JPS6369315A - Cmos回路を用いた可変遅延装置 - Google Patents
Cmos回路を用いた可変遅延装置Info
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- JPS6369315A JPS6369315A JP61214873A JP21487386A JPS6369315A JP S6369315 A JPS6369315 A JP S6369315A JP 61214873 A JP61214873 A JP 61214873A JP 21487386 A JP21487386 A JP 21487386A JP S6369315 A JPS6369315 A JP S6369315A
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- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
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- Pulse Circuits (AREA)
- Television Signal Processing For Recording (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はCMOSインバータ等のCMOS回路を多段接
続して成る遅延装置に関し、例えばビデオディスク、ビ
デオテープレコーダ等の再生ビデオ信号の時間軸変動を
補正する時間軸補正装置等に用いることができるもので
ある。
続して成る遅延装置に関し、例えばビデオディスク、ビ
デオテープレコーダ等の再生ビデオ信号の時間軸変動を
補正する時間軸補正装置等に用いることができるもので
ある。
(発明の概要〕
本発明は、多段接続されたCMOS回路から成り入力信
号が供給される第1の遅延回路と、多段接続されたCM
OS回路から成り所定周波数の基準信号が供給される第
2の遅延回路と、多段接続されたCMOS回路から成り
所定の電源電圧が供給され上記基準信号が供給される第
3の遅延回路と、上記第2の遅延回路の出力信号と上記
第3の遅延回路の出力信号とによって交互に反転される
フリップフロップ回路とを設け、上記第2又は第3の遅
延回路の出力信号と上記フリップフロップ回路の出力信
号とを加算し、この加算出力信号と制御l信号とを比較
し、その比較出力電圧を上記第1及び第2の遅延回路に
電a電圧として供給することにより、CMOS回路の温
度特性に起因する遅延時間の変動を補償すると共に、制
御電圧と遅延時間との関係に直線性を持たせるように成
し、さらに制御範囲を広げるようにしたCMOS回路を
用いた可変遅延装置を提供するものである。
号が供給される第1の遅延回路と、多段接続されたCM
OS回路から成り所定周波数の基準信号が供給される第
2の遅延回路と、多段接続されたCMOS回路から成り
所定の電源電圧が供給され上記基準信号が供給される第
3の遅延回路と、上記第2の遅延回路の出力信号と上記
第3の遅延回路の出力信号とによって交互に反転される
フリップフロップ回路とを設け、上記第2又は第3の遅
延回路の出力信号と上記フリップフロップ回路の出力信
号とを加算し、この加算出力信号と制御l信号とを比較
し、その比較出力電圧を上記第1及び第2の遅延回路に
電a電圧として供給することにより、CMOS回路の温
度特性に起因する遅延時間の変動を補償すると共に、制
御電圧と遅延時間との関係に直線性を持たせるように成
し、さらに制御範囲を広げるようにしたCMOS回路を
用いた可変遅延装置を提供するものである。
一般に、ビデオディスクプレーヤやビデオテープレコー
ダ等においては、FM変調されてディスクやテープ等に
記録されたビデオ信号を再生する際に、時間軸変動、い
わゆるジッタが生じる。従って良好な再生画像を得るた
めには、再生信号の時間軸補正を行って、ジッタを除去
することが必要とされる。
ダ等においては、FM変調されてディスクやテープ等に
記録されたビデオ信号を再生する際に、時間軸変動、い
わゆるジッタが生じる。従って良好な再生画像を得るた
めには、再生信号の時間軸補正を行って、ジッタを除去
することが必要とされる。
そこで、本出願人は実願昭60−186871号により
CMOSインバータを多段接続して成る可変遅延回路を
用いた時間軸補正装置を提案した。
CMOSインバータを多段接続して成る可変遅延回路を
用いた時間軸補正装置を提案した。
このようなCMOSインバータを多段接続して成る可変
遅延回路は、電源電圧の変化に応じて第8図に示すよう
に遅延時間が変化する特性を有している。このような特
性は、CMOSインバータのオン・オフ出力の立上りや
立下りに生ずる時定数曲線が電源電圧の変化に応じて変
化する、即ち容量負荷の電圧が次段のCMOSインバー
タのスレッショルドレベルに達するまでの時間が電源電
圧に応じて変化することにより生じるものである。
遅延回路は、電源電圧の変化に応じて第8図に示すよう
に遅延時間が変化する特性を有している。このような特
性は、CMOSインバータのオン・オフ出力の立上りや
