JPS62109389A - Manufacture of diffraction grating - Google Patents
Manufacture of diffraction gratingInfo
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- JPS62109389A JPS62109389A JP60250227A JP25022785A JPS62109389A JP S62109389 A JPS62109389 A JP S62109389A JP 60250227 A JP60250227 A JP 60250227A JP 25022785 A JP25022785 A JP 25022785A JP S62109389 A JPS62109389 A JP S62109389A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、半導体基板上にλ/4シフト型DFBレーザ
の回析格子を製造する回析格子の製造方法に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to a method for manufacturing a diffraction grating for a λ/4 shift DFB laser on a semiconductor substrate.
(従来の技′#)
近年、長距離大容量光伝送システムの光源として単一モ
ード牛導体レーザの研究が活発に行なわれている。単一
モード半導体レーザとしては、分布帰還形(DFB)レ
ーザ、分布反射形(DBR)レーザ、複合共振器レーザ
、短共振器レーザなどがあげられるが、その単一モード
動作の制御性2よび温度範囲の広さなどの安定性の問題
からDBRレーザ、DFBレーザの開発が集中して行な
われている。また、DFBレーザの方がDBRレーザよ
11111t!造方法が簡単であるため、DF’Bレー
ザが注目を集めている。(Conventional Techniques) In recent years, research has been actively conducted on single-mode conductor lasers as light sources for long-distance, high-capacity optical transmission systems. Examples of single-mode semiconductor lasers include distributed feedback (DFB) lasers, distributed reflection (DBR) lasers, composite cavity lasers, and short cavity lasers, but their single-mode operation controllability2 and temperature DBR lasers and DFB lasers are being developed intensively due to stability issues such as wide range. Also, the DFB laser is 11111t better than the DBR laser! DF'B lasers are attracting attention because of their simple manufacturing method.
DFBレーザは素子内に均一な回析格子を有する構造を
とって3つ、この回析格子の周期で定まるブラッグ波長
近傍で単一波長で発振する。しかしながら、均一な回析
格子を有するDFBレーザでは、ブラッグ波長に対して
対称な2本の近接した発掘可能なモート=が存在するた
め、この2本のモードで発振する素子も多数あった。そ
こで、このようなおる意味での不安定性を除去するため
にDFBレーザ内部で回析格子の周期金λg/4(λy
は素子内を伝播する光の波長)だけずらした構造のDF
Bレーザか試作されている。(1984年11月22日
発行のエレクトロニクス・レターズ誌(Electro
nics LetterS) $ 20巻4号1008
〜1010頁ノこのような構造のDFBレーザをλ/4
シフト型DFBレーザと呼んでいる。The DFB laser has a structure with three uniform diffraction gratings within the element, and oscillates at a single wavelength near the Bragg wavelength determined by the period of the diffraction grating. However, in a DFB laser having a uniform diffraction grating, there are two closely excavable moats that are symmetrical with respect to the Bragg wavelength, so there were many elements that oscillated in these two modes. Therefore, in order to eliminate instability in a certain sense, the periodic gold λg/4(λy
is the wavelength of light propagating in the element).
A B laser is being prototyped. (Electronics Letters magazine published November 22, 1984)
nics LetterS) $ 20 Volume 4 1008
- Page 1010 A DFB laser with such a structure is λ/4
It is called a shifted DFB laser.
λ/4シフト型DFBレーザはブラッグ波長に完全に一
致した1本の軸モードで発振することを詩歌として2す
、上述のような2軸モードで発掘するような素子は極め
て少なくなり1歩留り向上の点で大変有望でおる。とこ
ろで+ DFBレーザの回析格子の周期Aは発振波長λ
と次の関係にある。The λ/4 shift DFB laser is said to oscillate in a single axial mode that perfectly matches the Bragg wavelength, and the number of devices that can be found in the 2-axis mode as described above is extremely rare, increasing yield by 1. It is very promising in this respect. By the way, the period A of the diffraction grating of +DFB laser is the oscillation wavelength λ
has the following relationship.
ここで、neは素子内の等価屈折率、mは回析格子の次
数である。従って、1次の回析格子(m=l)の周期は
λダ
人=−
となる。このことから、1次の回析格子1−Oeつたλ
/4シフト型の回析格子は、シフト領域を境にして左右
の回析格子の凸凹を反転させればよいことが分かる。Here, ne is the equivalent refractive index within the element, and m is the order of the diffraction grating. Therefore, the period of the first-order diffraction grating (m=l) is λ = -. From this, we can conclude that the first-order diffraction grating 1-Oe is λ
It can be seen that for the /4 shift type diffraction grating, the unevenness of the left and right diffraction gratings can be reversed with the shift region as a boundary.
