JPS6343159A - 電子写真感光体 - Google Patents
電子写真感光体Info
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- JPS6343159A JPS6343159A JP18831886A JP18831886A JPS6343159A JP S6343159 A JPS6343159 A JP S6343159A JP 18831886 A JP18831886 A JP 18831886A JP 18831886 A JP18831886 A JP 18831886A JP S6343159 A JPS6343159 A JP S6343159A
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- electrophotographic photoreceptor
- gas
- photoconductive
- charge generation
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y20/00—Nanooptics, e.g. quantum optics or photonic crystals
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G5/00—Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
- G03G5/02—Charge-receiving layers
- G03G5/04—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
- G03G5/08—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
- G03G5/082—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
- G03G5/08214—Silicon-based
- G03G5/08264—Silicon-based comprising seven or more silicon-based layers
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- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
この発明は、帯電特性、暗減衰特性、光感度特性及び耐
環境性等が優れた電子写真感光体に関する。
環境性等が優れた電子写真感光体に関する。
(従来の技術)
従来、電子写真感光体の光導電層を形成する材料として
、CdS、ZnO,Se、5e−Te。
、CdS、ZnO,Se、5e−Te。
As2Se3若しくはアモルファスシリコン等の無機材
料又はポリ−N−ビニルカルバゾール(PVCz)若し
くはトリニトロフルオレノン(TNF)等の有機材料が
使用されている。しかしながら、これらの従来の光導電
性材料においては、光導電特性上、又は製造工種々の問
題点があり、感光体システムの特性をある程度犠牲にし
て使用目的に応じてこれらの材料を使い分けている。
料又はポリ−N−ビニルカルバゾール(PVCz)若し
くはトリニトロフルオレノン(TNF)等の有機材料が
使用されている。しかしながら、これらの従来の光導電
性材料においては、光導電特性上、又は製造工種々の問
題点があり、感光体システムの特性をある程度犠牲にし
て使用目的に応じてこれらの材料を使い分けている。
例えば、Se、As及びCdSは、人体に対して9害な
材料であり、その製造に際しては、安全対策上、特別の
配慮が必要である。従って、製造装置段雑になるため製
造コストが高いと共に、特に、Se、Asは回収する必
要があるため回収コストが付加されるという問題点があ
る。また、Se又は5e−Te系においては、結晶化温
度が65°Cと低いため、複写を繰返している間に結晶
化し、残留電位等により光導電特性上の問題が生じ、こ
のため、寿命が短いので実用性が低い。
材料であり、その製造に際しては、安全対策上、特別の
配慮が必要である。従って、製造装置段雑になるため製
造コストが高いと共に、特に、Se、Asは回収する必
要があるため回収コストが付加されるという問題点があ
る。また、Se又は5e−Te系においては、結晶化温
度が65°Cと低いため、複写を繰返している間に結晶
化し、残留電位等により光導電特性上の問題が生じ、こ
のため、寿命が短いので実用性が低い。
さらに、ZnOは、酸化還元が生じやすく、環境雰囲気
の影響を著しく受けるため、使用上、信頼性が低いとい
う問題点がある。
の影響を著しく受けるため、使用上、信頼性が低いとい
う問題点がある。
更にまた、PVCz及びTNF等の有機光導電性材料は
、発癌性物質である疑いが持たれており、人体の健康上
問題があるのに加え、有機材料は熱安定性及び耐摩耗性
が低く、寿命が短いという欠点がある。
、発癌性物質である疑いが持たれており、人体の健康上
問題があるのに加え、有機材料は熱安定性及び耐摩耗性
が低く、寿命が短いという欠点がある。
一方、アモルファスシリコン(以下、a−5i:Hと略
す)は、近時、光導電変換材料として注目されており、
太陽電池、薄膜トランジスタ及びイメージセンサへの応
用が活発になされている。このa−Si:Hの応用の一
環として、a−Si:体は、無公害の材料であるから回
収処理の必要がないこと、他の材料に比して可視光領域
で高い分光感度をaすること、表面硬度が高く耐摩耗性
及び耐衝撃性が優れていること等の利点を有する。
す)は、近時、光導電変換材料として注目されており、
太陽電池、薄膜トランジスタ及びイメージセンサへの応
用が活発になされている。このa−Si:Hの応用の一
環として、a−Si:体は、無公害の材料であるから回
収処理の必要がないこと、他の材料に比して可視光領域
で高い分光感度をaすること、表面硬度が高く耐摩耗性
及び耐衝撃性が優れていること等の利点を有する。
このa−3i:Hは、カールソン方式に基づく感光体と
して検討が進められているが、この場合に、感光体特性
として抵抗及び光感度が高いことか要求される、しかし
ながら、この両特性を単一層の感光体で満足させること
が困難であるため、光導電層と導電性支持体との間に障
壁層を設け、光導電層上に表面電荷保持層を設けた積層