立下りに生ずる時定数曲線が電源電圧の変化に応じて変
化する、即ち容量負荷の電圧が次段のCMOSインバー
タのスレッショルドレベルに達するまでの時間が電源電
圧に応じて変化することにより生じるものである。
上述したC M OSインバータを多段接続して成る可
変遅延回路は、その温度特性によって遅延時間が大きく
変化する欠点がある。また電源電圧(遅延時間制御電圧
)と遅延時間との関係は第8図に示すように非直線性を
有している。
変遅延回路は、その温度特性によって遅延時間が大きく
変化する欠点がある。また電源電圧(遅延時間制御電圧
)と遅延時間との関係は第8図に示すように非直線性を
有している。
そこで本出願人は特願昭61−49994号により温度
特性の影響を除去すると共に、制御電圧に対して遅延時
間を直線的に変化させるようにしたCMOS回路を用い
た可変遅延装置を提案した。
特性の影響を除去すると共に、制御電圧に対して遅延時
間を直線的に変化させるようにしたCMOS回路を用い
た可変遅延装置を提案した。
第6図は上記出願に係るCMOS回路を多段接続して成
る可変遅延装置の実施例を示すもので、第7図は第6図
のA、B、C点における信号波形を示すものである。
る可変遅延装置の実施例を示すもので、第7図は第6図
のA、B、C点における信号波形を示すものである。
第6図において、第1の遅延回路1は例えば30000
段のCMOSインバータ2を縦続的に接続して成り、そ
の制御可能な最大遅延時間差は例えば40μsecのも
のが用いられている。この遅延回路1には入力端子3よ
り入力信号S、が供給される。この入力信号Slは例え
ばビデオディスクプレーヤのピックアンプ装置から得ら
れるF M変調された再生ビデオ信号であってよく、そ
の中心周波数は例えば8.5MH2である。この遅延回
路1から出力端子4に得られる遅延された信号S2は例
えば後段の復調回路等を含む信号処理回路に送られる。
段のCMOSインバータ2を縦続的に接続して成り、そ
の制御可能な最大遅延時間差は例えば40μsecのも
のが用いられている。この遅延回路1には入力端子3よ
り入力信号S、が供給される。この入力信号Slは例え
ばビデオディスクプレーヤのピックアンプ装置から得ら
れるF M変調された再生ビデオ信号であってよく、そ
の中心周波数は例えば8.5MH2である。この遅延回
路1から出力端子4に得られる遅延された信号S2は例
えば後段の復調回路等を含む信号処理回路に送られる。
一方、基準信号発生回路5は第7図Aに示すような所定
周波数、例えば1.5・MHzの矩形波基準信号を発生
して第2の遅延回路6に供給する。この遅延回路6はC
MOSインバータ2を多段接続して成るものが用いられ
、第1の遅延回路1と共に共通のワンチップ内に構成さ
れている。従って、第1及び第2の遅延回路1.6は互
いに等しい温度特性を持つことになる。また第2の遅延
回路6におけるCMOSインバータ2の接続段数は、第
1の遅延回路lの30000段に対して例えば数100
段程置きなっている。
周波数、例えば1.5・MHzの矩形波基準信号を発生
して第2の遅延回路6に供給する。この遅延回路6はC
MOSインバータ2を多段接続して成るものが用いられ
、第1の遅延回路1と共に共通のワンチップ内に構成さ
れている。従って、第1及び第2の遅延回路1.6は互
いに等しい温度特性を持つことになる。また第2の遅延
回路6におけるCMOSインバータ2の接続段数は、第
1の遅延回路lの30000段に対して例えば数100
段程置きなっている。
この第2の遅延回路6から得られる第7図Bに示す遅延
された基準信号は同図への基準信号と共に排他的論理和
回路7に加えられる。従つて、この排他的論理和回路7
より第7図Cに示すような第2の遅延回路6の遅延時間
に応じたパルス幅を持つパルス信号が得られる。このパ
ルス信号はローパスフィルタ8を通じて電圧信号■、に
変換された後、比較回路9に加えられて端子lOから加
えられる制御信号■いとレベル比較される。この制御信
号VCIは例えば上記再生ビデオ信号から検出された時
間軸エラー信号である。
された基準信号は同図への基準信号と共に排他的論理和
回路7に加えられる。従つて、この排他的論理和回路7
より第7図Cに示すような第2の遅延回路6の遅延時間
に応じたパルス幅を持つパルス信号が得られる。このパ
ルス信号はローパスフィルタ8を通じて電圧信号■、に
変換された後、比較回路9に加えられて端子lOから加
えられる制御信号■いとレベル比較される。この制御信
号VCIは例えば上記再生ビデオ信号から検出された時
間軸エラー信号である。
上記比較回路9から得られる比較出力電圧VCIは第1
及び第2の遅延回路1.6に電源電圧、即ち遅延時間制
御信号VC1として加えられる。
及び第2の遅延回路1.6に電源電圧、即ち遅延時間制
御信号VC1として加えられる。
上述した構成及び動作によれば、ローパスフィルタ8か
ら得られる第2の遅延回路6の遅延時間に応じたレベル
を有する電圧信号v1はまた第1の遅延回路1の遅延時
間を検出したものとなる。
ら得られる第2の遅延回路6の遅延時間に応じたレベル
を有する電圧信号v1はまた第1の遅延回路1の遅延時
間を検出したものとなる。
