JPS62134547A - 熱拡散率測定装置 - Google Patents
熱拡散率測定装置Info
- Publication number
- JPS62134547A JPS62134547A JP27436085A JP27436085A JPS62134547A JP S62134547 A JPS62134547 A JP S62134547A JP 27436085 A JP27436085 A JP 27436085A JP 27436085 A JP27436085 A JP 27436085A JP S62134547 A JPS62134547 A JP S62134547A
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- 238000000034 method Methods 0.000 description 10
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 7
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- JNSGIVNNHKGGRU-JYRVWZFOSA-N diethoxyphosphinothioyl (2z)-2-(2-amino-1,3-thiazol-4-yl)-2-methoxyiminoacetate Chemical compound CCOP(=S)(OCC)OC(=O)C(=N/OC)\C1=CSC(N)=N1 JNSGIVNNHKGGRU-JYRVWZFOSA-N 0.000 description 1
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の技術分野]
本発明は、レーザーフラッシュ法による無限平板の熱拡
散率の測定法に用いられる熱拡散率測定装置に関する。
散率の測定法に用いられる熱拡散率測定装置に関する。
U発明の技術的背景とその問題点]
従来から厚み一定の平板試料の熱拡散率を測定する方法
として、レーザーフラッシュ法が知られている。
として、レーザーフラッシュ法が知られている。
この方法では、厚み一様な平板試料にレーデ−光を瞬時
照射して試料背面の温度上昇曲線を測定することにより
試料の熱拡散率が求められる。
照射して試料背面の温度上昇曲線を測定することにより
試料の熱拡散率が求められる。
しかしながら、このような従来のレーザーフラッシュ法
では、厚み、形状が一定で比較的薄く、熱拡散率の大き
い試料の場合には、測定値のバラツキが大きくなるとい
う問題があった。
では、厚み、形状が一定で比較的薄く、熱拡散率の大き
い試料の場合には、測定値のバラツキが大きくなるとい
う問題があった。
[発明の目的]
本発明はこのような従来の難点を解消すべくなされたも
ので、レーザーフラッシュ法による熱拡散率測定法にお
いて、厚み、形状が変化しても、又熱拡散率が大きい試
料でもバラツキのない熱拡散率の測定値を得られる熱拡
散率測定装置を提供することを目的とする−0 [発明の概要] すなわち本発明の熱拡散率測定装置は、高エネルギー線
照射装置と、試料を前記高エネルギー線照射装置の照射
軸と直交さけて保持する試料保持装置と、高エネルギー
線照射装置と前記試料保持装置間の高エネルギー線通路
上に配置されたアパーチャーと、前記試料保持装置の背
面に向けて配置された非接触感熱センサーと、前記高エ
ネルギー線照射装置または非接触感熱センサーを前記高
エネルギー線通路と直交する面内で移動させる移動装置
とを備えることにより、厚みおよび形状か変化しても、
又熱拡散率が大きい試料でもバラツキのない熱拡散率の
測定値を得られるようにしたものである。
ので、レーザーフラッシュ法による熱拡散率測定法にお
いて、厚み、形状が変化しても、又熱拡散率が大きい試
料でもバラツキのない熱拡散率の測定値を得られる熱拡
散率測定装置を提供することを目的とする−0 [発明の概要] すなわち本発明の熱拡散率測定装置は、高エネルギー線
照射装置と、試料を前記高エネルギー線照射装置の照射
軸と直交さけて保持する試料保持装置と、高エネルギー
線照射装置と前記試料保持装置間の高エネルギー線通路
上に配置されたアパーチャーと、前記試料保持装置の背
面に向けて配置された非接触感熱センサーと、前記高エ
ネルギー線照射装置または非接触感熱センサーを前記高
エネルギー線通路と直交する面内で移動させる移動装置
とを備えることにより、厚みおよび形状か変化しても、
又熱拡散率が大きい試料でもバラツキのない熱拡散率の
測定値を得られるようにしたものである。
[発明の実施例]
以下図面を参照して本発明の実施例について説明する。
第2図は本発明を用いたレーザフラッシュ法の原理図で
ある。
ある。
同図に示すように、厚さ℃のかなり大きい平板試料1の
一部に、アパーチャー2を用いて一様なエネルギーを持
った半径roのフラッシュ光3を瞬時照射してその試料
1を加熱した場合、フラッシュ光の中心から距2itr
だけ離れたフラッシュ光照射と反対側の試料面上の温度
上昇曲線θは、試料から外部への熱損失と試料外形の影
響を無視して、2次元熱拡散5程式を解けば、 ・・・・・・・・・(I) ・・・・・・・・・(n) で表わされる。
一部に、アパーチャー2を用いて一様なエネルギーを持
った半径roのフラッシュ光3を瞬時照射してその試料
1を加熱した場合、フラッシュ光の中心から距2itr
だけ離れたフラッシュ光照射と反対側の試料面上の温度
上昇曲線θは、試料から外部への熱損失と試料外形の影
