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JPS6343158A - 電子写真感光体 - Google Patents

電子写真感光体

Info

Publication number
JPS6343158A
JPS6343158A JP18831786A JP18831786A JPS6343158A JP S6343158 A JPS6343158 A JP S6343158A JP 18831786 A JP18831786 A JP 18831786A JP 18831786 A JP18831786 A JP 18831786A JP S6343158 A JPS6343158 A JP S6343158A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
electrophotographic photoreceptor
photoconductive
gas
charge generation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP18831786A
Other languages
English (en)
Inventor
Hideji Yoshizawa
吉澤 秀二
Tatsuya Ikesue
龍哉 池末
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Toshiba Intelligent Technology Co Ltd
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Intelligent Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Toshiba Intelligent Technology Co Ltd filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP18831786A priority Critical patent/JPS6343158A/ja
Priority to US07/079,463 priority patent/US4803141A/en
Priority to DE19873726688 priority patent/DE3726688A1/de
Publication of JPS6343158A publication Critical patent/JPS6343158A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y20/00Nanooptics, e.g. quantum optics or photonic crystals
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G5/00Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
    • G03G5/02Charge-receiving layers
    • G03G5/04Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
    • G03G5/08Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
    • G03G5/082Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
    • G03G5/08214Silicon-based
    • G03G5/08264Silicon-based comprising seven or more silicon-based layers

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Photoreceptors In Electrophotography (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) この発明は、帯電特性、暗減衰特性、光感度特性及び耐
環境性等が優れた電子写真感光体に関する。
