JPS60202525A - 磁気記録媒体 - Google Patents
磁気記録媒体Info
- Publication number
- JPS60202525A JPS60202525A JP5885984A JP5885984A JPS60202525A JP S60202525 A JPS60202525 A JP S60202525A JP 5885984 A JP5885984 A JP 5885984A JP 5885984 A JP5885984 A JP 5885984A JP S60202525 A JPS60202525 A JP S60202525A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- vapor
- substrate
- layer
- vapor deposition
- magnetic
- Prior art date
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- Pending
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- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は磁気記録媒体に関する。
背景技術とその問題点
近年、磁気記録の高密度化の目的で磁性薄膜型の磁気記
録媒体即ち非磁性基体上に真空蒸着、スパッタリング等
の方法によりCo、 Pa、 Nl或いはこれらの合金
による強磁性薄膜を形成させた磁気記録媒体についての
研究が盛んである。
録媒体即ち非磁性基体上に真空蒸着、スパッタリング等
の方法によりCo、 Pa、 Nl或いはこれらの合金
による強磁性薄膜を形成させた磁気記録媒体についての
研究が盛んである。
このような磁性*ii+型の磁気記録媒体において、面
内方向に高い抗磁力Hcを得るには、強磁性金属材を非
磁性基体に対して斜め蒸着して(所謂斜め蒸着法で)磁
性層を形成する方法、或いは非磁性基体上にCoを下地
として基体温度を300℃以上でCoを蒸着して磁性層
を形成する方法等が提案されている。
内方向に高い抗磁力Hcを得るには、強磁性金属材を非
磁性基体に対して斜め蒸着して(所謂斜め蒸着法で)磁
性層を形成する方法、或いは非磁性基体上にCoを下地
として基体温度を300℃以上でCoを蒸着して磁性層
を形成する方法等が提案されている。
しかし乍ら、前者の斜め蒸着法の場合には蒸着効率が数
%と低く生産性に問題があった。また後者の方法の場合
には基体温度を高くする必要があるため、非磁性基体と
してポリエチレンテレフタレートの如き耐熱性に劣る轟
分子フィルムが使用できないという欠点があった。
%と低く生産性に問題があった。また後者の方法の場合
には基体温度を高くする必要があるため、非磁性基体と
してポリエチレンテレフタレートの如き耐熱性に劣る轟
分子フィルムが使用できないという欠点があった。
発明の目的
本発明は、上述の点に鑑み、磁気特性に優れると共に、
作製条件が改善される磁気記録媒体を提供するものであ
る。
作製条件が改善される磁気記録媒体を提供するものであ
る。
発明の概要
本発明は、非磁性基体上にIn層と金属磁性層を連続し
て蒸着、スパッタリング等の気相メッキにより形成して
成る磁気記録媒体である。
て蒸着、スパッタリング等の気相メッキにより形成して
成る磁気記録媒体である。
この発明の磁気記録媒体では、高い抗磁力及び角形比が
得られ、且つ低い基体温度での磁性層の形成が可能とな
り、磁気記録媒体の作製条件が改善される。
得られ、且つ低い基体温度での磁性層の形成が可能とな
り、磁気記録媒体の作製条件が改善される。
実施例
以下、本発明の詳細な説明する。
本発明においては、非磁性基体上に蒸着、スパッタリン
グ等の所謂気相メッキによってIn層と金属磁性層とを
連続して形成して磁気記録媒体を得る。
グ等の所謂気相メッキによってIn層と金属磁性層とを
連続して形成して磁気記録媒体を得る。
非磁性基体としては、例えばポリエチレンテレフタレー
ト、ポリアミド、ポリアミドイミド、ポリイミド等の高
分子フィルムを用い得る。
ト、ポリアミド、ポリアミドイミド、ポリイミド等の高
分子フィルムを用い得る。
下地のIn層は非磁性基体上に蒸着或いはスパッタリン
グ等の気相メッキによって被着するもので、その厚さは
50人〜500人に選定される。
グ等の気相メッキによって被着するもので、その厚さは
50人〜500人に選定される。
金属磁性層はIn層上に蒸着或いはスパッタリング等の
