JPS59195344A - 光学ヘツド - Google Patents
光学ヘツドInfo
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- JPS59195344A JPS59195344A JP58070327A JP7032783A JPS59195344A JP S59195344 A JPS59195344 A JP S59195344A JP 58070327 A JP58070327 A JP 58070327A JP 7032783 A JP7032783 A JP 7032783A JP S59195344 A JPS59195344 A JP S59195344A
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 47
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 17
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims description 8
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 4
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 206010041662 Splinter Diseases 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 2
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- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
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- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0908—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only
Landscapes
- Optical Head (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、ビデオディスク等のようにディスク上に記録
された情報を光学的に読み取る光学的再生装置、あるい
はディスクに情報を光学的に記録再生しようとする光学
的記録再生装置に係り、特に記録再生およびサーボのだ
めの光学系に関する。
された情報を光学的に読み取る光学的再生装置、あるい
はディスクに情報を光学的に記録再生しようとする光学
的記録再生装置に係り、特に記録再生およびサーボのだ
めの光学系に関する。
従来例の構成とその問題点
近年ガスレーザに代って、半導体レーザを用いた光情報
処理装置の開発が盛んになってきた。光デイスク装置は
その1例である。光デイスク装置とは半導体レーザの光
を情報記録媒体であるディスク上でφ1μm以下の微小
スポット光に絞り、ディスクに記録されている信号を再
生したシ、又はディスクに情報を高密度に記録再生する
ものである。
処理装置の開発が盛んになってきた。光デイスク装置は
その1例である。光デイスク装置とは半導体レーザの光
を情報記録媒体であるディスク上でφ1μm以下の微小
スポット光に絞り、ディスクに記録されている信号を再
生したシ、又はディスクに情報を高密度に記録再生する
ものである。
記録再生可能な光デイスク装置に用いられる半導体レー
ザは高出力の光パワーが出力できるものが要望される。
ザは高出力の光パワーが出力できるものが要望される。
一般に高出力でCW(定常)発振可能な半導体レーザは
、その発光領域の縦・横比が異なるだめ、ビームの拡り
角が非等方的である。
、その発光領域の縦・横比が異なるだめ、ビームの拡り
角が非等方的である。
例えば第1図に高出力で、CW発振可能な半導体レーザ
の遠視野像における平行と垂直方向の出射光分布の1例
を示しだが、光強度がピークの半分になる各々の方向の
半値角をθ77、θヱとすると、θ77−5°、θ4=
12.5°、θJ/θ、、 = 2.5 ・・・(1