これと共に上記信号■ヨと制御信号■。、とが等しくな
るように制御ループが動作することにより、第1の遅延
回路lの温度特性に基づく遅延時間の変化を補償するこ
とができると共に、制御信号■。。
るように制御ループが動作することにより、第1の遅延
回路lの温度特性に基づく遅延時間の変化を補償するこ
とができると共に、制御信号■。。
と遅延時間との関係に直線性を持たせることができる。
以上はCMOSインバータ2を多段接続して成る遅延回
路l、6を用いた場合の実施例について述べたが、イン
バータ以外のCMOS回路を多段接続して遅延回路を構
成することも可能である。
路l、6を用いた場合の実施例について述べたが、イン
バータ以外のCMOS回路を多段接続して遅延回路を構
成することも可能である。
上述した第6図の回路では、CMOSインバータ2のス
レッショルド電圧vtnや温度特性等にばらつきがある
と、遅延時間の制御範囲が制限されると言う問題がある
0例えば第6図の遅延回路1が、制御信号vc!が3〜
5vの間で制御されるものとし、また第9図に示すよう
に、上記スレッショルド電圧vTMによって遅延時間が
TX Taの範囲で制御可能であり、温度特性によっ
て遅延時間がT IT sの範囲で制御可能であるもの
とする。このような場合、遅延回路1は、2つの制御可
能範囲T t −T aとTI T3との共通の範囲
T * T aの狭い範囲でしか使用することができ
ないことになる。従来は制御範囲を広げるためにCMO
Sインバータの段数を増やしていたため、製造コストの
上昇を招いていた。尚、第6図の回路は温度変化に対し
て遅延時間を一定に制御することはできるが、温度特性
のばらつきについては補償することはできない。
レッショルド電圧vtnや温度特性等にばらつきがある
と、遅延時間の制御範囲が制限されると言う問題がある
0例えば第6図の遅延回路1が、制御信号vc!が3〜
5vの間で制御されるものとし、また第9図に示すよう
に、上記スレッショルド電圧vTMによって遅延時間が
TX Taの範囲で制御可能であり、温度特性によっ
て遅延時間がT IT sの範囲で制御可能であるもの
とする。このような場合、遅延回路1は、2つの制御可
能範囲T t −T aとTI T3との共通の範囲
T * T aの狭い範囲でしか使用することができ
ないことになる。従来は制御範囲を広げるためにCMO
Sインバータの段数を増やしていたため、製造コストの
上昇を招いていた。尚、第6図の回路は温度変化に対し
て遅延時間を一定に制御することはできるが、温度特性
のばらつきについては補償することはできない。
本発明においては、多段接続されたCMOS回路から成
り、入力信号が供給される第1の遅延回路と、所定周波
数の基準信号を発生する回路と、多段接続されたCMO
S回路から成り上記基準信号が供給される第2の遅延回
路と、所定の遅延時間を有し、多段接続されたCMOS
回路から成り、所定の電源電圧が供給され、上記基準信
号が供給される第3の遅延回路と、上記第2の遅延回路
の出力信号と上記第3の遅延回路の出力信号とによって
交互に反転されるフリップフロップ回路と、上記第2又
は第3の遅延回路の出力信号と上記フリップフロップ回
路の出力信号とを加算する手段と、上記加算手段の出力
信号と制御信号とを比較し、その比較出力電圧を上記第
1及び第2の遅延回路に電源電圧として供給する比較回
路とを設けている。
り、入力信号が供給される第1の遅延回路と、所定周波
数の基準信号を発生する回路と、多段接続されたCMO
S回路から成り上記基準信号が供給される第2の遅延回
路と、所定の遅延時間を有し、多段接続されたCMOS
回路から成り、所定の電源電圧が供給され、上記基準信
号が供給される第3の遅延回路と、上記第2の遅延回路
の出力信号と上記第3の遅延回路の出力信号とによって
交互に反転されるフリップフロップ回路と、上記第2又
は第3の遅延回路の出力信号と上記フリップフロップ回
路の出力信号とを加算する手段と、上記加算手段の出力
信号と制御信号とを比較し、その比較出力電圧を上記第
1及び第2の遅延回路に電源電圧として供給する比較回
路とを設けている。
〔作用〕 。
上記第2の遅延回路の出力信号と上記第3の遅延回路の
出力信号とを位相比較することによって、CMOS回路
のばらつきを吸収することができる。
出力信号とを位相比較することによって、CMOS回路
のばらつきを吸収することができる。
また第1の遅延回路の遅延時間の制御範囲をばらつきを
生じる種々のファクタで夫々規制される制御範囲のうち
の最小の大きさと成すことができる。
生じる種々のファクタで夫々規制される制御範囲のうち
の最小の大きさと成すことができる。
またフリップフロップ回路を用いて位相検波器を構成し
ているので、θ°の位相差を中心にした広い範囲に亘る
位相検波を行うことができる。
ているので、θ°の位相差を中心にした広い範囲に亘る
位相検波を行うことができる。
第1図は本発明の実施例を示し、第6図と同一部分には
同一符号が付されている。
同一符号が付されている。
本実施例においては、第3の遅延回路11と、インバー
タ12.13と、第1及び第2のフリップフロップ回路
14.15と、抵抗R,、R1とが設けられており、他
