JPS61277038A - カ−ドウエブ測定方法 - Google Patents
カ−ドウエブ測定方法Info
- Publication number
- JPS61277038A JPS61277038A JP11924885A JP11924885A JPS61277038A JP S61277038 A JPS61277038 A JP S61277038A JP 11924885 A JP11924885 A JP 11924885A JP 11924885 A JP11924885 A JP 11924885A JP S61277038 A JPS61277038 A JP S61277038A
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- JP
- Japan
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- web
- nep
- measured value
- voltage
- values
- Prior art date
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- Pending
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Preliminary Treatment Of Fibers (AREA)
- Treatment Of Fiber Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は紡績工程のp&綿磯におけるウェブの品質を測
定する方法−関するものでちる。
定する方法−関するものでちる。
従来の技術、および問題点
従来ウェブのむらや、ネップを測定する方法として、ウ
ェブやネップ等に光を照射し、その反射光、または透過
光を直接、または光学系を通してから光−電気変換系に
より電気に変換しで測定する方法も採用されているが、
照射光の照度にむらがある場合やカードウェブのむらが
甚だ↓いとき、またはドツファの剥取り位lよシ離れ、
ウェブが集束されるO′Cつれ、耳部のクエプは重なっ
たり、又そのために反射面が煩斜したシして、ウェブよ
り反射、または透過される光が部分的に強くなり、その
ために、計aj鴫の電圧、または電流値の平均嵩が大き
くなって、相対的にウェブのむらや、ネップ等の計測が
困−難となっている。
ェブやネップ等に光を照射し、その反射光、または透過
光を直接、または光学系を通してから光−電気変換系に
より電気に変換しで測定する方法も採用されているが、
照射光の照度にむらがある場合やカードウェブのむらが
甚だ↓いとき、またはドツファの剥取り位lよシ離れ、
ウェブが集束されるO′Cつれ、耳部のクエプは重なっ
たり、又そのために反射面が煩斜したシして、ウェブよ
り反射、または透過される光が部分的に強くなり、その
ために、計aj鴫の電圧、または電流値の平均嵩が大き
くなって、相対的にウェブのむらや、ネップ等の計測が
困−難となっている。
問題点を解決するための手段
本発明のウェブ測定方法は上記従来の問題点を解消し7
、従来の計測器の電圧、または電流値を遅延させ、元の
計測値に重ね、その差を検出してウェブむらやネップを
計測する方法であシ、以下実施例を図面に基いて説明す
る。
、従来の計測器の電圧、または電流値を遅延させ、元の
計測値に重ね、その差を検出してウェブむらやネップを
計測する方法であシ、以下実施例を図面に基いて説明す
る。
実施例1゜
¥1図は本発明の1実施例の斜視図を示す。
@21ヅは、本発明の光−電気変換器よりの出力の変動
する状態を示す。
する状態を示す。
第3図は、第2図の出力を微少量遅延させ、出力の変動
する状態を示す。
する状態を示す。
第4図は、第2図と第8図の出力を重ねて、両者の差を
検出した状態を示す。
検出した状態を示す。
カードクエプ(1)に対し、斜め上方にある光源(2)
より光(3)をウェブl/(照射し、その反射光(4)
を受光器<51で受光する。
より光(3)をウェブl/(照射し、その反射光(4)
を受光器<51で受光する。
光源は、ウェブ幅をスキャニングするように、途中に振
動又は回転する境で反射させるか、あるいはウェブ幅に
近い幅の螢光灯などを用いてもよい。
動又は回転する境で反射させるか、あるいはウェブ幅に
近い幅の螢光灯などを用いてもよい。
又、多数の光源をウェブ幅一杯に並べてもよい。
ウェブよシ反射した光は、集光型鏡、又は、集光型光フ
ァイバーで、受光器に集光してもよく、又、CODなど
のイメージセンサ−上に結像させて、電気的にスキャニ
ングしてもよい。
ァイバーで、受光器に集光してもよく、又、CODなど
のイメージセンサ−上に結像させて、電気的にスキャニ
ングしてもよい。
光−電気変換器には、光電管、MOS型やOCD型イメ
ージセンナ、テレビやビデオ用カメラなど、あらゆる変
換器が使用可能である。
ージセンナ、テレビやビデオ用カメラなど、あらゆる変
換器が使用可能である。
又、ウェブを透過し7た光を受光してもよく、カード上
のウェブ以外に平板に取りたウェブでも使用できる。
のウェブ以外に平板に取りたウェブでも使用できる。
ウェブやネップ等よシ反射して来た光は、電気に変換さ
れて、第2図のように、電圧や電流の変動した計測値と
して計測される。一般K。
れて、第2図のように、電圧や電流の変動した計測値と
して計測される。一般K。
ネップ等は鋭いパルス状(6)に、ウェブは緩やかな波
状(7)に現れることが多い。
状(7)に現れることが多い。
この場合、ウェブの場所に明るさのむらがあると、ネッ
