역감마 보정부(512), 오차 확산부(514), 서브필드 생성부(516), 소비전력 체크부(518), 메모리 제어부(520), APC(Auto Power Control)부(522), 서스테인 개수 발생부(524), 서스테인 펄스 조절부(526), 스캔 제어부(528), 및 서스테인 제어부(530)를 포함한다. 이러한 구성으로 인해, 제어부(500)는 어드레스 소비전력이 기준값을 초과하는 서브필드에 대해서 어드레스 전극에 인가되는 어드레스 펄스의 어드레스 데이터를 재배열하여 어드레스 전극의 스위칭 회수를 줄임으로써, 어드레스 소비전력을 줄일 수 있다.
역감마 보정부(512)는 입력되는 영상신호를 역감마 곡선에 매핑시켜 비트 변환된 영상신호로 보정한다. 즉, n 비트의 R, G, B 영상신호를 역감마 곡선에 매핑 시켜 m 비트(m>n)의 영상신호로 보정한다. 일반적인 플라즈마 표시 장치에서 n은 8이 사용되고 m은 10또는 12가 사용된다.
역감마 보정부(512)에 입력되는 영상신호는 디지털 신호로서, 플라즈마 표시 장치에 아날로그 영상신호가 입력되는 경우에는 아날로그 디지털 변환기(도시하지 않음)로 아날로그 영상신호를 디지털 영상신호로 변환할 필요가 있다. 그리고 역감마 보정부(512)는 영상신호를 매핑하기 위한 역감마 곡선에 해당하는 데이터를 논리 연산으로 생성하기 위한 논리 회로(도시하지 않음)를 포함할 수 있다.
오차 확산부(514)는 역감마 보정부(512)에 의해 역감마 보정되어 확장된 비트(m)의 영상의 하위 m-n 비트 영상을 주위 화소로 오차 확산하여 표시한다. 오차 확산은 오차 확산하고자 하는 하위 비트에 대한 영상을 분리하여 인접 화소로 확산시킴으로써 하위 비트에 대한 영상을 표시하는 방법으로 당업자가 용이하게 알 수 있는 내용이므로 이에 대한 자세한 설명은 생략한다.
서브필드 생성부(516)는 오차 확산부(514)로부터 출력되는 영상 데이터의 계조에 대응하는 개수의 서브필드를 생성하고, 그 서브필드 개수에 대응하는 서브필드 데이터를 생성한다. 서브필드 생성부(516)에 의해 발생된 서브필드 데이터는 후술되는 소비전력 체크부(518)와 메모리 제어부(520)에 전송된다.
소비전력 체크부(518)는 서브필드 생성부(516)로부터 전송되는 서브필드 데이터가 소비전력이 많이 소비되는 데이터인지 판단한다. 소비전력이 많이 소비되는 데이터는 어드레스 전극의 스위칭 횟수가 많은 데이터로서, 예를 들어 도 3에 도시된 도트 패턴 데이터 또는 라인 패턴 데이터(미도시)와 같이 동일 칼럼(열) 내 에서 인접한 라인(행)과 라인(행)의 어드레스 데이터(즉, 서브필드 데이터)가 서로다른 경우에 많이 발생한다.
스위칭 상태 변화는 열 방향으로 인접한 두 방전 셀 중 하나의 방전 셀이 온이고 다른 방전 셀이 오프인 경우에 발생하므로, 어드레스 소비 전력은 수학식 1에 나타낸 것처럼 열 방향으로 인접한 두 방전 셀의 온/오프 데이의 총합으로 계산될 수 있다.
Figure 112007085845348-pat00001
여기서, Rij, Gij, Bij는 각각 i행 및 j열의 R(red), G(green), B(blue) 방전 셀의 온/오프 데이터이다.
일반적으로 영상신호는 행 순서대로 직렬로 입력되므로 인접한 두 방전 셀의 온/오프 데이터의 차이를 계산하기 위해서, 소비전력 체크부(518)는 한 행의 영상신호를 저장하기 위한 라인 메모리(미도시)를 포함한다. 소비전력 체크부(518)는 한 행의 영상신호에 대한 서브필드별 온/오프 데이터가 입력되는 경우에 이를 라인 메모리에 순차적으로 저장하며 라인 메모리에 저장된 이전 행의 데이터를 판독하여 인접한 두 방전 셀에서 서브필드별로 온/오프 데이터의 차이를 계산한다. 그리고, 소비전력 체크부(518)는 이와 같이 계산한 결과를 모든 방전 셀에 대해서 서브필드 별로 계산하여 계산 결과의 총합으로서 어드레스 소비 전력을 구한다. 또한, 소비전력 체크부(518)는 두 방전 셀에서의 서브필드별 온/오프 데이터의 차이를 온/오프 데이터의 XOR(exclusive OR) 연산으로 계산할 수도 있다.
소비전력 체크부(518)는 상기 수학식 1과 같은 방법으로 서브필드별 어드레스 소비 전력을 계산하고, 계산된 서브필드별 소비전력이 기준값과 비교하여 기준값을 초과하는 경우에는 메모리 제어부(520), 후술되는 서스테인 펄스 조절부(526), 및 스캔 제어부(528)로 스캔 방식에 관한 신호(제 1 신호 또는 제 2 신호)를 출력한다. 여기서, 기준값은 상기 한 프레임에서 다수의 서브필드들의 평균 어드레스 소비전력이다.
소비전력 체크부(518)로부터 출력되는 신호는 서브필드별로 입력되는 영상신호가 어드레스 소비전력이 많이 소비하는 데이터인 경우(즉, 기준값을 초과하는 경우) 인터레이스(즉, 소비전력 체크부(518)는 제 1 신호를 출력하여 도 4에서와 같이 홀수번째 스캔 전극(Y1, Y3,...Yn-1)에만 스캔 펄스를 인가 되도록 하거나, 소비전력 체크부(518)는 제 2 신호를 출력하여 도 5에서와 같이 짝수번째 스캔 전극(Y2, Y4,...Yn)에만 스캔 펄스를 인가 되도록 하는 스캔 방식을 말함)로 스캔할 것이라는 신호를 의미한다.
또한, 소비전력 체크부(518)로부터 출력되는 신호는 어드레스 소비전력이 적게 소비되는 데이터인 경우(즉, 기준값 이하인 경우) 프로그레시브(즉, 소비전력 체크부(518)는 제 4 신호를 출력하여 도 6에서와 같이 홀수번째 스캔 전극(Y1, Y3,...Yn-1)과 짝수번째 스캔 전극(Y2, Y4,...Yn) 모두에 스캔 펄스가 인가되도록 하는 스캔 방식을 말함)로 스캔할 것이라는 의미를 포함할 수 있다. 이러한 신호는 메모리 제어부(520), 서스테인 펄스 조절부(526), 및 스캔 제어부(528)로 전송된다.
메모리 제어부(520)는 서브필드 생성부(516)로부터의 서브필드 데이터를 플라즈마 표시 패널(100)을 구동하기 위한 어드레스 데이터로 재배열하여 어드레스 구동부(200)에 공급한다. 구체적으로, 메모리 제어부(520)는 한 프레임에 포함된 복수의 서브필드별로 어드레스 데이터를 프레임 메모리(미도시)에 저장하고, 각 서브필드 별로 모든 화소에 대한 어드레스 데이터를 프레임 메모리에서 읽어 들여 어드레스 구동부(200)에 공급한다. 여기서, 메모리 제어부(520)는 상기와 같이 소비전력 체크부(518)로부터 스캔 방식에 관한 신호를 전송받은 경우에는 서브필드 데이터를 어드레스 데이터로 재배열하는데 과정에서 스캔 방식에 맞게 어드레스 데이터가 재배열되도록 한다. 즉, 메모리 제어부(520)는 소비전력 체크부(518)로부터 제 1 신호를 수신하면 도 4에 나타낸 바와 같이 어드레스 펄스가 홀수번째 어드레스 전극(A1, A3,,...Am-1)에 할당되도록 어드레스 데이터를 재배열하고, 소비전력 체크부(518)로부터 제 2 신호를 수신하면 도 5에 나타낸 바와 같이 어드레스 펄스가 짝수번째 어드레스 전극(A2, A4,...Am)에 할당되도록 어드레스 데이터를 재배열한다. 여기서, 메모리 제어부(520)는 소비전력 체크부(518)로부터 제 4 신호를 수신하면 도 6에 도시된 바와 같이 어드레스 펄스가 홀수번째 어드레스 전극(A1, A3,,...Am-1)과 짝수번째 어드레스 전극(A2, A4,...Am) 모두에 할당되도록 어드레스 데이터를 배열한다.