(従来の技術) 従来、電子写真感光体の光導電層を形成する材料として
、CdS、Zn0%Se、5e−Te。
As2 Se3若しくはアモルファスシリコン等の無機
材料又はポリ−N−ビニルカルバゾール(PVCz)若
しくはトリニトロフルオレノン(TNF)等の有機材料
が使用されている。しかしながら、これらの従来の光導
電性材料においては、光導電特性上、又は製造工種々の
問題点があり、感光体システムの特性をある程度犠牲に
して使用目的に応じてこれらの材料を使い分けている。
例えば、Se、As及びCdSは、人体に対して有害な
材料であり、その製造に際しては、安全対策−1、特別
の配慮が必要である。従って、製造装置複雑になるため
製造コストが高いと共に、特に、Se、Asは回収する
必要があるため回収コストが付加されるという問題点が
ある。また、Se又は5e−Te系においては、結晶化
温度が65℃と低いため、複写を繰返している間に結晶
化し、残留電位等により光導電特性上の問題が生じ、こ
のため、寿命が短いので実用性が低い。
さらに、ZnOは、酸化還元が生じやすく、環境雰囲気
の影響を著しく受けるため、使用上、信頼性が低いとい
う問題点がある。
更にまた、PVCz及びTNF等9有機光導電性材料は
、発癌性物質である疑いが持たれており、人体の健康上
問題があるのに加え、を機材材は熱安定性及び耐摩耗性
が低く、寿命が短いという欠点がある。
一方、アモルファスシリコン(以下、a−Siと略す)
は、近時、光導電変換材料として注目されており、太陽
電池、薄膜トランジスタ及びイメージセンサへの応用が
活発になされている。このa−Si:Hの応用の一環と
して、a−3t:Hを電子写真感光体の光導電性材料と
して使用する試みがなされており、a−Si:H用した
感光体は、無公害の材料であるから回収処理の必要がな
いこと、他の材料に比して可視光領域で高い分光感度を
有すること、表面硬度が高く耐摩耗性及び耐衝撃性が優
れていること等の利点を有する。
このa−5t:Hは、カールソン方式に基づく感光体と
して検討が進められているが、この場合に、感光体特性
として抵抗及び光感度が高いことが要求される、しかし
ながら、この両特性を単一層の感光体で満足させること
が困難であるため、光導電層と導電性支持体との間に障
壁層を設け、光導電層上に表面電荷保持層を設けた積層
型の構造にすることにより、このような要求を満足させ
ている。
(発明が解決しようとする問題点) ところで、a−Si:Hは、通常、シラン系ガスを使用
したグロー放電分解法により形成されるが、この際に、
a−Si:H膜中に水素が取り込まれ、水素量の差によ
り電気的及び光学的特性が大きく変動する。即ち、a−
Si:H膜に侵入する水素の駄が多くなると、光学的バ
ンドギャップが大きくなり、a−S i : Hの抵抗
が高くなるが、それにともない、長波長光に対する光感
度が低下してしまうので、例えば、半導体レーザを搭載
したレーザビームプリンタに使用することが困難である
。また、a−Si:H膜中の水素の含有量が多い場合は
、成膜条件によって(SiH2)n及びSiH2等の結
合構造を有するものが膜中で大部分の領域を占める場合
がある。そうすると、ボイドが増加し、シリコンダング
リングボンドが増加するため、光導電特性が劣化し、電
子写真感光体として使用不能になる。逆に、a−3i:
H中に侵入する水素の量が低下すると、光学的バンドギ
ャップが小さくなり、その抵抗が小さくなるが、長波長
光に対する光感度が増加する。しかし、通常の成膜条件
で作成した従来のa−3i:Hにオイては、水素含有量
が少ないと、シリコンダングリングボンドと結合してこ
れを減少させるべき水素が少なくなる。このため、発生
するキャリアの移動度が低下し、寿命が短くなると共に
、光導電特性が劣化してしまい、電子写真感光体として
使用し難いものとなる。
なお、長波長光に対する感度を高める技術として、シラ
ン系ガスとゲルマンGeH4とを混合し、グロー放電分
解することにより、光学的バンドギャップが狭い膜を生
成するものがあるが、一般に、シラン系ガスとGeH4
とでは、最適基板温度が異なるため、生成した膜は構造
欠陥が多く、良好な光導電特性を得ることができない。
また、GeH4の廃ガスは酸化されると有毒ガスとなる
ので、廃ガス処理も複雑である。従って、このような技
術は実用性がない。
この発明は、かかる事情に鑑みてなされたものであって
、帯電能が優れており、残留電位が低く、近赤外領域ま