の部分は第6図と同一に構成されている。
タ12.13と、第1及び第2のフリップフロップ回路
14.15と、抵抗R,、R1とが設けられており、他
の部分は第6図と同一に構成されている。
上記第3の遅延回路11はCMOSインバータ2を上記
第2の遅延回路6と同じ段数で多段接続して成るもので
、一定の電源電圧VC3が加えられ且つ第1、第2の遅
延回路1.6と共通のワンチップに構成されている。こ
の電圧VC3は、遅延回路6.11の遅延時間が最小と
なる゛大きさ、即ち、制御範囲における最大電圧に選ば
れている。例えば第9図について前述したように制御範
囲が3〜5■の場合は■。、=5■に選ばれる。
第2の遅延回路6と同じ段数で多段接続して成るもので
、一定の電源電圧VC3が加えられ且つ第1、第2の遅
延回路1.6と共通のワンチップに構成されている。こ
の電圧VC3は、遅延回路6.11の遅延時間が最小と
なる゛大きさ、即ち、制御範囲における最大電圧に選ば
れている。例えば第9図について前述したように制御範
囲が3〜5■の場合は■。、=5■に選ばれる。
フリップフロップ回路14は遅延回路60B点における
出力信号の立上りでリセットされると共に、遅延回路1
1の0点における出力信号をインバータ12で反転した
信号、即ち0点の信号の立下りでセットされる。またフ
リップフロップ15は0点の信号の立上りでセントされ
ると共に、B点の信号をインバータ13で反転した信号
、即ちB点の信号の立下りでリセットされる。フリップ
フロップ回路14のQ、出力信号とフリップフロップ回
路15のQ2出力信号とは夫々抵抗R2、R8を介して
D点で加算され、この加算出力信号がローパスフィルタ
8に加えられる。
出力信号の立上りでリセットされると共に、遅延回路1
1の0点における出力信号をインバータ12で反転した
信号、即ち0点の信号の立下りでセットされる。またフ
リップフロップ15は0点の信号の立上りでセントされ
ると共に、B点の信号をインバータ13で反転した信号
、即ちB点の信号の立下りでリセットされる。フリップ
フロップ回路14のQ、出力信号とフリップフロップ回
路15のQ2出力信号とは夫々抵抗R2、R8を介して
D点で加算され、この加算出力信号がローパスフィルタ
8に加えられる。
上記フリップフロップ回路14.15、インバーター2
.13、抵抗R+ 、R1及びローパスフィルタ8によ
り、差動型位相検波回路16が構成されている。
.13、抵抗R+ 、R1及びローパスフィルタ8によ
り、差動型位相検波回路16が構成されている。
今、A点の基準信号の周期をT * 、V ct =
V C3のときの遅延回路11の前述した最小遅延時間
をT08、遅延回路6の変化する遅延時間をTc、遅延
回路6.11のCMOSインバータ2の段数をn、遅延
回路1のCMOSインバータ2の段数をN、遅延回路l
の遅延時間をTイ、Vc:+=5Vとすると、 ”rx = ’rc X −−−−−・・−m−−−・
−・−−−(1)I となる。そしてVc8が最大値VC3となったとき上記
(2)式は、 V、 = 2.5 ’−−−−・・・・・・−・・・
・・・・・・−・(3)となる。このとき、■1はCM
OSインバータ2の遅延量と無関係に一定となる。また
Tcが変化したときの差動型位相検波回路16の検波感
度Sは、 T寓 となる。ここでT、は一定であるから検波感度SはCM
OSインバータ2の特性に関係な(一定となる。従って
、比較回路9により、■、とVCIとの差■。を得、こ
の■。を遅延回路1.6にフィードバックすることによ
り、このフィードバックループのゲインが充分であれば
、VCIに対するT。
V C3のときの遅延回路11の前述した最小遅延時間
をT08、遅延回路6の変化する遅延時間をTc、遅延
回路6.11のCMOSインバータ2の段数をn、遅延
回路1のCMOSインバータ2の段数をN、遅延回路l
の遅延時間をTイ、Vc:+=5Vとすると、 ”rx = ’rc X −−−−−・・−m−−−・
−・−−−(1)I となる。そしてVc8が最大値VC3となったとき上記
(2)式は、 V、 = 2.5 ’−−−−・・・・・・−・・・
・・・・・・−・(3)となる。このとき、■1はCM
OSインバータ2の遅延量と無関係に一定となる。また
Tcが変化したときの差動型位相検波回路16の検波感
度Sは、 T寓 となる。ここでT、は一定であるから検波感度SはCM
OSインバータ2の特性に関係な(一定となる。従って
、比較回路9により、■、とVCIとの差■。を得、こ
の■。を遅延回路1.6にフィードバックすることによ
り、このフィードバックループのゲインが充分であれば
、VCIに対するT。
はリニアになる。またCMOSインバータ2の温度特性
やスレッショルド電圧■?□等にばらつきがあればTH
INもばらつくので、上記(2)式における’rc−’
r□8によってばらつきが吸収される。
やスレッショルド電圧■?□等にばらつきがあればTH
INもばらつくので、上記(2)式における’rc−’
r□8によってばらつきが吸収される。
第2〜4図は第1図におけるB点、0点、Q、、Q2及
びD点の各出力信号のタイミングチャートを示すもので
、第2図はB点の信号と0点の信号とが同相の場合を示
