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JPH11346005A - 光学半導体装置 - Google Patents

光学半導体装置

Info

Publication number
JPH11346005A
JPH11346005A JP10149582A JP14958298A JPH11346005A JP H11346005 A JPH11346005 A JP H11346005A JP 10149582 A JP10149582 A JP 10149582A JP 14958298 A JP14958298 A JP 14958298A JP H11346005 A JPH11346005 A JP H11346005A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin package
semiconductor device
lead
optical semiconductor
semiconductor chip
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10149582A
Other languages
English (en)
Inventor
Masashi Sano
正志 佐野
Nobuaki Suzuki
伸明 鈴木
Shinichi Suzuki
慎一 鈴木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Rohm Co Ltd
Original Assignee
Rohm Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Rohm Co Ltd filed Critical Rohm Co Ltd
Priority to JP10149582A priority Critical patent/JPH11346005A/ja
Publication of JPH11346005A publication Critical patent/JPH11346005A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • H01L2224/45138Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
    • H01L2224/45144Gold (Au) as principal constituent
    • HELECTRICITY
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    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
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    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation

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  • Led Device Packages (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】問題なくハンダリフローの手法による面実装が
可能な光学半導体装置を提供する。 【解決手段】樹脂パッケージと、この樹脂パッケージに
その一端から互いに平行または略平行関係を有して延入
する第1の内部リード41および第2の内部リード51と、
上記第1の内部リードの内端部にボンディングされる半
導体チップ3と、この半導体チップと上記第2の内部リ
ードの内端部間を結線するワイヤWと、上記第1の内部
リードおよび第2のリードに連続して樹脂パッケージの
一端から外部に延出する第1の外部リード42および第2
の外部リード52とを備え、上記第1の外部リードおよび
第2の外部リードには、基板に面接触しうる接続端子部
が形成されている光学半導体装置1であって、上記樹脂
パッケージは、その先端側において上記第1および第2
の内部リードの内端部、半導体チップおよびワイヤを封
止する透光性の第1樹脂パッケージ部21と、その基端側
において上記第1および第2の内部リードの外端部を包
み込む耐熱性の第2樹脂パッケージ部22とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本願発明は、光センサなどの
発光部または受光部として好適に使用される光学半導体
装置に関し、とくに、基板等に対して面実装可能に構成
されたものに関する。
【0002】
【従来の技術】光学半導体装置のうちの発光ダイオード
には、いわゆる発光ダイオードランプと称される形態の
ものがあり、かつこのような形態の発光ダイオードを面