での広い波長領域に亘って感度が高く、基板との密着性
が良く、耐環境性が優れた電子写真感光体を提供するこ
とを目的とする。
〔発明の構成コ (問題点を解決するための手段) この発明に係る電子写真感光体は、導電性支持体と、こ
の導電性支持体の上に形成された画像形成層とを有する
電子写真感光体において、前記画像形成層は電荷発生層
と電荷輸送層とを備えた光導電層を釘し、前記電荷輸送
層は、珪素を母体とした非晶質材料で形成されており、
前記電荷発生層は、珪素を母体とし非晶質材料で形成さ
れた層と炭素を含有しその少なくとも一部が微結晶化し
た半導体層とが交互に積層する積層体を有することを特
徴とする。
(作用) この発明は、前述の従来技術の欠点を解消し、優れた光
導電特性(電子写真特性)と耐環境性とを兼備した電子
写真感光体を開発すべく本願発明者等が種々実験研究を
重ねた結果、電荷発生層の全ての領域又はその一部の領
域を超格子構造にすることにより、この目的を達成する
ことができることに想到して、この発明を完成させたも
のである。この場合に、この超格子構造は、極めて薄い
層であって、珪素を母体とし非晶質材料で形成された層
と、炭素を含有し微結晶を有する半導体層とが交互に積
層することにより得ることができる。
(実施例) 以下、添付図面を参照してこの発明の実施例について具
体的に説明する。第1図はこの発明の実施例に係る電子
写真感光体の断面図である。第1図においては、導電体
支持体21の上に障壁層22が形成され、障壁層22の
上に光導電層23か形成されている。光導電層23は、
電荷発生層26と電荷輸送層25とを有する機能分離型
のものであって、障壁層22の上に電荷輸送層25が形
成されており、この電荷輸送層25の上には電6:I発
生層26が形成されている。更に、この電荷発生層26
の上には表面層24が形成されている。
電層::j発生層26は光の入射により、キャリアを発
生し、このキャリヤは一方の極性のものが感光体表面の
帯電電荷と中和し、他方のものが電荷輸送層25を走行
して導電性支持体21まで到達する。
この実施例においては、電荷発生層26は、第2図にそ
の断面図を拡大して示すように、薄層31及び32を交
互に積層して構成されている。
薄層31,32は、光学バンドギャップが相違し、夫々
、厚みが30乃至500人の範囲にある。第2図は横軸
に厚み方向をとり、縦軸に光学的バンドギャップをとっ
て示す超格子構造のエネルギバンド図である。この実施
例においては、薄層31゜32を夫々水素を含有するマ
イクロクリスタリンシリコン(以下、μc−3t:Hと
略す)に炭素Cを含有させたもの(以下、μc−5iC
:Hと略す)、及び、水素を含有するアモルファスシリ
コン(以下、a−Si:Hと略す)により構成する。第
3図に示すように、a−3i:Hの光学的バンドギャッ
プが1.75eVでμc−3iC:Hの光学的バンドギ
ャップが1.65eVであるから、a−3i:Hがポテ
ンシャルのバリアと°なり、μc−SiC:Hがポテン
シャルの井戸となる。このため、μc−SiC:Hの薄
層とa−3t :Hの薄層とを交互に積層することによ
って周期的なポテンシャルの井戸を形成することができ
る。このように、光学的バンドギャップがt口互にこと
なる薄層を積層することによって、光学的バンドギャッ
プの大きさ自体に拘りなく、光学的バンドギャップの小
さい層を基準にして光学的バンドギャップが大きな層が
バリアとなる周期的なポテンシャルバリアを何する超格
子構造が形成される。この超格子構造においては、光の
入射により発生するキャリアの数が多い。従って、光感
度が高い。なお、超格子構造の薄層のバンドギャップと
層厚とを変更することにより、ペテロ接合超格子構造を
有する層のみかけのバンドギャップを自由に調整するこ
とができる。
上述のように、μc−3i:HにCを含有させることに
より、暗抵抗を高くして光導電特性を高めることができ
る。Cはシリコンダングリングボンドのターミネータと
して作用して、バンド間の禁制帯中に存在する状態密度
を減少させ、これにより、暗抵抗が高くなると考えられ
る。
a−3i:H及び(tc−Si:Hには、水素Hを0.
01乃至30原子%好ましくは1乃至25原子%含qさ
せる。これにより、シリコンのダングリングボンドが補
償され、暗抵抗と明抵抗が調和のとれたものとなり、光
導電特性が向上する。
薄層をグロー放電分解法により成膜する場合には、原料