し、第3図はB点の信号が0点の信号よりT1だけ遅れ
た場合を示し、第4図はB点の信号が0点の信号よりT
!たけ進んだ場合を示している。
びD点の各出力信号のタイミングチャートを示すもので
、第2図はB点の信号と0点の信号とが同相の場合を示
し、第3図はB点の信号が0点の信号よりT1だけ遅れ
た場合を示し、第4図はB点の信号が0点の信号よりT
!たけ進んだ場合を示している。
第2のようにB点の信号と0点の信号とが同相の場合は
、両者の和であるD点の信号には基準信号の周波数成分
が現われず、このとき■、は2.5■となる。またB点
の信号と0点の信号とのずれ量T+、Tzに応じて■、
が2.5■を中心にして増大又は減少することになる。
、両者の和であるD点の信号には基準信号の周波数成分
が現われず、このとき■、は2.5■となる。またB点
の信号と0点の信号とのずれ量T+、Tzに応じて■、
が2.5■を中心にして増大又は減少することになる。
即ち、この差動型位相検波器16は2つの入力信号の位
相差がθ″のときを中心に位相検波することが可能とな
る。その場合、検波範囲を一180″〜十iso”とす
ることができる、また2つのフリップフロップ回路14
.15を用いているので、B点の信号と0点の信号とが
同相のとき第2図のように、Q、出力信号とQ2出力信
号とが打消し合ってD点の出力信号には基準信号のキャ
リア成分が現れない、このためこの位相検波器16を2
つの入力信号の位相差が少い部分で用いれば、D点の出
力信号のキャリア成分が抑圧されるので、後段のローパ
スフィルタ8の負担が軽くなり、その構成を簡単にする
ことができる。
相差がθ″のときを中心に位相検波することが可能とな
る。その場合、検波範囲を一180″〜十iso”とす
ることができる、また2つのフリップフロップ回路14
.15を用いているので、B点の信号と0点の信号とが
同相のとき第2図のように、Q、出力信号とQ2出力信
号とが打消し合ってD点の出力信号には基準信号のキャ
リア成分が現れない、このためこの位相検波器16を2
つの入力信号の位相差が少い部分で用いれば、D点の出
力信号のキャリア成分が抑圧されるので、後段のローパ
スフィルタ8の負担が軽くなり、その構成を簡単にする
ことができる。
また第2〜4図及び第7図では基準信号のデユーティ比
が50%の場合であるが、上記位相検波器16は基準信
号のデユーディ比がずれた場合も用いることができる。
が50%の場合であるが、上記位相検波器16は基準信
号のデユーディ比がずれた場合も用いることができる。
第5図Aは上記Q1出力信号を積分した場合の検波電圧
と位相との関係を示し、同図Bは上記Q8出力信号を積
分した場合の検波電圧と位相との関係を示し、同図Cは
Q、出力信号とQ2出力信号との和を積分した電圧V、
と位相との関係を示す。
と位相との関係を示し、同図Bは上記Q8出力信号を積
分した場合の検波電圧と位相との関係を示し、同図Cは
Q、出力信号とQ2出力信号との和を積分した電圧V、
と位相との関係を示す。
同図A、Bの点線で示すカーブは基準信号のデユーティ
比が50%の場合を示し、実線で示すカーブは基準信号
のデユーティ比が3:4の割合でずれた場合を示してい
る。同図Cから明らかなように、デユーティ比がずれた
場合は検波範囲が若干狭くなる程度で実用上は支障なく
使用することができる。
比が50%の場合を示し、実線で示すカーブは基準信号
のデユーティ比が3:4の割合でずれた場合を示してい
る。同図Cから明らかなように、デユーティ比がずれた
場合は検波範囲が若干狭くなる程度で実用上は支障なく
使用することができる。
尚、第1図の実施例においては、2個のフリップフロッ
プ回路14.15のうちの一方を省略して、フリップフ
ロップ回路14又は15のQ1出力信号又はQ:出力信
号とB点又は0点の信号とを加算するようにしてもよい
、またフリップフロップ回路14.15のセット信号と
リセント信号とを入れ替えてもよい。
プ回路14.15のうちの一方を省略して、フリップフ
ロップ回路14又は15のQ1出力信号又はQ:出力信
号とB点又は0点の信号とを加算するようにしてもよい
、またフリップフロップ回路14.15のセット信号と
リセント信号とを入れ替えてもよい。
本実施例においては、第1の遅延回路1がメイン遅延回
路、第2の遅延回路6が制御用遅延回路、第3の遅延回
路12が標準モニタ用遅延回路として夫々機能すること
になる。そして本発明においては上記標準モニタの出力
と上記制御用遅延回路の出力とを位相比較することによ
って、CMOSインバータ2のばらつきを吸収するよう
にしている。
路、第2の遅延回路6が制御用遅延回路、第3の遅延回
路12が標準モニタ用遅延回路として夫々機能すること
になる。そして本発明においては上記標準モニタの出力
と上記制御用遅延回路の出力とを位相比較することによ
って、CMOSインバータ2のばらつきを吸収するよう
にしている。
従って、本実施例によれば、遅延回路1の遅延時間T、
の絶対値はばらつくもののVCI対vMをリニアにする
ことができると共に、CMOSインバータ2のばらつき
を大幅に吸収することができ、これによってその接続段
数を大幅に削減することができる。また遅延回路1の遅