)となる。なお第1図で縦軸は光強度、横軸は拡り角で
ある。このように高出力半導体レーザのビーム拡り角の
比 θl/θ、lは約2.5倍程度である。
の遠視野像における平行と垂直方向の出射光分布の1例
を示しだが、光強度がピークの半分になる各々の方向の
半値角をθ77、θヱとすると、θ77−5°、θ4=
12.5°、θJ/θ、、 = 2.5 ・・・(1
)となる。なお第1図で縦軸は光強度、横軸は拡り角で
ある。このように高出力半導体レーザのビーム拡り角の
比 θl/θ、lは約2.5倍程度である。
このような非等方的な拡り角を有する半導体レーザの光
を、ディスク上で円い、等方的な微小スポット光に絞り
込むための光デイスク装置の1例が特開昭55−108
612号公報で提案されている。第2図にその概略を示
した。すなわち半導体レーザ1から出た光ビームを集光
レンズ2で集め平行光に直し、半導体レーザ1の接合面
に対して平行方向のみしくズ作用を持ち、かつアフォー
カルに配置された凹と凸のシリンドリカルレンズ3.4
により半導体レーザの接合面に平行方向のみの平行ビー
ムを拡げ、垂直方向とほぼ同等な幅のビーム径にして絞
りレンズ5でディスク6上に絞り込む構成であり、ディ
スク上で等方的な微小スポット光が得られる。しかし、
この方法は(1)光学系が大きくなる。(2)凹と凸の
シリンドリカルレンズの軸合せが難しい等の欠点を有し
ている。まだ、かかる装置においては少なくとも2つの
サーボ技術が必要である。1つはディスクの回転に伴い
回転方向と垂直な方向にディスクが面プレをおこすが、
前記面ブレに対し前記φ1μm以下に絞られた微小スポ
ット光が常にディスク上に照射できるように光学系を追
従させるサーボで、このサーボはフォーカスサーボと呼
ばれている。他方はディスクの回転に伴い前記トラック
が偏心等によpディスクの半径方向に移動するが、これ
に対し常に前記微小スポット光が前記トララフ上を照射
するように光学系を追従させるサーボで、このサーボは
トラッキングサーボと呼ばれている。
を、ディスク上で円い、等方的な微小スポット光に絞り
込むための光デイスク装置の1例が特開昭55−108
612号公報で提案されている。第2図にその概略を示
した。すなわち半導体レーザ1から出た光ビームを集光
レンズ2で集め平行光に直し、半導体レーザ1の接合面
に対して平行方向のみしくズ作用を持ち、かつアフォー
カルに配置された凹と凸のシリンドリカルレンズ3.4
により半導体レーザの接合面に平行方向のみの平行ビー
ムを拡げ、垂直方向とほぼ同等な幅のビーム径にして絞
りレンズ5でディスク6上に絞り込む構成であり、ディ
スク上で等方的な微小スポット光が得られる。しかし、
この方法は(1)光学系が大きくなる。(2)凹と凸の
シリンドリカルレンズの軸合せが難しい等の欠点を有し
ている。まだ、かかる装置においては少なくとも2つの
サーボ技術が必要である。1つはディスクの回転に伴い
回転方向と垂直な方向にディスクが面プレをおこすが、
前記面ブレに対し前記φ1μm以下に絞られた微小スポ
ット光が常にディスク上に照射できるように光学系を追
従させるサーボで、このサーボはフォーカスサーボと呼
ばれている。他方はディスクの回転に伴い前記トラック
が偏心等によpディスクの半径方向に移動するが、これ
に対し常に前記微小スポット光が前記トララフ上を照射
するように光学系を追従させるサーボで、このサーボは
トラッキングサーボと呼ばれている。
前記フォーカスサーボおよびトラッキングサーボを行う
だめのサーボ信号(誤差信号〕はディスクの反射光より
得ており、具体的な従来の光学系を同様に第2図に示し
だ。
だめのサーボ信号(誤差信号〕はディスクの反射光より
得ており、具体的な従来の光学系を同様に第2図に示し
だ。
第2図において、γは偏光ビームスプリンタでレーザの
偏光方向に応じて透過あるいは反射する。
偏光方向に応じて透過あるいは反射する。
8はλ/4板で、ディスク6よりの反射光はλ/4板8
を再び通り、その偏光方向が変えられ偏光ビームスプリ
ンタ7で反射される。9は凸レンズ、10は分割ミラー
で、この分割ミラーにょシ光ビームは2分割され、かつ
方向を変えられ11.12の光検出器にそれぞれ導かれ
る。光検出器11はその光入射方向からみると11a、
11bに示すように2分割されており、2分割された各
光検出器11a、11bの出力の差より前記フォーカス
