JPS63119096A - キャッシュメモリ装置 - Google Patents
キャッシュメモリ装置Info
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- JPS63119096A JPS63119096A JP61264633A JP26463386A JPS63119096A JP S63119096 A JPS63119096 A JP S63119096A JP 61264633 A JP61264633 A JP 61264633A JP 26463386 A JP26463386 A JP 26463386A JP S63119096 A JPS63119096 A JP S63119096A
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims description 21
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 9
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 24
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
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- Logic Circuits (AREA)
- Memory System Of A Hierarchy Structure (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体メモリに係り、特に半導体集積回路によ
る大容量かっ、高速のキャッシュメモリ等に用いられる
連想メモリに好適なデータの一致検出回路に関する。
る大容量かっ、高速のキャッシュメモリ等に用いられる
連想メモリに好適なデータの一致検出回路に関する。
大型の計算機システムには、その高速化のために、中央
処理装置と主メモリとの間に主メモリ内のプログラムの
一部を格納して、高速バッファメモリとして機能するキ
ャッシュメモリが置かれている。
処理装置と主メモリとの間に主メモリ内のプログラムの
一部を格納して、高速バッファメモリとして機能するキ
ャッシュメモリが置かれている。
キャッシュメモリは、2つのメモリアレイを有している
、第1のメモリアレイには連想メモリが用いられ、主メ
モリから呼び出したい記憶データ(上記プログラムの一
部)の物理アドレスデータが格納されており、第2のメ
モリアレイには、呼び出したい記憶データそのものが格
納されている。
、第1のメモリアレイには連想メモリが用いられ、主メ
モリから呼び出したい記憶データ(上記プログラムの一
部)の物理アドレスデータが格納されており、第2のメ
モリアレイには、呼び出したい記憶データそのものが格
納されている。
検索に際しては、検索データとアドレスデータとを照合
または比較し、両者が一致した場合に該当する記憶デー
タを第2のメモリアレイから出力させるものである。
または比較し、両者が一致した場合に該当する記憶デー
タを第2のメモリアレイから出力させるものである。
さて、連想メモリは記憶情報の呼び出しをアドレス指定
によって行うのではなく、その記憶内容の比較によって
行うものであるから、検索データと連想メモリ内の記憶
データとの一致を検出するための一致検出路が必要であ
る。
によって行うのではなく、その記憶内容の比較によって
行うものであるから、検索データと連想メモリ内の記憶
データとの一致を検出するための一致検出路が必要であ
る。
この−数構出回路に関し、従来の連想メモリは検索デー
タと記憶データとの比較を行うための。
タと記憶データとの比較を行うための。
各メモリごとに個別的に一致検出回路を備えたものが知
られている(特開昭59−231789号公報)。
られている(特開昭59−231789号公報)。
また、他の例として、メモリセルのデータを読み出すた
めのセンス回路により検索データとの比較を行う回路を
備えたものが知られている(特開昭60−117495
号公報)。
めのセンス回路により検索データとの比較を行う回路を
備えたものが知られている(特開昭60−117495
号公報)。
上記従来技術において、前者の場合は、検索データとメ
モリセルの記憶データとの一致を検出する一致検出回路
をメモリセルごとに有しているため、1ビット当りのメ
モリセル面積が大きく、大容量のデータを保持できない
という問題点があった。
モリセルの記憶データとの一致を検出する一致検出回路
をメモリセルごとに有しているため、1ビット当りのメ
モリセル面積が大きく、大容量のデータを保持できない
という問題点があった。
また、後者の場合、−数構出回路をセルごとに持たない
1通常のメモリセルを用いたものにあっては、まず、メ
モリセルの内容をセンス回路で読み出してから一致検出
をするため、遅延時間が大きく、高速動作できないとい
う問題があった。
1通常のメモリセルを用いたものにあっては、まず、メ
モリセルの内容をセンス回路で読み出してから一致検出
をするため、遅延時間が大きく、高速動作できないとい
う問題があった。
本発明の目的は、大容量でかつ高速な連想メモリを実現