気相メッキによってCo、 Pg、 Niのいずれか、
或いはその合金を100人〜1000人の厚さに被着す
ることによって形成し得る。
気相メッキによってCo、 Pg、 Niのいずれか、
或いはその合金を100人〜1000人の厚さに被着す
ることによって形成し得る。
また、In層及び金属磁性層の気相メッキ時の非磁性基
体の基体温度は室温〜100℃程度に選び得る。
体の基体温度は室温〜100℃程度に選び得る。
第1図は本発明に連用される蒸着装置である。
この蒸着装置illは真空チャンバー(2)内に金属キ
ャン(3)が設けられ、これを繞って例えば非磁性基体
(4)が供給リール(5)及び巻取リール(6)間に走
行するようになされる。一方、金属キャン(3)に対向
してIn蒸着源(7)と金属磁性層の蒸着源例えばCo
の蒸着源(8)が配置される。(9)は蒸着源(7)及
び(8)よりの各金属蒸気流を相互に遮蔽する遮蔽板で
、両蒸着源(7)及び(8)間から金属キャン(3)の
前方に渡って設けられる。 01は各蒸着源(7)及び
(8)と金属キャン(3)との間に配置されたシャッタ
ーである。なお、蒸着源(7)及び(8)は例えば図示
しないが電子、銃からの電子ビームの衝撃によって蒸着
材が蒸発するようになされる。この装置では、非磁性基
体(4)の走行途上において先ずIn蒸着源(7)から
Inの蒸着をなして基体(4)上にIn蒸着膜を形成し
、引き続いてこれの上に例えばCo蒸着源(8)からの
Coを蒸着して金属磁性層を被着形成するようになす。
ャン(3)が設けられ、これを繞って例えば非磁性基体
(4)が供給リール(5)及び巻取リール(6)間に走
行するようになされる。一方、金属キャン(3)に対向
してIn蒸着源(7)と金属磁性層の蒸着源例えばCo
の蒸着源(8)が配置される。(9)は蒸着源(7)及
び(8)よりの各金属蒸気流を相互に遮蔽する遮蔽板で
、両蒸着源(7)及び(8)間から金属キャン(3)の
前方に渡って設けられる。 01は各蒸着源(7)及び
(8)と金属キャン(3)との間に配置されたシャッタ
ーである。なお、蒸着源(7)及び(8)は例えば図示
しないが電子、銃からの電子ビームの衝撃によって蒸着
材が蒸発するようになされる。この装置では、非磁性基
体(4)の走行途上において先ずIn蒸着源(7)から
Inの蒸着をなして基体(4)上にIn蒸着膜を形成し
、引き続いてこれの上に例えばCo蒸着源(8)からの
Coを蒸着して金属磁性層を被着形成するようになす。
実施例1
上記蒸着装置(11を使用し、ポリイミドフィルムより
なる非磁性基体(4)上にInを蒸着し、引続きその上
にGoを300人の厚さに蒸着してin下地層上にco
磁性層を被着した。そして、このときInの厚みを種々
変えて蒸着し、各磁気記録媒体を作製した。
なる非磁性基体(4)上にInを蒸着し、引続きその上
にGoを300人の厚さに蒸着してin下地層上にco
磁性層を被着した。そして、このときInの厚みを種々
変えて蒸着し、各磁気記録媒体を作製した。
基体温度を室温にして蒸着して得た各磁気記録媒体を思
料^−1,^−2,A−3及び八−4とし、基体温度を
110℃にして蒸着して得た各磁気記録媒体を試料B−
1,B−2,B−3及びB−4とした。各試料の作製条
件を表1に示す。
料^−1,^−2,A−3及び八−4とし、基体温度を
110℃にして蒸着して得た各磁気記録媒体を試料B−
1,B−2,B−3及びB−4とした。各試料の作製条
件を表1に示す。
表 1
上記各試料について抗磁力Hcを測定した結果を第2図
に、角形非R3を測定した結果を第3図に夫々示す、同
図において曲線(1)、(1)は試料へ−1〜A−4の
もの、曲線(II) 、(It/)は試料B−1〜B−
4のものである。
に、角形非R3を測定した結果を第3図に夫々示す、同
図において曲線(1)、(1)は試料へ−1〜A−4の
もの、曲線(II) 、(It/)は試料B−1〜B−
4のものである。
第2図及び第3図より明らかなようにIn下地層は抗磁
力託の向上に効果、があり、また角形比Rsも80%以
上と高い、基体温度による差はあまりなく、むしろ低い
温度の方が角形比R3の減少がゆるやかで、磁気特性と
して良好である0本例ではIn層及びCo層がほぼ垂直
蒸着で形成されるので、抗磁力Hc及び角形比Rsは膜
面内で異方性はなく等友釣であった。
力託の向上に効果、があり、また角形比Rsも80%以
上と高い、基体温度による差はあまりなく、むしろ低い
温度の方が角形比R3の減少がゆるやかで、磁気特性と
して良好である0本例ではIn層及びCo層がほぼ垂直