サーボのためのフォーカス誤差信号を得ている。また光
検出器12はその光入射面からみると12a。
を再び通り、その偏光方向が変えられ偏光ビームスプリ
ンタ7で反射される。9は凸レンズ、10は分割ミラー
で、この分割ミラーにょシ光ビームは2分割され、かつ
方向を変えられ11.12の光検出器にそれぞれ導かれ
る。光検出器11はその光入射方向からみると11a、
11bに示すように2分割されており、2分割された各
光検出器11a、11bの出力の差より前記フォーカス
サーボのためのフォーカス誤差信号を得ている。また光
検出器12はその光入射面からみると12a。
12bに示すように2分割されておυ、2分割された各
光検出器12a、12bの出力の差より前記トラッキン
グサーボのだめのトラ・ノキング誤差信号を得、前記4
ケの各光検出器の出力の緩和よりディヌク上に記録され
た情報を読み出す再生信号を得ている。
光検出器12a、12bの出力の差より前記トラッキン
グサーボのだめのトラ・ノキング誤差信号を得、前記4
ケの各光検出器の出力の緩和よりディヌク上に記録され
た情報を読み出す再生信号を得ている。
第2図に示す従来の光学系では、前述した2つの欠点の
外、以下に示す欠点も有している・(3)反射光を2分
割するために、分割ミラーから成る光学素子を必要とし
、このミラーの経時変化、例えば表面に付着するゴミあ
るいは温度変動、振動等による分割ミラーの位置ずれ等
が両サーボ信号を乱し、制御成能を悪くする。
外、以下に示す欠点も有している・(3)反射光を2分
割するために、分割ミラーから成る光学素子を必要とし
、このミラーの経時変化、例えば表面に付着するゴミあ
るいは温度変動、振動等による分割ミラーの位置ずれ等
が両サーボ信号を乱し、制御成能を悪くする。
(4)凹凸シリンドリカルレンズ、偏光ビームスプリッ
タ、λ/4板、凸レンズ、ミラー等の光学部品が全て空
間的に離れてバラバラに配置されているだめ、光学系全
体として大きくなる上に、各光学部品での光反射損失あ
るいは光透過損失が大きくなり、レーザ光を有効に利用
できない。
タ、λ/4板、凸レンズ、ミラー等の光学部品が全て空
間的に離れてバラバラに配置されているだめ、光学系全
体として大きくなる上に、各光学部品での光反射損失あ
るいは光透過損失が大きくなり、レーザ光を有効に利用
できない。
発明の目的
本発明は主に上記欠点に鑑みてなされた発明であり、記
録再生のだめの光学系をより小さくし、光損失および経
時変化の少ない光学プリズムを用いた新規な光学ヘッド
を提供することを目的とする、 発明の構成 本発明では、ビーム径を拡大する従来の凹凸シリンドリ
カルレンズの代りにビーム径を拡大する拡大プリズムを
設け、また従来の分割ミラーの代りに分割プリズムを設
け、偏光ビームスプリッタとλ/4板と、前記各2つの
プリズムを1体となる構造にしたことによシ、従来の光
学系より小さく、経時変化および光損失の少々い光学系
を実現している。
録再生のだめの光学系をより小さくし、光損失および経
時変化の少ない光学プリズムを用いた新規な光学ヘッド
を提供することを目的とする、 発明の構成 本発明では、ビーム径を拡大する従来の凹凸シリンドリ
カルレンズの代りにビーム径を拡大する拡大プリズムを
設け、また従来の分割ミラーの代りに分割プリズムを設
け、偏光ビームスプリッタとλ/4板と、前記各2つの
プリズムを1体となる構造にしたことによシ、従来の光
学系より小さく、経時変化および光損失の少々い光学系
を実現している。
実施例の説明
以下図面に従い本発明の詳細な説明する。第3図は本発
明の一実施例を示した図である。、第2図と同じ構成要
素については同一の番号を付した。
明の一実施例を示した図である。、第2図と同じ構成要
素については同一の番号を付した。
第3図において、集光レンズにてコリメートされた光束
幅工、の平行ビームPは拡大プリズム13のa面から入
射し、光束幅I2の平行光に拡大され5面で全反射し、
0面から光束幅工、の平行ビームQとなって出力される
。この時、入射光Pの光軸XX/と出射光Qの光軸Y
−Y’とは略直交している。
幅工、の平行ビームPは拡大プリズム13のa面から入
射し、光束幅I2の平行光に拡大され5面で全反射し、
0面から光束幅工、の平行ビームQとなって出力される
。この時、入射光Pの光軸XX/と出射光Qの光軸Y