実装可能に構成する場合がある。図10は、このような
面実装可能に形成された発光ダイオードランプを示して
いる。先端がドーム型に形成された略円柱状の透光性樹
脂パッケージ2内には、発光ダイオード(LED)チッ
プ3が内蔵されている。この樹脂パッケージ2内には、
その底部から2本のリードが延入しており、その一方の
リード4の先端にLEDチップ3がボンディングされて
いるとともに、このLEDチップ3の上面電極と他方の
リード5との間がワイヤWによって結線されている。上
記一方のリード4の先端は、型押し成形によってパラボ
ラ部が形成されており、上記LEDチップ3はこのパラ
ボラ部4aの底部にボンディングされている。これによ
り、LEDチップ3から発した光を効果的に樹脂パッケ
ージ2の先端側に向けて放射することができる。また、
上記の2本のリード4,5は、金属薄板によって形成さ
れていて、樹脂パッケージ2の底部から延出する部位が
外部リード42,52を形成している。そしてこの外部
リード42,52は、クランク状に折曲されて、その先
端が面的な接続端子部42a,52aとされている。こ
の面的な接続端子部42a,52aは、樹脂パッケージ
2の一側面と対応して延出している。
【0003】上記構成の発光ダイオード3を基板6等に
面実装する場合、いわゆるハンダリフローの手法が採用
される。すなわち、基板6上の導体パッド8にはあらか
じめハンダペーストを印刷等によって塗布しておき、上
記発光ダイオード3をその外部リード42,52の接続
端子部42a,52aが上記導体パッド8上に対応して
位置するように載置する。そして、この状態の基板をリ
フロー炉に導入して加熱した後、冷却する。
【0004】リフロー炉内の温度はハンダの再溶融を促
すためにたとえば200℃以上に設定される。リフロー
炉内においてハンダペースト中のハンダ成分が再溶融す
るとともに樹脂溶剤成分が消散し、温度低下にともなっ
てハンダ成分が固化することにより、外部リード42,
52と基板上の導体パッド8間が電気的に接続され、同
時にこれらの間の機械的な接続も達成される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
従来の面実装型発光ダイオード1においては、次のよう
な問題がある。
【0006】樹脂パッケージ2は透光性を備える必要か
ら、たとえば透明エポキシ樹脂が採用される。この透明
エポキシ樹脂は、いわゆるフィラ成分が含まれておら
ず、したがって、線膨張係数が比較的大きいという傾向
をもつ。そうすると、リフロー炉による加熱によって樹
脂パッケージが熱膨張した後の冷却過程において、ハン
ダ固化温度(たとえば183℃)で外部リード42,5
2が基板に固定された後もなお樹脂パッケージ2が熱収
縮を続けることから、リード4,5と樹脂パッケージ2
との境界に大きな熱ストレスが作用する。このような熱
ストレスにより、樹脂パッケージ2がリード4,5にそ
ってひび割れしたり、樹脂パッケージ2とリード4,5
とが実質上剥離したりすることがあり、そうすると、樹
脂パッケージ内へ水分等が侵入し、動作不良や著しい寿
命低下をもらたす。
【0007】本願発明は、このような事情のもとで考え
出されたものであって、上記従来の欠点を解消している
ことを特徴としている。
【0008】
【発明の開示】上記の課題を解決するため、本願発明で
は、次の技術的手段を講じている。
【0009】すなわち、本願発明によって提供される光
学半導体装置は、樹脂パッケージと、この樹脂パッケー
ジにその一端から互いに平行または略平行関係を有して
延入する第1の内部リードおよび第2の内部リードと、
上記第1の内部リードの内端部にボンディングされる半
導体チップと、この半導体チップと上記第2の内部リー
ドの内端部間を結線するワイヤと、上記第1の内部リー
ドおよび第2のリードに連続して樹脂パッケージの一端
から外部に延出する第1の外部リードおよび第2の外部
リードとを備え、上記第1の外部リードおよび第2の外
部リードには、基板に面接触しうる接続端子部が形成さ
れている光学半導体装置であって、上記樹脂パッケージ
は、その先端側において上記第1および第2の内部リー
ドの内端部、半導体チップおよびワイヤを封止する透光
性の第1樹脂パッケージ部と、その基端側において上記
第1および第2の内部リードの外端部を包み込む耐熱性
の第2樹脂パッケージ部とを備えていることを特徴とし
ている。
【0010】好ましい実施の形態においては、上記第2
樹脂パッケージ部は、不透明であって、明色系の着色が
施されている。
【0011】好ましい実施の形態においてはさらに、上
記第1樹脂パッケージ部と第2樹脂パッケージ部の境界
面は、樹脂パッケージの先端側に向かって凹となってい
る。
【0012】上記半導体チップは、LEDチップなどの
発光素子であっても、フォトダイオードやフォトトラン
ジスタなどの受光素子であってもよい。
【0013】上記樹脂パッケージのうち、先端側の第1
樹脂パッケージ部は、基本的には、フィラ成分を含まな