型の構造にすることにより、このような要求を満足させ
ている。
して検討が進められているが、この場合に、感光体特性
として抵抗及び光感度が高いことか要求される、しかし
ながら、この両特性を単一層の感光体で満足させること
が困難であるため、光導電層と導電性支持体との間に障
壁層を設け、光導電層上に表面電荷保持層を設けた積層
型の構造にすることにより、このような要求を満足させ
ている。
(発明が解決しようとする問題点)
ところで、a−Si+Hは、通常、シラン系ガスを使用
したグロー放電分解法により形成されるか、この際に、
a−3i:H膜中に水素が取り込まれ、水素二の差によ
り電気的及び光学的特性が大きく変動する。即ち、a−
3i:H膜に侵入する水素の量が多くなると、光学的バ
ンドギャップが大きくなり、a−3t:Hの抵抗が高く
なるが、それにともない、長波長光に対する光感度が低
下してしまうので、例えば、半導体レーザを搭載したレ
ーザビームプリンタに使用することが困難である。また
、a−Si:H膜中の水素の含有量が多い場合は、成膜
条件によって(SiH2)n及びSiH2等の結合構造
を有するものが膜中で大部分の領域を占める場合がある
。そうすると、ボイドが増加し、シリコンダングリング
ボンドが増加するため、光導電特性が劣化し、電子写真
感光体として使用不能になる。逆に、a−Si:H中に
侵入する水素の量が低下すると、光学的バンドギャップ
が小さくなり、その抵抗が小さくなるが、長波長光に対
する光感度が増加する。しかし、通常の成膜条件で作成
した従来のa−3i:Hにおいては、水素含有量が少な
いと、シリコンダングリングボンドと結合してこれを減
少させるべき水素が少なくなる。このため、発生するキ
ャリアの移動度が低下し、寿命が短くなると共に、光導
電特性が劣化してしまい、電子写真感光体として使用し
難いものとなる。
したグロー放電分解法により形成されるか、この際に、
a−3i:H膜中に水素が取り込まれ、水素二の差によ
り電気的及び光学的特性が大きく変動する。即ち、a−
3i:H膜に侵入する水素の量が多くなると、光学的バ
ンドギャップが大きくなり、a−3t:Hの抵抗が高く
なるが、それにともない、長波長光に対する光感度が低
下してしまうので、例えば、半導体レーザを搭載したレ
ーザビームプリンタに使用することが困難である。また
、a−Si:H膜中の水素の含有量が多い場合は、成膜
条件によって(SiH2)n及びSiH2等の結合構造
を有するものが膜中で大部分の領域を占める場合がある
。そうすると、ボイドが増加し、シリコンダングリング
ボンドが増加するため、光導電特性が劣化し、電子写真
感光体として使用不能になる。逆に、a−Si:H中に
侵入する水素の量が低下すると、光学的バンドギャップ
が小さくなり、その抵抗が小さくなるが、長波長光に対
する光感度が増加する。しかし、通常の成膜条件で作成
した従来のa−3i:Hにおいては、水素含有量が少な
いと、シリコンダングリングボンドと結合してこれを減
少させるべき水素が少なくなる。このため、発生するキ
ャリアの移動度が低下し、寿命が短くなると共に、光導
電特性が劣化してしまい、電子写真感光体として使用し
難いものとなる。
なお、長波長光に対する感度を高める技術として、シラ
ン系ガスとゲルマンGeH4とを混合し、グロー放電分
解することにより、光学的バンドギャップが狭い膜を生
成するものがあるガ(、一般に、シラン系ガスとGeH
4とでは、最適基板温度が異なるため、生成した膜は構
造欠陥が多く、良好な光導電特性着古ることができない
。また、GeH4の廃ガスは酸化されると有毒ガスとな
るので、廃ガス処理も複雑である。従って、このような
技術は実用性がない。
ン系ガスとゲルマンGeH4とを混合し、グロー放電分
解することにより、光学的バンドギャップが狭い膜を生
成するものがあるガ(、一般に、シラン系ガスとGeH
4とでは、最適基板温度が異なるため、生成した膜は構
造欠陥が多く、良好な光導電特性着古ることができない
。また、GeH4の廃ガスは酸化されると有毒ガスとな
るので、廃ガス処理も複雑である。従って、このような
技術は実用性がない。
この発明は、かかる事情に鑑みてなされたものであって
、帯電能が優れており、残留電位が低く、近赤外領域ま
での広い波長領域に亘って感度が高く、基板との密着性
が良く、耐環境性が優れた電子写真感光体を提供するこ
とを目的とする。
、帯電能が優れており、残留電位が低く、近赤外領域ま
での広い波長領域に亘って感度が高く、基板との密着性
が良く、耐環境性が優れた電子写真感光体を提供するこ
とを目的とする。
[発明の構成]
(問題点を解決するための手段)
この発明に係る電子写真感光体は、導電性支持体と、こ
の導電性支持体の上に形成された画像形成層とを有する
電子写真感光体において、前記画像形成層は電荷発生層
と電荷輸送層とを備えた光導電層を有し、前記電荷輸送
層は、珪素を母体としその少なくとも一部が微結晶化し
た半導体材料で形成されており、前記電荷発生層は、珪
素を母体とじ非晶質材料で形成された層と炭素を含有し
その少なくとも一部が微結晶化した半導体層とが交互に
積層する積層体を有することを特徴とする。
の導電性支持体の上に形成された画像形成層とを有する
電子写真感光体において、前記画像形成層は電荷発生層
と電荷輸送層とを備えた光導電層を有し、前記電荷輸送
層は、珪素を母体としその少なくとも一部が微結晶化し
た半導体材料で形成されており、前記電荷発生層は、珪
素を母体とじ非晶質材料で形成された層と炭素を含有し
その少なくとも一部が微結晶化した半導体層とが交互に
積層する積層体を有することを特徴とする。
(作用)
この発明は、前述の従来技術の欠点を解消し、優れた光
導電特性(電子写真特性)と耐環境性とを兼備した電子
写真感光体を開発すべく本願発明者等が杯々実験研究を
重ねた結果、電荷発生層の全ての領域又はその一部の領
域を超格子構造にすることにより、この目的を達成する
ことができることに想到して、この発明を完成させたも
のである。この場合に、この超格子構造は、極めて薄い
層であって、珪素を母体とじ非晶質材料で形成された層
と、炭素を含有し微結晶を有する半導体層とが交互に積
層することにより得ることができる。
導電特性(電子写真特性)と耐環境性とを兼備した電子
写真感光体を開発すべく本願発明者等が杯々実験研究を
重ねた結果、電荷発生層の全ての領域又はその一部の領