−Y’とは略直交している。
以下、この拡大プリズム13について詳しく述べる。
入射光P(平行光)は、拡大プリズム13の端面aに入
射し屈折してプリズムの中に入る。この時の条件は、ス
ネルの法則から(2)式で与えられる。
射し屈折してプリズムの中に入る。この時の条件は、ス
ネルの法則から(2)式で与えられる。
n081nθ、=n、sinθ2−==−−−−−−(
2)ただし n。(キ1):空気の屈折率 n1ニブリズムの屈折率 θ1 :入射角 θ2 :屈折角 端面aKて平行光束幅工、は工2に拡大されるが、その
比ITI−I 2 /I 、は(3)式で与えられる。
2)ただし n。(キ1):空気の屈折率 n1ニブリズムの屈折率 θ1 :入射角 θ2 :屈折角 端面aKて平行光束幅工、は工2に拡大されるが、その
比ITI−I 2 /I 、は(3)式で与えられる。
m = I、、/I、 = cosθ2’/CO8θ、
−・−−、、、(3)つぎに入射光Pと出射光Qと
の光軸x−x’とYY/を略直交させるため、拡大プリ
ズム13の端面すにて全反射させる。この時の入射角θ
3は(4)式1式% (4) 端面すにて入射角θ3で全反射させ、かつ端面Cにてそ
の反射光が略垂直入射して出射するだめのプリズムの各
頂角は、 θ4中θ2+θ3 ・・・・・・・・・・・
・ (5)θ、キθ3 ・・・・・・・
・・・・・ (6)となる。
−・−−、、、(3)つぎに入射光Pと出射光Qと
の光軸x−x’とYY/を略直交させるため、拡大プリ
ズム13の端面すにて全反射させる。この時の入射角θ
3は(4)式1式% (4) 端面すにて入射角θ3で全反射させ、かつ端面Cにてそ
の反射光が略垂直入射して出射するだめのプリズムの各
頂角は、 θ4中θ2+θ3 ・・・・・・・・・・・
・ (5)θ、キθ3 ・・・・・・・
・・・・・ (6)となる。
以上の条件を満足するプリズムを製作すれば、入射光束
11がm倍の出射光束工、となり、入射光Pの光軸x−
x’と出射光Qの光軸Y−Y’は略直交する。
11がm倍の出射光束工、となり、入射光Pの光軸x−
x’と出射光Qの光軸Y−Y’は略直交する。
具体的に前記第(1)式の条件である半導体レーザの拡
シ角比2.5からm=2.5.屈折率n。−1゜)1.
=4.51とすると各頂角は以下の様に求まる。
シ角比2.5からm=2.5.屈折率n。−1゜)1.
=4.51とすると各頂角は以下の様に求まる。
θ、=72°、θ2−39°、05キロ1.5°、θ4
キ1ooj’なお端面aに入る光ビームの偏光方向は一
端面aに対してP偏向になっていることが望ましい。
キ1ooj’なお端面aに入る光ビームの偏光方向は一
端面aに対してP偏向になっていることが望ましい。
何故なら、一般に半導体レーザは接合面に平行方向に偏
向しており、かつ第1図に示すようにθ〃〈九となって
いるため、平行方向のビーム径を拡大する必要があるた
めである。また光入射角もθ1−72゜と大きく、P偏
向の方がより端面aを透過しやすくなる。なお、端面a
に対しては使用する特定のレーザ波長と特定の入射角度
θ、の条件でその時の反射損失が最も少なくなるような
反射防止膜を蒸着している。このように拡大プリズム1
3で半導体レーザの接合面に平行方向のみビーム径を拡
げ、半導体レーザをほぼ円形の平行光にした後全反射さ
せている。そして偏光ビームスジ1ノツタ7で反射、λ
24板8を通過後、絞りレンズ6にてナイスクロ上でほ
ぼ円形の等方向な微小スポット光が得られることとなる
。
向しており、かつ第1図に示すようにθ〃〈九となって
いるため、平行方向のビーム径を拡大する必要があるた
めである。また光入射角もθ1−72゜と大きく、P偏
向の方がより端面aを透過しやすくなる。なお、端面a
に対しては使用する特定のレーザ波長と特定の入射角度
θ、の条件でその時の反射損失が最も少なくなるような
反射防止膜を蒸着している。このように拡大プリズム1
3で半導体レーザの接合面に平行方向のみビーム径を拡
げ、半導体レーザをほぼ円形の平行光にした後全反射さ
せている。そして偏光ビームスジ1ノツタ7で反射、λ
24板8を通過後、絞りレンズ6にてナイスクロ上でほ
ぼ円形の等方向な微小スポット光が得られることとなる
。
一方、ディスク6よりの反射光は偏光ビームス
−プリッタ7を透過しディスク7上に記録された