い透光性のエポキシ樹脂によって形成される。ただし、
半導体チップとして発光素子または受光素子を選択する
場合において、赤外光を外部に放射し、あるいは赤外光
を選択的に検出するべく、可視光を透過せず、赤外光を
透過しうるように処理された、肉眼では黒色に見える樹
脂を用いる場合もある。いずれにしても、基本的には、
透光性をもったエポキシ樹脂が第1樹脂パッケージ部の
材料として採択されるのであって、したがって、この場
合、その線膨張係数は比較的大きい。
【0014】一方、樹脂パッケージのうちの基端側の第
2樹脂パッケージ部は、たとえば、白色のPPS(ポリ
フェニレンサルファイド)が採用される。
【0015】本願発明に係る光学半導体装置は、上記第
1および第2の外部リードの一部を基板に対する面的な
接続端子部としていることから、適宜の回路基板などに
面実装可能な樹脂パッケージ型半導体装置として構成さ
れている。この構成では、たとえば上記半導体装置を光
センサの発光部または受光部などとして使用すべく回路
基板などに実装する場合には、既に述べたようにハンダ
リフローの手法などが採用される。
【0016】本願発明に係る光学半導体装置において
は、樹脂パッケージのうち、外部リードが延出する側に
耐熱性樹脂からなる第2樹脂パッケージ部が配置されて
いる。そして、この第2樹脂パッケージ部として上記の
ようにPPSを採用する場合、その線膨張係数は透光性
のエポキシ樹脂よりも小さく、または耐熱性を有してい
るが故にエポキシ樹脂のように加熱によって軟化すると
いうこともない。このようなことから、ハンダリフロー
による面実装において、ハンダの固化温度(たとえば1
83℃)から温度が低下してゆく過程でかりに第2樹脂
パッケージ部に熱収縮が生じたとしても、その程度は小
さく、したがって、内部リードと第2樹脂パッケージ部
との境界が剥離したり、第2樹脂パッケージ部に割れが
生じたりして外部から樹脂パッケージ内に水分等が侵入
するという事態の発生が軽減され、ハンダリフローによ
って実装された光学半導体装置の信頼性が向上する。
【0017】また、好ましい実施の形態のように、第2
樹脂パッケージ部を白色等の明色系に着色するととも
に、第1樹脂パッケージ部と第2樹脂パッケージ部の境
界面を樹脂パッケージの先端に向けて凹とする、すなわ
ち、この境界面をいわゆるパラボラ状とすることによ
り、半導体チップとして発光素子を採用する場合、半導
体チップが発する光のうち樹脂パッケージの基端側に向
かう光を前端側に向けて反射させ、樹脂パッケージの前
方に向けての効率的な光照射を行うことができる。逆
に、半導体チップとして受光素子を採用する場合におい
ても、樹脂パッケージの前方からの光を効率的に受光素
子に集光させることができる。この場合、内部リードに
対しては、その上面に半導体チップをボンディングすれ
ばよく、従来例のように内部リードの先端に型押しによ
るパラボラ部を形成する工程が不要となり、コスト的に
も有利となる。
【0018】本願発明のその他の特徴および利点は、図
面を参照しつつ以下に行う詳細な説明から、より明らか
となろう。
【0019】
【発明の実施の形態】以下、本願発明の好ましい実施の
形態を図面を参照して具体的に説明する。
【0020】図1は本願発明の半導体装置の一実施形態
の全体斜視図、図2は平面図、図3は図1のIII −III
線に沿う断面図、図4は図1のIV−IV線に沿う断面図、
図5〜図8は製造工程の説明図、図9は作用説明図であ
る。これらの図において、図10に示した従来例と同一
または同等の部材または部分には、同一の符号を付して
ある。
【0021】これらの図に示すように、この光学半導体
装置は、先端がドーム型をした略円柱形の樹脂パッケー
ジ2内に光学半導体チップ3が封止された構成をもって
おり、円柱形の軸線が水平方向を向くようにして基板6
等に面実装されるように構成されている。金属帯板状の
2本のリード4,5が樹脂パッケージ2の基端面から樹
脂パッケージ2内に延入している。ここで、各リード
4,5のうち、樹脂パッケージ2内に延入している部分
を内部リードといい、樹脂パッケージ2の外部に延出し
ている部分を外部リードという。
【0022】第1の内部リード41と第2の内部リード
51とは、平面視において互いに略平行をなしながら樹
脂パッケージ2内に略水平に延入しており、第1の内部
リード41の内端部上面には、光学半導体チップとして
のたとえばLEDチップ3がボンディングされている。
このLEDチップ3は、サイコロ状をしており、その底
面に全面電極が形成されるとともに、上面には、電極パ
ッドが形成されている。LEDチップ3の上面電極パッ
ドと第2の内部リード51との間は、金線等のワイヤW
で結線されている。このLEDチップ3は、各リード
4,5を介して両電極間に所定の電流を印加すると、活
性層が発光する。
【0023】第1の内部リード41に連続する第1の外
部リード42および第2の内部リード51に連続する第
2の外部リード52は、クランク状に折曲させられ、そ