域を超格子構造にすることにより、この目的を達成する
ことができることに想到して、この発明を完成させたも
のである。この場合に、この超格子構造は、極めて薄い
層であって、珪素を母体とじ非晶質材料で形成された層
と、炭素を含有し微結晶を有する半導体層とが交互に積
層することにより得ることができる。
(実施例)
以下、添付図面を参照してこの発明の実施例について具
体的に説明する。第1図はこの発明の実施例に係る電子
写真感光体の断面図である。第1図においては、導電体
支持体21の一■−に障壁層22が形成され、障壁層2
2の上に光導電層23が形成されている。光導電層23
は、電荷発生層26と電荷輸送層25とを有する機能分
離型のものであって、障壁層22の上に電荷輸送層25
が形成されており、この電荷輸送層25の上には電荷発
生層26が形成されている。更に、この電荷発生層26
の上には表面層24が形成されている。
体的に説明する。第1図はこの発明の実施例に係る電子
写真感光体の断面図である。第1図においては、導電体
支持体21の一■−に障壁層22が形成され、障壁層2
2の上に光導電層23が形成されている。光導電層23
は、電荷発生層26と電荷輸送層25とを有する機能分
離型のものであって、障壁層22の上に電荷輸送層25
が形成されており、この電荷輸送層25の上には電荷発
生層26が形成されている。更に、この電荷発生層26
の上には表面層24が形成されている。
電荷発生層26は光の入射により、キャリアを発生し、
このキャリヤは一方の極性のものが感光体表面の帯電電
荷と中和し、他方のものが電荷輸送層25を走行して導
電性支持体21まで到達する。
このキャリヤは一方の極性のものが感光体表面の帯電電
荷と中和し、他方のものが電荷輸送層25を走行して導
電性支持体21まで到達する。
この実施例においては、電荷発生層26は、第2図にそ
の断面図を拡大して示すように、薄層31及び32を交
互に積層して構成されている。
の断面図を拡大して示すように、薄層31及び32を交
互に積層して構成されている。
薄層31,32は、光学バンドギャップが相違し、夫々
、厚みが30乃至500人の範囲にある。第2図は横軸
に厚み方向をとり、縦軸に光学的バンドギャップをとっ
て示す超格子構造のエネルギバンド図である。この実施
例においては、薄層31゜32を夫々水素を含有するマ
イクロクリスタリンシリコン(以下、μc−St:Hと
略す)に炭素Cを含有させたもの(以下、μc−SiC
:Hと略す)、及び、水素を含有するアモルファスシリ
コン(以)、、a−Si:Hと略す)により構成する。
、厚みが30乃至500人の範囲にある。第2図は横軸
に厚み方向をとり、縦軸に光学的バンドギャップをとっ
て示す超格子構造のエネルギバンド図である。この実施
例においては、薄層31゜32を夫々水素を含有するマ
イクロクリスタリンシリコン(以下、μc−St:Hと
略す)に炭素Cを含有させたもの(以下、μc−SiC
:Hと略す)、及び、水素を含有するアモルファスシリ
コン(以)、、a−Si:Hと略す)により構成する。
第3図に示すように、a−St:Hの光学的バンドギャ
ップが1.75eVでμc−SiC:Hの光学的バンド
ギャップが1.6eVであるがら、a−Si:Hがポテ
ンシャルのバリアとなり、μc−3iC:Hがポテンシ
ャルの井戸となる。
ップが1.75eVでμc−SiC:Hの光学的バンド
ギャップが1.6eVであるがら、a−Si:Hがポテ
ンシャルのバリアとなり、μc−3iC:Hがポテンシ
ャルの井戸となる。
このため、μc−SiC:Hの薄層とa−3i:Hの薄
層とを交互に積層することによって周期的なポテンシャ
ルの井戸を形成することができる。
層とを交互に積層することによって周期的なポテンシャ
ルの井戸を形成することができる。
このように、光学的バンドギャップが相互にことなる′
4層を積層することによって、光学的バンドギャップの
大きさ自体に拘りなく、光学的バンドギャップの小さい
層を基準にして光学的バンドギャップが大きな層がバリ
アとなる周期的なポテンシャルバリアを有する超格子構
造が形成される。
4層を積層することによって、光学的バンドギャップの
大きさ自体に拘りなく、光学的バンドギャップの小さい
層を基準にして光学的バンドギャップが大きな層がバリ
アとなる周期的なポテンシャルバリアを有する超格子構
造が形成される。
この超格子構造においては、光の入射により発生するキ
ャリアの数が多い。従って、光感度が高い。
ャリアの数が多い。従って、光感度が高い。
なお、超格子構造の薄層のバンドギャップと層厚とを変
更することによ′す、ペテロ接合超格子構造をaする層
のみかけのバンドギャップを自由に調整することができ
る。
更することによ′す、ペテロ接合超格子構造をaする層
のみかけのバンドギャップを自由に調整することができ
る。
1−述のように、μc−5i:HにCを含をさせること
により、暗抵抗を高くして光導電特性を高めることがで
きる。Cはシリコンダングリングボンドのターミネータ
として作用して、バンド間の禁制帯中に存在する状態密
度を減少させ、これにより、暗抵抗が高くなると考えら
れる。
により、暗抵抗を高くして光導電特性を高めることがで
きる。Cはシリコンダングリングボンドのターミネータ
として作用して、バンド間の禁制帯中に存在する状態密
度を減少させ、これにより、暗抵抗が高くなると考えら
れる。
a−Si:H及びμc−5t:Hには、水素Hを0.0
1乃至30原子%好ましくは1乃至25原子%含有させ
る。これにより、シリコンのダンプリングボンドが?I
li償され、暗抵抗と明抵抗が調和のとれたものとなり
、光導電特性が向上する。
1乃至30原子%好ましくは1乃至25原子%含有させ
る。これにより、シリコンのダンプリングボンドが?I
li償され、暗抵抗と明抵抗が調和のとれたものとなり
、光導電特性が向上する。
薄層をグロー放電分解法により成膜する場合には、原料
としてSiH4及びSi2H6等のシラン類ガスを反応
室に導入し、高周波によりグロー放電することにより薄
層中にHを添加することができる。また、薄層中にCを
添加する場合には、導入ガス中にCH4等の炭化水素ガ
スを含有させる。
としてSiH4及びSi2H6等のシラン類ガスを反応
室に導入し、高周波によりグロー放電することにより薄
層中にHを添加することができる。また、薄層中にCを
添加する場合には、導入ガス中にCH4等の炭化水素ガ
スを含有させる。
μc−3i:Hは、支持体の温度をa−Si:Hを形成