이러한 메모리 제어부(520)는 재배열된 어드레스 데이터에 대응되는 어드레스 제어 신호를 생성하여 어드레스 구동부(200)에 공급한다. 그럼, 어드레스 구동부(200)는 어드레스 제어 신호에 대응하는 어드레스 펄스를 각 어드레스 전극(A1 내지 Am)에 인가한다. 이와 같이, 메모리 제어부(520)는 스캔 전극(Y1 내지 Yn)의 스캔 방식에 따라 어드레스 데이터를 재배열함으로써 어드레스 구동부(200)가 어드레스 전극(A1 내지 Am)의 스위칭 횟수를 줄일 수 있도록 한다.
APC부(522)는 오차 확산부(514)에서 출력되는 영상 데이터를 사용하여 부하율을 검출하고, 검출된 부하율에 따라 APC 레벨을 계산하며, 계산된 APC 레벨에 대응되는 서스테인 펄스 수 등을 산출하여 출력한다.
서스테인 개수 발생부(524)는 APC부(522)로부터 전송되는 서스테인 펄스 수 정보를 이용하여 각 서브필드의 서스테인 펄스 수를 할당한다.
서스테인 펄스 조절부(526)는 서스테인 개수 발생부(524)로부터 각 서브필드에 할당되는 서스테인 펄스 수 정보를 수신한다. 여기서, 서스테인 펄스 조절부(526)는 소비전력 체크부(518)로부터 제 1 신호를 수신하면, 예를 들어 도 7에 도시된 바와 같이, 동일한 서브필드에 대해서 어드레스 소비 전력이 기준값을 초과하는 경우 서스테인 기간동안 스캔 전극 (Y1)과 서스테인 전극(X1)에 인가되는 서스테인 펄스 수를 휘도 보상을 위해 어드레스 소비 전력이 기준값 이하인 경우 서스테인 기간동안 스캔 전극 (Y1)과 서스테인 전극(X1)에 할당된 서스테인 펄스 수보다 많도록, 예를 들어 두배가 되도록 서스테인 펄스 수 정보를 변경한다. 이는, 어드레스 소비 전력이 기준값을 초과하는 서브필드에 대해서 홀수번째 스캔 전 극(Y1, Y3,...Yn-1)에만 스캔 펄스를 인가하거나 짝수번째 스캔 전극(Y2, Y4,...Yn)에만 스캔 펄스를 인가하는 경우, 어드레스 소비 전력이 기준값 이하인 서브필드에 대해서 홀수번째 스캔 전극(Y1, Y3,...Yn-1)과 짝수번째 스캔 전극(Y2, Y4,...Yn) 모두를 스캔하는 경우에 비해 휘도가 낮기 때문이다.
스캔 제어부(528)는 소비전력 체크부(518)로부터 수신하는 스캔 방식에 관한 신호 및 서스테인 펄스 조절부(526)로부터 수신하는 서스테인 펄스 수 정보와 대응되는 스캔 제어 신호를 생성하여 스캔 구동부(300)에 공급한다. 그럼, 스캔 구동부(300)는 스캔 제어 신호에 대응하는 스캔 펄스 및 서스테인 펄스를 스캔 전극(Y1 내지 Yn)에 인가한다. 이와 같이, 스캔 제어부(528)는 스캔 구동부(300)를 통해 어드레스 소비전력이 기준값을 초과하는 서브필드에 대해서 홀수번째 스캔 전극(Y1, Y3,...Yn-1)에만 스캔 펄스를 인가하도록 하거나 짝수번째 스캔 전극(Y2, Y4,...Yn)에만 스캔 펄스를 인가하도록 한다.
서스테인 제어부(530)는 서스테인 펄스 조절부(526)로부터 수신하는 서스테인 펄스 수 정보와 대응되는 서스테인 제어 신호를 생성하여 서스테인 구동부(400)에 공급한다. 그럼, 서스테인 구동부(400)는 서스테인 제어 신호에 대응하는 서스테인 펄스를 서스테인 전극(X1 내지 Xn)에 인가한다.
상기와 같이 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치는 제어부(500)에 의해 어드레스 소비전력이 기준값을 초과하는 서브필드에 대해서 홀수번째 스캔 전극에만 스캔 펄스를 인가하는 스캔 방식을 적용시키거나 짝수번째 스캔 전극에만 스캔 펄스를 인가하는 스캔 방식을 적용하여 어드레스 전극에 인가하는 어드레스 펄스의 어드레스 데이터를 재배열시킴으로써, 어드레스 전극의 스위칭 횟수를 줄일 수 있다. 이에 따라, 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치는 어드레스 전극의 스위칭 횟수에 따라 달라지는 어드레스 소비전력을 줄일 수 있다.
또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치는 제어부(500)에 의해 어드레스 소비전력이 기준값을 초과하는 서브필드에 대해서 스캔 방식을 홀수번째 스캔 전극에만 스캔 펄스를 인가하도록 설정하거나 짝수번째 스캔 전극에만 스캔 펄스를 인가하도록 설정하는 경우 어드레스 소비전력이 기준값을 초과하는 서브필드의 서스테인 펄스 수를 증가시키도록 설정함으로써, 어드레스 소비전력이 기준값을 초과하는 서브필드에서 발생할 수 있는 휘도 저하를 보상할 수 있다.
다음은 본 발명의 다른 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치에 대해 설명하기로 한다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치는 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치와 동일한 구성을 가진다. 다만, 본 발명의 다른 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치의 제어부의 일부 구성이 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치의 제어부의 일부 구성과 동작에 있어서 상이함을 갖는다. 이에 따라, 본 발명의 다른 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치의 제어부 일부 구성에 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치의 제어부의 일부 구성과 다른 도면 부호를 부여하기로 하며, 본 발명의 다른 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치의 제어부 일부 구성에 대해 중점적으로 설명하기로 하며, 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치의 제어부를 구체적으로 나타내는 블럭도이다.
도 8을 참조하면, 본 발명의 다른 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치의 제어부(600)는 역감마 보정부(512), 오차 확산부(514), 서브필드 생성부(516), 소비전력 체크부(618), 메모리 제어부(620), APC(Auto Power Control)부(522), 서스테인 개수 발생부(524), 서스테인 펄스 조절부(626), 스캔 제어부(628), 및 서스테인 제어부(630)를 포함한다. 이러한 구성으로 인해, 제어부(600)는 어드레스 소비전력이 기준값을 초과하는 서브필드에 대해서 어드레스 전극에 인가되는 어드레스 펄스의 어드레스 데이터를 재배열하여 어드레스 전극의 스위칭 횟수를 줄임으로써, 어드레스 소비전력을 줄일 수 있다.
소비전력 체크부(618)는 상기 수학식 1과 같은 방법으로 서브필드별 어드레스 소비 전력을 계산하고, 계산된 서브필드별 소비전력이 기준값과 비교하여 기준값을 초과하는 경우에는 메모리 제어부(620), 후술되는 서스테인 펄스 조절부(626), 및 스캔 제어부(628)로 스캔 방식에 관한 신호(제 3 신호)를 출력한다.