の端部に基板に対して面的に接続されうる水平状の接続
端子部42a,52aが形成されている。この接続端子
部42a,52aの上下方向高さは、樹脂パッケージ2
の下側面とほぼ対応させられている。したがって、樹脂
パッケージ2の下側面、各外部リード42,52の接続
端子部42a,52aが水平面に接触することにより、
この光学半導体装置1は、基板等の水平面に安定的に載
置しうる。
【0024】上記樹脂パッケージ2は、先端側の第1樹
脂パッケージ部21と、基端側の第2樹脂パッケージ部
22を有して構成されている。第1樹脂パッケージ部2
1は、透光性を有する樹脂材料で形成され、各内部リー
ド41,51の内端部、第1の内部リード41にボンデ
ィングされるLEDチップ3、このLEDチップ3と第
2の内部リード51間を結線するワイヤWを内蔵してい
る。透光性を有する樹脂材料としては、フィラ成分を含
まないエポキシ樹脂が好適に採用される。一方、基端側
の第2樹脂パッケージ部22は、たとえばPPSなどの
不透明な耐熱性樹脂が好適に採用され、後述するよう
に、第1樹脂パッケージ部21との境界面を反射部とし
て機能させるべく、たとえば白色等の明色系の色彩が施
される。また、第1樹脂パッケージ部21と第2樹脂パ
ッケージ部22との境界面は、樹脂パッケージ2の先端
側に凹に、すなわち、パラボラ状とされている。
【0025】上記構成を備える半導体装置1は、図5に
示すような製造用フレーム9を用い、以下に説明する工
程を経て製造される。製造用フレーム9は、金属薄板材
料を打ち抜きプレスして形成されるものであって、長手
方向に延びるサイドフレーム部10と、このサイドフレ
ーム部10から相互に略平行に延びる第1リード部4お
よび第2リード部5を備える。そして、符号Aで示す区
間の構成が長手方向に連続して形成される。各リード部
4,5は、上記各内部リード41,51およびこれに連
続する外部リード42,52となるべき部分である。
【0026】図6に示すように、上記製造用フレーム9
の第1リード部4の先端にLEDチップ3をボンディン
グするチップボンディング工程が施されるとともに、L
EDチップ3の上面電極と第2リード部5の先端との間
をワイヤWで結線するワイヤボンディング工程が施され
る。
【0027】次に、図7に示すように、各リード部の先
端におけるLEDチップないしワイヤWを完全に封止す
るようにして、第1樹脂パッケージ部21を形成する一
次モールド工程が施される。この第1樹脂パッケージ部
21を形成するべき樹脂材料としては、前述したように
透明エポキシ樹脂が好適に採用され、モールド法として
は、いわゆるトランスファモールド法が好適に採用され
る。このとき、樹脂パッケージ部21の先端はドーム状
に形成され、レンズとしての機能を与えるとともに、基
端側もやはりドーム状に形成される。これは、この基端
側に隣接して形成される第2樹脂パッケージ部22の境
界面を反射パラボラとして機能させるためである。
【0028】次に、図8に示すように、上記第1樹脂パ
ッケージ部の基端側に隣接して第2樹脂パッケージ部を
形成する二次モールド工程が施される。この第2樹脂パ
ッケージ部22を形成するべき材料としては、前述した
ように、白色PPSなどの耐熱性および機械的強度に優
れた材料が好適に採用される。モールド法としては、一
次モールド法と同様、トランスファモールド法が好適に
採用される。
【0029】続いて、製造用フレームにリードカット工
程を施すとともに外部リードをクランク状に折曲するリ
ードフォーミング工程を施して最終的に図1〜図4に示
す個々の光学半導体装置を得る。
【0030】次に、上記の構成の光学半導体装置1の作
用について説明する。
【0031】この光学半導体装置1は、前述したよう
に、平面状に安定して載置しうることから、いわゆるハ
ンダリフローの手法による面実装によって基板6等に実
装することができる。すなわち、基板6の導体パッド8
上にクリームハンダ7を印刷等によって塗布しておき、
そして、図9に示されるように導体パッド8と外部リー
ド42,52の接続端子部42a,52aとが対応する
ように位置決めしつつ半導体装置1を基板6上に載置す
る。そうして、この状態の基板6をリフロー炉に導入
し、かつその後冷却を行う。ハンダリフローのために、
リフロー炉の温度はたとえば200℃以上に設定され
る。リフロー炉内の熱により、クリームハンダ中のハン
ダ成分が再溶融するとともに、溶剤成分が消散する。溶
融ハンダは導体パッド8と外部リード42,52の接続
端子部42a,52aの双方に濡れた状態となる。そし
て、ハンダが冷却固化されると、半導体装置1は、基板
に対して電気的かつ機械的に接続され、実装が完了す
る。
【0032】両リード4,5を介してLEDチップ3に
電流印加を行うと、その活性層が発光する。光は、半導
体チップの周囲に向けて放射されるが、そのうち、第1
樹脂パッケージ部21の前方に向けて進行する光は、そ
のままドーム状の先端部から外部に放射させる。ドーム
