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JPS58175273A - Coaxial movable contact probe - Google Patents

Coaxial movable contact probe

Info

Publication number
JPS58175273A
JPS58175273A JP5664182A JP5664182A JPS58175273A JP S58175273 A JPS58175273 A JP S58175273A JP 5664182 A JP5664182 A JP 5664182A JP 5664182 A JP5664182 A JP 5664182A JP S58175273 A JPS58175273 A JP S58175273A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
movable contact
coaxial
contact
socket
movable
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5664182A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
中嶋 和彦
木原 達夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Oki Electric Industry Co Ltd filed Critical Oki Electric Industry Co Ltd
Priority to JP5664182A priority Critical patent/JPS58175273A/en
Publication of JPS58175273A publication Critical patent/JPS58175273A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Details Of Connecting Devices For Male And Female Coupling (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は■HF帯から高周波帯域用として使用されるパ
ッケージの試験において電気的に良好な特性を得ること
ができる同軸型可動接触グローブに関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a coaxial type movable contact globe that can obtain good electrical characteristics in testing packages used for high frequency bands from the HF band.

回路基板上に実装された高周波用パッケージの回路特性
を試験する場合の従来の接触グローブの構造ならびに使
用例を第1図、第2図、第3図に示す。第1図は従来の
第1の実施例における接触グローブの縦方向垂直断面を
示し、1mは基板上のパターンと接触する為の可動接触
子、1bはアース用可動接触子、2a r 2bは可動
接触子1aならびにアース用可動接触子1bを各々ガイ
ドするソケッ)1.?a、、?bは可動接触子1aなら
びにアース用可動接触子1bを各々抑圧保持する為のバ
ネ、4は同軸ケーブル、5は可動接触子1aと接続され
る同軸ケーブル4の内部導体、6はソケット2を固定す
るフィクスチャーである。そして第1図に示す接触グロ
ーブの使用例を第3図に示す。第3図において、101
は高周波部品、102は基板、103は基板上の回路・
ぐターンを、又他の記号は第1図と同じものを示し、第
1図に示す接触グローブを複数個(図では2個のみ示す
)用いて同時多点測定を行う場合を示している。この場
合、基板102あるいはフィクスチャ6を上方もしくは
下方に動かすことにより可動接触子1aおよびアース用
可動接触子1bをパターン103に接触させて試験を行
っている。そして可動接触子1aおよびアース用可動接
触子1bは各々の上端に設けられたバネ3 a r 3
 bによって基板のパターン103に押圧されて接触性
を高めている。しかし上述の従来実施例の場合、可動接
触子1の先端から内部導体5までは同軸ケーブルの構造
を持たない信号線によって接続がなされており、特に高
周波領域の回路特性の試験においては、この間において
著しい信号レベルの減衰が生じることになる。更に前記
の可動接触子1の先端から内部導体5までの間はシール
ドがなされていない為、第3図に示すような同時多点測
定を行う場合においては隣接する接触グローブに漏話が
生じ、悪影響を及ぼす欠点を生じる。
1, 2, and 3 show the structure and usage example of a conventional contact glove for testing the circuit characteristics of a high-frequency package mounted on a circuit board. FIG. 1 shows a longitudinal vertical cross section of the contact globe in the first conventional embodiment, where 1m is a movable contact for contacting the pattern on the substrate, 1b is a movable contact for grounding, and 2a r 2b are movable contacts. Sockets for guiding the contact 1a and the ground movable contact 1b) 1. ? a...? b is a spring for holding down the movable contact 1a and the movable grounding contact 1b, 4 is a coaxial cable, 5 is an internal conductor of the coaxial cable 4 connected to the movable contact 1a, and 6 is a fixed spring for fixing the socket 2. It is a fixture that FIG. 3 shows an example of how the contact glove shown in FIG. 1 is used. In Figure 3, 101
is a high frequency component, 102 is a board, and 103 is a circuit on the board.
The other symbols are the same as those in FIG. 1, and the diagram shows the case where simultaneous multi-point measurement is performed using a plurality of contact gloves (only two are shown in the figure) shown in FIG. In this case, the test is performed by moving the substrate 102 or the fixture 6 upward or downward to bring the movable contact 1a and the grounding movable contact 1b into contact with the pattern 103. The movable contact 1a and the grounding movable contact 1b each have a spring 3 a r 3 provided at their upper end.
b is pressed against the pattern 103 on the substrate to improve contact. However, in the case of the above-mentioned conventional embodiment, the connection from the tip of the movable contact 1 to the internal conductor 5 is made by a signal line that does not have the structure of a coaxial cable. Significant signal level attenuation will occur. Furthermore, since there is no shielding between the tip of the movable contact 1 and the internal conductor 5, crosstalk occurs between adjacent contact globes when performing simultaneous multi-point measurements as shown in Figure 3, resulting in negative effects. resulting in disadvantages.