소비전력 체크부(618)로부터 출력되는 신호는 서브필드별로 입력되는 영상신호가 어드레스 소비전력이 많이 소비하는 데이터인 경우(즉, 기준값을 초과하는 경우) 인터레이스(즉, 소비전력 체크부(618)는 제 3 신호를 출력하여 어드레스 소비전력이 기준값을 초과하는 다수의 서브필드들 중 인접한 서브필드들, 예를 들어 임의의 서브필드에 대해서 도 4에서와 같이 홀수번째 스캔 전극(Y1, Y3,...Yn-1)에만 스캔 펄스를 인가 되도록 하고, 임의의 서브필드의 다음 서브필드에 대해서 도 5에서와 같이 짝수번째 스캔 전극(Y2, Y4,...Yn)에만 스캔 펄스를 인가하도록 하거나, 반대로 임의의 서브필드에 대해서 도 5에서와 같이 짝수번째 스캔 전극(Y2, Y4,...Yn)에만 스캔 펄스를 인가 되도록 하고, 임의의 서브필드의 다음 서브필드에 대해서 도 4에서와 같이 홀수번째 스캔 전극(Y1, Y3,...Yn-1)에만 스캔 펄스를 인가 되도록 하는 스캔 방식을 말함)로 스캔할 것이라는 신호를 의미한다.
또한, 소비전력 체크부(618)로부터 출력되는 신호는 어드레스 소비전력이 적게 소비되는 데이터인 경우(즉, 기준값 이하인 경우) 프로그레시브(즉, 소비전력 체크부(618)는 제 4 신호를 출력하여 도 6에서와 같이 홀수번째 스캔 전극(Y1, Y3,...Yn-1)과 짝수번째 스캔 전극(Y2, Y4,...Yn) 모두에 스캔 펄스가 인가되도록 하는 스캔 방식을 말함)로 스캔할 것이라는 의미를 포함할 수 있다. 이러한 신호는 메모리 제어부(620), 서스테인 펄스 조절부(626), 및 스캔 제어부(628)로 전송된다.
메모리 제어부(620)는 서브필드 생성부(516)로부터의 서브필드 데이터를 플라즈마 표시 패널(100)을 구동하기 위한 어드레스 데이터로 재배열하여 어드레스 구동부(200)에 공급한다. 여기서, 메모리 제어부(620)는 상기와 같이 소비전력 체크부(618)로부터 스캔 방식에 관한 신호를 전송받은 경우에는 서브필드 데이터를 어드레스 데이터로 재배열하는데 과정에서 스캔 방식에 맞게 어드레스 데이터가 재배열되도록 한다. 예를 들어, 메모리 제어부(620)가 소비전력 체크부(618)로부터 제 3 신호(즉, 어드레스 소비전력이 기준값을 초과하는 다수의 서브필드들 중 임의 의 서브필드에 대해서 도 4에서와 같이 홀수번째 스캔 전극(Y1, Y3,...Yn-1)에만 스캔 펄스가 인가되도록 하고, 상기 어드레스 소비 전력이 기준값을 초과하는 서브필드들 중 상기 임의의 서브필드 다음의 서브필드에 대해서 도 5에서와 같이 짝수번째 스캔 전극(Y2, Y4,...Yn)에만 스캔 펄스가 인가되도록 하는 신호)를 수신하는 경우, 메모리 제어부(620)는 어드레스 소비전력이 기준값을 초과하는 다수의 서브필드들 중 임의의 서브필드에 대해서 어드레스 펄스가 홀수번째 어드레스전극(A1, A3,,...Am-1)에 할당되도록 어드레스 데이터를 재배열하고, 상기 어드레스 소비 전력이 기준값을 초과하는 서브필드들 중 상기 임의의 서브필드 다음의 서브필드에 대해서는 어드레스 펄스가 짝수번째 어드레스 전극(A2, A4,...Am)에 할당되도록 어드레스 데이터를 재배열한다.
또한, 메모리 제어부(620)는 소비전력 체크부(618)로부터 제 4 신호를 수신하면, 도 6에 도시된 바와 같이 어드레스 펄스가 홀수번째 어드레스 전극(A1, A3,,...Am-1)과 짝수번째 어드레스 전극(A2, A4,...Am) 모두에 할당되도록 어드레스 데이터를 배열한다.
이러한 메모리 제어부(620)는 재배열된 어드레스 데이터에 대응되는 어드레스 제어 신호를 생성하여 어드레스 구동부(200)에 공급한다. 그럼, 어드레스 구동부(200)는 어드레스 제어 신호에 대응하는 어드레스 펄스를 각 어드레스 전극(A1 내지 Am)에 인가한다. 이와 같이, 메모리 제어부(620)는 스캔 전극(Y1 내지 Yn)의 스캔 방식에 따라 어드레스 데이터를 재배열함으로써 어드레스 구동부(200)가 어드레스 전극(A1 내지 Am)의 스위칭 횟수를 줄일 수 있도록 한다.
서스테인 펄스 조절부(626)는 서스테인 개수 발생부(524)로부터 각 서브필드에 할당되는 서스테인 펄스 수 정보를 수신한다. 여기서, 서스테인 펄스 조절부(626)는 소비전력 체크부(618)로부터 제 3 신호를 수신하면, 동일한 서브필드에 대해서 어드레스 소비 전력이 기준값을 초과하는 경우 서스테인 기간동안 스캔 전극 (Y1 내지 Yn)과 서스테인 전극(X1 내지 Xn)에 인가되는 서스테인 펄스 수를 휘도 보상을 위해 어드레스 소비 전력이 기준값 이하인 경우 서스테인 기간동안 스캔 전극 (Y1 내지 Yn)과 서스테인 전극(X1 내지 Xn)에 할당된 서스테인 펄스 수보다 많도록, 예를 들어 두배가 되도록 서스테인 펄스 수 정보를 변경한다.
스캔 제어부(628)는 소비전력 체크부(528)로부터 수신하는 스캔 방식에 관한신호 및 서스테인 펄스 조절부(626)로부터 수신하는 서스테인 펄스 수 정보와 대응되는 스캔 제어 신호를 생성하여 스캔 구동부(300)에 공급한다. 그럼, 스캔 구동부(300)는 스캔 제어 신호에 대응하는 스캔 펄스 및 서스테인 펄스를 스캔 전극(Y1 내지 Yn)에 인가한다. 이와 같이, 스캔 제어부(628)는 스캔 구동부(300)를 통해 어드레스 소비 전력이 기준값을 초과하는 서브필드들 중 인접하는 서브필드들에 대해서 홀수번째 스캔 전극(Y1, Y3,...Yn-1)에만 스캔 펄스를 인가하도록 하는 스캔 방식과 짝수번째 스캔 전극(Y2, Y4,...Yn)에만 스캔 펄스를 인가하도록 하는 스캔 방식을 교대로 이루어지게 한다. 이에 따라, 스캔 제어부(628)는 스캔 전극(Y1 내지 Yn)이 전체적으로 골고루 사용될 수 있게 한다.
서스테인 제어부(630)는 서스테인 펄스 조절부(626)로부터 수신하는 서스테인 펄스 수 정보와 대응되는 서스테인 제어 신호를 생성하여 서스테인 구동부(400) 에 공급한다. 그럼, 서스테인 구동부(400)는 서스테인 제어 신호에 대응하는 서스테인 펄스를 서스테인 전극(X1 내지 Xn)에 인가한다.
