KR100741339B1 - 커넥터, 커넥터 시험 장치 및 방법 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (12)
- 커넥터(F)로서,하나 이상의 단자 연결구(40)가 적어도 부분적으로 삽입될 수 있는 하나 이상의 공동(11)이 형성되어 있는 하우징(10)과,상기 하우징(10) 내의 공동(11)의 내벽에 형성되어 단자 연결구(40)를 유지하는 로킹부(12)와,상기 공동(11) 내로 정면으로부터 적어도 부분적으로 삽입됨으로써, 공동(11) 내에 적어도 부분적으로 삽입된 단자 연결구(40)와 연결될 수 있는 탭(70)과,실질적으로 공동(11)과 연통할 수 있는 하나 이상의 탭 삽입 홀(51)이 형성되어 있고 하우징(10)의 전면에 장착될 수 있는 전방벽 부재(50)와,상기 전방벽 부재(50)를 분리 또는 이동시키도록 사용되며 전방벽 부재(50)의 단부면 상에 노출되어 있는 작동면(59A)을 포함하며,전방벽 부재(50)가 장착된 상태(2P)에 도달할 때에 작동면(59A) 외에 전방벽 부재(50)의 단부면의 하나 이상의 부분과 실질적으로 접촉 상태로 유지될 수 있는 차양부(27)가 하우징(10)의 전면에 마련되어 있는 것인 커넥터.
- 제1항에 있어서, 상기 전방벽 부재(50)는 장착된 상태(2P)로부터 장착되지 않은 상태(1P)로 이동되거나, 실질적으로 하우징(10)의 전면을 따라 완전히 탈착되는 것인 커넥터.
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- 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 전방벽 부재(50)는 그 외부 형태의 대칭에 의해 수직 방향 및 횡방향을 따라 전방벽 부재(50)의 배향을 식별하기 위한 식별 구조(54)를 갖는 것인 커넥터.
- 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 전방벽 부재(50)는 전기 접속 시험용 검출 핀(60)이 적어도 부분적으로 삽입될 수 있는 하나 이상의 지그 삽입 홀(52)을 포함하고, 탭 삽입 홀(51)이 실질적으로 공동(11)과 연통하는 제2 위치(2P)와 탭 삽입 홀(51)이 공동(11)으로부터 변위되는 제1 위치(1P) 사이에서 이동될 수 있으며,상기 탭(70)은 전방벽 부재(50)가 제2 위치(2P)에 위치된 상태에서 탭 삽입 홀(51)을 통해 단자 연결구(40)의 접촉점(45A)과 접촉될 수 있고, 검출 핀(60)은 전방벽 부재(50)가 제1 위치(1P)에 위치된 상태에서 지그 삽입 홀(52)을 통해 단자 연결구(40)의 검출부(46)와 접촉될 수 있는 것인 커넥터.
- 제5항에 따른 커넥터(F)에 적어도 부분적으로 수용되는 단자 연결구(40)의 전기 접속 시험을 수행하기 위한 커넥터 시험 장치로서,커넥터(F)가 적어도 부분적으로 세팅되는 홀더(81)와,하나 이상의 검출 핀(60)을 포함하고 홀더(81)에 대해 상대적으로 원근 방향으로 이동될 수 있는 검출 유닛(82)으로서, 상기 홀더(81)와 검출 유닛(82)은 커넥터(F)가 홀더(81)에 적어도 부분적으로 세팅된 상태에서 서로에 대해 가까워짐으로써, 검출 핀(60)이 지그 삽입 홀(52)로 적어도 부분적으로 진입하여 전기 접속 시험을 행할 수 있고, 상기 홀더(81)와 검출 유닛(82)은 시험 후에 서로로부터 분리되어 커넥터(F)를 추출할 수 있는 것인 검출 유닛(82)과,홀더(81)와 검출 유닛(82)이 서로에 대해 가까워질 때에, 전방벽 부재(50)를 제2 위치(2P)로부터 제1 위치(1P)로 압박하도록 홀더(81)에 적어도 부분적으로 세팅된 커넥터(F)의 작동면(59A)을 압박하기 위한 압박 수단을 포함하고, 상기 검출 핀(60)은 전방벽 부재(50)가 압박 수단에 의해 실질적으로 제1 위치(1P)로 압박된 후에 지그 삽입 홀(52)로 적어도 부분적으로 진입되는 것인 커넥터 시험 장치.