従来のこのような回析格子の製造方法は字高他がポジ及
びネガタイプのフォトレジストの逆感光性を利用して実
現したもので(1984年11月22日発行のエレクト
ロニクスレターズ誌(Electronics Let
ters)第20巻4号1008〜1010頁)、半導
体基板上に第1のフォトレジストを部分的に形成してか
ら半導体基板3よび第1のフォトレジストを覆うように
第1のフォトレジストとは逆感光性の第2のフォトレジ
ストヲ形成し、これらの第1Sよび第2のフォトレジス
トを露光してから、まず第2のフォトレジストに対し現
像、エツチング、除去を行った後に第1のフォトレジス
トに対し現像、エツチング、除去を行うtのである。The conventional manufacturing method for such a diffraction grating was realized by Jitaka et al. using the reverse photosensitivity of positive and negative type photoresists (Electronics Letters magazine, November 22, 1984).
ters) Vol. 20, No. 4, pp. 1008-1010), the first photoresist is partially formed on the semiconductor substrate, and then the first photoresist is formed so as to cover the semiconductor substrate 3 and the first photoresist. After forming a second photoresist with reverse photoresist and exposing these first and second photoresists, the second photoresist is first developed, etched, and removed, and then the first photoresist is exposed. The resist is developed, etched, and removed.
(発明が解決しようとする問題点)
上述した従来の回析格子の製造方法は、第1のフォトレ
ジストを基板の密着性が悪いことと、第1のフォトレジ
ストとエブチャントとのなじみが悪いために1回析格子
の谷と山が良好に形成されず山と山がつながったり、韓
の浅い回析格子が形成されるという欠点がある。(Problems to be Solved by the Invention) The conventional method for manufacturing a diffraction grating described above is difficult because the first photoresist has poor adhesion to the substrate and the first photoresist and the ebchant are not compatible with each other. One drawback is that the valleys and peaks of the diffraction grating are not well formed, resulting in the peaks being connected, and a shallow diffraction grating being formed.
本発明の目的は、λ/4シフト型DFBレーザに用いる
回析格子として、形状が良好な回析格子製造することが
できる回析格子の製造方法を提供することにある。An object of the present invention is to provide a method for manufacturing a diffraction grating that is capable of manufacturing a diffraction grating with a good shape as a diffraction grating for use in a λ/4 shift type DFB laser.
(問題点を解決するための手段)
本発明は、半導体基板上に第1のフォトレジストを部分
的に形成する第1の工程と、@把手導体基板の露出面S
よび前記第1のフォトレジストを覆うように前記第1の
フォトレジストとは逆感光性の第2のフォトレジストを
形成する第2の工程と、前記第1.前記第2のフォトレ
ジストを2光干渉露光法により露光する第3の工程と、
この第3の工程の後に前記第2のフォトレジストを現像
して周期状のパターンを形成する第4の工程と、この第
4の工程の後に前記第2のフォトレジストをマスクとし
て前記半導体基板の前記第1のフォトレジストが覆って
いない部分をエツチングする第5の工程と、この第5の
工程の後に前記第2のフォトレジストを除去する第6の
工程と、この第6の工程の後に前記第1のフォトレジス
トを現像して周期状のパターンを形成する第7の工程と
、この第7の工程の後に前記第1のフォトレジストをマ
スクとして前記半導体基板をエツチングする第8の工程
と、この第8の工程の後に前記第1のフォトレジストを
除去する′ig9の工程とを備えている回析格子の製造
方法に2いて、前記第6の工程の後で前記第7の工程前
にベーキングを行なう第10の工程を含んで構成される
。(Means for Solving the Problems) The present invention includes a first step of partially forming a first photoresist on a semiconductor substrate, and an exposed surface S of a handle conductor substrate.
and a second step of forming a second photoresist having a photoresist opposite to that of the first photoresist so as to cover the first photoresist; a third step of exposing the second photoresist by a two-light interference exposure method;
After this third step, there is a fourth step of developing the second photoresist to form a periodic pattern, and after this fourth step, a step of developing the semiconductor substrate using the second photoresist as a mask. a fifth step of etching the portion not covered by the first photoresist; a sixth step of removing the second photoresist after the fifth step; and a sixth step of etching the second photoresist after the sixth step. a seventh step of developing a first photoresist to form a periodic pattern; an eighth step of etching the semiconductor substrate using the first photoresist as a mask after the seventh step; 2, the method for manufacturing a diffraction grating comprises the step of removing the first photoresist after the eighth step; The method includes a tenth step of baking.