상기와 같이 본 발명의 다른 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치는 제어부(600)에 의해 어드레스 소비 전력이 기준값을 초과하는 서브필드들 중 인접하는 서브필드들에 대해서 홀수번째 스캔 전극에만 스캔 펄스를 인가하도록 하는 스캔 방식과 짝수번째 스캔 전극에만 스캔 펄스를 인가하도록 하는 스캔 방식이 교대로 이루어지도록 하여, 어드레스 전극에 인가하는 어드레스 펄스의 어드레스 데이터를 재배열시킴으로써, 어드레스 전극의 스위칭 횟수를 줄일 수 있다. 이에 따라, 본 발명의 다른 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치는 어드레스 전극의 스위칭 횟수에 따라 달라지는 어드레스 소비전력을 줄일 수 있다.
또한, 본 발명의 다른 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치는 제어부(600)에 의해 스캔 전극이 전체적으로 골고루 사용될 수 있도록 하여, 스캔 전극을 효율적으로 사용할 수 있게 한다. 이에 따라, 본 발명의 다른 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치는 스캔 전극의 사용에 따라 달라질 수 있는 해상도를 높일 수 있다.
다음은 본 발명의 또다른 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치에 대해 설명하기로 한다.
본 발명의 또다른 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치는 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치와 동일한 구성을 가진다. 다만, 본 발명의 또다른 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치의 제어부의 일부 구성이 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치의 제어부의 일부 구성과 동작에 있어서 상이함을 갖는다. 이에 따라, 본 발명의 또다른 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치의 제어부 일부 구성에 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치의 제어부의 일부 구성과 다른 도면 부호를 부여하기로 하며, 본 발명의 또다른 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치의 제어부 일부 구성에 대해 중점적으로 설명하기로 하며, 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
도 9는 본 발명의 또다른 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치의 제어부를 구체적으로 나타내는 블럭도이고, 도 10은 도 9에 도시된 제어부를 갖는 플라즈마 표시 장치에서 어드레스 소비전력이 기준값을 초과하는 경우 스캔 펄스 인가 순서 및 어드레스 펄스 인가 순서를 개념적으로 나타내는 개념도이다.
도 9 및 도 10을 참조하면, 본 발명의 또다른 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치의 제어부(700)는 역감마 보정부(512), 오차 확산부(514), 서브필드 생성부(516), 소비전력 체크부(518), 메모리 제어부(720), APC(Auto Power Control)부(522), 서스테인 개수 발생부(524), 서스테인 펄스 조절부(726), 스캔 제어부(728), 및 서스테인 제어부(730)를 포함한다. 이러한 구성으로 인해, 제어부(700)는 어드레스 소비전력이 기준값을 초과하는 서브필드에 대해서 어드레스 전극에 인가되는 어드레스 데이터를 재배열하여 어드레스 전극의 스위칭 횟수를 줄임으로써, 어드레스 소비전력을 줄일 수 있다.
메모리 제어부(720)는 서브필드 생성부(516)로부터의 서브필드 데이터를 플라즈마 표시 패널(100)을 구동하기 위한 어드레스 데이터로 재배열하여 어드레스 구동부(200)에 공급한다. 여기서, 메모리 제어부(720)는 상기와 같이 소비전력 체크부(518)로부터 스캔 방식에 관한 신호를 전송받은 경우에는 서브필드 데이터를 어드레스 데이터로 재배열하는데 과정에서 스캔 방식에 맞게 어드레스 데이터가 재배열되도록 한다. 예를 들어, 신호가 어드레스 소비 전력이 기준값을 초과하는 서브필드에 대해서 홀수번째 스캔 전극(Y1, Y3, ..., Yn-1)에만 스캔 펄스를 인가하라는 제 1 신호일 경우, 메모리 제어부(720)는, 도 10에 나타낸 바와 같이, 어드레스 소비 전력이 기준값을 초과하는 서브필드에 대해서 어드레스 펄스가 홀수번째 어드레스 전극(A1, A3, ..., Am-1)에 할당되도록 어드레스 데이터를 재배열한다.
이러한 메모리 제어부(720)는 재배열된 어드레스 데이터에 대응되는 어드레스 제어 신호를 생성하여 어드레스 구동부(200)에 공급한다. 그럼, 어드레스 구동부(200)는 어드레스 제어 신호에 대응하는 어드레스 펄스를 각 어드레스 전극(A1 내지 Am)에 인가한다. 이와 같이, 메모리 제어부(720)는 스캔 전극(Y1 내지 Yn)의 스캔 방식에 따라 어드레스 데이터를 재배열함으로써 어드레스 구동부(200)가 어드레스 전극(A1 내지 Am)의 스위칭 횟수를 줄일 수 있도록 한다.
서스테인 펄스 조절부(726)는 서스테인 개수 발생부(524)로부터 각 서브필드에 할당되는 서스테인 펄스 수 정보를 수신한다. 예를 들어, 서스테인 펄스 조절부(726)가 소비전력 체크부(518)로부터 제 1 신호를 수신하면, 동일한 서브필드에 대해서 어드레스 소비 전력이 기준값을 초과하는 경우 서스테인 기간동안 홀수번째 스캔 전극(Y1, Y3,... Yn-1)과 홀수번째 서스테인 전극(X1, X3,... Xn-1)에 인가되는 서스테인 펄스 수를 휘도 보상을 위해 어드레스 소비 전력이 기준값 이하인 경 우 서스테인 기간동안 홀수번째 스캔 전극(Y1, Y3,... Yn-1)과 홀수번째 서스테인 전극(X1, X3,... Xn-1)에 할당된 서스테인 펄스 수보다 많도록, 예를 들어 두배가 되도록 서스테인 펄스 수 정보를 변경한다.
스캔 제어부(728)는 소비전력 체크부(518)로부터 수신하는 스캔 방식에 관한 신호 및 서스테인 펄스 조절부(726)로부터 수신하는 서스테인 펄스 수 정보와 대응되는 스캔 제어 신호를 생성하여 스캔 구동부(300)에 공급한다. 그럼, 스캔 구동부(300)는 스캔 제어 신호에 대응하는 스캔 펄스 및 서스테인 펄스를 스캔 전극(Y1 내지 Yn)에 인가한다. 여기서, 스캔 제어부(728)가 소비전력 체크부(518)로부터 제 1 신호를 수신하면, 스캔 제어부(728)은 도 4에 도시된 스캔 방식과 달리 스캔을 수행하지 않는 짝수번째 스캔 전극(Y2, Y4,...Yn)의 스캔은 생략한다는 의미를 포함하는 스캔 제어 신호를 생성할 수 있다. 이에 따라, 스캔 제어부(728)는 스캔 전극(Y1 내지 Yn)의 스캔 타임을 줄일 수 있도록 한다.
서스테인 제어부(730)는 서스테인 펄스 조절부(726)로부터 수신하는 서스테인 펄스 수 정보와 대응되는 서스테인 제어 신호를 생성하여 서스테인 구동부(400)에 공급한다. 그럼, 서스테인 구동부(400)는 서스테인 제어 신호에 대응하는 서스테인 펄스를 서스테인 전극(X1 내지 Xn)에 인가한다.
상기와 같이 본 발명의 또다른 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치는 제어부(700)에 의해 어드레스 소비전력이 기준값을 초과하는 서브필드에 대해서 스캔 전극의 스캔 펄스를 홀수번째 스캔 전극으로만 인가되도록 설정하거나 짝수번째 스캔 전극으로만 설정하고 스캔을 수행하지 않는 스캔 전극의 스캔은 생략하여, 어드 레스 데이터를 재배열시킴으로써 어드레스 전극의 스위칭 횟수를 줄일 수 있으며 스캔 전극의 스캔 타임을 줄일 수 있다.
이에 따라, 본 발명의 또다른 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치는 어드레스 전극의 스위칭 횟수에 따라 달라지는 어드레스 소비전력을 줄일 수 있으며, 또한 스캔 타임을 줄임으로써 어드레스 소비전력이 기준값을 초과하는 서브필드에서 두배의 서스테인 펄스 수를 인가할 수 있는 시간을 충분히 확보할 수 있다.