第2図は接触グローブの第2の従来実施例を示し、同軸
ケーブル4の内部導体5を、可動接触子1aを介さずに
直接に接触子としたものであり、図中の記号は第1図と
同じものを示す。同軸ケーブル4の内部導体5を接触子
とした第2の実施例では信号レベルの減衰、漏話を防ぐ
ことは可能であるが、第3図に示すように同時多点測定
を行う場合は基板102のそシ、フィクスチャ6のそシ
、同軸ケーブル4の固定位置、その他治具の平坦度等に
より安定した接触ができない欠点を有していた。
FIG. 2 shows a second conventional embodiment of the contact globe, in which the internal conductor 5 of the coaxial cable 4 is directly used as a contact without using the movable contact 1a. Shows the same thing as the figure. In the second embodiment in which the internal conductor 5 of the coaxial cable 4 is used as a contact, it is possible to prevent signal level attenuation and crosstalk, but as shown in FIG. This has the drawback that stable contact cannot be achieved due to the sag, the sag of the fixture 6, the fixed position of the coaxial cable 4, the flatness of other jigs, etc.

本発明は上記のような欠点を解決する為に可動接触子を
同軸ケーブルの内部導体と同じ効果を有するようにした
ものであシ、以下詳細に説明する。
In order to solve the above-mentioned drawbacks, the present invention provides a movable contact that has the same effect as the internal conductor of a coaxial cable, and will be described in detail below.

第4図(a)は本発明に係る同軸型可動接触グローブの
第1の実施例を示す長手方向垂直断面であり、1は可動
接触子、2は導電体のソケット、3はバネ、7は外部導
体、8は誘電体材料である。外部導体7は円筒形状のも
のであり、上端にコネクタ取付部を形設して同軸ケーブ
ルと接続できるようになっており、その中心にソケット
2を挿着し、該ソケット2の内部にバネ3によって保持
され電気的に接続された可動接触子1が設けられている
FIG. 4(a) is a vertical cross section in the longitudinal direction showing the first embodiment of the coaxial movable contact glove according to the present invention, in which 1 is a movable contact, 2 is a conductor socket, 3 is a spring, and 7 is a The outer conductor 8 is a dielectric material. The outer conductor 7 has a cylindrical shape, and has a connector attachment part formed at its upper end so that it can be connected to a coaxial cable.A socket 2 is inserted into the center of the outer conductor 7, and a spring 3 is inserted into the inside of the socket 2. A movable contactor 1 is provided which is held and electrically connected by.