するためのデータ一致検出回路を提供することにある。
するためのデータ一致検出回路を提供することにある。
上記問題点を解決するために、本願第1の発明は、メモ
リセル(M)に記憶された記憶データを差動データ線(
al、 ai)を介して入力し、前記記憶データと検索
すべき検索データとを比較して、両データが一致したと
き当該記憶データを出力する半導体メモリのデータ一致
検出回路において、前記検索データと記憶データとのE
X−ORまたはEX−NOR論理出力を出力する論理回
路(2)と、この論理回路出力を電流出力に変換する電
流変換回路(3)と、この電流変換回路出力の論理和を
出力するワイヤードOR回路(4)と、を備えたことを
特徴とするものである。
リセル(M)に記憶された記憶データを差動データ線(
al、 ai)を介して入力し、前記記憶データと検索
すべき検索データとを比較して、両データが一致したと
き当該記憶データを出力する半導体メモリのデータ一致
検出回路において、前記検索データと記憶データとのE
X−ORまたはEX−NOR論理出力を出力する論理回
路(2)と、この論理回路出力を電流出力に変換する電
流変換回路(3)と、この電流変換回路出力の論理和を
出力するワイヤードOR回路(4)と、を備えたことを
特徴とするものである。
また1本願第2の発明は、メモリセル(M)に記憶され
た記憶データを差動データ線(a it a 1)を介
して入力し、前記記憶データと検索すべき検索データと
を比較して両データが一致したとき当該記憶データを出
力する半導体メモリのデーター致検出回路において、前
記差動データ線に入力端が接続され、かつ、出力端が交
差接続された2つの差動対(701,703と702,
704)と。
た記憶データを差動データ線(a it a 1)を介
して入力し、前記記憶データと検索すべき検索データと
を比較して両データが一致したとき当該記憶データを出
力する半導体メモリのデーター致検出回路において、前
記差動データ線に入力端が接続され、かつ、出力端が交
差接続された2つの差動対(701,703と702,
704)と。
前記検索データにより前記差動対を制御する制御手段(
705,706)と、前記差動対の出力の論理和を出力
するワイヤードOR回路(4)と。
705,706)と、前記差動対の出力の論理和を出力
するワイヤードOR回路(4)と。
を備えたことを特徴とするものである。
上記した第1の発明によれば、メモリセルは記憶した情
報を差動データ線に出力する。差動データ線に出力され
た情報は論理回路により、検索データとのEORまたは
ENOR論理をとり、電流変換回路により電流出力とす
る。すなわち、論理回路と電流変換回路は、差動データ
線の情報と検索データとの一致、不一致により、電流変
換回路出力に電流を流すか、流さないかの制御を行う。
報を差動データ線に出力する。差動データ線に出力され
た情報は論理回路により、検索データとのEORまたは
ENOR論理をとり、電流変換回路により電流出力とす
る。すなわち、論理回路と電流変換回路は、差動データ
線の情報と検索データとの一致、不一致により、電流変
換回路出力に電流を流すか、流さないかの制御を行う。
この電流変換回路出力をワイヤードORすることにより
、メモリセルに記憶した情報と検索データとのすべての
一致またはすべての不一致を検出できる。
、メモリセルに記憶した情報と検索データとのすべての
一致またはすべての不一致を検出できる。
また、第2の発明によれば、差動データ線を差動入力と
する2つの差動対を検索データで切り換えることにより
、−数構出出力としているため、−数構出までの遅延を
大幅に低減できる。
する2つの差動対を検索データで切り換えることにより
、−数構出出力としているため、−数構出までの遅延を
大幅に低減できる。
次に、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
1の 例 1の 日
第2図に、第1の発明に係る実施例を示す、第2図にお
いて、14は連想メモリのメモリセルアレイを示し、1
5は一致検出回路を示している。
いて、14は連想メモリのメモリセルアレイを示し、1
5は一致検出回路を示している。
なお、ここにはキャッシュメモリにおける第2のメモリ
アレイを示していない。
アレイを示していない。
メモリセルアレイ14において、1は終端抵抗。
Mはメモリセル、Wx−W−はメモリセルMを選択する
ためのワード線、alt atはメモリセルM内の格納
データを出力するための、差動データ線を示している。
ためのワード線、alt atはメモリセルM内の格納
データを出力するための、差動データ線を示している。
一致検出回路15において、2はEX−OR(排他的論
理和)またはEX−NOR(一致論理)からなる論理回
路、3は論理回路2の出力を電流出力に変換する電流変
換回路、bs−bzは差動検索データ、clt clは
論理回路2の差動出力、4は各電流変換回路3の電流出
力の論理和をとるワイヤードORされた出力線、5はワ
イヤードOR出力を論理振幅出力6とするための出力回
路を示している。
理和)またはEX−NOR(一致論理)からなる論理回
路、3は論理回路2の出力を電流出力に変換する電流変