響を無視して、2次元熱拡散5程式を解けば、 ・・・・・・・・・(I) ・・・・・・・・・(n) で表わされる。
ここでQは単位面積当りのエネルギー、ρは密度、Cp
は熱容量、λは厚み、αは熱拡散率、tはフラッシュ光
が照射されてからの経過時間を表す。
は熱容量、λは厚み、αは熱拡散率、tはフラッシュ光
が照射されてからの経過時間を表す。
なお(I)式においてG=1とおけば従来のレーザーフ
ラッシュ法と同一の式になる。試料厚みが薄い場合には
ごく短時間に 内は1となり、(I)式は となる。
ラッシュ法と同一の式になる。試料厚みが薄い場合には
ごく短時間に 内は1となり、(I)式は となる。
r/ro=1.5.2.2.5のとき4αt/r”に対
するGの関係を第3図に示す。
するGの関係を第3図に示す。
第1図は本発明の一実施例の熱拡散率測定装置の斜視図
である。
である。
この図に示すように、この実施例の熱拡散率測定装置は
、レーザー照射装置11と、そのレーザー照射方向に順
に配置された、アパーチャー径3.5龍のアパーチャー
12と、平板状試料13を照射軸と直交させて保持する
試料保持装置14と、照射軸に直交する方向に移動可能
な非接触感熱センサー5、および図示を省略した、非接
触感熱センサー15をレーザー光の光軸と直交する面内
で移動させる移動装置とから構成されている。
、レーザー照射装置11と、そのレーザー照射方向に順
に配置された、アパーチャー径3.5龍のアパーチャー
12と、平板状試料13を照射軸と直交させて保持する
試料保持装置14と、照射軸に直交する方向に移動可能
な非接触感熱センサー5、および図示を省略した、非接
触感熱センサー15をレーザー光の光軸と直交する面内
で移動させる移動装置とから構成されている。
なお移動装置は非接触感熱ヒンサー15を移動させずに
、レーザー光の光軸を平行移動させるように構成しても
よい。
、レーザー光の光軸を平行移動させるように構成しても
よい。
この熱拡散率測定装置を用いて平板状試料の熱拡散率を
測定する場合には、試料13上のレーザー光の照射位置
と非接触感熱センサー15の測定位置とを、所定の距離
だけ離しておぎ、レーザー照射装置11から瞬時試料1
1ヘレーザー光を照射する。そしてこの照射箇所から所
定の距離だけ離れた位置の試料11の背面の表面温度の
熱履歴曲線を非接触感熱センサー15により測定して前
述した各式により熱拡散率を求めればよい。
測定する場合には、試料13上のレーザー光の照射位置
と非接触感熱センサー15の測定位置とを、所定の距離
だけ離しておぎ、レーザー照射装置11から瞬時試料1
1ヘレーザー光を照射する。そしてこの照射箇所から所
定の距離だけ離れた位置の試料11の背面の表面温度の
熱履歴曲線を非接触感熱センサー15により測定して前
述した各式により熱拡散率を求めればよい。
次にこの実施例の熱拡散率測定装置を用いて熱拡散率を
測定した例について説明する。
測定した例について説明する。
試料として厚さ0.5mmの5US304を用いアパー
チャーの中心から5酊離れた位置における温度履歴曲線
を測定した。その結果を第4図に示す。
チャーの中心から5酊離れた位置における温度履歴曲線
を測定した。その結果を第4図に示す。
この試料を標準試料(熱拡散率0.034cイ/S)と
して3iウエハーの熱拡散率を測定した結果は0.79
cf/sとなった。
して3iウエハーの熱拡散率を測定した結果は0.79
cf/sとなった。
また試験片の厚さを0.5〜1mmの範囲で代えて測定
を行なったが試料の厚さによる差は認られなかった。
を行なったが試料の厚さによる差は認られなかった。
[考案の効果]
以上説明したように、本発明によれば、熱拡散率測定法
により、厚み、形状が一定で比較的薄い板状試料でも測
定値のバラツキを解消させ゛ることかできる。したがっ
て試料の圧延または絞りの具合をチェックしたり、試料
内の亀裂の有無、熱処理条件の設定などに有用な知見を
得ることが可能でおり、品質管理、工程管理等に活用す
ることができる。
により、厚み、形状が一定で比較的薄い板状試料でも測
定値のバラツキを解消させ゛ることかできる。したがっ
て試料の圧延または絞りの具合をチェックしたり、試料
内の亀裂の有無、熱処理条件の設定などに有用な知見を
得ることが可能でおり、品質管理、工程管理等に活用す
ることができる。
第1図は本発明の一実施例を概略的に示す斜視図、第2
図は本発明を用いたレーザフラッシュ法の原理図、第3
図はレーザー照射位置と測定位置との距離を変えたとき
の2次元熱拡散5程式の関数間の関係の変化を示すグラ
フ、第4図は本発明の実施例の装置を使用して測定した
試料の温度履歴曲線を示すグラフである。 11・・・・・・・・・・・・レーザー照射装置12−
・・・・・・・・・・・アパーチャー13・・・・・・
・・・・・・平板状試料14・・・・・・・・・・・・
試料保持装置15・・・・・・・・・・・・非接触感熱
センサー第1図 第2図 4医t/rA 第3図 第4図 手 続 補 正 1ll(自発)1、J件f7
)ti示 特m[1i?60−274360号2、
発明の名称 熱拡散率測定装置 3、補正をする者 事件との関係・特許出願人 神奈川県用崎市幸区堀用町72番地 (307)株式会社 東芝 4、代 理 人 〒 101東京都千代田
区神田多町2丁目1番地 明細書の発明の詳、$l!lな説明の欄6、補正の内容 (1)第4頁5行目の式を以下の通り訂正する。 (2)同上から2行目「短It¥間に 内は」を「短
時間に()内は′」と訂正する。 (3)第6真下から317目「考案の効果」を「発明の