- 제6항에 있어서, 홀더(81)와 검출 유닛(82)이 서로로부터 분리될 때에, 전방벽 부재(50)를 제1 위치(1P)로부터 실질적으로 반대로 제2 위치(2P)로 압박하기 위한 역압박 수단(93)을 더 구비하는 것인 커넥터 시험 장치.
- 제7항에 있어서, 상기 역압박 수단(93)은 검출 유닛(82)에 마련된 제1 캠면(93)을 포함하고, 상기 전방벽 부재(50)는 제1 위치(1P)로부터 반대로 제2 위치(2P)를 향해 압박되도록 실질적으로 제1 캠면(93)을 따라 이동되는 것인 커넥터 시험 장치.
- 제6항에 있어서, 상기 압박 수단은 검출 유닛(82)에 마련된 제2 캠면(92)과, 홀더(81)에 마련된 압박 부재(87)를 포함하고, 상기 압박 부재(87)는 작동면(59A)을 압박하도록 제2 캠면(92)을 따라 이동됨으로써, 전방벽 부재(50)를 제2 위치(2P)로부터 제1 위치(1P)로 압박하는 것인 커넥터 시험 장치.
- 단자 연결구(40)의 삽입 방향과 교차하는 방향(MD)을 따라 실질적으로 전면을 따라 제1 위치(1P)와 제2 위치(2P) 사이에서 이동될 수 있도록 단자 연결구(40)를 적어도 부분적으로 수용하기 위한 하나 이상의 공동(11)이 형성되어 있는 커넥터 하우징(10)의 전면에 전방벽 부재(50)가 마련되어 있고, 상기 전방벽 부재(50)에는 전기 접속 시험을 위한 하나 이상의 검출 핀(60)이 적어도 부분적으로 삽입될 수 있는 하나 이상의 지그 삽입 홀(52)이 형성되어 있으며, 전방벽 부재는 하우징(10) 상에, 탭 삽입 홀(51)이 실질적으로 공동(11)과 연통하고 탭(70)이 탭 삽입 홀(51)을 통해 단자 연결구(40)의 접촉점(45A)과 접촉될 수 있는 제2 위치(2P)와, 탭 삽입 홀(51)이 공동(11)으로부터 변위되어 있거나 공동에 대해 오프셋되어 있고 검출 핀(60)이 지그 삽입 홀(52)을 통해 단자 연결구(40)의 검출부(46)와 접촉될 수 있는 제1 위치(1P) 사이에서 이동 가능하게 위치되는 커넥터(F) 및상기 커넥터(F)가 적어도 부분적으로 세팅될 수 있는 홀더와, 하나 이상의 상기 지그 삽입 홀(52)에 적어도 부분적으로 각각 삽입될 수 있는 하나 이상의 검출 핀(60)을 포함하는 커넥터 시험 장치에 의한 커넥터 시험 방법으로서,상기 커넥터(F)를 전방벽 부재(50)가 제2 위치(2P)에 위치된 상태에서 시험 장치의 홀더(81)에 적어도 부분적으로 세팅하는 단계와,커넥터(F)가 홀더(81)에 적어도 부분적으로 유지된 상태에서 전방벽 부재(50)를 제2 위치(2P)로부터 제1 위치(1P)로 이동시키는 단계와,검출 핀(60)을 지그 삽입 홀(52)을 통해 커넥터 하우징(10) 내로 적어도 부분적으로 삽입하여 전기 접속 시험을 수행하는 단계를 포함하는 커넥터 시험 방법.
- 제10항에 있어서, 상기 전방벽 부재(50)는 홀더(81)에 적어도 부분적으로 유지된 커넥터(F)로 전기 접속 시험을 행한 후에 검출 핀(60)이 지그 삽입 홀(52)을 통해 후퇴되는 동안에 제1 위치(1P)로부터 반대로 제2 위치(2P)로 이동되는 것인 커넥터 시험 방법.
- 제10항 또는 제11항에 있어서, 상기 전방벽 부재(50)는 검출 핀(60)이 커넥터 하우징(10)에 가까워질 때에 제2 위치(2P)로부터 제1 위치(1P)로 이동되고, 검출 핀(60)이 후퇴될 때에 반대로 제2 위치(2P)로 이동되는 것인 커넥터 시험 방법.
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