다음은 본 발명의 또다른 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치에 대해 설명하기로 한다.
본 발명의 또다른 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치는 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치와 동일한 구성을 가진다. 다만, 본 발명의 또다른 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치의 제어부의 일부 구성이 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치의 제어부의 일부 구성과 동작에 있어서 상이함을 갖는다. 이에 따라, 본 발명의 또다른 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치의 제어부 일부 구성에 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치의 제어부의 일부 구성과 다른 도면 부호를 부여하기로 하며, 본 발명의 또다른 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치의 제어부 일부 구성에 대해 중점적으로 설명하기로 하며, 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
도 11은 본 발명의 또다른 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치의 제어부를 구체적으로 나타내는 블럭도이고, 도 12는 도 11에 도시된 제어부를 갖는 플라즈마 표시 장치에서 어드레스 소비전력이 기준값을 초과하는 경우 스캔 펄스 인가 순서 및 어드레스 펄스 인가 순서를 개념적으로 나타내는 개념도이다.
도 11 및 도 12를 참조하면, 본 발명의 또다른 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치의 제어부(800)는 역감마 보정부(512), 오차 확산부(514), 서브필드 생성부(516), 소비전력 체크부(518), 메모리 제어부(820), APC(Auto Power Control)부(522), 서스테인 개수 발생부(524), 서스테인 펄스 조절부(826), 스캔 제어부(828), 및 서스테인 제어부(830)를 포함한다. 이러한 구성으로 인해, 제어부(800)는 어드레스 소비전력이 기준값을 초과하는 서브필드에 대해서 어드레스 전극에 인가되는 어드레스 펄스의 어드레스 데이터를 재배열하여 어드레스 전극의 스위칭 횟수를 줄임으로써, 어드레스 소비전력을 줄일 수 있다.
메모리 제어부(820)는 서브필드 생성부(516)로부터의 서브필드 데이터를 플라즈마 표시 패널(100)을 구동하기 위한 어드레스 데이터로 재배열하여 어드레스 구동부(200)에 공급한다. 여기서, 메모리 제어부(820)는 상기와 같이 소비전력 체크부(518)로부터 스캔 방식에 관한 신호를 전송받은 경우에는 서브필드 데이터를 어드레스 데이터로 재배열하는데 과정에서 스캔 방식에 맞게 어드레스 데이터가 재배열되도록 한다. 예를 들어, 신호가 어드레스 소비 전력이 기준값을 초과하는 서브필드에 대해서 홀수번째 스캔 전극(Y1, Y3,...Yn-1)에만 스캔 펄스를 인가하라는 제 1 신호일 경우, 메모리 제어부(820)는 도 12에 나타낸 바와 같이 어드레스 소비 전력이 기준값을 초과하는 서브필드에 대해서 어드레스 펄스가 홀수번째 어드레스 전극(A1, A3, ..., Am-1)에 할당되도록 어드레스 데이터를 재배열한다.
이러한 메모리 제어부(820)는 재배열된 어드레스 데이터에 대응되는 어드레스 제어 신호를 생성하여 어드레스 구동부(200)에 공급한다. 그럼, 어드레스 구동부(200)는 어드레스 제어 신호에 대응하는 어드레스 펄스를 각 어드레스 전극(A1 내지 Am)에 인가한다. 이와 같이, 메모리 제어부(820)는 스캔 전극(Y1 내지 Yn)의 스캔 방식에 따라 어드레스 데이터를 재배열함으로써 어드레스 구동부(200)가 어드레스 전극(A1 내지 Am)의 스위칭 횟수를 줄일 수 있도록 한다.
서스테인 펄스 조절부(826)는 서스테인 개수 발생부(524)로부터 각 서브필드에 할당되는 서스테인 펄스 수 정보를 수신한다. 예를 들어, 서스테인 펄스 조절부(826)가 소비전력 체크부(518)로부터 제 1 신호를 수신하면, 동일한 서브필드에 대해서 어드레스 소비 전력이 기준값을 초과하는 경우 서스테인 기간동안 홀수번째 스캔 전극(Y1, Y3,...Yn-1)과 홀수번째 서스테인 전극(X1, X3,...Xn-1)에 인가되는 서스테인 펄스 수를 휘도 보상을 위해 어드레스 소비 전력이 기준값 이하인 경우 서스테인 기간동안 홀수번째 스캔 전극(Y1, Y3,...Yn-1)과 홀수번째 서스테인 전극(X1, X3,...Xn-1)에 할당된 서스테인 펄스 수보다 많도록, 예를 들어 두배가 되도록 서스테인 펄스 수 정보를 변경한다.
스캔 제어부(828)는 소비전력 체크부(518)로부터 수신하는 스캔 방식에 관한 신호 및 서스테인 펄스 조절부(826)로부터 수신하는 서스테인 펄스 수 정보와 대응되는 스캔 제어 신호를 생성하여 스캔 구동부(300)에 공급한다. 그럼, 스캔 구동부(300)는 스캔 제어 신호에 대응하는 스캔 펄스 및 서스테인 펄스를 스캔 전극(Y1 내지 Yn)에 인가한다. 여기서, 스캔 제어부(828)가 소비전력 체크부(518)로부터 제 1 신호를 수신하면, 도 4에 도시된 스캔 방식과 달리 스캔을 수행하지 않는 짝수 라인의 스캔은 생략한다는 의미를 포함하는 스캔 제어 신호를 생성할 수 있다. 이에 따라, 스캔 제어부(728)는 스캔 타임을 줄일 수 있도록 한다. 또한, 스캔 제어부(828)가 소비전력 체크부(518)로부터 제 1 신호를 수신하면, 서스테인 기간에서 광축(서스테인 방전시 빛이 발광하는 시간축)을 변경시키지 않도록 홀수번째 스캔 전극(Y1, Y3,...Yn-1) 각 라인의 스캔 타임을 두배가 되도록 하는 의미를 포함하는 스캔 제어 신호를 생성할 수 있다. 즉, 스캔 제어부(828)는 홀수번째 스캔 전극(Y1, Y3,...Yn-1)에 인가되는 스캔 펄스수를 어드레스 소비전력이 기준값 이하인 서브필드의 홀수번째 스캔 전극(Y1, Y3,...Yn-1)에 할당된 스캔 펄스 수의 두배가 되도록 설정한다.
서스테인 제어부(830)는 서스테인 펄스 조절부(826)로부터 수신하는 서스테인 펄스 수 정보와 대응되는 서스테인 제어 신호를 생성하여 서스테인 구동부(400)에 공급한다. 그럼, 서스테인 구동부(400)는 서스테인 제어 신호에 대응하는 서스테인 펄스를 서스테인 전극(X1 내지 Xn)에 인가한다.
상기와 같이 본 발명의 또다른 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치는 제어부(800)에 의해 어드레스 소비전력이 기준값을 초과하는 서브필드에 대해서 스캔 전극의 스캔 방식을 홀수번째 스캔 전극에만 스캔 펄스를 인가하도록 설정하거나 짝수번째 스캔 전극에만 스캔 펄스를 인가하도록 설정하고 스캔 타임을 두배로 설정하여, 어드레스 데이터를 재배열시킴으로써 어드레스 전극의 스위칭 횟수를 줄일 수 있으며 광축의 변경을 방지할 수 있다.
이에 따라, 본 발명의 또다른 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치는 어드레스 전극의 스위칭 횟수에 따라 달라지는 어드레스 소비전력을 줄일 수 있으며, 광축의 변경으로 인해 발생하는 플리커 등을 방지할 수 있다.
이하에서는 본 발명의 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치의 구동 방법에 대해 설명하기로 한다.