する場合よりも高く設定し、高周波電力もa−Si:H
の場合よりも高く設定すると、形成されやすくなる。ま
た、支持体温度及び高周波電力を高くすることにより、
シランガス等の原料ガスの流量を増大させることができ
、その結果成膜速度を速くすることができる。また、原
料ガスのSiH4及びSi2H6等の高次のシランガス
を水素で希釈したガスを使用することにより、μc−5
t:Hを一層高効率で形成することができる。
する場合よりも高く設定し、高周波電力もa−Si:H
の場合よりも高く設定すると、形成されやすくなる。ま
た、支持体温度及び高周波電力を高くすることにより、
シランガス等の原料ガスの流量を増大させることができ
、その結果成膜速度を速くすることができる。また、原
料ガスのSiH4及びSi2H6等の高次のシランガス
を水素で希釈したガスを使用することにより、μc−5
t:Hを一層高効率で形成することができる。
一
ところで、μc−Slは、以下のような物性上の特徴に
より、a−Si:H及びポリクリスタリンシリコン(多
結晶シリコン)から明確に区別される。即ち、X回折装
置においては、a−Si:Hは無定形であるため、ハロ
ーのみが現れ、回折パターンを認めることができないが
、μc−8饅は、2θが27乃至28.5@付近にある
結晶回折パターンを示す。また、ポリクリスタリンシリ
粒径が約数十オングストローム以上である微結晶と非晶
質の混合相により形成されている。
より、a−Si:H及びポリクリスタリンシリコン(多
結晶シリコン)から明確に区別される。即ち、X回折装
置においては、a−Si:Hは無定形であるため、ハロ
ーのみが現れ、回折パターンを認めることができないが
、μc−8饅は、2θが27乃至28.5@付近にある
結晶回折パターンを示す。また、ポリクリスタリンシリ
粒径が約数十オングストローム以上である微結晶と非晶
質の混合相により形成されている。
μc−Si:H及びa−St:Hをp型にするためには
、周期律表の第■族に属する元素、例えば、ホウ素B1
アルミニウムAI、ガリウムGa。
、周期律表の第■族に属する元素、例えば、ホウ素B1
アルミニウムAI、ガリウムGa。
インジウムIn、及びタリウムT1等をドーピングする
ことが好ましく、μc−3t:H層をn型にするために
は、周期律表の第V族に属する元素、例えば、窒素N1
リンP1ヒ素A s sアンチモンSb1及びビスマス
Bi等をドーピングすることが好ましい。このn型不純
物又はn型不純物を光導電層又は障壁層にドーピングす
ることにより、支持体側から光導電層へ電荷が移動する
ことが防止される。
ことが好ましく、μc−3t:H層をn型にするために
は、周期律表の第V族に属する元素、例えば、窒素N1
リンP1ヒ素A s sアンチモンSb1及びビスマス
Bi等をドーピングすることが好ましい。このn型不純
物又はn型不純物を光導電層又は障壁層にドーピングす
ることにより、支持体側から光導電層へ電荷が移動する
ことが防止される。
一方、S i F4ガス等のハロゲン化珪素を原料ガス
として使用することができる。また、シラン類ガスとハ
ロゲン化珪素ガスとの混合ガスで反応させても、同様に
μc−Si:H及びa−Si:Hを成膜することができ
る。なお、グロー放電分解法によらず、例えば、スパッ
タリング等の物理的な方法によってもこれらの薄層を形
成することができる。必要に応じて、シラン類のキャリ
アガスとして水素又はヘリウムガスを使用することがで
きる。
として使用することができる。また、シラン類ガスとハ
ロゲン化珪素ガスとの混合ガスで反応させても、同様に
μc−Si:H及びa−Si:Hを成膜することができ
る。なお、グロー放電分解法によらず、例えば、スパッ
タリング等の物理的な方法によってもこれらの薄層を形
成することができる。必要に応じて、シラン類のキャリ
アガスとして水素又はヘリウムガスを使用することがで
きる。
電荷輸送層25は、電荷発生層26で発生したキャリア
を高効率で支持体21側に到達させる層であり、このた
め、キャリア寿命が長く、輸送性が高いことが必要であ
る。この電荷輸送層25は、μc−St:Hを使用して
形成する。これにより、キャリアの走行性が良好な電荷
輸送層25を形成することができる。
を高効率で支持体21側に到達させる層であり、このた
め、キャリア寿命が長く、輸送性が高いことが必要であ
る。この電荷輸送層25は、μc−St:Hを使用して
形成する。これにより、キャリアの走行性が良好な電荷
輸送層25を形成することができる。
障壁層22は、導電性支持体21と、電荷発生層25と
の間の電荷の流れを抑制することにより、感光体の表面
における電荷の保持機能を高め、感光体の帯電能を高め
る。カールソン方式においては、感光体表面をに正帯電
させる場合には、支持体側から電荷発生層へ電子が注入
されることを防止するために、障壁層をp型にする。一
方、感光体表面を負帯電させる場合には、支持体側から
電荷発生層へ正孔が注入されることを防止するために、
障壁層をn型にする。また、障壁層として、絶縁性の膜
を支持体の上に形成することも可能である。障壁層はμ
c−3i:Hを使用して形成してもよいし、a−3i:
Hを使用して形成することも可能である。この場合に、
これらμc−St:H又はa−Si:Hに、炭素C1窒
素N及び酸素0から選択された少なくとも一種の元素を
含有させることにより高抵抗の絶縁性の障壁層を形成す
ることができる。障壁層22の厚みは100人乃至10
μmが好ましい。
の間の電荷の流れを抑制することにより、感光体の表面
における電荷の保持機能を高め、感光体の帯電能を高め
る。カールソン方式においては、感光体表面をに正帯電
させる場合には、支持体側から電荷発生層へ電子が注入
されることを防止するために、障壁層をp型にする。一
方、感光体表面を負帯電させる場合には、支持体側から
電荷発生層へ正孔が注入されることを防止するために、
障壁層をn型にする。また、障壁層として、絶縁性の膜
を支持体の上に形成することも可能である。障壁層はμ
c−3i:Hを使用して形成してもよいし、a−3i:
Hを使用して形成することも可能である。この場合に、
これらμc−St:H又はa−Si:Hに、炭素C1窒
素N及び酸素0から選択された少なくとも一種の元素を
含有させることにより高抵抗の絶縁性の障壁層を形成す
ることができる。障壁層22の厚みは100人乃至10
μmが好ましい。
電荷発生層26の上に表面層24が設けられている。電
