JPS6241020B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6241020B2 JPS6241020B2 JP55187831A JP18783180A JPS6241020B2 JP S6241020 B2 JPS6241020 B2 JP S6241020B2 JP 55187831 A JP55187831 A JP 55187831A JP 18783180 A JP18783180 A JP 18783180A JP S6241020 B2 JPS6241020 B2 JP S6241020B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- logarithmic
- output
- amplifier
- input
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は超音波測定装置に係り、特に、超音波
反射波により検体の断層像を得るに際し、検体の
診断深さに略無関係に、深い位置の断層像も浅い
位置の断層像と略同程度の明るさで表示できる超
音波診断装置に使用できる超音波測定装置に関す
る。
反射波により検体の断層像を得るに際し、検体の
診断深さに略無関係に、深い位置の断層像も浅い
位置の断層像と略同程度の明るさで表示できる超
音波診断装置に使用できる超音波測定装置に関す
る。
第１図は一般的な超音波診断装置の一例のブロ
ツク系統図を示す。同図中、１は検体で、探触子
２が音響的に接触されている。探触子２は走査制
御部３の制御の下に送信アンプ４の出力信号によ
り駆動されて超音波を検体１内に発射する。探触
子２から発射された超音波は第２図に示す如く、
音響インピーダンスの異なる境界１ａ，１ｂ，１
ｃ，１ｄから夫々インピーダンス不整合により反
射され、その反射波が探触子２にて浅い位置のも
のから順次受信され、ここで音響−電気変換され
る。探触子より取り出された反射波受信信号は、
受信アンプ５で増幅された後対数増幅器６に供給
される。
ツク系統図を示す。同図中、１は検体で、探触子
２が音響的に接触されている。探触子２は走査制
御部３の制御の下に送信アンプ４の出力信号によ
り駆動されて超音波を検体１内に発射する。探触
子２から発射された超音波は第２図に示す如く、
音響インピーダンスの異なる境界１ａ，１ｂ，１
ｃ，１ｄから夫々インピーダンス不整合により反
射され、その反射波が探触子２にて浅い位置のも
のから順次受信され、ここで音響−電気変換され
る。探触子より取り出された反射波受信信号は、
受信アンプ５で増幅された後対数増幅器６に供給
される。
対数増幅器６は超音波の検体１内での減衰量
が、その伝搬路長に略比例するため、第２図に示
す検体１の表面に最も近い境界１ａからの反射波
の減衰量が小さく、一方、検体１の深い位置にあ
る境界１ｄからの反射波の減衰量が大であること
に鑑み、対数増幅器６の入出力特性は例えば第３
図に破線で示す如く、1V以下の入力受信信号
電圧を対数増幅して出力する特性に選定されてい
る。なお、第３図中、ａi＋ｂi，ｃi，ｄiは夫々境
界１ａ，１ｂ，１ｃ，１ｄの受信信号入力電圧、
ａp，ｂp，ｃp，ｄpはそのときの対数増幅器６の
出力電圧を示す。
が、その伝搬路長に略比例するため、第２図に示
す検体１の表面に最も近い境界１ａからの反射波
の減衰量が小さく、一方、検体１の深い位置にあ
る境界１ｄからの反射波の減衰量が大であること
に鑑み、対数増幅器６の入出力特性は例えば第３
図に破線で示す如く、1V以下の入力受信信号
電圧を対数増幅して出力する特性に選定されてい
る。なお、第３図中、ａi＋ｂi，ｃi，ｄiは夫々境
界１ａ，１ｂ，１ｃ，１ｄの受信信号入力電圧、
ａp，ｂp，ｃp，ｄpはそのときの対数増幅器６の
出力電圧を示す。
対数増幅器６を通過した受信信号は、整流回路
７で整流された後、表示器８に供給され、ここで
走査制御部３の出力により所定の走査線に反射位
置の輝度変調による表示を行なう。以下、上記と
同様にして探触子２から超音波が所定の周期で間
欠的に発射され、かつ、走査回路９の出力信号に
応じて超音波発射方向が走査され、それに応じて
表示器８の別の走査線にそのときの反射位置の輝
度変調による表示を行なうことが繰り返され、表
示器８には検体１の断層像の表示が行なわれる。
７で整流された後、表示器８に供給され、ここで
走査制御部３の出力により所定の走査線に反射位
