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JPS61277038A - カ−ドウエブ測定方法 - Google Patents

カ−ドウエブ測定方法

Info

Publication number
JPS61277038A
JPS61277038A JP11924885A JP11924885A JPS61277038A JP S61277038 A JPS61277038 A JP S61277038A JP 11924885 A JP11924885 A JP 11924885A JP 11924885 A JP11924885 A JP 11924885A JP S61277038 A JPS61277038 A JP S61277038A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
web
nep
measured value
voltage
values
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11924885A
Other languages
English (en)
Inventor
Yuzuru Nakano
中野 譲
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Individual filed Critical Individual
Priority to JP11924885A priority Critical patent/JPS61277038A/ja
Publication of JPS61277038A publication Critical patent/JPS61277038A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Preliminary Treatment Of Fibers (AREA)
  • Treatment Of Fiber Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は紡績工程のp&綿磯におけるウェブの品質を測
定する方法−関するものでちる。
従来の技術、および問題点 従来ウェブのむらや、ネップを測定する方法として、ウ
ェブやネップ等に光を照射し、その反射光、または透過
光を直接、または光学系を通してから光−電気変換系に
より電気に変換しで測定する方法も採用されているが、
照射光の照度にむらがある場合やカードウェブのむらが
甚だ↓いとき、またはドツファの剥取り位lよシ離れ、
ウェブが集束されるO′Cつれ、耳部のクエプは重なっ
たり、又そのために反射面が煩斜したシして、ウェブよ
り反射、または透過される光が部分的に強くなり、その
ために、計aj鴫の電圧、または電流値の平均嵩が大き
くなって、相対的にウェブのむらや、ネップ等の計測が
困−難となっている。
問題点を解決するための手段 本発明のウェブ測定方法は上記従来の問題点を解消し7
、従来の計測器の電圧、または電流値を遅延させ、元の
計測値に重ね、その差を検出してウェブむらやネップを
計測する方法であシ、以下実施例を図面に基いて説明す
る。
実施例1゜ ¥1図は本発明の1実施例の斜視図を示す。
@21ヅは、本発明の光−電気変換器よりの出力の変動
する状態を示す。
第3図は、第2図の出力を微少量遅延させ、出力の変動
する状態を示す。
第4図は、第2図と第8図の出力を重ねて、両者の差を
検出した状態を示す。
カードクエプ(1)に対し、斜め上方にある光源(2)
より光(3)をウェブl/(照射し、その反射光(4)
を受光器<51で受光する。
光源は、ウェブ幅をスキャニングするように、途中に振
動又は回転する境で反射させるか、あるいはウェブ幅に
近い幅の螢光灯などを用いてもよい。
又、多数の光源をウェブ幅一杯に並べてもよい。
ウェブよシ反射した光は、集光型鏡、又は、集光型光フ
ァイバーで、受光器に集光してもよく、又、CODなど
のイメージセンサ−上に結像させて、電気的にスキャニ
ングしてもよい。
光−電気変換器には、光電管、MOS型やOCD型イメ
ージセンナ、テレビやビデオ用カメラなど、あらゆる変
換器が使用可能である。
又、ウェブを透過し7た光を受光してもよく、カード上
のウェブ以外に平板に取りたウェブでも使用できる。
ウェブやネップ等よシ反射して来た光は、電気に変換さ
れて、第2図のように、電圧や電流の変動した計測値と
して計測される。一般K。
ネップ等は鋭いパルス状(6)に、ウェブは緩やかな波
状(7)に現れることが多い。
この場合、ウェブの場所に明るさのむらがあると、ネッ
プ等の計測値は、そのために増減され、例えばf81 
、 (91の上うに現れる。
従って、ネップ等を検出するために検出レベル(スライ
スレベル)を(+o) −(1(1)’とすると、クエ
プの明るさの暗い所のネップ(6)や、正常のクエプむ
ら(1)は、この検出レベル内に入って検出されなくな
る。
逆に、検出レベルを(6)や(7)に合せて低く (I
す〜(u)’と低くすると、明るい部分のウェブを検出
するために、ネップ等の検出が困難になる。
本実施例は、この欠点を解決するために、第8図のよう
に、第2図の元の出力を微少量だけ遅延させる。
さらに第4図のように、第2図と第8図の計測値を重ね
て、両者の電圧又は電流値の差を検出し比もので、明る
い所のウェブの緩やかな変動をしている所の値は打消し
あって小さい値となり、ネップ等の鋭い所は、そのまま
残シ、(6)も(8)も同じような値となり、検出が容
易で、正確に測定可能となる。
又、第2図のような元の計測値と、第4図の差の検出値
の両者の平均値を比較すれば、むらの測定も可能となり
、又、透過光を使用して、ウェブの厚みも測定できる。
実施例2゜ 第5図は本発明のウェブ測定方法によシ、ウェブの厚み
のむらが著しい場合の光−電気変換器よりの出力の変動
する状態を示し、第6図は出力を微少量遅延させて出力
を重ねて両者の差を検出した状態を示す。
ウェブの薄い所のネップ(1粉、ウェブの厚い所のネゾ
プ(13)は第5図、第8図の如く表われる。
実施例8゜ 第7図は、第3図の遅延の場合に、電気符号を逆転した
ものである。
この場合は、第2図の計測値と加算して両者の差を検出
するが、その結果は実施例1.と同一となる。
尚、これらの実施例は、1ケ所を1組の測定器で計測し
ているが、2組以上、又は光源或いは受光器を2個以上
使用して、精度や感度を改良したり、フィルタを用いて
ネップとカス類などを区別して計測することも可能であ
る。
又、CODなどのイメージセンサ−は、リニア型に代え
エリア型を用いて、計測の速度を増大することも可能で
ある。
又、ブラウン管面に、ネップやウェブなどを拡大表示し
、スキャニングして計測してもよい又、出力をダークオ
ン、ライトオンと切換えてもよい。  ゛ 発明の効果 ウェブが重なったシ、異状なむらが生じても打消すこと
によって、ネップ等やウェブの微少なむらを計測可能と
なりたので、カード上の不安定なウェブ状態においても
容易に、かつ正確に計測が可能となった。
又、板上にウェブを持って計測する七きも、採取時に生
じるウェブの重なシの影響が無くなったので、熟練者で
なくても計測可能となった。
カードを連続運転し乍ら計測できるので、カードの平均
的な性能やばらつき、及び材料のばらつきの影響なども
計測可能であシ、さらに、計測時の個人差も無くな抄、
世界的に計測方法が標準化され、比較することが可能と
なった極めて効果の大きい発明である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の1実施例の斜視図、第2図。 第・5図は出力の変動する状態を示す図、第3回は微少
量遅延させた出力の状態を示す図、第4図、第6図はこ
の両者を重ねて差を検出し庚状、 態を示す図、第7図
は第8図の出力の電気符号を転換した状態の図を示す。 fil・・・カードウェブ、(2)・・・光源、(3)
・・・光、(4)・・・反射光、(6)・・・受光器、
(6)・・・ネップ出力、(7)・・・ウェブ出力、(
8)・・・明るいウェブの所のネップ出力、(9)・・
・同上の微少変動のウェブ出力、(1G)−(10)’
・・・検出レベル、(ロ)−(川′・・・低い位置の検
出レベル、(121・・・薄いウェブの所のネップ出力
、(13)・・・厚いウェブの所のネップ出力。 −嬰          ヤ 嶌 派