荷発生層26のa−3iC:H等は、その屈折率が3乃
至3,4と比較的大きいため、表面での光反射が起きや
すい。このような光反射が生じると、光導電層23又は
電荷発生層26に吸収される光量の割合が低下し、光損
失が大きくなる。このため、表面層24を設けて反射を
防止することが好ましい。また、表面層24を設けるこ
とにより、電荷発生層26が損傷から保護される。
荷発生層26のa−3iC:H等は、その屈折率が3乃
至3,4と比較的大きいため、表面での光反射が起きや
すい。このような光反射が生じると、光導電層23又は
電荷発生層26に吸収される光量の割合が低下し、光損
失が大きくなる。このため、表面層24を設けて反射を
防止することが好ましい。また、表面層24を設けるこ
とにより、電荷発生層26が損傷から保護される。
さらに、表面層24を形成することにより、帯電能が向
」ニし、表面に電荷がよくのるようになる。
」ニし、表面に電荷がよくのるようになる。
表面層24を形成する材料としては、a−SiN:H,
a−SiO:H,及びa−3iC:H等の無機化合物並
びにポリ塩化ビニル及びホリアミド等の6機材料がある
。
a−SiO:H,及びa−3iC:H等の無機化合物並
びにポリ塩化ビニル及びホリアミド等の6機材料がある
。
このように構成される電子感光体の表面を、コロナ放電
により約500vの正電圧で帯電させると、例えば、第
2図に示す機能分離型の電子写真感光体の場合には、第
5図に示すように、ポテンシャルバリアが形成される。
により約500vの正電圧で帯電させると、例えば、第
2図に示す機能分離型の電子写真感光体の場合には、第
5図に示すように、ポテンシャルバリアが形成される。
この感光体に光(hν)が入射すると、電荷発生層26
の超格子(1′4造で電子と正孔のキャリアが発生する
。この伝導体の電子は、感光体中の電界により、表面層
24側に向けて加速され、正孔は導電性支持体21側に
向けて加速される。この場合に、光学的バンドギャップ
が相違する薄層の境界で発生するキャリアの数は、バル
クで発生するキャリアの数よりも極めて多い。このため
、この超格子構造においては、光感度が高い。また、ポ
テンシャルの井戸層においては、量子効果のために、超
格子でない単一層の場合に比較して、キャリアの寿命が
5乃至10倍と長い。更に、超格子構造においては、バ
ンドギャップの不連続性におり、周期的なバリア層が形
成されるが、キャリアはトンネル効果で容易にバイアス
層を通り抜けるので、キャリアの実効移動度はバルクに
おける移動度と同等であり、キャリアの走行性が優れて
いる。以上のように、光学的バンドギャップが相違する
薄層を積層1.た超格子構造によれば、高光導電性を得
ることができ、従来の感光体よりも鮮明な画像を得るこ
とができる。また、この超格子構造により各層間の歪み
が少なくなるので層のはがれが発生しにくくなり、基板
との密着性が良好になる。
の超格子(1′4造で電子と正孔のキャリアが発生する
。この伝導体の電子は、感光体中の電界により、表面層
24側に向けて加速され、正孔は導電性支持体21側に
向けて加速される。この場合に、光学的バンドギャップ
が相違する薄層の境界で発生するキャリアの数は、バル
クで発生するキャリアの数よりも極めて多い。このため
、この超格子構造においては、光感度が高い。また、ポ
テンシャルの井戸層においては、量子効果のために、超
格子でない単一層の場合に比較して、キャリアの寿命が
5乃至10倍と長い。更に、超格子構造においては、バ
ンドギャップの不連続性におり、周期的なバリア層が形
成されるが、キャリアはトンネル効果で容易にバイアス
層を通り抜けるので、キャリアの実効移動度はバルクに
おける移動度と同等であり、キャリアの走行性が優れて
いる。以上のように、光学的バンドギャップが相違する
薄層を積層1.た超格子構造によれば、高光導電性を得
ることができ、従来の感光体よりも鮮明な画像を得るこ
とができる。また、この超格子構造により各層間の歪み
が少なくなるので層のはがれが発生しにくくなり、基板
との密着性が良好になる。
第4図は、この発明の実施例に係る電子写真感光体をグ
ロー放電法により製造する装置を示す図である。ガスボ
ンベ1,2.3.4には、例えば、夫々S iH4、B
2 H6、H2、He、CHt 。
ロー放電法により製造する装置を示す図である。ガスボ
ンベ1,2.3.4には、例えば、夫々S iH4、B
2 H6、H2、He、CHt 。
N2等の原料ガスが収容されている。これらのガスボン
ベ1,2,3.4内のガスは、流量調整用のバルブ6及
び配管7を介して混合器8に供給されるようになってい
る。各ボンベには、圧力計5が設置されており、この圧
力計5を監視しつつ、バルブ6を、規整することにより
、混合器8に供給する各原料ガスの流量及び混合比を調
節することができる。混合器8にて混合されたガスは反
応容器9に供給される。反応容器9の底部11には、回
転軸10が鉛直方向の回りに回転可能に取りつけられて
おり、この回転軸10の上端に、円板状の支持台12が
その面を回転軸10に垂直にして固定されている。反応
容器9内には、円筒状の電極13かその軸中心を回転軸
10の軸中心と一致させて底部11上に設置されている
。感光体のドラム基体14が支持台12上にその軸中心
を回転軸10の軸中心と一致させて載置されており、こ
のドラム基体14の内側には、ドラム基体加熱用のヒー
タ15が配設されている。電極13とドラム基体14と
の間には、高周波電源16が接続されており、電極13
及びドラム基体14間に高周波電流が供給されるように
なっている。回転軸10はモータ18により回転駆動さ
れる。反応容器9内の圧力は、圧力計17により監視さ
れ、反応容器9は、ゲートバルブ18を介して真空ポン
プ等の適宜の排気手段に連結されている。
ベ1,2,3.4内のガスは、流量調整用のバルブ6及
び配管7を介して混合器8に供給されるようになってい
る。各ボンベには、圧力計5が設置されており、この圧
力計5を監視しつつ、バルブ6を、規整することにより
、混合器8に供給する各原料ガスの流量及び混合比を調
節することができる。混合器8にて混合されたガスは反
応容器9に供給される。反応容器9の底部11には、回
転軸10が鉛直方向の回りに回転可能に取りつけられて
おり、この回転軸10の上端に、円板状の支持台12が
その面を回転軸10に垂直にして固定されている。反応
容器9内には、円筒状の電極13かその軸中心を回転軸