蒸着で形成されるので、抗磁力Hc及び角形比Rsは膜
面内で異方性はなく等友釣であった。
そして、基体温度としてはポリエチレンテレフタレート
のガラス転移温度即ち約80℃以下で膜作製ができる。
のガラス転移温度即ち約80℃以下で膜作製ができる。
このため非磁性基体としては耐熱性に劣るポリエチレン
テレフタレートフィルムなどの使用が可能となる。
テレフタレートフィルムなどの使用が可能となる。
尚、金属磁性層は一層に限られるものではなく、上述の
In下地層を介在させた多層構造とすることもできる。
In下地層を介在させた多層構造とすることもできる。
また、上側ではIn層及び金属磁性層を蒸着で形成した
が、その他スパッタリング等にても形成できる。
が、その他スパッタリング等にても形成できる。
発明の効果
上述した本発明によれば、非磁性基体上にIn層を介し
て金属磁性層を形成することにより、高い抗磁力Heを
得、また高い角形比Rsを得ることができる。そして、
下地のIn層が低融点金属であり、例えば約80℃以下
の低い基体温度での膜作製ができるので、非磁性基体と
して耐熱性に劣る高分子フィルム特にポリエチレンテレ
フタレートフィルムの使用が可能となる。
て金属磁性層を形成することにより、高い抗磁力Heを
得、また高い角形比Rsを得ることができる。そして、
下地のIn層が低融点金属であり、例えば約80℃以下
の低い基体温度での膜作製ができるので、非磁性基体と
して耐熱性に劣る高分子フィルム特にポリエチレンテレ
フタレートフィルムの使用が可能となる。
また、垂直方向の気相メッキで金属磁性層が形成される
ので、金属磁性層のバンキングが密になり磁束密度が高
くなる。また斜め蒸着法に比して垂直蒸着であるので蒸
着効率が高く生産性が向上する。さらに磁気的に面内等
方性の磁性層であるためテープ、ディスク等応用範囲が
極めて広い。
ので、金属磁性層のバンキングが密になり磁束密度が高
くなる。また斜め蒸着法に比して垂直蒸着であるので蒸
着効率が高く生産性が向上する。さらに磁気的に面内等
方性の磁性層であるためテープ、ディスク等応用範囲が
極めて広い。
第1図は本発明に適用される蒸着装置の例を示す構成図
、第2図は本発明の実施例のIn層の厚に対する抗磁力
の関係を示す特性図、第3図は同様のIn層の厚さに対
する角形比の関係を示す特性図である。 (2)は真空チャンバー、(3)は金属キャン、(4)
は非磁性基体、15116)はリール、(7)はIn蒸
着源、(8)は金属磁性材の蒸着源である。 第2図 第3図 1n4aJl?(λ)
、第2図は本発明の実施例のIn層の厚に対する抗磁力
の関係を示す特性図、第3図は同様のIn層の厚さに対
する角形比の関係を示す特性図である。 (2)は真空チャンバー、(3)は金属キャン、(4)
は非磁性基体、15116)はリール、(7)はIn蒸
着源、(8)は金属磁性材の蒸着源である。 第2図 第3図 1n4aJl?(λ)
Claims (1)
- 非磁性基体上に11層と金属磁性層が連続して気相メッ
キにより形成されて成る磁気記録媒体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5885984A JPS60202525A (ja) | 1984-03-26 | 1984-03-26 | 磁気記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5885984A JPS60202525A (ja) | 1984-03-26 | 1984-03-26 | 磁気記録媒体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60202525A true JPS60202525A (ja) | 1985-10-14 |
Family
ID=13096429
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5885984A Pending JPS60202525A (ja) | 1984-03-26 | 1984-03-26 | 磁気記録媒体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60202525A (ja) |
-
1984
- 1984-03-26 JP JP5885984A patent/JPS60202525A/ja active Pending
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