そして可動接触子1は外部導体7の下端から突き出てお
り、ソケット2をガイドに上下動でき、バネ3の押圧に
5よシ基板上の回路パターンと接触できるようになって
いる。第4図(b)は第4図(、)に示す同軸型可動接
触1グローブの一点鎖線A−AA面における断面を示し
、各記号は第4図(、)と同じである。第4図(b)に
示すように、外部導体7の内径をD、ソケット2の外径
をdとし、これと接続する同軸ケーブルのインピーダン
スをzc1誘電体材料8の誘電率をε、透磁率をμとし
た場合、各々の関係は次式で示されることが知られてい
る。
The movable contact 1 protrudes from the lower end of the external conductor 7, can move up and down using the socket 2 as a guide, and can come into contact with the circuit pattern on the board when pressed by the spring 3. FIG. 4(b) shows a cross section of the coaxial movable contact 1 globe shown in FIG. 4(,) along the dashed line A-AA plane, and each symbol is the same as in FIG. 4(,). As shown in FIG. 4(b), the inner diameter of the outer conductor 7 is D, the outer diameter of the socket 2 is d, the impedance of the coaxial cable connected to it is zc, the permittivity of the dielectric material 8 is ε, and the magnetic permeability is It is known that each relationship is expressed by the following equation, where μ is μ.

Z c−丁TLog、 7   ここでη=4したがっ
て外部導体2の内径りとソケット2の外径dとの関係を
(1)式で示す関係を満足するようにし、グローブ部も
同軸ケーブルと同じインピーダンスとして各々の整合を
保っている。
Z c-T Log, 7 Here, η=4 Therefore, the relationship between the inner diameter of the outer conductor 2 and the outer diameter d of the socket 2 should satisfy the relationship shown in equation (1), and the glove part should be the same as the coaxial cable. Each impedance is kept matched.

第5図は第4図に示す同軸型可動接触グローブの使用例
を示し、側面からみた断面を表す。第5図において4は
同軸ケーブル、6はフィクスチャ、9゛は同軸型可動接
触グローブ、10ノは高周波部品、102は基板、10
3は回路/’Pターン、104は同軸ケーブル4と同軸
型可動接触グローブ9とを接続するコネクタ、105は
アースであり、第4図に示す同軸型可動接触グローブ9
を複数個(図では2個のみ示す)用いて同時多点測定を
行う場合を示している。複数の同軸型可動接触グローブ
9はフィクスチャ6に固定され、コネクタ104により
各々同軸ケーブル4に接続されておシ、基板102ある
いはフィクスチャ6を上もしくは下方向に動かすことに
より、バネ3で保持されている可動接触子1をノ9ター
ン103に良好に接触できるようになっている。
FIG. 5 shows an example of the use of the coaxial type movable contact glove shown in FIG. 4, and shows a cross section seen from the side. In Fig. 5, 4 is a coaxial cable, 6 is a fixture, 9 is a coaxial movable contact globe, 10 is a high frequency component, 102 is a board, 10
3 is a circuit/'P turn, 104 is a connector for connecting the coaxial cable 4 and the coaxial type movable contact globe 9, and 105 is a ground, and the coaxial type movable contact globe 9 shown in FIG.
This shows a case where simultaneous multi-point measurement is performed using a plurality of (only two are shown in the figure). A plurality of coaxial movable contact globes 9 are fixed to the fixture 6, each connected to the coaxial cable 4 by a connector 104, and held by the spring 3 by moving the substrate 102 or the fixture 6 upward or downward. The movable contact 1 can be brought into good contact with the nine turns 103.

上述の第1の実施例では接触子1ガ、同軸ケーブルの内
部導体と同じ効果を有するような構造と々っている為、
多点同時測定において良好な特性を得ることができるば
かりでなく、漏話現象の減退によシ他のプローブおよび
パッケージ回路に影響を与えない利点を有する。更に第
1図、第2図に示す従来の接触プローブと異なりアース
用の可動接触子を設けずに、別途他の手段にてアースを
とることにしている(上記実施例ではフィクスチャ6に
設けたアース105からとる)ため、高密度実装された
空間エリアの少ないパッケージにも操作性を害すること
なく適用することができる。
In the first embodiment described above, the contactor 1 has a structure that has the same effect as the internal conductor of a coaxial cable, so
Not only can good characteristics be obtained in simultaneous multi-point measurements, but also the crosstalk phenomenon is reduced and has the advantage of not affecting other probes and package circuits. Furthermore, unlike the conventional contact probes shown in FIGS. 1 and 2, a movable contact for grounding is not provided, and grounding is separately performed by other means (in the above embodiment, a movable contact for grounding is not provided). (from the ground 105), it can be applied to packages with high density packaging and a small space area without impairing operability.