10の軸中心と一致させて底部11上に設置されている
。感光体のドラム基体14が支持台12上にその軸中心
を回転軸10の軸中心と一致させて載置されており、こ
のドラム基体14の内側には、ドラム基体加熱用のヒー
タ15が配設されている。電極13とドラム基体14と
の間には、高周波電源16が接続されており、電極13
及びドラム基体14間に高周波電流が供給されるように
なっている。回転軸10はモータ18により回転駆動さ
れる。反応容器9内の圧力は、圧力計17により監視さ
れ、反応容器9は、ゲートバルブ18を介して真空ポン
プ等の適宜の排気手段に連結されている。
このように構成される装置により感光体を製造する場合
には、反応容器9内にドラム基体14を設置した後、ゲ
ートバルブ19を開にして反応容器9内を約0.1トル
(To r r)の圧力以下に排気する。次いで、ボン
ベ1,2.3.4から所要の反応ガスを所定の混合比で
混合して反応容器9内に導入する。この場合に、反応容
器9内に導入するガスEE量は、反応容器9内の圧力が
0.1乃至1トルになるように設定する。次いで、モー
タ18を作動させてドラム基体14を回転させ、ヒータ
15によりドラム基体14を一定温度に加熱すると共に
、高周波電源16により電極13とドラム基体14との
間に高周波電流を供給して、両者間にグロー放電を形成
する。これにより、ドラム基体14上にa−3i:H又
はμc−3i:Hが堆積する。なお、原料ガス中に N
20゜NH3,NO2,N2.CH,、C2H,、o2
ガス等を使用することにより、これらの元素をa−St
:H又はμc−3i:H中に含有させることができる。
には、反応容器9内にドラム基体14を設置した後、ゲ
ートバルブ19を開にして反応容器9内を約0.1トル
(To r r)の圧力以下に排気する。次いで、ボン
ベ1,2.3.4から所要の反応ガスを所定の混合比で
混合して反応容器9内に導入する。この場合に、反応容
器9内に導入するガスEE量は、反応容器9内の圧力が
0.1乃至1トルになるように設定する。次いで、モー
タ18を作動させてドラム基体14を回転させ、ヒータ
15によりドラム基体14を一定温度に加熱すると共に
、高周波電源16により電極13とドラム基体14との
間に高周波電流を供給して、両者間にグロー放電を形成
する。これにより、ドラム基体14上にa−3i:H又
はμc−3i:Hが堆積する。なお、原料ガス中に N
20゜NH3,NO2,N2.CH,、C2H,、o2
ガス等を使用することにより、これらの元素をa−St
:H又はμc−3i:H中に含有させることができる。
このように、この発明に係る電子写真感光体は、クロー
ズドシステムの製造装置で製造することができるため、
人体に対して安全である。また、この電子写真感光体は
、耐熱性、耐湿性及び耐摩耗性が優れているため、長期
に亘り繰り返し使用しても劣化が少なく、寿命が長いと
いう利点がある。
ズドシステムの製造装置で製造することができるため、
人体に対して安全である。また、この電子写真感光体は
、耐熱性、耐湿性及び耐摩耗性が優れているため、長期
に亘り繰り返し使用しても劣化が少なく、寿命が長いと
いう利点がある。
さらに、G e Ha等の長波長増感用ガスが不要であ
るので、廃ガス処理設備を設ける必要がなく、工業的生
産性が著しく高い。
るので、廃ガス処理設備を設ける必要がなく、工業的生
産性が著しく高い。
なお、この実施例では、電荷発生層を構成する薄層の一
方としてa−3i:Hを使用したが、これにCを含有さ
せたa−SiC:Hを使用することもできる。
方としてa−3i:Hを使用したが、これにCを含有さ
せたa−SiC:Hを使用することもできる。
次に、この発明に係る電子写真感光体を成膜し、電子写
真特性を試験した結果について説明する。
真特性を試験した結果について説明する。
試験例1
必要に応じて、干渉防止のために、酸処理、アルカリ処
理及びサンドブラスト処理を施した直径が80課、長さ
が350關アルミニウム製ドラム基体を反応容器内に装
着し、反応容器内を、図示しない拡散ポンプにより、排
気し、約10JJトルの真空度に排気した。その後、ド
ラム基体を350℃に加熱し、1 o rpmで自転さ
せつつ、SiH4ガスを500SCCM、B21(、ガ
スをSiH4ガス流量に対する流量比で10−6、CH
4ガスを11005CCという流量で反応容器内に導入
し、反応容器内を1トルに調節した。
理及びサンドブラスト処理を施した直径が80課、長さ
が350關アルミニウム製ドラム基体を反応容器内に装
着し、反応容器内を、図示しない拡散ポンプにより、排
気し、約10JJトルの真空度に排気した。その後、ド
ラム基体を350℃に加熱し、1 o rpmで自転さ
せつつ、SiH4ガスを500SCCM、B21(、ガ
スをSiH4ガス流量に対する流量比で10−6、CH
4ガスを11005CCという流量で反応容器内に導入
し、反応容器内を1トルに調節した。
そして、電極に13.56MHzの高周波電力を印加し
て、電極とドラム基体との間に、SiH4゜B2H6及
びCH,のプラズマを生起させ、p型のa−SiC:H
からなる障壁層を形成した。
て、電極とドラム基体との間に、SiH4゜B2H6及
びCH,のプラズマを生起させ、p型のa−SiC:H
からなる障壁層を形成した。
次いで、SiH4ガスを 150SCCM。
CH,ガスを1200SCCMという流量で反応容器内
に導入し、反応容器内を1.5トルに設定してIKWの
高周波電力を投入し、10μmのi型μc−3i:Hか
らなる電荷輸送層を形成した。
に導入し、反応容器内を1.5トルに設定してIKWの
高周波電力を投入し、10μmのi型μc−3i:Hか
らなる電荷輸送層を形成した。
その後、放電を一旦停止し、SiH4ガスを100S1
005CC,ガスを5SCCM、H2ガスを1200S
CCMという流量で反応容器内に導入し、反応圧力を1
.8トルに調節した。そして、1.2KWの高周波電力
を印加して50人のμc−SiC:Hの薄層を形成した
。次いで、SiH4ガスを500SCCM、H2ガスを
750 S CCMという流量に設定し、B2H6/S
iH4比が10−7になるようにB2H6の流量を設定
して500Wの高周波電力を印加することにより、50
人のa−3t:Hの薄層を形成した。このような操作を
繰返して250層のμC−3iC:H薄層と250層の
a−Si:H薄層とを交互に積層し、5μmのへテロ接
