JPS6398566A - コンタクトプロ−ブ - Google Patents
コンタクトプロ−ブInfo
- Publication number
- JPS6398566A JPS6398566A JP24462786A JP24462786A JPS6398566A JP S6398566 A JPS6398566 A JP S6398566A JP 24462786 A JP24462786 A JP 24462786A JP 24462786 A JP24462786 A JP 24462786A JP S6398566 A JPS6398566 A JP S6398566A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- plunger
- present
- housing
- contact probe
- probe
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、実装前及び実装後の回路検査に用いられる、
ハウジング内のスプリングを介して上下動するプランジ
ャーを有するコンタクトプローブの改良に閃する。
ハウジング内のスプリングを介して上下動するプランジ
ャーを有するコンタクトプローブの改良に閃する。
本発明は、実装前及び実装後の回路検査に用いられるハ
ウジング内のスプリングを介して上下動するプランジャ
ーををするフンタクトプローブにおいて、プランジャー
頭部が回転運動させることにより、汚れを排除し接触を
確実にして検査の信頼性を向上させると共にコンタクト
プローブの寿命の向−1−をはかったものである。
ウジング内のスプリングを介して上下動するプランジャ
ーををするフンタクトプローブにおいて、プランジャー
頭部が回転運動させることにより、汚れを排除し接触を
確実にして検査の信頼性を向上させると共にコンタクト
プローブの寿命の向−1−をはかったものである。
従来のコンタクトプローブは、第2図に示すように、ハ
ウジング2内のスプリング8を介して、頭部のプランジ
ャー1を上下させることにより、回路基板との接触を行
なっていた。
ウジング2内のスプリング8を介して、頭部のプランジ
ャー1を上下させることにより、回路基板との接触を行
なっていた。
しかし、従来のコンタクトプローブは、上下動のみで、
頭部がゴミ等の付むにより汚染されているときには4通
が不確実となり検査結果に誤りが生ずる。
頭部がゴミ等の付むにより汚染されているときには4通
が不確実となり検査結果に誤りが生ずる。
そこで本考案はこのような欠点を解決するために、:1
ンタクトプb−ブと基板との4通を確実にして検査の信
頼性を向上させることを目的とする。
ンタクトプb−ブと基板との4通を確実にして検査の信
頼性を向上させることを目的とする。
上記問題点を解決するために、本発明のコンタクトプロ
ーブは、ハウジング内のスプリングを介して上下動する
プランジャーの頭部を上下動と共に回転運動させること
を特徴とする。
ーブは、ハウジング内のスプリングを介して上下動する
プランジャーの頭部を上下動と共に回転運動させること
を特徴とする。
以下に、本発明の実施例を図をもって説明する。第1図
(OL)は本発明によるプローブの断面図である。ハウ
ジング2にはプランジャー1が上下動する際に回転運動
もできるようにするための突起5が設けられており、こ
のハウジング2の突(A 5とプランジャー1に形成さ
れたラセン状溝4とが係合されることによって、プラン
ジャー1は上下動と共に回転運動が与えられる。ハウジ
ング2と嵌合部に、ラセン状溝4をもつプランジャー1
が」二下動すると、ハウジング2に設けられた突起5が
ラセン吠溝4J:係合し合って上下動に伴いプランジャ
ー1の頭部を回転運動させる。この回転運動によりこれ
まで上下動のみでは排除できなかった、プランジャー先
端部の汚れを取り除くと共に、回転運動による自己研出
作用により接触部を常に新しい清浄な状態に保つことが
でき、導通を確実にすることが可能である。
(OL)は本発明によるプローブの断面図である。ハウ
ジング2にはプランジャー1が上下動する際に回転運動
もできるようにするための突起5が設けられており、こ
のハウジング2の突(A 5とプランジャー1に形成さ
れたラセン状溝4とが係合されることによって、プラン
ジャー1は上下動と共に回転運動が与えられる。ハウジ
ング2と嵌合部に、ラセン状溝4をもつプランジャー1
が」二下動すると、ハウジング2に設けられた突起5が
ラセン吠溝4J:係合し合って上下動に伴いプランジャ
ー1の頭部を回転運動させる。この回転運動によりこれ
まで上下動のみでは排除できなかった、プランジャー先
端部の汚れを取り除くと共に、回転運動による自己研出
作用により接触部を常に新しい清浄な状態に保つことが
でき、導通を確実にすることが可能である。
第1図(1))は、本発明の他の実施例であり、ハウジ
ング2にプランジャー1に回転運動を与えるための突起
5と、プランジャー1の抜は止めとストッパーを兼ねる
溝を設けた中間カシメタイプのコンタクトプローブであ
る。これにより前述と同じような結果を得ることができ
る。
ング2にプランジャー1に回転運動を与えるための突起
5と、プランジャー1の抜は止めとストッパーを兼ねる
溝を設けた中間カシメタイプのコンタクトプローブであ
る。これにより前述と同じような結果を得ることができ
る。
また、第3図は、本発明の更に他の実施例で、前述の実
施例とは逆に、ハウジング2にラセン状溝を設け、プラ
ンジャーに突起を設けるようにしたものであり、同様な
効果をもたらすことができるものである。
施例とは逆に、ハウジング2にラセン状溝を設け、プラ
ンジャーに突起を設けるようにしたものであり、同様な
効果をもたらすことができるものである。
また、本発明におけるハウジングに設けられた突起は実
施例においては一笛所のみであるが、一箇所以上に設け
ても本発明を逸脱するものではない。
施例においては一笛所のみであるが、一箇所以上に設け
ても本発明を逸脱するものではない。
本発明は、上記に説明したように、プランジャーに回転
運動を与えることにより、プランジャー先端部の汚れを
取除くと共に、回転運動による自己研磨作用により接点
の導電性を長期間にわたって確保することが可能である
。また、基板上にフラックス等の汚れが付着している場
合、この汚れにより従来は1.000回程度の使用で接
触抵抗が増大し使用不可となったものが、本発明のプロ