プ等の計測値は、そのために増減され、例えばf81
、 (91の上うに現れる。
プ等の計測値は、そのために増減され、例えばf81
、 (91の上うに現れる。
従って、ネップ等を検出するために検出レベル(スライ
スレベル)を(+o) −(1(1)’とすると、クエ
プの明るさの暗い所のネップ(6)や、正常のクエプむ
ら(1)は、この検出レベル内に入って検出されなくな
る。
スレベル)を(+o) −(1(1)’とすると、クエ
プの明るさの暗い所のネップ(6)や、正常のクエプむ
ら(1)は、この検出レベル内に入って検出されなくな
る。
逆に、検出レベルを(6)や(7)に合せて低く (I
す〜(u)’と低くすると、明るい部分のウェブを検出
するために、ネップ等の検出が困難になる。
す〜(u)’と低くすると、明るい部分のウェブを検出
するために、ネップ等の検出が困難になる。
本実施例は、この欠点を解決するために、第8図のよう
に、第2図の元の出力を微少量だけ遅延させる。
に、第2図の元の出力を微少量だけ遅延させる。
さらに第4図のように、第2図と第8図の計測値を重ね
て、両者の電圧又は電流値の差を検出し比もので、明る
い所のウェブの緩やかな変動をしている所の値は打消し
あって小さい値となり、ネップ等の鋭い所は、そのまま
残シ、(6)も(8)も同じような値となり、検出が容
易で、正確に測定可能となる。
て、両者の電圧又は電流値の差を検出し比もので、明る
い所のウェブの緩やかな変動をしている所の値は打消し
あって小さい値となり、ネップ等の鋭い所は、そのまま
残シ、(6)も(8)も同じような値となり、検出が容
易で、正確に測定可能となる。
又、第2図のような元の計測値と、第4図の差の検出値
の両者の平均値を比較すれば、むらの測定も可能となり
、又、透過光を使用して、ウェブの厚みも測定できる。
の両者の平均値を比較すれば、むらの測定も可能となり
、又、透過光を使用して、ウェブの厚みも測定できる。
実施例2゜
第5図は本発明のウェブ測定方法によシ、ウェブの厚み
のむらが著しい場合の光−電気変換器よりの出力の変動
する状態を示し、第6図は出力を微少量遅延させて出力
を重ねて両者の差を検出した状態を示す。
のむらが著しい場合の光−電気変換器よりの出力の変動
する状態を示し、第6図は出力を微少量遅延させて出力
を重ねて両者の差を検出した状態を示す。
ウェブの薄い所のネップ(1粉、ウェブの厚い所のネゾ
プ(13)は第5図、第8図の如く表われる。
プ(13)は第5図、第8図の如く表われる。
実施例8゜
第7図は、第3図の遅延の場合に、電気符号を逆転した
ものである。
ものである。
この場合は、第2図の計測値と加算して両者の差を検出
するが、その結果は実施例1.と同一となる。
するが、その結果は実施例1.と同一となる。
尚、これらの実施例は、1ケ所を1組の測定器で計測し
ているが、2組以上、又は光源或いは受光器を2個以上
使用して、精度や感度を改良したり、フィルタを用いて
ネップとカス類などを区別して計測することも可能であ
る。
ているが、2組以上、又は光源或いは受光器を2個以上
使用して、精度や感度を改良したり、フィルタを用いて
ネップとカス類などを区別して計測することも可能であ
る。
又、CODなどのイメージセンサ−は、リニア型に代え
エリア型を用いて、計測の速度を増大することも可能で
ある。
エリア型を用いて、計測の速度を増大することも可能で
ある。
又、ブラウン管面に、ネップやウェブなどを拡大表示し
、スキャニングして計測してもよい又、出力をダークオ
ン、ライトオンと切換えてもよい。 ゛ 発明の効果 ウェブが重なったシ、異状なむらが生じても打消すこと
によって、ネップ等やウェブの微少なむらを計測可能と
なりたので、カード上の不安定なウェブ状態においても
容易に、かつ正確に計測が可能となった。
、スキャニングして計測してもよい又、出力をダークオ
ン、ライトオンと切換えてもよい。 ゛ 発明の効果 ウェブが重なったシ、異状なむらが生じても打消すこと
によって、ネップ等やウェブの微少なむらを計測可能と
なりたので、カード上の不安定なウェブ状態においても
容易に、かつ正確に計測が可能となった。
又、板上にウェブを持って計測する七きも、採取時に生
じるウェブの重なシの影響が無くなったので、熟練者で
なくても計測可能となった。
じるウェブの重なシの影響が無くなったので、熟練者で
なくても計測可能となった。
カードを連続運転し乍ら計測できるので、カードの平均
的な性能やばらつき、及び材料のばらつきの影響なども
計測可能であシ、さらに、計測時の個人差も無くな抄、
世界的に計測方法が標準化され、比較することが可能と
なった極めて効果の大きい発明である。
的な性能やばらつき、及び材料のばらつきの影響なども
計測可能であシ、さらに、計測時の個人差も無くな抄、
世界的に計測方法が標準化され、比較することが可能と
なった極めて効果の大きい発明である。
第1図は本発明の1実施例の斜視図、第2図。
第・5図は出力の変動する状態を示す図、第3回は微少
量遅延させた出力の状態を示す図、第4図、第6図はこ
の両者を重ねて差を検出し庚状、 態を示す図、第7図
は第8図の出力の電気符号を転換した状態の図を示す。 fil・・・カードウェブ、(2)・・・光源、(3)
・・・光、(4)・・・反射光、(6)・・・受光器、
(6)・・・ネップ出力、(7)・・・ウェブ出力、(
8)・・・明るいウェブの所のネップ出力、(9)・・
・同上の微少変動のウェブ出力、(1G)−(10)’
・・・検出レベル、(ロ)−(川′・・・低い位置の検
出レベル、(121・・・薄いウェブの所のネップ出力