合超格子構造の電荷発生層を成形した。次いで、0.1
μmのa−SiC:Hの表面層を形成した。なお、μC
−3iC:H薄層の結晶化度及び結晶粒径は、夫々60
%及び50人であった。
005CC,ガスを5SCCM、H2ガスを1200S
CCMという流量で反応容器内に導入し、反応圧力を1
.8トルに調節した。そして、1.2KWの高周波電力
を印加して50人のμc−SiC:Hの薄層を形成した
。次いで、SiH4ガスを500SCCM、H2ガスを
750 S CCMという流量に設定し、B2H6/S
iH4比が10−7になるようにB2H6の流量を設定
して500Wの高周波電力を印加することにより、50
人のa−3t:Hの薄層を形成した。このような操作を
繰返して250層のμC−3iC:H薄層と250層の
a−Si:H薄層とを交互に積層し、5μmのへテロ接
合超格子構造の電荷発生層を成形した。次いで、0.1
μmのa−SiC:Hの表面層を形成した。なお、μC
−3iC:H薄層の結晶化度及び結晶粒径は、夫々60
%及び50人であった。
このようにして形成した感光体表面を約500Vで正帯
電し、白色光を露光すると、この光は電荷発生層で吸収
され、電子正孔対のキャリアが発生する。この試験例に
おいては、多数のキャリアが発生し、キャリア寿命が高
く、高い走行性が得られた。これにより、鮮明で高品質
の画像が得られた。また、この試験例で製造された感光
体を、繰返し帯電させたところ、転写画像の再現性及び
安定性は極めて良好であり、更に、耐コロナ性、耐湿性
、及び耐摩耗性等の耐久性が優れていることが実証され
た。また、このようにして製造された感光体は、半導体
レーザの発振波長である780乃至790層mの長波長
に対しても高い感度を有する。この感光体を半導体レー
ザプリンタに搭載してカールソンプロセスにより画像を
形成したところ、感光体の露光量が25erg/iであ
る場合でも、鮮明で高解像度の画像を得ることができた
。なお、通常光を露光した場合においても、白色光の場
合と同様に、この感光体を繰返し帯電したところ、転写
画像の再現性及び安定性が高く、耐コロナ性、耐湿性及
び耐摩耗性等の耐久性が優れていた。
電し、白色光を露光すると、この光は電荷発生層で吸収
され、電子正孔対のキャリアが発生する。この試験例に
おいては、多数のキャリアが発生し、キャリア寿命が高
く、高い走行性が得られた。これにより、鮮明で高品質
の画像が得られた。また、この試験例で製造された感光
体を、繰返し帯電させたところ、転写画像の再現性及び
安定性は極めて良好であり、更に、耐コロナ性、耐湿性
、及び耐摩耗性等の耐久性が優れていることが実証され
た。また、このようにして製造された感光体は、半導体
レーザの発振波長である780乃至790層mの長波長
に対しても高い感度を有する。この感光体を半導体レー
ザプリンタに搭載してカールソンプロセスにより画像を
形成したところ、感光体の露光量が25erg/iであ
る場合でも、鮮明で高解像度の画像を得ることができた
。なお、通常光を露光した場合においても、白色光の場
合と同様に、この感光体を繰返し帯電したところ、転写
画像の再現性及び安定性が高く、耐コロナ性、耐湿性及
び耐摩耗性等の耐久性が優れていた。
試験例2
この試験例においては、障壁層をp型のμC−5iC:
)Iとした他は、試験例1と同様の層構成とした。 こ
の場合に、SiH4ガスを100S1005CCガスを
1500SCCM、CH4ガスを20 S CCM、
B2 H6ガスをB2H6/SiH4がlXl0−2と
なるような流量に設定して反応容器内に導入し、反応圧
力を1.5トルとして1.2KWの高周波電力を印加し
、0.5μmの薄層を形成した。この層の結晶化度及び
結晶粒径は夫々65%及び70人であった。
)Iとした他は、試験例1と同様の層構成とした。 こ
の場合に、SiH4ガスを100S1005CCガスを
1500SCCM、CH4ガスを20 S CCM、
B2 H6ガスをB2H6/SiH4がlXl0−2と
なるような流量に設定して反応容器内に導入し、反応圧
力を1.5トルとして1.2KWの高周波電力を印加し
、0.5μmの薄層を形成した。この層の結晶化度及び
結晶粒径は夫々65%及び70人であった。
このようにして成膜した電子写真感光体を半導体レーザ
プリンタに装着してカールソンプロセスにより画像を形
成したところ、いずれの場合にも鮮明で高解像度の画像
を得ることができた。また、繰返し帯電させたところ、
いずれの場合にも画像の再現性及び安定性が高く、耐コ
ロナ性、耐湿性及び耐摩耗性等の耐久性が優れているこ
とが実証された。
プリンタに装着してカールソンプロセスにより画像を形
成したところ、いずれの場合にも鮮明で高解像度の画像
を得ることができた。また、繰返し帯電させたところ、
いずれの場合にも画像の再現性及び安定性が高く、耐コ
ロナ性、耐湿性及び耐摩耗性等の耐久性が優れているこ
とが実証された。
試験例3
この試験例においては、電荷輸送層にCを含有させてμ
c−3iC:Hとした他は試験例1と同一条件で他の各
層を形成した。この場合に、SiH4ガスを11005
CC,H2ガスを1200SCCM、CH4ガスをIS
CCMという流量で反応容器内に導入し、反応圧力を1
.6トルとして1.2KWの高周波電力を印加した。
c−3iC:Hとした他は試験例1と同一条件で他の各
層を形成した。この場合に、SiH4ガスを11005
CC,H2ガスを1200SCCM、CH4ガスをIS
CCMという流量で反応容器内に導入し、反応圧力を1
.6トルとして1.2KWの高周波電力を印加した。
この結果、試験例1よりも表面電位が約20%向上した
。
。
なお、これら試験例においては、電荷輸送層の厚みか5
μmであったが、これに限らず、1又は3μm等に設定
しても感光体として実用可能である。
μmであったが、これに限らず、1又は3μm等に設定
しても感光体として実用可能である。
[発明の効果]
この発明によれば、電荷発生層の少なくとも一部に、珪
素を母体とした非晶質層と、炭素を含有し少なくとも一
部が微結晶化した半導体層との積層体で構成される超格
子構造を使用するから、可視光から近赤外い光の広い波
長領域に互って高感度であり、キャリアの走行性が高い
と共に、高抵抗で帯電特性が優れた電子写真感光体を得
ることができる。また、このように電荷発生層の少なく
とも一部を超格子構造にすることにより、層間の歪みを
小さくすることができ、基板との密着性を良好にするこ
とができる。