信号を再生し、かつフォーカストラッキング制御ヲかけ
るだめの分割プリズム14に導かれる。
−プリッタ7を透過しディスク7上に記録された
信号を再生し、かつフォーカストラッキング制御ヲかけ
るだめの分割プリズム14に導かれる。
以下、この分割プリズムについて詳しく説明する。
第4図に分割プリズム14の斜示図を示す。すなわち、
反射光路中にて前記ディスクよりの反射光の空間的に約
半分は全反射面dで全反射され、凸レンズをその光軸方
向と略平行にほぼ半分に割った半凸レンズ15に導かれ
る。凸レンズの光軸中心とレーザ中心はほぼ一致してい
る。
反射光路中にて前記ディスクよりの反射光の空間的に約
半分は全反射面dで全反射され、凸レンズをその光軸方
向と略平行にほぼ半分に割った半凸レンズ15に導かれ
る。凸レンズの光軸中心とレーザ中心はほぼ一致してい
る。
従って反射光の約半分は半凸レンズ16で絞られ、その
結像位置に置かれた光検出器に照射される。光検出器1
1ば、その光入射面からみると11a、11bに示+2
分割の構造をしており、前記11d、11bの各光検出
器の出力差よりフォーカス誤差信号が得られる。
結像位置に置かれた光検出器に照射される。光検出器1
1ば、その光入射面からみると11a、11bに示+2
分割の構造をしており、前記11d、11bの各光検出
器の出力差よりフォーカス誤差信号が得られる。
一方、前記反射光の残り半分は透過面eを通過し、光検
出器12に導びかれる。光検出器12はその光入射面か
らみると12a、12bVc示す2分割の構造をしてお
り、前記12a、12bの各光検出器の出力差よりトラ
ッキング誤差信号は得られる。いわゆる遠視野像の動き
からトラッキング誤差信号は得られる。
出器12に導びかれる。光検出器12はその光入射面か
らみると12a、12bVc示す2分割の構造をしてお
り、前記12a、12bの各光検出器の出力差よりトラ
ッキング誤差信号は得られる。いわゆる遠視野像の動き
からトラッキング誤差信号は得られる。
またディスクよりの再生信号は例えば前記11゜12の
両光検出器の出力の緩和から得られる。
両光検出器の出力の緩和から得られる。
第3図の構成でフォーカス誤差信号を得る原理について
詳しく説明する。
詳しく説明する。
第5図はフォーカス誤差信号を得る方法についてのみ説
明するだめに第3図を簡略化して示した図であり、第3
図と同様の構成要素については同一の付量を付した。第
5図においてaは絞りレンズ5とディスク6間が所望の
距離より近づきすぎた場合、bは丁度所望の距離、すな
わちディスク面上に入射光がフォーカスされた場合、C
は前記所望の距離より長くなった場合をそれぞれ示して
いる。
明するだめに第3図を簡略化して示した図であり、第3
図と同様の構成要素については同一の付量を付した。第
5図においてaは絞りレンズ5とディスク6間が所望の
距離より近づきすぎた場合、bは丁度所望の距離、すな
わちディスク面上に入射光がフォーカスされた場合、C
は前記所望の距離より長くなった場合をそれぞれ示して
いる。
まず、第5図aに示したように絞りレンズ5とディスク
6とが前記所望の距離より近づきすぎると、半凸レンズ
11により絞られる反射光の結像位置A1は、光検出器
11よシ遠くなる。従って、この場合、光検出器11b
上受光される光量より光検出器11aに受光される光量
の方が多くなる。
6とが前記所望の距離より近づきすぎると、半凸レンズ
11により絞られる反射光の結像位置A1は、光検出器
11よシ遠くなる。従って、この場合、光検出器11b
上受光される光量より光検出器11aに受光される光量
の方が多くなる。
逆に第5図Cに示すように絞りレンズ5とディスク6と
が前記所望の距離よりも遠ざかると、光検出器11aに
受光される光量よシ光検出器11bに受光される光量の
方が多くなる(反射光の結像位置A3が凸レンズ側に近
づくン。
が前記所望の距離よりも遠ざかると、光検出器11aに
受光される光量よシ光検出器11bに受光される光量の
方が多くなる(反射光の結像位置A3が凸レンズ側に近
づくン。
また第5図すに示すようにディスク6上に入射光がフォ
ーカスされた場合は、光検出器11上に半凸レンズによ
り結像された反射光A2が照射されるため、光検出器1
1a、11bの受光量は等しくなる。
ーカスされた場合は、光検出器11上に半凸レンズによ
り結像された反射光A2が照射されるため、光検出器1