本発明の回析格子の製造方法は、第8の工程が半導体基
板のアルコール浸漬を行なった後に少なくともアルコー
ルを含むエッチャントを用いて第1のフォトレジストを
マスクとして前記半導体基板をエツチングするように構
成されることもできる。The method for manufacturing a diffraction grating of the present invention is configured such that in the eighth step, after immersing the semiconductor substrate in alcohol, the semiconductor substrate is etched using an etchant containing at least alcohol and using the first photoresist as a mask. It can also be done.
(作用)
通常、フォトエッチングエ稈はフォトレジスト塗布、プ
リベーク、露光、現像、リンス、ポストベーク、エツチ
ング、フォトレジスト剥離の項に行なわれる。この工程
に2いてプリベークはレジスト膜中の溶剤を除去する目
的で行なわれ、一方ボストベークはウェットエツチング
に2けるレジストと基板の密着性を上げるために行なわ
口、る。(Function) Photo-etching is usually performed in the following steps: photoresist coating, pre-baking, exposure, development, rinsing, post-baking, etching, and photoresist stripping. In this step, pre-baking is performed for the purpose of removing the solvent in the resist film, while post-baking is performed for increasing the adhesion between the resist and the substrate during wet etching.
従来2種類のフォトレジストを用いて回析格子を製作す
る際には第2のフォトレジストを剥離した後、すぐ第1
のフォトレジストを現像していた。Conventionally, when manufacturing a diffraction grating using two types of photoresists, the second photoresist is peeled off, and then the first one is immediately removed.
was developing photoresist.
しかし、それでは前記第1の7tトレジストが基板から
剥れ易く良好な回析格子を製作することが難しかった。However, in this case, the first 7t resist was easily peeled off from the substrate, making it difficult to manufacture a good diffraction grating.
そこで前記第2のフォトレジスト全剥離した後、第1の
フォトレジストと基板との密着性を高めるためにベーキ
ングを行なう。このベーキングにより第1のフォトレジ
ストと基板の密着性は高まり、良好な形状の回析格子が
形成される。Therefore, after the second photoresist is completely removed, baking is performed to improve the adhesion between the first photoresist and the substrate. This baking increases the adhesion between the first photoresist and the substrate, forming a well-shaped diffraction grating.
また、第1のフォトレジストとして造化ゴム系のフォト
レジストを使用する場合、臭化水素系のエッチャントを
用いると前記第1のフォトレジストは水をはじくので、
その影響を受けてエッチャントが基板全面に行き渡らな
い。その結果、形状が不良な回析格子が形成される。そ
こでエッチャントとしてアルコール系のB「メタノール
を用いるとエッチャントが基板全面に行き渡り形状が良
好な回析格子が形成される。ただし、エッチャントして
B「メタノールを用いる場合、エツチング前にアルコー
ル浸漬を行なう。アルコール浸漬を行なりことにより、
エッチャントと基板のなじみがよくなり、形状が良好な
回析格子が形成される。Furthermore, when using a synthetic rubber-based photoresist as the first photoresist, if a hydrogen bromide-based etchant is used, the first photoresist will repel water;
As a result, the etchant does not spread over the entire surface of the substrate. As a result, a diffraction grating with a poor shape is formed. Therefore, if alcohol-based methanol is used as the etchant, the etchant will spread over the entire surface of the substrate, forming a well-shaped diffraction grating.However, if methanol is used as the etchant, alcohol immersion is performed before etching. By performing alcohol immersion,
The etchant and the substrate become compatible, and a well-shaped diffraction grating is formed.
アルコール浸漬を行なわないと、エッチャントト基板の
なじみは悪く、良好な形状の回析格子は形成されない。If alcohol immersion is not performed, the etched substrate will not fit well and a well-shaped diffraction grating will not be formed.
(実施例) 以下に本発明の実施例を図面を用いて詳細に説明する。(Example) Embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.
第1図(a)〜げ)は本発明の第1の実施例である回析
格子の製造方法をその工程順に説明する図である。まず
第1図ta+に示すようにInP 半導体基板1に膜厚
1800λのネガタイプの感光性の造化ゴム系レジスト
であるOMR膜2(東京応化製)ジタイグの膜4500
λのノボラック系レジストであるAZ1350膜3(ヘ
キスト製)を塗布する。FIGS. 1(a) to 1(a) are diagrams illustrating a method for manufacturing a diffraction grating according to a first embodiment of the present invention in the order of steps. First, as shown in FIG.