素を母体とした非晶質層と、炭素を含有し少なくとも一
部が微結晶化した半導体層との積層体で構成される超格
子構造を使用するから、可視光から近赤外い光の広い波
長領域に互って高感度であり、キャリアの走行性が高い
と共に、高抵抗で帯電特性が優れた電子写真感光体を得
ることができる。また、このように電荷発生層の少なく
とも一部を超格子構造にすることにより、層間の歪みを
小さくすることができ、基板との密着性を良好にするこ
とができる。
第1図はこの発明の実施例に係る電子写真感光体を示す
断面図、第2図は第1図の一部拡大断面図、第3図は超
格子構造のエネルギバンドを示す図、第4図はこの発明
の実施例に係る電子写Q感光体の製造装置を示す図、第
5図は感光体のエネルギギャップを示す模式図である。 1.2,3,4;ボンベ、5;圧力計、6;バルブ、7
;配管、8;混合器、9;反応容器、10;回転軸、1
3;電極、14;ドラム基体、15;ヒータ、16;高
周波電源、19;ゲートバルブ、21;導電性支持体、
22;障壁層、23;光導電層、24;表面層、25;
71!荷輸送層、26;電荷発生層、31,32;薄層
。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第1図 第2図 第3図 第4図
断面図、第2図は第1図の一部拡大断面図、第3図は超
格子構造のエネルギバンドを示す図、第4図はこの発明
の実施例に係る電子写Q感光体の製造装置を示す図、第
5図は感光体のエネルギギャップを示す模式図である。 1.2,3,4;ボンベ、5;圧力計、6;バルブ、7
;配管、8;混合器、9;反応容器、10;回転軸、1
3;電極、14;ドラム基体、15;ヒータ、16;高
周波電源、19;ゲートバルブ、21;導電性支持体、
22;障壁層、23;光導電層、24;表面層、25;
71!荷輸送層、26;電荷発生層、31,32;薄層
。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第1図 第2図 第3図 第4図
Claims (8)
- (1)導電性支持体と、この導電性支持体の上に形成さ
れた画像形成層とを有する電子写真感光体において、前
記画像形成層は電荷発生層と電荷輸送層とを備えた光導
電層を有し、前記電荷輸送層は、珪素を母体としその少
なくとも一部が微結晶化した半導体材料で形成されてお
り、前記電荷発生層は、珪素を母体とし非晶質材料で形
成された層と炭素を含有しその少なくとも一部が微結晶
化した半導体層とが交互に積層する積層体を有すること
を特徴とする電子写真感光体。 - (2)前記電荷発生層を構成する各層は、30乃至50
0Åの層厚を有することを特徴とする特許請求の範囲第
1項に記載の電子写真感光体。 - (3)前記非晶質材料は炭素を含有していることを特徴
とする特許請求の範囲第1項又は第2項に記載の電子写
真感光体。 - (4)前記画像形成層は、導電体の上に形成され、珪素
を母体とした非晶質層又は少なくともその一部が微結晶
化した半導体層により構成された障壁層を有することを
特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の電子写真感光
体。 - (5)前記光導電層は、周期律表の第III族又は第V族
に属する元素を含有することを特徴とする特許請求の範
囲第1項乃至第3項のいずれか1項に記載の電子写真感
光体。 - (6)前記障壁層は、周期律表の第III族又は第V族に
属する元素を含有することを特徴とする特許請求の範囲
第4項に記載の電子写真感光体。 - (7)前記障壁層は、炭素、酸素及び窒素のうち少なく
とも一種の元素を含有することを特徴とする特許請求の
範囲第4項又は第6項に記載の電子写真感光体。 - (8)前記画像形成層は、前記光導電層の上に形成され
た表面層を有することを特徴とする特許請求の範囲第1
項に記載の電子写真感光体。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18831886A JPS6343159A (ja) | 1986-08-11 | 1986-08-11 | 電子写真感光体 |
US07/079,463 US4803141A (en) | 1986-08-11 | 1987-07-30 | Electrophotographic superlattice photoreceptor |
DE19873726688 DE3726688A1 (de) | 1986-08-11 | 1987-08-11 | Elektrophotographisches aufzeichnungsmaterial |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18831886A JPS6343159A (ja) | 1986-08-11 | 1986-08-11 | 電子写真感光体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6343159A true JPS6343159A (ja) | 1988-02-24 |
Family
ID=16221504
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18831886A Pending JPS6343159A (ja) | 1986-08-11 | 1986-08-11 | 電子写真感光体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6343159A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6364054A (ja) * | 1986-09-05 | 1988-03-22 | Sanyo Electric Co Ltd | 静電潜像担持体 |
-
1986
- 1986-08-11 JP JP18831886A patent/JPS6343159A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6364054A (ja) * | 1986-09-05 | 1988-03-22 | Sanyo Electric Co Ltd | 静電潜像担持体 |
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