としてSiH4及びSi2H6等のシラン類ガスを反応
室に導入し、高周波によりグロー放電することにより薄
層中にHを添加することができる。また、薄層中にCを
添加する場合には、導入ガス中にCH4等の炭化水素ガ
スを含有させる。
μc−Si:Hは、支持体の温度をaisi:Hを形成
する場合よりも高く設定し、高周波電力もa−Si:H
の場合よりも高く設定すると、形成されやすくなる。ま
た、支持体温度及び高周波電力を高くすることにより、
シランガス等の原料ガスの流量を増大させることができ
、その結果成膜速度を速くすることができる。また、原
料ガスのSiH4及び5L2H6等の高次のシランガス
を水素で希釈したガスを使用することにより、μc−5
t:Hを一層高効率で形成することがでの特徴により、
a−3t:H及びポリクリスタリンシリコン(多結晶シ
リコン)から明確に区別される。即ち、X回折装置にお
いては、a−白i:Hは無定形であるため、ハローのみ
が現れ、回折硯 パターンを認めることができないが、μC−5Lは、2
θが27乃至28.5°付近にある結晶回折パターンを
示す。また、ポリクリスタリンシリ粒径が約数十オング
ストローム以上である微結晶と非晶質の混合相により形
成されている。
μc−St:H及びa−Si:Hをp型にするためには
、周期律表の第■族に属する元素、例えば、ホウ素B1
アルミニウムAl、ガリウムGa。
インジウムIn、及びタリウムTI等をドーピングする
ことが好ましく、μc−St:H層をn型にするために
は、周期律表の第V族に属する元素、例えば、窒素N1
リンP1ヒ素As、アンチモンSb、及びビスマスBi
等をドーピングすることが好ましい。このp型不純物又
はn型不純物を光導電層又は障壁層にドーピングするこ
とにより、支持体側から光導電層へ電荷が移動すること
か防止される。
一方、S i F、ガス等のハロゲン化珪素を原料ガス
として使用することができる。また、シラン類ガスとハ
ロゲン化珪素ガスとの混合ガスで反応させても、同様に
μc−5i;H及びa−3i:Hを成膜することができ
る。なお、グロー放電分解法によらず、例えば、スパッ
タリング等の物理的な方法によってもこれらの薄層を形
成することができる。必要に応じて、シラン類のキャリ
アガスとして水素又はヘリウムガスを使用することがで
きる。
電荷輸送層25は、電荷発生層26で発生したキャリア
を高効率で支持体21側に到達させる層であり、このた
め、キャリア寿命が長く、輸送性が高いことが必要であ
る。この電荷輸送層25は、a−Si:Hを使用して形
成する。これにより、キャリアの走行性が良好な電荷輸
送層25を形成することかできる。
障壁層22は、導電性支持体21と、電荷発生層25と
の間の電荷の流れを抑制することにより、感光体の表面
における電荷の保持機能を高め、感光体の帯電能を高め
る。カールソン方式においては、感光体表面をに正帯電
させる場合には、支持体側から電荷発生層へ電子が注入
されることを防止するために、障壁層をp型にする。一
方、感光体表面を負帯電させる場合には、支持体側がら
電7、:r発生層へ正孔が注入されることを防止するた
めに、障壁層をn型にする。また、障壁層として、絶縁
性の膜を支持体の上に形成することも可能である。障壁
層はμc−Si:Hを使用して形成してもよいし、a−
3i:Hを使用して形成することも6■能である。この
場合に、これらμc−Si:H又はa−Si:Hに、炭
素C1窒素N及び酸素Oから選択された少なくとも一種
の元素を含何させることにより高抵抗の絶縁性の障壁層
を形成することができる。障壁層22の厚みは100人
乃至10μmが好ましい。
電荷発生層26の上に表面層24が設けられている。電
荷発生層26のa−SiC:H等は、その屈折率が3乃
至3.4と比較的大きいため、表面での光反射が起きや
すい。このような光反射が生じると、光導電層23又は
電荷発生層26に吸収される光量の割合が低下し、光損
失が大きくなる。このため、表面層24を設けて反射を
防止することが好ましい。また、表面層24を設けるこ
とにより、電荷発生層26が損傷から保護される。
さらに、表面層24を形成することにより、帯電能が向
上し、表面に電荷がよくのるようになる。
表面層24を形成する材料としては、a−3iN:Hs
 a  S iO: Hs及びa−SiC:H等の無機
化合物並びにポリ塩化ビニル及びホリアミド等の有機材