AZ1350 film 3 (manufactured by Hoechst), which is a novolak resist of λ, is applied.
そして波長3zsoXの2本のHe−Cdレーザ光6を
用いて、水平面に対する入射角53.7で干渉露光を行
なう。この時、最適露光時間はHe−Cdレーザの光強
度4mW/crlに対して約20秒である。Then, interference exposure is performed using two He-Cd laser beams 6 with a wavelength of 3zsoX at an incident angle of 53.7 with respect to the horizontal plane. At this time, the optimum exposure time is about 20 seconds for a light intensity of 4 mW/crl of the He-Cd laser.
次に第1図(C)に示すように入Z1350膜3をAZ
デベロッパ(ヘキスト製)で現像する。第1図(t)0
.1:100)の混合液でエツチングした後、メチルエ
チルケントでAZ1350膜3を除去した様子を示し1
回析格子4が形成されている。その後80℃10分のベ
ーキングを行なり。次に第1図(e)に示すようにOM
R専用現像液(東京応化製)でOMRM2O3像する。Next, as shown in FIG. 1(C), insert the Z1350 film 3 into the AZ
Develop with Developer (manufactured by Hoechst). Figure 1 (t) 0
.. Figure 1 shows how the AZ1350 film 3 was removed with methyl ethyl Kent after etching with a mixed solution (1:100).
A diffraction grating 4 is formed. Then, bake at 80℃ for 10 minutes. Next, as shown in Figure 1(e), the OM
Image OMRM2O3 using R developer (manufactured by Tokyo Ohka).
次に第1図(f)で示すようにOMR膜2全2全エツチ
ングマスクてInP 基板1を臭化水素エッチャントで
エツチングし、回析格子5を得ることができる。AZ1
350膜3とOMRM2O3は感光性が逆なので1回析
格子4と回析格子5では凸凹が反転して3す、λ/4シ
フト型回析格子が得られる。Next, as shown in FIG. 1(f), the InP substrate 1 is etched with a hydrogen bromide etchant using an etching mask for all of the OMR films 2 to obtain a diffraction grating 5. AZ1
Since the 350 film 3 and the OMRM2O3 have opposite photosensitivity, the unevenness of the diffraction grating 4 and the diffraction grating 5 are reversed, resulting in a λ/4 shift type diffraction grating.
この回析格子の製造方法では、AZ 135Q膜3を除
去した後、ベーキングを行なっているのでOMR,膜2
と基板との密着性がよくなり、周期〜2000k、深さ
800λのプリフジのない(回析格子の山と山がつなが
ったりしない)回析格子が得られ、従来よりも形状の良
好な回析格子5を形成することができる。In this diffraction grating manufacturing method, baking is performed after removing the AZ 135Q film 3, so the OMR and film 2
The adhesion between the surface and the substrate is improved, and a diffraction grating with a period of ~2000k and a depth of 800λ without pre-fujis (the peaks of the diffraction grating do not connect) can be obtained, and the shape of the diffraction is better than before. A grid 5 can be formed.
本発明の第2の実施例は、第1図(f)に示す工程でO
MRM2O3ツチングマスクとしてInP 基板1をエ
ツチングする際にエッチャントとして0.01%B「メ
タノールを用いて40秒間エツチングすると、エッチャ
ントとOMRM2O3じみがよくなり第1の実施例で得
られた回析格子よりf、よくするためにエツチング前に
メタノール浸漬を行なう。In the second embodiment of the present invention, O
When etching the InP substrate 1 as an MRM2O3 etching mask, etching was performed using 0.01% B methanol as an etchant for 40 seconds. For better etching, soak in methanol before etching.
(発明の効果)
以上説明したよりに本発明は、良好なのこぎり状の回析
格子(例えば周期〜2000K、深さ800〜1000
λ)を得ることができる効果がある。(Effects of the Invention) As explained above, the present invention has a good sawtooth diffraction grating (for example, a period of ~2000K, a depth of 800~1000K).
λ).
この回析格子を用いて半導体レーザを製作したところ、
従来の方法で形成された回析格子を用いた半導体レーザ
に比べてしきい値゛1流の低減2歩留りの向上が見られ
5本発明の方法が有効であることが判った。When a semiconductor laser was manufactured using this diffraction grating,
Compared to a semiconductor laser using a diffraction grating formed by the conventional method, the method of the present invention was found to be effective as it showed an improvement in the threshold value (1) reduction in flow (2) and yield (5).