置の輝度変調による表示を行なう。以下、上記と
同様にして探触子２から超音波が所定の周期で間
欠的に発射され、かつ、走査回路９の出力信号に
応じて超音波発射方向が走査され、それに応じて
表示器８の別の走査線にそのときの反射位置の輝
度変調による表示を行なうことが繰り返され、表
示器８には検体１の断層像の表示が行なわれる。
しかるに、上記の装置において従来は対数増幅
器６の対数変換桁数は受信信号レベルに関係なく
一定（例えば４桁程度）であつたため、対数増幅
をしたとしても、深い位置からの反射波受信信号
の出力レベルは低く、深い位置の像は暗く表示さ
れ、一方、浅い位置からの反射波受信信号の出力
レベルは高くなり、浅い位置の像は明るく表示さ
れてしまい、深さによつて像の明るさが変化して
しまうという欠点があつた。
器６の対数変換桁数は受信信号レベルに関係なく
一定（例えば４桁程度）であつたため、対数増幅
をしたとしても、深い位置からの反射波受信信号
の出力レベルは低く、深い位置の像は暗く表示さ
れ、一方、浅い位置からの反射波受信信号の出力
レベルは高くなり、浅い位置の像は明るく表示さ
れてしまい、深さによつて像の明るさが変化して
しまうという欠点があつた。
本発明の目的は、反射波の減衰量に応じて対数
増幅器の対数変換桁数を実質上変えることによ
り、減衰量の少ない浅い位置からの反射波の像は
できるだけ広い範囲のレベルのものまで表示し、
かつ、減衰量の大なる深い位置からの反射波の像
は浅い位置の像と略同程度の明るさで表示するこ
とのできる超音波診断装置を提供するにある。
増幅器の対数変換桁数を実質上変えることによ
り、減衰量の少ない浅い位置からの反射波の像は
できるだけ広い範囲のレベルのものまで表示し、
かつ、減衰量の大なる深い位置からの反射波の像
は浅い位置の像と略同程度の明るさで表示するこ
とのできる超音波診断装置を提供するにある。
本発明は、超音波を検体内に発射し、その反射
波を受信して音響−電気変換して得た受信信号を
対数増幅器により対数増幅し、この対数増幅され
た信号により検体の断像情報を得る超音波測定装
置において、上記超音波の検体内での減衰量に応
じて対数増幅器の対数変換特性を部分的に、又は
全体的に変える手段を有してなり、表示器に供給
される信号レベルを検体内での減衰量に関係なく
略一定レベルとすることにより、上記欠点を除去
したものであり、第４図以下の図面と共にその各
実施例につき説明する。
波を受信して音響−電気変換して得た受信信号を
対数増幅器により対数増幅し、この対数増幅され
た信号により検体の断像情報を得る超音波測定装
置において、上記超音波の検体内での減衰量に応
じて対数増幅器の対数変換特性を部分的に、又は
全体的に変える手段を有してなり、表示器に供給
される信号レベルを検体内での減衰量に関係なく
略一定レベルとすることにより、上記欠点を除去
したものであり、第４図以下の図面と共にその各
実施例につき説明する。
第４図は本発明装置の要部の第１実施例のブロ
ツク系統図を示す。同図中、入力端子１０には第
１図に示した受信アンプ５より取り出された受信
信号が入来し複数系統に分岐される。この分岐数
は必要に応じていくつでもよいが、ここでは４分
岐されて受信信号は可変利得増幅器１１１，１１
２，１１３，１１４に夫々供給される。これらの
可変利得増幅器１１１〜１１４の各ゲインは、コ
ントローラ１２、カウンタ１３、メモリ１４及び
DA変換器１５１〜１５４よりなる制御回路の出
力制御信号により、夫々互いに独立して可変制御
せしめられる。すなわち、コントローラ１２の出
力が供給されてカウンタ１３は１づゝ歩進し、そ
の計数出力がメモリ１４にアドレス指定信号とし
て印加される。メモリ１４はコントローラ１２の
出力により記憶データが読み出される。メモリ１
４には予めアドレスが１増加する毎に、可変利得
増幅器１１１〜１１４のゲインA1〜A4を適宜変
化するようなデータが記憶されている。メモリ１
４の例えば16ビツトのうちの下位ビツトから４ビ
ツトづつは、夫々DA変換器１５１〜１５４によ
りデイジタル−アナログ変換された後、可変利得
増幅器１１１〜１１４の各ゲイン制御端子に印加
され、そのゲインを可変制御する。
ツク系統図を示す。同図中、入力端子１０には第
１図に示した受信アンプ５より取り出された受信
信号が入来し複数系統に分岐される。この分岐数
は必要に応じていくつでもよいが、ここでは４分
岐されて受信信号は可変利得増幅器１１１，１１
２，１１３，１１４に夫々供給される。これらの