状の先端部は、凸レンズ機能を発揮し、樹脂パッケージ
2の先端面から放射する光の方向を絞る。一方、半導体
チップ3が発する光のうち、第1樹脂パッケージ部21
の基端に向けて進行する光は、第1樹脂パッケージ部2
1と第2樹脂パッケージ部22のパラボラ状の境界面で
反射させられ、樹脂パッケージ2の先端部から外部へ放
射される。このように、この実施形態に係る光学半導体
装置1によれば、LEDチップ3が発する光を効率的に
樹脂パッケージ2の先端側から対象に向けて放射するこ
とができる。
【0033】第1樹脂パッケージ部21を形成する透光
性のエポキシ樹脂の線膨張係数は、たとえば11〜12×10
-5/℃と比較的大きく、しかも、たとえば120℃程度
のガラス転移点以上の温度で軟化する傾向をもつが、第
2樹脂パッケージ部22を形成するPPSの線膨張係数
はたとえば6〜7×10-5/と比較的小さく、しかも、耐
熱性および機械的強度に優れているために、たとえばリ
フロー炉の設定温度である200℃以上に加熱されても
軟化するといったことはない。
【0034】したがって、樹脂パッケージ2における外
部リード42,52と境界する部分が上記のように耐熱
性および機械的強度に優れ、しかも線膨張係数が比較的
小さい第2樹脂パッケージ2が配置されている本願発明
の光学半導体装置においては、ハンダリフローの手法に
よる面実装の冷却過程において、第2樹脂パッケージ部
の熱収縮に起因してこの第2樹脂パッケージ部とリード
4,5との境界がストレスによってひび割れしたり、剥
離したりして、樹脂パッケージ2に外部から水分が侵入
するといった事態が発生することを、効果的に抑制する
ことができる。
【0035】もちろん、この発明は上述した実施形態に
限定されるものではない。樹脂パッケージ2に内蔵する
べき光学半導体チップとしては、発光素子としてのLE
Dチップのほか、受光素子としてのフォトダイオード、
あるいはフォトトランジスタとすることも可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本願発明に係る光学半導体装置の全体構成を示
す斜視図である。
【図2】図1に示す半導体装置の平面図である。
【図3】図1のIII −III 線に沿う断面図である。
【図4】図1のIV−IV線に沿う断面図である。
【図5】本願発明の半導体装置の製造工程の説明図であ
る。
【図6】本願発明の半導体装置の製造工程の説明図であ
る。
【図7】本願発明の半導体装置の製造工程の説明図であ
る。
【図8】本願発明の半導体装置の製造工程の説明図であ
る。
【図9】本願発明の作用説明図である。
【図10】従来の半導体装置の全体構成を示す斜視図で
ある。
【符号の説明】
1 光学半導体装置 2 樹脂パッケージ 3 LEDチップ 4,5 リード部 21 第1樹脂パッケージ部 22 第2樹脂パッケージ部

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 樹脂パッケージと、この樹脂パッケージ
    にその一端から互いに平行または略平行関係を有して延
    入する第1の内部リードおよび第2の内部リードと、上
    記第1の内部リードの内端部にボンディングされる半導
    体チップと、この半導体チップと上記第2の内部リード
    の内端部間を結線するワイヤと、上記第1の内部リード
    および第2のリードに連続して樹脂パッケージの一端か
    ら外部に延出する第1の外部リードおよび第2の外部リ
    ードとを備え、上記第1の外部リードおよび第2の外部
    リードには、基板に面接触しうる接続端子部が形成され
    ている光学半導体装置であって、 上記樹脂パッケージは、その先端側において上記第1お
    よび第2の内部リードの内端部、半導体チップおよびワ
    イヤを封止する透光性の第1樹脂パッケージ部と、その
    基端側において上記第1および第2の内部リードの外端
    部を包み込む耐熱性の第2樹脂パッケージ部とを備えて
    いることを特徴とする、光学半導体装置。
  2. 【請求項2】 上記第2樹脂パッケージ部は、不透明で
    あって、明色系の着色が施されている、請求項1に記載
    の光学半導体装置。
  3. 【請求項3】 上記第1樹脂パッケージ部と第2樹脂パ
    ッケージ部の境界面は、樹脂パッケージの先端側に向か
    って凹となっている、請求項2に記載の光学半導体装
    置。
  4. 【請求項4】 上記半導体チップは、発光素子または受
    光素子である、請求項1ないし3のいずれかに記載の光
    学半導体装置。
  5. 【請求項5】 請求項1ないし4のいずれかに記載の光
    学半導体装置であって、この半導体装置は、ハンダリフ
    ローの手法によって基板に対して面実装されていること
    を特徴とする、光学半導体装置。
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