第6図(、)は本発明にかかわる同軸型可動接触グロー
ブの第2の実施例を示すものであり、第4図と同様に縦
方向の垂直断面を示す。同図において3aは可動接触子
1の上部にて保持されるバネ、10は外部導体7の外側
下部を包むように周設され、スゲリング3bによって外
部導体2と保持されるアース用可動接触子であり、可動
接触子1をその底部中心から突き出し、更に回路パター
ン又は部品逃げ用としての溝を底部に設けている。そし
て基板上の回路・ぞターンとの゛接触に際して中心部の
可動接触子1とアース用可動接触子10は各各回路パタ
ーンの測定部に押しつけられ、バネJan3bの圧縮反
発力によって、良好に接触される。
FIG. 6(,) shows a second embodiment of the coaxial movable contact glove according to the present invention, and shows a vertical cross section in the longitudinal direction similarly to FIG. In the figure, 3a is a spring held at the upper part of the movable contact 1, and 10 is a movable earthing contact that is provided around the outer lower part of the outer conductor 7 and is held with the outer conductor 2 by a sedge ring 3b. , the movable contactor 1 protrudes from the center of its bottom, and a groove for escaping a circuit pattern or components is provided at the bottom. When making contact with the circuit/zoom turn on the board, the movable contact 1 at the center and the movable grounding contact 10 are pressed against the measurement part of each circuit pattern, and the compressive repulsive force of the spring Jan3b ensures good contact. be done.

第6図(b)は第6図(、)に示す同軸型可動接触プロ
ーブの一点鎖線B−BHにおける水平断面を示し、各々
の記号は第6図(、)と同じものである。第4図の場合
は可動接触子のみを直接基板上のノJ?ターンに接触さ
せ、アースは別途他の手段からとるものとしてアース用
可動接触子を設けない方式であるが、木簡2の実施例で
は同軸ケーブルの内部導体と同じ効果を有する可動接触
子1をもうけるとともに、下端底部に部品逃げ溝を有す
るアース用可動接触    1子10を設けている。従
って第4図にて示す第1の実施例に比べさらにシールド
効果、インピーダンス整合は良くなり、信号の漏話、信
号レベルの減衰はより減少し、より良好な特性を得るこ
とができる。
FIG. 6(b) shows a horizontal cross section of the coaxial movable contact probe along the dashed line B-BH shown in FIG. 6(,), and each symbol is the same as that in FIG. 6(,). In the case of Fig. 4, only the movable contact is placed directly on the board. In this method, a movable contact for grounding is not provided as the grounding is made by contacting the turn and the grounding is taken separately by other means, but in the embodiment of wooden tablet 2, a movable contact 1 is provided which has the same effect as the internal conductor of a coaxial cable. At the same time, a grounding movable contact 10 having a component escape groove is provided at the bottom of the lower end. Therefore, compared to the first embodiment shown in FIG. 4, the shielding effect and impedance matching are improved, signal crosstalk and signal level attenuation are further reduced, and better characteristics can be obtained.

第7図(、) (b)に示す同軸型可動接触プローブは
、可動接触子ならびにアース用可動接触子を有するもの
であるが、アース用可動接触子の下端部を絞り、部品の
逃げ部が第6図のものに比べて狭くなっている点を除い
て第6図に示す同軸型可動接触プローブと同様の効果を
有するものである。
The coaxial movable contact probe shown in Fig. 7(,)(b) has a movable contact and a movable grounding contact. This probe has the same effect as the coaxial movable contact probe shown in FIG. 6, except that it is narrower than the probe shown in FIG.