可変利得増幅器１１１〜１１４の各ゲインは、コ
ントローラ１２、カウンタ１３、メモリ１４及び
DA変換器１５１〜１５４よりなる制御回路の出
力制御信号により、夫々互いに独立して可変制御
せしめられる。すなわち、コントローラ１２の出
力が供給されてカウンタ１３は１づゝ歩進し、そ
の計数出力がメモリ１４にアドレス指定信号とし
て印加される。メモリ１４はコントローラ１２の
出力により記憶データが読み出される。メモリ１
４には予めアドレスが１増加する毎に、可変利得
増幅器１１１〜１１４のゲインA1〜A4を適宜変
化するようなデータが記憶されている。メモリ１
４の例えば16ビツトのうちの下位ビツトから４ビ
ツトづつは、夫々DA変換器１５１〜１５４によ
りデイジタル−アナログ変換された後、可変利得
増幅器１１１〜１１４の各ゲイン制御端子に印加
され、そのゲインを可変制御する。
例えば、超音波を発射した直後より比較的浅い
位置からの反射波が受信されるまでの期間、可変
利得器１１１のゲインは0dB、１１２のそれは
20dB、１１３のそれは40dB、１１４のそれは
60dBに制御されており、一方、対数増幅器６１
〜６４の夫々の入出力特性は第５図に示す如きも
のであるとすると、可変利得増幅器１１１〜１１
４、対数増幅器６１〜６４を夫々経た出力信号電
圧と入力端子１０の入力信号電圧とは、第６図Ａ
に１，２，３及び４で夫々示す如くにな
る。ここで、１，２，３及び４は夫々上
記入力信号電圧と、対数増幅器６１，６２，６３
及び６４の出力信号電圧との特性図を示す。
位置からの反射波が受信されるまでの期間、可変
利得器１１１のゲインは0dB、１１２のそれは
20dB、１１３のそれは40dB、１１４のそれは
60dBに制御されており、一方、対数増幅器６１
〜６４の夫々の入出力特性は第５図に示す如きも
のであるとすると、可変利得増幅器１１１〜１１
４、対数増幅器６１〜６４を夫々経た出力信号電
圧と入力端子１０の入力信号電圧とは、第６図Ａ
に１，２，３及び４で夫々示す如くにな
る。ここで、１，２，３及び４は夫々上
記入力信号電圧と、対数増幅器６１，６２，６３
及び６４の出力信号電圧との特性図を示す。
上記の対数増幅器６１〜６４の各出力信号は加
算器１６により夫々加算合成された後出力端子１
７より第１図に示す整流回路７へ供給される。従
つて、このときの入力端子１０の入力信号電圧と
出力端子１７の出力信号電圧との特性は、第６図
Ａにaで示す如くになり、10-4Vから1Vの入力
電圧に対して出力電圧が直線的に上昇する特性と
なる。
算器１６により夫々加算合成された後出力端子１
７より第１図に示す整流回路７へ供給される。従
つて、このときの入力端子１０の入力信号電圧と
出力端子１７の出力信号電圧との特性は、第６図
Ａにaで示す如くになり、10-4Vから1Vの入力
電圧に対して出力電圧が直線的に上昇する特性と
なる。
これにより、比較的浅い位置からの受信信号
は、増幅器などの雑音レベルよりもはるかに大レ
ベルであり、また第６図Ａにaで示す如く対数
変換の桁数が４桁と大きくされているため、大き
い信号レベルから小さい信号レベルまで広いダイ
ナミツクレンジで像の表示ができる。
は、増幅器などの雑音レベルよりもはるかに大レ
ベルであり、また第６図Ａにaで示す如く対数
変換の桁数が４桁と大きくされているため、大き
い信号レベルから小さい信号レベルまで広いダイ
ナミツクレンジで像の表示ができる。
次に、上記の比較的浅い位置からの反射波が受
信された期間経過時点より比較的深い位置からの
反射波が受信されるまでの期間は、可変利得器１
１１，１１２，１１３，１１４の各ゲインは、
30dB，40dB，50dB，60dBに可変されたものとす
ると、入力信号電圧と対数増幅器６１〜６４の出
力信号電圧との特性は、第６図Ｂに′１，′
２，′３，′４で示す如くになる。従つて、入
力端子１０の入力信号は出力端子１７より第６図
Ｂにbで示す如き対数増幅特性が付与されて取
り出されることになる。すなわち、この受信期間
では、対数変換の傾斜が大となり、比較的深い位
置からの反射波は減衰量が大であるが、その反射
波の受信信号は、第６図Ｂにbで示す対数増幅
特性が付与されて前記最初の受信期間における信
号レベルと略同一レベルとされて第１図に示した
整流回路７へ供給されることにより、表示器８に
は前記比較的浅い位置からの反射波による像と同
程度の明るさで比較的深い位置からの反射波によ
る像が表示される。
信された期間経過時点より比較的深い位置からの