第1図は本発明の一実施・列である回析格子の製造方法
を工程碩に示す断面口である。
色に2いて1はIIIP 基板、2はOM几膜(ネガ
型のフォトレジスト)、3はAZ1350膜(ポジ型の
フォトレジスト)、4はポジ型のフオトレジス)kマス
クとして形成された回析格子、5はネガ型のフォトレジ
ス)fマスクとして形成された回析格子である。
代理人 弁理士 内 原 晋
−・′FIG. 1 is a cross-sectional view showing the process step of a method for manufacturing a diffraction grating, which is one embodiment of the present invention. In color 2, 1 is IIIP substrate, 2 is OM film (negative photoresist), 3 is AZ1350 film (positive photoresist), 4 is positive photoresist) Diffraction grating formed as a k mask , 5 is a diffraction grating formed as a negative photoresist f mask. Agent: Susumu Uchihara, patent attorney
Claims (1)
成する第1の工程と、前記半導体基板の露出面および前
記第1のフォトレジストを覆うように前記第1のフォト
レジストとは逆感光性の第2のフォトレジストを形成す
る第2の工程と、前記第1、前記第2のフォトレジスト
を2光束干渉露光法により露光する第3の工程と、この
第3の工程の後に前記第2のフォトレジストを現像して
周期状のパターンを形成する第4の工程と、この第4の
工程の後に前記第2のフォトレジストをマスクとして前
記半導体基板の前記第1のフォトレジストが覆っていな
い部分をエッチングする第5の工程と、この第5の工程
の後に前記第2のフォトレジストを除去する第6の工程
と、この第6の工程の後に前記第1のフォトレジストを
現像して周期状のパターンを形成する第7の工程と、こ
の第7の工程の後に前記第1のフォトレジストをマスク
として前記半導体基板をエッチングする第8の工程と、
この第8の工程の後に前記第1のフォトレジストを除去
する第9の工程とを備えている回析格子の製造方法にお
いて、前記第6の工程の後で前記第7の工程前にベーキ
ングを行なう第10の工程を含むことを特徴とする回折
格子の製造方法。 2)第8の工程が半導体基板のアルコール浸漬を行なっ
た後に少なくともアルコールを含むエッチャントを用い
て第1のフォトレジストをマスクとして前記半導体基板
をエッチングする特許請求範囲第1項記載の回折格子の
製造方法。Claims: 1) a first step of partially forming a first photoresist on a semiconductor substrate; and forming the first photoresist so as to cover the exposed surface of the semiconductor substrate and the first photoresist. What is photoresist? A second step of forming a second photoresist with reverse photosensitivity, a third step of exposing the first and second photoresists by a two-beam interference exposure method, and this third step. After the step, a fourth step of developing the second photoresist to form a periodic pattern, and after this fourth step, developing the first photoresist of the semiconductor substrate using the second photoresist as a mask. a fifth step of etching the portions not covered by the photoresist; a sixth step of removing the second photoresist after this fifth step; and a sixth step of etching the second photoresist after the sixth step; a seventh step of developing a photoresist to form a periodic pattern; and an eighth step of etching the semiconductor substrate using the first photoresist as a mask after the seventh step;
and a ninth step of removing the first photoresist after the eighth step, in which baking is performed after the sixth step and before the seventh step. A method for manufacturing a diffraction grating, comprising a tenth step of performing. 2) Manufacturing the diffraction grating according to claim 1, wherein the eighth step is to immerse the semiconductor substrate in alcohol and then etch the semiconductor substrate using an etchant containing at least alcohol and using the first photoresist as a mask. Method.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60250227A JPS62109389A (en) | 1985-11-07 | 1985-11-07 | Manufacture of diffraction grating |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60250227A JPS62109389A (en) | 1985-11-07 | 1985-11-07 | Manufacture of diffraction grating |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62109389A true JPS62109389A (en) | 1987-05-20 |
Family
ID=17204728
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60250227A Pending JPS62109389A (en) | 1985-11-07 | 1985-11-07 | Manufacture of diffraction grating |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62109389A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS642008A (en) * | 1987-06-24 | 1989-01-06 | Mitsubishi Electric Corp | Formation of diffraction grating |
-
1985
- 1985-11-07 JP JP60250227A patent/JPS62109389A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS642008A (en) * | 1987-06-24 | 1989-01-06 | Mitsubishi Electric Corp | Formation of diffraction grating |
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