換回路、bs−bzは差動検索データ、clt clは
論理回路2の差動出力、4は各電流変換回路3の電流出
力の論理和をとるワイヤードORされた出力線、5はワ
イヤードOR出力を論理振幅出力6とするための出力回
路を示している。
次に、第1図に、第2図に示したメモリセルMおよび一
致検出回路15の詳細構成を示す、第1図において、終
端抵抗1はダイオード接続されたNMO8)−ランジス
タ(以下、NMO8Tと略記する。)101,102で
構成され、差動データ線ai、atを電源ヘプルアツプ
している。メモリセルMは、PMOSトランジスタ(以
下、PMO5Tと略記する。)MllおよびN M O
S T −M 1工と、P M OS T −Mxlお
よびN M OS T −M ztとによる2つのイン
バータ回路の入出力を交差接続して差動データm、mを
記憶し、ワードmw1により制御されるNMOS T−
MzseMxsで記憶差動m。
致検出回路15の詳細構成を示す、第1図において、終
端抵抗1はダイオード接続されたNMO8)−ランジス
タ(以下、NMO8Tと略記する。)101,102で
構成され、差動データ線ai、atを電源ヘプルアツプ
している。メモリセルMは、PMOSトランジスタ(以
下、PMO5Tと略記する。)MllおよびN M O
S T −M 1工と、P M OS T −Mxlお
よびN M OS T −M ztとによる2つのイン
バータ回路の入出力を交差接続して差動データm、mを
記憶し、ワードmw1により制御されるNMOS T−
MzseMxsで記憶差動m。
百と差動データ線aig atを各々接続している。
論理回路2は、検索データb1により制御されるNMO
8T201,202で差動データ線asgi1と差動出
力am、τ1とを各々接続し、検索反転データb1によ
り制御されるNMST−203゜204を介して、差動
データ線al、at&差動出力QztQtを各々接続し
ている。電流変換回路3は、差動出力Or、Qtを差動
入力とし、一方を電源へ、他方をワイヤードOKする出
力@4に接続したバイポーラトランジスタ301,30
2の差動対と定電流源303より構成されている。
8T201,202で差動データ線asgi1と差動出
力am、τ1とを各々接続し、検索反転データb1によ
り制御されるNMST−203゜204を介して、差動
データ線al、at&差動出力QztQtを各々接続し
ている。電流変換回路3は、差動出力Or、Qtを差動
入力とし、一方を電源へ、他方をワイヤードOKする出
力@4に接続したバイポーラトランジスタ301,30
2の差動対と定電流源303より構成されている。
次に、本実施例の動作を第3図を用いて説明する。第3
図に示すように、各点の電圧レベルは■で表わすことに
する。ワード線Waが論理レベルrHJとなると、N
M OS T −Mls、 Manがオンし、差動デー
タ線at、〒1の電圧レベルはメモリセルMに記憶され
ているデータm= rHJの電圧レベル、v、、v;
(v、>v;)に引っばられて差動データ電圧Vaえ)
V a tとなる。検索データbt== rHJ (
7)場合、NMO8T201,202はオンし、このと
き丁、= rL」であるから、NMO5T203.20
4はオフとなり、差動出力Qi、 Orの電圧レベルは
差動データ電圧VaipVatに引っばられて差動出力
電圧V c t > V c tとなる。
図に示すように、各点の電圧レベルは■で表わすことに
する。ワード線Waが論理レベルrHJとなると、N
M OS T −Mls、 Manがオンし、差動デー
タ線at、〒1の電圧レベルはメモリセルMに記憶され
ているデータm= rHJの電圧レベル、v、、v;
(v、>v;)に引っばられて差動データ電圧Vaえ)
V a tとなる。検索データbt== rHJ (
7)場合、NMO8T201,202はオンし、このと
き丁、= rL」であるから、NMO5T203.20
4はオフとなり、差動出力Qi、 Orの電圧レベルは
差動データ電圧VaipVatに引っばられて差動出力
電圧V c t > V c tとなる。
cl、Qiを差動入力としているバイポーラトランジス
タ301,302の差動対においては301がオンして
、302はオフして、ワイヤードOR出力4の電流を止
める。検索データbi=rLJの場合は逆に、NMO8
T201,202がオフ。
タ301,302の差動対においては301がオンして
、302はオフして、ワイヤードOR出力4の電流を止
める。検索データbi=rLJの場合は逆に、NMO8
T201,202がオフ。
203.204はオンジ、差動出力ct、 at(1’
)電圧レベルは、差動データ電圧VTitVatに引っ
ばられて差動出力電圧V c i (V c iとなり
、出力線4に電流が流れる。
)電圧レベルは、差動データ電圧VTitVatに引っ
ばられて差動出力電圧V c i (V c iとなり
、出力線4に電流が流れる。
以上は、記憶データm= rHJの場合を示したが、記
憶データm=rLJの場合は差動データ電圧がVat<
Vatの場合と逆の動作をすることになる。差動出力電
圧の態様は、記憶データmと検索データbiの論理値に
より4通りの場合が考えられる。
憶データm=rLJの場合は差動データ電圧がVat<
Vatの場合と逆の動作をすることになる。差動出力電