反射波が受信されるまでの期間は、可変利得器１
１１，１１２，１１３，１１４の各ゲインは、
30dB，40dB，50dB，60dBに可変されたものとす
ると、入力信号電圧と対数増幅器６１〜６４の出
力信号電圧との特性は、第６図Ｂに′１，′
２，′３，′４で示す如くになる。従つて、入
力端子１０の入力信号は出力端子１７より第６図
Ｂにbで示す如き対数増幅特性が付与されて取
り出されることになる。すなわち、この受信期間
では、対数変換の傾斜が大となり、比較的深い位
置からの反射波は減衰量が大であるが、その反射
波の受信信号は、第６図Ｂにbで示す対数増幅
特性が付与されて前記最初の受信期間における信
号レベルと略同一レベルとされて第１図に示した
整流回路７へ供給されることにより、表示器８に
は前記比較的浅い位置からの反射波による像と同
程度の明るさで比較的深い位置からの反射波によ
る像が表示される。
次に、上記の比較的深い位置からの反射波が受
信された期間経過後、次に超音波が発射されるま
での受信期間は、可変利得増幅器１１１，１１
２，１１３，１１４の各ゲインは、例えばすべて
60dBに可変制御される。これにより、入力端子
１０の入力信号電圧と対数増幅器６１，６２，６
３，６４の各出力信号電圧とは、第６図Ｃに夫々
′１，′２，′３，′４で示す如くすべて同
一特性を示し、またこの入出力特性は第５図に示
す対数増幅器６１〜６４の入出力特性と同一特性
である。従つて、この受信期間における入力端子
１０及び出力端子１７の入出力特性は、第６図Ｃ
にcで示す如く、10-3V以上の入力信号電圧に対
しては出力信号電圧が4Vで一定で、他方、10-4V
〜10-3Vの入力信号電圧に対しては直線的に出力
信号電圧が上昇する特性となり、対数変換の傾斜
は急峻となる。
信された期間経過後、次に超音波が発射されるま
での受信期間は、可変利得増幅器１１１，１１
２，１１３，１１４の各ゲインは、例えばすべて
60dBに可変制御される。これにより、入力端子
１０の入力信号電圧と対数増幅器６１，６２，６
３，６４の各出力信号電圧とは、第６図Ｃに夫々
′１，′２，′３，′４で示す如くすべて同
一特性を示し、またこの入出力特性は第５図に示
す対数増幅器６１〜６４の入出力特性と同一特性
である。従つて、この受信期間における入力端子
１０及び出力端子１７の入出力特性は、第６図Ｃ
にcで示す如く、10-3V以上の入力信号電圧に対
しては出力信号電圧が4Vで一定で、他方、10-4V
〜10-3Vの入力信号電圧に対しては直線的に出力
信号電圧が上昇する特性となり、対数変換の傾斜
は急峻となる。
この結果、反射位置が極めて深くて減衰量が極
めて大である反射波が受信されるこの受信期間に
おいては、受信信号が大幅に増幅されて前記最初
の受信期間と略同一のレベルで出力されるので、
極めて深い位置からの反射波による像は、比較的
浅い位置からの反射波による像と同程度の明るさ
で第１図に示した表示器８に表示される。
めて大である反射波が受信されるこの受信期間に
おいては、受信信号が大幅に増幅されて前記最初
の受信期間と略同一のレベルで出力されるので、
極めて深い位置からの反射波による像は、比較的
浅い位置からの反射波による像と同程度の明るさ
で第１図に示した表示器８に表示される。
このように、本実施例によれば、反射波の減衰
が大きくなるにつれて、すなわち入力信号電圧の
低下と共に例えば第７図に示す如く対数変換の傾
斜を大きくすることにより、表示器８への信号レ
ベルを常に略一定レベルとし、検体１の反射位置
の深さに関係なく、深い位置の像も浅い位置の像
と同程度の明るさで表示器８に表示させることが
できる。
が大きくなるにつれて、すなわち入力信号電圧の
低下と共に例えば第７図に示す如く対数変換の傾
斜を大きくすることにより、表示器８への信号レ
ベルを常に略一定レベルとし、検体１の反射位置
の深さに関係なく、深い位置の像も浅い位置の像
と同程度の明るさで表示器８に表示させることが
できる。
次に本発明装置の第２実施例につき説明する
に、第８図は本発明装置の要部の第２実施例のブ
ロツク系統図を示す。同図中、第１図と同一部分
には同一番号を付してある。対数増幅器６の入出
力特性が、いま第９図にで示すものであるとす
る。この対数増幅器６の後段には補正増幅器１８
が設けられており、メモリ２１の出力信号により
そのゲインが可変制御せしめられる。メモリ２１
は、コントローラ１９の出力を計数するカウンタ
２０の出力によりアドレスが指定され、コントロ