ーブによれば、100.000回程度の使用後でも抵抗
の増大はみられず、プローブの寿命向」−がはかられる
。
運動を与えることにより、プランジャー先端部の汚れを
取除くと共に、回転運動による自己研磨作用により接点
の導電性を長期間にわたって確保することが可能である
。また、基板上にフラックス等の汚れが付着している場
合、この汚れにより従来は1.000回程度の使用で接
触抵抗が増大し使用不可となったものが、本発明のプロ
ーブによれば、100.000回程度の使用後でも抵抗
の増大はみられず、プローブの寿命向」−がはかられる
。
第1図(a)は、本発明によるコンタクドブ[T−プの
断面図、第1図(b)は本発明の他の実゛施例で中間カ
シメクィプのコンタクトプローブの断面図、第2図は従
来のフンタクトプローブの断面図である。第3図は本発
明の別の実施例でハウジングにラセン溝を設けたプロー
ブの断面図である。 l・・・プランジャー 2・・・ハ1クジング 3・・・スプリング 4・・・ラセン状溝 5・・・突起 以 上
断面図、第1図(b)は本発明の他の実゛施例で中間カ
シメクィプのコンタクトプローブの断面図、第2図は従
来のフンタクトプローブの断面図である。第3図は本発
明の別の実施例でハウジングにラセン溝を設けたプロー
ブの断面図である。 l・・・プランジャー 2・・・ハ1クジング 3・・・スプリング 4・・・ラセン状溝 5・・・突起 以 上
Claims (1)
- 実装前及び実装後の回路検査に用いられるハウジング内
のスプリングを介して上下動するプランジャーを有する
コンタクトプローブにおいて、前記プランジャー頭部が
上下動と共に回転運動させることを特徴とするコンタク
トプローブ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24462786A JPS6398566A (ja) | 1986-10-15 | 1986-10-15 | コンタクトプロ−ブ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24462786A JPS6398566A (ja) | 1986-10-15 | 1986-10-15 | コンタクトプロ−ブ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6398566A true JPS6398566A (ja) | 1988-04-30 |
Family
ID=17121565
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP24462786A Pending JPS6398566A (ja) | 1986-10-15 | 1986-10-15 | コンタクトプロ−ブ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6398566A (ja) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0277670U (ja) * | 1988-11-30 | 1990-06-14 | ||
JPH0471248A (ja) * | 1990-07-11 | 1992-03-05 | Nec Kyushu Ltd | 測定用プローブ |
JPH04102472U (ja) * | 1990-08-02 | 1992-09-03 | シヤ−プ株式会社 | コンタクトプロ−ブビン |
US5227718A (en) * | 1992-03-10 | 1993-07-13 | Virginia Panel Corporation | Double-headed spring contact probe assembly |
US5420519A (en) * | 1992-03-10 | 1995-05-30 | Virginia Panel Corporation | Double-headed spring contact probe assembly |
US5936421A (en) * | 1994-10-11 | 1999-08-10 | Virginia Panel Corporation | Coaxial double-headed spring contact probe assembly and coaxial surface contact for engagement therewith |
US5942906A (en) * | 1994-11-18 | 1999-08-24 | Virginia Panel Corporation | Interface system utilizing engagement mechanism |
WO2018105316A1 (ja) * | 2016-12-05 | 2018-06-14 | 株式会社ネバーグ | プローブピンおよびicソケット |
JPWO2018105444A1 (ja) * | 2016-12-08 | 2019-07-25 | 三菱電機株式会社 | プローブピン |
-
1986
- 1986-10-15 JP JP24462786A patent/JPS6398566A/ja active Pending
Cited By (9)
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---|---|---|---|---|
JPH0277670U (ja) * | 1988-11-30 | 1990-06-14 | ||
JPH0471248A (ja) * | 1990-07-11 | 1992-03-05 | Nec Kyushu Ltd | 測定用プローブ |
JPH04102472U (ja) * | 1990-08-02 | 1992-09-03 | シヤ−プ株式会社 | コンタクトプロ−ブビン |
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WO2018105316A1 (ja) * | 2016-12-05 | 2018-06-14 | 株式会社ネバーグ | プローブピンおよびicソケット |
JPWO2018105444A1 (ja) * | 2016-12-08 | 2019-07-25 | 三菱電機株式会社 | プローブピン |
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