延時間T。の制御範囲を、ばらつきを生じる種々のファ
クタで夫々規制される制御範囲のうち最小の大きさと成
すことができる。例えば第9図の場合では(TI T
3)> (T! Ta )であれば、制御範囲をT
2−T、とすることができ、従来の制御範囲Tt −T
、より広げることができる。またフリップフロップ回路
を用いて位相検波回路を構成しているので、0″の位相
差を中心にした広い範囲に亘る位相検波を行うことがで
きる。
の絶対値はばらつくもののVCI対vMをリニアにする
ことができると共に、CMOSインバータ2のばらつき
を大幅に吸収することができ、これによってその接続段
数を大幅に削減することができる。また遅延回路1の遅
延時間T。の制御範囲を、ばらつきを生じる種々のファ
クタで夫々規制される制御範囲のうち最小の大きさと成
すことができる。例えば第9図の場合では(TI T
3)> (T! Ta )であれば、制御範囲をT
2−T、とすることができ、従来の制御範囲Tt −T
、より広げることができる。またフリップフロップ回路
を用いて位相検波回路を構成しているので、0″の位相
差を中心にした広い範囲に亘る位相検波を行うことがで
きる。
CMO3回路を多段接続して成る遅延回路の制御電圧遅
延時間特性をリニアにすることができる。
延時間特性をリニアにすることができる。
またCMO3回路のばらつきを大幅に吸収することがで
きるので、CMO3回路の接続段数を大幅に削減して、
歩留りを改善し、製造コストを下げることができる。さ
らにまたフリップフロップ回路を用いて位相検波回路を
構成しているので、0@の位相差を中心にした広い範囲
に亘る位相検波を行うことができる。
きるので、CMO3回路の接続段数を大幅に削減して、
歩留りを改善し、製造コストを下げることができる。さ
らにまたフリップフロップ回路を用いて位相検波回路を
構成しているので、0@の位相差を中心にした広い範囲
に亘る位相検波を行うことができる。
第1図は本考案の実施例を示すブロック回路図、第2〜
4図は第1図のタイミングチャート、第5図は第1図の
位相検波特性図、第6図はCMOSインバータを多段接
続して成る遅延回路を用いた可変遅延装置の従来例を示
すブロック回路図、第7図は第1図の要部の信号波形図
、第8図はCMOSインバータの多段接続回路の電源電
圧に対する伝搬遅延時間の特性を示すグラフ、第9図は
CMOSインバータのばらつきにより制御範囲が制限さ
れることを説明するための図である。 なお図面に用いた符号において、 1・・・・−・・・・・・−・・・・・・・第1の遅延
回路6・・・−・・−・・−・・・−・・・・第2の遅
延回路11 ・・・・・・・−・・・・−・第3の遅
延回路5・・・・・−・−・・・−・・・・−・基準信
号発生回路14.15・・・−・・・・〜・フリップフ
ロップ回路28、h・・−・・−・・・・抵抗 9・−・・・・・・−・−・・・・−・−比較回路であ
る。
4図は第1図のタイミングチャート、第5図は第1図の
位相検波特性図、第6図はCMOSインバータを多段接
続して成る遅延回路を用いた可変遅延装置の従来例を示
すブロック回路図、第7図は第1図の要部の信号波形図
、第8図はCMOSインバータの多段接続回路の電源電
圧に対する伝搬遅延時間の特性を示すグラフ、第9図は
CMOSインバータのばらつきにより制御範囲が制限さ
れることを説明するための図である。 なお図面に用いた符号において、 1・・・・−・・・・・・−・・・・・・・第1の遅延
回路6・・・−・・−・・−・・・−・・・・第2の遅
延回路11 ・・・・・・・−・・・・−・第3の遅
延回路5・・・・・−・−・・・−・・・・−・基準信
号発生回路14.15・・・−・・・・〜・フリップフ
ロップ回路28、h・・−・・−・・・・抵抗 9・−・・・・・・−・−・・・・−・−比較回路であ
る。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、多段接続されたCMOS回路から成り、入力信号が
供給される第1の遅延回路と、 所定周波数の基準信号を発生する回路と、 多段接続されたCMOS回路から成り、上記基準信号が
供給される第2の遅延回路と、 多段接続されたCMOS回路から成り、所定の電源電圧
が供給され、上記基準信号が供給される第3の遅延回路
と、 上記第2の遅延回路の出力信号と上記第3の遅延回路の
出力信号とによって交互に反転される第1のフリップフ
ロップ回路と、 上記第2又は第3の遅延回路の出力信号と上記第1のフ
リップフロップ回路の出力信号とを加算する手段と、 上記加算手段の出力信号と制御信号とを比較し、その比
較出力電圧を上記第1及び第2の遅延回路に電源電圧と
して供給する比較回路とを具備して成るCMOS回路を
用いた可変遅延装置。 2、上記第2の遅延回路の出力信号と上記第3の遅延回
路の、出力信号とによって交互に且つ上記第1のフリッ
プフロップ回路とは異るタイミングで反転される第2の
フリップフロップ回路を設け、 上記第1のフリップフロップ回路の出力信号と上記第2
のフリップフロップ回路の出力信号とを上記加算手段に
供給するようにした特許請求の範囲第1項に記載のCM