圧の態様は、記憶データmと検索データbiの論理値に
より4通りの場合が考えられる。
(1)m= rHJ 、bs= rHJのときV a
t > V a i t 201 、202 ;J ン
→V c i > V c t (2)m= rHJ 、b1= rLJのときV a
1> V 81 、203 、204オン→Vc五(V
c i (3)m= rLJ 、bi= rHJのときV a
t < V a t 、 201 、202オン→Vc
量<Vc五 (4)m= rLJ t bi= ’LJのときV a
i < V a t y 203 、204オン→V
Q i ) V c 1 ここで、差動データ線a1、差動出力ciでの論理値ト
シテ、ai=rHJをV a L > V a t ト
、Ct=「H」をVct>Vatと定義すると、論理回
路2は差動データ、i!a1と差動出力b*(i’)E
X NOR論理を差動出力c1の出力としている。電
流変換回路3は差動出力電圧V c t > V cm
のとき、出方線4の電流をオフし、逆にV c a (
V c tのとき電流を流している。すなわち、メモリ
セルMの記憶したデータmと検索データbtとが一致し
ていれば、ワイヤードOR出力電流はオフし、不一致な
らば電流が流れる。このため、電流変換回路3の出力線
4をワイヤードORすると、メモリセルMの記憶したデ
ータmと検索データbi がすべて−致しない限り、ワ
イヤードOR出力線4に電流が流れ、−数構出回路とし
て動作することとなる。
t > V a i t 201 、202 ;J ン
→V c i > V c t (2)m= rHJ 、b1= rLJのときV a
1> V 81 、203 、204オン→Vc五(V
c i (3)m= rLJ 、bi= rHJのときV a
t < V a t 、 201 、202オン→Vc
量<Vc五 (4)m= rLJ t bi= ’LJのときV a
i < V a t y 203 、204オン→V
Q i ) V c 1 ここで、差動データ線a1、差動出力ciでの論理値ト
シテ、ai=rHJをV a L > V a t ト
、Ct=「H」をVct>Vatと定義すると、論理回
路2は差動データ、i!a1と差動出力b*(i’)E
X NOR論理を差動出力c1の出力としている。電
流変換回路3は差動出力電圧V c t > V cm
のとき、出方線4の電流をオフし、逆にV c a (
V c tのとき電流を流している。すなわち、メモリ
セルMの記憶したデータmと検索データbtとが一致し
ていれば、ワイヤードOR出力電流はオフし、不一致な
らば電流が流れる。このため、電流変換回路3の出力線
4をワイヤードORすると、メモリセルMの記憶したデ
ータmと検索データbi がすべて−致しない限り、ワ
イヤードOR出力線4に電流が流れ、−数構出回路とし
て動作することとなる。
以上、本実施例によれば、一致検出する記憶データ部に
通常のメモリセルを用いることができるので、大容量の
メモリセルを保持出来る。また、メモリセルのデータと
検索データとの比較において、メモリセルのデータをセ
ンス回路を用いて読み出す必要がないため、一致検出ま
での遅延が小さく、かつ、構成が簡単になるという効果
がある。
通常のメモリセルを用いることができるので、大容量の
メモリセルを保持出来る。また、メモリセルのデータと
検索データとの比較において、メモリセルのデータをセ
ンス回路を用いて読み出す必要がないため、一致検出ま
での遅延が小さく、かつ、構成が簡単になるという効果
がある。
第4図は一致検出出力回路5の構成例である。
ワイヤードOR出力線4はバイポーラトランジスタ50
0のカスコードを介して、抵抗501と接続され、電流
電圧変換をし、バイポーラトランジスタ507と定電流
源508によるレベルシフトを介し、MOSトランジス
タ509〜512によるレベル変換回路の入力となる。
0のカスコードを介して、抵抗501と接続され、電流
電圧変換をし、バイポーラトランジスタ507と定電流
源508によるレベルシフトを介し、MOSトランジス
タ509〜512によるレベル変換回路の入力となる。
ダイオード502゜503はノード513をクランプし
て、電圧振幅を2VB!!とじている。これにより、レ
ベルシフトしたノード514は電源電圧より2Vag下
の電圧を中心に、上下VBI!の振幅をもつ、ダイオー
ド504.505と定電流源506の直列回路は、カス
コード段500のバイアスと、レベル変換回路509〜
512の基準電圧となる。
て、電圧振幅を2VB!!とじている。これにより、レ
ベルシフトしたノード514は電源電圧より2Vag下
の電圧を中心に、上下VBI!の振幅をもつ、ダイオー
ド504.505と定電流源506の直列回路は、カス
コード段500のバイアスと、レベル変換回路509〜
512の基準電圧となる。
ワイヤードOR出力線4の電流がない場合、ノード51
3は抵抗501により電源ヘルプアップされ、ノード5
14は電源よりVaa下がった電位となる。ノード51
5は電源より2VBI!下がった電位であるため、レベ
ル変換回路509〜512の出力6はrLJとなる。逆
に、出力4に電流が流れると、抵抗501により電圧降
下が生じ、ノード513はダイオード502,503で