効果」と訂正する。 以 上
図は本発明を用いたレーザフラッシュ法の原理図、第3
図はレーザー照射位置と測定位置との距離を変えたとき
の2次元熱拡散5程式の関数間の関係の変化を示すグラ
フ、第4図は本発明の実施例の装置を使用して測定した
試料の温度履歴曲線を示すグラフである。 11・・・・・・・・・・・・レーザー照射装置12−
・・・・・・・・・・・アパーチャー13・・・・・・
・・・・・・平板状試料14・・・・・・・・・・・・
試料保持装置15・・・・・・・・・・・・非接触感熱
センサー第1図 第2図 4医t/rA 第3図 第4図 手 続 補 正 1ll(自発)1、J件f7
)ti示 特m[1i?60−274360号2、
発明の名称 熱拡散率測定装置 3、補正をする者 事件との関係・特許出願人 神奈川県用崎市幸区堀用町72番地 (307)株式会社 東芝 4、代 理 人 〒 101東京都千代田
区神田多町2丁目1番地 明細書の発明の詳、$l!lな説明の欄6、補正の内容 (1)第4頁5行目の式を以下の通り訂正する。 (2)同上から2行目「短It¥間に 内は」を「短
時間に()内は′」と訂正する。 (3)第6真下から317目「考案の効果」を「発明の
効果」と訂正する。 以 上
Claims (1)
- 高エネルギー線照射装置と、試料を前記高エネルギー線
照射装置の照射軸と直交させて保持する試料保持装置と
、高エネルギー線照射装置と前記試料保持装置間の高エ
ネルギー線通路に配置されたアパーチャーと、前記試料
保持装置の背面に向けて配置された非接触感熱センサー
と、前記高エネルギー線照射装置または非接触感熱セン
サーを前記高エネルギー線通路と直交する面内で移動さ
せる移動装置とを有することを特徴とする熱拡散率測定
装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27436085A JPS62134547A (ja) | 1985-12-07 | 1985-12-07 | 熱拡散率測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27436085A JPS62134547A (ja) | 1985-12-07 | 1985-12-07 | 熱拡散率測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62134547A true JPS62134547A (ja) | 1987-06-17 |
Family
ID=17540570
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP27436085A Pending JPS62134547A (ja) | 1985-12-07 | 1985-12-07 | 熱拡散率測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62134547A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1997027472A1 (en) * | 1996-01-25 | 1997-07-31 | Inrad Corporation | Measuring the thermal conductivity of thin films |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS54115182A (en) * | 1978-02-28 | 1979-09-07 | Satoru Fujii | Device for remotely measuring quantity of convective heat transfer |
JPS60155950A (ja) * | 1984-01-19 | 1985-08-16 | Ichiro Hatta | 交流カロリメトリによる熱拡散率測定方法及び装置 |
-
1985
- 1985-12-07 JP JP27436085A patent/JPS62134547A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS54115182A (en) * | 1978-02-28 | 1979-09-07 | Satoru Fujii | Device for remotely measuring quantity of convective heat transfer |
JPS60155950A (ja) * | 1984-01-19 | 1985-08-16 | Ichiro Hatta | 交流カロリメトリによる熱拡散率測定方法及び装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1997027472A1 (en) * | 1996-01-25 | 1997-07-31 | Inrad Corporation | Measuring the thermal conductivity of thin films |
US5688049A (en) * | 1996-01-25 | 1997-11-18 | Inrad | Method and apparatus for measuring the thermal conductivity of thin films |
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