OS回路を用いた可変遅延装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61214873A JPS6369315A (ja) | 1986-09-11 | 1986-09-11 | Cmos回路を用いた可変遅延装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61214873A JPS6369315A (ja) | 1986-09-11 | 1986-09-11 | Cmos回路を用いた可変遅延装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6369315A true JPS6369315A (ja) | 1988-03-29 |
Family
ID=16662977
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61214873A Pending JPS6369315A (ja) | 1986-09-11 | 1986-09-11 | Cmos回路を用いた可変遅延装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6369315A (ja) |
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02159815A (ja) * | 1988-12-13 | 1990-06-20 | Sony Corp | 可変遅延装置 |
EP0447219A2 (en) * | 1990-03-15 | 1991-09-18 | Hewlett-Packard Company | Sub-nanosecond calibrated delay line structure |
JPH053423A (ja) * | 1990-09-18 | 1993-01-08 | Fujitsu Ltd | 基準遅延発生装置及びこれを用いた電子装置 |
EP0697768A1 (fr) * | 1994-08-18 | 1996-02-21 | Matra Mhs | Détecteur de transition d'un signal logique engendrant une impulsion de durée calibrée |
US5684423A (en) * | 1991-10-09 | 1997-11-04 | Fujitsu Limited | Variable delay circuit |
US6157231A (en) * | 1999-03-19 | 2000-12-05 | Credence System Corporation | Delay stabilization system for an integrated circuit |
US6166577A (en) * | 1995-03-29 | 2000-12-26 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor integrated circuit device and microcomputer |
US6229364B1 (en) * | 1999-03-23 | 2001-05-08 | Infineon Technologies North America Corp. | Frequency range trimming for a delay line |
WO2002076055A1 (en) * | 2001-03-19 | 2002-09-26 | Hitachi, Ltd. | Interface circuit |
JP2007124363A (ja) * | 2005-10-28 | 2007-05-17 | Nec Electronics Corp | 遅延ロックループ回路 |
JP2010288273A (ja) * | 2010-05-20 | 2010-12-24 | Advantest Corp | 遅延信号生成回路、及び、遅延回路 |
EP2239849B1 (en) * | 2009-04-06 | 2018-03-14 | III Holdings 12, LLC | Apparatus and method for compensating for process, voltage, and temperature variation of the time delay of a digital delay line |
-
1986
- 1986-09-11 JP JP61214873A patent/JPS6369315A/ja active Pending
Cited By (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02159815A (ja) * | 1988-12-13 | 1990-06-20 | Sony Corp | 可変遅延装置 |
EP0447219A2 (en) * | 1990-03-15 | 1991-09-18 | Hewlett-Packard Company | Sub-nanosecond calibrated delay line structure |