料がある。
このように構成される電子感光体の表面を、コロナ放電
により約500vの正電圧で帯電させると、例えば、第
2図に示す機能分離型の電子写真感光体の場合には、第
5図に示すように、ポテンシャルバリアが形成される。
この感光体に光(hν)が入射すると、電荷発生層26
の超格子構造で電子と正孔のキャリアが発生する。この
伝導体の電子は、感光体中の電界により、表面層24側
に向けて加速され、正孔は導電性支持体21側に向けて
加速される。この場合に、光学的バンドギャップが相違
する薄層の境界で発生するキャリアの数は、バルクで発
生するキャリアの数よりも極めて多い。このため、この
超格子構造においては、光感度が高い。また、ポテンシ
ャルの井戸層においては、量子効果のために、超格子で
ないql一層の場合に比較して、キャリアの寿命が5乃
至10倍と長い。更に、超格子構造においては、バンド
ギャップの不連続性におり、周期的なバリア層が形成さ
れるが、キャリアはトンネル効果で容易にバイアス層を
通り抜けるので、キャリアの実効移動度はバルクにおけ
る移動度と同等であり、キャリアの走行性が優れている
。以上のように、光学的バンドギャップが相違する薄層
を積層した超格子構造によれば、高光導電性を得ること
ができ、従来の感光体よりも鮮明な画像を得ることがで
きる。また、この超格子構造により各層間の歪みが少な
くなるので層のはがれが発生しにくくなり、基板との密
着性が良好になる。
第4図は、この発明の実施例に係る電子写真感光体をグ
ロー放電法により製造する装置を示す図である。ガスボ
ンベ1,2.3.4には、例えば、夫々S iH4、B
2 H6、H2、He、CH4。
N2等の原料ガスが収容されている。これらのガスボン
ベ1,2.3.4内のガスは、流量調整用のバルブ6及
び配管7を介して混合器8に供給されるようになってい
る。各ボンベには、圧力計5が設置されており、この圧
力計5を監視しつつ、バルブ6を:B整することにより
、混合器8に供給する各原料ガスの流量及び混合比を調
節することができる。混合器8にて混合されたガスは反
応容器9に供給される。反応容器9の底部11には、同
転軸10が鉛直方向の回りに回転可能に取りつけられて
おり、この回転輪10の上端に、円板状の支持台12が
その面を回転輪10に垂直にして固定されている。反応
容器9内には、円筒状の電極13がその軸中心を回転軸
10の軸中心と一致させて底部ll上に設置されている
。感光体のドラム基体14が支持台12上にその軸中心
を回転軸10の軸中心と一致させて載置されており、こ
のドラム基体14の内側には、ドラム基体加熱用のヒー
タ15が配設されている。電極13とドラム基体14と
の間には、高周波電源16が接続されており、電極13
及びドラム基体14間に高周波電流が供給されるように
なっている。回転軸10はモータ18により回転駆動さ
れる。反応容器9内の圧力は、圧力計17により監視さ
れ、反応容器9は、ゲートバルブ18を介して真空ポン
プ等の適宜の排気手段に連結されている。
このように構成される装置により感光体を製造する場合
には、反応容器9内にドラム基体14を設置した後、ゲ
ートバルブ19を開にして反応容器9内を約0.1トル
(Torr)の圧力以下に排気する。次いで、ボンベ1
,2.3.4から所要の反応ガスを所定の混合比で混合
して反応容器9内に導入する。この場合に、反応容器9
内に導入するガス流量は、反応容器9内の圧力が0. 
1乃至1トルになるように設定する。次いで、モータ1
8を作動させてドラム基体14を回転させ、ヒータ15
によりドラム基体14を一定温度に加熱すると共に、高
周波電源16により電極13とドラム基体14との間に
高周波電流を供給して、両者間にグロー放電を形成する
。これにより、ドラム基体14上にa−3i:H又はμ
c−5i:Hが堆積する。なお、原料ガス中に N20
゜NH3,NO2,N2.CH4,C2Ha、02ガス
等を使用することにより、これらの元素をa−St:H
又はμc−3i;H中に含有させることができる。
このように、この発明に係る電子写真感光体は、クロー
ズドシステムの製造装置で製造することができるため、
人体に対して安全である。また、この電子写真感光体は
、耐熱性、耐湿性及び耐摩耗性が優れているため、長期
に亘り繰り返し使用しても劣化が少なく、寿命が長いと
いう利点がある。
さらに、GeH4等の長波長増感用ガスが不要であるの