クランプされ、ノード514は電源より3Vas下がっ
た電位となる。したがって、レベル変換回路509〜5
12の出力6は「H」となり、ワイヤード○R出力4の
電流を論理振幅の出力とすることができる。
3は抵抗501により電源ヘルプアップされ、ノード5
14は電源よりVaa下がった電位となる。ノード51
5は電源より2VBI!下がった電位であるため、レベ
ル変換回路509〜512の出力6はrLJとなる。逆
に、出力4に電流が流れると、抵抗501により電圧降
下が生じ、ノード513はダイオード502,503で
クランプされ、ノード514は電源より3Vas下がっ
た電位となる。したがって、レベル変換回路509〜5
12の出力6は「H」となり、ワイヤード○R出力4の
電流を論理振幅の出力とすることができる。
次に、本実施例の一致検出回路を用いたキャッシュメモ
リの構成例を第5図に示す、10はアドレスバス、11
はアドレスレジスタ、14はディレクトリ記憶部、16
はデータ記憶部、15は一数構出回路、17はセンス回
路、18はデータレジスタ、19はデータバス、2oは
キャッシュがヒツトしたことを示す信号である。キャッ
シュメモリではディレクトリ記憶部14に記憶されたア
ドレスとアドレスバスから入力されたアドレスとの一致
検出の遅延で速度が決まるため、本実施例を用いれば、
高速アクセスのキャッシュメモリが可能となる。
リの構成例を第5図に示す、10はアドレスバス、11
はアドレスレジスタ、14はディレクトリ記憶部、16
はデータ記憶部、15は一数構出回路、17はセンス回
路、18はデータレジスタ、19はデータバス、2oは
キャッシュがヒツトしたことを示す信号である。キャッ
シュメモリではディレクトリ記憶部14に記憶されたア
ドレスとアドレスバスから入力されたアドレスとの一致
検出の遅延で速度が決まるため、本実施例を用いれば、
高速アクセスのキャッシュメモリが可能となる。
第6図は、論理回路2の他の例である。データ線a、で
制御されるNMO8T211,214で差動検索データ
bi、biと差動出力Ox、01をそれぞれ接続し、デ
ータ線7.で制御されるNMO5T212.213でb
l、bcとQt、Qtをそれぞれ接続している。
制御されるNMO8T211,214で差動検索データ
bi、biと差動出力Ox、01をそれぞれ接続し、デ
ータ線7.で制御されるNMO5T212.213でb
l、bcとQt、Qtをそれぞれ接続している。
第7図は、第6図の等価回路である。a i、 a 1
の電位Vat、Vaiをゲートに入力したときのNMO
8Tのインピーダンスをそれぞれrt、rzとすると、
c1? C1(7)電位Vc1pVa1はbl。
の電位Vat、Vaiをゲートに入力したときのNMO
8Tのインピーダンスをそれぞれrt、rzとすると、
c1? C1(7)電位Vc1pVa1はbl。
丁1の電位をVbt、V1五とすると
と表わすことができる。
(1) (2)式よりVct Vatは、V c
i −V c i = となる、NMO5Tのインピーダンスはデート電圧が高
い方が小さくなり、 V a t>V a iならば、
rz>rxとなる。ゆえに、データ線an と検索デー
タb1による論理回路出力atの関係は、(3)式より V a i > V a t 、 V b t ) V
b t’t ラLfV c t > V c i V a t > V a t e V b t < V
b tならばVc處< V c 1 Vat<Vail vbi>vbtならばV c i
< V c i V a s<V a it V b t<V b iす
らばV c t>V c五 となり、alとbiのENOR論理を出力C1としてお
り、本実施例を用いても一致検出回路を前者と同様にで
きる。
i −V c i = となる、NMO5Tのインピーダンスはデート電圧が高
い方が小さくなり、 V a t>V a iならば、
rz>rxとなる。ゆえに、データ線an と検索デー
タb1による論理回路出力atの関係は、(3)式より V a i > V a t 、 V b t ) V
b t’t ラLfV c t > V c i V a t > V a t e V b t < V
b tならばVc處< V c 1 Vat<Vail vbi>vbtならばV c i
< V c i V a s<V a it V b t<V b iす
らばV c t>V c五 となり、alとbiのENOR論理を出力C1としてお
り、本実施例を用いても一致検出回路を前者と同様にで
きる。
第8図は本発明の他の実施例である。論理回路2′は差
動検索データbi、blで制御されるNMO8T221
,222(7)ドレインを差動データ線at、atに接
続し、ソースを共通接続して出力di としている。電
流変換回路3′は抵抗312によりベース電流を供給し
ているエミッタ接地のバイポーラトランジスタ311で
、ベースを論理回路2′の出力d1に接続し、コレクタ
をワイヤードOR出力4′としている。
動検索データbi、blで制御されるNMO8T221
,222(7)ドレインを差動データ線at、atに接
続し、ソースを共通接続して出力di としている。電
流変換回路3′は抵抗312によりベース電流を供給し
ているエミッタ接地のバイポーラトランジスタ311で