1a、11bの受光量は等しくなる。
従って、前記両者の光検出器11a、11bの受光量が
等しく々るようにサーボをかければフォーカスサーボが
実現できる。
等しく々るようにサーボをかければフォーカスサーボが
実現できる。
なお第3図に示すように拡大プリズムと分割プリズムは
λ/4板とともに偏光ビームスプリッタに接着し1体構
造となっている。
λ/4板とともに偏光ビームスプリッタに接着し1体構
造となっている。
ただしλ/4板については細かく回転調整を行う必要が
あるだめλ/4板のみ分離して構成することも可能であ
る。
あるだめλ/4板のみ分離して構成することも可能であ
る。
発明の効果
以上のように、本発明の構成によれば、拡大プリズムを
用いているため凹凸のシリンドリカルレンズを必要とせ
ず、各シーIJンドリヵルレンズの光軸合わせが不要と
なる。また分割ミラーを用いず分割プリズムにより反射
光を2分しているため、分割ミラーの特性の経時変化9
位置ズレれも無い。
用いているため凹凸のシリンドリカルレンズを必要とせ
ず、各シーIJンドリヵルレンズの光軸合わせが不要と
なる。また分割ミラーを用いず分割プリズムにより反射
光を2分しているため、分割ミラーの特性の経時変化9
位置ズレれも無い。
また光学系全体としても各プリズム、偏光ビームスプリ
ッタとが1体構造となっているため、光入射面、出射面
が少なく光学部品の各端面での反射損失が少なくなり有
効にレーザ光が利用でき、かつ光学系の大きさも従来に
比べ著しく小さくすることができる等の効果がある。
ッタとが1体構造となっているため、光入射面、出射面
が少なく光学部品の各端面での反射損失が少なくなり有
効にレーザ光が利用でき、かつ光学系の大きさも従来に
比べ著しく小さくすることができる等の効果がある。
第1図は半導体レーザの遠視野像の光強度分布特性図、
第2図は従来の光デイスク装置の構成を示す図、第3図
aは本発明の一実施例における光学ヘンドの正面図、b
は同側面図、Cは同平面図、第4図は同実施例における
分割プリズムの斜視図、第5図a、b、cはフォーカス
誤差信号を得る方法を説明するだめの図である。 1・・・・・・半導体レーザ、2・・・・・・集光レン
ズ、5・・・・・・絞りレンズ、6・・・・・・ディス
ク、7・・・・・・i光ビームスプリッタ、8・・・・
・・λ/4板、11・・・・・・第10光検出器、12
・・・・・・第2の光検出器、13・・・・・・拡大プ
IJズム、14・・・・・、・1分割プ)Jズム、15
・・・・・半凸レンズ、■1・・・・・・短かい方の平
行光幅、a・・・・・・拡大プリズムの光入射面、b・
・・・・・拡大プリズムの全反射面、d・・・・・・分
割プリズムの全反射面、e・・・・・・分割プリズムの
透過面。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 航 第2図 /ノ、l/b 4図 5図 tの
第2図は従来の光デイスク装置の構成を示す図、第3図
aは本発明の一実施例における光学ヘンドの正面図、b
は同側面図、Cは同平面図、第4図は同実施例における
分割プリズムの斜視図、第5図a、b、cはフォーカス
誤差信号を得る方法を説明するだめの図である。 1・・・・・・半導体レーザ、2・・・・・・集光レン
ズ、5・・・・・・絞りレンズ、6・・・・・・ディス
ク、7・・・・・・i光ビームスプリッタ、8・・・・
・・λ/4板、11・・・・・・第10光検出器、12
・・・・・・第2の光検出器、13・・・・・・拡大プ
IJズム、14・・・・・、・1分割プ)Jズム、15
・・・・・半凸レンズ、■1・・・・・・短かい方の平
行光幅、a・・・・・・拡大プリズムの光入射面、b・
・・・・・拡大プリズムの全反射面、d・・・・・・分
割プリズムの全反射面、e・・・・・・分割プリズムの
透過面。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 航 第2図 /ノ、l/b 4図 5図 tの
Claims (2)
- (1)半導体レーザーからの出射光を集め平行光に直す
集光レンズと、前記平行光の短かい方の光束幅を拡げる
少なくとも1つ以上の光入射面と、前記平行光と略直角
になるように反射させる少々くとも1つ以上の全反射面
とを有した拡大プリズムと、入射される光ビームの偏光