で、廃ガス処理設備を設ける必要がなく、工業的生産性
が著しく高い。
なお、この実施例では、電荷発生層を構成する薄層の一
方としてa−3i:Hを使用したが、これにCを念育さ
せたa−5iC:Hを使用することもできる。
次に、この発明に係る電子写真感光体を成膜し、電子写
真特性を試験した結果について説明する。
試験例1 必要に応じて、干渉防止のために、酸処理、アルカリ処
理及びサンドブラスト処理を施した直径が80u、長さ
が350 mrtrアルミニウム製ドラニドラム基体容
器内に装着し、反応容器内を、図示しない拡散ポンプに
より、排気し、約1O−s)ルの真空度に排気した。そ
の後、ドラム基体を250℃に加熱し、10 rpmで
自転させつつ、SiH4ガスを500SCCM、、B2
H6ガスをSiH4ガス流量に対する流量比で10−6
、CH4ガスを11005CCという流量で反応容器内
に導入し、反応容器内を1トルに調節した。
そして、電極に13.56MHzの高周波電力を印加し
て、電極とドラム基体との間に、SiH4゜B2H6及
びCH4のプラズマを生起させ、p型のa−SiC:H
からなる障壁層を形成した。
次いで、B2H6/SiH4比を10−7に設定し、5
00Wの高周波電力を投入して20μmのi型a−5i
Hからなる電荷輸送層を形成した。
その後、放電を一日、停止トし、SiH4ガスを110
05CC,CH4ガスを5SCCM、H2ガスを120
03CCMという流量で反応容器内に導入し、反応圧力
を1.8トルに22 節した。そして、1.2KWの高
周波電力を印加して50人のμc−3iC:Hの薄層を
形成した。次いで、S i H4ガスを5003CCM
、H2ガスを750SCCMという流量に設定し、B2
 H6/SiH4比が10−7になるようにB2H6の
流量を設定して500Wの高周波電力を印加することに
より、50人のa−3t:Hの薄層を形成した。このよ
うな操作を繰返して250層のμC−5iC:H薄層と
250VAのa−3i:H薄層とを交互に積層し、5μ
mのへテロ接合超格子構造の電荷発生層を成形した。次
いで、0.1μmのa−3iC:Hの表面層を形成した
。なお、μC−3iC:H薄層の結晶化度及び結晶粒径
は、夫々60%及び50人であった。
このようにして形成した感光体表面を約500Vで正帯
電し、白色光を露光すると、この光は電荷発生層で吸収
され、電子正孔対のキャリアが発生する。この試験例に
おいては、多数のキャリアが発生し、キャリア寿命が高
く、高い走行性が得られた。これにより、鮮明で高品質
の画像が得られた。また、この試験例で製造された感光
体を、繰返し帯電させたところ、転写画像の再現性及び
安定性は極めて良好であり、更に、耐コロナ性、耐湿性
、及び耐摩耗性等の耐久性が優れていることが実証され
た。また、このようにして製造された感光体は、半導体
レーザの発振波長である780乃至790nmの長波長
に対しても高い感度を有する。この感光体を半導体レー
ザプリンタに搭載してカールソンプロセスにより画像を
形成したところ、感光体の露光量が25crg/cTj
である場合でも、鮮明で高解像度の画像を得ることがで
きた。なお、通常光を露光した場合においても、白色光
の場合と同様に、この感光体を繰返し帯電したところ、
転写画像の再現性及び安定性が高く、耐コロナ性、耐湿
性及び耐摩耗性等の耐久性が優れていた。
試験例2 この試験例においては、障壁層をp型のμC−3iC:
Hとした他は、試験例1と同様の層構成とした。  こ
の場合に、S iH4ガスを100S1005CCガス
を1500SCCM、CH。
ガスを20SCCM、B2H6ガスをB2 H6/Si
H4がI X 10−2となるような流量に設定して反
応室に導入し、反応圧力を1.5トルとして1.2KW
の高周波電力を印加し、0.5μmの薄層を形成した。
この層の結晶化度及び結晶粒径は夫々65%及び70人
であった。
このようにして成膜した電子写真感光体を半導体レーザ
プリンタに装着してカールソンプロセスにより画像を形
成したところ、いずれの場合にも鮮明で高解像度の画像
を得ることができた。また、繰返し帯電させたところ、
いずれの場合にも画像の再現性及び安定性が高く、耐コ
ロナ性、耐湿性及び耐摩耗性等の耐久性が優れているこ
とが実証された。
試験例3 この試験例においては、試験例1における電荷発生層の
a−Si:Hで構成された薄層に炭素を含qさせた他は