、ベースを論理回路2′の出力d1に接続し、コレクタ
をワイヤードOR出力4′としている。
次に1本実施例の動作を説明する。メモリセルに記憶し
たデータmと検索データbiの論理値によって4通りの
場合が考えられる。
たデータmと検索データbiの論理値によって4通りの
場合が考えられる。
(a)m= rHJ 、bi= rHJ −221はオ
フ、222はオンであり、dlの点は71を介してマ=
rLJに引っばられる。すなわち、抵抗312がベース
に供給している電流がメモリセルの方へ抜けるため、3
11はオフし、出力4′の電流はオフする。
フ、222はオンであり、dlの点は71を介してマ=
rLJに引っばられる。すなわち、抵抗312がベース
に供給している電流がメモリセルの方へ抜けるため、3
11はオフし、出力4′の電流はオフする。
(b)m= rHJ 、bt= rLJ 221はオ
ン。
ン。
222はオフであり、diの点はalを介してm=rH
Jに引っばられ、電流が流れ込み、311はオンし、出
力4′に電流を流す。
Jに引っばられ、電流が流れ込み、311はオンし、出
力4′に電流を流す。
以下同様に
(c)m= rLJ 、bt= rHJ−出力4′に電
流を流す。
流を流す。
Cd)rn= rLJ 、bt= rLJ−出力4′の
電流オフする。
電流オフする。
となり、メモリセルの記憶したデータと検索データが一
致していれば、ワイヤードOR出力電流はオフし、不一
致ならば電流が流れるため、−数構出回路を実現できる
。
致していれば、ワイヤードOR出力電流はオフし、不一
致ならば電流が流れるため、−数構出回路を実現できる
。
本実施例によれば、少ない素子数で一致検出回路を実現
できる。
できる。
第9図は、ENOR論理回路の他の例である。
検索データb1により制御され差動データ線at。
〒Lと差動出力Qtyτ1を接続するNMOS T23
1.232と、biにより制御されai、aiとQt*
Q1を接続するPMO8T233,234により論理回
路2′を構成している。PMO8TおよびNMO8Tを
用いているため差動の検索データを必要とせずにENO
R論理を実現できる。
1.232と、biにより制御されai、aiとQt*
Q1を接続するPMO8T233,234により論理回
路2′を構成している。PMO8TおよびNMO8Tを
用いているため差動の検索データを必要とせずにENO
R論理を実現できる。
第10図は、本発明のさらに他の実施例である。
差動データ線at、atを入力とするNMO3T 70
1 。
1 。
702と703,704の差動対で、701.704の
ドレインは電源に、702,703のドレインはワイヤ
ードOR出力8!4に接続している。
ドレインは電源に、702,703のドレインはワイヤ
ードOR出力8!4に接続している。
各差動対は、差動検索データト2丁1で制御されるNM
O8T705,706でバイアスされてい机 次に、本実施例の動作を説明する。検索データb、=
rH」の場合、705はオン、706はオフするため、
差動対701,702が動作可能となる、差動データ線
a1.at(7)電圧V a t 、 V a tのレ
ベルにより、 V a 1 ) V丁、ならば出力4の電流はオフし、
V a 1 < V a sならば出力4に電流が流れ
る。
O8T705,706でバイアスされてい机 次に、本実施例の動作を説明する。検索データb、=
rH」の場合、705はオン、706はオフするため、
差動対701,702が動作可能となる、差動データ線
a1.at(7)電圧V a t 、 V a tのレ
ベルにより、 V a 1 ) V丁、ならば出力4の電流はオフし、
V a 1 < V a sならば出力4に電流が流れ
る。
逆に、bi=rLJの場合、705はオフ、706はオ
ンし、差動対703,704が動作可能となる。すなわ
ち、V a i > V〒1ならば出力4に電流が流れ
、V a t < V a tならば出力4の電流はオ
フする。データ線at、a≦の電位はメモリセルに記憶
しているデータmで決まり、m=rHJならばV a
1> V a t トなる。
ンし、差動対703,704が動作可能となる。すなわ
ち、V a i > V〒1ならば出力4に電流が流れ
、V a t < V a tならば出力4の電流はオ
フする。データ線at、a≦の電位はメモリセルに記憶
しているデータmで決まり、m=rHJならばV a
1> V a t トなる。
以上より、メモリセルに記憶しているデータと検索デー
タが一致すれば、出力4に電流は流れず、不一致ならば
電流が流れる。この回路をワイヤードORすることによ
り、−数構出回路を実現できる。
タが一致すれば、出力4に電流は流れず、不一致ならば
電流が流れる。この回路をワイヤードORすることによ
り、−数構出回路を実現できる。
本実施例によれば、差動データ線を差動入力とする2つ
の差動対を検索データで切り換えることにより、一致検
出出力としているため、−致検出までの遅延を大幅に低
減できる。
の差動対を検索データで切り換えることにより、一致検
出出力としているため、−致検出までの遅延を大幅に低
減できる。
本発明によれば、一致検出をする記憶データ部に通常の
メモリセルを用いることができるので、大容量のデータ
を保持できる。また、メモリセルのデータと検索データ