도 13은 본 발명의 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치의 구동 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
도 13을 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치의 구동 방법은 서브필드 데이터 변환 단계(S10), 어드레스 소비전력 체크 단계(S20), 어스레스 데이터 재배열 단계(S30), 스캔 제어 신호 생성 단계(S40), 서스테인 제어 신호 생성 단계(S50), 및 구동신호 공급 단계(S60)를 포함한다. 도 13에 나타낸 각 단계들의 동작은 위에서 상세하게 설명되었으므로 도 1 내지 도 12를 참조하여 간단히 설명하기로 한다.
서브필드 데이터 변환 단계(S10)는, 외부로부터 제어부(500,600,700,800)에 입력되는 영상신호를 서브필드 데이터로 변환하고, 서브필드 데이터를 이용하여 어드레스 데이터를 배열하는 단계이다.
어드레스 소비전력 체크 단계(S20)는 서브필드 데이터를 이용하여 어드레스 소비 전력이 기준값을 초과하는 서브필드를 체크하는 단계이다. 어드레스 소비 전력이 기준값을 초과하는 서브필드를 체크하는 기준은 각 서브필드에서 동일한 칼 럼(열)내 인접하는 상하 라인의 서브필드 데이터의 차들의 합이 기준값을 초과하는지를 체크하는 것이다. 이때, 어드레스 소비 전력이 기준값을 초과하는 서브필드가 체크되면, 스캔 펄스를 상기 스캔 전극 중 홀수번째 스캔 전극에만 인가시키는 스캔 방식의 제1 신호를 생성하거나, 상기 스캔 펄스를 상기 스캔 전극 중 짝수번째 스캔 전극에만 인가시키는 스캔 방식의 제 2 신호를 생성하거나, 어드레스 소비 전력이 기준값을 초과하는 서브필드들 중 인접한 서브필드들에 대해서 상기 스캔 펄스를 상기 스캔 전극 중 홀수번째 스캔 전극에만 인가시키는 스캔 방식과 상기 스캔 펄스를 상기 스캔 전극 중 짝수번째 스캔 전극에만 인가시키는 스캔 방식이 교대로 이루어지도록 하는 제 3 신호를 생성한다. 여기서, 어드레스 소비전력이 기준값 이하인 서브필드에 대해서는 스캔 펄스를홀수번째 스캔 전극과 짝수번째 스캔 전극 모두에 인가시키는 제 4 신호를 생성한다.
어드레스 데이터 재배열 단계(S30)는 제 1 신호, 제 2 신호 및 제 3 신호 중 선택된 어느 하나의 신호에 대응하여 어드레스 펄스가 어드레스 전극에 인가될 수 있도록 어드레스 데이터를 재배열하는 단계이다. 이렇게 재배열된 어드레스 데이터에 대응하는 어드레스 제어 신호는 어드레스 구동부(200)에 공급된다.
스캔 제어 신호 생성 단계(S40)는 어드레스 소비 전력이 기준값을 초과하는 서브필드가 인터레이스로 스캔 될 수 있도록 스캔 제어 신호를 생성하는 단계이다. 예를 들어, 스캔 제어 신호 생성 단계(S40)는 어드레스 소비 전력이 기준값을 초과하는 서브필드에 대해서 홀수번째 스캔 전극(Y1, Y3, ..., Yn-1)에만 스캔 펄스가 인가되도록 하고, 어드레스 소비전력이 기준값을 초과하는 서브필드의 홀수번째 스 캔 전극(Y1, Y3, ..., Yn-1)에 인가되는 서스테인 펄스 수를 어드레스 소비 전력이 기준값 이하인 서브필드의 홀수번째 스캔 전극(Y1, Y3, ..., Yn-1)에 할당된 서스테인 펄스 수보다 많도록, 예를 들어 두배가 되도록 설정하는 스캔 제어 신호를 생성한다. 이때, 스캔 제어 신호는 어드레스 소비 전력이 기준값을 초과하는 서브필드에 대해서 상기 홀수번째 스캔 전극(Y1, Y3, ..., Yn-1)에 인가되는 스캔 펄스 수를 어드레스 소비 전력이 기준값 이하인 경우 상기 홀수번째 스캔 전극(Y1, Y3, ..., Yn-1)에 할당된 스캔 펄스 수의 두배가 되도록 설정하는 의미를 포함할 수도 있으며, 상기 짝수번째 스캔 전극(Y2, Y4, ..., Yn)은 스캔하지 않도록 하는 의미를 포함할 수도 있다.
또한, 스캔 제어 신호 생성 단계(S40)는 어드레스 소비 전력이 기준값을 초과하는 서브필드에 대해서 짝수번째 스캔 전극(Y2, Y4, ..., Y)에만 스캔 펄스가 인가되도록 하고, 어드레스 소비전력이 기준값을 초과하는 서브필드의 짝수번째 스캔 전극(Y2, Y4, ..., Y)에 인가되는 서스테인 펄스 수를 어드레스 소비 전력이 기준값 이하인 서브필드의 짝수번째 스캔 전극(Y2, Y4, ..., Y)에 할당된 서스테인 펄스 수보다 많도록, 예를 들어 두배가 되도록 하는 스캔 제어 신호를 생성한다. 이때, 스캔 제어 신호는 상기 짝수번째 스캔 전극(Y2, Y4, ..., Yn)에 인가되는 스캔 펄스 수를 어드레스 소비 전력이 기준값 이하인 경우 상기 짝수번째 스캔 전극(Y2, Y4, ..., Yn)에 할당된 스캔 펄스 수의 두배가 되도록 설정하는 의미를 포함할 수도 있으며, 상기 홀수번째 스캔 전극(Y1, Y3, ..., Yn-1)은 스캔하지 않도록 하는 의미를 포함할 수도 있다. 또한, 스캔 제어 신호 생성 단계(S40)는 어드 레스 소비 전력이 기준값을 초과하는 서브필드들 중 인접하는 서브필드들에 대해서 홀수번째 스캔 전극(Y1, Y3, ..., Yn-1)에만 스캔 펄스가 인가되도록 하는 스캔 방식과 짝수번째 스캔 전극(Y2, Y4, ..., Yn-1)에만 스캔 펄스가 인가되도록 하는 스캔 방식이 교대로 이루어지도록 스캔 제어 신호를 생성한다. 이러한 스캔 제어 신호는 스캔 구동부(300)에 공급된다.
서스테인 제어 신호 생성 단계(S50)는 어드레스 소비전력이 기준값을 초과하는 서브필드의 스캔 전극과 대응하는 서스테인 전극에 인가되는 서스테인 펄스 수를 어드레스 소비전력이 기준값 이하인 서브필드의 경우의 서스테인 전극에 인가되는 서스테인 펄스 수보다 많도록, 예를 들어 두배가 되도록 서스테인 제어 신호를 생성하는 단계이다.
구동신호 공급 단계(S60)는 어드레스 펄스, 스캔 펄스 및 서스테인 펄스를 포함하는 구동신호를 플라즈마 표시 패널에 인가하여 플라즈마 표시 패널을 구동시키는 단계이다.
본 발명은 첨부된 도면에 도시된 실시예들을 참고로 설명되었으나, 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 보호 범위는 첨부된 청구 범위에 의해서만 정해져야 할 것이다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치를 나타내는 블럭도이다.
도 2는 도 1에 도시된 제어부를 구체적으로 나타내는 블럭도이다.
도 3은 도트 패턴 화상 데이터를 나타내는 예시도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치에서 어드레스 소비전력이 기준값을 초과하는 경우 스캔 펄스 인가 순서 및 어드레스 펄스 인가 순서를 개념적으로 나타내는 개념도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치에서 어드레스 소비전력이 기준값을 초과하는 경우 또다른 스캔 펄스 인가 순서 및 어드레스 펄스 인가 순서를 개념적으로 나타내는 개념도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치에서 어드레스 소비전력이 기준값 이하인 경우 스캔 펄스 인가 순서 및 어드레스 펄스 인가 순서를 개념적으로 나타내는 개념도이다.