、(13)・・・厚いウェブの所のネップ出力。 −嬰 ヤ 嶌 派
量遅延させた出力の状態を示す図、第4図、第6図はこ
の両者を重ねて差を検出し庚状、 態を示す図、第7図
は第8図の出力の電気符号を転換した状態の図を示す。 fil・・・カードウェブ、(2)・・・光源、(3)
・・・光、(4)・・・反射光、(6)・・・受光器、
(6)・・・ネップ出力、(7)・・・ウェブ出力、(
8)・・・明るいウェブの所のネップ出力、(9)・・
・同上の微少変動のウェブ出力、(1G)−(10)’
・・・検出レベル、(ロ)−(川′・・・低い位置の検
出レベル、(121・・・薄いウェブの所のネップ出力
、(13)・・・厚いウェブの所のネップ出力。 −嬰 ヤ 嶌 派
Claims (2)
- (1)ウェブやネップ等に光を照射し、その反射光、ま
たは透過光を直接又は光学系を通して光−電気変換系に
より電気に変換して計測するウェブの測定方法において
、光−電気変換系の機器より出てくる出力電圧又は電流
の変動する計測値に対し、その計測値を微少量遅延させ
てから、元の計測値に重ね、両者の電圧、または電流値
の差を検出して、ネップ数や、ウェブむらを測定するこ
とを特徴とするカードウェブ測定方法。 - (2)計測値を遅延するとき、符号を変換してから、元
の計測値に重ね、その差を検出することを特徴とする特
許請求の範囲第1項記載のカードウェブ測定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11924885A JPS61277038A (ja) | 1985-05-31 | 1985-05-31 | カ−ドウエブ測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11924885A JPS61277038A (ja) | 1985-05-31 | 1985-05-31 | カ−ドウエブ測定方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61277038A true JPS61277038A (ja) | 1986-12-08 |
Family
ID=14756626
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11924885A Pending JPS61277038A (ja) | 1985-05-31 | 1985-05-31 | カ−ドウエブ測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61277038A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5509179A (en) * | 1990-06-25 | 1996-04-23 | Mondini; Giancarlo | Autoleveller draw frame having process feed back control system |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5450392A (en) * | 1977-09-29 | 1979-04-20 | Fujitsu Ltd | Surface defect detector |
JPS5622904A (en) * | 1979-08-01 | 1981-03-04 | Kanai Hiroyuki | Measuring method for web unevenness |
JPS58142247A (ja) * | 1982-02-18 | 1983-08-24 | Fuji Electric Co Ltd | 検査装置 |
JPS6073440A (ja) * | 1983-09-22 | 1985-04-25 | エルヴイ−ン ズイツク ゲ−エムベ−ハ− オプテツク−エレクトロニ−ク | ウエブの光利用探傷装置 |
-
1985
- 1985-05-31 JP JP11924885A patent/JPS61277038A/ja active Pending
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5450392A (en) * | 1977-09-29 | 1979-04-20 | Fujitsu Ltd | Surface defect detector |
JPS5622904A (en) * | 1979-08-01 | 1981-03-04 | Kanai Hiroyuki | Measuring method for web unevenness |
JPS58142247A (ja) * | 1982-02-18 | 1983-08-24 | Fuji Electric Co Ltd | 検査装置 |
JPS6073440A (ja) * | 1983-09-22 | 1985-04-25 | エルヴイ−ン ズイツク ゲ−エムベ−ハ− オプテツク−エレクトロニ−ク | ウエブの光利用探傷装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5509179A (en) * | 1990-06-25 | 1996-04-23 | Mondini; Giancarlo | Autoleveller draw frame having process feed back control system |
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