との比較において、メモリセルがデータを出力するデー
タ線をセンス回路で読み出さずに、一致検出することが
できるので、一致検出までの遅延が小さく、かつ、構成
が簡単になるという効果がある。
メモリセルを用いることができるので、大容量のデータ
を保持できる。また、メモリセルのデータと検索データ
との比較において、メモリセルがデータを出力するデー
タ線をセンス回路で読み出さずに、一致検出することが
できるので、一致検出までの遅延が小さく、かつ、構成
が簡単になるという効果がある。
の全体構成図、第3図は第1図の回路の動作波形図、第
4図は第2図の出力回路を示す回路図、第1・・・終端
抵抗、2・・・論理回路、3・・・電流変換回路、4・
・・ワイヤードOR出力線、M・・・メモリセル、az
y at・・・差動データ線、bi−bt−差動検索デ
ータ、ct、丁1・・・差動入力。
4図は第2図の出力回路を示す回路図、第1・・・終端
抵抗、2・・・論理回路、3・・・電流変換回路、4・
・・ワイヤードOR出力線、M・・・メモリセル、az
y at・・・差動データ線、bi−bt−差動検索デ
ータ、ct、丁1・・・差動入力。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、メモリセルに記憶された話憶データを差動データ線
を介して入力し、前記記憶データと検索すべき検索デー
タとを比較して両データが一致したとき当該記憶データ
を出力する半導体メモリのデータ一致検出回路において
、 前記検索データと記憶データとのEX−ORまたはEX
−NOR論理出力を出力する論理回路と、この論理回路
出力を電流出力に変換する電流変換回路と、この電流変
換回路出力の論理和を出力するワイヤードOR回路と、
を備えたことを特徴とする半導体メモリのデータ一致検
出回路。 2、メモリセルに記憶された記憶データを差動データ線
を介して入力し、前記記憶データと検索すべき検索デー
タとを比較して両データが一致したとき当該記憶データ
を出力する半導体メモリのデータ一致検出回路において
、 前記差動データ線に入力端が接続され、かつ、出力端が
交差接続された2つの差動対と、前記検索データにより
前記差動対を制御する制御手段と、前記差動対の出力の
論理和を出力するワイヤードOR回路と、を備えたこと
を特徴とする半導体メモリのデータ一致検出回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61264633A JP3094159B2 (ja) | 1986-11-06 | 1986-11-06 | キャッシュメモリ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61264633A JP3094159B2 (ja) | 1986-11-06 | 1986-11-06 | キャッシュメモリ装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63119096A true JPS63119096A (ja) | 1988-05-23 |
JP3094159B2 JP3094159B2 (ja) | 2000-10-03 |
Family
ID=17406056
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61264633A Expired - Fee Related JP3094159B2 (ja) | 1986-11-06 | 1986-11-06 | キャッシュメモリ装置 |
Country Status (1)
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---|---|
JP (1) | JP3094159B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03248246A (ja) * | 1990-02-27 | 1991-11-06 | Hitachi Ltd | キャッシュメモリ |
JPH04134792A (ja) * | 1990-09-26 | 1992-05-08 | Hitachi Ltd | 半導体メモリ |
US5253197A (en) * | 1989-09-14 | 1993-10-12 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor associative memory device with current sensing |
US5285414A (en) * | 1990-09-26 | 1994-02-08 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor memory having transistors which drive data lines in accordance with values of write data and column select signal |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3040815U (ja) * | 1996-07-31 | 1997-09-05 | 英雄 渡辺 | ガラス容器商品の展示台 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5333A (en) * | 1976-06-24 | 1978-01-05 | Fujitsu Ltd | Semiconductor memory circuit |