도 7은 동일한 서브필드에서 어드레스 소비전력이 기준값 이하인 경우 할당되는 서스테인 펄스 수와 어드레스 소비전력이 기준값을 초과하는 경우 할당되는 서스테인 펄스 수를 비교하기 위한 예시도이다.
도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치의 제어부를 구체적으로 나타내는 블럭도이다.
도 9는 본 발명의 또다른 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치의 제어부를 구 체적으로 나타내는 블럭도이다.
도 10은 도 9에 도시된 제어부를 갖는 플라즈마 표시 장치에서 어드레스 소비전력이 기준값을 초과하는 경우 스캔 펄스 인가 순서 및 어드레스 펄스 인가 순서를 개념적으로 나타내는 개념도이다.
도 11은 본 발명의 또다른 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치의 제어부를 구체적으로 나타내는 블럭도이다.
도 12는 도 11에 도시된 제어부를 갖는 플라즈마 표시 장치에서 어드레스 소비전력이 기준값을 초과하는 경우 스캔 펄스 인가 순서 및 어드레스 펄스 인가 순서를 개념적으로 나타내는 개념도이다.
도 13은 본 발명의 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치의 구동 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
100: 플라즈마 표시 패널 200: 어드레스 구동부
300: 스캔 구동부 400: 서스테인 구동부
500: 제어부

Claims (15)

  1. 외부로부터 영상신호를 수신하여 어드레스 제어 신호와 스캔 제어 신호와 서스테인 제어 신호를 생성하며, 한 프레임을 다수의 서브필드로 분할하는 제어부;
    상기 어드레스 제어 신호와 상기 스캔 제어 신호와 상기 서스테인 제어 신호와 대응되는 어드레스 펄스와 스캔 펄스와 서스테인 펄스를 생성하는 구동부; 및
    어드레스 전극과 스캔 전극과 서스테인 전극을 포함하며, 상기 어드레스 펄스와 상기 스캔 펄스와 상기 서스테인 펄스에 의해 구동되는 플라즈마 표시 패널을 포함하며,
    상기 제어부는 상기 다수의 서브필드 중 어드레스 소비전력이 기준값을 초과하는 서브필드를 체크하여, 상기 어드레스 소비 전력이 기준값을 초과하는 서브필드에 대해서 상기 스캔 펄스가 상기 스캔 전극 중 홀수번째 스캔 전극에만 인가되도록 설정하는 스캔 방식의 스캔 제어 신호 또는 상기 스캔 펄스가 짝수번째 스캔 전극에만 인가되도록 설정하는 스캔 방식의 스캔 제어 신호를 생성하며, 어드레스 소비 전력이 기준값 이하인 서브필드에 대해서는 상기 스캔 펄스가 상기 스캔 전극 모두에 인가되도록 설정하는 스캔 방식의 스캔 제어 신호를 생성하고, 상기 스캔 전극의 스캔 방식에 따라 상기 어드레스 펄스가 상기 어드레스 전극에 인가될 수 있도록 어드레스 데이터가 재배열된 어드레스 제어 신호를 생성하며,
    상기 제어부는 상기 어드레스 소비 전력이 기준값을 초과하는 서브필드의 스캔 전극과 서스테인 전극에 인가되는 서스테인 펄스 수가 상기 어드레스 소비 전력이 기준값 이하인 서브필드의 스캔 전극과 서스테인 전극에 인가되는 서스테인 펄스 수보다 많도록 서스테인 펄스 수 정보를 설정하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 표시 장치.
  2. 삭제
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 제어부는 상기 어드레스 소비 전력이 기준값을 초과하는 서브필드들 중 인접하는 서브필드들에 대해서 상기 스캔 펄스가 상기 스캔 전극 중 홀수번째 스캔 전극에만 인가되도록 설정하는 스캔 방식과 상기 스캔 펄스가 짝수번째 스캔 전극에만 인가되도록 설정하는 스캔 방식이 교대로 이루어질 수 있도록 설정하는 스캔 제어 신호를 생성하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 표시 장치.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 제어부는 상기 서브필드 각각에서 동일한 칼럼내 인접하는 상하 라인의 서브필드 데이터의 차들의 합을 구해 상기 서브필드 각각의 어드레스 소비 전력을 구하며, 상기 기준값은 상기 한 프레임에서 다수의 서브필드들의 평균 어드레스 소비전력인 것을 특징으로 하는 플라즈마 표시 장치.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 제어부는
    상기 영상신호를 서브필드 데이터로 변환하고, 상기 서브필드 데이터를 이용하여 상기 어드레스 데이터를 배열하는 서브필드 생성부;
    상기 서브필드 데이터를 이용하여 상기 어드레스 소비전력이 기준값을 초과하는 서브필드를 체크하여, 상기 어드레스 소비전력이 기준값을 초과하는 서브필드에 대해서 상기 스캔 전극 중 홀수번째 스캔 전극에만 스캔 펄스가 인가되도록 설정하는 스캔 방식의 제 1 신호를 생성하거나, 상기 어드레스 소비전력이 기준값을 초과하는 서브필드에 대해서 짝수번째 스캔 전극에만 스캔 펄스가 인가되도록 설정하는 스캔 방식의 제 2 신호를 생성하거나, 상기 어드레스 소비 전력이 기준값을 초과하는 서브필드들 중 인접하는 서브필드들에 대해서 상기 스캔 전극 중 홀수번째 스캔 전극에만 스캔 펄스가 인가되도록 설정하는 스캔 방식과 짝수번째만 스캔 전극에 스캔 펄스가 인가되도록 설정하는 스캔 방식이 교대로 이루어지도록 설정하는 제 3 신호를 생성하는 소비전력 체크부;
    상기 소비전력 체크부로부터 상기 제 1 신호, 상기 제 2 신호 및 상기 제 3 신호 중 선택된 어느 하나의 신호를 전송받은 경우, 상기 서브필드 생성부로부터 전송받은 상기 어드레스 데이터를 상기 신호에 대응하도록 재배열하고 상기 어드레스 데이터에 대응하는 상기 어드레스 제어 신호를 생성하는 메모리 제어부;
    상기 소비전력 체크부로부터 상기 제 1 신호, 상기 제 2 신호 및 상기 제 3 신호 중 선택된 어느 하나의 신호를 전송받은 경우, 상기 신호에 해당하는 스캔 전극과 상기 스캔 전극과 대응하는 서스테인 전극에 인가되는 서스테인 펄스 수를 상기 어드레스 소비전력이 기준값 이하인 경우의 스캔 전극과 서스테인 전극에 인가되는 서스테인 펄스 수보다 많도록 서스테인 수 정보를 변경하는 서스테인 펄스 조절부;
    상기 소비전력 체크부로부터 상기 제 1 신호, 상기 제 2 신호 및 상기 제 3 신호 중 선택된 어느 하나의 신호를 전송받은 경우, 상기 신호 및 상기 서스테인 수 정보에 대응하는 상기 스캔 제어 신호를 생성하는 스캔 제어부; 및
    상기 서스테인 수 정보에 대응하는 상기 서스테인 제어 신호를 생성하는 서스테인 제어부를 포함하는 플라즈마 표시 장치.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 스캔 제어부는
    상기 소비전력 체크부로부터 상기 제 1 신호를 수신하면, 상기 짝수번째 스캔 전극이 스캔되지 않도록 설정하는 스캔 제어 신호를 생성하며,
    상기 소비전력 체크부로부터 상기 제 2 신호를 수신하면, 상기 홀수번째 스캔 전극이 스캔되지 않도록 설정하는 스캔 제어 신호를 생성하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 표시 장치.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 스캔 제어부는
    상기 소비전력 체크부로부터 상기 제 1 신호를 수신하면, 상기 어드레스 소비 전력이 기준값을 초과하는 서브 필드의 홀수번째 스캔 전극에 인가되는 스캔 펄스 수가 상기 어드레스 소비 전력이 기준값 이하인 서브 필드의 홀수번째 스캔 전극에 인가되는 스캔 펄스 수의 두배가 되도록 설정하는 스캔 제어 신호를 생성하 며,
    상기 소비전력 체크부로부터 상기 제 2 신호를 수신하면, 상기 어드레스 소비 전력이 기준값을 초과하는 서브 필드의 짝수번째 스캔 전극에 인가되는 스캔 펄스 수가 상기 어드레스 소비 전력이 기준값 이하인 서브 필드의 짝수번째 스캔 전극에 인가되는 스캔 펄스 수의 두배가 되도록 설정하는 스캔 제어 신호를 생성하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 표시 장치.