本発明は可動接触子が同軸型構造を構成している為、高
周波信号の漏話、信号レベルの減衰を防ぐことができ、
電気的に良好な特性を測定することができるとともにバ
ネによる可動接触子構造を有している為、多点同時測定
に応用した場合においても安定した接触が得られる利点
を有する。
In the present invention, since the movable contactor has a coaxial structure, it is possible to prevent crosstalk of high frequency signals and attenuation of the signal level.
Since it can measure good electrical characteristics and has a movable contact structure using a spring, it has the advantage of providing stable contact even when applied to simultaneous multi-point measurements.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は従来の第1の実施例における接触グローブの垂
直断面図、第2図は従来の第2の実施例における接触グ
ローブの垂直断面図、第3図は従来の接触プローブを用
いて同時多点測定を行う場合の実施例を示す側面図、第
4図(、)は本発明の第1の実施例による同軸型可動接
触グローブの長手方向垂直断面図、第4図(b)は第4
図(、)のA−AAにおける断面、第5図は本発明の第
1の実施例による同軸型可動接触グローブを用いて同時
多点測定を行う場合の実施例を示す側面図、第6図、第
7図は本発明の第2の実施例による同軸型可動接触グロ
ーブの長手方向垂直断面図である。 1・・・可動接触子、2・・・ソケッ) 、J + 3
 a + J b・・・バネ、4・・・同軸ケーブル、
5・・・同軸ケーブル4の内部導体、−・・・フィクス
チャ、7・・・外部導体、8・・・誘電体材料、9・・
・同軸型可動接触プローブ、10 、10a・・・アー
ス用可動接触子、10ノ・・・高周波部品、102・・
・基板、103・・・回路ノやターン、104コネクタ
、105・・・アース。 (OJ              (CI)(b+ 
           (b)手続補正書(自船 57.8.18 昭和  年  月  日 特許庁長官 殿 ]、事件の表示 昭和57年特許願第056641号 2、発明の名称 同軸型可動接触ゾロープ 3、補正をする者 事件との関係       特 許 出 願 人任 所
(〒105)  東京都港区虎ノ門1丁目7番12号4
、代理人 住 所(〒105)  東京都港区虎ノ門1丁目74@
12号6補正の内容 (1)明細書第5頁第16行〜第17行に「一点鎖線A
−AA面における断面を示し」とあるのを「下桟図を示
し」と補正する。 (2)  同省第8頁第11行に「一点鎖線B−BB面
における水平断面を示し」とあるのを「下桟図を示し」
と補正する。 (3)  同書第10頁第3行〜第4行にr A−AA
における断面」とあるのを「下桟図」と補正する。 (4)  図面第4図(、)を別紙のとおり補正する。 (5)  図面第6図(a)を別紙のとおり補正する。 (6)  図面第7図(a)および第7図(b)を別紙
のとおり補正する。 第4図 第6図 (0) (b) (0) (bl
FIG. 1 is a vertical sectional view of a contact globe in a first conventional embodiment, FIG. 2 is a vertical sectional view of a contact globe in a second conventional embodiment, and FIG. 3 is a vertical sectional view of a contact globe in a conventional second embodiment. FIG. 4(a) is a side view showing an embodiment in which multi-point measurement is performed. FIG. 4
5 is a side view showing an embodiment in which simultaneous multi-point measurement is performed using a coaxial movable contact glove according to the first embodiment of the present invention; FIG. , FIG. 7 is a longitudinal vertical sectional view of a coaxial movable contact globe according to a second embodiment of the invention. 1...Movable contact, 2...Socket), J+3
a + J b...Spring, 4...Coaxial cable,
5... Inner conductor of coaxial cable 4, -... Fixture, 7... Outer conductor, 8... Dielectric material, 9...
・Coaxial type movable contact probe, 10, 10a... Movable contact for grounding, 10... High frequency parts, 102...
- Board, 103... circuit or turn, 104 connector, 105... ground. (OJ (CI) (b+
(b) Procedural amendment (Own ship 57.8.18 To the Commissioner of the Japan Patent Office, 18/08/1939), Indication of the case 1982 Patent Application No. 056641 2, Name of the invention Coaxial movable contact Zorope 3, Make amendments. Relationship with the patent case Patent application office (105) 1-7-12-4 Toranomon, Minato-ku, Tokyo
, Agent address (105) 1-74 Toranomon, Minato-ku, Tokyo @
Contents of amendment 6 of No. 12
-The phrase “shows the cross section on the AA plane” has been corrected to “shows the bottom cross section.” (2) On page 8, line 11 of the Ministry of Foreign Affairs, the phrase "shows the horizontal cross section on the dashed-dotted line B-BB plane" has been replaced with "shows the bottom cross section".
and correct it. (3) r A-AA on page 10, lines 3 to 4 of the same book
``Cross section at'' is corrected to ``Lower cross section view''. (4) Figure 4 (,) of the drawings will be amended as shown in the attached sheet. (5) Figure 6(a) of the drawing shall be amended as shown in the attached sheet. (6) Drawings Figures 7(a) and 7(b) will be corrected as shown in the attached sheet. Figure 4 Figure 6 (0) (b) (0) (bl