ーラ１９の出力に応じてその指定アドレスの記憶
データが読み出される。ここで、メモリ２１の読
み出しデータは時間の経過と共に補正増幅器１８
のゲインを適当な大きさに変化させるデータとさ
れている。
に、第８図は本発明装置の要部の第２実施例のブ
ロツク系統図を示す。同図中、第１図と同一部分
には同一番号を付してある。対数増幅器６の入出
力特性が、いま第９図にで示すものであるとす
る。この対数増幅器６の後段には補正増幅器１８
が設けられており、メモリ２１の出力信号により
そのゲインが可変制御せしめられる。メモリ２１
は、コントローラ１９の出力を計数するカウンタ
２０の出力によりアドレスが指定され、コントロ
ーラ１９の出力に応じてその指定アドレスの記憶
データが読み出される。ここで、メモリ２１の読
み出しデータは時間の経過と共に補正増幅器１８
のゲインを適当な大きさに変化させるデータとさ
れている。
すなわち、対数増幅器６の入力信号電圧は超音
波送信周期内において、時間の経過と共に小レベ
ルとなるから、まず超音波送信時直後から一定期
間は補正増幅器１８のゲインを所定の値Ｇとし、
以後時間の経過と共に入力信号電圧が10-2V付近
となる時間では2G、10-3V付近となる時間では
4Gとなるように、第１０図に示す如き特性の矢
印方向への制御を行なう。
波送信周期内において、時間の経過と共に小レベ
ルとなるから、まず超音波送信時直後から一定期
間は補正増幅器１８のゲインを所定の値Ｇとし、
以後時間の経過と共に入力信号電圧が10-2V付近
となる時間では2G、10-3V付近となる時間では
4Gとなるように、第１０図に示す如き特性の矢
印方向への制御を行なう。
これにより、入力信号電圧が1V，10-1V，
10-2V，10-3Vのいずれの場合も、補正増幅器１
８の出力信号電圧は第９図に破線V1，V2，V3，
V4で示す如く約1Vと等しくなる。従つて、本実
施例の場合も入力信号電圧の低下につれて（時間
の経過と共に）補正増幅器のゲインが大に制御さ
れ、この結果、検体１の反射位置の深さに関係な
く、深い位置の像も浅い位置の像と同程度の明る
さで第１図に示した表示器８で表示させることが
できる。本実施例は第１実施例に比し回路部品点
数が小であり、安価に構成することができる。
10-2V，10-3Vのいずれの場合も、補正増幅器１
８の出力信号電圧は第９図に破線V1，V2，V3，
V4で示す如く約1Vと等しくなる。従つて、本実
施例の場合も入力信号電圧の低下につれて（時間
の経過と共に）補正増幅器のゲインが大に制御さ
れ、この結果、検体１の反射位置の深さに関係な
く、深い位置の像も浅い位置の像と同程度の明る
さで第１図に示した表示器８で表示させることが
できる。本実施例は第１実施例に比し回路部品点
数が小であり、安価に構成することができる。
なお、第１実施例と第２実施例とを夫々併用す
ることもできる。
ることもできる。
第１図は一般的な超音波診断装置の一例を示す
ブロツク系統図、第２図は検体内の超音波反射位
置（境界）を示す図、第３図は従来装置における
対数増幅器の入出力特性の一例を示す図、第４図
は本発明装置の要部の第１実施例を示すブロツク
系統図、第５図は第４図中の対数増幅器の入出力
特性の一例を示す図、第６図Ａ〜Ｃは夫々第４図
の動作説明用の各部の入出力特性を示す図、第７
図は第４図示装置の入力電圧と対数変換桁数との
関係を示す図、第８図は本発明装置の要部の第２
実施例を示すブロツク系統図、第９図は第８図の
各部の入出力特性を示す図、第１０図は第９図中
の補正増幅器のゲインの制御方法を説明する図で
ある。 １……検体、２……探触子、６，６１〜６４…
…対数増幅器、８……表示器、１０……受信信号
入力端子、１１１〜１１４……可変利得増幅器、
１４，２１……メモリ、１６……加算器、１７…
…出力端子、１８……補正増幅器。
ブロツク系統図、第２図は検体内の超音波反射位
置（境界）を示す図、第３図は従来装置における
対数増幅器の入出力特性の一例を示す図、第４図
は本発明装置の要部の第１実施例を示すブロツク
系統図、第５図は第４図中の対数増幅器の入出力
特性の一例を示す図、第６図Ａ〜Ｃは夫々第４図
の動作説明用の各部の入出力特性を示す図、第７
図は第４図示装置の入力電圧と対数変換桁数との
関係を示す図、第８図は本発明装置の要部の第２
実施例を示すブロツク系統図、第９図は第８図の
各部の入出力特性を示す図、第１０図は第９図中
の補正増幅器のゲインの制御方法を説明する図で