試験例1と同一条件で他の各層をSi、H4 形成した。この場合に、CH4/÷→守吐キが0.01
5になるようにCH,の流量を調節した。
この結果、電子写真感光体の表面電位が約2割上昇した
試験例4 この試験例においては、電荷輸送層にCを含有させた他
は試験例1と同一条件で他の各層を形成した。この場合
に、CHa / S i H4カ0. 03になるよう
にCH,の流量を調節した。この結果、電子写真感光体
の表面電位が約3割上昇した。
なお、これら試験例においては、電荷輸送層の厚みが5
μmであったが、これに限らず、1又は3μm等に設定
しても感光体として実用可能である。
[発明の効果] この発明によれば、電荷発生層の少なくとも一部に、珪
素を母体とした非晶質層と、炭素を含有し少なくとも一
部が微結晶化した半導体層との積層体で構成される超格
子構造を使用するがら、可視光から近赤外い光の広い波
長領域に亘って高感度であり、キャリアの走行性が高い
と共に、高抵抗で帯電特性が優れた電子写真感光体を得
ることができる。また、このように電荷発生層の少なく
とも一部を超格子構造にすることにより、層間の歪みを
小さくすることができ、基板との密着性を良好にするこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の実施例に係る電子写真感光体を示す
断面図、第2図は第1図の一部拡大断面図、第3図は超
格子構造のエネルギバンドを示す図、第4図はこの発明
の実施例に係る電子写真感光体の製造装置を示す図、第
5図は感光体のエネルギギャップを示す模式図である。 1.2.3.4;ボンベ、5;圧力計、6;バルブ、7
;配管、8;混合器、9;反応容器、10;回転軸、1
3;電極、14;ドラム基体、15:ヒータ、16;高
周波電源、19;ゲートバルブ、21;導電性支持体、
22;障壁層、23;光導電層、24;表面層、25;
電荷輸送層、26;電荷発生層、31,32;薄層。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第1図 第2図 厚み方向 第3図 第4図 第5図

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)導電性支持体と、この導電性支持体の上に形成さ
    れた画像形成層とを有する電子写真感光体において、前
    記画像形成層は電荷発生層と電荷輸送層とを備えた光導
    電層を有し、前記電荷輸送層は、珪素を母体とした非晶
    質材料で形成されており、前記電荷発生層は、珪素を母
    体とし非晶質材料で形成された層と炭素を含有しその少
    なくとも一部が微結晶化した半導体層とが交互に積層す
    る積層体を有することを特徴とする電子写真感光体。
  2. (2)前記電荷発生層を構成する各層は、30乃至50
    0Åの層厚を有することを特徴とする特許請求の範囲第
    1項に記載の電子写真感光体。
  3. (3)前記非晶質材料は炭素を含有していることを特徴
    とする特許請求の範囲第1項又は第2項に記載の電子写
    真感光体。
  4. (4)前記画像形成層は、導電体の上に形成され、珪素
    を母体とした非晶質層又は少なくともその一部が微結晶
    化した半導体層により構成された障壁層を有することを
    特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の電子写真感光
    体。
  5. (5)前記光導電層は、周期律表の第III族又は第V族
    に属する元素を含有することを特徴とする特許請求の範
    囲第1項乃至第3項のいずれか1項に記載の電子写真感
    光体。
  6. (6)前記障壁層は、周期律表の第III族又は第V族に
    属する元素を含有することを特徴とする特許請求の範囲
    第4項に記載の電子写真感光体。
  7. (7)前記障壁層は、炭素、酸素及び窒素のうち少なく
    とも一種の元素を含有することを特徴とする特許請求の
    範囲第4項又は第6項に記載の電子写真感光体。
  8. (8)前記画像形成層は、前記光導電層の上に形成され
    た表面層を有することを特徴とする特許請求の範囲第1
    項に記載の電子写真感光体。
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