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)一端に同軸ケーブルと接続できるコネクタを設け
た中空円筒形の外部導体と、該外部導体の内側に誘電体
材料を挾んで同軸構造に設けられる中空円筒形ソケット
と、該ソケットの内側にてガイドされて動作でき一端を
前記ソケットに電気的に接続されたバネにて保持され他
端を前記外部導体のコネクタ取付部の反対端から突出す
るように設けられる可動接触子とから構成されることを
特徴とする同軸型可動接触グローブ。
(1) A hollow cylindrical outer conductor provided with a connector that can be connected to a coaxial cable at one end, a hollow cylindrical socket provided in a coaxial structure with a dielectric material sandwiched inside the outer conductor, and a movable contact that can be operated while being guided by the socket, one end of which is held by a spring that is electrically connected to the socket, and the other end of which is provided so as to protrude from the opposite end of the connector mounting portion of the external conductor. A coaxial movable contact glove characterized by:
(2)  一端に同軸ケーブルと接続できるコネクタを
設けた中空円筒形の外部導体と、一端を開口した中空円
筒でありて前記外部導体のコネクタ取付部の反対端の゛
外側に開口部を遊嵌し誼遊嵌した開口端部をバネを介し
て前記外部導体と保持され反対の閉端部底面に部品逃げ
溝門設は前記外部導体をガイドとして動作できるアース
用可動接触子と、前記外部導体の内側に誘電体材料を挾
んで同軸構造に設けられる円筒形ソケットと、該ソケッ
トの内側にてガイドされて動作でき一端を前記ソケット
に電気的に接続されたバネにて保持され他端を前記アー
ス用可動接触子の閉端部底面から突出するように設けら
れる可動接触子とから構成されることを特徴とする同軸
型可動接触グローブ。
(2) A hollow cylindrical outer conductor with a connector at one end that can be connected to a coaxial cable, and a hollow cylinder with one end open, with an opening loosely fitted on the outside of the opposite end of the outer conductor to the connector attachment part. The opening end loosely fitted is held to the external conductor via a spring, and the component escape groove gate is provided on the bottom of the opposite closed end, and a movable grounding contact that can operate with the external conductor as a guide, and the external conductor. a cylindrical socket provided in a coaxial structure with a dielectric material sandwiched inside the socket; A coaxial type movable contact glove comprising a movable contact protruding from a bottom surface of a closed end of a movable grounding contact.
JP5664182A 1982-04-07 1982-04-07 Coaxial movable contact probe Pending JPS58175273A (en)

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