JPS53104151A (en) * | 1977-02-22 | 1978-09-11 | Fairchild Camera Instr Co | High speed exclusive or*nor circuit |
JPS58165424A (ja) * | 1982-03-26 | 1983-09-30 | Nec Corp | 排他論理和回路 |
JPS58212698A (ja) * | 1982-06-04 | 1983-12-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 記憶装置 |
JPS613389A (ja) * | 1984-06-15 | 1986-01-09 | Hitachi Ltd | 記憶装置 |
JPS61113191A (ja) * | 1984-08-21 | 1986-05-31 | フエアチアイルド カメラ アンド インストルメント コ−ポレ−シヨン | 内容アドレス可能メモリセル |
JPS61120244A (ja) * | 1984-11-16 | 1986-06-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | メモリ装置 |
-
1986
- 1986-11-06 JP JP61264633A patent/JP3094159B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5333A (en) * | 1976-06-24 | 1978-01-05 | Fujitsu Ltd | Semiconductor memory circuit |
JPS53104151A (en) * | 1977-02-22 | 1978-09-11 | Fairchild Camera Instr Co | High speed exclusive or*nor circuit |
JPS58165424A (ja) * | 1982-03-26 | 1983-09-30 | Nec Corp | 排他論理和回路 |
JPS58212698A (ja) * | 1982-06-04 | 1983-12-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 記憶装置 |
JPS613389A (ja) * | 1984-06-15 | 1986-01-09 | Hitachi Ltd | 記憶装置 |
JPS61113191A (ja) * | 1984-08-21 | 1986-05-31 | フエアチアイルド カメラ アンド インストルメント コ−ポレ−シヨン | 内容アドレス可能メモリセル |
JPS61120244A (ja) * | 1984-11-16 | 1986-06-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | メモリ装置 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5253197A (en) * | 1989-09-14 | 1993-10-12 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor associative memory device with current sensing |
JPH03248246A (ja) * | 1990-02-27 | 1991-11-06 | Hitachi Ltd | キャッシュメモリ |
JPH04134792A (ja) * | 1990-09-26 | 1992-05-08 | Hitachi Ltd | 半導体メモリ |
US5285414A (en) * | 1990-09-26 | 1994-02-08 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor memory having transistors which drive data lines in accordance with values of write data and column select signal |
US5657264A (en) * | 1990-09-26 | 1997-08-12 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor memory |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3094159B2 (ja) | 2000-10-03 |
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