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)ウェブやネップ等に光を照射し、その反射光、ま
    たは透過光を直接又は光学系を通して光−電気変換系に
    より電気に変換して計測するウェブの測定方法において
    、光−電気変換系の機器より出てくる出力電圧又は電流
    の変動する計測値に対し、その計測値を微少量遅延させ
    てから、元の計測値に重ね、両者の電圧、または電流値
    の差を検出して、ネップ数や、ウェブむらを測定するこ
    とを特徴とするカードウェブ測定方法。
  2. (2)計測値を遅延するとき、符号を変換してから、元
    の計測値に重ね、その差を検出することを特徴とする特
    許請求の範囲第1項記載のカードウェブ測定方法。
JP11924885A 1985-05-31 1985-05-31 カ−ドウエブ測定方法 Pending JPS61277038A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11924885A JPS61277038A (ja) 1985-05-31 1985-05-31 カ−ドウエブ測定方法

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11924885A JPS61277038A (ja) 1985-05-31 1985-05-31 カ−ドウエブ測定方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS61277038A true JPS61277038A (ja) 1986-12-08

Family

ID=14756626

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11924885A Pending JPS61277038A (ja) 1985-05-31 1985-05-31 カ−ドウエブ測定方法

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JP (1) JPS61277038A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5509179A (en) * 1990-06-25 1996-04-23 Mondini; Giancarlo Autoleveller draw frame having process feed back control system

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5450392A (en) * 1977-09-29 1979-04-20 Fujitsu Ltd Surface defect detector
JPS5622904A (en) * 1979-08-01 1981-03-04 Kanai Hiroyuki Measuring method for web unevenness
JPS58142247A (ja) * 1982-02-18 1983-08-24 Fuji Electric Co Ltd 検査装置
JPS6073440A (ja) * 1983-09-22 1985-04-25 エルヴイ−ン ズイツク ゲ−エムベ−ハ− オプテツク−エレクトロニ−ク ウエブの光利用探傷装置

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