JPH053423A (ja) * | 1990-09-18 | 1993-01-08 | Fujitsu Ltd | 基準遅延発生装置及びこれを用いた電子装置 |
US5684423A (en) * | 1991-10-09 | 1997-11-04 | Fujitsu Limited | Variable delay circuit |
EP0697768A1 (fr) * | 1994-08-18 | 1996-02-21 | Matra Mhs | Détecteur de transition d'un signal logique engendrant une impulsion de durée calibrée |
FR2723805A1 (fr) * | 1994-08-18 | 1996-02-23 | Matra Mhs | Detecteur de transition d'un signal logique engendrant une impulsion de duree calibree. |
US6597220B2 (en) | 1995-03-29 | 2003-07-22 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor integrated circuit device and microcomputer |
US6166577A (en) * | 1995-03-29 | 2000-12-26 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor integrated circuit device and microcomputer |
US6388483B1 (en) | 1995-03-29 | 2002-05-14 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor integrated circuit device and microcomputer |
US6472916B2 (en) | 1995-03-29 | 2002-10-29 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor integrated circuit device and microcomputer |
US6608509B1 (en) * | 1995-03-29 | 2003-08-19 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor integrated circuit device and microcomputer |
US6819158B2 (en) | 1995-03-29 | 2004-11-16 | Renesas Technology Corp. | Semiconductor integrated circuit device and microcomputer |
US7161408B2 (en) | 1995-03-29 | 2007-01-09 | Renesas Technology Corp. | Semiconductor integrated circuit device and microcomputer |
US6157231A (en) * | 1999-03-19 | 2000-12-05 | Credence System Corporation | Delay stabilization system for an integrated circuit |
US6229364B1 (en) * | 1999-03-23 | 2001-05-08 | Infineon Technologies North America Corp. | Frequency range trimming for a delay line |
WO2002076055A1 (en) * | 2001-03-19 | 2002-09-26 | Hitachi, Ltd. | Interface circuit |
JP2007124363A (ja) * | 2005-10-28 | 2007-05-17 | Nec Electronics Corp | 遅延ロックループ回路 |
EP2239849B1 (en) * | 2009-04-06 | 2018-03-14 | III Holdings 12, LLC | Apparatus and method for compensating for process, voltage, and temperature variation of the time delay of a digital delay line |
JP2010288273A (ja) * | 2010-05-20 | 2010-12-24 | Advantest Corp | 遅延信号生成回路、及び、遅延回路 |
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