方向に応じて反射または透過する偏光ビームスプリタと
、1回通過すると光の偏光方向が%波長ずれるλ/4板
と、レーザ光を絞るための絞シレンズと、ディスクから
成る記録媒体よりの反射光を空間的に2分する全反射面
と透過面を有し、前記2分された一方の反射光を絞るだ
めの、はぼ光軸に沿って2分された半凸レンズを有した
分割プリズムと、前記半凸レンズにより絞られた反射光
のほぼ結像位置に置かれ少なくとも2分割された第1の
光検出器と、前記ディスクよシの反射光の分割プリズム
により2分された他方の反射光を受光する少なくとも2
分割された第2の光検出器とを備えたことを特徴とする
光学ヘッド。 - (2)拡大プリズムと偏向ビームスプリッタとλ/4板
と分割プリズムを一体構造にしたことを特徴とする特許
請求の範囲第1項記載の光学ヘッド。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58070327A JPH065581B2 (ja) | 1983-04-20 | 1983-04-20 | 光学ヘツド |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58070327A JPH065581B2 (ja) | 1983-04-20 | 1983-04-20 | 光学ヘツド |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59195344A true JPS59195344A (ja) | 1984-11-06 |
JPH065581B2 JPH065581B2 (ja) | 1994-01-19 |
Family
ID=13428230
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58070327A Expired - Lifetime JPH065581B2 (ja) | 1983-04-20 | 1983-04-20 | 光学ヘツド |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH065581B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6289018A (ja) * | 1985-10-15 | 1987-04-23 | Konishiroku Photo Ind Co Ltd | ビ−ム整形光学系 |
JPH0280318U (ja) * | 1988-12-02 | 1990-06-20 | ||
US5544144A (en) * | 1990-11-14 | 1996-08-06 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Optical head structure having compactly arranged parts |
-
1983
- 1983-04-20 JP JP58070327A patent/JPH065581B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6289018A (ja) * | 1985-10-15 | 1987-04-23 | Konishiroku Photo Ind Co Ltd | ビ−ム整形光学系 |
JPH0533767B2 (ja) * | 1985-10-15 | 1993-05-20 | Konishiroku Photo Ind | |
JPH0280318U (ja) * | 1988-12-02 | 1990-06-20 | ||
US5544144A (en) * | 1990-11-14 | 1996-08-06 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Optical head structure having compactly arranged parts |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH065581B2 (ja) | 1994-01-19 |
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