ある。 １……検体、２……探触子、６，６１〜６４…
…対数増幅器、８……表示器、１０……受信信号
入力端子、１１１〜１１４……可変利得増幅器、
１４，２１……メモリ、１６……加算器、１７…
…出力端子、１８……補正増幅器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 超音波を検体内に発射し、その反射波を受信
して音響−電気変換して得た受信信号を対数増幅
器により対数増幅し、この対数増幅された信号に
より上記検体の断層情報を得る超音波測定装置に
おいて、 複数個の対数増幅器と、 該対数増幅器のそれぞれの前段に設けられゲイン
が可変される可変利得増幅器と、 該可変利得増幅器のゲインを超音波発射時刻より
時間が経過するにつれて大になるように又は測定
対象に応じて適宜関数型で変化するように可変制
御する制御回路と、 該複数の対数増幅器の各出力信号をそれぞれ加算
する加算器と を備えることを特徴とする超音波測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55187831A JPS57112851A (en) | 1980-12-29 | 1980-12-29 | Ultrasonic diagnostic apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55187831A JPS57112851A (en) | 1980-12-29 | 1980-12-29 | Ultrasonic diagnostic apparatus |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57112851A JPS57112851A (en) | 1982-07-14 |
| JPS6241020B2 true JPS6241020B2 (ja) | 1987-09-01 |
Family
ID=16212994
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP55187831A Granted JPS57112851A (en) | 1980-12-29 | 1980-12-29 | Ultrasonic diagnostic apparatus |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57112851A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6125540A (ja) * | 1984-07-13 | 1986-02-04 | 株式会社島津製作所 | 超音波診断装置 |
| DE3854303T2 (de) * | 1987-08-31 | 1995-12-21 | Yokogawa Medical Syst | Ultraschall-diagnosegerät. |
| JP2545188Y2 (ja) * | 1991-03-22 | 1997-08-25 | 大日本印刷株式会社 | 通気性包装袋 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5636943A (en) * | 1979-09-04 | 1981-04-10 | Philips Corp | Method and device for processing receiving signal in ultrasonic echo diagnosing device |
-
1980
- 1980-12-29 JP JP55187831A patent/JPS57112851A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5636943A (en) * | 1979-09-04 | 1981-04-10 | Philips Corp | Method and device for processing receiving signal in ultrasonic echo diagnosing device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57112851A (en) | 1982-07-14 |
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