  8. 제 5 항에 있어서,
    상기 서스테인 펄스 조절부는
    상기 소비전력 체크부로부터 상기 제 1 신호, 상기 제 2 신호 및 상기 제 3 신호 중 선택된 어느 하나의 신호를 전송받은 경우, 상기 신호에 해당하는 스캔 전극과 상기 스캔 전극과 대응하는 서스테인 전극에 인가되는 서스테인 펄스 수를 상기 어드레스 소비전력이 기준값 이하인 경우의 스캔 전극과 서스테인 전극에 인가되는 서스테인 펄스 수의 두배가 되도록 서스테인 수 정보를 변경하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 표시 장치.
  9. 복수의 어드레스 전극, 스캔 전극 및 서스테인 전극을 갖는 플라즈마 표시 패널을 포함하며, 외부로부터 입력되는 영상신호에 따라 한 프레임을 복수의 서브필드로 분할하여 상기 플라즈마 표시 패널을 구동하는 플라즈마 표시 장치의 구동 방법에 있어서,
    상기 영상신호를 서브필드 데이터로 변환하고, 상기 서브필드 데이터를 이용하여 어드레스 데이터를 배열하는 서브필드 데이터 변환 단계;
    상기 서브필드 데이터를 이용하여 어드레스 소비 전력이 기준값을 초과하는 서브필드를 체크하여, 상기 어드레스 소비전력이 기준값을 초과하는 서브필드에 대해서 상기 스캔 전극 중 홀수번째 스캔 전극에만 스캔 펄스가 인가되도록 설정하는 스캔 방식의 제 1 신호를 생성하거나, 상기 어드레스 소비전력이 기준값을 초과하는 서브필드에 대해서 짝수번째 스캔 전극에만 상기 스캔 펄스가 인가되도록 설정하는 스캔 방식의 제 2 신호를 생성하거나, 상기 어드레스 소비 전력이 기준값을 초과하는 서브필드들 중 인접하는 서브필드들에 대해서 상기 스캔 전극 중 홀수번째 스캔 전극에만 상기 스캔 펄스가 인가되도록 설정하는 스캔 방식과 짝수번째 스캔 전극에만 상기 스캔 펄스가 인가되도록 설정하는 스캔 방식이 교대로 이루어지도록 설정하는 제 3 신호를 생성하고, 어드레스 소비 전력이 기준값 이하인 서브필드에 대해서는 상기 스캔 펄스가 상기 스캔 전극 모두에 인가되도록 설정하는 스캔 방식의 제 4 신호를 생성하는 어드레스 소비전력 체크 단계;
    상기 제 1 신호, 상기 제 2 신호 및 상기 제 3 신호 중 선택된 어느 하나의 신호에 대응하여 어드레스 펄스가 상기 어드레스 전극에 인가될 수 있도록 상기 어드레스 데이터를 재배열하는 어드레스 재배열 단계;
    상기 제 1 신호, 상기 제 2 신호 및 상기 제 3 신호 중 선택된 어느 하나의 신호에 대응하여 상기 스캔 펄스가 상기 스캔 전극에 인가될 수 있도록 하고, 상기 신호에 해당하는 스캔 전극에 인가되는 서스테인 펄스 수를 상기 어드레스 소비전력이 기준값 이하인 경우의 스캔 전극에 인가되는 서스테인 펄스 수보다 많도록 설정하는 스캔 제어 신호를 생성하는 스캔 제어 신호 생성 단계; 및
    상기 신호에 해당하는 스캔 전극과 대응하는 서스테인 전극에 인가되는 서스테인 펄스 수를 상기 어드레스 소비전력이 기준값 이하인 경우의 서스테인 전극에 인가되는 서스테인 펄스 수보다 많도록 설정하는 서스테인 제어 신호를 생성하는 서스테인 제어 신호 생성 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 표시 장치의 구동 방법.
  10. 삭제
  11. 제 9 항에 있어서,
    상기 어드레스 소비전력 체크 단계는
    상기 서브필드 각각에서 동일한 칼럼내 인접하는 상하 라인의 서브필드 데이터의 차들의 합을 구해 상기 서브필드 각각의 어드레스 소비 전력을 구하며,
    상기 기준값은 상기 한 프레임에서 다수의 서브필드들의 평균 어드레스 소비전력인 것을 특징으로 하는 플라즈마 표시 장치의 구동 방법.
  12. 제 9 항에 있어서,
    상기 스캔 제어 신호 생성 단계는
    상기 제 1 신호를 수신하면, 상기 짝수번째 스캔 전극이 스캔되지 않도록 설정하는 스캔 제어 신호를 생성하며,
    상기 제 2 신호를 수신하면, 상기 홀수번째 스캔 전극이 스캔되지 않도록 설정하는 스캔 제어 신호를 생성하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 표시 장치의 구동 방법.
  13. 제 12 항에 있어서,
    상기 스캔 제어 신호 생성 단계는
    상기 제 1 신호를 수신하면, 상기 어드레스 소비 전력이 기준값을 초과하는 서브 필드의 홀수번째 스캔 전극에 인가되는 스캔 펄스 수가 상기 어드레스 소비 전력이 기준값 이하인 서브 필드의 홀수번째 스캔 전극에 인가되는 스캔 펄스 수의 두배가 되도록 설정하는 스캔 제어 신호를 생성하며,
    상기 제 2 신호를 수신하면, 상기 어드레스 소비 전력이 기준값을 초과하는 서브 필드의 짝수번째 스캔 전극에 인가되는 스캔 펄스 수가 상기 어드레스 소비 전력이 기준값 이하인 서브 필드의 짝수번째 스캔 전극에 인가되는 스캔 펄스 수의 두배가 되도록 설정하는 스캔 제어 신호를 생성하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 표시 장치의 구동 방법.
  14. 제 9 항에 있어서,
    상기 스캔 제어 신호 생성 단계는
    상기 신호에 해당하는 스캔 전극에 인가되는 서스테인 펄스 수를 상기 어드레스 소비전력이 기준값 이하인 경우의 스캔 전극에 인가되는 서스테인 펄스 수의 두배가 되도록 설정하는 스캔 제어 신호를 생성하며,
    상기 서스테인 제어 신호 생성 단계는
    상기 신호에 해당하는 스캔 전극과 대응하는 서스테인 전극에 인가되는 서스테인 펄스 수를 상기 어드레스 소비전력이 기준값 이하인 경우의 서스테인 전극에 인가되는 서스테인 펄스 수의 두배가 되도록 설정하는 서스테인 제어 신호를 생성하는 플라즈마 표시 장치의 구동 방법.
  15. 제 9 항에 있어서,
    상기 어드레스 펄스, 상기 스캔 펄스, 및 상기 서스테인 펄스를 포함하는 구동신호를 상기 플라즈마 표시 패널에 공급하는 구동 신호 공급 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 표시 장치의 구동 방법.
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